JP6929813B2 - パワー半導体装置 - Google Patents
パワー半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6929813B2 JP6929813B2 JP2018057053A JP2018057053A JP6929813B2 JP 6929813 B2 JP6929813 B2 JP 6929813B2 JP 2018057053 A JP2018057053 A JP 2018057053A JP 2018057053 A JP2018057053 A JP 2018057053A JP 6929813 B2 JP6929813 B2 JP 6929813B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductor
- semiconductor device
- power semiconductor
- terminal
- terminal conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 109
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 213
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 40
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- -1 for example Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000036413 temperature sense Effects 0.000 description 1
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M7/00—Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
- H02M7/42—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
- H02M7/44—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters
- H02M7/48—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
以下、図1〜図15を参照して、パワー半導体装置の実施の形態を説明する。
図1は、本実施形態のパワー半導体装置300の斜視図である。図面同士の相関を明確にするために、図1の左下に示すようにXYZ軸を定義する。パワー半導体装置300は、金属製の第2フィン42Fと、第2放熱ベース42と、正極側の直流端子導体6と、負極側の直流端子導体7と、交流端子導体8と、信号用の端子325U、325L、325S、325Cとを備える。
図2は、パワー半導体装置300の断面図である。ただし図2では信号用の端子の図示を省略している。パワー半導体装置300は、図示上下方向、すなわちZ方向に略対称な構造を有する。図2には、下部から第1放熱ベース41、第1金属ベース811、第1絶縁部31、および第1導体部21が示されている。そして図2の高さ方向中央には、左から負極側の直流端子導体7、2つの半導体素子10、および交流端子導体8が示されている。ただし半導体素子10はZ方向の高さが交流端子導体8などよりも低いので、高さを略一致させるために金属ブロック159が挿入される。また負極側の直流端子導体7および交流端子導体8は図1では端部が曲げられていたが、図2では曲げ部分の図示を省略している。半導体素子10などの図示上部にはさらに、第2導体部22、第2絶縁部32、第2金属ベース821、および第2放熱ベース42が示されている。
図3は、下基板46の全体斜視図である。下基板46は、後述する半導体素子10や交流端子導体8などを搭載する第1導体部21と、第1金属ベース811と、これら第1導体部21と第1金属ベース811の間に第1絶縁部31と、を備える。第1金属ベース811は、金属材料であれば特に制約されないが、放熱性の点で、銅又はアルミが望ましく、コストの点ではアルミが望ましい。第1絶縁部31は矩形形状であり、第1絶縁部31の図示上部に不連続に第1導体部21が形成される。そのため図2の断面図において第1導体部21は不連続に図示された。
図4は、上基板47の全体斜視図である。上基板47は、第2導体部22と、第2金属ベース821と、これら第2導体部22と第2金属ベース821の間に第2絶縁部32と、を備える。第2絶縁部32は矩形形状であり、第2絶縁部32の図示上部に不連続に第2導体部22が形成される。そのため図2の断面図において第2導体部22は不連続に図示された。第2絶縁部32の材料は第1絶縁部31と同一であり、第2導体部22の材料は第1導体部21と同一であり、第2金属ベース821の材料は第1金属ベース811と同一である。なお図4は図3とは視点が反転しており、180度回転させると図1に示す姿勢となる。
図5は、交流端子導体8の第1導体部21および第2導体部22との接合部を示す図である。第1導体部21と交流端子導体8とは半田5bにより接続され、交流端子導体8と第2導体部22とは半田5aにより接続される。半田5aおよび半田5bはそれぞれいわゆる半田ボール5cを含む。半田ボール5cとは、半田の主成分であるすず(Pb)よりも融点が高い素材、たとえばニッケルで作成された高精度な球である。半田5aおよび半田5bは半田ボール5cを含むので、第1導体部21と交流端子導体8との距離、および交流端子導体8と第2導体部22との距離は半田ボール5cの直径と等しい。そのため、半田ボール5cの直径を調整することで第1導体部21と交流端子導体8との距離、および交流端子導体8と第2導体部22との距離を調整できる。
図6(a)〜図6(e)はパワー半導体装置300の製造工程の断面図である。図6(a)に示すように、まず下基板46を用意し、次に図6(b)に示すように第1導体部21に半田材や焼結金属等の接続部材を介して半導体素子10を搭載する。さらに半導体素子10のエミッタ側電極面にはんだ等の接続部材を介して、金属ブロック159を搭載し接続する。その後、図示していないAlワイヤを接続する。金属ブロック159は電気伝導性を有する金属材料であればとくに制約されないが、電気伝導性が高い銅が望ましい。金属ブロック159には軽量化のためアルミを用いてもよい。接続部材との接続を確保するため金属ブロック159の表面にめっき等を施してもよい。
図7は、図6(c)工程に対応する製造工程におけるパワー半導体装置300の全体斜視図である。図7には、下基板46に、パワー半導体素子である上アーム側IGBT155A及び155Bと、上アーム側ダイオード156A及び156Bと、下アーム側IGBT157A及び157Bと、下アーム側ダイオード158A及び158Bと、が2並列ではんだ接続されているインバータ回路800が示されている。ここで、IGBTとは、絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ(Insulated Gate Bipolar Transistor)の略である。
図10は、本実施形態のパワー半導体装置300のインバータ回路800の回路図である。正極側の直流端子導体6は、上アーム回路のコレクタ側接続部315から出力しており、バッテリまたはコンデンサの正極側に接続される。上アームゲート信号端子325Uは、上アーム回路のIGBT155のゲート及びエミッタセンスから出力している。負極側の直流端子導体7は、下アーム回路のエミッタ側接続部319から出力しており、バッテリまたはコンデンサの負極側、又はGNDに接続される。下アームゲート信号端子325Lは、下アーム回路のIGBT157のゲート及びエミッタセンスから出力している。交流端子導体8は、下アーム回路のコレクタ側接続部320から出力しており、モータに接続される。中性点接地をする場合は、下アーム回路は、GNDでなくコンデンサの負極側に接続する。
図11は、本実施形態のパワー半導体装置300を用いた電力変換装置200の回路図である。電力変換装置200は、インバータ回路部140及び142と、補機用のインバータ回路部43と、コンデンサモジュール500と、を備えている。インバータ回路部140及び142は、パワー半導体装置300を複数備えており、それらを接続することにより3相ブリッジ回路を構成している。電流容量が大きい場合には、更にパワー半導体装置300を並列接続し、これら並列接続を3相インバータ回路の各相に対応して行うことにより、電流容量の増大に対応できる。また、パワー半導体装置300に内蔵しているパワー半導体素子を並列接続することでも電流容量の増大に対応できる。
(1)パワー半導体装置300は、導体である第1導体部21と、第1導体部21とは異なる導体である第2導体部22と、第1導体部21に実装されかつインバータ回路800の上アームを構成する上アーム側IGBT155A、155B、上アーム側ダイオード156A、156Bと、第1導体部21に実装されかつインバータ回路の下アームを構成する下アーム側IGBT157A、157B、下アーム側ダイオード158A、および158Bと、上アームおよび下アームに交流電流を伝達する交流端子導体8と、を備える。交流端子導体8の一部は、第1導体部21と第2導体部22の間の空間に配置されかつ当該第1導体部21と当該第2導体部22との間の電流伝達路となる。交流端子導体8が第1導体部21と第2導体部22との間の電流伝達路となるので、両者を接続する部材を別途用意する必要がなくパワー半導体装置300を小型化できる。またパワー半導体装置300の部品点数が削減されるので、組み立てを効率化できる。
上述した実施の形態では、半田ボール5cを用いて第1絶縁部31と第2絶縁部32の間隔を一定とした。しかし半田ボール5cの代わりに所定の直径を有するワイヤを用いてもよい。このワイヤはたとえば銅製である。
上述した実施の形態では、図7において2並列の構成を示した。しかし並列に構成されなくてもよいし、3以上を並列に構成してもよい。
上述した実施の形態では、交流端子導体8と直流端子導体6,7は、矩形である第1絶縁部31の対向する辺から突出した。しかし交流端子導体8と直流端子導体6,7は、矩形である第1絶縁部31の隣接する辺から突出してもよい。すなわち交流端子導体8と直流端子導体6,7は、同一の辺から突出しなければよい。
6 正極側の直流端子導体
7 負極側の直流端子導体
8 交流端子導体
10 半導体素子
21 第1導体部
22 第2導体部
31 第1絶縁部
32 第2絶縁部
41 第1放熱ベース
41F 第1フィン
42 第2放熱ベース
42F 第2フィン
43 インバータ回路部
46 下基板
47 上基板
300 パワー半導体装置
800 インバータ回路
Claims (6)
- 導体である第1導体部と、
前記第1導体部とは異なる導体である第2導体部と、
前記第1導体部に実装されかつインバータ回路の上アームを構成する第1半導体素子と、
前記第1導体部に実装されかつ前記インバータ回路の下アームを構成する第2半導体素子と、
前記上アームおよび前記下アームに交流電流を伝達する交流端子導体と、を備え、
前記交流端子導体の一部は、前記第1導体部と前記第2導体部の間の空間に配置されかつ当該第1導体部と当該第2導体部との間の電流伝達路となり、
前記第1導体部、前記第2導体部、前記交流端子導体、前記第1半導体素子、および前記第2半導体素子はXY平面に広がり、
前記交流端子導体、前記第1半導体素子、および前記第2半導体素子は、前記XY平面に垂直なZ方向に重ならない、パワー半導体装置。 - 請求項1に記載されたパワー半導体装置において、
前記第1導体部と接続される第1絶縁部と、
前記第2導体部と接続されかつ前記第1絶縁部と対向する第2絶縁部と、をさらに備え、
前記交流端子導体の一部は、前記第1絶縁部と前記第2絶縁部の間の空間に配置されるパワー半導体装置。 - 請求項2に記載のパワー半導体装置において、
直流電流を伝達する直流端子導体をさらに備え、
前記第1絶縁部は、矩形状を為し、
前記直流端子導体の一部は、前記第1絶縁部と前記第2絶縁部の間の空間に配置され、
前記交流端子導体は、前記第1絶縁部の前記矩形状の一辺側から突出し、
前記直流端子導体は、前記第1絶縁部の前記矩形状の前記一辺とは異なる他辺側から突出するパワー半導体装置。 - 請求項3に記載のパワー半導体装置において、
前記交流端子導体の一部と前記第1導体部及び前記第2導体部と接続する半田材と、
前記交流端子導体の一部に接触され、前記第1絶縁部と前記第2絶縁部の配列方向における当該交流端子導体の一部の位置を調整する第1調整部材と、
前記直流端子導体の一部に接触され、前記第1絶縁部と前記第2絶縁部の配列方向における当該直流端子導体の一部の位置を調整する第2調整部材と、をさらに備えるパワー半導体装置。 - 請求項1から請求項4までのいずれか一項に記載のパワー半導体装置において、
前記交流端子導体の一部を挟むように形成される第1放熱ベースおよび第2放熱ベースをさらに備えるパワー半導体装置。 - 請求項5に記載のパワー半導体装置において、
前記第1放熱ベースおよび前記第2放熱ベースの少なくとも一方はフィンを形成し、
前記第1放熱ベースおよび前記第2放熱ベースの配列方向から見た場合に、前記フィンは、前記交流端子導体の一部と重なる位置に形成されるパワー半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018057053A JP6929813B2 (ja) | 2018-03-23 | 2018-03-23 | パワー半導体装置 |
PCT/JP2019/004343 WO2019181261A1 (ja) | 2018-03-23 | 2019-02-07 | パワー半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018057053A JP6929813B2 (ja) | 2018-03-23 | 2018-03-23 | パワー半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019170099A JP2019170099A (ja) | 2019-10-03 |
JP6929813B2 true JP6929813B2 (ja) | 2021-09-01 |
Family
ID=67987029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018057053A Active JP6929813B2 (ja) | 2018-03-23 | 2018-03-23 | パワー半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6929813B2 (ja) |
WO (1) | WO2019181261A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7481109B2 (ja) * | 2019-12-16 | 2024-05-10 | 日立Astemo株式会社 | パワーモジュール |
JP7308139B2 (ja) * | 2019-12-25 | 2023-07-13 | 株式会社日立製作所 | パワー半導体モジュール、および電力変換装置 |
JP7428679B2 (ja) | 2021-03-24 | 2024-02-06 | 株式会社日立製作所 | パワー半導体装置および電力変換装置 |
JP7400774B2 (ja) * | 2021-05-27 | 2023-12-19 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
WO2023181412A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | 日立Astemo株式会社 | 電力変換装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4039202B2 (ja) * | 2002-10-16 | 2008-01-30 | 日産自動車株式会社 | 積層型半導体装置およびその組み立て方法 |
JP4743396B2 (ja) * | 2004-07-29 | 2011-08-10 | ヤマハ発動機株式会社 | パワーモジュール、モータコントロールユニット、電動輸送機器およびパワーモジュールの製造方法 |
-
2018
- 2018-03-23 JP JP2018057053A patent/JP6929813B2/ja active Active
-
2019
- 2019-02-07 WO PCT/JP2019/004343 patent/WO2019181261A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019170099A (ja) | 2019-10-03 |
WO2019181261A1 (ja) | 2019-09-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6929813B2 (ja) | パワー半導体装置 | |
JP6979864B2 (ja) | パワー半導体装置及びその製造方法 | |
US9379083B2 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device | |
JP5169353B2 (ja) | パワーモジュール | |
JP5289348B2 (ja) | 車載用電力変換装置 | |
US8441117B2 (en) | Semiconductor device | |
JP6075380B2 (ja) | 半導体装置 | |
WO2013145620A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP5659938B2 (ja) | 半導体ユニットおよびそれを用いた半導体装置 | |
JPWO2016031462A1 (ja) | パワー半導体モジュール | |
JP7046742B2 (ja) | パワーモジュール | |
JP2007035670A (ja) | 半導体装置 | |
WO2017033295A1 (ja) | 構造体 | |
CN110771027B (zh) | 功率半导体装置及使用该装置的电力转换装置 | |
US20110024896A1 (en) | Power semiconductor device | |
CN111587528B (zh) | 功率半导体装置 | |
JP4403166B2 (ja) | パワーモジュールおよび電力変換装置 | |
JP2015053410A (ja) | 半導体モジュール | |
WO2022202248A1 (ja) | 電力変換装置 | |
WO2021014875A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP2012253217A (ja) | 半導体モジュールおよびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210427 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210624 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210803 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210811 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6929813 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |