JP6838403B2

JP6838403B2 - 処理装置

Info

Publication number: JP6838403B2
Application number: JP2017003602A
Authority: JP
Inventors: 大佑松川
Original assignee: Fujitsu Optical Components Ltd
Current assignee: Fujitsu Optical Components Ltd
Priority date: 2017-01-12
Filing date: 2017-01-12
Publication date: 2021-03-03
Anticipated expiration: 2037-01-12
Also published as: JP2018112939A; US10474531B2; US20180196714A1

Description

本発明は、処理装置に関する。

メモリの複数の領域に記憶された設定値の誤りを、複数の領域のそれぞれについて所定の頻度で訂正する誤り訂正処理を実行することが知られている。また、メモリを複数のメモリ領域に分割し、複数のメモリ領域に記憶される設定値のそれぞれの誤り訂正処理を実行する頻度を、記憶される設定値の重要度に応じた頻度とする技術が知られている（例えば、特許文献１及び２を参照）。従来の技術では、誤り訂正処理を実行する頻度は、製品出荷時等に設定される。

特開２００３―３２３３５３号公報特開平６―３２４９５２号公報

しかしながら、従来の技術では、誤り訂正処理の実行頻度は出荷時に設定されるため、出荷後に信号の異常及び温度変化等により外的な状況が変化して設定値の重要度が変化した場合でも、誤り訂正処理は、出荷時に予め設定された頻度で実行される。誤り訂正の実行頻度は、重要度の変化に応じて変更されることなく、誤り訂正は出荷時に予め設定された頻度で実行されるため、記憶される設定値の重要性が高まった記憶領域に対して、十分な頻度で誤り訂正を実行することができないという問題がある。

一実施形態では、出荷後の外的な状況の変化に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更可能な処理装置を提供することを目的とする。

１つの態様では、処理装置は、複数の機能に対する設定値をそれぞれ記憶する複数の記憶領域を含む記憶部と、設定値のそれぞれを使用して所定の処理を実行する処理部とを有する。また、処理装置は、記憶部に記憶される設定値のそれぞれの誤りを訂正する誤り訂正処理を実行する誤り訂正部と、処理部が実行する処理に応じて、誤り訂正部が誤り訂正処理を実行する訂正頻度を変更する訂正頻度変更部とを更に有する。訂正頻度変更部は、第１訂正頻度変更部を有する。第１訂正頻度変更部は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が高く変更された記憶領域の訂正頻度よりも低くする。また、第１訂正頻度変更部は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が低く変更された記憶領域の訂正頻度よりも高くするを有する。

一実施形態では、出荷後の外的な状況の変化に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更することができる。

実施形態に係る処理装置に関連する処理装置が搭載する制御装置のブロック図である。図１に示す実行頻度情報の一例を示す図である。図１に示すソフトエラー訂正部による第１記憶領域〜第Ｎ記憶領域のそれぞれに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。図１に示すソフトエラー訂正部によるソフトエラー訂正処理のフローチャートである。第１実施形態に係る制御装置に関連する制御装置を含む送受信モジュールのブロック図である。図５に示す制御装置のブロック図である。図６に示す実行頻度情報の一例を示す図である。図６に示す機能対テーブルの一例を示す図である。（ａ）は図６に示す演算部によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、（ｂ）は（ａ）に示すＳ１０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。（ａ）は光パワー制御部が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部が消光機能を停止中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図であり、（ｂ）は光パワー制御部が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部が消光機能を実行中であるときの実行頻度情報を示す図である。（ａ）は光パワー制御部が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部が消光機能を停止中であるときの実行頻度情報を示す図であり、（ｂ）は光パワー制御部が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部が消光機能を実行中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。第２実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。（ａ）は図１２に示す演算部によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、（ｂ）は（ａ）に示すＳ２０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。（ａ）は警報機能部が警報機能を停止中であるときの実行頻度情報を示す図であり、（ｂ）は制御装置の温度が上昇する等して警報機能部が警報機能を実行中であるときの実行頻度情報を示す図である。（ａ）は警報機能部が警報機能を停止中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図であり、（ｂ）は警報機能部が警報機能を実行中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。第３実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。（ａ）は図１６に示す演算部によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、（ｂ）は（ａ）に示すＳ３０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。第４実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。光送受信モジュールの低消費電力状態、消光状態及び発光状態の３つの状態を示す図である。（ａ）は第１実行頻度情報を示す図であり、（ｂ）は第２実行頻度情報を示す図であり、（ｃ）は第３実行頻度情報を示す図である。（ａ）は図１８に示す演算部によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、（ｂ）は（ａ）に示すＳ４０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。

以下図面を参照して、実施形態に係る処理装置について説明する。但し、本発明の技術的範囲はそれらの実施の形態に限定されない。

（実施形態に係る処理装置に関連する処理装置が搭載する制御装置）
実施形態に係る処理装置について説明する前に、実施形態に係る処理装置に関連する処理装置が搭載する制御装置について説明する。

図１は、実施形態に係る処理装置に関連する処理装置が搭載する制御装置のブロック図である。

制御装置９０は、揮発性メモリ９１と、不揮発性メモリ９２と、演算部９３とを有する。

揮発性メモリ９１は、一例ではＳＲＡＭであり、チェックサム領域９１０と、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎとを有する。第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれの大きさは、一例では１２８バイトである。チェックサム領域９１０には、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値に対応するデータを１バイト毎に合算したチェックサムが第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに関連付けて記憶される。ソフトエラーは、ハード故障に起因するビットエラーではなく、宇宙線等の影響により発生するビットエラーである。第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれには、制御装置９０が実行するＮ個の機能のそれぞれに対する設定値が記憶される。

不揮発性メモリ９２は、一例ではフラッシュメモリであり、他の例ではＥＥＰＲＯＭであり、誤り訂正情報領域９２０と、第１設定値領域９２１〜第Ｎ設定値領域９２Ｎとを有する。誤り訂正情報領域９２０は、チェックサム領域９１０に記憶される第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに対応するチェックサムのオリジナルデータを含むチェックサム情報９２０１が記憶される。誤り訂正情報領域９２０は、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値についてソフトエラー訂正処理を実行する実行頻度を示す実行頻度情報９２０２が更に記憶される。第１設定値領域９２１〜第Ｎ設定値領域９２Ｎのそれぞれは、揮発性メモリ９１の第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値のオリジナルデータが記憶される。

図２は、実行頻度情報９２０２の一例を示す図である。

実行頻度情報９２０２において、第１記憶領域９１１〜第３記憶領域９１３は高頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定され、第４記憶領域９１４〜第Ｎ記憶領域９１Ｎは低頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定される。記憶領域に記憶されるソフトエラー訂正処理の実行頻度が高頻度及び低頻度の何れかであるかは、制御装置９０が搭載される処理装置の出荷時に決定されて、不揮発性メモリ９２に実行頻度情報９２０２として書き込まれる。

演算部９３は、一又は複数個のプロセッサ及びその周辺回路を有する。演算部９３は、制御装置９０の全体的な動作を統括的に制御するものであり、例えば、ＣＰＵである。演算部９３は、揮発性メモリ９１記憶されている設定値等に基づいて所定の機能を実現する処理を実行する。また、演算部９３は、複数の設定値等に対する機能を実現する処理を並列に実行できる。

演算部９３は、処理部９３１と、ソフトエラー訂正部９３２とを有する。これらの各部は、揮発性メモリ９１に記憶される設定値により実現される機能モジュールである。

処理部９３１は、揮発性メモリ９１の第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値を使用して、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値に対応する所定の処理を実行する。また、処理部９３１は、複数の設定値に対する機能を実現する処理を並列に実行できる。

ソフトエラー訂正部９３２は、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値にソフトエラーが発生しているか否かを検出して、設定値にソフトエラーが発生していることを検出したときに発生したソフトエラーを訂正する。ソフトエラー訂正部９３２は、誤り訂正情報領域９２０に規定される実行頻度に基づいて、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を実行する。

図３は、ソフトエラー訂正部９３２による第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。

まず、ソフトエラー訂正部９３２は、第４記憶領域９１４に記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を実行する。次いで、ソフトエラー訂正部９３２は、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を３回に亘って順次実行する。次いで、ソフトエラー訂正部９３２は、第５記憶領域９１５に記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を実行した後に、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのそれぞれに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を３回に亘って順次実行する。以降、ソフトエラー訂正部９３２は、第６記憶領域９１６〜第Ｎ記憶領域９１Ｎに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を実行した後に、第１記憶領域９１１〜第Ｎ記憶領域９１Ｎに記憶される設定値のソフトエラー訂正処理を３回に亘って実行する。

ソフトエラー訂正部９３２は、誤り訂正情報領域９２０において高頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定される第１記憶領域９１１〜第３記憶領域９１３のソフトエラー訂正処理を１０回に３回、すなわち３．３回に１回の頻度で実行する。一方、ソフトエラー訂正部９３２は、誤り訂正情報領域９２０において低頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定される第４記憶領域９１４〜第Ｎ記憶領域９１Ｎのソフトエラー訂正処理を（Ｎ−３）×１０回に１回の頻度で実行する。

（実施形態に係る処理装置に関連する処理装置に搭載される制御装置によるソフトエラー訂正処理）
図４は、ソフトエラー訂正部９３２によるソフトエラー訂正処理のフローチャートである。図４に示すソフトエラー訂正処理は、予め不揮発性メモリ９２に記憶されているプログラムに基づいて、主に演算部９３により制御装置９０の各要素と協働して実行される。図４に示す処理は、演算部９３において所定の設定時間毎に実行される。

まず、ソフトエラー訂正部９３２は、誤り訂正情報領域９２０を参照してソフトエラー訂正処理を実行する記憶領域を決定する（Ｓ９０１）。次いで、ソフトエラー訂正部９３２は、Ｓ９０１の処理で決定された記憶領域に記憶される設定値に対応するデータを１バイトずつ合算して、Ｓ９０１の処理で決定された記憶領域に記憶される設定値に対応するチェックサムを演算する（Ｓ９０２）。次いで、ソフトエラー訂正部９３２は、チェックサム領域９１０から、Ｓ９０１の処理で決定された記憶領域に関連付けて記憶されたチェックサムを取得する（Ｓ９０３）。次いで、ソフトエラー訂正部９３２は、Ｓ９０２の処理で演算されたチェックサムと、Ｓ９０３の処理で取得されたチェックサムとが一致するか否かを判定する（Ｓ９０４）。ソフトエラー訂正部９３２は、Ｓ９０２の処理で演算されたチェックサムとＳ９０３の処理で取得されたチェックサムとが一致すると判定する（Ｓ９０４−ＹＥＳ）と、処理を終了する。一方、ソフトエラー訂正部９３２は、Ｓ９０２の処理で演算されたチェックサムとＳ９０３の処理で取得されたチェックサムとが一致しないと判定する（Ｓ９０４−ＮＯ）と、対象の記憶領域に記憶される設定値に対応するデータを訂正する（Ｓ９０５）。ソフトエラー訂正部９３２は、不揮発性メモリ９２の対応する設定値領域に記憶される設定値を取得し、取得した設定値に記憶領域に記憶される設定値を書き換えることで、対象の記憶領域に記憶される設定値に対応するデータを訂正する。

制御装置９０は、記憶領域毎にソフトエラー訂正処理の実行頻度を、搭載される処理装置の出荷時に決定し、処理装置の出荷時に決定された実行頻度でソフトエラー訂正処理をする。制御装置９０は、処理装置の出荷時に決定された実行頻度でソフトエラー訂正処理を実行するので、処理装置の動作中に信号の異常及び温度変化等により外的な状況が変化して処理装置の状態が変化しても、ソフトエラー訂正処理を実行する頻度は変化しない。制御装置９０は、処理装置の状態が変化してもソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更しないので、処理装置の状態の変化によって、記憶する設定値の重要性が高くなった記憶領域に対して十分な頻度でソフトエラー訂正処理が実行されない。

（第１実施形態に係る処理装置の構成及び機能）
図５は、第１実施形態に係る制御装置に関連する制御装置を含む送受信モジュールのブロック図である。送受信モジュールは、実施形態に係る処理装置の一例である。

光送受信モジュール１００は、電気信号受信装置１０１と、光信号送信装置１０２と、光信号受信装置１０３と、電気信号送信装置１０４と、制御装置１とを有する。

電気信号受信装置１０１は、光ネットワークと接続される不図示の上位装置から入力電気信号を受信し、内蔵する不図示のクロックデータリカバリ（Clock Data Recovery、ＣＤＲ）回路により、受信した入力電気信号の波形を成形した電気信号を生成する。電気信号受信装置１０１は、生成した電気信号を光信号送信装置１０２に出力する。光信号送信装置１０２は、電気信号受信装置１０１から入力された電気信号を光信号に変換して出力光信号を生成し、生成した出力光信号を不図示の下位装置に出力する。

光信号受信装置１０３は、不図示の下位装置から入力される入力光信号を電気信号に変換し、変換した電気信号を電気信号送信装置１０４に出力する。電気信号送信装置１０４は、電気信号送信装置１０４から入力される電気信号の波形を、内蔵する不図示のＣＤＲ回路により成形して出力電気信号を生成し、生成した出力電気信号を、不図示の上位装置に送信する。

制御装置１は、電気信号受信装置１０１、光信号送信装置１０２と、光信号受信装置１０３、及び電気信号送信装置１０４を制御するための種々の処理を実行する。また、制御装置は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が高く変更された記憶領域の訂正頻度よりも低くする。併せて、制御装置１は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が低く変更された記憶領域の訂正頻度よりも高くするを有する。

図６は、制御装置１のブロック図である。

制御装置１は、揮発性メモリ１１と、不揮発性メモリ１２と、演算部１３とを有する。演算部１３は、所定の処理を実行する処理部１４と、処理部１４が実行中の処理を記憶する処理状態記憶部１５と、ソフトエラー訂正処理を実行するソフトエラー訂正部１６と、ソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更する訂正頻度変更部１７とを有する。

揮発性メモリ１１は、一例ではＳＲＡＭであり、チェックサム領域１１０と、１０個の第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａとを有する。第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれの大きさは、一例では１２８バイトである。チェックサム領域１１０には、第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに記憶される設定値に対応するデータを１バイト毎に合算したチェックサムが第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに関連付けて記憶される。第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれには、制御装置１が実行する１０個の機能のそれぞれに対する設定値が記憶される。

不揮発性メモリ１２は、一例ではフラッシュメモリであり、他の例ではＥＥＰＲＯＭであり、誤り訂正情報領域１２０と、１０個の第１設定値領域１２１〜第１０設定値領域１２Ａとを有する。誤り訂正情報領域１２０は、チェックサム情報１２０１と、実行頻度情報１２０２と、機能対テーブル１２０３とを記憶する。チェックサム情報１２０１は、チェックサム領域１１０に記憶される第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに対応するチェックサムのオリジナルデータを含む。実行頻度情報１２０２は、第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに記憶される設定値についてソフトエラー訂正処理を実行する実行頻度を示す。

図７は、実行頻度情報１２０２の一例を示す図である。

実行頻度情報１２０２において、第１記憶領域１１１〜第３記憶領域１１３は高頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定され、第４記憶領域１１４〜第１０記憶領域１１Ａは低頻度でソフトエラー訂正処理が実行される領域として規定される。実行頻度情報９２０２に記憶されるソフトエラー訂正処理の実行頻度が高頻度及び低頻度の何れかであるかは、処理部１４が実行する処理に応じて変更可能である。具体的には、実行頻度情報９２０２に記憶されるソフトエラー訂正処理の実行頻度は、機能対テーブル１２０３に記憶される一対の対応する処理の何れの処理が実行されたときに変更される。

図８は、機能対テーブル１２０３の一例を示す図である。

機能対テーブル１２０３は、第６記憶領域１１６に記憶される設定値により実行される消光機能と、第２記憶領域１１２に記憶される設定値により実行される光パワー制御とを第１機能対として記憶する。また、機能対テーブル１２０３は、第３記憶領域１１３に記憶される設定値により実行される状態モニタと、第４記憶領域１１４に記憶される設定値により実行される温度制御とを第２機能対として記憶する。

第１機能対として機能対テーブル１２０３に記憶される消光機能と光パワー制御とは、何れか一方の機能が実行されるときに他方の機能が停止される。同様に、第２機能対として機能対テーブル１２０３に記憶される状態モニタと温度制御とは、何れか一方の機能が実行されるときに他方の機能が停止される。

第１設定値領域１２１〜第１０設定値領域１２Ａのそれぞれは、揮発性メモリ１１の第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに記憶される設定値のオリジナルデータが記憶される。

演算部１３は、一又は複数個のプロセッサ及びその周辺回路を有する。演算部１３は、制御装置１の全体的な動作を統括的に制御するものであり、例えば、ＣＰＵである。演算部１３は、揮発性メモリ１１の第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに記憶されている設定値に基づいて所定の機能を実現する処理を実行する。また、演算部１３は、複数の設定値に対する機能を実現する処理を並列に実行できる。

処理部１４は、外部インターフェイス部１４０と、光パワー制御部１４１と、状態モニタ部１４２と、温度制御部１４３と、モニタ信号出力機能部１４４とを有する。処理部１４は、消光機能部１４５と、警報機能部１４６と、変調制御部１４７と、基準信号出力機能部１４８と、受信信号しきい値制御部１４９とを更に有する。これらの各部、処理状態記憶部１５、ソフトエラー訂正部１６及び訂正頻度変更部１７は、揮発性メモリ１１に記憶される設定値により実現される機能モジュールである。外部インターフェイス部１４０は第１記憶領域１１１にされる設定値により実現され、光パワー制御部１４１は第２記憶領域１１２にされる設定値により実現され、状態モニタ部１４２は第３記憶領域１１３にされる設定値により実現される。温度制御部１４３は第４記憶領域１１４にされる設定値により実現され、モニタ信号出力機能部１４４は第５記憶領域１１５にされる設定値により実現され、消光機能部１４５は第６記憶領域１１６にされる設定値により実現される。警報機能部１４６は第７記憶領域１１７にされる設定値により実現され、変調制御部１４７は第８記憶領域１１８にされる設定値により実現され、基準信号出力機能部１４８は第９記憶領域１１９にされる設定値により実現される。受信信号しきい値制御部１４９は、第１０記憶領域１１Ａにされる設定値により実現される。

外部インターフェイス部１４０は、ＭＤＩＯ等の通信規格に基づいて、不図示の上位装置との間で種々の設定・情報を送受信する通信処理を実行する。光パワー制御部１４１は、光信号送信装置１０２が出力光信号を出力するときの光パワーを制御する。例えば、光パワー制御部１４１は、出力光信号を出力するときの光パワーが一定になるようにレーザダイオードを制御する。状態モニタ部１４２は、光送受信モジュール１００の種々の状態を監視する。状態モニタ部１４２は、光信号送信装置１０２が不図示の温度センサに接続され、光信号送信装置１０２が出力光信号を出力するときに使用するレーザダイオード等の光送受信モジュール１００に総裁される種々の素子の温度を監視する。また、状態モニタ部１４２は、不図示のフォトダイオード及びＴＡＰフォトダイオードと接続され、光信号送信装置１０２が出力する出力光信号の光強度、及び光信号受信装置１０３が入力される入力光信号の光強度を監視する。

温度制御部１４３は、状態モニタ部１４２が温度センサから取得した温度に応じて、電気信号受信装置１０１及び電気信号送信装置１０４のＣＤＲ回路等の動作を制御して、生成される電気信号の波形を制御する。モニタ信号出力機能部１４４は、不図示の上位装置から受信した入力電気信号、及び上位装置に送信する出力電気信号のクロックのタイミング情報を、外部インターフェイス部１４０を介して上位装置に出力する。

消光機能部１４５は、光送受信モジュール１００に入力される信号の状態に応じて、電気信号受信装置１０１、光信号送信装置１０２、光信号受信装置１０３、及び電気信号送信装置１０４の動作の一部又は全てを停止する。消光機能部１４５は、電気信号受信装置１０１が上位装置から入力電気信号を送信されていないときに、電気信号受信装置１０１、及び光信号送信装置１０２の動作の一部又は全てを停止する。また、消光機能部１４５は、光信号受信装置１０３が下位装置から入力光信号を送信されていないときに、光信号受信装置１０３、及び電気信号送信装置１０４の動作の一部又は全てを停止する。

警報機能部１４６は、温度の異常上昇、光信号送信装置１０２が出力光信号を出力するときの光パワーの異常上昇及び異常下降を検出し、検出した異常を示す警報情報を外部インターフェイス部１４０を介して上位装置に出力する。変調制御部１４７は、光信号発信装置１０２が光信号を生成するときの変調処理を制御する。

基準信号出力機能部１４８は、光送受信モジュール１００の起動時等において、疑似ランダム・パターン（Pseudo Random Bit Sequence、ＰＲＢＳ）等の伝送用テストパターンを生成する。基準信号出力機能部１４８は生成した伝送用テストパターンを光信号送信装置１０２に出力し、光信号送信装置１０２は入力された伝送用パターンを下位装置に送信する。受信信号しきい値制御部１４９は、電気信号送信装置１０４が受信する入力光信号の光パワーに応じて、電気信号送信装置１０４が入力光信号に対応する信号値を判定するときのしきい値を制御する。

機能対テーブル１２０３に第１記憶対として記憶される消光機能を実行する消光機能部１４５と光パワー制御を実行する光パワー制御部１４１とは、何れか一方が機能を実行するときに他方が機能を停止する。同様に、第２機能対として機能対テーブル１２０３に記憶される状態モニタを実行する状態モニタ部１４２と温度制御を実行する温度制御部１４３とは、何れか一方が機能を実行するときに他方が機能を停止する。

処理状態記憶部１５は、処理部１４の外部インターフェイス部１４０〜受信信号しきい値制御部１４９の何れが実行中の処理を記憶する。処理状態記憶部１５は、外部インターフェイス部１４０〜受信信号しきい値制御部１４９の中で何れの機能モジュールが処理を実行中であるかを示す処理フラグを立てる。例えば、処理状態記憶部１５は、外部インターフェイス部１４０が処理を開始したときに外部インターフェイス部１４０が処理を実行中であることを示す処理フラグを立てる。処理状態記憶部１５は、外部インターフェイス部１４０が処理を開始したときに、外部インターフェイス部１４０が処理を実行中であることを示す処理フラグを降ろす。

（第１実施形態に係る制御装置によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理）
図９（ａ）は演算部１３によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、図９（ｂ）は図９（ａ）に示すＳ１０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。図９（ａ）に示すソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は、予め不揮発性メモリ１２に記憶されているプログラムに基づいて、主に演算部１３により制御装置１の各要素と協働して実行される。図９（ａ）に示す処理は、演算部１３において所定の設定時間毎に実行される。また、図９（ａ）において、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は一連の処理として示されるが、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は別個の処理として実行されてもよい。

まず、ソフトエラー訂正部１６は、誤り訂正情報領域１２０を参照してソフトエラー訂正処理を実行する（Ｓ１０１）。ソフトエラー訂正部１６が実行するソフトエラー訂正処理は、図４を参照して説明されたソフトエラー訂正部９３２が実行するソフトエラー訂正処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。

次いで、訂正頻度変更部１７は、処理部１４が実行する処理に応じてソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更する（Ｓ１０２）。

まず、訂正頻度変更部１７は、処理状態記憶部１５が記憶する処理部１４の処理状態を取得する（Ｓ１１１）。次いで、訂正頻度変更部１７は、処理状態記憶部１５が実行中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているか否かを判定する（Ｓ１１２）。訂正頻度変更部１７は、処理状態記憶部１５が実行中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されていると判定した（Ｓ１１２−ＹＥＳ）とき、処理を終了する。

訂正頻度変更部１７は、実行中であると記憶される処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定した（Ｓ１１２−ＮＯ）、実行頻度情報１２０２を変更するか否かを判定する（Ｓ１１３）。訂正頻度変更部１７は、機能対テーブル１２０３を参照して、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定された記憶領域に対応する機能モジュールが機能対を有するか否かを判定して、実行頻度情報１２０２を変更するか否かを判定する。訂正頻度変更部１７は、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定された記憶領域に対応する機能モジュールが機能対を有するときに、実行頻度情報１２０２を変更する、と判定する。一方、訂正頻度変更部１７は、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定された記憶領域に対応する機能モジュールが機能対を有していないときに、実行頻度情報１２０２を変更しない、と判定する。

訂正頻度変更部１７は、実行中であり且つ実行頻度情報１２０２において設定値が低頻度に記憶されていると判定した機能モジュールが機能対を有していないので、実行頻度情報１２０２を変更しないと判定する（Ｓ１１３−ＮＯ）と、処理を終了する。

訂正頻度変更部１７は、実行中であり且つ設定値が低頻度に記憶されていると判定した機能モジュールが機能対を有しているので、実行頻度情報１２０２を変更すると判定する（Ｓ１１３−ＹＥＳ）と、実行頻度情報１２０２を変更する（Ｓ１１４）。訂正頻度変更部１７は、実行中であり且つ設定値が低頻度に記憶されていると判定した機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域を低頻度から高頻度に変更する。併せて、訂正頻度変更部１７は、機能対テーブル１２０３に機能対として記憶された機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域を高頻度から低頻度に変更する。

例えば、訂正頻度変更部１７は、実行中であり且つ設定値が低頻度に記憶されていると判定した消光機能の設定値が記憶される第６記憶領域１１６を低頻度から高頻度に変更する。併せて、訂正頻度変更部１７は、機能対テーブル１２０３に消光機能と共に第１機能対として記憶された光パワー制御の設定値が記憶される第２記憶領域１１２を高頻度から低頻度に変更する。

また、訂正頻度変更部１７は、実行中であり且つ設定値が低頻度に記憶されていると判定した状態モニタの設定値が記憶される第３記憶領域１１３を低頻度から高頻度に変更する。併せて、訂正頻度変更部１７は、機能対テーブル１２０３に消光機能と共に第２機能対として記憶された温度制御の設定値が記憶される第４記憶領域１１４を高頻度から低頻度に変更する。

（第１実施形態に係る制御装置の作用効果）
第１実施形態に係る制御装置は、処理部が実行する処理に応じて、ソフトエラー訂正等の誤り訂正処理を実行する訂正頻度を変更することで、処理装置の出荷後の外的な状況の変化に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更することができる。

また、第１実施形態に係る制御装置は、一方が実行されるとき他方が停止する機能モジュールの対を機能対として記憶することで、機能対の実行中の一方の機能誤り訂正処理を高頻度とし且つ停止中の他方の機能誤り訂正処理を低頻度とすることができる。

図１０（ａ）は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるときの実行頻度情報１２０２を示す図である。図１０（ｂ）は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるときの実行頻度情報１２０２´を示す図である。図１１（ａ）は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。図１１（ｂ）は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。

制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるとき、光パワー制御の設定値を記憶する第２記憶領域１１２のソフトエラー訂正処理の実行頻度を高頻度に設定する。併せて、制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるとき、消光機能の設定値を記憶する第６記憶領域１１６のソフトエラー訂正処理の実行頻度を低頻度に設定する。

制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるとき、パワー制御の設定値を記憶する第２記憶領域１１２のソフトエラー訂正処理を１０回に３回、すなわち３．３回に１回の頻度で実行する。一方、制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を実行中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を停止中であるとき、消光機能の設定値を記憶する第６記憶領域１１６のソフトエラー訂正処理を７０（＝７×１０）回に１回の頻度で実行する。

制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるとき、光パワー制御の設定値を記憶する第２記憶領域１１２のソフトエラー訂正処理の実行頻度を低頻度に設定する。併せて、制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるとき、消光機能の設定値を記憶する第６記憶領域１１６のソフトエラー訂正処理の実行頻度を高頻度に設定する。

制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるとき、パワー制御の設定値を記憶する第２記憶領域１１２のソフトエラー訂正処理を７０（＝７×１０）回に１回の頻度で実行する。一方、制御装置１は、光パワー制御部１４１が光パワー制御を停止中であり且つ消光機能部１４５が消光機能を実行中であるとき、消光機能の設定値を記憶する第６記憶領域１１６のソフトエラー訂正処理を３．３回に１回の頻度で実行する。

（第２実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置の構成及び機能）
図１２は、第２実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。第２実施形態に係る処理装置は、制御装置２が制御装置１の代わりに搭載される以外は光送受信モジュール１００と同様の構成を有するので図示及び詳細な説明は省略する。

制御装置２は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が高く変更された記憶領域の訂正頻度よりも低くする。併せて、制御装置２は、１つの設定値を記憶する記憶領域に対する誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の１つの記憶領域に対する誤り訂正処理による訂正頻度を、訂正頻度が低く変更された記憶領域の訂正頻度よりも高くする。

制御装置２は、不揮発性メモリ２２及び演算部２３を不揮発性メモリ１２及び演算部１３の代わりに有する制御装置１と相違する。不揮発性メモリ２２は、誤り訂正情報領域２２０を誤り訂正情報領域１２０の代わりに有することが不揮発性メモリ１２と相違する。誤り訂正情報領域２２０は、機能対テーブル１２０３を有さないことが誤り訂正情報領域１２０と相違する。演算部２３は、訂正頻度変更部２７を訂正頻度変更部１７の代わりに有することが演算部１３と相違する。誤り訂正情報領域２２０及び訂正頻度変更部２７以外の制御装置２の構成要素の構成及び機能は、同一符号が付された制御装置１の構成要素の構成及び機能と同一なので、ここでは詳細な説明は省略する。

（第２実施形態に係る制御装置によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理）
図１３（ａ）は演算部２３によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、図１３（ｂ）は図１３（ａ）に示すＳ２０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。図１３（ａ）に示すソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は、予め不揮発性メモリ２２に記憶されているプログラムに基づいて、主に演算部２３により制御装置２の各要素と協働して実行される。図１３（ａ）に示す処理は、演算部２３において所定の設定時間毎に実行される。また、図１３（ａ）において、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は一連の処理として示されるが、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は別個の処理として実行されてもよい。

まず、ソフトエラー訂正部１６は、誤り訂正情報領域２２０を参照してソフトエラー訂正処理を実行する（Ｓ２０１）。ソフトエラー訂正部１６が実行するソフトエラー訂正処理は、図４を参照して説明されたソフトエラー訂正部９３２が実行するソフトエラー訂正処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。

次いで、訂正頻度変更部２７は、処理部１４が実行する処理に応じてソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更する（Ｓ２０２）。

まず、訂正頻度変更部２７は、処理状態記憶部１５が記憶する処理部１４の処理状態を取得する（Ｓ２１１）。次いで、訂正頻度変更部２７は、処理状態記憶部１５が実行中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているか否かを判定する（Ｓ２１２）。訂正頻度変更部２７は、処理状態記憶部１５が実行中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されていると判定した（Ｓ２１２−ＹＥＳ）とき、処理はＳ２１４に進む。

訂正頻度変更部２７は、実行中であると記憶される処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定した（Ｓ２１２−ＮＯ）、実行頻度情報１２０２を変更する（Ｓ２１３）。訂正頻度変更部２７は、実行中であると記憶される処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域を、実行頻度情報１２０２において低頻度から高頻度に移動する。

次いで、訂正頻度変更部２７は、処理状態記憶部１５が停止中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されているか否かを判定する（Ｓ２１４）。訂正頻度変更部２７は、処理状態記憶部１５が停止中であると記憶する処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されていると判定した（Ｓ２１４−ＹＥＳ）とき、処理を終了する。

訂正頻度変更部２７は、停止中であると記憶される処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域が、実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されていると判定した（Ｓ２１４−ＮＯ）、実行頻度情報１２０２を変更する（Ｓ２１５）。訂正頻度変更部２７は、停止中であると記憶される処理モジュールの設定値が記憶される記憶領域を、実行頻度情報１２０２において高頻度から低頻度に移動する。

図１４（ａ）は、警報機能部１４６が警報機能を停止中であるときの実行頻度情報１２０２を示す図である。図１４（ｂ）は、制御装置２の温度が上昇する等して、警報機能部１４６が警報機能を実行中であるときの実行頻度情報１２０２´´を示す図である。図１５（ａ）は、警報機能部１４６が警報機能を停止中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。図１５（ｂ）は、警報機能部１４６が警報機能を実行中であるときのソフトエラー訂正処理の実行順序の一例を示す図である。

制御装置２は、警報機能部１４６が警報機能を停止中であるとき、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度を低頻度に設定する。一方、制御装置２は、警報機能部１４６が警報機能を実行中であるとき、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度を高頻度に設定する。

制御装置２は、警報機能部１４６が警報機能を動作中であるとき、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理を４０回に９回、すなわち４．４回に１回の頻度で実行する。一方、制御装置１は、警報機能部１４６が警報機能を停止中であるとき、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理を７０（＝７×１０）回に１回の頻度で実行する。

制御装置２は、警報機能部１４６が警報機能を開始することに応じて、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度を低頻度から高頻度に変更する。第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度が低頻度から高頻度に変更されることに応じて、高頻度に分類される第１記憶領域１１１〜第３記憶領域１１３のソフトエラー訂正処理の実行頻度は、３．３回に１回から４．４回に一回に一律減少する。

制御装置２は、警報機能部１４６が警報機能を停止することに応じて、警報機能の設定値を記憶する第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度を高頻度から低頻度に変更する。第７記憶領域１１７のソフトエラー訂正処理の実行頻度が高頻度から低頻度に変更されることに応じて、高頻度に分類される第１記憶領域１１１〜第３記憶領域１１３のソフトエラー訂正処理の実行頻度は、４．４回に１回から３．３回に一回に一律増加する。

（第２実施形態に係る制御装置の作用効果）
第２実施形態に係る制御装置は、処理部が実行する処理に応じて、ソフトエラー訂正等の誤り訂正処理を実行する訂正頻度を変更することで、処理装置の出荷後の外的な状況の変化に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更することができる。

また、第２実施形態に係る制御装置は、機能モジュールが処理を開始することに応じて当該機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を低頻度から高頻度に変更することで、高頻度に分類される機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を一律減少させる。また、第２実施形態に係る制御装置は、機能モジュールが処理を開始することに応じて当該機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を低頻度から高頻度に変更することで、低頻度に分類される機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を一律増加させる。

また、第２実施形態に係る制御装置は、機能モジュールが処理を停止することに応じて当該機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を高頻度から低頻度に変更することで、高頻度に分類される機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を一律増加させる。また、第２実施形態に係る制御装置は、機能モジュールが処理を停止することに応じて当該機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を高頻度から低頻度に変更することで、低頻度に分類される機能モジュールのエラー訂正処理の実行頻度を一律減少させる。

（第３実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置の構成及び機能）
図１６は、第３実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。第３実施形態に係る処理装置は、制御装置３が制御装置１の代わりに搭載される以外は光送受信モジュール１００と同様の構成を有するので図示及び詳細な説明は省略する。

制御装置３は、動作状態が変化した機能モジュールが機能対テーブルに記憶されて機能対となる機能モジュールを有するか否かに応じて実行頻度情報を変更する処理を変化させる。制御装置３は、動作状態が変化した機能モジュールと機能対となる機能モジュールがあるとき、制御装置１と同様に、動作状態が変化した機能モジュールと機能対となる機能モジュールとを高頻度と低頻度との間で入れ替える。制御装置３は、動作状態が変化した機能モジュールと機能対となる機能モジュールがないとき、制御装置２と同様に、動作状態が変化した機能モジュールのみを高頻度と低頻度との間で移動する。

制御装置３は、演算部３３を演算部１３の代わりに有する制御装置１と相違する。演算部３３は、訂正頻度変更部３７を訂正頻度変更部１７の代わりに有することが演算部１３と相違する。訂正頻度変更部３７以外の制御装置３の構成要素の構成及び機能は、同一符号が付された制御装置１の構成要素の構成及び機能と同一なので、ここでは詳細な説明は省略する。訂正頻度変更部３７は、処理状態取得部３７１と、処理状態判定部３７２と、機能対判定部３７３と、第１訂正頻度変更部３７４と、第２訂正頻度変更部３７５とを有する。

（第３実施形態に係る制御装置によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理）
図１７（ａ）は演算部３３によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、図１７（ｂ）は図１７（ａ）に示すＳ３０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。図１７（ａ）に示すソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は、予め不揮発性メモリ１２に記憶されているプログラムに基づいて、主に演算部１３により制御装置３の各要素と協働して実行される。図１７（ａ）に示す処理は、演算部３３において所定の設定時間毎に実行される。また、図１７（ａ）において、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は一連の処理として示されるが、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は別個の処理として実行されてもよい。

まず、ソフトエラー訂正部１６は、誤り訂正情報領域１２０を参照してソフトエラー訂正処理を実行する（Ｓ３０１）。ソフトエラー訂正部１６が実行するソフトエラー訂正処理は、図４を参照して説明されたソフトエラー訂正部９３２が実行するソフトエラー訂正処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。

次いで、訂正頻度変更部３７は、処理部１４が実行する処理に応じてソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更する（Ｓ３０２）。

まず、処理状態取得部３７１は、処理状態記憶部１５が記憶する処理部１４の処理状態を取得する（Ｓ３１１）。次いで、処理状態判定部３７２は、処理状態取得部３７１が前回取得した処理状態と、処理状態取得部３７１が今回取得した処理状態との間で機能モジュールの動作状態が変化したか否かを判定する（Ｓ３１２）。処理状態判定部３７２が機能モジュールの動作状態が変化していないと判定する（Ｓ３１２−ＮＯ）と、処理は終了する。

処理状態判定部３７２が機能モジュールの動作状態が変化していると判定する（Ｓ３１２−ＹＥＳ）と、機能対判定部３７３は、状態が変化した機能モジュールに機能対があるか否かを判定する（Ｓ３１３）。

機能対判定部３７３によって状態が変化した機能モジュールに機能対があると判定される（Ｓ３１３−ＹＥＳ）と、第１訂正頻度変更部３７４は、実行頻度情報を変更するか否かを判定する（Ｓ３１４）。第１訂正頻度変更部３７４は、機能モジュールが停止状態から動作状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更しないと判定する。また、第１訂正頻度変更部３７４は、機能モジュールが動作状態から停止状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更しないと判定する。第１訂正頻度変更部３７４によって実行頻度情報を変更しないと判定される（Ｓ３１４−ＮＯ）と、処理は終了する。

一方、第１訂正頻度変更部３７４は、機能モジュールが停止状態から動作状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更すると判定する。また、第１訂正頻度変更部３７４は、機能モジュールが動作状態から停止状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更すると判定する。第１訂正頻度変更部３７４は、実行頻度情報を変更しないと判定する（Ｓ３１４−ＹＥＳ）と、状態が変化した機能モジュール頻度及び当該機能モジュールの機能対である機能モジュールを高頻度から低頻度又は低頻度から高頻度に変更する（Ｓ３１５）。

機能対判定部３７３によって状態が変化した機能モジュールに機能対がないと判定される（Ｓ３１３−ＮＯ）と、第２訂正頻度変更部３７５は、実行頻度情報を変更するか否かを判定する（Ｓ３１６）。第２訂正頻度変更部３７５は、機能モジュールが停止状態から動作状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更しないと判定する。また、第２訂正頻度変更部３７５は、機能モジュールが動作状態から停止状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更しないと判定する。第２訂正頻度変更部３７５によって実行頻度情報を変更しないと判定される（Ｓ３１６−ＮＯ）と、処理は終了する。

一方、第２訂正頻度変更部３７５は、機能モジュールが停止状態から動作状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において低頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更すると判定する。また、第２訂正頻度変更部３７５は、機能モジュールが動作状態から停止状態に変化したとき、機能モジュールの設定値が記憶される記憶領域が実行頻度情報１２０２において高頻度に記憶されているとき、実行頻度情報を変更すると判定する。第２訂正頻度変更部３７５は、実行頻度情報を変更しないと判定する（Ｓ３１６−ＹＥＳ）と、状態が変化した機能モジュール頻度を高頻度から低頻度又は低頻度から高頻度に変更する（Ｓ３１７）。

（第３実施形態に係る制御装置の作用効果）
第３実施形態に係る制御装置は、動作状態が変化した機能モジュールと機能対となる機能モジュールがあるか否かに応じて実行頻度情報の変更方法を変更することで、実行頻度情報を機能モジュールに応じてより適切に変更することができる。

（第４実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置の構成及び機能）
図１８は、第４実施形態に係る処理装置に搭載される制御装置のブロック図である。第４実施形態に係る処理装置は、制御装置４が制御装置１の代わりに搭載される以外は光送受信モジュール１００と同様の構成を有するので図示及び詳細な説明は省略する。

制御装置４は、光送受信モジュール１００の状態に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更する。光送受信モジュール１００は図１９に示す低消費電力状態、消光状態及び発光状態の３つの状態で動作する。低消費電力状態は光送受信モジュール１００が電気信号及び光信号を全く送受信しない状態であり、消光状態は光送受信モジュール１００が電気信号のみ送受信し、光信号を全く送受信しない状態である。発光状態は、光送受信モジュール１００が電気信号及び光信号の双方を送受信する状態である。

制御装置４は、不揮発性メモリ４２及び演算部４３を不揮発性メモリ１２及び演算部１３の代わりに有する制御装置１と相違する。不揮発性メモリ４２は、誤り訂正情報領域４２０を誤り訂正情報領域１２０の代わりに有することが不揮発性メモリ１２と相違する。演算部４３は、訂正頻度変更部４７を訂正頻度変更部１７の代わりに有することが演算部１３と相違する。誤り訂正情報領域４２０及び訂正頻度変更部２７以外の制御装置２の構成要素の構成及び機能は、同一符号が付された制御装置１の構成要素の構成及び機能と同一なので、ここでは詳細な説明は省略する。

誤り訂正情報領域４２０は、チェックサム情報１２０１と、第１実行頻度情報１２２１と、第２実行頻度情報１２２２と、第３実行頻度情報１２２３を記憶する。チェックサム情報１２０１は、チェックサム領域１１０に記憶される第１記憶領域１１１〜第１０記憶領域１１Ａのそれぞれに対応するチェックサムのオリジナルデータを含む。第１実行頻度情報１２２１は光送受信モジュール１００が低消費電力状態であるときに使用され、第２実行頻度情報１２２２は光送受信モジュール１００が消光状態であるときに使用される。第３実行頻度情報１２２３は、光送受信モジュール１００が発光状態であるときに使用される。

図２０（ａ）は第１実行頻度情報１２２１を示す図であり、図２０（ｂ）は第２実行頻度情報１２２２を示す図であり、図２０（ｃ）は第３実行頻度情報１２２３を示す図である。

低消費電力状態で使用される第１実行頻度情報１２２１は、外部インターフェイス部１４０の設定値を記憶する第１記憶領域１１１及び警報機能部１４６の設定値を記憶する第７記憶領域１１７を高頻度とし、他の記憶領域を低頻度とする。消光状態で使用される第２実行頻度情報１２２２は、第１記憶領域１１１及び第７記憶領域１１７に加えて受信信号しきい値制御部１４９の設定値を記憶する第１０記憶領域１１Ａを高頻度とし、他の記憶領域を低頻度とする。発行状態で使用される第３実行頻度情報１２２３は、第１記憶領域１１１〜第３記憶領域１１３を高頻度とし、他の記憶領域を低頻度とする。

（第４実施形態に係る制御装置によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理）
図２１（ａ）は演算部４３によるソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理のフローチャートであり、図２１（ｂ）は図２１（ａ）に示すＳ４０２の処理のより詳細な処理を示すフローチャートである。図２１（ａ）に示すソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は、予め不揮発性メモリ４２に記憶されているプログラムに基づいて、主に演算部４３により制御装置４の各要素と協働して実行される。図２１（ａ）に示す処理は、演算部４３において所定の設定時間毎に実行される。また、図２１（ａ）において、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は一連の処理として示されるが、ソフトエラー訂正処理及び訂正頻度変更処理は別個の処理として実行されてもよい。

まず、ソフトエラー訂正部１６は、誤り訂正情報領域２２０を参照してソフトエラー訂正処理を実行する（Ｓ４０１）。ソフトエラー訂正部１６が実行するソフトエラー訂正処理は、図４を参照して説明されたソフトエラー訂正部９３２が実行するソフトエラー訂正処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。

次いで、訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態に応じてソフトエラー訂正処理を実行する頻度を変更する（Ｓ４０２）。

まず、訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態を取得する（Ｓ４１１）。次いで、訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態が低消費電力状態であるか否かを判定する（Ｓ４１２）。訂正頻度変更部４７は、受信信号しきい値制御部１４９が停止中であるとき低消費電力状態であると判定し、受信信号しきい値制御部１４９が動作中であるとき低消費電力状態ではないと判定する。訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態が低消費電力状態であると判定する（Ｓ４１２−ＹＥＳ）と、使用する実行頻度情報として第１実行頻度情報１２２１を選択する（Ｓ４１３）。

訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態が低消費電力状態ではないと判定する（Ｓ４１２−ＮＯ）と、光送受信モジュール１００の状態が消光状態であるか否かを判定する（Ｓ４１４）。訂正頻度変更部４７は、光パワー制御部１４１が停止中であるとき消光状態であると判定し、光パワー制御部１４１が動作中であるとき消光状態ではないと判定する。訂正頻度変更部４７は、光送受信モジュール１００の状態が消光状態であると判定する（Ｓ４１４−ＹＥＳ）と、使用する実行頻度情報として第２実行頻度情報１２２２を選択する（Ｓ４１５）。光送受信モジュール１００の状態が消光状態ではないと判定する（Ｓ４１４−ＮＯ）と、使用する実行頻度情報として第３実行頻度情報１２２３を選択する（Ｓ４１６）。

（第４実施形態に係る制御装置の作用効果）
第４実施形態に係る制御装置は、光送受信モジュール１００の状態に応じて、ソフトエラー訂正等の誤り訂正処理を実行する訂正頻度を変更することで、処理装置の出荷後の外的な状況の変化に応じて、誤り訂正の実行頻度を変更することができる。

（実施形態の制御装置の変形例）
制御装置１〜４は、光送受信モジュール１００に搭載されるが、実施形態の制御装置は、光送受信モジュール１００以外の所定の処理を実行する処理装置に搭載されてもよい。また、制御装置１〜４は、ソフトエラー訂正処理を実行するが、実施形態の制御装置は、ハード故障に起因するビットエラーを検出する構成としてもよい。また、制御装置１〜４は、不揮発性メモリに記憶されたデータを揮発性メモリに記憶されたデータに上書きすることで誤り訂正するが、実施形態の制御装置は、誤り検出訂正（error detection and correction、ＥＣＣ）により誤り訂正してもよい。

また、制御装置１〜４は、記憶領域を低頻度及び高頻度の２つの頻度に分けて実行頻度情報を規定するが、実施形態の制御装置は、記憶領域を低頻度、中頻度及び高頻度の３つの頻度に分けて実行頻度情報を規定してもよい。さらに、実施形態の制御装置は、記憶領域を４つ以上の頻度に分けて実行頻度情報を規定してもよい。

１〜４制御装置
１１揮発性メモリ
１２、２２、４２不揮発性メモリ
１３、２３、３３、４３演算部
１４、２４、３４、４４処理部
１５処理状態記憶部
１６ソフトエラー訂正部
１７、２７、３７、４７訂正頻度変更部

Claims

複数の機能に対する設定値をそれぞれ記憶する複数の記憶領域を含む記憶部と、
前記設定値のそれぞれを使用して所定の処理を実行する処理部と、
前記記憶部に記憶される前記設定値のそれぞれに誤りがあるか否かを判定し誤りがある場合それぞれの誤りを訂正する誤り訂正処理を実行する誤り訂正部と、
前記処理部が実行する処理に応じて、前記誤り訂正部が前記誤り訂正処理を実行する頻度である訂正頻度を変更する訂正頻度変更部と、を有し、
前記訂正頻度変更部は、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の１つの前記記憶領域に対する前記誤り訂正処理による訂正頻度を、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域の訂正頻度よりも低くし、且つ、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の１つの前記記憶領域に対する前記誤り訂正処理による訂正頻度を、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域の訂正頻度よりも高くする第１訂正頻度変更部を有する、処理装置。
前記訂正頻度変更部は、
１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の複数の前記記憶領域の少なくとも一部に対する前記誤り訂正処理を所定の頻度分だけ一律に低くし、且つ、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の複数の前記記憶領域の少なくとも一部に対する前記誤り訂正処理を所定の頻度分だけ一律に高くする第２訂正頻度変更部と、
前記１つの設定値を使用する第１処理を実行するときに処理を停止する第２処理に使用される設定値があるときに、前記第１訂正頻度変更部による訂正頻度変更処理を実行させ、前記第２処理に使用される設定値がないときに、前記第２訂正頻度変更部による訂正頻度変更処理を実行させる機能対判定部と、
を更に有する、請求項１に記載の処理装置。
複数の機能に対する設定値をそれぞれ記憶する複数の記憶領域を含む記憶部と、
前記設定値のそれぞれを使用して所定の処理を実行する処理部と、
前記記憶部に記憶される前記設定値のそれぞれに誤りがあるか否かを判定し誤りがある場合それぞれの誤りを訂正する誤り訂正処理を実行する誤り訂正部と、
前記処理部が実行する処理に応じて、前記誤り訂正部が前記誤り訂正処理を実行する頻度である訂正頻度を変更する訂正頻度変更部と、を有し、
前記訂正頻度変更部は、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の複数の前記記憶領域の少なくとも一部に対する前記誤り訂正処理を所定の頻度分だけ一律に低くし、且つ、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の複数の前記記憶領域の少なくとも一部に対する前記誤り訂正処理を所定の頻度分だけ一律に高くする第２訂正頻度変更部を有する、処理装置。
前記訂正頻度変更部は、
１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が高く変更されたときに、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域以外の他の１つの前記記憶領域に対する前記誤り訂正処理による訂正頻度を、前記訂正頻度が高く変更された記憶領域の訂正頻度よりも低くし、且つ、１つの前記設定値を記憶する記憶領域に対する前記誤り訂正部による訂正頻度が低く変更されたときに、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域以外の他の１つの前記記憶領域に対する前記誤り訂正処理による訂正頻度を、前記訂正頻度が低く変更された記憶領域の訂正頻度よりも高くする第１訂正頻度変更部と、
前記１つの設定値を使用する第１処理を実行するときに処理を停止する第２処理に使用される設定値があるときに、前記第１訂正頻度変更部による訂正頻度変更処理を実行させ、前記第２処理に使用される設定値がないときに、前記第２訂正頻度変更部による訂正頻度変更処理を実行させる機能対判定部と、
を更に有する、請求項３に記載の処理装置。