JP6862813B2 - 多項式検量線による定量および補正方法 - Google Patents

多項式検量線による定量および補正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6862813B2
JP6862813B2 JP2016241712A JP2016241712A JP6862813B2 JP 6862813 B2 JP6862813 B2 JP 6862813B2 JP 2016241712 A JP2016241712 A JP 2016241712A JP 2016241712 A JP2016241712 A JP 2016241712A JP 6862813 B2 JP6862813 B2 JP 6862813B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
calibration curve
value
quantification
coordinate
concentration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016241712A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018096850A (ja
Inventor
原一 植松
原一 植松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tosoh Corp
Original Assignee
Tosoh Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tosoh Corp filed Critical Tosoh Corp
Priority to JP2016241712A priority Critical patent/JP6862813B2/ja
Publication of JP2018096850A publication Critical patent/JP2018096850A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6862813B2 publication Critical patent/JP6862813B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、クロマトグラフィの多項式検量線の補正方法であり、日常の定量操作の簡素化、正確さを向上させる方法に関するものである。
クロマトグラフィとは複数の目的成分の定性分析および定量分析する技術である。定性分析は、予め標準試料を測定し、その溶出時間と合致するか否かにより行うのが一般的である。定量分析では、濃度の異なる標準試料を調整し、クロマトグラフィを行い、濃度に対する検出器の出力(ピーク高さ、面積等)を基に検量線を作成し、それを基に未知試料の濃度を決定するものである。検量線は、濃度に対する出力(ピーク高さ、面積等)を、最小二乗法等を用いて近似式を作成し、数式化される。
定量目的成分の濃度範囲が広い場合など、高濃度側で検量線の傾きが若干小さくなる現象がしばしば観測される。また、低濃度側では目的成分の回収率が下がり、同様に検量線の傾きが若干小さくなる現象もしばしば観測される。このような場合、1次式での近似では誤差が大きくなることから、2次式、3次式等の多項式により近似した検量線を使用することになる。多項式を用いる場合は、検量線が曲線となることから、当然のことながら1濃度の標準試料では作成できない。濃度の異なる標準試料を複数用いて検量線を作成することが必須となり、作業工数が多くかかる難点がある。
また、1次式の場合、濃度と出力(ピーク高さ、面積等)は完全に比例関係にあることから、未知試料の出力(ピーク高さ、面積等)に対する検量値は常に1つとなるが、多項式を使用した場合は、必ずしも、未知試料の出力(ピーク高さ、面積等)に対する検量値は1つとは限らない。未知試料の出力(ピーク高さ、面積等)に対する検量値が2つ以上あると、どれが真の定量値か判断することが難しい。また、極値付近では濃度に対する出力(ピーク高さ、面積等)の変化量が極端に小さくなり(1次微分値が0に近づく)、定量精度、信頼性の担保が難しくなる。
本発明は、クロマトグラフィにおける多項式検量線による定量操作を簡素化するとともに、定量精度、信頼性を担保しつつ、定量範囲を広げることを目的とする。
本発明は、クロマトグラフィにおける多項式検量線の作成方法であって、
濃度をx、出力値をyとしてプロットした検量点を2次式又は3次式にて近似を行い、その近似式が単純増加関数となるまで前記検量点のプロットを行う工程と、
前記単純増加関数の極大値に1未満の定数を乗じて又は前記検量点の最大出力値に1以上の定数を乗じて、出力値の上限を決定する工程と、
を含んでなることを特徴とする。
また、本発明は、特定の濃度xの標準試料をクロマトグラフィで測定し、得られた出力値yと、前記近似式で計算される濃度xに対する出力値との比率を算出し、前記検量点の出力値に前記比率を各々乗じて得られる補正出力値を2次式又は3次式にて近似を行う工程を更に含んでいてもよい。
そして、補正出力値を近似した近似式に対して、単純増加関数の極大値に1未満の定数を乗じて又は前記補正出力値の最大出力値に1以上の定数を乗じて、出力値の上限を再決定する工程を更に含んでいてもよい。
本発明の詳細について、手順ごとに説明する。なお、検量線を用いた定量の手順を表したフローチャートを図7、8に示す。
(ステップ1)
まず、複数濃度の標準試料を測定し、濃度に対する出力値(ピーク高さ、面積等)を得る。最小二乗法により多項式近似を行い、基準検量線(以下、単に検量線と言う場合がある)を作成する。
(ステップ2)
次に、多項式の係数a、および極値(p、q)の座標、判別式Dの値から近似式の形状を特定し、それぞれにあった定量上限を決定する。多項式が2次式の場合、係数a<0であれば極大値が存在する形状をとる(図1参照)。極大値の座標が(p、q)ともに正でない場合、作成された検量線は単純増加関数ではないため、異常と判断し、再測定等を促す指示を出し、検量点のプロットを増やす又は異常値と思われる検量点のプロットを修正する等を行う(以下、異常と判断した場合の対応は同様である)。極大値の座標が(p、q)とも正の場合、作成された検量線は正常と判断し、定量上限値を決定する。定量上限値は、極大値のq座標に係数f1を乗じて算出する。係数f1は1未満であればよく、特に指定するものではないが、1に近いほど定量精度が悪くなり、値を小さくすると定量範囲が狭くなるため、0.6〜0.95程度の値が望ましい(図3a参照)。
係数a>0であれば極小値が存在する形状をとる(図2参照)。極小値の座標pが負でない場合、作成された検量線は異常と判断する。極小値の座標pが負の場合、作成された検量線は正常と判断し、定量上限値を決定する。定量上限値は、最大濃度の検量点のy値に係数f2を乗じて算出する。係数f2は1以上であればよく、特に指定するものではないが、値が大きくなるほど定量の信頼性が低くなり、値が小さくなるほど定量範囲が狭くなるため、1.00〜1.50程度の値が望ましい(図3b参照)。
表1は2次式の形状および前記手段で得られる定量上限の一覧を示した表である。
Figure 0006862813
多項式が3次式の場合、係数a>0であれば極値はあるものの単純増加関数の形状をとる(図4参照)。係数a<0であれば減少関数の形態をとることから、作成された検量線は異常と判断する。判別式D>0の場合、定量上限値は、極大値のq座標に係数f3を乗じて算出する。係数f3は1未満であればよく、特に指定するものではないが、1に近いほど定量精度が悪くなり、値を小さくすると定量範囲が狭くなるため、0.6〜0.95程度の値が望ましい。判別式D≦0の場合、極大、極小値は存在しないことから、定量上限値は、最大濃度の検量点のy値に係数f4を乗じて算出する。係数f4は1未満であればよく、特に指定するものではないが、1に近いほど定量精度が悪くなり、値を小さくすると定量範囲が狭くなるため、0.6〜0.95程度の値が望ましい(図5参照)。
表2は3次式の形状および前記手段で得られる定量上限の一覧を示した表である。
Figure 0006862813
(ステップ3)
未知試料を測定し、出力値(ピーク高さ、面積等)を得る。
(ステップ4)
未知試料の出力値(ピーク高さ、面積等)が、ステップ2で得られた定量上限に収まっているかを判断し、定量上限以下であれば近似式に従い定量計算を実施する。ただし、出力値(ピーク高さ、面積等)が定量上限値と極値の間の場合は、近似式に従い定量計算を実施してもよいが、定量精度に誤差が生じている可能性があることを示す警告フラグを付加しておくことが好ましい。
(ステップ5)
未知試料の分だけ、ステップ3から繰り返し行い、その未知試料群の測定を終了する。
(ステップ6)
異なる未知試料群の測定を更に行う場合は、検量線の補正を行う。図6に補正の流れを示す。
基準検量線を作成する際に使用した複数の標準試料のうち1試料を、基準検量線を補正するために使用する。前記補正用の標準試料を測定し、出力値(ピーク高さ、面積等)を取得する(図6b)。得られた補正用標準試料の出力値(AF)と、それに対応する基準試料作成時に得られた出力値(AR)の比率F(AF/AR)を算出する。
検量線作成時に得られたすべての出力値(AR1〜ARn)に比率Fを乗じて、補正出力点を算出する(図6c)。
Figure 0006862813
濃度に対する補正出力値(ピーク高さ、面積等)から最小二乗法により多項式近似を再度行い、補正検量線を作成する(図6d)。なお、比率Fが一定値以上または以下の場合、検量線の形態が大きく変化していることを意味することから、検量線の補正ではなく、新しい検量線を再作成する指示を出す、または、測定を中止するなどのアクションを行うことが好ましい。一般的に比率Fは0.9から1.1の範囲が好ましいが、定量結果への影響を個々に判断し指定することが望ましく、この値に限定するものではない。ここでは、基準検量線を補正するために1濃度の試料を用いることを前提に説明したが、複数濃度の標準試料を用いて補正を実施しても良い。この場合、面積比率Fが複数得られるが、平均値で補正を実施すれば、より補正の精度が高まることになる。また、基準検量線作成時に使用していない濃度の標準試料で補正を行っても問題ない。基準検量線の対応する濃度の出力値(ピーク高さ、面積等)を近似関数(基準検量線の近似式)により求め、比率Fを算出し、前述の通り補正計算に用いれば良い。
(ステップ7)
ステップ2と同様に新たに得られた多項式の係数等により近似式の形状を特定し、それぞれにあった定量上限を再度決定する。
以降、ステップ3に戻り、未知試料を測定し、定量計算を行う。
以上説明したように、本発明の方法では、2次式、3次式といった多項式を検量線に用いた場合であっても、日常の分析操作においては1濃度の標準試料を用い、基準検量線を補正したうえで、未知試料の定量を行うことができ、工数を大幅に短縮することができる。また、定量上限を近似式の係数等から算出し、判断基準として用いることで、定量値の信頼性も向上させることが可能となった。
2次式の形態を分類した図である(係数a<0の場合)。 2次式の形態を分類した図である(係数a>0の場合)。 本発明における、2次式を検量線に使用した場合の定量上限値を示した図である。 3次式の形態を分類した図である。 本発明における、3次式を検量線に使用した場合の定量上限値を示した図である。 本発明における、検量線の補正の手順の一例を示した図である。 本発明における、検量線を用いた定量の手順を示したフローチャートで示した図である(2次式の場合)。 本発明における、検量線を用いた定量の手順を示したフローチャートで示した図である(3次式の場合)。 実施例で使用したシステム構成を示した図である。 実施例1で得られた基準検量線を示した図である。 図10の基準検量線のピーク3を拡大した図である。 実施例2で得られた基準検量線を示した図である。 実施例2での定量上限値を模式的に示した図である。図aは極大値を有する形状、図bは極小値を有する形状の場合である。 実施例2での、流速を変化させた場合の標準試料1のクロマトグラムである。 実施例2での、ピーク5の定量結果の一部を示した図である。横軸に基準検量線作成時に定量を行った結果である。
(実施例1)
本発明の効果を、実際のクロマトグラフィを実施し検証を行った。図9は検証に使用したシステムである。溶媒脱気装置(SD−8020)2、送液ポンプ(DP−8020)3、試料注入装置(AS−8020)4、カラムオーブン(CO−8020)6、紫外可視検出器(UV−8020)7、およびデータ処理装置(LC−8020II)9で構成した(いずれも、東ソー(株)製)。分析カラム5としては、東ソー(株)製 TSKgel ODS−100Z(5μm、4.6 mmI.D.×15 cm)を使用し、p−ヒドロキシ安息香酸類の分離を行った。その他の条件は下記の通りである。
注入量:80uL、カラム温度:40℃、流速:1.0mL/min
溶離液:CHCN/HO(60/40)、検出:280nm
標準試料:Methyl p−Hydroxybenzoate(0.1mg/1mL)、Propyl p−Hydroxybenzoate(0.2mg/1mL)、Butyl p−Hydroxybenzoate(0.3mg/1mL)、Hexyl p−Hydroxybenzoate(0.4mg/1mL)、Heptyl p−Hydroxybenzoate(0.5mg/1mL)
上記混合物を標準試料1とし、1/2希釈した試料を標準試料2、1/4希釈した試料を標準試料3、1/8希釈した試料を標準試料4、1/16希釈した試料を標準試料5、1/32希釈した試料を標準試料6、1/64希釈した試料を標準試料7とした。
未知試料:
混合物A;Methyl p−Hydroxybenzoate(0.056mg/1mL)、Propyl p−Hydroxybenzoate(0.067mg/1mL)、Butyl p−Hydroxybenzoate(0.200mg/1mL)、Hexyl p−Hydroxybenzoate(0.133mg/1mL)、Heptyl p−Hydroxybenzoate(0.100mg/1mL) 混合物
混合物B;Methyl p−Hydroxybenzoate(0.031mg/1mL)、Propyl p−Hydroxybenzoate(0.067mg/1mL)、Butyl p−Hydroxybenzoate(0.250mg/1mL)、Hexyl p−Hydroxybenzoate(0.133mg/1mL)、Heptyl p−Hydroxybenzoate(0.278mg/1mL) 混合物
上記2種の未知試料を標準試料と同様に、1/2、1/4、1/8、1/16、1/32、1/64希釈し、未知試料A1〜7、未知試料B1〜7とし、合計14種類調整し、検証に使用した。
図10は前記手順で調整した濃度の異なる標準試料7種を用いて作成した標準検量線である。横軸に濃度(希釈率)、縦軸に各成分の面積をとり、最小二乗法により原点を通る2次式で近似したものである(y=ax^2+bx+c、c=0)。各成分の近似式の係数および極大濃度、極大面積および定量上限面積を表4に示す。
Figure 0006862813
いずれのピークに対しても、係数aは負の値を示すことから、標準検量線は極大値を持つ形状であることが分かる。定量上限面積は、係数f1=0.85として計算を行った。つまり、極大面積の85%までを正確に定量できる範囲としたものである。
この基準となる検量線を作成した直後に、未知試料A1〜A7、B1〜B7、計14種を測定し、前記基準検量線により定量した結果を表5、表6に示す。
Figure 0006862813
Figure 0006862813
得られた面積値は、ぼぼ全ての試料、全ての成分で、定量最大面積を下回っているが、未知試料A1のピーク3のみ、定量最大面積をわずかに上回っている。図11はピーク3に対する検量線を拡大して、極大と定量上限面積の範囲を示した図である。これからも分かるように、未知試料A1のピーク3は検量線の極大と定量上限面積の範囲に入っていることが分かる。すなわち、この成分は検量線の極大値にかなり近寄っており、定量の信頼性が低いと判定される。
(実施例2)
検証に使用したシステム及び測定条件は、下記を除いて実施例1と同じである。
検出波長:254nm
標準試料:実施例1の標準試料7を1/2、1/4、1/8、1/16、1/32、1/64希釈し、標準試料8〜14とした。
未知試料:実施例1の未知試料A7、未知試料B7をそれぞれ1/4、1/16、1/64希釈し、未知試料A8〜10、未知試料B8〜10とした。
図12は前記手順で調整した濃度の異なる標準試料7〜14を用いて作成した検量線である。横軸に濃度(希釈率)、縦軸に各成分の面積をとり、最小二乗法により原点を通る2次式で近似したものである(y=ax^2+bx+c、c=0)。図12aは濃度(x軸)、面積(y軸)とも正で、検量域付近、図12bは極値の存在が明確になるように広域で示した図である。
各成分の近似式の係数、関数の形状、極大濃度、極大面積および定量上限面積を表7に示す。
Figure 0006862813
ピーク5に対しては、係数aは負の値を示すことから、標準検量線は極大値を持つ形状であることが分かる。また、ピーク1から4に対しては、係数aは正の値を示すことから、標準検量線は極小値を持つ形状であることが分かる。
ピーク5に対しての定量上限面積に係数f1=0.85、ピーク1〜4に対して最も大きな測定点(検量点)のy座標ARnに係数f2=1.20として計算を行った(図13参照)。
この基準となる検量線を作成した直後に、未知試料A7〜A10、B7〜B10、計8種を測定し、前記基準検量線により定量した結果を表8に示す。得られた面積値は、全ての試料、全ての成分で、定量最大面積を下回っており、数学的には定量性が信頼できる範囲に入っていることが分かる。
Figure 0006862813
Figure 0006862813
次に、流速を0.95、0.99、1.01、1.05mL/minと僅かに変化させ、上記検量線を1濃度の標準試料にて補正し、その補正検量線を基に未知試料A7〜A10、B7〜B10、計8種を測定し、同様に定量を実施した。検量線を補正するための基準点として、最も高い濃度である標準試料1で定量計算を試みた。
図14は、元の検量線(基準検量線)を測定した流速1.00mL/minでの標準試料1および標準試料4のクロマトグラムと、補正計算を実施した流速0.95、0.99、1.01、1.05mL/minでの標準試料1のクロマトグラムである。ここから分かるように、各ピークの溶出時間は大きく変化しており、通常の分析では、検量線を再測定しないと正確な定量ができない状態であることが容易に推測できる。このような状態でも本発明が有効に機能するか検証を行った。
図15はピーク1から5の定量結果の一部を示した図である。横軸に基準検量線作成時に定量を行った結果、縦軸に流速を変えて検量線を補正・未知試料を定量した結果をプロットした図である。定量値が正確であれば、両者は同じ値を示すことになる。つまり、y=ax(a=1)の直線上にデータ点がくるようになる。
いずれの条件、ピークでも全ての未知試料の面積は定量上限以下に収まっていることから定量結果は担保されている。また、基準検量線作成時に行った定量結果との差異も全領域で微小であり、y=xの直線上に載っており、定量値の絶対値も担保されていることが分かる。
1.溶離液
2.脱気装置
3.送液ポンプ(サンプル側)
4.試料注入バルブ
5.分析カラム
6.カラム恒温槽
7.紫外可視検出器
8.廃液
9.システム制御およびデータ処理装置

Claims (4)

  1. クロマトグラフィにおける多項式検量線の作成方法であって、
    濃度をx、出力値をyとしてプロットした検量点を2次式又は3次式にて近似を行う工程と
    前記2次式においては係数a及び極値の座標から、前記3次式においては係数a、極大値の座標、極小値の座標及び変曲点の座標の全部又は一部から、検量線の形状を判定する工程と、
    前記2次式においては前記係数a及び前記極値の座標から、前記3次式においては前記係数aから、前記検量線が正常であるか異常であるかを判定する工程と、
    正常と判定された前記検量線において、前記2次式においては極大値のy座標に1未満の定数を乗じて又は最大濃度の検量点のy座標に1以上の定数を乗じて、前記3次式においては極大値が存在する場合には極大値のy座標に、極大値が存在しない場合には変曲点のy座標に1未満の定数を乗じて出力値の上限を決定する工程と、
    を含んでなる作成方法。
  2. 特定の濃度x0の標準試料をクロマトグラフィで測定し、得られた出力値y0と、前記検量線で計算される濃度x0に対する出力値との比率を算出し、前記検量点の出力値に前記比率を各々乗じて得られる補正出力値を2次式又は3次式にて近似を行う工程を更に含む請求項1に記載の作成方法。
  3. 補正出力値を近似した近似式に対して、2次式においては極大値のy座標に1未満の定数を乗じて又は最大濃度の検量点のy座標に1以上の定数を乗じて、3次式においては極大値が存在する場合には極大値のy座標に、極大値が存在しない場合には変曲点のy座標に1未満の定数を乗じて、出力値の上限を再決定する工程を更に含む請求項2に記載の作成方法。
  4. 請求項2又は3の方法によって作成された検量線について、前記比率が一定の値以上の場合は、前記検量線の信頼性がないと判断する方法。
JP2016241712A 2016-12-13 2016-12-13 多項式検量線による定量および補正方法 Active JP6862813B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016241712A JP6862813B2 (ja) 2016-12-13 2016-12-13 多項式検量線による定量および補正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016241712A JP6862813B2 (ja) 2016-12-13 2016-12-13 多項式検量線による定量および補正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018096850A JP2018096850A (ja) 2018-06-21
JP6862813B2 true JP6862813B2 (ja) 2021-04-21

Family

ID=62631397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016241712A Active JP6862813B2 (ja) 2016-12-13 2016-12-13 多項式検量線による定量および補正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6862813B2 (ja)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6073436A (ja) * 1983-09-30 1985-04-25 Shimadzu Corp 検量線作成装置
JPH0617920B2 (ja) * 1989-03-18 1994-03-09 株式会社島津製作所 測定データ処理装置
JPH07110333A (ja) * 1993-10-13 1995-04-25 Toray Ind Inc 自動分析装置
JP3785470B2 (ja) * 1997-07-31 2006-06-14 東ソー株式会社 分子排除クロマトグラフィにおける補正方法及び装置
JP4639940B2 (ja) * 2005-05-11 2011-02-23 株式会社島津製作所 ゲル浸透クロマトグラフ装置用データ処理装置
JP6237471B2 (ja) * 2014-05-26 2017-11-29 株式会社島津製作所 定量用データ処理装置
US9804136B2 (en) * 2014-09-18 2017-10-31 Dionex Corporation Automated method of calibrating a chromatography system and analysis of a sample

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018096850A (ja) 2018-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108603867B (zh) 峰检测方法以及数据处理装置
US10739322B2 (en) In-waveform peak end point detecting method and detecting device
JP6132067B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置及びプログラム
CN103454351B (zh) 一种同时测定高纯磷酸中痕量阴离子的离子色谱方法
EP3306919B1 (en) Projection terminal keystone correction method and device, and projection terminal and storage medium
CN105823504A (zh) 一种编码器的越零点处理方法
CN108984381A (zh) 数据异常分析的方法及系统
US20170219542A1 (en) Peak extraction method and program
CN104890131B (zh) 一种基于面形误差斜率的确定性修形加工方法
JP6862813B2 (ja) 多項式検量線による定量および補正方法
CN104122440A (zh) 晶振频率漂移感知方法
CN108406442B (zh) 光栅尺性能检测方法和系统
US20140035559A1 (en) Transient recovery voltage measuring device, transient recovery voltage measuring method, and transient recovery voltage measuring program
CN102749815A (zh) 套刻精度的检测方法
CN104751005A (zh) 一种基于正交实验的平面度误差评定方法
CN106441032A (zh) 一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法
CN109883896B (zh) 一种气溶胶检测方法及系统
JP6862780B2 (ja) ピーク面積比を基にしたピーク同定方法
CN103543194A (zh) 金属离子浓度的优化谱线数据分析方法
CN105654473A (zh) 一种亚像素边缘检测方法
CN103630597A (zh) 一种十五点优化极谱谱线处理方法
JP2018031735A (ja) 気孔率測定装置、気孔率測定プログラム、及びその方法
JP6938901B2 (ja) ピーク重心を基にしたピーク同定方法
JP2020056748A (ja) 負ピークの影響を受けないピーク検出手法
CN105654521B (zh) 一种叶轮叶片缘点的获取方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200916

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201027

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210302

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210315

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6862813

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151