JP6743807B2 - Release layer forming composition and release layer - Google Patents

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Description

本発明は、剥離層形成用組成物及び剥離層に関する。 The present invention relates to a release layer-forming composition and a release layer.

近年、電子デバイスには曲げるという機能付与や薄型化及び軽量化といった性能が求められている。このことから、従来の重く脆弱で曲げることができないガラス基板に代わって、軽量なフレキシブルプラスチック基板を用いることが求められる。また、新世代ディスプレイでは、軽量なフレキシブルプラスチック基板を用いる、アクティブフルカラー(active full-color)TFTディスプレイパネルの開発が求められている。 2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have been required to have a function of bending and to be thin and lightweight. For this reason, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate in place of the conventional heavy, fragile and non-bendable glass substrate. Further, in the new generation display, development of an active full-color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate is required.

そこで、樹脂フィルムを基板とした電子デバイスの製造方法が各種検討され始めており、新世代ディスプレイでは、既存のTFT設備を転用可能なプロセスで製造検討が進められている。特許文献1、2及び3は、ガラス基板上にアモルファスシリコン薄膜層を形成し、その薄膜層上にプラスチック基板を形成した後に、ガラス面側からレーザーを照射して、アモルファスシリコンの結晶化に伴い発生する水素ガスによりプラスチック基板をガラス基板から剥離する方法を開示する。 Therefore, various methods for manufacturing an electronic device using a resin film as a substrate have begun to be studied, and for the new-generation display, the manufacturing study is being carried out by a process in which existing TFT equipment can be diverted. In Patent Documents 1, 2 and 3, an amorphous silicon thin film layer is formed on a glass substrate, a plastic substrate is formed on the thin film layer, and then a laser is irradiated from the glass surface side to crystallize the amorphous silicon. A method for peeling a plastic substrate from a glass substrate by using generated hydrogen gas is disclosed.

また、特許文献4は、特許文献1〜3開示の技術を用いて被剥離層(特許文献4において「被転写層」と記載される)をプラスチックフィルムに貼りつけて液晶表示装置を完成させる方法を開示する。 Further, Patent Document 4 is a method of completing a liquid crystal display device by using a technique disclosed in Patent Documents 1 to 3 to attach a layer to be peeled (described as “transferred layer” in Patent Document 4) to a plastic film. Is disclosed.

しかし、特許文献1〜4開示の方法、特に特許文献4開示の方法は、透光性の高い基板を使用することが必須であり、基板を通過させ、更に非晶質シリコンに含まれる水素を放出させるのに十分なエネルギーを与えるため、比較的大きなエネルギーのレーザー光の照射が必要とされ、被剥離層に損傷を与えてしまうという問題がある。また、レーザー処理に長時間を要し、大面積を有する被剥離層を剥離するのは困難であるため、デバイス作製の生産性を挙げることは難しい、という問題もある。 However, in the methods disclosed in Patent Documents 1 to 4, particularly in the method disclosed in Patent Document 4, it is essential to use a substrate having high light-transmitting property, and hydrogen contained in amorphous silicon is further passed through the substrate. Since a sufficient amount of energy is given to release the laser beam, it is necessary to irradiate a laser beam having a relatively large energy, which causes a problem that the layer to be peeled is damaged. Further, there is also a problem that it is difficult to increase productivity in device fabrication because laser treatment requires a long time and it is difficult to peel a layer to be peeled having a large area.

特開平10−125929号公報JP, 10-125929, A 特開平10−125931号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-125931 国際公開第2005/050754号International Publication No. 2005/050754 特開平10−125930号公報JP, 10-125930, A

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく剥離することができる剥離層を形成するための剥離層形成用組成物及び当該剥離層を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and a release layer forming composition for forming a release layer that can be released without damaging a resin substrate of a flexible electronic device and the release layer. The purpose is to provide.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む組成物から、基体との優れた密着性及びフレキシブル電子デバイスに用いられる樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を形成できることを見出し、本発明を完成させた。 As a result of repeated intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found that a composition containing an organic solvent and a polyamic acid obtained by introducing an anchor group into either or both of the polymer chain terminals. The present inventors have completed the present invention by finding that a release layer having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate used for a flexible electronic device, and appropriate release property can be formed.

すなわち、本発明は、
1. その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む剥離層形成用組成物、
2. 前記アンカー基が、シリル基又はカルボン酸基である1の剥離層形成用組成物、
3. 前記ポリアミック酸が、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られたポリアミック酸であることを特徴とする1又は2の剥離層形成用組成物、
4. 前記芳香族ジアミンが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンであることを特徴とする3の剥離層形成用組成物、
5. 前記芳香族テトラカルボン酸二無水物が、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物であることを特徴とする3又は4の剥離層形成用組成物、
6. 1〜5のいずれかの剥離層形成用組成物を用いて形成される剥離層、
7. 6の剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法、
8. 前記樹脂基板が、ポリイミドからなる基板であることを特徴とする7の製造方法
を提供する。
That is, the present invention is
1. A polyamic acid obtained by introducing an anchor group into either or both of the polymer chain terminals, and a release layer forming composition containing an organic solvent,
2. The release layer-forming composition according to 1, wherein the anchor group is a silyl group or a carboxylic acid group,
3. 1 or 2, wherein the polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine with an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride. A layer-forming composition,
4. 3. The composition for forming a peeling layer according to 3, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei.
5. The aromatic tetracarboxylic acid dianhydride is an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei, 3 or 4, the composition for forming a peeling layer,
6. A release layer formed using the release layer-forming composition according to any one of 1 to 5,
7. 6. A method for manufacturing a flexible electronic device including a resin substrate, characterized in that the release layer of 6 is used,
8. There is provided the manufacturing method of 7, wherein the resin substrate is a substrate made of polyimide.

本発明の剥離層形成用組成物を用いることで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を再現性よく得ることができる。それ故、本発明の剥離層形成用組成物を用いることで、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体上に形成された樹脂基板や、更にその上に設けられる回路等に損傷を与えることなく、当該回路等とともに当該樹脂基板を、当該基体から分離することが可能となる。したがって、本発明の剥離層形成用組成物は、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造プロセスの簡便化やその歩留り向上等に寄与し得る。 By using the composition for forming a release layer of the present invention, a release layer having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate release property can be obtained with good reproducibility. Therefore, by using the composition for forming a release layer of the present invention, in the manufacturing process of the flexible electronic device, without damaging the resin substrate formed on the substrate, and further circuits provided thereon, It is possible to separate the resin substrate together with the circuit and the like from the base body. Therefore, the composition for forming a release layer of the present invention can contribute to simplification of the manufacturing process of a flexible electronic device including a resin substrate, improvement of its yield, and the like.

以下、本発明について、より詳細に説明する。
本発明の剥離層形成用組成物は、その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む。ここで、本発明における剥離層とは、所定の目的でガラス基体直上に設けられる層であって、その典型例としては、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体と、ポリイミドといった樹脂からなるフレキシブル電子デバイスの樹脂基板との間に当該樹脂基板を所定のプロセス中において固定するために設けられ、且つ、当該樹脂基板上に電子回路等の形成した後において当該樹脂基板が当該基体から容易に剥離できるようにするために設けられる剥離層が挙げられる。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
The release layer-forming composition of the present invention contains a polyamic acid having an anchor group introduced into either or both of the polymer chain terminals, and an organic solvent. Here, the release layer in the present invention is a layer provided directly on the glass substrate for a predetermined purpose, and a typical example thereof is a flexible electronic device made of a resin such as polyimide in the manufacturing process of a flexible electronic device. It is provided to fix the resin substrate to the resin substrate of the device during a predetermined process, and the resin substrate can be easily peeled from the substrate after forming an electronic circuit or the like on the resin substrate. The peeling layer provided in order to do so is mentioned.

本発明で用いるポリアミック酸は、その重合体鎖末端にアンカー基を有する限り特に限定されるものではないが、ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分とを反応させた後、得られたポリアミック酸と、アンカー基を有するアミン又はアンカー基を有する酸無水物とを反応させることで得ることができるものである。即ち、ここで得られるポリアミック酸は、後述するアンカー基含有化合物で分子鎖末端のいずれか一方又は両方が封止されているものである。 The polyamic acid used in the present invention is not particularly limited as long as it has an anchor group at the polymer chain end, but after reacting a diamine component and a tetracarboxylic dianhydride component, the obtained polyamic acid It can be obtained by reacting with an amine having an anchor group or an acid anhydride having an anchor group. That is, the polyamic acid obtained here is one in which one or both ends of the molecular chain are sealed with an anchor group-containing compound described later.

このようなアンカー基としては、カルボン酸基、シリル基(例えば、アルキルシリル基、アルコキシシリル基、ビニルシリル基及びアリルシリル基等)、ビニル基、マレイミド基、フェノール性水酸基等が挙げられるが、中でも、カルボン酸基、シリル基(特にアルコキシ基、ビニル基及びアリル基から選ばれる基がケイ素原子に1つ以上結合したシリル基)が好ましい。このようなアンカー基を用いることで、上層に用いるフレキシブル基板と骨格の相違が出来るために、得られる膜の剥離層としての機能の向上を図ることができる。 Examples of such an anchor group include a carboxylic acid group, a silyl group (for example, an alkylsilyl group, an alkoxysilyl group, a vinylsilyl group and an allylsilyl group), a vinyl group, a maleimide group, a phenolic hydroxyl group, and the like. A carboxylic acid group and a silyl group (particularly a silyl group in which one or more groups selected from an alkoxy group, a vinyl group and an allyl group are bonded to a silicon atom) are preferable. By using such an anchor group, since the skeleton of the flexible substrate used as the upper layer can be different, the function of the obtained film as a peeling layer can be improved.

本発明においては、ポリアミック酸の重合体鎖末端のいずれか一方にアンカー基が存在すればよいが、重合体鎖末端の両方にアンカー基が存在することが好ましい。
また、ジアミン成分及びテトラカルボン酸二無水物成分から得られるポリアミック酸と、アンカー基との間には、炭素数1〜10程度の剥離性や耐熱性を著しく低下させない炭素数のアルキル基、アリール基等のスペーサー基が存在してもよく、これらスペーサー基内には、エーテル結合、チオエーテル結合、エステル結合等が存在してもよい。
In the present invention, the anchor group may be present on either one of the polymer chain terminals of the polyamic acid, but it is preferable that the anchor group is present on both of the polymer chain terminals.
In addition, between the polyamic acid obtained from the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component and the anchor group, an alkyl group having a carbon number of 1 to 10 or an aryl group having a carbon number which does not significantly reduce heat resistance A spacer group such as a group may be present, and an ether bond, a thioether bond, an ester bond, etc. may be present in these spacer groups.

アンカー基を有するアミンの具体例としては、4−アミノフェノキシトリメチルシラン、4−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、4−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジメチルアリルシラン、4−アミノフェノキシメチルジアリルシラン、4−アミノフェノキシトリアリルシラン、4−アミノフェノキシジメチルフェニルシラン、4−アミノフェノキシメチルジフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリメトキシシラン、4−アミノフェノキシジメトキシビニルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジメトキシアリルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジアリルシラン、4−アミノフェノキシジメトキシフェニルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリエトキシシラン、4−アミノフェノキシジエトキシビニルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジエトキシアリルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジアリルシラン、4−アミノフェノキシジエトキシフェニルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジフェニルシラン、3−アミノフェノキシトリメチルシラン、3−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、3−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、2−アミノフェノキシトリビニルシラン、2−アミノフェノキシトリメチルシラン、2−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、2−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、2−アミノフェノキシトリビニルシラン、3−アミノプロピルトリエチルシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリメトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、2−アミノフェノール、3−アミノフェール、4−アミノフェノール等が挙げられるが、これらに限定されない。 Specific examples of the amine having an anchor group include 4-aminophenoxytrimethylsilane, 4-aminophenoxydimethylvinylsilane, 4-aminophenoxymethyldivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydimethylallylsilane, and 4-amino. Phenoxymethyldiallylsilane, 4-aminophenoxytriallylsilane, 4-aminophenoxydimethylphenylsilane, 4-aminophenoxymethyldiphenylsilane, 4-aminophenoxytriphenylsilane, 4-aminophenoxytrimethoxysilane, 4-aminophenoxydimethoxyvinylsilane , 4-aminophenoxymethoxydivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyallylsilane, 4-aminophenoxymethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyphenylsilane, 4-aminophenoxymethoxydiphenylsilane, 4-amino Phenoxytriethoxysilane, 4-aminophenoxydiethoxyvinylsilane, 4-aminophenoxyethoxydivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydiethoxyallylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydiethoxy Phenylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiphenylsilane, 3-aminophenoxytrimethylsilane, 3-aminophenoxydimethylvinylsilane, 3-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 2-aminophenoxytrimethylsilane, 2-amino Phenoxydimethylvinylsilane, 2-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 3-aminopropyltriethylsilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 2-aminopropyltrimethoxysilane, 2-aminopropyltriethoxysilane, N-(2-aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-(2-aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-amino Propyltrimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltriethoxysilane, N-triethoxysilylpropyltriethylenetriamine, N-trimethoxysilylpropyltriethyl Examples include, but are not limited to, lentriamine, 2-aminophenol, 3-aminophenol, 4-aminophenol, and the like.

アンカー基を有する酸無水物の具体例としては、トリメリット酸無水物、ビニルマレイン酸無水物、4−ビニルナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物、無水マレイン酸、2,3−ジメチルマレイン酸無水物、4−ヒドロキシフタル酸無水物、3−ヒドロキシフタル酸無水物等が挙げられるが、これらに限定されない。 Specific examples of the acid anhydride having an anchor group include trimellitic anhydride, vinyl maleic anhydride, 4-vinylnaphthalene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, maleic anhydride, and 2,3-dimethylmaleic acid. Examples include, but are not limited to, anhydrides, 4-hydroxyphthalic anhydride, 3-hydroxyphthalic anhydride, and the like.

また、ポリアミック酸を製造する際に用いるジアミン成分及び酸二無水物成分としては、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られるポリアミック酸が好ましい。 Further, as the diamine component and the acid dianhydride component used in producing the polyamic acid, from the viewpoint of improving the function as a peeling layer of the obtained film, a diamine component containing an aromatic diamine and an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride. A polyamic acid obtained by reacting an acid dianhydride component containing an anhydride is preferable.

芳香族ジアミンとしては、分子内に2つのアミノ基を有し、かつ、芳香環を有する限り特に限定されるものではないが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンが好ましい。
その具体例としては、1,4−ジアミノベンゼン(p−フェニレンジアミン)、1,3−ジアミノベンゼン(m−フェニレンジアミン)、1,2−ジアミノベンゼン(o−フェニレンジアミン)、2,4−ジアミノトルエン、2,5−ジアミノトルエン、2,6−ジアミノトルエン、4,6−ジメチル−m−フェニレンジアミン、2,5−ジメチル−p−フェニレンジアミン、2,6−ジメチル−p−フェニレンジアミン、2,4,6−トリメチル−1,3−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラメチル−p−フェニレンジアミン、m−キシリレンジアミン、p−キシリレンジアミン、5−トリフルオロメチルベンゼン−1,3−ジアミン、5−トリフルオロメチルベンゼン−1,2−ジアミン、3,5−ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン−1,2−ジアミン等のベンゼン核が1つのジアミン;1,2−ナフタレンジアミン、1,3−ナフタレンジアミン、1,4−ナフタレンジアミン、1,5−ナフタレンジアミン、1,6−ナフタレンジアミン、1,7−ナフタレンジアミン、1,8−ナフタレンジアミン、2,3−ナフタレンジアミン、2,6−ナフタレンジアミン、4,4’−ビフェニルジアミン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジカルボキシ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’,5,5’−テトラメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノベンズアニリド、3,3’−ジクロロベンジジン、3,3’−ジメチルベンジジン、2,2’−ジメチルベンジジン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホキシド、3,4’−ジアミノジフェニルスルホキシド、4,4’−ジアミノジフェニルスルホキシド、3,3’−ビス(トリフルオロメチル)ビフェニル−4,4’−ジアミン、3,3’,5,5’−テトラフルオロビフェニル−4,4’−ジアミン、4,4’−ジアミノオクタフルオロビフェニル、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキゾール等のベンゼン核が2つのジアミン;1,5−ジアミノアントラセン、2,6−ジアミノアントラセン、9,10−ジアミノアントラセン、1,8−ジアミノフェナントレン、2,7−ジアミノフェナントレン、3,6−ジアミノフェナントレン、9,10−ジアミノフェナントレン、1,3−ビス(3−アミノフェニル)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニル)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェニル)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニル)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,3−ビス〔2−(4−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、1,4−ビス〔2−(3−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、1,4−ビス〔2−(4−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル、4,4’’−ジアミノ−m−ターフェニル等のベンゼン核が3つのジアミン等を挙げることができるが、これらに限定されない。これらは単独でも、2種以上を組み合わせて用いることもできる。なお、本発明において、上記芳香族ジアミンはエーテル結合及びエステル結合を含まないものを使用することが好ましい。
The aromatic diamine is not particularly limited as long as it has two amino groups in the molecule and has an aromatic ring, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei is preferable.
Specific examples thereof include 1,4-diaminobenzene (p-phenylenediamine), 1,3-diaminobenzene (m-phenylenediamine), 1,2-diaminobenzene (o-phenylenediamine), and 2,4-diamino. Toluene, 2,5-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,6-dimethyl-p-phenylenediamine, 2 , 4,6-Trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-p-phenylenediamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 5-trifluoromethylbenzene-1 ,3-diamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,2-diamine, 3,5-bis(trifluoromethyl)benzene-1,2-diamine and the like having one benzene nucleus; 1,2-naphthalenediamine 1,3-naphthalenediamine, 1,4-naphthalenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 1,6-naphthalenediamine, 1,7-naphthalenediamine, 1,8-naphthalenediamine, 2,3-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, 4,4'-biphenyldiamine, 2,2'-bis(trifluoromethyl)-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-dicarboxy-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3',5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,3' -Dichlorobenzidine, 3,3'-dimethylbenzidine, 2,2'-dimethylbenzidine, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2-bis( 3-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(3-aminophenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2, 2-bis(4-aminophenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 3,3'-diaminodiphenyl sulfoxide, 3,4'-diaminodiphenyl sulfoxide, 4,4'-diamino Diphenyl sulfoxide, 3,3'-bis(trifluoromethyl)biphenyl-4,4'-diamine, 3,3',5,5'-tetrafluorobiphenyl-4,4'- Diamine having two benzene nuclei such as diamine, 4,4′-diaminooctafluorobiphenyl, 2-(3-aminophenyl)-5-aminobenzimidazole, and 2-(4-aminophenyl)-5-aminobenzoxazole. 1,5-diaminoanthracene, 2,6-diaminoanthracene, 9,10-diaminoanthracene, 1,8-diaminophenanthrene, 2,7-diaminophenanthrene, 3,6-diaminophenanthrene, 9,10-diaminophenanthrene, 1,3-bis(3-aminophenyl)benzene, 1,3-bis(4-aminophenyl)benzene, 1,4-bis(3-aminophenyl)benzene, 1,4-bis(4-aminophenyl) Benzene, 1,3-bis(3-aminophenylsulfide)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfide)benzene, 1,4-bis(4-aminophenylsulfide)benzene, 1,3-bis( 3-aminophenylsulfone)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,4-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,3-bis[2-(4-aminophenyl)benzene Isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(3-aminophenyl)isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(4-aminophenyl)isopropyl]benzene, 4,4″-diamino-p- Examples thereof include, but are not limited to, a diamine having three benzene nuclei such as terphenyl and 4,4″-diamino-m-terphenyl. These may be used alone or in combination of two or more. In the present invention, it is preferable to use the aromatic diamine that does not contain an ether bond or an ester bond.

中でも、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、芳香環及びそれに縮合する複素環上にメチル基等の置換基を有しない芳香族環及び複素芳香族環のみから構成される芳香族ジアミンが好ましい。具体的には、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキゾール、4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル等が好ましい。 Among them, from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a peeling layer, an aromatic ring having no substituent such as a methyl group on the aromatic ring and a heterocycle condensed therewith and an aromatic ring composed only of a heteroaromatic ring. Group diamines are preferred. Specifically, p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2-(3-aminophenyl)-5-aminobenzimidazole, 2-(4-aminophenyl)-5-aminobenzoxazole, 4,4'. '-Diamino-p-terphenyl and the like are preferable.

芳香族テトラカルボン酸二無水物としては、分子内に2つのジカルボン酸無水物部位を有し、かつ、芳香環を有する限り特に限定されるものではないが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物が好ましい。 The aromatic tetracarboxylic dianhydride is not particularly limited as long as it has two dicarboxylic acid anhydride moieties in the molecule and has an aromatic ring, but it is an aromatic containing 1 to 5 benzene nuclei. Group tetracarboxylic dianhydrides are preferred.

その具体例としては、ピロメリット酸二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,2’,3,3’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,3,3’,4’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,9,10−テトラカルボン酸二無水物等を挙げることができるが、これらに限定されない。これらは単独でも、2種以上を組み合わせて用いることもできる。 Specific examples thereof include pyromellitic dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1. ,2,5,6-Tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene- 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl -2,2',3,3'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-2,3,3',4'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-3,3',4,4'-tetra Carboxylic dianhydride, Anthracene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, Anthracene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, Anthracene-1,2,6,7- Tetracarboxylic acid dianhydride, Anthracene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, Anthracene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-1,2,3,4 -Tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,7, 8-Tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-1,2,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-2,3,6 ,7-Tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-3,4,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-3,4 Examples thereof include, but are not limited to, 9,10-tetracarboxylic dianhydride. These may be used alone or in combination of two or more.

中でも、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、ベンゼン核が1つ又は2つの芳香族カルボン酸二無水物が好ましい。具体的には、式(C1)〜(C12)のいずれかで示される芳香族テトラカルボン酸二無水物が好ましく、式(C1)〜(C7)及び(C9)〜(C11)のいずれかで示される芳香族テトラカルボン酸二無水物がより好ましい。 Of these, aromatic carboxylic acid dianhydrides having one or two benzene nuclei are preferable from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a release layer. Specifically, the aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by any of the formulas (C1) to (C12) is preferable, and the aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by any of the formulas (C1) to (C7) and (C9) to (C11) is preferable. The aromatic tetracarboxylic dianhydride shown is more preferred.

Figure 0006743807
Figure 0006743807

また、得られる剥離層の柔軟性、耐熱性等を向上させる観点から、本発明で用いるジアミン成分は、芳香族ジアミン以外のジアミンを含んでもよく、本発明で用いるテトラカルボン酸二無水物成分は、芳香族テトラカルボン酸二無水物以外のテトラカルボン酸二無水物を含んでもよい。 Further, from the viewpoint of improving flexibility, heat resistance, etc. of the obtained release layer, the diamine component used in the present invention may contain a diamine other than the aromatic diamine, and the tetracarboxylic dianhydride component used in the present invention is , And may contain a tetracarboxylic dianhydride other than the aromatic tetracarboxylic dianhydride.

本発明において、ジアミン成分中の芳香族ジアミンの量は、好ましくは70モル%以上、より好ましくは80モル%以上、より一層好ましくは90モル%以上、更に好ましくは95モル%以上、最も好ましくは100モル%である。また、テトラカルボン酸成分中の芳香族テトラカルボン酸二無水物の量は、好ましくは70モル%以上、より好ましくは80モル%以上、より一層好ましくは90モル%以上、更に好ましくは95モル%以上、最も好ましくは100モル%である。このような使用量を採用することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する膜を再現性よく得ることができる。 In the present invention, the amount of the aromatic diamine in the diamine component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, even more preferably 90 mol% or more, even more preferably 95 mol% or more, most preferably It is 100 mol %. The amount of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride in the tetracarboxylic acid component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, even more preferably 90 mol% or more, and further preferably 95 mol%. As mentioned above, it is most preferably 100 mol %. By adopting such an amount used, it is possible to reproducibly obtain a film having excellent adhesion to the substrate, appropriate adhesion to the resin substrate, and appropriate releasability.

以上説明したジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分とを反応させた後、得られたポリアミック酸と、アンカー基を有するアミン又はアンカー基を有する酸無水物とを反応させることで、本発明の剥離層形成用組成物に含まれるその重合体鎖末端にアンカー基を有するポリアミック酸を得ることができる。 After reacting the diamine component and the tetracarboxylic acid dianhydride component described above, by reacting the obtained polyamic acid with an amine having an anchor group or an acid anhydride having an anchor group, the present invention A polyamic acid having an anchor group at the polymer chain end contained in the release layer forming composition can be obtained.

このような反応に用いる有機溶媒は、反応に悪影響を及ぼさない限り特に限定されるものではないが、その具体例としては、m−クレゾール、2−ピロリドン、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、N−ビニル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、3−メトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−エトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−プロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−イソプロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−sec−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−tert−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。なお、有機溶媒は1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。 The organic solvent used in such a reaction is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction, but specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone and N-. Ethyl-2-pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetamide, N,N-dimethylformamide, 3-methoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-ethoxy-N,N-dimethylpropylamide Amide, 3-propoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-isopropoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-sec-butoxy-N,N-dimethyl Examples include propylamide, 3-tert-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, γ-butyrolactone and the like. The organic solvents may be used alone or in combination of two or more.

ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分の仕込み比は、目的とする分子量や分子量分布、ジアミンの種類やテトラカルボン酸二無水物の種類等を考慮して適宜決定されるため一概に規定できないが、テトラカルボン酸二無水物成分1に対して、ジアミン成分0.7〜1.3程度、好ましくは0.8〜1.2程度、更に好ましくは0.9〜1.1程度である。 The charging ratio of the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component cannot be unconditionally specified because the target molecular weight and molecular weight distribution, the type of diamine and the type of tetracarboxylic dianhydride are appropriately determined in consideration. The diamine component is about 0.7 to 1.3, preferably about 0.8 to 1.2, and more preferably about 0.9 to 1.1 with respect to the tetracarboxylic dianhydride component 1.

また、アンカー基を有するアミン及びアンカー基を有する酸無水物の量は、テトラカルボン酸二無水物成分に対し、アンカー基を有するアミン0.01〜0.6程度、好ましくは0.05〜0.4程度、更に好ましくは0.1〜0.2程度、又はジアミン成分に対し、アンカー基を有する酸無水物0.01〜0.52程度、好ましくは0.05〜0.32程度、更に好ましくは0.1〜0.2程度である。 The amount of the amine having the anchor group and the acid anhydride having the anchor group is about 0.01 to 0.6, preferably 0.05 to 0, of the amine having the anchor group with respect to the tetracarboxylic dianhydride component. About 0.4, more preferably about 0.1 to 0.2, or about 0.01 to 0.52, preferably about 0.05 to 0.32, of an acid anhydride having an anchor group with respect to the diamine component. It is preferably about 0.1 to 0.2.

反応温度は、用いる溶媒の融点から沸点までの範囲で適宜設定すればよく、通常0〜100℃程度であるが、得られるポリアミック酸の溶液中でのイミド化を防いでポリアミック酸単位の高含有量を維持するためには、好ましくは0〜70℃程度であり、より好ましくは0〜60℃程度であり、より一層好ましくは0〜50℃程度である。 The reaction temperature may be appropriately set within the range from the melting point to the boiling point of the solvent used, and is usually about 0 to 100° C., but it is possible to prevent imidization of the resulting polyamic acid in a solution and to have a high content of polyamic acid units. In order to maintain the amount, it is preferably about 0 to 70°C, more preferably about 0 to 60°C, and even more preferably about 0 to 50°C.

反応時間は、反応温度や原料物質の反応性に依存するため一概に規定できないが、通常1〜100時間程度である。 The reaction time cannot be specified unconditionally because it depends on the reaction temperature and the reactivity of the raw material, but it is usually about 1 to 100 hours.

このようにして得られるポリアミック酸の重量平均分子量は、通常5,000〜500,000程度であるが、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、好ましくは10,000〜200,000程度、より好ましくは30,000〜150,000程度である。なお、本発明において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)測定によるポリスチレン換算値である。 The weight average molecular weight of the polyamic acid thus obtained is usually about 5,000 to 500,000, but preferably 10,000 to 200, from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a release layer. It is about 000, more preferably about 30,000 to 150,000. In addition, in this invention, a weight average molecular weight is a polystyrene conversion value by gel permeation chromatography (GPC) measurement.

本発明の剥離層形成用組成物は、有機溶媒を含むものである。この有機溶媒としては、上記反応の反応溶媒の具体例と同様のものが挙げられる。中でも、ポリアミック酸をよく溶解し、均一性の高い組成物が調製し易いことから、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、N−エチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトンが好ましく、N−メチル−2−ピロリドンがより好ましい。 The release layer-forming composition of the present invention contains an organic solvent. Examples of this organic solvent include the same as the specific examples of the reaction solvent for the above reaction. Among them, N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3-dimethyl-, which dissolves polyamic acid well and is easy to prepare a composition with high uniformity, 2-Imidazolidinone, N-ethyl-2-pyrrolidone and γ-butyrolactone are preferable, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferable.

なお、単独ではポリアミック酸を溶解させない溶媒であっても、ポリアミック酸が析出しない範囲であれば、組成物の調製に用いることができる。特に、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、エチルカルビトール、ブチルカルビトール、エチルカルビトールアセテート、エチレングリコール、1−メトキシ−2−プロパノール、1−エトキシ−2−プロパノール、1−ブトキシ−2−プロパノール、1−フェノキシ−2−プロパノール、プロピレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールジアセテート、プロピレングリコール−1−モノメチルエーテル−2−アセテート、プロピレングリコール−1−モノエチルエーテル−2−アセテート、ジプロピレングリコール、2−(2−エトキシプロポキシ)プロパノール、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸n−ブチル、乳酸イソアミル等の低表面張力を有する溶媒を適度に混在させることができる。これにより、基板への塗布時に塗膜均一性が向上することが知られており、本発明においても好適に用い得る。 Even a solvent that does not dissolve the polyamic acid by itself can be used for preparing the composition as long as the polyamic acid does not precipitate. In particular, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1-ethoxy-2-propanol, 1-butoxy-2-propanol, 1-phenoxy. -2-Propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol-1-monoethyl ether-2-acetate, dipropylene glycol, 2-(2-ethoxy) Solvents having a low surface tension such as propoxy)propanol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, and isoamyl lactate can be mixed appropriately. This is known to improve the uniformity of the coating film when applied to a substrate, and can be suitably used in the present invention.

本発明の剥離層形成用組成物の調製方法は任意である。調製方法の好ましい一例としては、上記で説明した方法によって得られた目的とするポリアミック酸を含む反応溶液をろ過する方法が挙げられる。この際、濃度調整等を目的として必要があればろ液を希釈又は濃縮してもよい。このような方法を採用することで、得られる組成物から製造される剥離層の密着性、剥離性等の悪化の原因となり得る不純物の混入を低減できるだけでなく、効率よく剥離層形成用組成物を得ることができる。希釈に用いる溶媒としては、特に限定されるものではなく、その具体例としては、上記反応の反応溶媒の具体例と同様のものが挙げられる。希釈に用いる溶媒は、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。 The method for preparing the release layer-forming composition of the present invention is arbitrary. A preferable example of the preparation method is a method of filtering the reaction solution containing the target polyamic acid obtained by the method described above. At this time, the filtrate may be diluted or concentrated if necessary for the purpose of adjusting the concentration. By adopting such a method, not only the adhesion of the release layer produced from the composition obtained, it is possible not only to reduce the mixing of impurities that may cause deterioration of the peelability, but also to efficiently release layer forming composition Can be obtained. The solvent used for dilution is not particularly limited, and specific examples thereof include those similar to the specific examples of the reaction solvent for the above reaction. The solvent used for dilution may be used alone or in combination of two or more.

本発明の剥離層形成用組成物におけるポリアミック酸の濃度は、作製する剥離層の厚み、組成物の粘度等を勘案して適宜設定するものではあるが、通常1〜30質量%程度、好ましくは1〜20質量%程度である。このような濃度とすることで、0.05〜5μm程度の厚さの剥離層を再現性よく得ることができる。ポリアミック酸の濃度は、ポリアミック酸の原料であるジアミンとテトラカルボン酸二無水物の使用量を調整する、単離したポリアミック酸を溶媒に溶解させる際にその量を調整する等して調整することができる。 The concentration of the polyamic acid in the release layer-forming composition of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, the viscosity of the composition, etc., but is usually about 1 to 30% by mass, preferably It is about 1 to 20 mass %. With such a concentration, a release layer having a thickness of about 0.05 to 5 μm can be obtained with good reproducibility. The concentration of the polyamic acid is adjusted by adjusting the amount of the diamine and the tetracarboxylic acid dianhydride, which are the raw materials of the polyamic acid, adjusting the amount when the isolated polyamic acid is dissolved in the solvent. You can

本発明の剥離層形成用組成物の粘度は、作製する剥離層の厚み等を勘案して適宜設定するものではあるが、特に0.05〜5μm程度の厚さの膜を再現性よく得ること目的とする場合、通常、25℃で10〜10,000mPa・s程度、好ましくは20〜5,000mPa・s程度である。 The viscosity of the release layer-forming composition of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, etc., but it is particularly preferable to obtain a film having a thickness of about 0.05 to 5 μm with good reproducibility. For the purpose, it is usually about 10 to 10,000 mPa·s at 25° C., preferably about 20 to 5,000 mPa·s.

ここで、粘度は、市販の液体の粘度測定用粘度計を使用して、例えば、JIS K7117−2に記載の手順を参照して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。好ましくは、粘度計としては、円錐平板型(コーンプレート型)回転粘度計を使用し、好ましくは同型の粘度計で標準コーンロータとして1°34’×R24を使用して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。このような回転粘度計としては、例えば、東機産業株式会社製TVE−25Lが挙げられる。 Here, the viscosity can be measured at a temperature of the composition of 25° C. by using a commercially available liquid viscometer for measuring viscosity, for example, referring to the procedure described in JIS K7117-2. .. Preferably, a conical plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, and 1°34′×R24 is used as the standard cone rotor in the same type viscometer, and the temperature of the composition is 25 It can be measured under the condition of °C. Examples of such a rotational viscometer include TVE-25L manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.

なお、本発明の剥離層形成用組成物は、ポリアミック酸と有機溶媒の他に、例えば膜強度を向上させるために、架橋剤等を含んでいてもよい。 The release layer-forming composition of the present invention may contain a cross-linking agent and the like in addition to the polyamic acid and the organic solvent, for example, to improve the film strength.

以上説明した本発明の剥離層形成用組成物を基体に塗布し、得られた塗膜を加熱してポリアミック酸を熱イミド化することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する、ポリイミド膜からなる剥離層を得ることができる。 By applying the release layer-forming composition of the present invention described above to a substrate and heating the resulting coating film to thermally imidize the polyamic acid, excellent adhesion to the substrate and appropriateness with a resin substrate are obtained. It is possible to obtain a peeling layer made of a polyimide film, which has excellent adhesion and proper peeling property.

このような本発明の剥離層を基体上に形成する場合、剥離層は基体の一部表面に形成されていてもよいし、全面に形成されていてもよい。基体の一部表面に剥離層を形成する態様としては、基体表面のうち所定の範囲にのみ剥離層を形成する態様、基体表面全面にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状に剥離層を形成する態様等がある。なお、本発明において、基体とは、その表面に本発明の剥離層形成用組成物が塗られるものであって、フレキシブル電子デバイス等の製造に用いられるものを意味する。 When such a release layer of the present invention is formed on a substrate, the release layer may be formed on a partial surface of the substrate or may be formed on the entire surface. The mode of forming the release layer on a part of the surface of the substrate is such that the release layer is formed only in a predetermined range on the surface of the substrate, or the release layer is formed on the entire surface of the substrate in a pattern such as a dot pattern or a line and space pattern. There is a mode of forming the like. In addition, in the present invention, the substrate means a substrate whose surface is coated with the composition for forming a release layer of the present invention and which is used for manufacturing a flexible electronic device or the like.

基体(基材)としては、例えば、ガラス、プラスチック(ポリカーボネート、ポリメタクリレート、ポリスチレン、ポリエステル、ポリオレフィン、エポキシ、メラミン、トリアセチルセルロース、ABS、AS、ノルボルネン系樹脂等)、金属(シリコンウエハ等)、木材、紙、スレート等が挙げられるが、特に、本発明の剥離層がそれに対する十分な密着性を有することから、ガラスが好ましい。なお、基体表面は、単一の材料で構成されていてもよく、2以上の材料で構成されていてもよい。2以上の材料で基体表面が構成される態様としては、基体表面のうちのある範囲はある材料で構成され、その余の表面はその他の材料で構成されている態様、基体表面全体にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状にある材料がその他の材料中に存在する態様等がある。 Examples of the substrate (substrate) include glass, plastic (polycarbonate, polymethacrylate, polystyrene, polyester, polyolefin, epoxy, melamine, triacetyl cellulose, ABS, AS, norbornene-based resin, etc.), metal (silicon wafer, etc.), Wood, paper, slate, and the like can be mentioned, but glass is particularly preferable because the release layer of the present invention has sufficient adhesion thereto. The surface of the substrate may be made of a single material or may be made of two or more materials. As a mode in which the substrate surface is composed of two or more materials, a certain range of the substrate surface is composed of a certain material, and the remaining surface is composed of another material. , A line-and-space pattern or other pattern-like material is present in other materials.

本発明の剥離層形成用組成物を基体に塗布する方法は、特に限定されるものではないが、例えば、キャストコート法、スピンコート法、ブレードコート法、ディップコート法、ロールコート法、バーコート法、ダイコート法、インクジェット法、印刷法(凸版、凹版、平版、スクリーン印刷等)等が挙げられる。 The method for applying the release layer-forming composition of the present invention to a substrate is not particularly limited, and examples thereof include cast coating method, spin coating method, blade coating method, dip coating method, roll coating method, bar coating method. Method, die coating method, ink jet method, printing method (letterpress, intaglio, planographic printing, screen printing, etc.).

イミド化するための加熱温度は、通常50〜550℃の範囲内で適宜決定されるものではあるが、好ましくは150℃超〜510℃である。加熱温度をこのようにすることで、得られる膜の脆弱化を防ぎつつ、イミド化反応を十分に進行させることが可能となる。加熱時間は、加熱温度によって異なるため一概に規定できないが、通常5分〜5時間である。また、イミド化率は、50〜100%の範囲であればよい。 The heating temperature for imidization is usually appropriately determined within the range of 50 to 550°C, but is preferably more than 150°C to 510°C. By setting the heating temperature in this way, it becomes possible to sufficiently proceed the imidization reaction while preventing the resulting film from becoming brittle. The heating time varies depending on the heating temperature and cannot be specified unconditionally, but is usually 5 minutes to 5 hours. The imidization ratio may be in the range of 50 to 100%.

本発明における加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で5分間〜2時間加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に150℃超〜510℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で5分間〜2時間加熱した後に、100℃超〜375℃で5分間〜2時間、最後に375℃超〜450℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜150℃で5分間〜2時間加熱した後に、150℃超〜350℃で5分間〜2時間、次いで350℃超〜450℃で30分〜4時間、最後に450℃超〜510℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。 As a preferred example of the heating mode in the present invention, after heating at 50 to 150° C. for 5 minutes to 2 hours, the heating temperature is raised stepwise as it is, and finally at over 150° C. to 510° C. for 30 minutes to 4 hours. The method of heating is mentioned. In particular, as a more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 100° C. for 5 minutes to 2 hours, 100° C. to 375° C. for 5 minutes to 2 hours, and finally 375° C. to 450° C. for 30 minutes to A method of heating for 4 hours can be mentioned. Furthermore, as another more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 150° C. for 5 minutes to 2 hours, the temperature is more than 150° C. to 350° C. for 5 minutes to 2 hours, and then more than 350° C. to 450° C. for 30 minutes. ˜4 hours, and finally a method of heating at over 450° C. to 510° C. for 30 minutes to 4 hours can be mentioned.

加熱に用いる器具は、例えばホットプレート、オーブン等が挙げられる。加熱雰囲気は、空気下であっても不活性ガス下であってもよく、また、常圧下であっても減圧下であってもよい。 Examples of equipment used for heating include a hot plate and an oven. The heating atmosphere may be under air or under an inert gas, and may be under normal pressure or under reduced pressure.

剥離層の厚さは、通常0.01〜50μm程度、生産性の観点から好ましくは0.05〜20μm程度である。なお、所望の厚さは、加熱前の塗膜の厚さを調整することによって実現する。 The thickness of the release layer is usually about 0.01 to 50 μm, and preferably about 0.05 to 20 μm from the viewpoint of productivity. The desired thickness is achieved by adjusting the thickness of the coating film before heating.

以上説明した剥離層は、基体、特にガラスの基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する。それ故、本発明の剥離層は、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、当該デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく、当該樹脂基板を、その樹脂基板上に形成された回路等とともに、基体から剥離させるために好適に用いることができる。 The peeling layer described above has excellent adhesion to a substrate, particularly a glass substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate peelability. Therefore, in the process of manufacturing a flexible electronic device, the release layer of the present invention removes the resin substrate from the substrate together with the circuit formed on the resin substrate without damaging the resin substrate of the device. It can be preferably used for

以下、本発明の剥離層を用いたフレキシブル電子デバイスの製造方法の一例について説明する。
本発明の剥離層形成用組成物を用いて、上述の方法によって、ガラス基体上に剥離層を形成する。この剥離層の上に、樹脂基板を形成するための樹脂溶液を塗布し、この塗膜を加熱することで、本発明の剥離層を介して、ガラス基体に固定された樹脂基板を形成する。この際、剥離層を全て覆うようにして、剥離層の面積と比較して大きい面積で、基板を形成する。樹脂基板としては、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板として代表的なポリイミドからなる樹脂基板が挙げられ、それを形成するための樹脂溶液としては、ポリイミド溶液やポリアミック酸溶液が挙げられる。当該樹脂基板の形成方法は、常法に従えばよい。
Hereinafter, an example of a method for manufacturing a flexible electronic device using the release layer of the present invention will be described.
The release layer-forming composition of the present invention is used to form a release layer on a glass substrate by the method described above. A resin solution for forming a resin substrate is applied onto this release layer, and this coating film is heated to form a resin substrate fixed to a glass substrate through the release layer of the present invention. At this time, the substrate is formed so as to cover the release layer entirely and have a larger area than the area of the release layer. The resin substrate may be a resin substrate made of polyimide, which is a typical resin substrate for flexible electronic devices, and the resin solution for forming the resin substrate may be a polyimide solution or a polyamic acid solution. The resin substrate may be formed by a conventional method.

次に、本発明の剥離層を介して基体に固定された当該樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、例えば剥離層に沿って樹脂基板をカットし、この回路とともに樹脂基板を剥離層から剥離して、樹脂基板と基体とを分離する。この際、基体の一部を剥離層とともにカットしてもよい。 Next, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the substrate via the release layer of the present invention, and then the resin substrate is cut, for example, along the release layer, and the resin substrate is cut together with this circuit. The resin substrate and the base are separated by peeling from the peeling layer. At this time, a part of the substrate may be cut together with the release layer.

なお、特開2013−147599号公報では、これまで高輝度LEDや三次元半導体パッケージ等の製造において使用されてきたレーザーリフトオフ法(LLO法)をフレキシブルディスプレイの製造に適用することが報告されている。上記LLO法は、回路等が形成された面とは反対の面から、特定の波長の光線、例えば、波長308nmの光線をガラス基体側から照射することを特徴とするものである。照射された光線は、ガラス基体を透過し、ガラス基体近傍のポリマー(ポリイミド)のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。その結果、ディスプレイの性能を決定づけることとなる、樹脂基板上に設けられた回路等に影響を与えることなく、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。 It should be noted that JP-A-2013-147599 reports that the laser lift-off method (LLO method), which has been used in the manufacture of high-brightness LEDs, three-dimensional semiconductor packages and the like, is applied to the manufacture of flexible displays. .. The LLO method is characterized in that a light beam having a specific wavelength, for example, a light beam having a wavelength of 308 nm is irradiated from the glass substrate side from the surface opposite to the surface on which circuits and the like are formed. The irradiated light passes through the glass substrate, and only the polymer (polyimide) near the glass substrate absorbs this light and evaporates (sublimates). As a result, it is possible to selectively peel the resin substrate from the glass substrate without affecting the circuit or the like provided on the resin substrate, which determines the performance of the display.

本発明の剥離層形成用組成物は、上記LLO法の適用が可能となる特定波長(例えば308nm)の光線を十分に吸収するという特徴を持つため、LLO法の犠牲層として用いることができる。そのため、本発明に組成物を用いて形成した剥離層を介してガラス基体に固定された樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、LLO法を実施して308nmの光線を照射すると、該剥離層のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。これにより、上記剥離層が犠牲となり(犠牲層として働く)、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。 Since the release layer-forming composition of the present invention has a characteristic of sufficiently absorbing a light beam having a specific wavelength (for example, 308 nm) that enables the application of the LLO method, it can be used as a sacrificial layer for the LLO method. Therefore, when a desired circuit is formed on a resin substrate fixed to a glass substrate through a release layer formed by using the composition of the present invention, and then an LLO method is performed to irradiate a ray of 308 nm. Only the peeling layer absorbs this light ray and evaporates (sublimates). As a result, the peeling layer is sacrificed (acts as a sacrificial layer), and the resin substrate can be selectively peeled from the glass substrate.

以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明は、これら実施例に限定されるものではない。
[1]化合物の略語
p−PDA:p−フェニレンジアミン
DATP:4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル
TFMB:2,2’―ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン
6FAP:2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン
PMDA:ピロメリット酸二無水物
BPDA:3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
LS−3280:4−アミノフェノキシジメチルビニルシラン
LS−3150:3−アミノプロピルトリエトキシシラン
TMA:トリメリット酸無水物
IHPA:イソフタルアルデヒド
NMP:N−メチル−2−ピロリドン
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
[1] Abbreviation of compound p-PDA:p-phenylenediamine DATP:4,4″-diamino-p-terphenyl TFMB:2,2′-bis(trifluoromethyl)benzidine 6FAP:2,2-bis( 3-Amino-4-hydroxyphenyl)hexafluoropropane PMDA: pyromellitic dianhydride BPDA: 3,3′,4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride LS-3280:4-aminophenoxydimethylvinylsilane LS -3150: 3-aminopropyltriethoxysilane TMA: trimellitic anhydride IHPA: isophthalaldehyde NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

[2]重量平均分子量及び分子量分布の測定
ポリマーの重量平均分子量(以下Mwと略す)及び分子量分布の測定は、日本分光株式会社製GPC装置(カラム:Shodex製 OHpak SB803−HQ、及びOHpak SB804−HQ;溶離液:ジメチルホルムアミド/LiBr・H2O(29.6mM)/H3PO4(29.6mM)/THF(0.1wt%);流量:1.0mL/分;カラム温度:40℃;Mw:標準ポリスチレン換算値)を用いて行った。
[2] Measurement of weight average molecular weight and molecular weight distribution The weight average molecular weight (hereinafter abbreviated as Mw) of the polymer and the molecular weight distribution are measured by a GPC apparatus manufactured by JASCO Corporation (column: OHpak SB803-HQ manufactured by Shodex, and OHpak SB804-). HQ; eluent: dimethylformamide/LiBr.H 2 O (29.6 mM)/H 3 PO 4 (29.6 mM)/THF (0.1 wt %); flow rate: 1.0 mL/min; column temperature: 40° C. Mw: standard polystyrene conversion value).

[3]ポリマーの合成
<合成例F1 ポリアミック酸(F1)の合成>
p−PDA 20.261g(187mmol)とDATP 12.206g(47mmol)をNMP 617.4gに溶解させた。得られた溶液を15℃に冷却し、そこへPMDA 50.112g(230mmol)を加え、窒素雰囲気下、50℃まで昇温し48時間反応させた。得られたポリマーのMwは82,100、分子量分布は2.7であった。
[3] Synthesis of Polymer <Synthesis Example F1 Synthesis of Polyamic Acid (F1)>
20.261 g (187 mmol) of p-PDA and 12.206 g (47 mmol) of DATP were dissolved in 617.4 g of NMP. The obtained solution was cooled to 15° C., PMDA (50.112 g, 230 mmol) was added thereto, and the temperature was raised to 50° C. under a nitrogen atmosphere to react for 48 hours. The Mw of the obtained polymer was 82,100, and the molecular weight distribution was 2.7.

<合成例F2 ポリアミック酸(F2)の合成>
p−PDA 3.218g(30mmol)をNMP 88.2gに溶解させた。得られた溶液にBPDA 8.581g(29mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは107,300、分子量分布4.6であった。
<Synthesis Example F2 Synthesis of polyamic acid (F2)>
3.218 g (30 mmol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP. 8.581 g (29 mmol) of BPDA was added to the obtained solution, and the mixture was reacted at 23° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The obtained polymer Mw was 107,300, and the molecular weight distribution was 4.6.

<合成例L1 ポリアミック酸(L1)の合成>
p−PDA 2.66g(24.6mmol)とTFMB 0.18g(0.6mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.09g(27.9mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS-3280 1.08g(5.6mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは62,700、分子量分布2.7であった。
<Synthesis example L1 Synthesis of polyamic acid (L1)>
2.66 g (24.6 mmol) of p-PDA and 0.18 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. PMDA (6.09 g, 27.9 mmol) was added to the resulting solution and reacted at 23° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, and then LS-3280 (1.08 g, 5.6 mmol) was added and the reaction was continued for another 24 hours. Then, a silyl group was introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer Mw was 62,700 and the molecular weight distribution was 2.7.

<合成例L2 ポリアミック酸(L2)の合成>
p−PDA 2.96g(27.3mmol)とTFMB 0.19g(0.6mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.34g(29.1mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS−3150 0.52g(2.3mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは51,100、分子量分布2.8であった。
<Synthesis example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)>
2.96 g (27.3 mmol) of p-PDA and 0.19 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. To the obtained solution, 6.34 g (29.1 mmol) of PMDA was added and reacted at 23° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, and then 0.52 g (2.3 mmol) of LS-3150 was added and further reacted for 24 hours. Then, a silyl group was introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer Mw was 51,100 and the molecular weight distribution was 2.8.

<合成例L3 ポリアミック酸(L3)の合成>
p−PDA 3.06(28.3mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.42g(29.4mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS−3150 0.52g(2.4mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは47,800、分子量分布2.8であった。
<Synthesis Example L3 Synthesis of polyamic acid (L3)>
p-PDA 3.06 (28.3 mmol) was dissolved in 90 g of NMP. PMDA (6.42 g, 29.4 mmol) was added to the resulting solution, and the mixture was reacted under a nitrogen atmosphere at 23° C. for 24 hours, and then LS-3150 (0.52 g, 2.4 mmol) was added and reacted for another 24 hours. Then, a silyl group was introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer Mw was 47,800 and the molecular weight distribution was 2.8.

<合成例L4 ポリアミック酸(L4)の合成>
p−PDA 0.78g(7.2mmol)をNMP 17.6gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 1.51g(6.9mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、TMA 0.11g(0.3mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にカルボン酸基を導入した。得られたポリマーのMwは48,000、分子量分布3.1であった。
<Synthesis Example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)>
0.78 g (7.2 mmol) of p-PDA was dissolved in 17.6 g of NMP. PMDA (1.51 g, 6.9 mmol) was added to the resulting solution, and the mixture was reacted at 23° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. Then, TMA (0.11 g, 0.3 mmol) was added and the mixture was further reacted for 24 hours. Carboxylic acid groups were introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer Mw was 48,000 and the molecular weight distribution was 3.1.

<比較合成例1 ポリベンゾオキサゾール前駆体(B1)の合成>
6FAP 3.18g(0.059モル)をNMP70gに溶解させた。得られた溶液にIHPA 7.92g(0.060モル)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは107,300、分子量分布4.6であった。
<Comparative Synthesis Example 1 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (B1)>
3.18 g (0.059 mol) of 6FAP was dissolved in 70 g of NMP. 7.92 g (0.060 mol) of IHPA was added to the obtained solution, and the mixture was reacted at 23° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The obtained polymer Mw was 107,300, and the molecular weight distribution was 4.6.

[4]樹脂基板形成用組成物の調製
合成例F1,F2で得られた反応液を、それぞれ、そのまま樹脂基板形成用組成物W,Xとして用いた。
[4] Preparation of Resin Substrate Forming Composition The reaction liquids obtained in Synthesis Examples F1 and F2 were used as they were as resin substrate forming compositions W and X, respectively.

[5]剥離層形成用組成物の調製
[実施例1−1]
合成例L1で得られた反応液10gに、NMP6gとブチロセロソルブ4g添加し、室温で24時間撹拌し、剥離層形成用組成物を得た。
[5] Preparation of release layer-forming composition [Example 1-1]
To 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L1, 6 g of NMP and 4 g of butyrocellosolve were added and stirred at room temperature for 24 hours to obtain a composition for forming a release layer.

[実施例1−2〜1−3]
合成例L1で得られた反応液の代わりに、それぞれ合成例L2〜L3で得られた反応液を用いた以外は、実施例1−1と同様の方法で、剥離層形成用組成物を得た。
[Examples 1-2 to 1-3]
A release layer-forming composition was obtained in the same manner as in Example 1-1, except that the reaction liquids obtained in Synthesis Examples L2 to L3 were used instead of the reaction liquid obtained in Synthesis Example L1. It was

[実施例1−4]
合成例L4で得られた反応液10gに、NMP9.4gとブチロセロソルブ4.6g添加し、室温で24時間撹拌し、剥離層形成用組成物を得た。
[Example 1-4]
To 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L4, 9.4 g of NMP and 4.6 g of butyrocellosolve were added and stirred at room temperature for 24 hours to obtain a composition for forming a release layer.

[比較例1−1]
比較合成例1で得られた反応液を、ポリマー濃度が5wt%となるようにNMPで希釈して、組成物を得た。
[Comparative Example 1-1]
The reaction liquid obtained in Comparative Synthesis Example 1 was diluted with NMP so that the polymer concentration was 5 wt% to obtain a composition.

[6]剥離層の形成及びその評価
[実施例2−1]
スピンコータ(条件:回転数3,000rpmで約30秒)を用いて、実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物を、ガラス基体としての100mm×100mmガラス基板(以下同様)の上に塗布した。
そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて80℃で10分間加熱し、その後、オーブンを用いて、300℃で30分間加熱し、加熱温度を400℃まで昇温(10℃/分)し、更に400℃で30分間加熱し、ガラス基板上に厚さ約0.1μmの剥離層を形成した。なお、昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。
[6] Formation of Release Layer and Evaluation thereof [Example 2-1]
Using a spin coater (conditions: rotation speed 3,000 rpm for about 30 seconds), the release layer-forming composition obtained in Example 1-1 was placed on a 100 mm×100 mm glass substrate (hereinafter the same) as a glass substrate. Was applied to.
Then, the obtained coating film is heated at 80° C. for 10 minutes using a hot plate, and then at an oven for 30 minutes at 300° C., and the heating temperature is increased to 400° C. (10° C./minute). ) And further heated at 400° C. for 30 minutes to form a peeling layer having a thickness of about 0.1 μm on the glass substrate. During the temperature rise, the film-coated substrate was not taken out of the oven, but was heated in the oven.

[実施例2−2〜2−4]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物の代わりに、それぞれ実施例1−2〜1−4で得られた剥離層形成用組成物を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、剥離層を形成した。
[Examples 2-2 to 2-4]
Example 2-1 except that the release layer-forming composition obtained in each of Examples 1-2 to 1-4 was used in place of the release layer-forming composition obtained in each of Example 1-1. A release layer was formed in the same manner as in.

[比較例2−1]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物の代わりに、比較例1−1で得られた組成物を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、樹脂薄膜を形成した。
[Comparative Example 2-1]
A resin thin film was prepared in the same manner as in Example 2-1, except that the composition obtained in Comparative Example 1-1 was used instead of the composition for forming a release layer obtained in Example 1-1. Formed.

[7]剥離性の評価
[実施例3−1〜3−4,比較例3−1]
以下の方法により、表1に示した剥離層と樹脂基板の組み合わせとなるよう基板を作製し、剥離性の評価をした。
実施例2−1〜2−4で得られた剥離層とガラス基板の剥離性及び当該剥離層(樹脂薄膜)と樹脂基板の剥離性を確認した。なお、樹脂基板としては、ポリイミドからなる樹脂基板を用いた。
まず、実施例2−1〜2−4で得られた剥離層付きガラス基板上の剥離層のクロスカット(縦横1mm間隔、以下同様)、並びに、樹脂基板・剥離層付きガラス基板上の樹脂基板・剥離層のクロスカットを行うことにより、100マスカットを行った。すなわち、このクロスカットにより、1mm四方のマス目を100個形成した。
そして、この100マスカット部分に粘着テープを張り付けて、そのテープを剥がし、以下の基準(5B〜0B,B,A,AA)に基づき、剥離の程度を評価した(実施例3−1〜3−4)。また、上記手法に準じて、比較例2−1で得られた樹脂薄膜付きガラス基板を用いて、同様の試験を行った(比較例3−1)。結果を表1に示す。
[7] Evaluation of releasability [Examples 3-1 to 3-4, Comparative example 3-1]
By the following method, a substrate was prepared so as to be a combination of the release layer and the resin substrate shown in Table 1, and the releasability was evaluated.
The peelability of the peeling layer and the glass substrate obtained in Examples 2-1 to 2-4 and the peelability of the peeling layer (resin thin film) and the resin substrate were confirmed. A resin substrate made of polyimide was used as the resin substrate.
First, a cross-cut of the release layer on the glass substrate with the release layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 (vertical and horizontal 1 mm intervals, the same applies hereinafter), and a resin substrate/a resin substrate on the glass substrate with the release layer. -100 cross-cuts were performed by cross-cutting the release layer. That is, by this cross-cut, 100 squares of 1 mm square were formed.
Then, an adhesive tape was attached to the 100 muscat portion, the tape was peeled off, and the degree of peeling was evaluated based on the following criteria (5B-0B, B, A, AA) (Examples 3-1 to 3-3). 4). Further, according to the above method, the same test was conducted using the glass substrate with a resin thin film obtained in Comparative Example 2-1 (Comparative Example 3-1). The results are shown in Table 1.

5B:0%剥離(剥離なし)
4B:5%未満の剥離
3B:5〜15%未満の剥離
2B:15〜35%未満の剥離
1B:35〜65%未満の剥離
0B:65%〜80%未満の剥離
B:80%〜95%未満の剥離
A:95%〜100%未満の剥離
AA:100%剥離(すべて剥離)
5B: 0% peeling (no peeling)
4B: Peeling less than 5% 3B: Peeling less than 5-15% 2B: Peeling less than 15-35% 1B: Peeling less than 35-65% 0B: Peeling less than 65%-80% B: 80%-95 % Peeling A: 95% to less than 100% peeling AA: 100% peeling (all peeling)

なお、実施例3−1〜3−4及び比較例3−1の樹脂基板は、下記方法で形成した。
バーコーター(ギャップ:250μm)を用いて、ガラス基板上の剥離層(樹脂薄膜)の上に樹脂基板形成用組成物W又はXのいずれかを塗布した。そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて80℃で10分間加熱し、その後、オーブンを用いて、140℃で30分間加熱し、加熱温度を210℃まで昇温(10℃/分、以下同様)し、210℃で30分間、加熱温度を300℃まで昇温し、300℃で30分間、加熱温度を400℃まで昇温し、400℃で60分間加熱し、剥離層上に厚さ約20μmのポリイミド基板を形成した。昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。
The resin substrates of Examples 3-1 to 3-4 and Comparative example 3-1 were formed by the following method.
Using a bar coater (gap: 250 μm), either the resin substrate forming composition W or X was applied onto the release layer (resin thin film) on the glass substrate. Then, the obtained coating film was heated at 80° C. for 10 minutes using a hot plate, and then at 140° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature was raised to 210° C. (10° C./minute). , The same shall apply hereinafter), and the heating temperature is raised to 300° C. for 30 minutes at 210° C., the heating temperature is raised to 400° C. for 30 minutes at 300° C., and the heating temperature is raised to 400° C. for 60 minutes. A polyimide substrate having a thickness of about 20 μm was formed. During the temperature rising, the film-coated substrate was not taken out from the oven, but was heated in the oven.

表1に示される通り、実施例の剥離層は、ガラス基板との密着性に優れ、かつ、樹脂基板との剥離性に優れていることがわかる。一方、比較例の樹脂薄膜は、ガラス基板と剥離層の密着性が低い、もしくは、密着性が高い場合は、樹脂層とも密着し、全く剥がれない事が判明した。 As shown in Table 1, it can be seen that the release layer of the example has excellent adhesiveness to the glass substrate and excellent releasability from the resin substrate. On the other hand, it was found that the resin thin film of Comparative Example adhered to the resin layer and did not peel at all when the adhesiveness between the glass substrate and the release layer was low or when the adhesiveness was high.

Figure 0006743807
Figure 0006743807

Claims (7)

その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含み、
前記アンカー基が、カルボン酸基である剥離層形成用組成物。
A polyamic acid obtained by introducing an anchor group into either or both of the polymer chain terminals, and an organic solvent,
Wherein the anchor group is, the release layer forming composition is a mosquito carboxylic acid group.
前記ポリアミック酸が、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られたポリアミック酸であることを特徴とする請求項1記載の剥離層形成用組成物。 The polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine with an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride. A composition for forming a release layer. 前記芳香族ジアミンが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンであることを特徴とする請求項2記載の剥離層形成用組成物。 The composition for forming a release layer according to claim 2, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei. 前記芳香族テトラカルボン酸二無水物が、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物であることを特徴とする請求項2又は3記載の剥離層形成用組成物。 The composition for forming a release layer according to claim 2 or 3, wherein the aromatic tetracarboxylic dianhydride is an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei. 請求項1〜4のいずれか1項記載の剥離層形成用組成物を用いて形成される剥離層。 A release layer formed using the release layer-forming composition according to any one of claims 1 to 4. 請求項5記載の剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法。 A method of manufacturing a flexible electronic device including a resin substrate, comprising using the release layer according to claim 5. 前記樹脂基板が、ポリイミドからなる基板であることを特徴とする請求項6記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 6, wherein the resin substrate is a substrate made of polyimide.
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