JP6798455B2 - 発光装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、実装基板上に発光素子が実装された発光装置の製造方法に関する。特に実装基板の製造方法に特徴を有するものである。
車両のヘッドランプなど大電流を流すLEDのパッケージには、絶縁性で伝熱特性がよいAlN基板が多く用いられている。光取り出しを高めるためには、LEDからAlN基板側に放射された光を反射させた方がよく、AlN基板上にDBR層やAgなどの高反射金属からなる金属層を設けることが考えられる。しかし、AlN基板表面には凹凸があり、DBR層や反射金属層を設けたとしても十分に反射率を高めることができない。
特許文献1には、AlNからなる基板上に発光素子が搭載された発光装置が記載されており、AlN基板の表面を研磨して平坦化し、その後にAlやAgからなる金属層を設けることが記載されている。このように基板表面を平坦化してから金属層を設けることで、反射率の向上を図っている。
特開2007−266647号公報
しかし、AlN基板はセラミックであるため加工することが難しく、コストがかかる。また、平坦化のために研磨すると表面の結晶粒が取れ、返って表面平坦性が悪化してしまう問題があった。表面の平坦化が不十分であると反射率も十分に向上しない。
そこで本発明の目的は、実装基板の反射率を向上させることである。
本発明は、セラミックからなる実装基板上に発光素子が実装された発光装置の製造方法において、実装基板の製造工程は、セラミックからなる基板上に、金属層を形成する金属層形成工程と、金属層表面を研削して平坦化する研削工程と、金属層上に、誘電体層を形成する誘電体層形成工程と、誘電体層上に、発光素子と接続する電極層を形成する電極層形成工程と、を有することを特徴とする発光装置の製造方法である。
電極層の形成後、誘電体層上および電極層上であって発光素子と接続する領域を除いて、干渉によって発光素子からの光を反射するように厚さが設定された反射誘電体層を形成する反射誘電体層形成工程をさらに有していてもよい。反射誘電体層によって電極層のうち発光素子の接続する領域以外の領域によって光が吸収されるのを抑制することができ、また光を反射させて外部に取り出すことができるので、発光装置の発光効率をより向上させることができる。
金属層と誘電体層の間に、高反射な金属からなる反射金属層を設ける工程をさらに有していてもよい。あるいは、金属層自体を高反射率な金属としてもよい。実装基板の反射率をより向上させることができ、発光装置の発光効率をより向上させることができる。
研削工程は、金属層表面の算術平均粗さRaが30nm以下となるように研削する工程とするのがよい。金属層表面での反射率がより向上するため、発光装置の発光効率をより向上させることができる。
また、誘電体層は、干渉によって発光素子からの光を反射するように厚さが設定されていることが望ましい。たとえば誘電体多層膜(DBR)とすることが望ましい。誘電体層による反射によって発光装置の発光効率をより向上させることができる。
本発明は、表面の算術平均粗さRaが100nm以上の基板を用いる場合に特に有効である。
本発明によれば、実装基板の反射率を向上させることができるため、発光装置の発光効率を向上させることができる。また、本発明はセラミック基板を研磨する工程を含まないため、低コストに発光装置を製造することができる。
実施例1の発光装置の構成を示した図。 実装基板1の構成を示した図。 電極層13のパターンを示した図。 実施例1の発光装置の製造工程を示した図。 実施例2の発光装置の製造工程を示した図。 実装基板の構成の変形例を示した図。
以下、本発明の具体的な実施例について図を参照に説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。
図1は、実施例1の発光装置の構成を示した図である。図1のように、実施例1の発光装置は、実装基板1と発光素子2を有しており、実装基板1上に発光素子2が実装されている。発光素子2は従来知られている任意の構造のものでよく、発光素子2は蛍光体を混合した樹脂層に覆われていてもよい。たとえば、青色発光の発光素子2を黄色蛍光体を混合した樹脂層で覆った構成とすることで白色発光の発光装置を実現したものであってよい。
次に、実装基板1の構成について詳しく説明する。実装基板1は、図2のように、基板10と、基板10上に設けられた金属層11と、金属層11上に設けられた誘電体層12と、誘電体層12上に設けられた電極層13と、を有している。
基板10は、AlNからなり、その表面には凹凸があり、その算術平均粗さRaは300nmである。AlNは熱伝導特性に優れているため、発光素子2の熱を基板10を介して外部へと効率的に伝導させることができる。これにより、放熱性の高い発光装置を実現している。
基板10の材料はAlNに限らず、絶縁性のセラミックであれば任意の材料でよい。たとえば、AlN以外にも、SiC、SiN、Al2 3 、などを用いることができる。ただし、実施例1のように熱伝導率の高いAlNが特に好ましい。また、表面の算術平均粗さが100nm以上の基板を用いる場合に特に有効である。そのような表面の凹凸が大きい基板であっても、実施例1によれば反射率を向上させることが可能である。
金属層11は、基板10上に設けられており、Ti/Pt/Alからなる。ここで、「/」は積層を意味し、A/BはA、Bの順に積層した構造であることを意味する。以下、材料の説明において同様である。金属層11の各層の厚さは、基板10側から順に、50nm、100nm、3000nmである。
金属層11の表面は、研削によって鏡面状に平坦化されている。これにより、誘電体層12を透過して金属層11表面に達する光の反射率を高め、発光装置の発光効率向上を図っている。
金属層11表面の算術平均粗さは、30nm以下とすることが望ましい。実装基板1の反射率をより向上させることができるので、発光装置の発光効率をより向上させることができる。より望ましくは20nm以下、さらに望ましくは10nm以下である。
また、金属層11の厚さは上記の値に限らないが、光が金属層11を透過してしまわないように100nm以上の厚さとすることが望ましい。より望ましくは200nm、さらに望ましくは300nm以上である。
なお、実施例1では、反射率の高い金属(たとえば発光素子2の発光波長に対して90%以上の反射率)であるAlを用いることで反射率の向上を図っているが、他の反射率の高い金属を用いてもよい。たとえば、Ag、Rhなどを用いることができる。また、反射率の高くない金属を用いてもよく、たとえばCu、Auなどを用いてもよい。ただし、金属層11として反射率の高くない金属を用いる場合には、金属層11と誘電体層12との間に反射率の高い金属からなる反射金属層15を設けることが望ましい(図6参照)。反射金属層15は、たとえばTi/Al、Ti/Agなどであり、各層の厚さは金属層11側から順に50nm、100nmである。反射金属層15を設ける場合には、金属層11として反射率の高くない材料も用いることができるので、材料選択の幅を広げることができる。たとえば、反射率は低いものの研削が容易な金属や、印刷など厚く形成することが容易な金属を用いることができ、金属層11の表面を鏡面状に研削することが容易となる。
誘電体層12は、研削によって平坦化された金属層11の表面上に設けられている。誘電体層12は、屈折率の異なる誘電体を所定の膜厚で交互に繰り返し積層させた誘電体多層膜(DBR)であり、光の干渉を利用した反射膜である。この誘電体層12により、光取り出し側(実装基板1側とは反対側)に放射された発光素子1からの光を光取り出し側へと反射し、光取り出し率を高めている。実施例1では、SiO2 とTiO2 を用いている。もちろん、他の材料を用いてもよい。ここで、金属層11の表面が鏡面化されている結果、誘電体層12の各層の界面も鏡面状となる。そのため、誘電体層12の反射率を向上させることができ、誘電体多層膜が設定通りの反射率となるようにすることも容易である。たとえば、誘電体層12の各層界面の算術平均粗さRaも30nm以下とすることが望ましい。
なお、誘電体層12は、多層膜である必要はなく、単層であってもよい。単層、多層のいずれの場合であっても、光の干渉によって高反射率となるように厚さが設定されていることが望ましい。たとえば、誘電体層12を単層とする場合は、誘電体層12を厚さλ/(4n)、ここでλは発光素子2の発光波長、nは誘電体層12の屈折率、とすることで、誘電体層12に垂直に入射する発光素子2からの光を効率的に反射させることができる。
電極層13は、誘電体層12上の所定の領域に設けられている。図3は、電極層13の平面パターンを示した図である。図3のように、電極層13は、2つの長方形状の接合電極部13aと、2つの接合電極部13aにそれぞれ接続する線状の外部接合部13bとを有している。接合電極部13aは、発光素子2の接合電極と接合される領域である。外部接合部13bは、実施例1の発光装置の外部と接続される領域である。電極層13は、Ti/Pt/Auからなり、各層の厚さは誘電体層12側から順に50nm、100nm、1000nmである。
次に、実施例1の発光装置の製造工程について、図4を参照に説明する。
まず、実装基板1の製造工程について説明する。AlNからなる基板10を用意し、基板10上に蒸着やスパッタなどにより金属層11を形成する(図4(a)参照)。ここで、基板10表面に凹凸が存在するため、金属層11の表面にも凹凸が形成される。金属層11の厚さは、次工程で金属層11表面が研削されることを考慮して、3μm以上の厚さに形成することが望ましい。ただし、厚すぎても形成に時間がかかるため、10μm以下とするのがよい。
なお、実施例1では基板10表面を研磨して平坦化する必要はない。高コストなセラミックの研磨工程を省略できるので、発光装置の製造コストを低減することができる。
また、金属層11の形成は、蒸着やスパッタの他、印刷などにより行うことができる。印刷であれば、金属層11を厚膜(たとえば3〜10μm)とする場合にも容易に形成可能である。蒸着やスパッタの場合、リフトオフに用いるレジストが熱によって変質しないように冷却期間を挟む必要があり、形成に時間がかかってしまう。一方、印刷であれば、金属ペーストや金属ナノインクを用いて容易に厚膜の形成が可能である。
印刷で金属層11を形成する場合、まず、下地層としてTi/Auを蒸着やスパッタにより形成する。Tiは基板10との密着性改善、Auは金属ペーストなるいは金属ナノインクとの密着性改善のために用いる。
次に、下地層上に、印刷によって金属ペーストあるいは金属ナノインクを塗布する。印刷方法はスクリーン印刷、インクジェット印刷など任意の方法を用いることができるが、スクリーン印刷が簡便で好ましい。金属ペースト、金属ナノインクの金属は、Au、Cuなどを用いることができる。信頼性の点からはAuを用いることが好ましい。また、Cuを用いる場合には、下地層のAuは省略することができる。
次に、加熱して金属ペーストや金属ナノインク中の溶剤を蒸発させ、バインダーを分解させる。さらにその後、洗浄して溶剤の残渣を取り除く。以上によって厚膜の金属層11を短時間でパターン精度よく形成することができる。
次に、金属層11表面を研削して金属層11表面の凹凸を除去し、鏡面状に平坦化する(図4(b)参照)。たとえば、金属層11表面の算術平均粗さRaが30nm以下となるように研削することが望ましい。機械的な加工であるため金属層11の材料に依存することがなく、また削る厚さの設定も容易である。研削は、たとえばダイヤモンドバイト、砥石などによって行うことができ、これらの研削方法によれば容易かつ高精度に研削する厚さを制御することができる。
研削後の金属層11の厚さは100nm以上とすることが望ましい。これよりも薄いと金属層11による光の反射が十分でなく、基板10側に透過してしまう光が生じてしまう。より望ましくは200nm以上、さらに望ましくは300nm以上である。また、研削後の金属層11の厚さは3000nm以下とすることが望ましい。金属層11がこれよりも厚くても反射率には特に影響がなく、また形成に時間がかかるためである。より望ましくは2000nm以下、さらに望ましくは1000nm以下である。
次に、金属層11上に、蒸着やスパッタによりSiO2 膜とTiO2 膜を交互に形成し、誘電体層12を形成する(図4(c))。SiO2 膜とTiO2 膜の厚さは、光の干渉によって高反射率(たとえば90%以上)となるように設定する。金属層11の表面が平坦であるため、誘電体層12の各層界面も平坦であり、その結果、反射率も向上している。
なお、金属層11として反射率の低い金属を用いる場合には、反射率の高い金属からなる反射金属層15を形成し、その後、反射金属層15上に誘電体層12を形成するとよい。
次に、誘電体層12上に、蒸着とリフトオフによって、所定のパターンの電極層13を形成する(図4(d)参照)。
次に、製造した実装基板1の接合電極部13aと、発光素子2の接合電極の位置を合わせて、加熱圧着やAuバンプなどの方法によって接合する。以上によって実施例1の発光装置が製造される。
実施例1の発光装置の製造方法の効果をまとめると次の通りである。
第1に、金属層11表面が鏡面状に平坦化されているため、その表面での反射率が高く、発光素子2から実装基板1側へ放射された光を効率的に反射させることができる。その結果、発光装置の発光効率を向上させることができる。
第2に、金属層11表面が鏡面状に平坦化されている結果、誘電体多層膜である誘電体層12の各層界面も鏡面状に形成することができる。そのため、誘電体層12の反射率を設定通りの値とすることが容易となる。
第3に、セラミックである基板10表面の研磨を必要としないため、高コストなセラミックの研磨工程を省略することができ、発光装置の製造コストを低減することができる。
実施例2の発光装置の製造方法は、実施例1の発光装置の製造方法における実装基板1の製造工程を次のように変更したものである。図4(b)までは同一の製造工程であるため省略する。
実施例2では、金属層11表面の研削後、金属層11上に、SiO2 からなる厚さ300nmの誘電体層22をCVD法によって形成する(図5(a)参照)。誘電体層22は実施例1と同様に誘電体多層膜としてもよい。また、金属層11として反射率の高くない金属を用いる場合には、実施例1と同様に、金属層11と誘電体層12との間に反射率の高い金属からなる反射金属層15を設けることが望ましい。
次に、誘電体層22上に、実施例1と同様のパターンの電極層13を蒸着、リフトオフによって形成する(図5(b)参照)。
次に、誘電体層22上、および電極層13上に、蒸着やスパッタによって反射誘電体層25を形成する。反射誘電体層25は、SiO2 膜とTiO2 膜を所定の厚さで交互に繰り返し積層させた誘電体多層膜である。誘電体多層膜に限らず、光の干渉によって高反射率となるように厚さが設定されているのであれば単層でもよい。次に、フォトリソグラフィ、ドライエッチングによって、反射誘電体層25のうち電極層13の接合電極部13a上部に当たる領域を除去し、電極層13の接合電極部13a表面を露出させる(図5(c)参照)。
以上、実施例2によれば、反射誘電体層25によって光を反射させる面積を広く取ることができる。特に、電極層13のうち、発光素子2と接続しない領域である外部接合部13bを反射誘電体層25で覆うことができる。そのため、外部接合部13bに向かう光の吸収を抑制することができ、反射させて外部へ光を取り出すことができる。その結果、発光装置の発光効率を向上させることができる。
本発明の発光装置は、車両のヘッドランプ、一般照明など各種光源として利用することができる。
1:実装基板
2:発光素子
10:基板
11:金属層
12、22:誘電体層
13:電極層
25:反射誘電体層

Claims (7)

  1. セラミックからなる実装基板上に発光素子が実装された発光装置の製造方法において、
    前記実装基板の製造工程は、
    セラミックからなる基板上に、金属層を形成する金属層形成工程と、
    前記金属層表面を研削して平坦化する研削工程と、
    前記金属層上に、誘電体層を形成する誘電体層形成工程と、
    前記誘電体層上に、前記発光素子と接続する電極層を形成する電極層形成工程と、
    を有することを特徴とする発光装置の製造方法。
  2. 前記電極層の形成後、前記誘電体層上および前記電極層上であって前記発光素子と接続する領域を除いて、干渉によって前記発光素子からの光を反射するように厚さが設定された反射誘電体層を形成する反射誘電体層形成工程をさらに有する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  3. 前記金属層と前記誘電体層の間に、高反射な金属からなる反射金属層を設ける工程をさらに有する、ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置の製造方法。
  4. 前記金属層は、高反射な金属からなることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置の製造方法。
  5. 前記研削工程は、前記金属層表面の算術平均粗さRaが30nm以下となるように研削する工程である、ことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
  6. 前記誘電体層は、干渉によって前記発光素子からの光を反射するように厚さが設定されている、ことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
  7. 前記基板は、表面の算術平均粗さRaが100nm以上である、ことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
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