JP6750582B2 - チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置 - Google Patents

チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6750582B2
JP6750582B2 JP2017160276A JP2017160276A JP6750582B2 JP 6750582 B2 JP6750582 B2 JP 6750582B2 JP 2017160276 A JP2017160276 A JP 2017160276A JP 2017160276 A JP2017160276 A JP 2017160276A JP 6750582 B2 JP6750582 B2 JP 6750582B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
chuck
chuck table
cleaning device
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017160276A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019040945A (ja
Inventor
真司 長谷川
真司 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumco Corp
Original Assignee
Sumco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumco Corp filed Critical Sumco Corp
Priority to JP2017160276A priority Critical patent/JP6750582B2/ja
Priority to TW107122902A priority patent/TWI730240B/zh
Publication of JP2019040945A publication Critical patent/JP2019040945A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6750582B2 publication Critical patent/JP6750582B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
  • Jigs For Machine Tools (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、シリコンウェーハの研削装置等に備えられたチャックテーブルのチャック面を洗浄する装置および該洗浄装置を備える研削装置に関する。
シリコンウェーハの製造工程において、例えばチョクラルスキー(Czochralski、CZ)法により育成された単結晶シリコンインゴットをスライスし、得られたシリコンウェーハに対して、所望の厚みや平坦度を有するように研削処理を施す。
図1は、上記研削処理に用いる研削装置の構成例を示している。この図に示した研削装置1は、チャック部10と研削部20と、チャック部10および研削部20を支持するベッド5とを備える。チャック部10は、円形状のチャック面12を有したチャックテーブル11と、チャックテーブル11を回転させるチャックテーブル用駆動モータ13とを備え、チャック面12にシリコンウェーハ2を真空吸着して保持する。チャックテーブル用駆動モータ13の駆動軸は、チャックテーブル11の中心の回転軸に連結されており、チャックテーブル用駆動モータモータ13は、チャック面12の中心を通る軸12cを回転軸として、チャックテーブル11を回転駆動する。
一方、研削部20は、研削摺動面が周方向に沿って形成された研削用砥石21と、研削用砥石21を回転させる研削砥石用駆動モータ22と、研削用砥石21をチャックテーブル11側に近づく方向または遠ざかる方向に移動させる送り機構23を備え、シリコンウェーハ2の吸着面とは反対側の面を研削する。研削砥石用駆動モータ22は、研削用砥石21の研削摺動面の中心を通る軸21cを回転軸として、研削用砥石21を回転駆動する。
図2は、チャックテーブル11の一例を示している。この図に示したチャックテーブル11は、緻密部14とポーラス部15とで構成されている。緻密部14は、例えばアルミナ(Al23)のセラミック体であり、緻密に隙間なく構成されている。また、ポーラス部15の装着面14aを有しており、装着面14aの各部には溝14bが形成されている。緻密部14の中心には、真空引き、水、エアを吐出するための孔14cが形成されており、孔14cは、装着面14aの溝14bに連通している。
一方、ポーラス部15は、例えばアルミナ(Al23)のセラミック粒の焼結体であり、スポンジ状に通気性を有するように構成されている。ポーラス部15の表面がチャック面12に相当する。このポーラス部15の裏面を緻密部14の装着面14aに装着することにより、チャックテーブル11が構成される。
チャックテーブル11の孔14cには、図示しない真空ポンプの吸込口が連通されている。真空ポンプが作動すると、チャックテーブル11のチャック面12からポーラス部15、溝14b、孔14cを介して空気が吸い込まれ、チャック面12が負圧となり、シリコンウェーハ2がチャック面12に真空吸着される。
上記研削処理において、シリコンウェーハ2の表面を研削する度に、微細な研削屑や砥石の摩耗粉などの異物が発生する。研削処理後、水およびエアを吹き出して研削したシリコンウェーハを解放するが、その際、発生した異物がチャックテーブル11のチャック面12に残留する。
しかし、チャックテーブル11のチャック面12に研削屑や摩耗粉などの異物を残留させたままの状態で次のシリコンウェーハ2を吸着して研削処理を施すと、異物が存在する位置にてシリコンウェーハ2に凹みが生じて平坦に研削することができなくなり、所望する平坦度が得られなくなる。
そこで従来、1枚のシリコンウェーハ2に対して研削処理を施す度に、チャック面12に水を供給して洗浄を行いながら、一方で洗浄装置3の洗浄部材をチャック面12に接触させ、チャックテーブル11を回転させることにより、チャック面12上の異物を除去して洗浄するようにしている。
例えば、特許文献1には、矩形の洗浄部材31によってチャックテーブル11のチャック面12を洗浄する洗浄装置3について記載されている。この洗浄装置3を図3に模式的に示す。図3(a)および(b)はそれぞれ、洗浄装置3の平面図、図3(a)の矢視A断面図である。
図3に示した洗浄装置3によるチャックテーブル11の洗浄は以下のように行う。すなわち、チャックテーブル11のチャック面12に、該チャック面12の半径に応じた長さを有し、ばね32により保持された洗浄部材31を押し当てて接触させ、チャックテーブル11を回転軸12cの周りで周方向Hに回転させる。これにより、チャックテーブル11のチャック面12上の異物を掻き落として洗浄することができる。
しかし、図3に示した洗浄装置3の矩形の洗浄部材31は、チャックテーブル11のチャック面12から摩擦力を受けてチャックテーブル11の回転方向下流側に傾き、チャック面12の中心を通る中心線からずれて、線接触にてチャック面12に当たる。このように半径に応じた長さを有する洗浄部材31が傾いた状態でチャックテーブル11が回転すると、チャックテーブル11のチャック面12の中心部12Cでは、洗浄部材31が接触されなくなり中心部12Cの洗浄能力が極めて低くなり、摩耗が極めて小さくなる。
また、矩形の洗浄部材31は、上述のようにチャック面12の半径に応じた長さを有する部材である。そのため、チャックテーブル11から受ける摩擦力は、洗浄部材31の長手方向の各部で異なり、洗浄部材31のうちチャック面12の中心部12Cに近い部分ほど摩擦力が小さくなり、チャック面12の外周部12Aに近い部分ほど摩擦力が大きくなる。洗浄部材31は一体の部材であるため、こうした長手方向各部の摩擦力の違いによって、ねじれが生じたり、洗浄部材31の一部が浮いてチャック面12に接触しなくなったりする。このため、洗浄部材31の長手方向の各部でチャック面12に対する圧力が不均一となり、洗浄能力がチャック面12の各部でばらつく。その結果、チャックテーブル11のチャック面12の中心部12Cで摩耗が小さくなり、面内部12B、外周部12Aでは摩耗が大きくなり、チャック面の偏磨耗が生じる。
そこで、特許文献2には、洗浄部材31を長手方向に分割された複数の洗浄部材で構成した洗浄装置について記載されている。図4は、特許文献2に記載された洗浄装置の洗浄部の側面を示している。特許文献2の洗浄装置の洗浄部41においては、分割された洗浄部材43を保持する保持部材42が、4つのコイルばね44を介して矩形平板状の押し付け部45の下面に弾性支持されている。各コイルばね44は、その内部にばね固定用支柱44aが挿通されており、保持部材42および押し付け部45に固定されている。こうして、各洗浄部材43が、チャックテーブル11のチャック面12を洗浄する際に、チャックテーブル11の回転方向の摩擦力を受ける構造となっている。なお、図4においては、4つのコイルばね44のうちの2つのみが示されている。
しかし、特許文献2に記載された洗浄装置においては、洗浄部材43をチャックテーブル11のチャック面12に接触させてチャックテーブル11を回転させた際に、分割された洗浄部材43が押し付け部45に対して相対的にずれ、またチャックテーブル11の回転方向上流側に傾く。そのため、4つのコイルばね44の反発力に差異が生じ、洗浄部材43をチャック面12に対して均等な圧力で接触させることができず、チャック面12が偏摩耗して、研削処理後のウェーハの形状を悪化させる問題があった。
上記洗浄部材43の浮き上がりは、洗浄部材43をチャックテーブル11のチャック面12に押し当てる圧力を増加することにより抑制することはできる。しかし、上述のように、チャック面12を構成するポーラス部15は、例えばAl23のセラミック粒の焼結体であり、柔らかい。そのため、洗浄部材43をチャック面12に押し当てると、チャック面12が過度に摩耗してしまう。
そこで、特許文献3には、特許文献2に記載された洗浄装置において、4つのコイルばね44のうち、チャックテーブル11の回転方向上流側の2つを、2つの片持ちの板ばねに変更された洗浄部を有する洗浄装置が記載されている。図5は、特許文献3に記載された洗浄装置の洗浄部の側面を示している。特許文献3の洗浄装置の洗浄部51においては、チャックテーブル11の回転方向上流側のコイルばね44が、固定部46に一端が固定された片持ちの板ばね47に変更され、残り2つのコイルばね44の各々は、ばね固定用ボルト44bにより保持部材42および押し付け部45に固定されている。こうして、上記洗浄部材43の押し付け部材45に対する相対的なずれと、チャックテーブル11の回転方向上流側への傾きを抑制するように構成されている。なお、図5においては、板ばね47およびコイルばね44の2組のうち、1組のみが示されている。
特開平10−166268号公報 特開2007−184412号公報 特開2009−111038号公報
しかしながら、特許文献3に記載された洗浄装置では、洗浄部材43がチャック面12に均等に接触するように板ばね47の配置を調整すること自体が困難である。その結果、2つのコイルばね44および2つの板ばね47の反発力に差異が生じ、洗浄部材43をチャック面12に対して均等な圧力で接触させることができず、依然としてチャック面12が偏摩耗して、研削処理後のウェーハの形状を悪化させる問題がある。また、洗浄部材43をチャックテーブル11のチャック面12に接触させてチャックテーブル11を回転させると、板ばね47がねじれるような変形が顕著に発生し、板ばね47が破損する問題もある。
そこで、本発明の目的は、チャックテーブルのチャック面の洗浄の際に、チャック面の偏摩耗を抑制し、研削処理後のウェーハの形状の悪化を抑制することができるチャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置を提案することにある。
本発明者らは、上記課題を解決する方途について鋭意検討した。その結果、特許文献3に記載された洗浄装置において、2つの片持ちの板ばね47を1つの球面軸受に変更し、複数の洗浄部材の各々を、球面軸受を介して押し付け部に片持ち固定することが極めて有効であることを見出し、本発明を完成させるに至った。
すなわち、本発明の要旨構成は以下の通りである。
(1)ワークを吸着して回転可能に構成されているチャックテーブルのチャック面を洗浄する装置であって、複数の洗浄部材を有する洗浄部と、該洗浄部を前記チャック面に押し付ける押し付け部とを備える、チャックテーブルの洗浄装置において、
前記複数の洗浄部材の各々は、球面軸受を介して前記押し付け部に片持ち固定されており、前記洗浄部材と前記押し付け部との間に、前記洗浄部材を前記押し付け部とは反対側に付勢するばねが配置されていることを特徴とするチャックテーブルの洗浄装置。
(2)隣接する洗浄部材の端部が、前記洗浄部の幅方向において重複している、前記(1)に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
(3)隣接する洗浄部材が、前記洗浄部の幅方向において互いに逆向きに配置されている、前記(1)または(2)に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
(4)前記洗浄部材の可動範囲を制限する制限部をさらに備える、前記(1)〜(3)のいずれか一項に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
(5)前記洗浄部を該洗浄部の長手方向に揺動する揺動部をさらに備える、前記(1)〜(4)のいずれか一項に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
(6)前記(1)〜(5)に記載のチャックテーブルの洗浄装置を備えるワークの研削装置。
本発明によれば、チャックテーブルのチャック面の洗浄の際に、チャック面の偏摩耗を抑制し、研削処理後のウェーハの形状の悪化を抑制することができる。
研削装置の構成の一例を示す図である。 チャックテーブルの構成を説明する図であり、(a)は側面図、(b)は上面図である。 特許文献1に記載された洗浄装置を示す図であり、(a)、(b)はそれぞれ、洗浄装置の平面図、(a)の矢視A断面図である。 特許文献2に示された洗浄部材の側面図である。 特許文献3に示された洗浄部材の側面図である。 本発明による洗浄装置における洗浄部の平面図である。 図6の矢視B図である。 図6の矢視C図である。 図6の矢視D図である。 球面軸受を説明する図であり、(a)はピン、(b)は固定部、(c)は球面軸受 比較例において100回目に研削したシリコンウェーハに対する(a)平坦度測定結果の鳥瞰図、(b)魔鏡マップを示す図である。 発明例において100回目に研削したシリコンウェーハに対する(a)平坦度測定結果の鳥瞰図、(b)魔鏡マップを示す図である。
(洗浄装置)
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。本発明によるチャックテーブルの洗浄装置は、ワークを吸着して回転可能に構成されているチャックテーブルのチャック面を洗浄する装置であって、複数の洗浄部材を有する洗浄部と、該洗浄部をチャック面に押し付ける押し付け部とを備える。ここで、複数の洗浄部材の各々は、球面軸受を介して押し付け部に片持ち固定され、洗浄部材と押し付け部との間に、洗浄部材を押し付け部とは反対側に付勢するばねが配置されていることが肝要である。
図6〜9は、本発明の好適な実施形態による洗浄装置の洗浄部を示している。ここで、図6は、洗浄部の平面図(すなわち、チャックテーブル11のチャック面12側から見た図)、図7は図6の矢視B図、図8は図6の矢視C図、図9は図6の矢視D図をそれぞれ示している。なお、図6〜9において、図4および5に示された構成と同じものには同じ符号が付されている。
上述のように、図5に示した、特許文献3に記載された洗浄装置の洗浄部51においては、図4に示した、特許文献2に記載された洗浄装置の洗浄部41における2つのコイルばね44に代えて、2つの片持ちの板ばね47が使用されている。そのため、特許文献2に記載された洗浄装置において生じた洗浄部材43のずれや片当たりを防止することができる。
しかし、洗浄部材43がチャック面12に均等に接触するように板ばね47の配置を調整すること自体が困難である。また、板ばね47は、その厚み方向にのみに変形可能であるため、洗浄部材43に対して洗浄部材43をチャックテーブル11の径方向に傾かせるような力が働いた場合に、対応することができない。
その結果、2つのコイルばね44および2つの板ばね47の反発力に差異が生じ、洗浄部材43をチャック面12に対して均等な圧力で接触させることができず、チャック面12に偏摩耗が生じたのである。また、洗浄処理を繰り返すうちに板ばね47がねじれるように変形し、破損してしまうことも問題となっていた。
このような従来の洗浄装置に関連する問題に対処するために、本発明による洗浄装置の洗浄部61においては、洗浄部材43が球面軸受48を介して押し付け部45に1点で片持ち固定されている。図10は、上記球面軸受48を説明する図である。すなわち、図10(a)に示すように、固定部46と支持部材46とを接続するピン49は、その一方の端部に設けられた凸球面49aと軸部49bとを有する。また、図10(b)に示すように、押し付け部45上に設けられた固定部46の内部には、上記ピン49の凸球面49aを受ける凹球面46aが形成されている。そして、図10(c)に示すように、ピン49の凸球面49aが固定部46内部の凹球面46aと嵌合して球面軸受48を構成している。
上記球面軸受48により、ピン49は、ピン49の中心軸を含む任意の面において回動可能となる。そして、ピン49のもう一方の端部が保持部材42の側面に固定されており、ピン49により固定部46と保持部材42とが接続され、洗浄部材43が球状軸受48を介して押し付け部45に片持ち固定されている。
また、各洗浄部材43(支持部材42)と押し付け部45との間には、洗浄部材43を押し付け部45とは反対側に付勢する、2つのコイルばね44が配置されている。
本発明の洗浄装置は、上記のような構成を有することにより、特許文献3に記載された洗浄装置の洗浄部51と同様、押し付け部45に対する洗浄部材43の相対的なずれを防止できる。
また、特許文献3に記載された洗浄装置の洗浄部51よりも洗浄部材43の動きに関して自由度が高いため、洗浄部材43をチャックテーブル11の半径方向へ傾かせるような力に対して対応可能となり、洗浄部材43をチャックテーブル11のチャック面12に均一に接触させることができる。
さらに、コイルばね44の反発力により、洗浄部材43を一定の圧力でチャックテーブル11のチャック面12に接触させることができる。こうして、チャック面12の偏摩耗を抑制して、研削処理後のウェーハの形状の悪化を抑制することができるのである。
このように、本発明による洗浄装置は、洗浄部61における複数の洗浄部材43の各々が、球面軸受48を介して押し付け部45に片持ち固定され、洗浄部材43と押し付け部45との間に、洗浄部材43を押し付け部45とは反対側に付勢するばね44が配置されていることを特徴とするものである。よって、その他の構成については、公知の構成を適切に使用することができる。
例えば、洗浄部材43は、例えばアルミナセラミックで構成することができ、チャックテーブル11のチャック面12に接触させてチャックテーブル11を回転させることにより、チャック面12を洗浄して、チャック面12上の異物を取り除くことができる。
また、隣接する洗浄部材43の端部は、図6に示すように、洗浄部61の幅方向において重複していることが好ましい。これにより、チャック面12の半径方向に隣接する洗浄部材43間に隙間が形成されない。その結果、各洗浄部材43の線接触部がチャック面12の半径方向において重複接触することになり、チャックテーブル11のチャック面12の全面に亘って均一に洗浄することができる。
さらに、本発明による洗浄部61は、洗浄部材43の可動範囲を制限する制限部50をさらに備えることが好ましい。これにより、洗浄動作においてチャックテーブル11の回転時における洗浄部材43のねじれを抑制することができる。
図6〜9に示した洗浄部61においては、各洗浄部材43に対して、L字型の板状部材からなる2つの制限部50が押し付け部45上に設けられており、洗浄部材43がチャック面11側へ向かう移動、および洗浄部材43のピン49の中心軸の周りの回動を制限する。この制限部50の先端部は、各保持部材42に設けられた凹部42aに嵌合している。制限部50は、例えばステンレス鋼で構成することができる。
また、図6に示すように、隣接する洗浄部材43が、洗浄部61の幅方向において互いに逆向きに配置されていることが好ましい。これにより、洗浄部61をよりコンパクトにすることができる。本発明においてこのような構成が可能となるのは、図5に示した、特許文献3に記載された洗浄装置の洗浄部51においては、板ばね47は、チャックテーブル11の回転方向に対して、圧縮されない方向に配置する必要があるのに対して、本発明においては、こうした構造上の配慮が不要なためである。
さらに、本発明による洗浄装置は、洗浄部61を該洗浄部61の長手方向(すなわち、チャックテーブル11の半径方向)に揺動する揺動部をさらに備えることが好ましい。これにより、洗浄部材43により、チャック面12上の異物をより効果的に除去することができる。
なお、図6〜9に示した洗浄部61においては、各洗浄部材43に対して2つのコイルばね44が配置されているが、1つでも、3つ以上でもよい。また、洗浄部材43の形状も特に限定されず、特許文献1および2に記載されているように、各所にテーパ加工や曲率加工(R加工)を施してもよい。
(研削装置)
次に、本発明によるワークの研削装置について説明する。本発明によるワークの研削装置は、上記した本発明によるチャックテーブルの洗浄装置を備えることを特徴とするものであり、その他の構成は何ら限定されない。例えば、図1に例示した研削装置1における洗浄装置3に、本発明による洗浄装置の洗浄部61を適用して構成することができる。
また、本発明の研削装置が研削する対象であるワークは、半導体ウェーハとすることができ、特にシリコンウェーハを好適に研削することができる。
上記本発明による洗浄装置によれば、チャックテーブルのチャック面の洗浄の際に、チャック面の偏摩耗を抑制することができるため、本発明によるワークの研削装置により、研削処理後のウェーハの形状の悪化を抑制することができる。
以下、本発明の実施例について説明するが、本発明は実施例に限定されない。
(比較例)
図1に示した装置の洗浄装置3の洗浄部に、図5に示した特許文献2に記載された洗浄装置の洗浄部51を適用した研削装置を用いて、シリコンウェーハの表面に対して研削処理を施した。具体的には、まず、CZ法により育成した直径300mmの単結晶シリコンインゴットをスライスした。次いで、得られたシリコンウェーハを、予め平坦出しが行われ清掃されたチャック面12上に配置して吸着し、シリコンウェーハの表面に対して研削処理を施した。その後、洗浄装置により、チャックテーブル11のチャック面12を洗浄した。上記シリコンウェーハ表面の研削処理およびチャックテーブル12の洗浄処理を連続して100回行った。
(発明例)
比較例と同様にシリコンウェーハに対して研削処理を施した。ただし、図1に示した装置の洗浄装置3の洗浄部に、図6〜9に示した、本発明による洗浄装置の洗浄部61を適用した研削装置を用いて行った。その他の条件は比較例と全て同じである。
<シリコンウェーハの平坦度の評価>
比較例および発明例において100回目に研削したシリコンウェーハに対する平坦度測定結果の鳥瞰図および魔鏡マップを図11および図12に示す。ここで、図11は比較例、図12は発明例に対するものである。また、図11および図12において、(a)は平坦度測定結果の鳥瞰図、(b)は魔鏡マップをそれぞれ示している。図11(a)および図12(a)に示した平坦度測定結果は、シリコンウェーハの表面に半導体レーザより放射された光を、投光レンズで細く絞り、測定対象に照射し反射または散乱した光を受光レンズにより集光し、その変位量を解析して得られたものである。一方、図11(b)および図12(b)に示した魔鏡マップは、ウェーハに平行光を照射し、表面の画像をCCDカメラで撮像した後、表面の凹凸により光の収束および拡散を生じさせ、微小な凹凸を強調できる測定器を用いて得られたものである。
図11(a)および(b)から、100回目に研削したシリコンウェーハの表面には、リング状の凸部が形成されていることが分かる。これは、洗浄装置によりチャック面12を洗浄する際に、洗浄部材43をチャック面12の表面に均一に接触させることができず、接触圧力が変動して、チャック面12に偏摩耗が発生し、洗浄後のチャック面12の表面形状が100回目に研削したシリコンウェーハの表面に転写されたためと考えられる。
これに対して、図12(a)および(b)から、100回目に研削したシリコンウェーハの表面には、比較例のようなリング状の凸部は形成されていない。このことから、洗浄装置によりチャック面12を洗浄する際に、洗浄部材43をチャック面12の表面に均一に接触させることができており、チャック面12に偏摩耗は発生しなかったと考えられる。このように、本発明の洗浄装置により、高い平坦度を有するシリコンウェーハが得られていることが分かる。
本発明によれば、チャックテーブルのチャック面の洗浄の際に、チャック面の偏摩耗を抑制し、研削処理後のウェーハの形状の悪化を抑制することができるため、半導体ウェーハ製造業において有用である。
1 研削装置
2 シリコンウェーハ
3 洗浄装置
5 ベッド
10 チャック部
11 チャックテーブル
12 チャック面
12A 外周部
12B 面内部
12C 中心部
12c チャック面中心軸
13 チャックテーブル用駆動モータ
14 緻密部
14a 装着面
14b 溝
14c 孔
15 ポーラス部
20 研削部
21 研削用砥石
21a 研削摺動面
21c 砥石中心軸
22 研削砥石用駆動モータ
23 送り機構
31,41,51,61 洗浄部
32 ばね
42 保持部材
42a 凹部
43 洗浄部材
44 コイルばね
44a ばね固定用支柱
44b ばね固定用ボルト
45 押し付け部
46 固定部
46a 凹球面
47 板ばね
48 球面軸受
49 ピン
49a 凸球面
49b 軸部
50 制限部
H チャックテーブルの周方向

Claims (6)

  1. ワークを吸着して回転可能に構成されているチャックテーブルのチャック面を洗浄する装置であって、複数の洗浄部材を有する洗浄部と、該洗浄部を前記チャック面に押し付ける押し付け部とを備える、チャックテーブルの洗浄装置において、
    前記複数の洗浄部材の各々は、球面軸受を介して前記押し付け部に片持ち固定されており、前記洗浄部材と前記押し付け部との間に、前記洗浄部材を前記押し付け部とは反対側に付勢するばねが配置されていることを特徴とするチャックテーブルの洗浄装置。
  2. 隣接する洗浄部材の端部が、前記洗浄部の幅方向において重複している、請求項1に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
  3. 前記洗浄部材の可動範囲を制限する制限部をさらに備える、請求項1または2に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
  4. 隣接する洗浄部材が、前記洗浄部の幅方向において互いに逆向きに配置されている、請求項1〜3のいずれか一項に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
  5. 前記洗浄部を該洗浄部の長手方向に揺動する揺動部をさらに備える、請求項1〜4のいずれか一項に記載のチャックテーブルの洗浄装置。
  6. 請求項1〜5に記載のチャックテーブルの洗浄装置を備えるワークの研削装置。
JP2017160276A 2017-08-23 2017-08-23 チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置 Active JP6750582B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017160276A JP6750582B2 (ja) 2017-08-23 2017-08-23 チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置
TW107122902A TWI730240B (zh) 2017-08-23 2018-07-03 吸盤載台的洗淨裝置以及具有該洗淨裝置的研削裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017160276A JP6750582B2 (ja) 2017-08-23 2017-08-23 チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019040945A JP2019040945A (ja) 2019-03-14
JP6750582B2 true JP6750582B2 (ja) 2020-09-02

Family

ID=65726348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017160276A Active JP6750582B2 (ja) 2017-08-23 2017-08-23 チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6750582B2 (ja)
TW (1) TWI730240B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220305612A1 (en) * 2021-03-29 2022-09-29 Disco Corporation Polishing apparatus

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112091650B (zh) * 2020-09-14 2021-10-15 李云明 一种机械精加工用机床
CN114274041B (zh) * 2021-12-24 2023-03-14 西安奕斯伟材料科技有限公司 双面研磨装置和双面研磨方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01205950A (ja) * 1988-02-12 1989-08-18 Disco Abrasive Syst Ltd ポーラスチャックテーブルの洗浄方法およびその装置
JP3447869B2 (ja) * 1995-09-20 2003-09-16 株式会社荏原製作所 洗浄方法及び装置
JPH10166268A (ja) * 1996-12-10 1998-06-23 Miyazaki Oki Electric Co Ltd バックグラインダーチャックテーブルの洗浄装置
JP4766678B2 (ja) * 2006-01-06 2011-09-07 Sumco Techxiv株式会社 研削装置のチャックテーブルの洗浄装置
JP2009111038A (ja) * 2007-10-29 2009-05-21 Komatsu Machinery Corp チャックテーブル洗浄装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220305612A1 (en) * 2021-03-29 2022-09-29 Disco Corporation Polishing apparatus
US11858088B2 (en) * 2021-03-29 2024-01-02 Disco Corporation Polishing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
TWI730240B (zh) 2021-06-11
TW201912311A (zh) 2019-04-01
JP2019040945A (ja) 2019-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6750582B2 (ja) チャックテーブルの洗浄装置および該洗浄装置を備える研削装置
TW567109B (en) Method and apparatus for polishing outer peripheral chamfered part of wafer
JP5390750B2 (ja) 研磨装置、および研磨パッド再生処理方法
JP2003151935A (ja) 化学機械的研磨装置の研磨パッドコンディショニング装置および方法
KR101885988B1 (ko) 회전식 저널 표면 연마장치
JP4766678B2 (ja) 研削装置のチャックテーブルの洗浄装置
JP6345988B2 (ja) 基板処理装置
US2187471A (en) Grinding
JP2004050345A (ja) 薄板状ワーク外周部加工装置
JP6725831B2 (ja) ワーク加工装置
JP6141153B2 (ja) 異物除去工具及び異物除去方法
JP2016060031A (ja) 研削ホイール
TWM588349U (zh) 去角研削裝置
WO2015015706A1 (ja) ドレッシング方法及びドレッシング装置
JP2009111038A (ja) チャックテーブル洗浄装置
JP2004209631A (ja) 超仕上げ装置
JP2014200900A (ja) 加工装置
KR102570199B1 (ko) 웨이퍼의 평가 방법
JP3651626B2 (ja) セラミックス製ベアリング用転動体、同表面加工方法及び同表面加工装置
JP2004042220A (ja) レンズ心出し方法、レンズ加工方法およびレンズ
JP5021996B2 (ja) 端面研磨装置および端面研磨方法
JP2007155369A (ja) プローブ針研磨装置およびプローブ針研磨方法
JP7309177B2 (ja) ツルーイング方法及びツルーイング装置
JP7104909B1 (ja) 半導体結晶ウェハの製造方法および製造装置
CN110774168B (zh) 具备球面轴承的连结机构、球面轴承的轴承半径决定方法以及基板研磨装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200714

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200727

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6750582

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250