JP6786012B1 - 電力変換装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、実施の形態1にかかる電力変換装置が備える半導体モジュールの構成を示す図である。以下の説明では、電力変換装置がスイッチング素子(半導体スイッチング素子)を内蔵したパワー半導体モジュール(以下、半導体モジュールという)1を備えており、半導体モジュール1が、スイッチング素子として、IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ:Insulated Gate Bipolar Transistor)およびFWD(フリーホイールダイオード:Free Wheel Diode)を備えている場合について説明する。
つぎに、図19から図21を用いてこの発明の実施の形態2について説明する。実施の形態2では、半導体モジュール1の基準温度を用いて、パワーサイクル劣化度LP/Cを推定する。
つぎに、図22から図26を用いてこの発明の実施の形態3について説明する。実施の形態3では、電流測定器3Aによって測定された電流値Iからノイズの影響を除外した実電流値を学習し、学習した実電流値を用いてパワーサイクル劣化度LP/Cを推定する。
データ取得部642が、データロガー15などの電流検出装置からスイッチング素子に流れる電流の実電流波形を取得する。また、状態観測部643が、電流測定器3Aから出力される電流値Iと、制御器4から出力される制御信号SGとを、状態変数として観測する。学習部644は、状態観測部643から出力される状態変数と、データ取得部642から出力される実電流波形との組合せに基づいて作成されるデータセットに基づいて、実電流値IAIを算出するための算出モデルを学習する。
電流推定部64は、学習部644が学習した算出モデルを用いて実電流値IAIを算出する。具体的には、電流推定部64は、電流測定器3Aから出力される電流値Iと、制御器4から出力される制御信号SGとを算出モデルに入力することで、実電流値IAIを算出する。電力変換装置200Dは、実電流値IAIを用いて、パワーサイクル劣化度LP/Cを推定する。
Claims (7)
- スイッチング素子を備えた電力変換装置であって、
制御信号を出力して前記スイッチング素子を制御する制御部と、
前記制御信号に基づいて前記スイッチング素子を駆動する駆動部と、
前記スイッチング素子に流れる電流値および前記制御信号に基づいて、前記スイッチング素子が格納されている半導体チップの温度変化を推定する温度変化推定部と、
前記温度変化に基づいて、前記半導体チップの1回の温度の上昇と下降とを1回のパワーサイクルとした場合の前記パワーサイクルの繰り返しによって前記半導体チップが破壊されるまでの前記パワーサイクルの耐回数を演算する回数演算部と、
前記耐回数に基づいて、前記パワーサイクルの繰り返しに起因する前記半導体チップの劣化度をパワーサイクル劣化度として算出する劣化度演算部と、
を備え、
前記温度変化推定部は、
前記半導体チップが温度上昇していると判断される際に許容される温度下降の閾値である第1の閾値および前記温度変化に基づいて、前記1回のパワーサイクルにおける前記半導体チップの温度の最大値を演算し、前記半導体チップが温度下降していると判断される際に許容される温度上昇の閾値である第2の閾値および前記温度変化に基づいて、前記1回のパワーサイクルにおける前記半導体チップの温度の最小値を演算し、前記最大値および前記最小値に基づいて、前記半導体チップの前記1回のパワーサイクルにおける温度変動差を演算し、
前記回数演算部は、前記温度変動差に基づいて、前記耐回数を演算し、
前記温度変化推定部は、
前記スイッチング素子に流れる電流値と、前記制御信号とに基づいて、前記スイッチング素子に発生する電力損失を演算し、前記スイッチング素子の熱抵抗値の時間変化を示す過渡熱抵抗データおよび前記スイッチング素子の熱時定数を用いた一次遅れ項のデータから算出された前記スイッチング素子の過渡熱抵抗と、前記電力損失と、に基づいて、前記温度変化を演算し、
前記過渡熱抵抗は、
複数の一次遅れ系の複数の熱伝達関数の和で表現されている、
ことを特徴とする電力変換装置。 - 前記スイッチング素子に流れる電流値を測定する電流測定器をさらに備え、
前記温度変化推定部は、
前記スイッチング素子に流れる電流値からノイズが重畳されていない電流値である実電流値を推定する電流推定部を備え、
前記電流推定部は、
前記スイッチング素子に流れる電流値から前記実電流値を算出する算出モデルを学習する機械学習装置と、
前記機械学習装置が学習した結果に基づいて前記実電流値を推定する推定電流出力部と、
を有し、
前記機械学習装置は、
前記制御信号および前記電流測定器が測定した電流値を状態変数として観測する状態観測部と、
前記スイッチング素子に流れる実際の電流波形を取得するデータ取得部と、
前記状態変数および前記電流波形の組合せに基づいて作成されるデータセットにしたがって、前記スイッチング素子に流れる電流値に対応する前記実電流値を学習する学習部と、
を具備し、
前記温度変化推定部は、前記学習部が学習した実電流値を、前記スイッチング素子に流れる電流値として前記温度変化を推定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。 - 前記温度変化推定部は、
前記制御信号に基づいて、前記スイッチング素子のスイッチング周波数と、前記スイッチング素子のスイッチングのデューティ比とを演算し、
前記スイッチング素子に流れる電流値と、前記スイッチング素子に流れる電流値に対応する前記スイッチング素子の損失特性と、前記スイッチング周波数と、前記デューティ比と、に基づいて、前記電力損失とを演算する、
ことを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。 - 前記回数演算部は、前記温度変動差と前記耐回数との対応関係を示すパワーサイクル寿命データと、前記温度変動差とに基づいて、前記耐回数を演算する、
ことを特徴とする請求項3に記載の電力変換装置。 - 前記半導体チップが格納された半導体モジュールの温度を、前記半導体チップの基準となる基準温度として測定する基準温度測定器をさらに備え、
前記温度変化推定部は、前記基準温度が加算された前記温度変化を推定する、
ことを特徴とする請求項1から4の何れか1つに記載の電力変換装置。 - 前記スイッチング素子は、絶縁ゲートバイポーラトランジスタおよびフリーホイールダイオードであり、
前記半導体チップは、前記絶縁ゲートバイポーラトランジスタを格納する第1のチップと、前記フリーホイールダイオードを格納する第2のチップとを含み、
前記温度変化推定部は、前記第1のチップの温度変化と前記第2のチップの温度変化とを別々に演算し、
前記回数演算部は、前記第1のチップの耐回数と前記第2のチップの耐回数とを別々に演算し、
前記劣化度演算部は、前記第1のチップの劣化度と前記第2のチップの劣化度とを別々に演算する、
ことを特徴とする請求項1から5の何れか1つに記載の電力変換装置。 - 前記パワーサイクル劣化度が基準値を超えた場合にアラームを表示するアラーム表示器と、
前記パワーサイクル劣化度を表示する劣化度表示器と、
をさらに備える、
ことを特徴とする請求項1から6の何れか1つに記載の電力変換装置。
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