JP6812206B2 - 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム - Google Patents

測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP6812206B2
JP6812206B2 JP2016218206A JP2016218206A JP6812206B2 JP 6812206 B2 JP6812206 B2 JP 6812206B2 JP 2016218206 A JP2016218206 A JP 2016218206A JP 2016218206 A JP2016218206 A JP 2016218206A JP 6812206 B2 JP6812206 B2 JP 6812206B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
illumination
image
pixel
phase
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016218206A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2017129561A5 (enrdf_load_stackoverflow
JP2017129561A (ja
Inventor
島田　卓也
卓也 島田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to EP17150930.0A priority Critical patent/EP3196633B1/en
Priority to US15/409,415 priority patent/US10240982B2/en
Publication of JP2017129561A publication Critical patent/JP2017129561A/ja
Publication of JP2017129561A5 publication Critical patent/JP2017129561A5/ja
Priority to JP2020207097A priority patent/JP6942876B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6812206B2 publication Critical patent/JP6812206B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
JP2016218206A 2016-01-20 2016-11-08 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム Active JP6812206B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP17150930.0A EP3196633B1 (en) 2016-01-20 2017-01-11 Apparatus and method for measuring a reflection characteristic of an object
US15/409,415 US10240982B2 (en) 2016-01-20 2017-01-18 Measurement system, information processing apparatus, information processing method, and medium
JP2020207097A JP6942876B2 (ja) 2016-01-20 2020-12-14 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016009305 2016-01-20
JP2016009305 2016-01-20

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020207097A Division JP6942876B2 (ja) 2016-01-20 2020-12-14 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017129561A JP2017129561A (ja) 2017-07-27
JP2017129561A5 JP2017129561A5 (enrdf_load_stackoverflow) 2019-12-05
JP6812206B2 true JP6812206B2 (ja) 2021-01-13

Family

ID=59394692

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016218206A Active JP6812206B2 (ja) 2016-01-20 2016-11-08 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2016218207A Pending JP2017129562A (ja) 2016-01-20 2016-11-08 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2020207097A Active JP6942876B2 (ja) 2016-01-20 2020-12-14 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016218207A Pending JP2017129562A (ja) 2016-01-20 2016-11-08 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2020207097A Active JP6942876B2 (ja) 2016-01-20 2020-12-14 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (3) JP6812206B2 (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7027807B2 (ja) * 2017-10-30 2022-03-02 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 表示装置、スキャナ、表示システム及びプログラム
CN111356913B (zh) * 2017-12-15 2023-08-01 株式会社堀场制作所 表面特性检查装置和记录介质
WO2020054382A1 (ja) * 2018-09-14 2020-03-19 コニカミノルタ株式会社 表面特性測定用データの出力装置及び表面特性測定装置
WO2020054381A1 (ja) * 2018-09-14 2020-03-19 コニカミノルタ株式会社 表面特性測定用データの出力装置及び表面特性測定装置
JP2020176952A (ja) * 2019-04-19 2020-10-29 キヤノン株式会社 電子機器およびその制御方法
CN110246096B (zh) * 2019-05-30 2023-03-10 深圳市安健科技股份有限公司 一种x光散射线拟合校正方法及装置
JP7452313B2 (ja) * 2020-07-30 2024-03-19 コニカミノルタ株式会社 変角特性の取得方法、画像処理方法、画像表示方法、変角特性の取得装置、および変角特性の取得条件決定プログラム
KR102527883B1 (ko) * 2021-05-18 2023-05-02 연세대학교 산학협력단 표면 형상 정보를 이용한 광학적 속성 측정 방법

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11211673A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Honda Motor Co Ltd 表面性状評価装置および表面性状評価方法
DE19962779B4 (de) * 1999-12-23 2009-06-25 Byk-Gardner Gmbh Vorrichtung zur quantifizierten Bestimmung der Qualität von Oberflächen
JP2007322162A (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 3D Media Co Ltd ３次元形状測定装置及び３次元形状測定方法
JP2008249521A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Konica Minolta Sensing Inc 光学特性測定装置、光学特性測定方法
WO2009019886A1 (ja) * 2007-08-07 2009-02-12 Panasonic Corporation 法線情報生成装置および法線情報生成方法
US7619740B2 (en) * 2007-10-11 2009-11-17 Honeywell International Inc. Microgloss measurement of paper and board
WO2010073547A1 (ja) * 2008-12-25 2010-07-01 パナソニック株式会社 画像処理装置及び擬似立体画像生成装置
JP2014163698A (ja) * 2013-02-21 2014-09-08 Azbil Corp 形状測定装置及び形状測定方法
JP6506507B2 (ja) * 2013-05-15 2019-04-24 キヤノン株式会社 測定装置およびその制御方法
JP6364777B2 (ja) * 2014-01-10 2018-08-01 凸版印刷株式会社 画像データ取得システム及び画像データ取得方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6942876B2 (ja) 2021-09-29
JP2021043225A (ja) 2021-03-18
JP2017129561A (ja) 2017-07-27
JP2017129562A (ja) 2017-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6942876B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
EP3196633B1 (en) Apparatus and method for measuring a reflection characteristic of an object
US10260950B2 (en) Hand-held measurement device for capturing the visual impression of a measurement object
JP6364777B2 (ja) 画像データ取得システム及び画像データ取得方法
JP3809838B2 (ja) 照明源固有ｈｓｖ色座標を用いた画像ハイライト補正方法、画像ハイライト補正プログラム、および画像取得システム
EP3220101B1 (en) Texture evaluation apparatus, texture evaluation method, and computer-readable recording medium
TW201337211A (zh) 形狀反射器及表面輪廓映射
US20150369595A1 (en) Multiple-stage method of investigating surfaces and corresponding apparatus
WO2021059858A1 (ja) 検査方法、プログラム、及び、検査システム
JPH11211673A (ja) 表面性状評価装置および表面性状評価方法
JP6758837B2 (ja) 光沢写像性の２次元分布を取得する装置、方法およびプログラム
WO2020054381A1 (ja) 表面特性測定用データの出力装置及び表面特性測定装置
JP6776004B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
JP2021183918A (ja) 制御装置、制御方法及びプログラム
JP2004108950A (ja) 光学式形状測定システム
KR102171773B1 (ko) 검사 영역 결정 방법 및 이를 이용하는 외관 검사 장치
JP2016008837A (ja) 形状測定方法、形状測定装置、構造物製造システム、構造物製造方法、及び形状測定プログラム
Kinoshita et al. Scale factor effect of RGB monochromatic speckle grains on color speckle distribution
JP2022028344A (ja) 制御装置、制御方法及びプログラム
JP2008224540A (ja) 歪み検査方法および検査装置
WO2019188315A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP6871424B2 (ja) 質感再現装置、質感再現方法、プログラムおよび記録媒体
JP7632472B2 (ja) 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
JP2019184537A (ja) 外観評価装置及び外観評価方法
JP2020169856A (ja) 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191023

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191023

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200529

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201117

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201216

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6812206

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151