KR20230023831A - Composition for forming release layer, and release layer - Google Patents

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KR20230023831A
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닛산 가가쿠 가부시키가이샤
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Abstract

그 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에 앵커기를 도입하여 이루어지는 폴리아믹산과, 유기 용매를 포함하는 박리층 형성용 조성물을 제공한다.A composition for forming a release layer containing a polyamic acid obtained by introducing an anchor group into one or both of the polymer chain terminals and an organic solvent is provided.

Description

박리층 형성용 조성물 및 박리층{COMPOSITION FOR FORMING RELEASE LAYER, AND RELEASE LAYER}Composition for forming release layer and release layer {COMPOSITION FOR FORMING RELEASE LAYER, AND RELEASE LAYER}

본 발명은 박리층 형성용 조성물 및 박리층에 관한 것이다.The present invention relates to a composition for forming a release layer and a release layer.

최근, 전자 디바이스에는 구부리는 기능 부여나 박형화 및 경량화와 같은 성능이 요구되고 있다. 이 점에서 종래의 무겁고 취약하여 구부릴 수 없는 유리 기판을 대신하여 경량의 플렉서블 플라스틱 기판을 사용하는 것이 요구된다. 또 신세대 디스플레이에서는 경량의 플렉서블 플라스틱 기판을 사용하는 액티브 풀 컬러(active full-color) TFT 디스플레이 패널의 개발이 요구되고 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION [0002] In recent years, electronic devices have been required to have properties such as imparting a bending function and reducing thickness and weight. In this respect, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate instead of the conventional glass substrate which is heavy and brittle and cannot be bent. Also, in a new generation display, development of an active full-color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate is required.

그래서 수지 필름을 기판으로 한 전자 디바이스의 제조 방법이 다양하게 검토되기 시작하여, 신세대 디스플레이에서는 기존의 TFT 설비를 전용 가능한 프로세스로 제조 검토가 진행되고 있다. 특허문헌 1, 2 및 3은 유리 기판 상에 아몰퍼스 실리콘 박막층을 형성하고, 그 박막층 상에 플라스틱 기판을 형성한 후에, 유리면측으로부터 레이저를 조사하여, 아몰퍼스 실리콘의 결정화에 따라 발생하는 수소 가스에 의해 플라스틱 기판을 유리 기판으로부터 박리하는 방법을 개시한다.Therefore, various manufacturing methods of electronic devices using resin films as substrates have begun to be examined, and manufacturing studies are progressing with processes that can divert existing TFT facilities in new generation displays. Patent Documents 1, 2 and 3 form an amorphous silicon thin film layer on a glass substrate, form a plastic substrate on the thin film layer, then irradiate a laser from the glass surface side, Disclosed is a method of peeling a plastic substrate from a glass substrate.

또 특허문헌 4는 특허문헌 1~3에 개시된 기술을 사용하여 피박리층(특허문헌 4에 있어서 「피전사층」이라고 기재됨)을 플라스틱 필름에 첩부하여 액정 표시 장치를 완성시키는 방법을 개시한다.In addition, Patent Document 4 discloses a method of completing a liquid crystal display device by attaching a layer to be peeled (referred to as "transferred layer" in Patent Document 4) to a plastic film using the technology disclosed in Patent Documents 1 to 3. .

그러나, 특허문헌 1~4에 개시된 방법 특히 특허문헌 4에 개시된 방법은 투광성이 높은 기판을 사용하는 것이 필수적이며, 기판을 통과시키고, 또한 비정질 실리콘에 포함되는 수소를 방출시키기에 충분한 에너지를 부여하기 위해서, 비교적 큰 에너지의 레이저광의 조사가 필요하게 되어, 피박리층에 손상을 주어버린다는 문제가 있다. 또 레이저 처리에 장시간을 필요로 하고, 대면적을 가지는 피박리층을 박리하는 것은 곤란하기 때문에, 디바이스 제작의 생산성을 높이는 것은 어렵다는 문제도 있다.However, in the method disclosed in Patent Documents 1 to 4, particularly the method disclosed in Patent Document 4, it is essential to use a substrate having high light transmittance, and to pass through the substrate and to impart sufficient energy to release hydrogen contained in amorphous silicon. For this purpose, irradiation with a laser beam of relatively high energy is required, and there is a problem that the layer to be separated is damaged. In addition, since laser processing requires a long time and it is difficult to peel a layer to be separated having a large area, there is also a problem that it is difficult to increase the productivity of device fabrication.

일본 특개 평10-125929호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125929 일본 특개 평10-125931호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125931 국제공개 제2005/050754호International Publication No. 2005/050754 일본 특개 평10-125930호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125930

본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판에 손상을 주지 않고 박리할 수 있는 박리층을 형성하기 위한 박리층 형성용 조성물 및 당해 박리층을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a composition for forming a release layer for forming a release layer that can be separated without damaging a resin substrate of a flexible electronic device, and the release layer.

본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 거듭한 결과, 그 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에 앵커기를 도입하여 이루어지는 폴리아믹산과, 유기 용매를 포함하는 조성물로부터, 기체와의 우수한 밀착성 및 플렉서블 전자 디바이스에 사용되는 수지 기판과의 적당한 밀착성과 적당한 박리성을 가지는 박리층을 형성할 수 있는 것을 알아내어, 본 발명을 완성시켰다.As a result of repeated intensive studies to solve the above problems, the inventors of the present invention found that, from a composition containing a polyamic acid formed by introducing an anchor group into either or both of the polymer chain terminals and an organic solvent, excellent adhesion to the substrate and flexibility It was discovered that a peeling layer having appropriate adhesiveness and appropriate peelability to a resin substrate used in an electronic device could be formed, and the present invention was completed.

즉, 본 발명은That is, the present invention

1. 그 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에 앵커기를 도입하여 이루어지는 폴리아믹산과, 유기 용매를 포함하는 박리층 형성용 조성물,1. A composition for forming a release layer containing a polyamic acid obtained by introducing anchor groups into one or both of the polymer chain terminals and an organic solvent;

2. 상기 앵커기가 실릴기 또는 카복실산기인 1의 박리층 형성용 조성물,2. The composition for forming a release layer of 1, wherein the anchor group is a silyl group or a carboxylic acid group;

3. 상기 폴리아믹산이 방향족 다이아민을 포함하는 다이아민 성분과 방향족 테트라카복실 이무수물을 포함하는 산이무수물 성분을 반응시켜 얻어진 폴리아믹산인 것을 특징으로 하는 1 또는 2의 박리층 형성용 조성물,3. The composition for forming a release layer of 1 or 2, characterized in that the polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine with an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic dianhydride;

4. 상기 방향족 다이아민이 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민인 것을 특징으로 하는 3의 박리층 형성용 조성물,4. The composition for forming a release layer of 3, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei,

5. 상기 방향족 테트라카복실산 이무수물이 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 테트라카복실산 이무수물인 것을 특징으로 하는 3 또는 4의 박리층 형성용 조성물,5. The composition for forming a release layer of 3 or 4, characterized in that the aromatic tetracarboxylic dianhydride is an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei;

6. 1 내지 5 중 어느 한 항의 박리층 형성용 조성물을 사용하여 형성되는 박리층,6. A release layer formed using the composition for forming a release layer according to any one of 1 to 5;

7. 6의 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법,7. A method of manufacturing a flexible electronic device having a resin substrate characterized by using the peeling layer of 6;

8. 상기 수지 기판이 폴리이미드로 이루어지는 기판인 것을 특징으로 하는 7의 제조 방법8. The manufacturing method of 7, characterized in that the resin substrate is a substrate made of polyimide.

을 제공한다.provides

본 발명의 박리층 형성용 조성물을 사용함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적당한 밀착성과 적당한 박리성을 가지는 박리층을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 그 때문에 본 발명의 박리층 형성용 조성물을 사용함으로써, 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 기체 상에 형성된 수지 기판이나, 추가로 그 위에 설치되는 회로 등에 손상을 주지 않고, 당해 회로 등과 함께 당해 수지 기판을 당해 기체로부터 분리하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스의 간편화나 그 수율 향상 등에 기여할 수 있다.By using the composition for forming a release layer of the present invention, a release layer having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate release property can be obtained with good reproducibility. Therefore, by using the composition for forming a release layer of the present invention, in the manufacturing process of a flexible electronic device, the resin substrate formed on the substrate or the circuit further provided thereon is not damaged, and the circuit and the like are not damaged. It becomes possible to separate the substrate from the gas. Therefore, the composition for forming a release layer of the present invention can contribute to simplification of the manufacturing process of a flexible electronic device having a resin substrate or an improvement in its yield.

이하, 본 발명에 대해서 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

본 발명의 박리층 형성용 조성물은 그 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에 앵커기를 도입하여 이루어지는 폴리아믹산과, 유기 용매를 포함한다. 여기서 본 발명에 있어서의 박리층은 소정의 목적으로 유리 기체 바로 위에 설치되는 층으로서, 그 전형예로서는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 기체와, 폴리이미드와 같은 수지로 이루어지는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판과의 사이에 당해 수지 기판을 소정의 프로세스 중에 있어서 고정하기 위해서 설치되고, 또한 당해 수지 기판 상에 전자 회로 등을 형성한 후에 있어서 당해 수지 기판이 당해 기체로부터 용이하게 박리할 수 있도록 하기 위해서 설치되는 박리층을 들 수 있다.The composition for forming a release layer of the present invention contains a polyamic acid formed by introducing an anchor group into one or both of its polymer chain terminals, and an organic solvent. Here, the peeling layer in the present invention is a layer provided directly on the glass substrate for a predetermined purpose, and a typical example thereof is a resin substrate of a flexible electronic device made of a substrate and a resin such as polyimide in a manufacturing process of a flexible electronic device It is installed to fix the resin substrate during a predetermined process, and after forming an electronic circuit or the like on the resin substrate, the resin substrate can be easily separated from the substrate. A peeling layer is mentioned.

본 발명에서 사용하는 폴리아믹산은 그 중합체 쇄 말단에 앵커기를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아닌데, 다이아민 성분과 테트라카복실산 이무수물 성분을 반응시킨 후, 얻어진 폴리아믹산과, 앵커기를 가지는 아민 또는 앵커기를 가지는 산무수물을 반응시킴으로써 얻을 수 있는 것이다. 즉, 여기서 얻어지는 폴리아믹산은 후술하는 앵커기 함유 화합물로 분자쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽이 밀봉되어 있는 것이다.The polyamic acid used in the present invention is not particularly limited as long as it has an anchor group at the end of the polymer chain, but the polyamic acid obtained by reacting the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component, and an amine having an anchor group or having an anchor group It can be obtained by reacting an acid anhydride. That is, the polyamic acid obtained here is one in which one or both of molecular chain terminals are sealed with an anchor group-containing compound described later.

이와 같은 앵커기로서는 카복실산기, 실릴기(예를 들면 알킬실릴기, 알콕시실릴기, 바이닐실릴기 및 알릴실릴기 등), 바이닐기, 말레이미드기, 페놀성 수산기 등을 들 수 있는데, 그 중에서도 카복실산기, 실릴기(특히 알콕시기, 바이닐기 및 알릴기로부터 선택되는 기가 규소 원자에 1개 이상 결합한 실릴기)가 바람직하다. 이와 같은 앵커기를 사용함으로써, 상층에 사용하는 플렉서블 기판과 골격의 차이가 생기기 때문에, 얻어지는 막의 박리층으로서의 기능의 향상을 도모할 수 있다.Examples of such an anchor group include a carboxylic acid group, a silyl group (eg, an alkylsilyl group, an alkoxysilyl group, a vinylsilyl group, an allylsilyl group, etc.), a vinyl group, a maleimide group, a phenolic hydroxyl group, and the like. A carboxylic acid group and a silyl group (especially a silyl group in which one or more groups selected from alkoxy groups, vinyl groups and allyl groups are bonded to silicon atoms) are preferred. By using such an anchor group, a difference occurs between the flexible substrate used for the upper layer and the skeleton, so that the function of the obtained film as a release layer can be improved.

본 발명에 있어서는 폴리아믹산의 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽에 앵커기가 존재하면 되는데, 중합체 쇄 말단의 양쪽에 앵커기가 존재하는 것이 바람직하다.In this invention, although an anchor group should just exist on either side of the polymer chain terminal of a polyamic acid, it is preferable that an anchor group exists on both sides of a polymer chain terminal.

또 다이아민 성분 및 테트라카복실산 이무수물 성분으로부터 얻어지는 폴리아믹산과, 앵커기 사이에는 탄소수 1~10정도의 박리성이나 내열성을 현저하게 저하시키지 않는 탄소수의 알킬기, 아릴기 등의 스페이서기가 존재해도 되고, 이들 스페이서기 내에는 에터 결합, 티오에터 결합, 에스터 결합 등이 존재해도 된다.In addition, between the polyamic acid obtained from the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component, and the anchor group, a spacer group such as an alkyl group having about 1 to 10 carbon atoms and a carbon number that does not significantly reduce the peelability or heat resistance may be present, such as an aryl group, An ether bond, a thioether bond, an ester bond, or the like may exist in these spacer groups.

앵커기를 가지는 아민의 구체예로서는 4-아미노페녹시트라이메틸실레인, 4-아미노페녹시다이메틸바이닐실레인, 4-아미노페녹시메틸다이바이닐실레인, 4-아미노페녹시트라이바이닐실레인, 4-아미노페녹시다이메틸알릴실레인, 4-아미노페녹시메틸다이알릴실레인, 4-아미노페녹시트라이알릴실레인, 4-아미노페녹시다이메틸페닐실레인, 4-아미노페녹시메틸다이페닐실레인, 4-아미노페녹시트라이페닐실레인, 4-아미노페녹시트라이메톡시실레인, 4-아미노페녹시다이메톡시바이닐실레인, 4-아미노페녹시메톡시다이바이닐실레인, 4-아미노페녹시트라이바이닐실레인, 4-아미노페녹시다이메톡시알릴실레인, 4-아미노페녹시메톡시다이알릴실레인, 4-아미노페녹시다이메톡시페닐실레인, 4-아미노페녹시메톡시다이페닐실레인, 4-아미노페녹시트라이에톡시실레인, 4-아미노페녹시다이에톡시바이닐실레인, 4-아미노페녹시에톡시다이바이닐실레인, 4-아미노페녹시트라이바이닐실레인, 4-아미노페녹시다이에톡시알릴실레인, 4-아미노페녹시에톡시다이알릴실레인, 4-아미노페녹시다이에톡시페닐실레인, 4-아미노페녹시에톡시다이페닐실레인, 3-아미노페녹시트라이메틸실레인, 3-아미노페녹시다이메틸바이닐실레인, 3-아미노페녹시메틸다이바이닐실레인, 2-아미노페녹시트라이바이닐실레인, 2-아미노페녹시트라이메틸실레인, 2-아미노페녹시다이메틸바이닐실레인, 2-아미노페녹시메틸다이바이닐실레인, 2-아미노페녹시트라이바이닐실레인, 3-아미노프로필트라이에틸실레인, 3-아미노프로필트라이메톡시실레인, 3-아미노프로필트라이에톡시실레인, 2-아미노프로필트라이메톡시실레인, 2-아미노프로필트라이에톡시실레인, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트라이메톡시실레인, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필메틸다이메톡시실레인, N-에톡시카보닐-3-아미노프로필트라이메톡시실레인, N-에톡시카보닐-3-아미노프로필트라이에톡시실레인, N-트라이에톡시실릴프로필트라이에틸렌트라이아민, N-트라이메톡시실릴프로필트라이에틸렌트라이아민, 2-아미노페놀, 3-아미노페놀, 4-아미노페놀 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다.Specific examples of the amine having an anchor group include 4-aminophenoxytrimethylsilane, 4-aminophenoxydimethylvinylsilane, 4-aminophenoxymethyldivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, and 4-aminophenoxymethylvinylsilane. -Aminophenoxydimethylallylsilane, 4-aminophenoxymethyldiallylsilane, 4-aminophenoxytriallylsilane, 4-aminophenoxydimethylphenylsilane, 4-aminophenoxymethyldiphenylsilane Phosphorus, 4-aminophenoxytriphenylsilane, 4-aminophenoxytrimethoxysilane, 4-aminophenoxydimethoxyvinylsilane, 4-aminophenoxymethoxydivinylsilane, 4-amino Phenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyallylsilane, 4-aminophenoxymethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyphenylsilane, 4-aminophenoxymethoxy Diphenylsilane, 4-aminophenoxytriethoxysilane, 4-aminophenoxydiethoxyvinylsilane, 4-aminophenoxyethoxydivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4 -Aminophenoxydiethoxyallylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydiethoxyphenylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiphenylsilane, 3-aminophenoxy Trimethylsilane, 3-aminophenoxydimethylvinylsilane, 3-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 2-aminophenoxytrimethylsilane, 2-amino Phenoxydimethylvinylsilane, 2-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 3-aminopropyltriethylsilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3- Aminopropyltriethoxysilane, 2-aminopropyltrimethoxysilane, 2-aminopropyltriethoxysilane, N-(2-aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-( 2-aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltriethoxysilane , N-triethoxysilylpropyltriethylenetriamine, N-trimethoxysilylpropyltriethylenetriamine, 2-aminophenol, 3-aminophenol, 4-aminophenol, etc., but is not limited thereto. .

앵커기를 가지는 산무수물의 구체예로서는 트리멜리트산 무수물, 바이닐말레산 무수물, 4-바이닐나프탈렌-1,2-다이카복실산 무수물, 무수 말레산, 2,3-다이메틸말레산 무수물, 4-하이드록시프탈산 무수물, 3-하이드록시프탈산 무수물 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다.Specific examples of the acid anhydride having an anchor group include trimellitic anhydride, vinylmaleic anhydride, 4-vinylnaphthalene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, maleic anhydride, 2,3-dimethylmaleic anhydride, and 4-hydroxyphthalic acid. Anhydride, 3-hydroxyphthalic anhydride, etc. are mentioned, but it is not limited to these.

또 폴리아믹산을 제조할 때에 사용하는 다이아민 성분 및 산이무수물 성분으로서는 얻어지는 막의 박리층으로서의 기능을 향상시키는 관점에서, 방향족 다이아민을 포함하는 다이아민 성분과 방향족 테트라카복실산 이무수물을 포함하는 산이무수물 성분을 반응시켜 얻어지는 폴리아믹산이 바람직하다.Further, as the diamine component and acid dianhydride component used when producing the polyamic acid, from the viewpoint of improving the function as a release layer of the resulting film, a diamine component containing an aromatic diamine and an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic dianhydride. A polyamic acid obtained by reacting is preferred.

방향족 다이아민으로서는 분자 내에 2개의 아미노기를 가지고, 또한 방향환을 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아닌데, 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민이 바람직하다.Although it is not specifically limited as long as it has two amino groups in a molecule|numerator and has an aromatic ring as an aromatic diamine, Aromatic diamine containing 1-5 benzene nuclei is preferable.

그 구체예로서는 1,4-다이아미노벤젠(p-페닐렌다이아민), 1,3-다이아미노벤젠(m-페닐렌다이아민), 1,2-다이아미노벤젠(o-페닐렌다이아민), 2,4-다이아미노톨루엔, 2,5-다이아미노톨루엔, 2,6-다이아미노톨루엔, 4,6-다이메틸-m-페닐렌다이아민, 2,5-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,6-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,4,6-트라이메틸-1,3-페닐렌다이아민, 2,3,5,6-테트라메틸-p-페닐렌다이아민, m-자일릴렌다이아민, p-자일릴렌다이아민, 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,3-다이아민, 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,2-다이아민, 3,5-비스(트라이플루오로메틸)벤젠-1,2-다이아민 등의 벤젠 핵이 1개인 다이아민; 1,2-나프탈렌다이아민, 1,3-나프탈렌다이아민, 1,4-나프탈렌다이아민, 1,5-나프탈렌다이아민, 1,6-나프탈렌다이아민, 1,7-나프탈렌다이아민, 1,8-나프탈렌다이아민, 2,3-나프탈렌다이아민, 2,6-나프탈렌다이아민, 4,4'-바이페닐다이아민, 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)-4,4'-다이아미노바이페닐, 3,3'-다이메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3'-다이카복시-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노벤즈아닐라이드, 3,3'-다이클로로벤지딘, 3,3'-다이메틸벤지딘, 2,2'-다이메틸벤지딘, 3,3'-다이아미노다이페닐메테인, 3,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 2,2-비스(3-아미노페닐)프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로페인, 2,2-비스(3-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 3,3'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 3,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 4,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 3,3'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이아민, 3,3',5,5'-테트라플루오로바이페닐-4,4'-다이아민, 4,4'-다이아미노옥타플루오로바이페닐, 2-(3-아미노페닐)-5-아미노벤즈이미다졸, 2-(4-아미노페닐)-5-아미노벤조옥사졸 등의 벤젠 핵이 2개인 다이아민; 1,5-다이아미노안트라센, 2,6-다이아미노안트라센, 9,10-다이아미노안트라센, 1,8-다이아미노페난트렌, 2,7-다이아미노페난트렌, 3,6-다이아미노페난트렌, 9,10-다이아미노페난트렌, 1,3-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스〔2-(4-아미노페닐)아이소프로필〕벤젠, 1,4-비스〔2-(3-아미노페닐)아이소프로필〕벤젠, 1,4-비스〔2-(4-아미노페닐)아이소프로필〕벤젠, 4,4''-다이아미노-p-터페닐, 4,4''-다이아미노-m-터페닐 등의 벤젠 핵이 3개인 다이아민 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 단독으로도, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다. 또한 본 발명에 있어서 상기 방향족 다이아민은 에터 결합 및 에스터 결합을 포함하지 않는 것을 사용하는 것이 바람직하다.Specific examples thereof include 1,4-diaminobenzene (p-phenylenediamine), 1,3-diaminobenzene (m-phenylenediamine), and 1,2-diaminobenzene (o-phenylenediamine). , 2,4-diaminotoluene, 2,5-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-phenylene Diamine, 2,6-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-p-phenylene Diamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,3-diamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,2-diamine, 3,5 -Diamine having one benzene nucleus, such as bis(trifluoromethyl)benzene-1,2-diamine; 1,2-naphthalenediamine, 1,3-naphthalenediamine, 1,4-naphthalenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 1,6-naphthalenediamine, 1,7-naphthalenediamine, 1, 8-naphthalenediamine, 2,3-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, 4,4'-biphenyldiamine, 2,2'-bis(trifluoromethyl)-4,4'- Diaminobiphenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-dicarboxy-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,3'-dichlorobenzidine, 3,3'-dimethylbenzidine, 2 ,2'-dimethylbenzidine, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2-bis( 3-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(3-aminophenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane Pain, 2,2-bis (4-aminophenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 3,3'-diaminodiphenylsulfoxide, 3,4'-di Aminodiphenylsulfoxide, 4,4'-diaminodiphenylsulfoxide, 3,3'-bis(trifluoromethyl)biphenyl-4,4'-diamine, 3,3',5,5' -Tetrafluorobiphenyl-4,4'-diamine, 4,4'-diaminooctafluorobiphenyl, 2-(3-aminophenyl)-5-aminobenzimidazole, 2-(4-amino diamines having two benzene nuclei such as phenyl)-5-aminobenzoxazole; 1,5-diaminoanthracene, 2,6-diaminoanthracene, 9,10-diaminoanthracene, 1,8-diaminophenanthrene, 2,7-diaminophenanthrene, 3,6-diaminophenanthrene , 9,10-diaminophenanthrene, 1,3-bis (3-aminophenyl) benzene, 1,3-bis (4-aminophenyl) benzene, 1,4-bis (3-aminophenyl) benzene, 1 ,4-bis(4-aminophenyl)benzene, 1,3-bis(3-aminophenylsulfide)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfide)benzene, 1,4-bis(4-aminophenyl) Sulfide)benzene, 1,3-bis(3-aminophenylsulfone)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,4-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,3- Bis[2-(4-aminophenyl)isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(3-aminophenyl)isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(4-aminophenyl)isopropyl ] diamines having three benzene nuclei, such as benzene, 4,4''-diamino-p-terphenyl, and 4,4''-diamino-m-terphenyl; . These may be used alone or in combination of two or more. Also, in the present invention, it is preferable to use the aromatic diamine that does not contain an ether linkage or an ester linkage.

그 중에서도 얻어지는 막의 박리층으로서의 기능을 향상시키는 관점에서, 방향환 및 그것에 축합하는 복소환 상에 메틸기 등의 치환기를 가지지 않는 방향족환 및 복소방향족환만으로 구성되는 방향족 다이아민이 바람직하다. 구체적으로는 p-페닐렌다이아민, m-페닐렌다이아민, 2-(3-아미노페닐)-5-아미노벤즈이미다졸, 2-(4-아미노페닐)-5-아미노벤조옥사졸, 4,4''-다이아미노-p-터페닐 등이 바람직하다.Among them, aromatic diamines composed only of aromatic rings and heteroaromatic rings having no substituents such as methyl groups on aromatic rings and heterocycles condensed therewith are preferred from the viewpoint of improving the function of the resulting film as a release layer. Specifically, p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2-(3-aminophenyl)-5-aminobenzimidazole, 2-(4-aminophenyl)-5-aminobenzoxazole, 4 , 4''-diamino-p-terphenyl and the like are preferable.

방향족 테트라카복실산 이무수물로서는 분자 내에 2개의 다이카복실산 무수물 부위를 가지고, 또한 방향환을 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아닌데, 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 테트라카복실산 이무수물이 바람직하다.The aromatic tetracarboxylic dianhydride is not particularly limited as long as it has two dicarboxylic acid anhydride sites in the molecule and has an aromatic ring, but an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei is preferable.

그 구체예로서는 피로멜리트산 이무수물, 벤젠-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,4,5,8-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,2',3,3'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,3,3',4'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-3,3',4,4'-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,9,10-테트라카복실산 이무수물 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 단독으로도, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다.Specific examples thereof include pyromellitic acid dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, and naphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride. Carboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene -2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-2,2',3,3'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl- 2,3,3',4'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-3,3',4,4'-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, anthracene- 1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-2,3,6 ,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7 -Tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,9,10-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,5,6-tetra Carboxylic acid dianhydride, phenanthrene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-3,4,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride Water, phenanthrene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride, etc. are mentioned, but it is not limited to these. These may be used alone or in combination of two or more.

그 중에서도 얻어지는 막의 박리층으로서의 기능을 향상시키는 관점에서, 벤젠 핵이 1개 또는 2개인 방향족 카복실산 이무수물이 바람직하다. 구체적으로는 식(C1)~(C12)의 어느 하나로 표시되는 방향족 테트라카복실산 이무수물이 바람직하고, 식(C1)~(C7) 및 (C9)~(C11)의 어느 하나로 표시되는 방향족 테트라카복실산 이무수물이 보다 바람직하다.Among them, aromatic carboxylic acid dianhydrides having one or two benzene nuclei are preferable from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a release layer. Specifically, an aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by any one of formulas (C1) to (C12) is preferable, and an aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by any one of formulas (C1) to (C7) and (C9) to (C11) Water is more preferred.

Figure pat00001
Figure pat00001

또 얻어지는 박리층의 유연성, 내열성 등을 향상시키는 관점에서, 본 발명에서 사용하는 다이아민 성분은 방향족 다이아민 이외의 다이아민을 포함해도 되고, 본 발명에서 사용하는 테트라카복실산 이무수물 성분은 방향족 테트라카복실산 이무수물 이외의 테트라카복실산 이무수물을 포함해도 된다.Further, from the viewpoint of improving flexibility, heat resistance, etc. of the release layer obtained, the diamine component used in the present invention may contain diamines other than aromatic diamine, and the tetracarboxylic dianhydride component used in the present invention is aromatic tetracarboxylic acid. You may also include tetracarboxylic acid dianhydride other than dianhydride.

본 발명에 있어서 다이아민 성분 중의 방향족 다이아민의 양은 바람직하게는 70몰% 이상, 보다 바람직하게는 80몰% 이상, 한층 더 바람직하게는 90몰% 이상, 더욱 바람직하게는 95몰% 이상, 가장 바람직하게는 100몰%이다. 또 테트라카복실산 성분 중의 방향족 테트라카복실산 이무수물의 양은 바람직하게는 70몰% 이상, 보다 바람직하게는 80몰% 이상, 한층 더 바람직하게는 90몰% 이상, 더욱 바람직하게는 95몰% 이상, 가장 바람직하게는 100몰%이다. 이와 같은 사용량을 채용함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적당한 밀착성과 적당한 박리성을 가지는 막을 재현성 좋게 얻을 수 있다.In the present invention, the amount of aromatic diamine in the diamine component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, still more preferably 90 mol% or more, still more preferably 95 mol% or more, most preferably It is 100 mol% at most. In addition, the amount of aromatic tetracarboxylic dianhydride in the tetracarboxylic acid component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, even more preferably 90 mol% or more, still more preferably 95 mol% or more, most preferably is 100 mol%. By adopting such an amount, a film having excellent adhesion to the substrate, appropriate adhesion to the resin substrate, and appropriate peelability can be obtained with good reproducibility.

이상 설명한 다이아민 성분과 테트라카복실산 이무수물 성분을 반응시킨 후, 얻어진 폴리아믹산과, 앵커기를 가지는 아민 또는 앵커기를 가지는 산무수물을 반응시킴으로써, 본 발명의 박리층 형성용 조성물에 포함되는 그 중합체 쇄 말단에 앵커기를 가지는 폴리아믹산을 얻을 수 있다.After reacting the above-described diamine component with the tetracarboxylic dianhydride component, the obtained polyamic acid is reacted with an amine having an anchor group or an acid anhydride having an anchor group, and the polymer chain terminal contained in the composition for forming a release layer of the present invention A polyamic acid having an anchor group can be obtained.

이와 같은 반응에 사용하는 유기 용매는 반응에 악영향을 끼치지 않는 한 특별히 한정되는 것은 아닌데, 그 구체예로서는 m-크레졸, 2-피롤리돈, N-메틸-2-피롤리돈, N-에틸-2-피롤리돈, N-바이닐-2-피롤리돈, N,N-다이메틸아세트아마이드, N,N-다이메틸폼아마이드, 3-메톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-에톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-아이소프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-sec-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-tert-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, γ-뷰티로락톤 등을 들 수 있다. 또한 유기 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다.The organic solvent used in this reaction is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction, and specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone, N-ethyl- 2-pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetamide, N,N-dimethylformamide, 3-methoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3- Ethoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-propoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-isopropoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-butoxy-N,N- dimethylpropylamide, 3-sec-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-tert-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, and γ-butyrolactone. Moreover, you may use an organic solvent individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

다이아민 성분과 테트라카복실산 이무수물 성분의 도입비는 목적으로 하는 분자량이나 분자량 분포, 다이아민의 종류나 테트라카복실산 이무수물의 종류 등을 고려하여 적당히 결정되기 때문에 일률적으로 규정할 수 없지만, 테트라카복실산 이무수물 성분 1에 대하여 다이아민 성분 0.7~1.3정도, 바람직하게는 0.8~1.2정도, 더욱 바람직하게는 0.9~1.1정도이다.Although the introduction ratio of the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component is determined appropriately in consideration of the target molecular weight and molecular weight distribution, the type of diamine and the type of tetracarboxylic dianhydride, etc., it cannot be uniformly defined. The diamine component is about 0.7 to 1.3, preferably about 0.8 to 1.2, more preferably about 0.9 to 1.1.

또 앵커기를 가지는 아민 및 앵커기를 가지는 산무수물의 양은 테트라카복실산 이무수물 성분에 대하여 앵커기를 가지는 아민 0.01~0.6정도, 바람직하게는 0.05~0.4정도, 더욱 바람직하게는 0.1~0.2정도, 또는 다이아민 성분에 대하여 앵커기를 가지는 산무수물 0.01~0.52정도, 바람직하게는 0.05~0.32정도, 더욱 바람직하게는 0.1~0.2정도이다.In addition, the amount of the amine having an anchor group and the acid anhydride having an anchor group is about 0.01 to 0.6, preferably about 0.05 to 0.4, more preferably about 0.1 to 0.2, or the diamine component, relative to the tetracarboxylic dianhydride component. It is about 0.01 to 0.52, preferably about 0.05 to 0.32, more preferably about 0.1 to 0.2 of the acid anhydride having an anchor group.

반응 온도는 사용하는 용매의 융점으로부터 비점까지의 범위에서 적당히 설정하면 되고, 통상 0~100℃정도인데, 얻어지는 폴리아믹산의 용액 중에서의 이미드화를 막아 폴리아믹산 단위의 고함유량을 유지하기 위해서는 바람직하게는 0~70℃정도이며, 보다 바람직하게는 0~60℃정도이며, 한층 더 바람직하게는 0~50℃정도이다.The reaction temperature may be appropriately set in the range from the melting point to the boiling point of the solvent used, and is usually about 0 to 100 ° C. is about 0 to 70°C, more preferably about 0 to 60°C, still more preferably about 0 to 50°C.

반응 시간은 반응 온도나 원료 물질의 반응성에 의존하기 때문에 일률적으로 규정할 수 없지만, 통상 1~100시간정도이다.Since the reaction time depends on the reaction temperature and the reactivity of raw materials, it cannot be uniformly defined, but it is usually about 1 to 100 hours.

이와 같이 하여 얻어지는 폴리아믹산의 중량 평균 분자량은 통상 5,000~500,000정도인데, 얻어지는 막의 박리층으로서의 기능을 향상시키는 관점에서 바람직하게는 10,000~200,000정도, 보다 바람직하게는 30,000~150,000정도이다. 또한 본 발명에 있어서 중량 평균 분자량은 젤퍼미에이션 크로마토그래피(GPC) 측정에 의한 폴리스타이렌 환산값이다.The weight average molecular weight of the polyamic acid obtained in this way is usually about 5,000 to 500,000, but is preferably about 10,000 to 200,000, more preferably about 30,000 to 150,000 from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a release layer. In the present invention, the weight average molecular weight is a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC) measurement.

본 발명의 박리층 형성용 조성물은 유기 용매를 포함하는 것이다. 이 유기 용매로서는 상기 반응의 반응 용매의 구체예와 마찬가지의 것을 들 수 있다. 그 중에서도 폴리아믹산을 잘 용해하고, 균일성이 높은 조성물을 조제하기 쉬운 점에서, N,N-다이메틸폼아마이드, N,N-다이메틸아세트아마이드, N-메틸-2-피롤리돈, 1,3-다이메틸-2-이미다졸리다이논, N-에틸-2-피롤리돈, γ-뷰티로락톤이 바람직하고, N-메틸-2-피롤리돈이 보다 바람직하다.The composition for forming a release layer of the present invention contains an organic solvent. As this organic solvent, the thing similar to the specific example of the reaction solvent of the said reaction is mentioned. Among them, N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1 ,3-dimethyl-2-imidazolidinone, N-ethyl-2-pyrrolidone, and γ-butyrolactone are preferred, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferred.

또한 단독으로는 폴리아믹산을 용해시키지 않는 용매라도, 폴리아믹산이 석출하지 않는 범위이면, 조성물의 조제에 사용할 수 있다. 특히 에틸셀로솔브, 뷰틸셀로솔브, 에틸카비톨, 뷰틸카비톨, 에틸칼비톨아세테이트, 에틸렌글라이콜, 1-메톡시-2-프로판올, 1-에톡시-2-프로판올, 1-뷰톡시-2-프로판올, 1-페녹시-2-프로판올, 프로필렌글라이콜모노아세테이트, 프로필렌글라이콜다이아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노메틸에터-2-아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노에틸에터-2-아세테이트, 다이프로필렌글라이콜, 2-(2-에톡시프로폭시)프로판올, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산n-프로필, 락트산n-뷰틸, 락트산아이소아밀 등의 저표면장력을 가지는 용매를 적당히 혼재시킬 수 있다. 이것에 의해 기판으로의 도포시에 도막 균일성이 향상되는 것이 알려져 있고, 본 발명에 있어서도 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, even if it is independent, even if it is a solvent which does not dissolve a polyamic acid, if it is a range in which a polyamic acid does not precipitate, it can be used for preparation of a composition. In particular, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1-ethoxy-2-propanol, 1-view Toxy-2-propanol, 1-phenoxy-2-propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol- 1-monoethyl ether-2-acetate, dipropylene glycol, 2-(2-ethoxypropoxy)propanol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, isoamyl lactate, etc. A solvent having a low surface tension can be appropriately mixed. It is known that this improves the uniformity of the coating film at the time of application to the substrate, and can be suitably used in the present invention as well.

본 발명의 박리층 형성용 조성물의 조제 방법은 임의이다. 조제 방법의 바람직한 일례로서는 상기에서 설명한 방법에 의해 얻어진 목적으로 하는 폴리아믹산을 포함하는 반응 용액을 여과하는 방법을 들 수 있다. 이 때, 농도 조정 등을 목적으로 하여 필요가 있으면 여과액을 희석 또는 농축해도 된다. 이와 같은 방법을 채용함으로써, 얻어지는 조성물로부터 제조되는 박리층의 밀착성, 박리성 등의 악화의 원인이 될 수 있는 불순물의 혼입을 저감할 수 있을 뿐만아니라, 효율적으로 박리층 형성용 조성물을 얻을 수 있다. 희석에 사용하는 용매로서는 특별히 한정되는 것은 아니며, 그 구체예로서는 상기 반응의 반응 용매의 구체예와 마찬가지의 것을 들 수 있다. 희석에 사용하는 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다.The method for preparing the composition for forming a release layer of the present invention is arbitrary. A preferable example of the preparation method is a method of filtering a reaction solution containing the target polyamic acid obtained by the method described above. At this time, the filtrate may be diluted or concentrated if necessary for the purpose of adjusting the concentration or the like. By employing such a method, it is possible not only to reduce the inclusion of impurities that may cause deterioration in the adhesiveness, peelability, etc. of the release layer produced from the resulting composition, but also to efficiently obtain a composition for forming a release layer. . The solvent used for dilution is not particularly limited, and specific examples thereof include the same as the specific examples of the reaction solvent in the above reaction. You may use the solvent used for dilution individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

본 발명의 박리층 형성용 조성물에 있어서의 폴리아믹산의 농도는 제작하는 박리층의 두께, 조성물의 점도 등을 감안하여 적당히 설정하는 것인데, 통상 1~30질량%정도, 바람직하게는 1~20질량%정도이다. 이와 같은 농도로 함으로써, 0.05~5μm정도의 두께의 박리층을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 폴리아믹산의 농도는 폴리아믹산의 원료인 다이아민과 테트라카복실산 이무수물의 사용량을 조정하거나, 단리한 폴리아믹산을 용매에 용해시킬 때에 그 양을 조정하거나 하여 조정할 수 있다.The concentration of the polyamic acid in the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, the viscosity of the composition, and the like, but is usually about 1 to 30 mass%, preferably 1 to 20 mass% is about % With such a concentration, a release layer having a thickness of about 0.05 to 5 μm can be obtained with good reproducibility. The concentration of the polyamic acid can be adjusted by adjusting the amounts used of diamine and tetracarboxylic dianhydride, which are raw materials of the polyamic acid, or by adjusting the amounts when dissolving the isolated polyamic acid in a solvent.

본 발명의 박리층 형성용 조성물의 점도는 제작하는 박리층의 두께 등을 감안하여 적당히 설정하는 것인데, 특히 0.05~5μm정도의 두께의 막을 재현성 좋게 얻는 것을 목적으로 하는 경우, 통상 25℃에서 10~10,000mPa·s정도, 바람직하게는 20~5,000mPa·s정도이다.The viscosity of the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced. In particular, when the purpose is to obtain a film having a thickness of about 0.05 μm to 5 μm with good reproducibility, it is usually 10 to 10 μm at 25 ° C. It is about 10,000 mPa·s, preferably about 20 to 5,000 mPa·s.

여기서 점도는 시판되는 액체의 점도 측정용 점도계를 사용하고, 예를 들면 JIS K7117-2에 기재된 순서를 참조하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 바람직하게는 점도계로서는 원추평판형(콘플레이트형) 회전 점도계를 사용하고, 바람직하게는 동형의 점도계로 표준 콘로터로서 1°34'×R24를 사용하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 이와 같은 회전 점도계로서는 예를 들면 도키산교 가부시키가이샤제 TVE-25L을 들 수 있다.Here, the viscosity can be measured using a commercially available viscometer for measuring the viscosity of liquids, for example, by referring to the procedure described in JIS K7117-2, under conditions of a composition temperature of 25°C. Preferably, a conical plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, and preferably a viscometer of the same type is used as a standard cone rotor and 1°34'×R24 is used to measure the composition under the condition of a temperature of 25°C. can As such a rotational viscometer, Toki Sangyo Co., Ltd. TVE-25L is mentioned, for example.

또한 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 폴리아믹산과 유기 용매 이외에, 예를 들면 막 강도를 향상시키기 위해서 가교제 등을 포함하고 있어도 된다.In addition to the polyamic acid and the organic solvent, the composition for forming a release layer of the present invention may also contain, for example, a crosslinking agent in order to improve film strength.

이상 설명한 본 발명의 박리층 형성용 조성물을 기체에 도포하고, 얻어진 도막을 가열하여 폴리아믹산을 열 이미드화함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적당한 밀착성과 적당한 박리성을 가지는 폴리이미드막으로 이루어지는 박리층을 얻을 수 있다.A polyimide film having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate release property by applying the composition for forming a release layer of the present invention described above to a substrate and heating the obtained coating film to thermally imidate the polyamic acid. A peeling layer made of can be obtained.

이와 같은 본 발명의 박리층을 기체 상에 형성하는 경우, 박리층은 기체의 일부 표면에 형성되어 있어도 되고, 전체면에 형성되어 있어도 된다. 기체의 일부 표면에 박리층을 형성하는 태양으로서는 기체 표면 중 소정의 범위에만 박리층을 형성하는 태양, 기체 표면 전체면에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 박리층을 형성하는 태양 등이 있다. 또한 본 발명에 있어서 기체는 그 표면에 본 발명의 박리층 형성용 조성물이 칠해지는 것으로서, 플렉서블 전자 디바이스 등의 제조에 사용되는 것을 의미한다.When such a release layer of the present invention is formed on a substrate, the release layer may be formed on a part of the surface of the substrate or may be formed on the entire surface. As an aspect of forming a release layer on a part of the surface of the substrate, an aspect of forming the release layer only in a predetermined range of the surface of the substrate, an aspect of forming the release layer in a pattern shape such as a dot pattern or a line and space pattern on the entire surface of the substrate, etc. there is Also, in the present invention, the substrate means that the surface is coated with the composition for forming a release layer of the present invention, and is used for manufacturing flexible electronic devices and the like.

기체(기재)로서는 예를 들면 유리, 플라스틱(폴리카보네이트, 폴리메타크릴레이트, 폴리스타이렌, 폴리에스터, 폴리올레핀, 에폭시, 멜라민, 트라이아세틸셀룰로오스, ABS, AS, 노보넨계 수지 등), 금속(실리콘 웨이퍼 등), 목재, 종이, 슬레이트 등을 들 수 있는데, 특히 본 발명의 박리층이 그것에 대한 충분한 밀착성을 가지는 점에서 유리가 바람직하다. 또한 기체 표면은 단일의 재료로 구성되어 있어도 되고, 둘 이상의 재료로 구성되어 있어도 된다. 둘 이상의 재료로 기체 표면이 구성되는 태양으로서는 기체 표면 중 어느 범위는 어느 재료로 구성되고, 그 나머지 표면은 그 밖의 재료로 구성되어 있는 태양, 기체 표면 전체에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 어느 재료가 그 밖의 재료 중에 존재하는 태양 등이 있다.As the substrate (base material), for example, glass, plastic (polycarbonate, polymethacrylate, polystyrene, polyester, polyolefin, epoxy, melamine, triacetyl cellulose, ABS, AS, norbornene resin, etc.), metal (silicon wafer, etc.) ), wood, paper, slate, and the like, but glass is particularly preferable since the release layer of the present invention has sufficient adhesion thereto. Also, the substrate surface may be composed of a single material or may be composed of two or more materials. As an aspect in which the surface of the aircraft is composed of two or more materials, a certain range of the surface of the aircraft is composed of a certain material and the remaining surface is composed of other materials, a pattern such as a dot pattern and a line and space pattern over the entire surface of the aircraft In terms of shape, there is an aspect in which a certain material exists among other materials.

본 발명의 박리층 형성용 조성물을 기체에 도포하는 방법은 특별히 한정되는 것은 아닌데, 예를 들면 캐스트 코트법, 스핀 코트법, 블레이드 코트법, 딥 코트법, 롤 코트법, 바 코트법, 다이 코트법, 잉크젯법, 인쇄법(철판, 요판, 평판, 스크린 인쇄 등) 등을 들 수 있다.The method of applying the composition for forming a release layer of the present invention to a substrate is not particularly limited, and examples thereof include cast coating, spin coating, blade coating, dip coating, roll coating, bar coating, and die coating. method, inkjet method, printing method (iron plate, intaglio, flat plate, screen printing, etc.) and the like.

이미드화하기 위한 가열 온도는 통상 50~550℃의 범위 내에서 적당히 결정되는 것인데, 바람직하게는 150℃ 초과~510℃이다. 가열 온도를 이와 같이 함으로써, 얻어지는 막의 취약화를 막으면서 이미드화 반응을 충분히 진행시키는 것이 가능하게 된다. 가열 시간은 가열 온도에 따라 상이하기 때문에 일률적으로 규정할 수 없지만, 통상 5분~5시간이다. 또 이미드화율은 50~100%의 범위이면 된다.The heating temperature for imidization is usually appropriately determined within the range of 50 to 550°C, but is preferably greater than 150°C to 510°C. By setting the heating temperature in this way, it becomes possible to sufficiently advance the imidation reaction while preventing embrittlement of the obtained film. Since the heating time differs depending on the heating temperature, it cannot be uniformly prescribed, but it is usually 5 minutes to 5 hours. In addition, the imidation ratio may be in the range of 50 to 100%.

본 발명에 있어서의 가열 태양의 바람직한 일례로서는 50~150℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 그대로 단계적으로 가열 온도를 상승시켜 최종적으로 150℃ 초과~510℃에서 30분~4시간 가열하는 수법을 들 수 있다. 특히 가열 태양의 보다 바람직한 일례로서는 50~100℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 100℃ 초과~375℃에서 5분간~2시간, 마지막으로 375℃ 초과~450℃에서 30분~4시간 가열하는 수법을 들 수 있다. 또한 가열 태양의 보다 바람직한 다른 일례로서는 50~150℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 150℃ 초과~350℃에서 5분간~2시간, 이어서 350℃ 초과~450℃에서 30분~4시간, 마지막으로 450℃ 초과~510℃에서 30분~4시간 가열하는 수법을 들 수 있다.As a preferred example of the heating mode in the present invention, a method of heating at 50 to 150 ° C. for 5 minutes to 2 hours, then raising the heating temperature step by step as it is, and finally heating at more than 150 ° C. to 510 ° C. for 30 minutes to 4 hours. can be heard In particular, as a more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 100 ° C. for 5 minutes to 2 hours, then over 100 ° C. to 375 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and finally above 375 ° C. to 450 ° C. for 30 minutes to 4 hours. method can be found. Another more preferable example of the heating mode is heating at 50 to 150°C for 5 minutes to 2 hours, then over 150°C to 350°C for 5 minutes to 2 hours, then over 350°C to 450°C for 30 minutes to 4 hours, and finally As a method, a method of heating at over 450 ° C. to 510 ° C. for 30 minutes to 4 hours is exemplified.

가열에 사용하는 기구는 예를 들면 핫플레이트, 오븐 등을 들 수 있다. 가열 분위기는 공기하여도 되고 불활성 가스하여도 되며, 또 상압하여도 되고 감압하여도 된다.As for the apparatus used for heating, a hot plate, an oven, etc. are mentioned, for example. The heating atmosphere may be air or an inert gas, and may be normal pressure or reduced pressure.

박리층의 두께는 통상 0.01~50μm정도, 생산성의 관점에서 바람직하게는 0.05~20μm정도이다. 또한 원하는 두께는 가열 전의 도막의 두께를 조정함으로써 실현한다.The thickness of the peeling layer is usually about 0.01 to 50 μm, and preferably about 0.05 to 20 μm from the viewpoint of productivity. Further, the desired thickness is realized by adjusting the thickness of the coating film before heating.

이상 설명한 박리층은 기체, 특히 유리의 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적당한 밀착성과 적당한 박리성을 가진다. 그 때문에 본 발명의 박리층은 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 당해 디바이스의 수지 기판에 손상을 주지 않고, 당해 수지 기판을 그 수지 기판 상에 형성된 회로 등과 함께 기체로부터 박리시키기 위해서 적합하게 사용할 수 있다.The peeling layer described above has excellent adhesion to a substrate, particularly glass substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate peelability. Therefore, the peeling layer of the present invention can be suitably used to peel the resin substrate of the device together with the circuit or the like formed on the resin substrate from the substrate in the manufacturing process of the flexible electronic device without damaging the resin substrate of the device. there is.

이하, 본 발명의 박리층을 사용한 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법의 일례에 대해서 설명한다.Hereinafter, an example of a method for manufacturing a flexible electronic device using the release layer of the present invention will be described.

본 발명의 박리층 형성용 조성물을 사용하여, 상기 서술한 방법에 의해 유리 기체 상에 박리층을 형성한다. 이 박리층 상에 수지 기판을 형성하기 위한 수지 용액을 도포하고, 이 도막을 가열함으로써, 본 발명의 박리층을 통하여 유리 기체에 고정된 수지 기판을 형성한다. 이 때, 박리층을 모두 덮도록 하여, 박리층의 면적과 비교하여 큰 면적으로 기판을 형성한다. 수지 기판으로서는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판으로서 대표적인 폴리이미드로 이루어지는 수지 기판을 들 수 있고, 그것을 형성하기 위한 수지 용액으로서는 폴리이미드 용액이나 폴리아믹산 용액을 들 수 있다. 당해 수지 기판의 형성 방법은 상법에 따르면 된다.Using the composition for forming a release layer of the present invention, a release layer is formed on a glass substrate by the method described above. By applying a resin solution for forming a resin substrate on this peeling layer and heating this coating film, a resin substrate fixed to the glass base through the peeling layer of the present invention is formed. At this time, the substrate is formed with a large area compared to the area of the release layer so as to cover the entire release layer. Examples of the resin substrate include a resin substrate made of polyimide, which is a representative resin substrate for flexible electronic devices, and examples of the resin solution for forming the substrate include a polyimide solution and a polyamic acid solution. The method for forming the resin substrate may be in accordance with a conventional method.

이어서 본 발명의 박리층을 통하여 기체에 고정된 당해 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후 예를 들면 박리층을 따라 수지 기판을 커트하고, 이 회로와 함께 수지 기판을 박리층으로부터 박리하여 수지 기판과 기체를 분리한다. 이 때, 기체의 일부를 박리층과 함께 커트해도 된다.Next, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the substrate through the release layer of the present invention, and then, for example, the resin substrate is cut along the release layer, and the resin substrate together with the circuit is separated from the release layer. Separate the resin substrate and gas. At this time, a part of the substrate may be cut together with the release layer.

또한 일본 특개 2013-147599호 공보에서는 지금까지 고휘도 LED나 삼차원 반도체 패키지 등의 제조에 있어서 사용되어온 레이저 리프트 오프법(LLO법)을 플렉서블 디스플레이의 제조에 적용하는 것이 보고되어 있다. 상기 LLO법은 회로 등이 형성된 면과는 반대의 면으로부터, 특정의 파장의 광선 예를 들면 파장 308nm의 광선을 유리 기체측으로부터 조사하는 것을 특징으로 하는 것이다. 조사된 광선은 유리 기체를 투과하고, 유리 기체 근방의 폴리머(폴리이미드)만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 그 결과, 디스플레이의 성능을 결정짓게 되는 수지 기판 상에 설치된 회로 등에 영향을 주지 않고, 유리 기체로부터 수지 기판을 선택적으로 박리하는 것이 가능하게 된다.Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 2013-147599, it is reported that the laser lift-off method (LLO method), which has been used in the manufacture of high-brightness LEDs, three-dimensional semiconductor packages, etc., is applied to the manufacture of flexible displays. The LLO method is characterized in that a light ray of a specific wavelength, for example, a light ray having a wavelength of 308 nm is irradiated from the side of the glass substrate from the surface opposite to the surface on which the circuit or the like is formed. The irradiated light beam passes through the glass substrate, and only the polymer (polyimide) in the vicinity of the glass substrate absorbs this light beam and evaporates (sublimes). As a result, it becomes possible to selectively peel the resin substrate from the glass substrate without affecting the circuit installed on the resin substrate or the like that determines the performance of the display.

본 발명의 박리층 형성용 조성물은 상기 LLO법의 적용이 가능하게 되는 특정 파장(예를 들면 308nm)의 광선을 충분히 흡수한다는 특징을 가지기 때문에, LLO법의 희생층으로서 사용할 수 있다. 그 때문에 본 발명에 조성물을 사용하여 형성한 박리층을 통하여 유리 기체에 고정된 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후 LLO법을 실시하여 308nm의 광선을 조사하면, 이 박리층만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 이것에 의해 상기 박리층이 희생이 되어(희생층으로서 작용함), 유리 기체로부터 수지 기판을 선택적으로 박리하는 것이 가능하게 된다.Since the composition for forming a release layer of the present invention has a feature of sufficiently absorbing light rays of a specific wavelength (for example, 308 nm) to which the LLO method can be applied, it can be used as a sacrificial layer for the LLO method. Therefore, when a desired circuit is formed on a resin substrate fixed to a glass substrate through a peeling layer formed using the composition of the present invention, and then LLO method is performed to irradiate a 308 nm light beam, only this peeling layer is exposed to this light beam. absorbs and evaporates (sublimes). This makes it possible to selectively peel the resin substrate from the glass base by sacrificing the peeling layer (acting as a sacrificial layer).

실시예Example

이하, 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with examples, but the present invention is not limited to these examples.

[1] 화합물의 약어[1] Abbreviations of compounds

p-PDA : p-페닐렌다이아민p-PDA: p-phenylenediamine

DATP : 4,4''-다이아미노-p-터페닐DATP: 4,4''-diamino-p-terphenyl

TFMB : 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)벤지딘TFMB: 2,2'-bis(trifluoromethyl)benzidine

6FAP : 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)헥사플루오로프로페인6FAP: 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane

PMDA : 피로멜리트산 이무수물PMDA: pyromellitic dianhydride

BPDA : 3,3',4,4'-바이페닐테트라카복실산 이무수물BPDA: 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride

LS-3280 : 4-아미노페녹시다이메틸바이닐실레인LS-3280 : 4-Aminophenoxydimethylvinylsilane

LS-3150 : 3-아미노프로필트라이에톡시실레인LS-3150 : 3-Aminopropyltriethoxysilane

TMA : 트리멜리트산 무수물TMA: trimellitic anhydride

IHPA : 아이소프탈알데하이드IHPA: isophthalaldehyde

NMP : N-메틸-2-피롤리돈NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

[2] 중량 평균 분자량 및 분자량 분포의 측정[2] Measurement of weight average molecular weight and molecular weight distribution

폴리머의 중량 평균 분자량(이하 Mw로 줄임) 및 분자량 분포의 측정은 니혼분코 가부시키가이샤제 GPC 장치(칼럼:Shodex제 OHpak SB803-HQ, 및 OHpak SB804-HQ; 용리액:다이메틸폼아마이드/LiBr·H2O(29.6mM)/H3PO4(29.6mM)/THF(0.1wt%); 유량:1.0mL/분; 칼럼 온도:40℃; Mw:표준 폴리스타이렌 환산값)를 사용하여 행했다.Measurement of the weight average molecular weight (hereinafter abbreviated to Mw) and molecular weight distribution of the polymer was performed using a GPC apparatus manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd. (column: OHpak SB803-HQ and OHpak SB804-HQ manufactured by Shodex; eluent: dimethylformamide/LiBr. H 2 O (29.6 mM)/H 3 PO 4 (29.6 mM)/THF (0.1 wt%); flow rate: 1.0 mL/min; column temperature: 40°C; Mw: standard polystyrene equivalent).

[3] 폴리머의 합성[3] Synthesis of polymers

<합성예 F1 폴리아믹산(F1)의 합성><Synthesis Example F1 Synthesis of polyamic acid (F1)>

p-PDA 20.261g(187mmol)과 DATP 12.206g(47mmol)을 NMP 617.4g에 용해시켰다. 얻어진 용액을 15℃로 냉각하고, 그것에 PMDA 50.112g(230mmol)을 가하여, 질소 분위기하 50℃까지 승온하여 48시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 82,100, 분자량 분포는 2.7이었다.20.261 g (187 mmol) of p-PDA and 12.206 g (47 mmol) of DATP were dissolved in 617.4 g of NMP. The resulting solution was cooled to 15°C, PMDA 50.112 g (230 mmol) was added thereto, and the temperature was raised to 50°C under a nitrogen atmosphere, followed by reaction for 48 hours. Mw of the obtained polymer was 82,100, and the molecular weight distribution was 2.7.

<합성예 F2 폴리아믹산(F2)의 합성><Synthesis Example F2 Synthesis of polyamic acid (F2)>

p-PDA 3.218g(30mmol)을 NMP 88.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPDA 8.581g(29mmol)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 107,300, 분자량 분포 4.6이었다.3.218 g (30 mmol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP. BPDA 8.581g (29mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC for 24 hours under nitrogen atmosphere. Mw of the obtained polymer was 107,300 and molecular weight distribution 4.6.

<합성예 L1 폴리아믹산(L1)의 합성><Synthesis Example L1 Synthesis of polyamic acid (L1)>

p-PDA 2.66g(24.6mmol)과 TFMB 0.18g(0.6mmol)을 NMP 90g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 6.09g(27.9mmol)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시킨 후, LS-3280 1.08g(5.6mmol)을 가하여 추가로 24시간 반응시켜 폴리아믹산의 양단에 실릴기를 도입했다. 얻어진 폴리머의 Mw는 62,700, 분자량 분포 2.7이었다.2.66 g (24.6 mmol) of p-PDA and 0.18 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. After adding 6.09 g (27.9 mmol) of PMDA to the obtained solution and reacting at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, 1.08 g (5.6 mmol) of LS-3280 was added and reacted for an additional 24 hours to introduce silyl groups at both ends of the polyamic acid. did. Mw of the obtained polymer was 62,700 and molecular weight distribution 2.7.

<합성예 L2 폴리아믹산(L2)의 합성><Synthesis Example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)>

p-PDA 2.96g(27.3mmol)과 TFMB 0.19g(0.6mmol)을 NMP 90g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 6.34g(29.1mmol)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시킨 후, LS-3150 0.52g(2.3mmol)을 가하여 추가로 24시간 반응시켜 폴리아믹산의 양단에 실릴기를 도입했다. 얻어진 폴리머의 Mw는 51,100, 분자량 분포 2.8이었다.2.96 g (27.3 mmol) of p-PDA and 0.19 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. After adding 6.34 g (29.1 mmol) of PMDA to the obtained solution and reacting at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, 0.52 g (2.3 mmol) of LS-3150 was added and further reacted for 24 hours to introduce silyl groups at both ends of the polyamic acid. did. Mw of the obtained polymer was 51,100 and molecular weight distribution 2.8.

<합성예 L3 폴리아믹산(L3)의 합성><Synthesis Example L3 Synthesis of Polyamic Acid (L3)>

p-PDA 3.06(28.3mmol)을 NMP 90g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 6.42g(29.4mmol)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시킨 후, LS-3150 0.52g(2.4mmol)을 가하여 추가로 24시간 반응시켜 폴리아믹산의 양단에 실릴기를 도입했다. 얻어진 폴리머의 Mw는 47,800, 분자량 분포 2.8이었다.3.06 (28.3 mmol) of p-PDA was dissolved in 90 g of NMP. After adding 6.42 g (29.4 mmol) of PMDA to the obtained solution and reacting at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, 0.52 g (2.4 mmol) of LS-3150 was added and reacted for an additional 24 hours to introduce silyl groups at both ends of the polyamic acid. did. Mw of the obtained polymer was 47,800 and molecular weight distribution 2.8.

<합성예 L4 폴리아믹산(L4)의 합성><Synthesis Example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)>

p-PDA 0.78g(7.2mmol)을 NMP 17.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 1.51g(6.9mmol)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시킨 후, TMA 0.11g(0.3mmol)을 가하여 추가로 24시간 반응시켜 폴리아믹산의 양단에 카복실산기를 도입했다. 얻어진 폴리머의 Mw는 48,000, 분자량 분포 3.1이었다.0.78 g (7.2 mmol) of p-PDA was dissolved in 17.6 g of NMP. After adding 1.51 g (6.9 mmol) of PMDA to the obtained solution and reacting at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, 0.11 g (0.3 mmol) of TMA was added and further reacted for 24 hours. Carboxylic acid groups were introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer had Mw of 48,000 and a molecular weight distribution of 3.1.

<비교 합성예 1 폴리벤조옥사졸 전구체(B1)의 합성><Comparative Synthesis Example 1 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (B1)>

6FAP 3.18g(0.059몰)을 NMP 70g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 IHPA 7.92g(0.060몰)을 가하여, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 107,300, 분자량 분포 4.6이었다.3.18 g (0.059 mol) of 6FAP was dissolved in 70 g of NMP. 7.92 g (0.060 mol) of IHPA was added to the resulting solution and reacted at 23°C for 24 hours under a nitrogen atmosphere. Mw of the obtained polymer was 107,300 and molecular weight distribution 4.6.

[4] 수지 기판 형성용 조성물의 조제[4] Preparation of a composition for forming a resin substrate

합성예 F1, F2에서 얻어진 반응액을 각각 그대로 수지 기판 형성용 조성물 W, X로서 사용했다.The reaction solutions obtained in Synthesis Examples F1 and F2 were used as compositions W and X for forming a resin substrate as they were, respectively.

[5] 박리층 형성용 조성물의 조제[5] Preparation of a composition for forming a release layer

[실시예 1-1][Example 1-1]

합성예 L1에서 얻어진 반응액 10g에 NMP 6g과 뷰티로셀로솔브 4g 첨가하고, 실온에서 24시간 교반하여, 박리층 형성용 조성물을 얻었다.6 g of NMP and 4 g of Butyrocellosolve were added to 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L1, and stirred at room temperature for 24 hours to obtain a composition for forming a release layer.

[실시예 1-2~1-3][Examples 1-2 to 1-3]

*합성예 L1에서 얻어진 반응액 대신에 각각 합성예 L2~L3에서 얻어진 반응액을 사용한 것 이외에는 실시예 1-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 형성용 조성물을 얻었다.* A composition for forming a release layer was obtained in the same manner as in Example 1-1, except that the reaction solutions obtained in Synthesis Examples L2 to L3 were used instead of the reaction solutions obtained in Synthesis Example L1.

[실시예 1-4][Example 1-4]

합성예 L4에서 얻어진 반응액 10g에 NMP 9.4g과 뷰티로셀로솔브 4.6g 첨가하고, 실온에서 24시간 교반하여, 박리층 형성용 조성물을 얻었다.9.4 g of NMP and 4.6 g of Butyrocellosolve were added to 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L4, and stirred at room temperature for 24 hours to obtain a composition for forming a release layer.

[비교예 1-1][Comparative Example 1-1]

비교 합성예 1에서 얻어진 반응액을 폴리머 농도가 5wt%가 되도록 NMP로 희석하여 조성물을 얻었다.A composition was obtained by diluting the reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example 1 with NMP to a polymer concentration of 5 wt%.

[6] 박리층의 형성 및 그 평가[6] Formation of release layer and its evaluation

[실시예 2-1][Example 2-1]

스핀 코터(조건:회전수 3,000rpm으로 약30초)를 사용하여, 실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물을 유리 기체로서의 100mm×100mm 유리 기판(이하 동일) 상에 도포했다.The composition for forming a release layer obtained in Example 1-1 was applied onto a 100 mm x 100 mm glass substrate (the same below) as a glass substrate using a spin coater (conditions: rotation speed of 3,000 rpm for about 30 seconds).

그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후 오븐을 사용하여 300℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 400℃까지 승온(10℃/분)하고, 추가로 400℃에서 30분간 가열하여, 유리 기판 상에 두께 약0.1μm의 박리층을 형성했다. 또한 승온하는 동안 막 부착 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고 오븐 내에서 가열했다.And the obtained coating film was heated at 80°C for 10 minutes using a hot plate, then heated at 300°C for 30 minutes using an oven, the heating temperature was raised to 400°C (10°C/min), and further heated at 400°C. was heated for 30 minutes to form a release layer having a thickness of about 0.1 μm on the glass substrate. During the temperature rise, the film-attached substrate was heated in the oven without taking it out of the oven.

[실시예 2-2~2-4][Examples 2-2 to 2-4]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 대신에 각각 실시예 1-2~1-4에서 얻어진 박리층 형성용 조성물을 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성했다.A release layer was formed in the same manner as in Example 2-1, except that the release layer-forming composition obtained in Examples 1-2 to 1-4 was used instead of the release layer-forming composition obtained in Example 1-1. .

[비교예 2-1][Comparative Example 2-1]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 대신에 비교예 1-1에서 얻어진 조성물을 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 수지 박막을 형성했다.A resin thin film was formed in the same manner as in Example 2-1 except for using the composition obtained in Comparative Example 1-1 instead of the composition for forming a release layer obtained in Example 1-1.

[7] 박리성의 평가[7] Evaluation of peelability

[실시예 3-1~3-4, 비교예 3-1][Examples 3-1 to 3-4, Comparative Example 3-1]

이하의 방법에 의해 표 1에 나타낸 박리층과 수지 기판의 조합이 되도록 기판을 제작하여 박리성의 평가를 했다.By the following method, a substrate was prepared so as to be a combination of the release layer and the resin substrate shown in Table 1, and the release property was evaluated.

실시예 2-1~2-4에서 얻어진 박리층과 유리 기판의 박리성 및 당해 박리층(수지 박막)과 수지 기판의 박리성을 확인했다. 또한 수지 기판으로서는 폴리이미드로 이루어지는 수지 기판을 사용했다.The peelability of the peeling layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 and the glass substrate, and the peelability of the peeling layer (resin thin film) and the resin substrate were confirmed. In addition, as the resin substrate, a resin substrate made of polyimide was used.

우선 실시예 2-1~2-4에서 얻어진 박리층 부착 유리 기판 상의 박리층의 크로스커트(가로세로 1mm 간격, 이하 동일), 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판 상의 수지 기판·박리층의 크로스커트를 행함으로써 100 모눈 커트를 행했다. 즉, 이 크로스커트에 의해 1mm 사방의 모눈을 100개 형성했다.First, crosscuts of the release layer on the glass substrate with a release layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 (1 mm horizontally and vertically, hereinafter the same), and the crosscut of the resin substrate and the release layer on the resin substrate and the glass substrate with a release layer. 100 grid cuts were performed by skirting. That is, 100 grids of 1 mm square were formed by this crosscutting.

그리고 이 100 모눈 커트 부분에 점착 테이프를 붙여, 그 테이프를 떼어내고, 이하의 기준(5B~0B, B, A, AA)에 기초하여 박리의 정도를 평가했다(실시예 3-1~3-4). 또 상기 수법에 준하여 비교예 2-1에서 얻어진 수지 박막 부착 유리 기판을 사용하여 마찬가지의 시험을 행했다(비교예 3-1). 결과를 표 1에 나타낸다.Then, an adhesive tape was pasted on the 100-grid cut portion, the tape was peeled off, and the degree of peeling was evaluated based on the following criteria (5B to 0B, B, A, AA) (Examples 3-1 to 3- 4). Moreover, the same test was done using the glass substrate with a resin thin film obtained by the comparative example 2-1 according to the said method (comparative example 3-1). The results are shown in Table 1.

5B : 0% 박리(박리 없음)5B: 0% peeling (no peeling)

4B : 5% 미만의 박리4B: Less than 5% peeling

3B : 5~15% 미만의 박리3B: Less than 5-15% peeling

2B : 15~35% 미만의 박리2B: Peeling less than 15 to 35%

1B : 35~65% 미만의 박리1B: Peeling less than 35-65%

0B : 65%~80% 미만의 박리0B: Peeling less than 65% to 80%

B : 80%~95% 미만의 박리B: Peeling less than 80% to 95%

A : 95%~100% 미만의 박리A: Peeling less than 95% to 100%

AA : 100% 박리(모두 박리)AA: 100% exfoliation (all exfoliation)

또한 실시예 3-1~3-4 및 비교예 3-1의 수지 기판은 하기 방법으로 형성했다.In addition, the resin substrates of Examples 3-1 to 3-4 and Comparative Example 3-1 were formed by the following method.

바 코터(갭:250μm)를 사용하여, 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 W 또는 X의 어느 하나를 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후 오븐을 사용하여 140℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 210℃까지 승온(10℃/분, 이하 동일)하고, 210℃에서 30분간, 가열 온도를 300℃까지 승온하고, 300℃에서 30분간, 가열 온도를 400℃까지 승온하고, 400℃에서 60분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약20μm의 폴리이미드 기판을 형성했다. 승온하는 동안 막 부착 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고 오븐 내에서 가열했다.Using a bar coater (gap: 250 μm), either the composition W or X for forming a resin substrate was applied onto the peeling layer (resin thin film) on the glass substrate. And the obtained coating film was heated at 80 ° C. for 10 minutes using a hot plate, then heated at 140 ° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature was raised to 210 ° C. (10 ° C./min, hereinafter the same), and 210 °C for 30 minutes, the heating temperature was raised to 300 °C, the heating temperature was raised to 400 °C for 30 minutes at 300 °C, and the heating was performed at 400 °C for 60 minutes to form a polyimide substrate having a thickness of about 20 μm on the release layer. did. During the temperature rise, the film-attached substrate was heated in the oven without taking it out of the oven.

표 1에 나타내는 바와 같이, 실시예의 박리층은 유리 기판과의 밀착성이 우수하고 또한 수지 기판과의 박리성이 우수한 것을 알 수 있다. 한편 비교예의 수지 박막은 유리 기판과 박리층의 밀착성이 낮거나 혹은 밀착성이 높은 경우는 수지층과도 밀착하여, 전혀 벗겨지지 않는 것이 판명되었다.As shown in Table 1, it turns out that the peeling layer of an Example is excellent in adhesiveness with a glass substrate and also excellent in peelability with a resin substrate. On the other hand, it was found that the resin thin films of the comparative examples were in close contact with the resin layer and did not come off at all when the adhesion between the glass substrate and the peeling layer was low or high.

박리층의 종류Types of Exfoliation Layer 수지 기판의 종류Types of Resin Substrates 박리층과 유리 기체의 박리성Peelability of peeling layer and glass base 박리층과 수지 기판의 박리성Peelability of peeling layer and resin substrate 실시예 3-1Example 3-1 실시예 2-1Example 2-1 WW 5B5B AAAA 실시예 3-2Example 3-2 실시예 2-2Example 2-2 XX 5B5B AAAA 실시예 3-3Example 3-3 실시예 2-3Example 2-3 WW 5B5B AAAA 실시예 3-4Example 3-4 실시예 2-4Example 2-4 WW 5B5B AAAA 비교예 3-1Comparative Example 3-1 비교예 2-1Comparative Example 2-1 XX 5B5B 5B5B

Claims (5)

유리 기체 상에 박리층 형성용 조성물을 사용하여 박리층을 형성하고, 이 박리층 상에, 수지 기판을 형성하기 위한 수지 용액을 도포하고, 이 도막을 가열함으로써, 박리층을 통하여 유리 기체에 고정화된 수지 기판을 형성하는 공정을 포함하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법으로서,
상기 박리층 형성용 조성물로서, 그 중합체 쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에 앵커기를 도입하여 이루어지는 폴리아믹산과, 유기 용매를 포함하고, 상기 앵커기가 실릴기인 박리층 형성용 조성물을 사용하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법.
A release layer is formed on a glass substrate using a composition for forming a release layer, a resin solution for forming a resin substrate is applied onto the release layer, and the coating film is heated to fix the release layer to the glass substrate through the release layer. A method for manufacturing a flexible electronic device comprising a step of forming a resin substrate,
A flexible electronic device using the composition for forming a release layer, wherein the composition for forming a release layer contains a polyamic acid obtained by introducing an anchor group into one or both of the polymer chain terminals and an organic solvent, and wherein the anchor group is a silyl group. manufacturing method.
제 1 항에 있어서, 상기 폴리아믹산이 방향족 다이아민을 포함하는 다이아민 성분과 방향족 테트라카복실산 이무수물을 포함하는 산이무수물 성분을 반응시켜 얻어진 폴리아믹산인 것을 특징으로 하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine with an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride. 제 2 항에 있어서, 상기 방향족 다이아민이 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민인 것을 특징으로 하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법.The method of claim 2, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei. 제 2 항에 있어서, 상기 방향족 테트라카복실산 이무수물이 벤젠 핵을 1~5개 포함하는 방향족 테트라카복실산 이무수물인 것을 특징으로 하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법.The method of claim 2 , wherein the aromatic tetracarboxylic dianhydride is an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 수지 기판이 폴리이미드로 이루어지는 기판인 것을 특징으로 하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법.The method for manufacturing a flexible electronic device according to any one of claims 1 to 4, wherein the resin substrate is a substrate made of polyimide.
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