JP6803654B2 - Glass substrate inspection equipment - Google Patents

Glass substrate inspection equipment Download PDF

Info

Publication number
JP6803654B2
JP6803654B2 JP2015136070A JP2015136070A JP6803654B2 JP 6803654 B2 JP6803654 B2 JP 6803654B2 JP 2015136070 A JP2015136070 A JP 2015136070A JP 2015136070 A JP2015136070 A JP 2015136070A JP 6803654 B2 JP6803654 B2 JP 6803654B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
inspection
clamp portion
transport
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015136070A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2017022160A (en
Inventor
睦弘 松本
睦弘 松本
雅士 市川
雅士 市川
Original Assignee
東朋テクノロジー株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東朋テクノロジー株式会社 filed Critical 東朋テクノロジー株式会社
Priority to JP2015136070A priority Critical patent/JP6803654B2/en
Publication of JP2017022160A publication Critical patent/JP2017022160A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6803654B2 publication Critical patent/JP6803654B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明の実施形態は、液晶パネルを構成するガラス基板を検査するガラス基板の検査装置に関する。 An embodiment of the present invention relates to a glass substrate inspection device for inspecting a glass substrate constituting a liquid crystal panel.

従来より、例えば液晶パネルを構成するガラス基板の表面パターンや光透過性などを検査するための検査装置の開発が進められている。この種の検査装置は、例えば特許文献1に開示されているように、検査対象物であるガラス基板のうち搬送方向に直交する方向の端部を保持してガラス基板を搬送方向に搬送する。 Conventionally, for example, development of an inspection device for inspecting the surface pattern, light transmission, and the like of a glass substrate constituting a liquid crystal panel has been promoted. As disclosed in Patent Document 1, for example, this type of inspection apparatus transports the glass substrate in the transport direction by holding the end of the glass substrate to be inspected in the direction orthogonal to the transport direction.

特開2009−214106号公報JP-A-2009-214106

しかしながら、この種の検査装置では、ガラス基板を検査する検査部が搬送方向に直交する方向に長く延びている。そのため、ガラス基板のうち搬送方向に直交する方向の端部を保持する構成では、その保持部分が検査部に重なってしまうため、当該保持部分を検査することができない。そのため、ガラス基板の全面にわたって品質を保証することができない。 However, in this type of inspection apparatus, the inspection unit for inspecting the glass substrate extends long in the direction orthogonal to the transport direction. Therefore, in the configuration of holding the end portion of the glass substrate in the direction orthogonal to the transport direction, the holding portion overlaps with the inspection portion, so that the holding portion cannot be inspected. Therefore, the quality cannot be guaranteed over the entire surface of the glass substrate.

そこで、ガラス基板の全面に対して検査を行うことができるガラス基板の検査装置を提供する。 Therefore, a glass substrate inspection device capable of inspecting the entire surface of the glass substrate is provided.

本実施形態に係るガラス基板の検査装置は、液晶パネルを構成するガラス基板を検査する検査装置であって、前記ガラス基板を搬送する第1搬送部および第2搬送部と、前記第1搬送部と前記第2搬送部との間に設けられ、前記ガラス基板を検査する検査部と、を備え、前記第1搬送部として第1クランプ部を備え、前記第2搬送部として第2クランプ部を備え、前記第1クランプ部が前記ガラス基板を前記第2クランプ部側に押し込み、前記第2クランプ部が前記ガラス基板を前記第1クランプ部側から引き込むことにより、前記第1クランプ部から前記第2クランプ部に前記ガラス基板を搬送するように構成されるとともに、前記検査部は、前記ガラス基板を下方からエアにより浮かせるエアベアリングと、前記ガラス基板を検査する検査ユニットと、を備え、前記エアベアリングは、複数のエアベアリングユニットを有し、前記検査ユニットに近いものほど、前記ガラス基板のガタつきや揺れを抑える性能が高い。 The glass substrate inspection device according to the present embodiment is an inspection device that inspects the glass substrate constituting the liquid crystal panel, and includes a first transport unit and a second transport unit for transporting the glass substrate, and the first transport unit. An inspection unit provided between the and the second transport unit and inspecting the glass substrate, a first clamp portion is provided as the first transport portion, and a second clamp portion is provided as the second transport portion. The first clamp portion pushes the glass substrate toward the second clamp portion side, and the second clamp portion pulls the glass substrate from the first clamp portion side, whereby the first clamp portion to the first clamp portion. 2 The glass substrate is configured to be conveyed to the clamp portion, and the inspection unit includes an air bearing that floats the glass substrate from below by air and an inspection unit that inspects the glass substrate. The bearing has a plurality of air bearing units, and the closer the bearing is to the inspection unit, the higher the performance of suppressing rattling and shaking of the glass substrate.

この構成によれば、ガラス基板の搬送方向に沿って第1搬送部および第2搬送部が検査部を挟んで配列された構成となる。そのため、ガラス基板を第1搬送部から第2搬送部側に押し込むように搬送し、さらに、その押し込まれたガラス基板を第1搬送部から第2搬送部側に引き込むように搬送することにより、ガラス基板のうち搬送方向に直交する方向の端部を保持しなくとも、ガラス基板を第1搬送部から第2搬送部に搬送することができる。そして、ガラス基板が第1搬送部から第2搬送部に搬送される途中で検査部によりガラス基板を検査することができる。 According to this configuration, the first transport unit and the second transport unit are arranged with the inspection unit in between along the transport direction of the glass substrate. Therefore, the glass substrate is conveyed so as to be pushed from the first conveying portion to the second conveying portion side, and the pushed glass substrate is further conveyed so as to be pulled from the first conveying portion to the second conveying portion side. The glass substrate can be transported from the first transport portion to the second transport portion without holding the end portion of the glass substrate in the direction orthogonal to the transport direction. Then, the glass substrate can be inspected by the inspection unit while the glass substrate is being transported from the first transport unit to the second transport unit.

また、ガラス基板を第2搬送部から第1搬送部側に押し込むように搬送し、さらに、その押し込まれたガラス基板を第2搬送部から第1搬送部側に引き込むように搬送することにより、ガラス基板のうち搬送方向に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板を第2搬送部から第1搬送部に搬送することができる。そして、ガラス基板が第2搬送部から第1搬送部に搬送される途中で検査部によりガラス基板を検査することができる。 Further, the glass substrate is conveyed so as to be pushed from the second conveying portion to the first conveying portion side, and the pushed glass substrate is further conveyed so as to be pulled from the second conveying portion to the first conveying portion side. The glass substrate can be transported from the second transport portion to the first transport portion without holding the end portion of the glass substrate in the direction orthogonal to the transport direction. Then, the glass substrate can be inspected by the inspection unit while the glass substrate is being transported from the second transport unit to the first transport unit.

以上の通り、本実施形態に係るガラス基板の検査装置によれば、検査部を挟む第1搬送部および第2搬送部によりガラス基板を搬送するように構成したので、ガラス基板のうち搬送方向に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板を搬送することができる。従って、ガラス基板の全面に対して検査を行うことができ、ガラス基板の全面の品質を保証することができる。 As described above, according to the glass substrate inspection apparatus according to the present embodiment, the glass substrate is transported by the first transport section and the second transport section that sandwich the inspection section, so that the glass substrate is transported in the transport direction. The glass substrate can be conveyed without holding the ends in the orthogonal directions. Therefore, the entire surface of the glass substrate can be inspected, and the quality of the entire surface of the glass substrate can be guaranteed.

第1実施形態に係るガラス基板の検査装置の構成例を示す平面図A plan view showing a configuration example of a glass substrate inspection device according to the first embodiment. 第1実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その1)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 1st Embodiment (the 1). 第1実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その2)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 1st Embodiment (the 2). 第2実施形態に係るガラス基板の検査装置の構成例を示す平面図A plan view showing a configuration example of a glass substrate inspection device according to a second embodiment. 第3実施形態に係るガラス基板の検査装置の構成例を示す側面図A side view showing a configuration example of a glass substrate inspection device according to a third embodiment. 第3実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その1)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 3rd Embodiment (the 1). 第3実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その2)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 3rd Embodiment (the 2). 第4実施形態に係るガラス基板の検査装置の構成例を示す側面図A side view showing a configuration example of a glass substrate inspection device according to a fourth embodiment. 第4実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その1)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 4th Embodiment (the 1). 第4実施形態に係るガラス基板の検査装置による検査動作の一例を示す図(その2)The figure which shows an example of the inspection operation by the inspection apparatus of the glass substrate which concerns on 4th Embodiment (the 2). 第4実施形態に係るガラス基板の検査装置の構成例を示す側面図A side view showing a configuration example of a glass substrate inspection device according to a fourth embodiment. 従来のガラス基板の検査装置を示す平面図Top view showing a conventional glass substrate inspection device

以下、ガラス基板の検査装置に係る複数の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態において実質的に同一の要素には同一の符号を付し、説明を省略する。図12に例示するように、従来のガラス基板の検査装置は、検査対象物であるガラス基板Gのうち搬送方向A1,A2に直交する方向の端部をクランプCにより保持してガラス基板Gを搬送方向A1,A2に搬送するようになっている。しかし、この種の検査装置では、ガラス基板Gを検査する検査部Tが搬送方向A1,A2に直交する方向に長く延びているため、ガラス基板GのうちクランプCにより保持されている部分を検査することができない。即ち、従来の検査装置では、ガラス基板Gの全面に対して検査を行うことができない。そこで、本実施形態では、ガラス基板の全面に対して検査を行うことができるようにしたガラス基板の検査装置の一例を開示する。 Hereinafter, a plurality of embodiments relating to the glass substrate inspection apparatus will be described with reference to the drawings. In each embodiment, substantially the same elements are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. As illustrated in FIG. 12, a conventional glass substrate inspection device holds the ends of the glass substrate G to be inspected in the directions orthogonal to the transport directions A1 and A2 by the clamp C to hold the glass substrate G. It is designed to be transported in the transport directions A1 and A2. However, in this type of inspection device, since the inspection unit T for inspecting the glass substrate G extends long in the direction orthogonal to the transport directions A1 and A2, the portion of the glass substrate G held by the clamp C is inspected. Can not do it. That is, the conventional inspection device cannot inspect the entire surface of the glass substrate G. Therefore, in the present embodiment, an example of a glass substrate inspection device capable of inspecting the entire surface of the glass substrate will be disclosed.

(第1実施形態)
図1に例示するガラス基板の検査装置10は、第1ローラコンベア部11、第2ローラコンベア部12、検査部13を備える。ガラス基板の検査装置10は、検査部13の前後に第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12を備える。以下、ガラス基板の検査装置10を単に「検査装置10」と称する。
(First Embodiment)
The glass substrate inspection device 10 illustrated in FIG. 1 includes a first roller conveyor section 11, a second roller conveyor section 12, and an inspection section 13. The glass substrate inspection device 10 includes a first roller conveyor section 11 and a second roller conveyor section 12 before and after the inspection section 13. Hereinafter, the glass substrate inspection device 10 is simply referred to as an “inspection device 10”.

第1ローラコンベア部11は、ガラス基板を搬送するための第1搬送部の一例であり、第2ローラコンベア部12は、ガラス基板を搬送するための第2搬送部の一例である。第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12は、それぞれ、ガラス基板の搬送方向A1,A2に直交する方向に延びる複数のローラ14を備える。また、第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12は、それぞれ、ガラス基板をガイドするためのガイド部15を有する。 The first roller conveyor unit 11 is an example of a first conveyor unit for transporting a glass substrate, and the second roller conveyor unit 12 is an example of a second conveyor unit for transporting a glass substrate. The first roller conveyor section 11 and the second roller conveyor section 12 each include a plurality of rollers 14 extending in directions orthogonal to the transport directions A1 and A2 of the glass substrate. Further, the first roller conveyor section 11 and the second roller conveyor section 12 each have a guide section 15 for guiding the glass substrate.

ガイド部15は、ガラス基板の搬送方向A1,A2に沿うガイド板16と、ガイド板16に対し垂直な回転軸を有するガイドローラ17と、を備える。第1ローラコンベア部11に備えられるガイド部15,15間の間隔Dは、手動により、または、自動的に調整可能となっている。また、第2ローラコンベア部12に備えられるガイド部15,15間の間隔Dは、手動により、または、自動的に調整可能となっている。 The guide portion 15 includes a guide plate 16 along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate, and a guide roller 17 having a rotation axis perpendicular to the guide plate 16. The distance D between the guide portions 15 and 15 provided in the first roller conveyor portion 11 can be adjusted manually or automatically. Further, the distance D between the guide portions 15 and 15 provided in the second roller conveyor portion 12 can be adjusted manually or automatically.

検査部13は、第1ローラコンベア部11と第2ローラコンベア部12との間に設けられており、第1ローラコンベア部11から第2ローラコンベア部12に搬送されるガラス基板、第2ローラコンベア部12から第1ローラコンベア部11に搬送されるガラス基板を検査する。検査部13としては、例えば、ガラス基板の表面パターン、ガラス基板の光透過性、ガラス基板の表面に形成された例えばポリイミドなどからなる配向膜の状態、ガラス基板の表面におけるキズの有無など、ガラス基板に関する種々の検査項目を検査可能な検査器を採用することができる。 The inspection unit 13 is provided between the first roller conveyor unit 11 and the second roller conveyor unit 12, and is a glass substrate and a second roller that are conveyed from the first roller conveyor unit 11 to the second roller conveyor unit 12. The glass substrate conveyed from the conveyor section 12 to the first roller conveyor section 11 is inspected. The inspection unit 13 includes, for example, the surface pattern of the glass substrate, the light transmittance of the glass substrate, the state of the alignment film made of, for example, polyimide formed on the surface of the glass substrate, the presence or absence of scratches on the surface of the glass substrate, and the like. An inspection device capable of inspecting various inspection items related to the substrate can be adopted.

検査部13は、この場合、2つのエアベアリング18,18の間に検査ユニット19を備えた構成である。エアベアリング18は、図示しないエア噴出孔を有しており、このエア噴出孔から噴出するエアにより、第1ローラコンベア部11から第2ローラコンベア部12に搬送されるガラス基板、第2ローラコンベア部12から第1ローラコンベア部11に搬送されるガラス基板を浮かせる。エアベアリング18から噴出するエア量を調整することにより、検査部13とガラス基板との間の距離を高精度で制御することができ、より安定した状態でガラス基板を検査することができる。 In this case, the inspection unit 13 has a configuration in which the inspection unit 19 is provided between the two air bearings 18 and 18. The air bearing 18 has an air ejection hole (not shown), and the glass substrate and the second roller conveyor which are conveyed from the first roller conveyor section 11 to the second roller conveyor section 12 by the air ejected from the air ejection hole. The glass substrate conveyed from the section 12 to the first roller conveyor section 11 is floated. By adjusting the amount of air ejected from the air bearing 18, the distance between the inspection unit 13 and the glass substrate can be controlled with high accuracy, and the glass substrate can be inspected in a more stable state.

第1ローラコンベア部11側のエアベアリング18および第2ローラコンベア部12側のエアベアリング18は、それぞれ、複数、この場合、3つのエアベアリングユニット18aを組み合わせた構成である。エアベアリングユニット18aは、同じ性能のものを組み合わせてもよいが、検査ユニット19に近いものほど性能の高いものを用いるとよい。検査ユニット19に近いエアベアリングユニット18aの性能を高くすることにより、検査ユニット19近傍におけるガラス基板のガタつきや揺れを抑えることができ、ガラス基板の検査精度の向上を図ることができる。なお、1つのエアベアリング18を構成するエアベアリングユニット18aの数は、1つ、2つ、4つ以上の複数であってもよい。また、第1ローラコンベア部11側のエアベアリング18および第2ローラコンベア部12側のエアベアリング18とでエアベアリングユニット18aの数を異ならせてもよい。 The air bearing 18 on the first roller conveyor portion 11 side and the air bearing 18 on the second roller conveyor portion 12 side are each configured by combining a plurality of, in this case, three air bearing units 18a. The air bearing unit 18a may be combined with the same performance, but the one closer to the inspection unit 19 may be used with higher performance. By enhancing the performance of the air bearing unit 18a close to the inspection unit 19, it is possible to suppress rattling and shaking of the glass substrate in the vicinity of the inspection unit 19, and it is possible to improve the inspection accuracy of the glass substrate. The number of air bearing units 18a constituting one air bearing 18 may be one, two, four or more. Further, the number of air bearing units 18a may be different between the air bearing 18 on the first roller conveyor portion 11 side and the air bearing 18 on the second roller conveyor portion 12 side.

検査ユニット19は、第1ローラコンベア部11から搬送されるガラス基板、第2ローラコンベア部12から搬送されるガラス基板を検査する主体となるユニットである。検査ユニット19は、例えば、ガラス基板に検査用の光を照射する照射器などで構成される。なお、検査ユニット19は、検査したいガラス基板の検査項目に応じて種々のユニットを採用することができる。 The inspection unit 19 is a unit that mainly inspects the glass substrate conveyed from the first roller conveyor section 11 and the glass substrate conveyed from the second roller conveyor section 12. The inspection unit 19 is composed of, for example, an irradiator that irradiates a glass substrate with light for inspection. As the inspection unit 19, various units can be adopted according to the inspection items of the glass substrate to be inspected.

次に、検査装置10による検査動作の一例を説明する。第1ローラコンベア部11から第2ローラコンベア部12にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A1に搬送する場合には、図2に例示するように、第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12は、複数のローラ14を矢印R1方向に回転させる。そして、図2(a)に例示するように、第1ローラコンベア部11は、ローラ14を回転させることによりガラス基板Gを第2ローラコンベア部12側に押し込む。これにより、ガラス基板Gは、第2ローラコンベア部12側に搬送され、検査部13の上方を通過する過程で検査部13により検査される。そして、図2(b)に例示するように、ガラス基板Gが第2ローラコンベア部12に到達すると、第2ローラコンベア部12は、ローラ14を回転させることによりガラス基板Gを第1ローラコンベア部11側から第2ローラコンベア部12側に引き込む。これにより、図2(c)に例示するように、ガラス基板Gが第2ローラコンベア部12側に搬送される。 Next, an example of the inspection operation by the inspection device 10 will be described. When the glass substrate G is conveyed from the first roller conveyor section 11 to the second roller conveyor section 12, that is, when the glass substrate G is conveyed in the transfer direction A1, the first roller conveyor section 11 and the first roller conveyor section 11 and the first The two-roller conveyor section 12 rotates a plurality of rollers 14 in the direction of arrow R1. Then, as illustrated in FIG. 2A, the first roller conveyor section 11 pushes the glass substrate G toward the second roller conveyor section 12 side by rotating the roller 14. As a result, the glass substrate G is conveyed to the second roller conveyor section 12 side and is inspected by the inspection section 13 in the process of passing above the inspection section 13. Then, as illustrated in FIG. 2B, when the glass substrate G reaches the second roller conveyor section 12, the second roller conveyor section 12 rotates the roller 14 to transfer the glass substrate G to the first roller conveyor section 12. It is pulled from the portion 11 side to the second roller conveyor portion 12 side. As a result, as illustrated in FIG. 2C, the glass substrate G is conveyed to the second roller conveyor section 12 side.

また、第2ローラコンベア部12から第1ローラコンベア部11にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A2に搬送する場合には、図3に例示するように、第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12は、複数のローラ14を矢印R2方向に回転させる。そして、図3(a)に例示するように、第2ローラコンベア部12は、ローラ14を回転させることによりガラス基板Gを第1ローラコンベア部11側に押し込む。これにより、ガラス基板Gは、第1ローラコンベア部11側に搬送され、検査部13の上方を通過する過程で検査部13により検査される。そして、図3(b)に例示するように、ガラス基板Gが第1ローラコンベア部11に到達すると、第1ローラコンベア部11は、ローラ14を回転させることによりガラス基板Gを第2ローラコンベア部12側から第1ローラコンベア部11側に引き込む。これにより、図3(c)に例示するように、ガラス基板Gが第1ローラコンベア部11側に搬送される。 Further, when the glass substrate G is conveyed from the second roller conveyor section 12 to the first roller conveyor section 11, that is, when the glass substrate G is conveyed in the conveying direction A2, the first roller conveyor section 11 is illustrated as shown in FIG. The second roller conveyor unit 12 rotates the plurality of rollers 14 in the direction of arrow R2. Then, as illustrated in FIG. 3A, the second roller conveyor section 12 pushes the glass substrate G toward the first roller conveyor section 11 side by rotating the roller 14. As a result, the glass substrate G is conveyed to the first roller conveyor section 11 side and is inspected by the inspection section 13 in the process of passing above the inspection section 13. Then, as illustrated in FIG. 3B, when the glass substrate G reaches the first roller conveyor section 11, the first roller conveyor section 11 rotates the roller 14 to transfer the glass substrate G to the second roller conveyor section 11. It is pulled from the portion 12 side to the first roller conveyor portion 11 side. As a result, as illustrated in FIG. 3C, the glass substrate G is conveyed to the first roller conveyor section 11 side.

本実施形態に係る検査装置10は、ガラス基板Gの搬送方向A1,A2に沿って第1ローラコンベア部11および第2ローラコンベア部12が検査部13を挟んで配列された構成である。この構成によれば、ガラス基板Gのうち搬送方向A1,A2に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板Gを搬送することができる。従って、ガラス基板Gの全面に対して検査を行うことができ、ガラス基板Gの全面の品質を保証することができる。 The inspection device 10 according to the present embodiment has a configuration in which the first roller conveyor section 11 and the second roller conveyor section 12 are arranged with the inspection section 13 interposed therebetween along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate G. According to this configuration, the glass substrate G can be conveyed without holding the ends of the glass substrate G in the directions orthogonal to the conveying directions A1 and A2. Therefore, the entire surface of the glass substrate G can be inspected, and the quality of the entire surface of the glass substrate G can be guaranteed.

また、検査装置10によれば、ガイド部15,15間の間隔Dを適宜調整することにより、例えば大型液晶テレビ用のガラス基板、小型液晶テレビ用のガラス基板など、種々の大きさのガラス基板の検査を行うことができる。 Further, according to the inspection device 10, by appropriately adjusting the interval D between the guide portions 15 and 15, glass substrates of various sizes such as a glass substrate for a large liquid crystal television and a glass substrate for a small liquid crystal television are used. Can be inspected.

(第2実施形態)
図4に例示するガラス基板の検査装置20は、第1ローラコンベア部21および第2ローラコンベア部22を備える。以下、ガラス基板の検査装置20を単に「検査装置20」と称する。第1ローラコンベア部21および第2ローラコンベア部22は、それぞれ、検査部13側の所定数、この場合、4本のローラ14間の間隔が、残りのローラ14間の間隔よりも狭くなっている。本実施形態に係る検査装置20によれば、検査部13の近傍において、密に配置されたローラ14により一層安定した状態でガラス基板を支えることができる。従って、搬送に伴うガラス基板のガタつきや揺れを抑えることができ、ガラス基板の検査精度の向上を図ることができる。
(Second Embodiment)
The glass substrate inspection device 20 illustrated in FIG. 4 includes a first roller conveyor section 21 and a second roller conveyor section 22. Hereinafter, the glass substrate inspection device 20 is simply referred to as an “inspection device 20”. In the first roller conveyor section 21 and the second roller conveyor section 22, the predetermined number on the inspection section 13 side, in this case, the interval between the four rollers 14 is narrower than the interval between the remaining rollers 14. There is. According to the inspection device 20 according to the present embodiment, the glass substrate can be supported in a more stable state by the closely arranged rollers 14 in the vicinity of the inspection unit 13. Therefore, it is possible to suppress rattling and shaking of the glass substrate due to transportation, and it is possible to improve the inspection accuracy of the glass substrate.

(第3実施形態)
図5に例示するガラス基板の検査装置30は、第1搬送部の一例として第1クランプ部31を備え、第2搬送部の一例として第2クランプ部32を備える。以下、ガラス基板の検査装置30を単に「検査装置30」と称する。
(Third Embodiment)
The glass substrate inspection device 30 illustrated in FIG. 5 includes a first clamp portion 31 as an example of the first transport portion, and a second clamp portion 32 as an example of the second transport unit. Hereinafter, the glass substrate inspection device 30 is simply referred to as an “inspection device 30”.

第1クランプ部31および第2クランプ部32は、それぞれ、レール33およびクランプ34を備える。レール33は、ガラス基板の搬送方向A1,A2に沿って延びている。クランプ34は、検査部13側に向かって開口する保持部35を備える。即ち、第1クランプ部31側の保持部35と第2クランプ部32側の保持部35は、その開口が搬送方向A1,A2に沿って相互に向かい合っている。クランプ34は、図示しない駆動機構部によりレール33に沿って往復移動可能に設けられている。駆動機構部としては、例えばリニアモータを利用した機構部、サーボモータを利用した機構部などといった種々の機構部を採用することができる。なお、駆動機構部としては、搬送速度の制御をより高精度で行うことができる機構部を採用することが好ましい。 The first clamp portion 31 and the second clamp portion 32 include a rail 33 and a clamp 34, respectively. The rail 33 extends along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate. The clamp 34 includes a holding portion 35 that opens toward the inspection portion 13 side. That is, the openings of the holding portion 35 on the first clamp portion 31 side and the holding portion 35 on the second clamp portion 32 side face each other along the transport directions A1 and A2. The clamp 34 is provided so as to be reciprocally movable along the rail 33 by a drive mechanism unit (not shown). As the drive mechanism unit, various mechanical units such as a mechanical unit using a linear motor and a mechanical unit using a servomotor can be adopted. As the drive mechanism unit, it is preferable to employ a mechanism unit capable of controlling the transport speed with higher accuracy.

次に、検査装置30による検査動作の一例を説明する。第1クランプ部31から第2クランプ部32にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A1に搬送する場合には、図6(a)に例示するように、第1クランプ部31は、クランプ34の保持部35によりガラス基板Gの搬送方向A2側の端部、つまり、第1クランプ部31側の端部を保持する。そして、第1クランプ部31は、クランプ34を第2クランプ部32側に移動させることにより、保持したガラス基板Gを第2クランプ部32側に押し込む。これにより、ガラス基板Gは、第2クランプ部32側に搬送され、検査部13の上方を通過する過程で検査部13により検査される。 Next, an example of the inspection operation by the inspection device 30 will be described. When the glass substrate G is transported from the first clamp portion 31 to the second clamp portion 32, that is, when the glass substrate G is transported in the transport direction A1, as illustrated in FIG. 6A, the first clamp portion 31 The holding portion 35 of the clamp 34 holds the end portion of the glass substrate G on the transport direction A2 side, that is, the end portion on the first clamp portion 31 side. Then, the first clamp portion 31 pushes the held glass substrate G toward the second clamp portion 32 side by moving the clamp 34 toward the second clamp portion 32 side. As a result, the glass substrate G is conveyed to the second clamp portion 32 side and is inspected by the inspection unit 13 in the process of passing above the inspection unit 13.

そして、図6(b)に例示するように、ガラス基板Gが第2クランプ部32に到達すると、第2クランプ部32は、クランプ34の保持部35によりガラス基板Gの搬送方向A1側の端部、つまり、第2クランプ部32側の端部を保持する。そして、第2クランプ部32は、クランプ34を検査部13とは反対側に移動させることにより、保持したガラス基板Gを第1クランプ部31側から第2クランプ部32側に引き込む。これにより、図6(c)に例示するように、ガラス基板Gが第2クランプ部32側に搬送される。なお、第1クランプ部31は、第2クランプ部32によりガラス基板Gが保持されたときにガラス基板Gの保持を解除するように構成してもよい。また、第1クランプ部31は、第2クランプ部32によりガラス基板Gが保持されてから所定時間経過後にガラス基板Gの保持を解除するように構成してもよい。 Then, as illustrated in FIG. 6B, when the glass substrate G reaches the second clamp portion 32, the second clamp portion 32 is at the end of the glass substrate G on the transport direction A1 side by the holding portion 35 of the clamp 34. The portion, that is, the end portion on the second clamp portion 32 side is held. Then, the second clamp portion 32 pulls the held glass substrate G from the first clamp portion 31 side to the second clamp portion 32 side by moving the clamp 34 to the side opposite to the inspection portion 13. As a result, as illustrated in FIG. 6C, the glass substrate G is conveyed to the second clamp portion 32 side. The first clamp portion 31 may be configured to release the holding of the glass substrate G when the glass substrate G is held by the second clamp portion 32. Further, the first clamp portion 31 may be configured to release the holding of the glass substrate G after a lapse of a predetermined time after the glass substrate G is held by the second clamp portion 32.

また、第2クランプ部32から第1クランプ部31にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A2に搬送する場合には、図7(a)に例示するように、第2クランプ部32は、クランプ34の保持部35によりガラス基板Gの搬送方向A1側の端部、つまり、第2クランプ部32側の端部を保持する。そして、第2クランプ部32は、クランプ34を第1クランプ部31側に移動させることにより、保持したガラス基板Gを第1クランプ部31側に押し込む。これにより、ガラス基板Gは、第1クランプ部31側に搬送され、検査部13の上方を通過する過程で検査部13により検査される。 Further, when the glass substrate G is transported from the second clamp portion 32 to the first clamp portion 31, that is, when the glass substrate G is transported in the transport direction A2, as illustrated in FIG. 7A, the second clamp portion 32 Holds the end portion of the glass substrate G on the transport direction A1 side, that is, the end portion on the second clamp portion 32 side by the holding portion 35 of the clamp 34. Then, the second clamp portion 32 pushes the held glass substrate G toward the first clamp portion 31 side by moving the clamp 34 toward the first clamp portion 31 side. As a result, the glass substrate G is conveyed to the first clamp portion 31 side and is inspected by the inspection unit 13 in the process of passing above the inspection unit 13.

そして、図7(b)に例示するように、ガラス基板Gが第1クランプ部31に到達すると、第1クランプ部31は、クランプ34の保持部35によりガラス基板Gの搬送方向A2側の端部、つまり、第1クランプ部31側の端部を保持する。そして、第1クランプ部31は、クランプ34を検査部13とは反対側に移動させることにより、保持したガラス基板Gを第2クランプ部32側から第1クランプ部31側に引き込む。これにより、図7(c)に例示するように、ガラス基板Gが第1クランプ部31側に搬送される。なお、第2クランプ部32は、第1クランプ部31によりガラス基板Gが保持されたときにガラス基板Gの保持を解除するように構成してもよい。また、第2クランプ部32は、第1クランプ部31によりガラス基板Gが保持されてから所定時間経過後にガラス基板Gの保持を解除するように構成してもよい。 Then, as illustrated in FIG. 7B, when the glass substrate G reaches the first clamp portion 31, the first clamp portion 31 is at the end of the glass substrate G on the transport direction A2 side by the holding portion 35 of the clamp 34. The portion, that is, the end portion on the first clamp portion 31 side is held. Then, the first clamp portion 31 pulls the held glass substrate G from the second clamp portion 32 side to the first clamp portion 31 side by moving the clamp 34 to the side opposite to the inspection portion 13. As a result, as illustrated in FIG. 7C, the glass substrate G is conveyed to the first clamp portion 31 side. The second clamp portion 32 may be configured to release the holding of the glass substrate G when the glass substrate G is held by the first clamp portion 31. Further, the second clamp portion 32 may be configured to release the holding of the glass substrate G after a lapse of a predetermined time after the glass substrate G is held by the first clamp portion 31.

本実施形態に係る検査装置30は、ガラス基板Gの搬送方向A1,A2に沿って第1クランプ部31および第2クランプ部32が検査部13を挟んで配列された構成である。この構成によれば、ガラス基板Gのうち搬送方向A1,A2に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板Gを搬送することができる。従って、ガラス基板Gの全面に対して検査を行うことができ、ガラス基板Gの全面の品質を保証することができる。
なお、検査装置30にもガイド部15に相当する要素を備えるとよい。これにより、検査装置30によっても、種々の大きさのガラス基板の検査を行うことが可能となる。
The inspection device 30 according to the present embodiment has a configuration in which the first clamp portion 31 and the second clamp portion 32 are arranged with the inspection portion 13 interposed therebetween along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate G. According to this configuration, the glass substrate G can be conveyed without holding the ends of the glass substrate G in the directions orthogonal to the conveying directions A1 and A2. Therefore, the entire surface of the glass substrate G can be inspected, and the quality of the entire surface of the glass substrate G can be guaranteed.
The inspection device 30 may also be provided with an element corresponding to the guide unit 15. This makes it possible for the inspection device 30 to inspect glass substrates of various sizes.

(第4実施形態)
図8に例示するガラス基板の検査装置40は、第1搬送部の一例として第1押し込み部41を備え、第2搬送部の一例として第2押し込み部42を備える。以下、ガラス基板の検査装置40を単に「検査装置40」と称する。第1押し込み部41および第2押し込み部42は、それぞれ、シャフト43および押し込み端部44を備える。シャフト43は、ガラス基板の搬送方向A1,A2に沿って延びており、図示しない駆動機構部により搬送方向A1,A2に沿って往復移動可能に構成されている。押し込み端部44は、ガラス基板の搬送方向A1,A2に直交する方向に延びており、シャフト43の先端部に固定されている。押し込み端部44は、検査部13側の面にクッション材を備える構成としてもよい。
(Fourth Embodiment)
The glass substrate inspection device 40 illustrated in FIG. 8 includes a first push-in portion 41 as an example of the first transport portion, and a second push-in portion 42 as an example of the second transport unit. Hereinafter, the glass substrate inspection device 40 is simply referred to as an “inspection device 40”. The first push-in portion 41 and the second push-in portion 42 include a shaft 43 and a push-in end portion 44, respectively. The shaft 43 extends along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate, and is configured to be reciprocally movable along the transport directions A1 and A2 by a drive mechanism unit (not shown). The push-in end portion 44 extends in a direction orthogonal to the transport directions A1 and A2 of the glass substrate, and is fixed to the tip end portion of the shaft 43. The push-in end portion 44 may be configured to include a cushion material on the surface on the inspection portion 13 side.

第1押し込み部41は、ガラス基板を搬送方向A1、つまり、第2押し込み部42側に押し込む機能を有する。第1押し込み部41は、ガラス基板の全体が検査部13の検査ユニット19を超えるまでガラス基板を第2押し込み部42側に押し込むことが可能である。また、第2押し込み部42は、ガラス基板を搬送方向A2、つまり、第1押し込み部41側に押し込む機能を有する。第2押し込み部42は、ガラス基板の全体が検査部13の検査ユニット19を超えるまでガラス基板を第1押し込み部41側に押し込むことが可能である。 The first pushing portion 41 has a function of pushing the glass substrate into the transport direction A1, that is, toward the second pushing portion 42. The first pushing portion 41 can push the glass substrate toward the second pushing portion 42 side until the entire glass substrate exceeds the inspection unit 19 of the inspection unit 13. Further, the second pushing portion 42 has a function of pushing the glass substrate into the transport direction A2, that is, toward the first pushing portion 41. The second pushing portion 42 can push the glass substrate toward the first pushing portion 41 until the entire glass substrate exceeds the inspection unit 19 of the inspection unit 13.

次に、検査装置40による検査動作の一例を説明する。第1押し込み部41から第2押し込み部42にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A1に搬送する場合には、図9(a),(b)に例示するように、第1押し込み部41は、ガラス基板Gを第2押し込み部42側に押し込む。一方、第2押し込み部42から第1押し込み部41にガラス基板Gを搬送する場合、つまり、搬送方向A2に搬送する場合には、図10(a),(b)に例示するように、第2押し込み部42は、ガラス基板Gを第1押し込み部41側に押し込む。 Next, an example of the inspection operation by the inspection device 40 will be described. When transporting the glass substrate G from the first push-in portion 41 to the second push-in portion 42, that is, when transporting the glass substrate G in the transport direction A1, the first push-in portion is as illustrated in FIGS. 9A and 9B. The portion 41 pushes the glass substrate G toward the second pushing portion 42. On the other hand, when the glass substrate G is conveyed from the second pushing portion 42 to the first pushing portion 41, that is, when the glass substrate G is conveyed in the conveying direction A2, as illustrated in FIGS. 10A and 10B, the first The 2 pushing portion 42 pushes the glass substrate G toward the first pushing portion 41.

本実施形態に係る検査装置40は、ガラス基板Gの搬送方向A1,A2に沿って第1押し込み部41および第2押し込み部42が検査部13を挟んで配列された構成である。この構成によれば、ガラス基板Gのうち搬送方向A1,A2に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板Gを搬送することができる。従って、ガラス基板Gの全面に対して検査を行うことができ、ガラス基板Gの全面の品質を保証することができる。
なお、検査装置40にもガイド部15に相当する要素を備えるとよい。これにより、検査装置40によっても、種々の大きさのガラス基板の検査を行うことが可能となる。
The inspection device 40 according to the present embodiment has a configuration in which the first push-in portion 41 and the second push-in portion 42 are arranged with the inspection portion 13 interposed therebetween along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate G. According to this configuration, the glass substrate G can be conveyed without holding the ends of the glass substrate G in the directions orthogonal to the conveying directions A1 and A2. Therefore, the entire surface of the glass substrate G can be inspected, and the quality of the entire surface of the glass substrate G can be guaranteed.
The inspection device 40 may also be provided with an element corresponding to the guide unit 15. As a result, the inspection device 40 can also inspect glass substrates of various sizes.

(第5実施形態)
図11に例示するガラス基板の検査装置50は、第1搬送部の一例として第1ピンチローラ部51を備え、第2搬送部の一例として第2ピンチローラ部52を備える。以下、ガラス基板の検査装置50を単に「検査装置50」と称する。第1ピンチローラ部51および第2ピンチローラ部52は、ローラ53を矢印R3方向に回転させることによりガラス基板Gを搬送方向A1に搬送し、ローラ53を矢印R4方向に回転させることによりガラス基板Gを搬送方向A2に搬送する。
(Fifth Embodiment)
The glass substrate inspection device 50 illustrated in FIG. 11 includes a first pinch roller section 51 as an example of the first transport section, and a second pinch roller section 52 as an example of the second transport section. Hereinafter, the glass substrate inspection device 50 is simply referred to as an “inspection device 50”. The first pinch roller portion 51 and the second pinch roller portion 52 transport the glass substrate G in the transport direction A1 by rotating the roller 53 in the arrow R3 direction, and the glass substrate by rotating the roller 53 in the arrow R4 direction. G is transported in the transport direction A2.

本実施形態に係る検査装置50は、ガラス基板Gの搬送方向A1,A2に沿って第1ピンチローラ部51および第2ピンチローラ部52が検査部13を挟んで配列された構成である。この構成によれば、ガラス基板Gのうち搬送方向A1,A2に直交する方向の端部を保持しなくともガラス基板Gを搬送することができる。従って、ガラス基板Gの全面に対して検査を行うことができ、ガラス基板Gの全面の品質を保証することができる。
なお、検査装置50にもガイド部15に相当する要素を備えるとよい。これにより、検査装置50によっても、種々の大きさのガラス基板の検査を行うことが可能となる。
The inspection device 50 according to the present embodiment has a configuration in which the first pinch roller portion 51 and the second pinch roller portion 52 are arranged with the inspection portion 13 interposed therebetween along the transport directions A1 and A2 of the glass substrate G. According to this configuration, the glass substrate G can be conveyed without holding the ends of the glass substrate G in the directions orthogonal to the conveying directions A1 and A2. Therefore, the entire surface of the glass substrate G can be inspected, and the quality of the entire surface of the glass substrate G can be guaranteed.
The inspection device 50 may also be provided with an element corresponding to the guide unit 15. This makes it possible for the inspection device 50 to inspect glass substrates of various sizes.

(その他の実施形態)
本実施形態は、上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能である。
例えば、本実施形態に係る検査装置は、ガラス基板Gを搬送方向A1,A2の両方向に搬送可能な構成としてもよいし、搬送方向A1,A2の何れか一方向に搬送可能な構成としてもよい。また、本実施形態に係る検査装置を、液晶パネルの製造ラインに組み込むことで、ガラス基板の検査行程を含む液晶パネルの一連の製造行程を連続的に行うことができる。
(Other embodiments)
The present embodiment is not limited to the above-described embodiment, and can be applied to various embodiments without departing from the gist thereof.
For example, the inspection device according to the present embodiment may have a configuration capable of transporting the glass substrate G in both the transport directions A1 and A2, or may have a configuration capable of transporting the glass substrate G in any one of the transport directions A1 and A2. .. Further, by incorporating the inspection device according to the present embodiment into the liquid crystal panel manufacturing line, a series of liquid crystal panel manufacturing processes including the glass substrate inspection process can be continuously performed.

また、第1搬送部および第2搬送部によるガラス基板の搬送速度は、検査対象物となるガラス基板の大きさ、厚さ、強度などに応じて適宜変更して実施することができる。また、検査部は、エアベアリングに代えて、例えば機械的なベアリングなどを備える構成としてもよい。また、検査部は、この種のベアリングを備えない構成としてもよい。また、上述した複数の実施形態を組み合わせて実施してもよい。 Further, the transport speed of the glass substrate by the first transport section and the second transport section can be appropriately changed according to the size, thickness, strength, etc. of the glass substrate to be inspected. Further, the inspection unit may be configured to include, for example, a mechanical bearing instead of the air bearing. Further, the inspection unit may be configured not to include this type of bearing. Further, a plurality of the above-described embodiments may be combined and implemented.

図面中、10,20,30,40,50はガラス基板の検査装置、11は第1ローラコンベア部(第1搬送部)、12は第2ローラコンベア部(第2搬送部)、13は検査部、18はエアベアリング、21は第1ローラコンベア部(第1搬送部)、22は第2ローラコンベア部(第2搬送部)、31は第1クランプ部(第1搬送部)、32は第2クランプ部(第2搬送部)、41は第1押し込み部(第1搬送部)、42は第2押し込み部(第2搬送部)、51は第1ピンチローラ部(第1搬送部)、52は第2ピンチローラ部(第2搬送部)を示す。 In the drawings, 10, 20, 30, 40, 50 are inspection devices for glass substrates, 11 is the first roller conveyor section (first conveyor section), 12 is the second roller conveyor section (second conveyor section), and 13 is the inspection device. Units, 18 are air bearings, 21 is a first roller conveyor unit (first conveyor unit), 22 is a second roller conveyor unit (second conveyor unit), 31 is a first clamp unit (first conveyor unit), and 32 is. The second clamp portion (second conveyor portion), 41 is the first push-in portion (first conveyor portion), 42 is the second push-in portion (second conveyor portion), and 51 is the first pinch roller portion (first conveyor portion). , 52 indicate a second pinch roller portion (second transport portion).

Claims (2)

液晶パネルを構成するガラス基板を検査する検査装置であって、
前記ガラス基板を搬送する第1搬送部および第2搬送部と、
前記第1搬送部と前記第2搬送部との間に設けられ、前記ガラス基板を検査する検査部と、
を備え、
前記第1搬送部として第1クランプ部を備え、
前記第2搬送部として第2クランプ部を備え、
前記第1クランプ部が前記ガラス基板を前記第2クランプ部側に押し込み、前記第2クランプ部が前記ガラス基板を前記第1クランプ部側から引き込むことにより、前記第1クランプ部から前記第2クランプ部に前記ガラス基板を搬送するように構成されるとともに、
前記検査部は、前記ガラス基板を下方からエアにより浮かせるエアベアリングと、前記ガラス基板を検査する検査ユニットと、を備え、
前記エアベアリングは、複数のエアベアリングユニットを有し、前記検査ユニットに近いものほど、前記ガラス基板のガタつきや揺れを抑える性能が高いガラス基板の検査装置。
An inspection device that inspects the glass substrates that make up a liquid crystal panel.
The first transport section and the second transport section that transport the glass substrate,
An inspection unit provided between the first transport unit and the second transport unit to inspect the glass substrate,
With
A first clamp portion is provided as the first transport portion, and the first clamp portion is provided.
A second clamp portion is provided as the second transport portion.
The first clamp portion pushes the glass substrate toward the second clamp portion side, and the second clamp portion pulls the glass substrate from the first clamp portion side, whereby the second clamp portion is pulled from the first clamp portion. In addition to being configured to convey the glass substrate to the section
The inspection unit includes an air bearing that floats the glass substrate from below by air, and an inspection unit that inspects the glass substrate.
The air bearing is a glass substrate inspection device having a plurality of air bearing units, and the closer to the inspection unit, the higher the performance of suppressing rattling and shaking of the glass substrate.
前記第2クランプ部が前記ガラス基板を前記第1クランプ部側に押し込み、前記第1クランプ部が前記ガラス基板を前記第2クランプ部側から引き込むことにより、前記第2クランプ部から前記第1クランプ部に前記ガラス基板を搬送する請求項に記載のガラス基板の検査装置。 The second clamp portion pushes the glass substrate toward the first clamp portion side, and the first clamp portion pulls the glass substrate from the second clamp portion side, whereby the first clamp portion is pulled from the second clamp portion. inspection apparatus for a glass substrate according to claim 1 for conveying the glass substrate section.
JP2015136070A 2015-07-07 2015-07-07 Glass substrate inspection equipment Active JP6803654B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015136070A JP6803654B2 (en) 2015-07-07 2015-07-07 Glass substrate inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015136070A JP6803654B2 (en) 2015-07-07 2015-07-07 Glass substrate inspection equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017022160A JP2017022160A (en) 2017-01-26
JP6803654B2 true JP6803654B2 (en) 2020-12-23

Family

ID=57888642

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015136070A Active JP6803654B2 (en) 2015-07-07 2015-07-07 Glass substrate inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6803654B2 (en)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3718014B2 (en) * 1996-11-01 2005-11-16 東レエンジニアリング株式会社 Plate-shaped material transfer device and non-contact transfer line
JP2007051001A (en) * 2005-08-19 2007-03-01 Nippon Sekkei Kogyo:Kk Method and apparatus for conveying thin sheet-like material
JP5056339B2 (en) * 2007-10-18 2012-10-24 凸版印刷株式会社 Substrate gripping mechanism for substrate transfer equipment

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017022160A (en) 2017-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI416095B (en) Substrate inspection apparatus
JP2007051001A (en) Method and apparatus for conveying thin sheet-like material
JP2011242753A5 (en)
JP2008063130A5 (en)
WO2011121685A1 (en) Flat-plate conveying device
JP6803654B2 (en) Glass substrate inspection equipment
JP2012194025A (en) Substrate one-sided conveying mechanism in substrate visual inspection device
WO2015080136A1 (en) Device and method for conveying and inspecting panels having optical members applied thereto
JP2005247516A (en) Levitated substrate conveying treatment device
JP2008265995A (en) Substrate carrying device and substrate processing system using the device
JP6282468B2 (en) Transport device
KR20140113289A (en) Substrate carrying tray and film forming apparatus
JP2011001174A (en) Reversing device of plate material
JP2012096920A (en) Glass substrate defect inspection device and glass substrate defect inspection method and glass substrate defect inspection system
KR20160122050A (en) Substrate conveying apparatus
JP5745631B2 (en) Sheet material conveying apparatus and sheet material conveying method
JP4976358B2 (en) Substrate dryer
JP2014218324A (en) Substrate transporting device
US20160346948A1 (en) Clamping system and substrate-cutting apparatus employing the same
JP2018051441A (en) Work end surface clean roller device
JP2012254876A (en) Substrate sorter
WO2011043052A1 (en) Flat plate-conveying device
JP2001296254A (en) Substrate inspection device
JP4733607B2 (en) Surface cleaning device
JP5776940B2 (en) Glass plate edge inspection equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180412

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190308

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20190806

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191101

C60 Trial request (containing other claim documents, opposition documents)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60

Effective date: 20191101

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20191112

C21 Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21

Effective date: 20191119

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20200110

C211 Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211

Effective date: 20200121

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20200526

C13 Notice of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13

Effective date: 20200630

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200826

C23 Notice of termination of proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23

Effective date: 20200929

C03 Trial/appeal decision taken

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03

Effective date: 20201104

C30A Notification sent

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012

Effective date: 20201104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6803654

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250