JP6774021B2 - フレキシブル探触子の感度校正方法及び超音波探傷用対比試験片並びに超音波探傷方法 - Google Patents
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Description
なお、上記感度校正方法における超音波探傷用対比試験片を用いた感度調整や距離振幅特性曲線の作成に関しては、例えば、非特許文献1に記載されている。
なお、フレキシブル基板はシート状を成すものであってもよい。
図1〜図4は、本発明に係るフレキシブル探触子の感度校正方法及び超音波探傷用対比試験片並びに超音波探傷方法の一実施形態を示しており、この実施形態では、超音波探傷を実施する被試験体が、隅肉溶接における円弧状曲面を有する余盛の部分である場合を例に挙げて説明する。
なお、図1における大小多数の円は、複数の振動子12から発せられる超音波の広がりの一部を示している。
この対比試験片の平らな上面にフレキシブル探触子1を接触配置して超音波の送受信を行い、これで取得したR0のエコー高さ区分線を参考に示す。
次いで、凹曲面Waの曲率半径に近似する曲率半径R20の凹曲面23aに対して距離振幅特性曲線によるR20のエコー高さ区分線を作成する。
そして、距離振幅特性曲線によるR15及びR20の各エコー高さ区分線間を線形に補間するR17.5のエコー高さ区分線を作成して、これを余盛Weの凹曲面Waのエコー高さ区分線として設定する。
12 振動子
20,30 対比試験片(超音波探傷用対比試験片)
21a,22a,23a 凹曲面(曲面)
21b,22b,23b 横孔(孔)
31a,32a,33a 凸曲面(曲面)
31b,32b,33b 横孔(孔)
F きず
S 検出判定基準線
Wa 凹曲面(曲面)
We 余盛(被試験体)
Claims (5)
- 複数の振動子を有するフレキシブル探触子を被試験体の曲面に沿って接触配置して超音波探傷を行う際のフレキシブル探触子の感度校正方法であって、
断面が互いに相似する複数の曲面と、前記複数の曲面毎に設定された領域内における該曲面から互いに深さが異なる部位に位置する複数の孔を有する超音波探傷用対比試験片を製作し、
該超音波探傷用対比試験片の前記複数の曲面毎に前記フレキシブル探触子の前記複数の振動子を沿わせて接触配置して超音波の送受信を行い、
前記複数の孔の深さを横軸とすると共に前記複数の孔からのエコー強度を縦軸とした距離振幅特性曲線によるエコー高さ区分線を前記超音波探傷用対比試験片の前記複数の曲面それぞれに対して作成し、
前記超音波探傷用対比試験片の前記複数の曲面のうちの前記被試験体の前記曲面と同じ形状の曲面に対して作成されたエコー高さ区分線乃至は近似する形状の曲面に対して作成したエコー高さ区分線を前記距離振幅特性曲線による前記被試験体の前記曲面のエコー高さ区分線として設定するフレキシブル探触子の感度校正方法。 - 前記超音波探傷用対比試験片の前記複数の曲面が互いに曲率半径の異なる円弧状の曲面であり、前記被試験体の前記曲面における曲率半径の値が前記超音波探傷用対比試験片の前記複数の曲面のうちの近似する2つの曲面における各曲率半径の間の値である場合には、前記2つの曲面に対してそれぞれ作成された前記距離振幅特性曲線によるエコー高さ区分線間を線形に補間するエコー高さ区分線を作成して、前記被試験体の前記曲面のエコー高さ区分線として設定する請求項1に記載のフレキシブル探触子の感度校正方法。
- 前記被試験体の前記曲面が隅肉溶接における余盛の曲面である請求項1又は2に記載のフレキシブル探触子の感度校正方法。
- 複数の振動子を被試験体の曲面に沿って接触配置して超音波探傷を行うフレキシブル探触子の感度校正で用いる超音波探傷用対比試験片であって、
断面形状が互いに相似する複数の曲面と、
前記複数の曲面毎に設定された領域内における該曲面から互いに深さが異なる部位に位置する複数の孔を有する超音波探傷用対比試験片。 - 請求項1〜3のいずれかに記載のフレキシブル探触子の感度校正方法で超音波探傷時における感度の調整が成された前記フレキシブル探触子を用いて前記被試験体の超音波探傷を行うに際して、
前記被試験体の前記曲面に前記フレキシブル探触子の前記複数の振動子を沿わせて接触配置すると共に該フレキシブル探触子を前記曲面に沿って移動させつつ超音波の送受信を行い、
前記被試験体のきずからのエコー強度が前記被試験体の前記曲面用に設定された前記距離振幅特性曲線による検出判定基準線を越える範囲をきず指示長さとして判定する超音波探傷方法。
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