JP6904314B2 - 熱間圧延ラインのウェッジ制御装置 - Google Patents
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Description
本発明の実施の形態1について説明する。まず、対象となる熱間圧延ラインの構成について説明する。
図4は、本発明の実施の形態1に係る熱間圧延ラインの構成例を示す図である。主な装置として、仕上ミル4a、板プロファイル計測装置(プロファイルゲージ)4b、平坦度計測装置4c、巻取機4d等の設備を備える。
図1は、ウェッジ制御装置1の構成図である。ウェッジ制御装置1は、板プロファイル計測装置4bにより計測されたウェッジ量に基づき、各スタンドのレベリング量を上流側から順に変更して、ウェッジ量を所望とする範囲内に制御できる。
実施の形態1に係るウェッジ制御装置1における制御操作端の設定計算の流れについて、図1の各部の処理と合わせて説明する。設定計算とは、圧延機設定諸元のうち、理論的に計算できる部分を数式モデル化して数値計算することをいう。
続いて、ダイナミック制御開始以後の処理ついて説明する。図6は、ダイナミック制御開始タイミングを示す図である。図6に示すように、被圧延材4eの先端が板プロファイル計測装置4bを通過してから、ある一定距離LSmrgを通過した後、ダイナミック制御が開始される。一定距離LSmrgは、鋼種、圧延材のサイズ(板厚、板幅、長さ)に基づき決定される(式8)。
平坦度計測装置4cによれば、仕上ミル4aの出側における被圧延材4eの片側伸びを検出できる。片側伸びが発生している状況は、片側伸びを増幅させる方向には制御させないようにすべきである。そこで、レベリング操作部1bは、ダイナミック制御を実施中に、被圧延材4eの片側伸びが生じた場合、かつ、最終スタンドのレベリング修正量ΔSd(N)が片側伸びを悪化させる方向の場合(式11または式12が成立する場合)に、少なくとも前記最終スタンドNの前記レベリング修正量ΔSd(N)を0にする(式13)。これにより、最終スタンドNの最終レベリング量ΔSref(N)は、レベリング修正量ΔSd(N)による変更を受けない(式14)。
各スタンド間において片側伸びが発生、もしくは蛇行することもある。各スタンド間にはセンサがないので、オペレータの目視による確認が必要であり、片側伸びや蛇行を抑制するためのレベリングの手動介入が行われる。このとき、オペレータ介入によるレベリング量変更によって圧延が不安定となる現象を防止すべきである。
図13は、学習計算タイミングを示す図である。学習計算機能1jは、被圧延材4eの先端が、板プロファイル計測装置4bを通過してから一定距離LLmrg進んだ時に、実績収集部1dが収集したウェッジとレベリング量の実績値に基づいて、学習値を計算する。まず、実績ウェッジから必要レベリング修正量を以下の式18を用いて算出する。ここで、χは、評価基準点の位置で、板幅方向端部からの距離[mm]で示す(通常はχ=40mm)。
次に、図1、図4、図14を参照して本発明の実施の形態2について説明する。
図4を参照して、熱間圧延ラインにおける走間板厚変更について説明する。図4の熱間圧延ラインでは、1つの被圧延材4eに対して複数の目標板厚を設定して、圧延中に目標板厚を変更することで異なる板厚を持つ部分を作成する走間板厚変更を実施できる。
上述の走間板厚変更では、変更点4fにおいてロールギャップが大きく変更され、板厚スケジュールが変更される。そのため、片側伸びや板の蛇行などが発生し、圧延が不安定になりやすい。そこで、実施の形態2に係るウェッジ制御装置1では、走間板厚変更時は、仕上ミル4aの入側から一定距離前に到達した時に、ダイナミック制御をホールドして、一時的に、各スタンドのレベリング量を変更しないこととした。
次に、図1、図15を参照して本発明の実施の形態3について説明する。
仕上ミル4aの入側温度分布または入側ウェッジが急峻に変化することは、圧延が不安定になる要因である。そこで、実施の形態3では、以下の条件(式22または式23)が成り立つ場合に、仕上ミル4aの入側から一定距離前に到達した時に、ダイナミック制御をホールドして、一時的に、各スタンドのレベリング量を変更しないこととした。
図16は、各実施の形態のウェッジ制御装置1が有する処理回路のハードウェア構成例を示す概念図である。上述した各部の機能は処理回路により実現される。一態様として、処理回路は、少なくとも1つのプロセッサ91と少なくとも1つのメモリ92とを備える。他の態様として、処理回路は、少なくとも1つの専用のハードウェア93を備える。
1 ウェッジ制御装置
1a レベリング量計算部
1b レベリング操作部
1c 制御操作端介入部
1d 実績収集部
1e トラッキング部
1f 入力部
1g 実績保持部
1h レベリング量決定機能
1i 影響係数決定機能
1j 学習計算機能
1k 表示部
4a 仕上ミル
4b 板プロファイル計測装置
4c 平坦度計測装置
4d 巻取機
4e 被圧延材
4f 変更点
4g 先行部
4h 後行部
4i 巻取機前シャー
15a 入側温度計
15b 入側板プロファイル計測装置
41 スタンド
42 制御操作端
91 プロセッサ
92 メモリ
93 ハードウェア
Claims (6)
- 被圧延材を連続圧延するN(N≧2)基のスタンドを有し、各スタンドはレベリング量に基づいて前記被圧延材のウェッジを制御する制御操作端を有する仕上ミルと、
前記仕上ミルの出側に設けられ、前記被圧延材のウェッジを計測する板プロファイル計測装置と、を備える熱間圧延ラインのウェッジ制御装置であって、
前記被圧延材の製品仕様に基づいて、各スタンドの前記制御操作端の基準レベリング量ΔSi SETおよびダイナミック制御用影響係数ciを計算するレベリング量計算部と、
前記被圧延材上に追跡点を設定し、該追跡点が前記板プロファイル計測装置に到達するまでトラッキングするトラッキング部と、
前記被圧延材の先端が前記板プロファイル計測装置を通過後、前記ダイナミック制御用影響係数ciに基づき、前記板プロファイル計測装置により計測されたウェッジと目標値との偏差を0にするための各スタンドのレベリング修正量ΔSd(i)を計算し、前記追跡点が各スタンドに到達するタイミングにおいて、前記基準レベリング量ΔSi SETを前記レベリング修正量ΔSd(i)で補正した最終レベリング量ΔSref(i)を用いて対象スタンドi(1≦i≦N)の前記制御操作端を順次制御するダイナミック制御を実施するレベリング操作部と、を備え、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に圧延不安定要因が生じた場合に、少なくとも最終スタンドNの前記レベリング修正量ΔSd(N)を0にすること、
を特徴とする熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。 - 前記仕上ミルの出側に設けられ、前記被圧延材の片側伸びを計測する平坦度計測装置をさらに備え、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に、前記被圧延材の片側伸びが生じた場合、かつ、前記レベリング修正量が片側伸びを悪化させる方向の場合に、少なくとも前記最終スタンドNの前記レベリング修正量ΔSd(N)を0にすること、
を特徴とする請求項1記載の熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。 - 各スタンドの前記制御操作端に対して、オペレータによるレベリング量の変更操作を可能とする制御操作端介入部をさらに備え、
前記トラッキング部は、オペレータが変更した対象スタンドiのレベリング量の極性が、前記レベリング修正量ΔSd(i)の極性と異なる場合に、該対象スタンドiに位置する前記被圧延材上に新たな追跡点Bを設定し、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に、前記追跡点Bが設定された場合に、前記追跡点Bが前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、前記対象スタンドiおよびその下流の各スタンドの前記レベリング修正量(ΔSd(i+1),…,ΔSd(N))を0にすること、
を特徴とする請求項1または2記載の熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。 - 前記トラッキング部は、前記仕上ミルの入側上流において、前記被圧延材の走間板厚変更点に新たな追跡点Cを設定し、
前記レベリング量計算部は、前記追跡点Cが設定された場合に、前記追跡点Cが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記基準レベリング量(ΔS1 SET,…, ΔSN SET)を前記制御操作端の現在のレベリング量の実績値とし、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に、前記追跡点Cが設定された場合に、前記追跡点Cが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記レベリング修正量(ΔSd(1),…,ΔSd(N))を0にすること、
を特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。 - 前記仕上ミルの入側に設けられ、前記被圧延材の入側温度を計測する入側温度計をさらに備え、
前記トラッキング部は、前記入側温度の時間変化が温度分布変化閾値より大きい場合に、前記仕上ミルの入側の前記被圧延材上に新たな追跡点Dを設定し、
前記レベリング量計算部は、前記追跡点Dが設定された場合に、前記追跡点Dが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記基準レベリング量(ΔS1 SET,…, ΔSN SET)を前記制御操作端の現在のレベリング量の実績値とし、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に、前記追跡点Dが設定された場合に、前記追跡点Dが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記レベリング修正量(ΔSd(1),…,ΔSd(N))を0にすること、
を特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。 - 前記仕上ミルの入側に設けられ、前記被圧延材の入側ウェッジを計測する入側板プロファイル計測装置をさらに備え、
前記トラッキング部は、前記入側ウェッジの時間変化がウェッジ変化閾値より大きい場合に、前記仕上ミルの入側の前記被圧延材上に新たな追跡点Eを設定し、
前記レベリング量計算部は、前記追跡点Eが設定された場合に、前記追跡点Eが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記基準レベリング量(ΔS1 SET,…, ΔSN SET)を前記制御操作端の現在のレベリング量の実績値とし、
前記レベリング操作部は、前記ダイナミック制御を実施中に、前記追跡点Eが設定された場合に、前記追跡点Eが前記仕上ミルの入側から前記板プロファイル計測装置に到達するまでの間、各スタンドの前記レベリング修正量(ΔSd(1),…,ΔSd(N))を0にすること、
を特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の熱間圧延ラインのウェッジ制御装置。
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