JPWO2016158990A1 - Release layer forming composition and release layer - Google Patents

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Abstract

その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む剥離層形成用組成物を提供する。Provided is a composition for forming a release layer comprising a polyamic acid obtained by introducing an anchor group at one or both of the polymer chain ends and an organic solvent.

Description

本発明は、剥離層形成用組成物及び剥離層に関する。   The present invention relates to a release layer forming composition and a release layer.

近年、電子デバイスには曲げるという機能付与や薄型化及び軽量化といった性能が求められている。このことから、従来の重く脆弱で曲げることができないガラス基板に代わって、軽量なフレキシブルプラスチック基板を用いることが求められる。また、新世代ディスプレイでは、軽量なフレキシブルプラスチック基板を用いる、アクティブフルカラー(active full-color)TFTディスプレイパネルの開発が求められている。   In recent years, electronic devices have been required to have the functions of bending, thinning and lightening. For this reason, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate in place of the conventional glass substrate that is fragile and cannot be bent. In the new generation display, development of an active full-color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate is required.

そこで、樹脂フィルムを基板とした電子デバイスの製造方法が各種検討され始めており、新世代ディスプレイでは、既存のTFT設備を転用可能なプロセスで製造検討が進められている。特許文献1、2及び3は、ガラス基板上にアモルファスシリコン薄膜層を形成し、その薄膜層上にプラスチック基板を形成した後に、ガラス面側からレーザーを照射して、アモルファスシリコンの結晶化に伴い発生する水素ガスによりプラスチック基板をガラス基板から剥離する方法を開示する。   Therefore, various methods for manufacturing electronic devices using a resin film as a substrate are being studied, and in the new generation display, manufacturing studies are being carried out in a process that can divert existing TFT equipment. In Patent Documents 1, 2, and 3, an amorphous silicon thin film layer is formed on a glass substrate, a plastic substrate is formed on the thin film layer, and then a laser is irradiated from the glass surface side to accompany crystallization of amorphous silicon. A method of peeling a plastic substrate from a glass substrate with generated hydrogen gas is disclosed.

また、特許文献4は、特許文献1〜3開示の技術を用いて被剥離層(特許文献4において「被転写層」と記載される)をプラスチックフィルムに貼りつけて液晶表示装置を完成させる方法を開示する。   Patent Document 4 discloses a method for attaching a layer to be peeled (described as “transfer target layer” in Patent Document 4) to a plastic film by using the techniques disclosed in Patent Documents 1 to 3 to complete a liquid crystal display device. Is disclosed.

しかし、特許文献1〜4開示の方法、特に特許文献4開示の方法は、透光性の高い基板を使用することが必須であり、基板を通過させ、更に非晶質シリコンに含まれる水素を放出させるのに十分なエネルギーを与えるため、比較的大きなエネルギーのレーザー光の照射が必要とされ、被剥離層に損傷を与えてしまうという問題がある。また、レーザー処理に長時間を要し、大面積を有する被剥離層を剥離するのは困難であるため、デバイス作製の生産性を挙げることは難しい、という問題もある。   However, in the methods disclosed in Patent Documents 1 to 4, particularly the method disclosed in Patent Document 4, it is essential to use a substrate having high translucency, and hydrogen contained in amorphous silicon is allowed to pass through the substrate. In order to give sufficient energy for the emission, it is necessary to irradiate a laser beam having a relatively large energy, and there is a problem that the layer to be peeled is damaged. In addition, since it takes a long time for the laser treatment and it is difficult to peel off the peeled layer having a large area, there is a problem that it is difficult to increase the productivity of device fabrication.

特開平10−125929号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-125929 特開平10−125931号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-125931 国際公開第2005/050754号International Publication No. 2005/050754 特開平10−125930号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-125930

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく剥離することができる剥離層を形成するための剥離層形成用組成物及び当該剥離層を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of the said situation, The composition for peeling layer formation for forming the peeling layer which can peel without damaging the resin substrate of a flexible electronic device, and the said peeling layer are provided. The purpose is to provide.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む組成物から、基体との優れた密着性及びフレキシブル電子デバイスに用いられる樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を形成できることを見出し、本発明を完成させた。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have obtained a composition comprising a polyamic acid obtained by introducing an anchor group at either or both of the polymer chain ends, and an organic solvent. The present inventors have found that a release layer having an excellent adhesion to a substrate and an appropriate adhesion to a resin substrate used in a flexible electronic device and an appropriate peelability can be formed.

すなわち、本発明は、
1. その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む剥離層形成用組成物、
2. 前記アンカー基が、シリル基又はカルボン酸基である1の剥離層形成用組成物、
3. 前記ポリアミック酸が、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られたポリアミック酸であることを特徴とする1又は2の剥離層形成用組成物、
4. 前記芳香族ジアミンが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンであることを特徴とする3の剥離層形成用組成物、
5. 前記芳香族テトラカルボン酸二無水物が、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物であることを特徴とする3又は4の剥離層形成用組成物、
6. 1〜5のいずれかの剥離層形成用組成物を用いて形成される剥離層、
7. 6の剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法、
8. 前記樹脂基板が、ポリイミドからなる基板であることを特徴とする7の製造方法
を提供する。
That is, the present invention
1. A composition for forming a release layer, comprising a polyamic acid obtained by introducing an anchor group into either one or both of the polymer chain ends, and an organic solvent,
2. 1. The composition for forming a release layer, wherein the anchor group is a silyl group or a carboxylic acid group,
3. 1 or 2 peeling, wherein the polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine and an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic dianhydride Layer forming composition,
4). 3. The composition for forming a release layer according to 3, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei,
5. The composition for forming a release layer according to 3 or 4, wherein the aromatic tetracarboxylic dianhydride is an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei,
6). A release layer formed using the release layer forming composition according to any one of 1 to 5,
7). A method for producing a flexible electronic device comprising a resin substrate, characterized in that a release layer of 6 is used,
8). The manufacturing method according to 7 is characterized in that the resin substrate is a substrate made of polyimide.

本発明の剥離層形成用組成物を用いることで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を再現性よく得ることができる。それ故、本発明の剥離層形成用組成物を用いることで、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体上に形成された樹脂基板や、更にその上に設けられる回路等に損傷を与えることなく、当該回路等とともに当該樹脂基板を、当該基体から分離することが可能となる。したがって、本発明の剥離層形成用組成物は、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造プロセスの簡便化やその歩留り向上等に寄与し得る。   By using the composition for forming a release layer of the present invention, it is possible to obtain a release layer having excellent adhesion to a substrate, moderate adhesion to a resin substrate, and moderate release with good reproducibility. Therefore, by using the composition for forming a release layer of the present invention, in the manufacturing process of the flexible electronic device, without damaging the resin substrate formed on the substrate, the circuit provided on the substrate, and the like. The resin substrate can be separated from the substrate together with the circuit and the like. Therefore, the composition for forming a release layer of the present invention can contribute to simplification of the production process of a flexible electronic device including a resin substrate, improvement of its yield, and the like.

以下、本発明について、より詳細に説明する。
本発明の剥離層形成用組成物は、その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む。ここで、本発明における剥離層とは、所定の目的でガラス基体直上に設けられる層であって、その典型例としては、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体と、ポリイミドといった樹脂からなるフレキシブル電子デバイスの樹脂基板との間に当該樹脂基板を所定のプロセス中において固定するために設けられ、且つ、当該樹脂基板上に電子回路等の形成した後において当該樹脂基板が当該基体から容易に剥離できるようにするために設けられる剥離層が挙げられる。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
The composition for forming a release layer of the present invention contains a polyamic acid obtained by introducing an anchor group at one or both of the polymer chain ends, and an organic solvent. Here, the release layer in the present invention is a layer provided immediately above a glass substrate for a predetermined purpose. As a typical example, in a manufacturing process of a flexible electronic device, a flexible electronic made of a substrate and a resin such as polyimide is used. Provided between the device resin substrate and the resin substrate in a predetermined process, and after the electronic circuit or the like is formed on the resin substrate, the resin substrate can be easily peeled from the substrate. For example, a release layer may be used.

本発明で用いるポリアミック酸は、その重合体鎖末端にアンカー基を有する限り特に限定されるものではないが、ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分とを反応させた後、得られたポリアミック酸と、アンカー基を有するアミン又はアンカー基を有する酸無水物とを反応させることで得ることができるものである。即ち、ここで得られるポリアミック酸は、後述するアンカー基含有化合物で分子鎖末端のいずれか一方又は両方が封止されているものである。   The polyamic acid used in the present invention is not particularly limited as long as it has an anchor group at the end of the polymer chain, but the polyamic acid obtained after reacting the diamine component with the tetracarboxylic dianhydride component And an amine having an anchor group or an acid anhydride having an anchor group can be obtained. That is, the polyamic acid obtained here is one in which either or both of the molecular chain ends are sealed with an anchor group-containing compound described later.

このようなアンカー基としては、カルボン酸基、シリル基(例えば、アルキルシリル基、アルコキシシリル基、ビニルシリル基及びアリルシリル基等)、ビニル基、マレイミド基、フェノール性水酸基等が挙げられるが、中でも、カルボン酸基、シリル基(特にアルコキシ基、ビニル基及びアリル基から選ばれる基がケイ素原子に1つ以上結合したシリル基)が好ましい。このようなアンカー基を用いることで、上層に用いるフレキシブル基板と骨格の相違が出来るために、得られる膜の剥離層としての機能の向上を図ることができる。   Examples of such anchor groups include carboxylic acid groups, silyl groups (for example, alkylsilyl groups, alkoxysilyl groups, vinylsilyl groups, and allylsilyl groups), vinyl groups, maleimide groups, phenolic hydroxyl groups, and the like. Carboxylic acid groups and silyl groups (particularly silyl groups in which one or more groups selected from alkoxy groups, vinyl groups and allyl groups are bonded to silicon atoms) are preferred. By using such an anchor group, the skeleton can be different from the flexible substrate used for the upper layer, so that the function of the obtained film as a release layer can be improved.

本発明においては、ポリアミック酸の重合体鎖末端のいずれか一方にアンカー基が存在すればよいが、重合体鎖末端の両方にアンカー基が存在することが好ましい。
また、ジアミン成分及びテトラカルボン酸二無水物成分から得られるポリアミック酸と、アンカー基との間には、炭素数1〜10程度の剥離性や耐熱性を著しく低下させない炭素数のアルキル基、アリール基等のスペーサー基が存在してもよく、これらスペーサー基内には、エーテル結合、チオエーテル結合、エステル結合等が存在してもよい。
In the present invention, the anchor group may be present at either one of the polymer chain ends of the polyamic acid, but it is preferable that the anchor group be present at both of the polymer chain ends.
Moreover, between the polyamic acid obtained from a diamine component and a tetracarboxylic dianhydride component, and an anchor group, the C1-C10 alkyl group and aryl which do not reduce remarkably and heat resistance remarkably A spacer group such as a group may be present, and an ether bond, a thioether bond, an ester bond or the like may be present in these spacer groups.

アンカー基を有するアミンの具体例としては、4−アミノフェノキシトリメチルシラン、4−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、4−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジメチルアリルシラン、4−アミノフェノキシメチルジアリルシラン、4−アミノフェノキシトリアリルシラン、4−アミノフェノキシジメチルフェニルシラン、4−アミノフェノキシメチルジフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリメトキシシラン、4−アミノフェノキシジメトキシビニルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジメトキシアリルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジアリルシラン、4−アミノフェノキシジメトキシフェニルシラン、4−アミノフェノキシメトキシジフェニルシラン、4−アミノフェノキシトリエトキシシラン、4−アミノフェノキシジエトキシビニルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジビニルシラン、4−アミノフェノキシトリビニルシラン、4−アミノフェノキシジエトキシアリルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジアリルシラン、4−アミノフェノキシジエトキシフェニルシラン、4−アミノフェノキシエトキシジフェニルシラン、3−アミノフェノキシトリメチルシラン、3−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、3−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、2−アミノフェノキシトリビニルシラン、2−アミノフェノキシトリメチルシラン、2−アミノフェノキシジメチルビニルシラン、2−アミノフェノキシメチルジビニルシラン、2−アミノフェノキシトリビニルシラン、3−アミノプロピルトリエチルシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリメトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、2−アミノフェノール、3−アミノフェール、4−アミノフェノール等が挙げられるが、これらに限定されない。   Specific examples of the amine having an anchor group include 4-aminophenoxytrimethylsilane, 4-aminophenoxydimethylvinylsilane, 4-aminophenoxymethyldivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydimethylallylsilane, 4-amino. Phenoxymethyldiallylsilane, 4-aminophenoxytriallylsilane, 4-aminophenoxydimethylphenylsilane, 4-aminophenoxymethyldiphenylsilane, 4-aminophenoxytriphenylsilane, 4-aminophenoxytrimethoxysilane, 4-aminophenoxydimethoxyvinylsilane 4-aminophenoxymethoxydivinylsilane, 4-aminophenoxytrivinylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyallylsilane, 4- Minophenoxymethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydimethoxyphenylsilane, 4-aminophenoxymethoxydiphenylsilane, 4-aminophenoxytriethoxysilane, 4-aminophenoxydiethoxyvinylsilane, 4-aminophenoxyethoxydivinylsilane, 4-aminophenoxy Trivinylsilane, 4-aminophenoxydiethoxyallylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiallylsilane, 4-aminophenoxydiethoxyphenylsilane, 4-aminophenoxyethoxydiphenylsilane, 3-aminophenoxytrimethylsilane, 3-aminophenoxydimethylvinylsilane, 3-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 2-aminophenoxytrimethyl Silane, 2-aminophenoxydimethylvinylsilane, 2-aminophenoxymethyldivinylsilane, 2-aminophenoxytrivinylsilane, 3-aminopropyltriethylsilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 2-amino Propyltrimethoxysilane, 2-aminopropyltriethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-ethoxy Carbonyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltriethoxysilane, N-triethoxysilylpropyltriethylenetriamine, N-trimethoxysilylpropyltriethyl Examples include, but are not limited to, lentriamine, 2-aminophenol, 3-aminofail, 4-aminophenol, and the like.

アンカー基を有する酸無水物の具体例としては、トリメリット酸無水物、ビニルマレイン酸無水物、4−ビニルナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物、無水マレイン酸、2,3−ジメチルマレイン酸無水物、4−ヒドロキシフタル酸無水物、3−ヒドロキシフタル酸無水物等が挙げられるが、これらに限定されない。   Specific examples of the acid anhydride having an anchor group include trimellitic anhydride, vinylmaleic anhydride, 4-vinylnaphthalene-1,2-dicarboxylic anhydride, maleic anhydride, and 2,3-dimethylmaleic acid. Examples thereof include, but are not limited to, anhydrides, 4-hydroxyphthalic anhydride, 3-hydroxyphthalic anhydride, and the like.

また、ポリアミック酸を製造する際に用いるジアミン成分及び酸二無水物成分としては、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られるポリアミック酸が好ましい。   Moreover, as a diamine component and an acid dianhydride component used when producing a polyamic acid, from the viewpoint of improving the function as a release layer of the obtained film, a diamine component containing an aromatic diamine and an aromatic tetracarboxylic acid dicarboxylic acid are used. A polyamic acid obtained by reacting an acid dianhydride component containing an anhydride is preferred.

芳香族ジアミンとしては、分子内に2つのアミノ基を有し、かつ、芳香環を有する限り特に限定されるものではないが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンが好ましい。
その具体例としては、1,4−ジアミノベンゼン(p−フェニレンジアミン)、1,3−ジアミノベンゼン(m−フェニレンジアミン)、1,2−ジアミノベンゼン(o−フェニレンジアミン)、2,4−ジアミノトルエン、2,5−ジアミノトルエン、2,6−ジアミノトルエン、4,6−ジメチル−m−フェニレンジアミン、2,5−ジメチル−p−フェニレンジアミン、2,6−ジメチル−p−フェニレンジアミン、2,4,6−トリメチル−1,3−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラメチル−p−フェニレンジアミン、m−キシリレンジアミン、p−キシリレンジアミン、5−トリフルオロメチルベンゼン−1,3−ジアミン、5−トリフルオロメチルベンゼン−1,2−ジアミン、3,5−ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン−1,2−ジアミン等のベンゼン核が1つのジアミン;1,2−ナフタレンジアミン、1,3−ナフタレンジアミン、1,4−ナフタレンジアミン、1,5−ナフタレンジアミン、1,6−ナフタレンジアミン、1,7−ナフタレンジアミン、1,8−ナフタレンジアミン、2,3−ナフタレンジアミン、2,6−ナフタレンジアミン、4,4’−ビフェニルジアミン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジカルボキシ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’,5,5’−テトラメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノベンズアニリド、3,3’−ジクロロベンジジン、3,3’−ジメチルベンジジン、2,2’−ジメチルベンジジン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホキシド、3,4’−ジアミノジフェニルスルホキシド、4,4’−ジアミノジフェニルスルホキシド、3,3’−ビス(トリフルオロメチル)ビフェニル−4,4’−ジアミン、3,3’,5,5’−テトラフルオロビフェニル−4,4’−ジアミン、4,4’−ジアミノオクタフルオロビフェニル、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキゾール等のベンゼン核が2つのジアミン;1,5−ジアミノアントラセン、2,6−ジアミノアントラセン、9,10−ジアミノアントラセン、1,8−ジアミノフェナントレン、2,7−ジアミノフェナントレン、3,6−ジアミノフェナントレン、9,10−ジアミノフェナントレン、1,3−ビス(3−アミノフェニル)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニル)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェニル)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニル)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニルスルフィド)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニルスルホン)ベンゼン、1,3−ビス〔2−(4−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、1,4−ビス〔2−(3−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、1,4−ビス〔2−(4−アミノフェニル)イソプロピル〕ベンゼン、4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル、4,4’’−ジアミノ−m−ターフェニル等のベンゼン核が3つのジアミン等を挙げることができるが、これらに限定されない。これらは単独でも、2種以上を組み合わせて用いることもできる。なお、本発明において、上記芳香族ジアミンはエーテル結合及びエステル結合を含まないものを使用することが好ましい。
The aromatic diamine is not particularly limited as long as it has two amino groups in the molecule and has an aromatic ring, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei is preferable.
Specific examples thereof include 1,4-diaminobenzene (p-phenylenediamine), 1,3-diaminobenzene (m-phenylenediamine), 1,2-diaminobenzene (o-phenylenediamine), and 2,4-diamino. Toluene, 2,5-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,6-dimethyl-p-phenylenediamine, 2 , 4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-p-phenylenediamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 5-trifluoromethylbenzene-1 , 3-diamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,2-diamine, 3,5-bis (trifluoromethyl A diamine having a single benzene nucleus such as benzene-1,2-diamine; 1,2-naphthalenediamine, 1,3-naphthalenediamine, 1,4-naphthalenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 1,6-naphthalenediamine 1,7-naphthalenediamine, 1,8-naphthalenediamine, 2,3-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, 4,4′-biphenyldiamine, 2,2′-bis (trifluoromethyl) -4 , 4′-diaminobiphenyl, 3,3′-dimethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3′-dicarboxy-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3 ′, 5,5′-tetramethyl -4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,3'-dichlorobenzidine, 3,3'-dimethylbenz 2,2'-dimethylbenzidine, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2-bis (3-aminophenyl) propane, 2,2 -Bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (3-aminophenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis (4-aminophenyl)- 1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 3,3′-diaminodiphenyl sulfoxide, 3,4′-diaminodiphenyl sulfoxide, 4,4′-diaminodiphenyl sulfoxide, 3,3′-bis ( Trifluoromethyl) biphenyl-4,4′-diamine, 3,3 ′, 5,5′-tetrafluorobiphenyl-4,4′-diamine, 4,4′-diaminoocta Benzene nuclei such as luorobiphenyl, 2- (3-aminophenyl) -5-aminobenzimidazole, 2- (4-aminophenyl) -5-aminobenzoxazole and the like are diamines; 1,5-diaminoanthracene, 2,6-diaminoanthracene, 9,10-diaminoanthracene, 1,8-diaminophenanthrene, 2,7-diaminophenanthrene, 3,6-diaminophenanthrene, 9,10-diaminophenanthrene, 1,3-bis (3- Aminophenyl) benzene, 1,3-bis (4-aminophenyl) benzene, 1,4-bis (3-aminophenyl) benzene, 1,4-bis (4-aminophenyl) benzene, 1,3-bis ( 3-aminophenyl sulfide) benzene, 1,3-bis (4-aminophenyl sulfide) benze 1,4-bis (4-aminophenylsulfide) benzene, 1,3-bis (3-aminophenylsulfone) benzene, 1,3-bis (4-aminophenylsulfone) benzene, 1,4-bis (4 -Aminophenylsulfone) benzene, 1,3-bis [2- (4-aminophenyl) isopropyl] benzene, 1,4-bis [2- (3-aminophenyl) isopropyl] benzene, 1,4-bis [2 -(4-Aminophenyl) isopropyl] benzene, 4,4 ″ -diamino-p-terphenyl, 4,4 ″ -diamino-m-terphenyl and the like, and diamine having three diamines. However, it is not limited to these. These can be used alone or in combination of two or more. In the present invention, the aromatic diamine preferably does not contain an ether bond or an ester bond.

中でも、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、芳香環及びそれに縮合する複素環上にメチル基等の置換基を有しない芳香族環及び複素芳香族環のみから構成される芳香族ジアミンが好ましい。具体的には、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキゾール、4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル等が好ましい。   Among them, from the viewpoint of improving the function of the resulting film as a release layer, an aromatic ring and an aromatic ring composed only of an aromatic ring having no substituent such as a methyl group and a heteroaromatic ring on the heterocyclic ring condensed thereto. Group diamines are preferred. Specifically, p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2- (3-aminophenyl) -5-aminobenzimidazole, 2- (4-aminophenyl) -5-aminobenzooxol, 4,4 ′ '-Diamino-p-terphenyl and the like are preferred.

芳香族テトラカルボン酸二無水物としては、分子内に2つのジカルボン酸無水物部位を有し、かつ、芳香環を有する限り特に限定されるものではないが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物が好ましい。   The aromatic tetracarboxylic dianhydride is not particularly limited as long as it has two dicarboxylic anhydride sites in the molecule and has an aromatic ring, but an aromatic carboxylic acid containing 1 to 5 benzene nuclei. Group tetracarboxylic dianhydrides are preferred.

その具体例としては、ピロメリット酸二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,2’,3,3’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,3,3’,4’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,9,10−テトラカルボン酸二無水物等を挙げることができるが、これらに限定されない。これらは単独でも、2種以上を組み合わせて用いることもできる。   Specific examples thereof include pyromellitic dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1. , 2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene- 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl -2,2 ', 3,3'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-2,3,3', 4'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-3,3 ', 4,4'-tetra Carboxylic dianhydride, anthracene-1, , 3,4-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1, 2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1 , 2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene- 1,2,9,10-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride Phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-3,4,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride However, the present invention is not limited to these. These can be used alone or in combination of two or more.

中でも、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、ベンゼン核が1つ又は2つの芳香族カルボン酸二無水物が好ましい。具体的には、式(C1)〜(C12)のいずれかで示される芳香族テトラカルボン酸二無水物が好ましく、式(C1)〜(C7)及び(C9)〜(C11)のいずれかで示される芳香族テトラカルボン酸二無水物がより好ましい。   Among these, an aromatic carboxylic dianhydride having one or two benzene nuclei is preferable from the viewpoint of improving the function of the obtained film as a release layer. Specifically, an aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by any one of formulas (C1) to (C12) is preferable, and any one of formulas (C1) to (C7) and (C9) to (C11) The aromatic tetracarboxylic dianhydride shown is more preferred.

Figure 2016158990
Figure 2016158990

また、得られる剥離層の柔軟性、耐熱性等を向上させる観点から、本発明で用いるジアミン成分は、芳香族ジアミン以外のジアミンを含んでもよく、本発明で用いるテトラカルボン酸二無水物成分は、芳香族テトラカルボン酸二無水物以外のテトラカルボン酸二無水物を含んでもよい。   In addition, from the viewpoint of improving the flexibility, heat resistance, etc. of the resulting release layer, the diamine component used in the present invention may contain a diamine other than an aromatic diamine, and the tetracarboxylic dianhydride component used in the present invention is Further, tetracarboxylic dianhydrides other than aromatic tetracarboxylic dianhydrides may be included.

本発明において、ジアミン成分中の芳香族ジアミンの量は、好ましくは70モル%以上、より好ましくは80モル%以上、より一層好ましくは90モル%以上、更に好ましくは95モル%以上、最も好ましくは100モル%である。また、テトラカルボン酸成分中の芳香族テトラカルボン酸二無水物の量は、好ましくは70モル%以上、より好ましくは80モル%以上、より一層好ましくは90モル%以上、更に好ましくは95モル%以上、最も好ましくは100モル%である。このような使用量を採用することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する膜を再現性よく得ることができる。   In the present invention, the amount of aromatic diamine in the diamine component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, still more preferably 90 mol% or more, still more preferably 95 mol% or more, and most preferably 100 mol%. The amount of aromatic tetracarboxylic dianhydride in the tetracarboxylic acid component is preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, still more preferably 90 mol% or more, and still more preferably 95 mol%. Above, most preferably 100 mol%. By adopting such a use amount, it is possible to obtain a film having excellent adhesion to the substrate, moderate adhesion to the resin substrate, and moderate peelability with good reproducibility.

以上説明したジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分とを反応させた後、得られたポリアミック酸と、アンカー基を有するアミン又はアンカー基を有する酸無水物とを反応させることで、本発明の剥離層形成用組成物に含まれるその重合体鎖末端にアンカー基を有するポリアミック酸を得ることができる。   After reacting the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component described above, the polyamic acid obtained is reacted with an amine having an anchor group or an acid anhydride having an anchor group. A polyamic acid having an anchor group at the end of the polymer chain contained in the composition for forming a release layer can be obtained.

このような反応に用いる有機溶媒は、反応に悪影響を及ぼさない限り特に限定されるものではないが、その具体例としては、m−クレゾール、2−ピロリドン、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、N−ビニル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、3−メトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−エトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−プロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−イソプロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−sec−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−tert−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。なお、有機溶媒は1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   The organic solvent used in such a reaction is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction. Specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone, N- Ethyl-2-pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, 3-methoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-ethoxy-N, N-dimethylpropyl Amide, 3-propoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-isopropoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-sec-butoxy-N, N-dimethyl And propylamide, 3-tert-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, and γ-butyrolactone. . In addition, you may use an organic solvent individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分の仕込み比は、目的とする分子量や分子量分布、ジアミンの種類やテトラカルボン酸二無水物の種類等を考慮して適宜決定されるため一概に規定できないが、テトラカルボン酸二無水物成分1に対して、ジアミン成分0.7〜1.3程度、好ましくは0.8〜1.2程度、更に好ましくは0.9〜1.1程度である。   The charging ratio of the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component is appropriately determined in consideration of the target molecular weight and molecular weight distribution, the type of diamine and the type of tetracarboxylic dianhydride, etc. The diamine component is about 0.7 to 1.3, preferably about 0.8 to 1.2, and more preferably about 0.9 to 1.1 with respect to the tetracarboxylic dianhydride component 1.

また、アンカー基を有するアミン及びアンカー基を有する酸無水物の量は、テトラカルボン酸二無水物成分に対し、アンカー基を有するアミン0.01〜0.6程度、好ましくは0.05〜0.4程度、更に好ましくは0.1〜0.2程度、又はジアミン成分に対し、アンカー基を有する酸無水物0.01〜0.52程度、好ましくは0.05〜0.32程度、更に好ましくは0.1〜0.2程度である。   The amount of the amine having an anchor group and the acid anhydride having an anchor group is about 0.01 to 0.6, preferably 0.05 to 0, of the amine having an anchor group with respect to the tetracarboxylic dianhydride component. About 0.4, more preferably about 0.1 to 0.2, or an acid anhydride having an anchor group with respect to the diamine component of about 0.01 to 0.52, preferably about 0.05 to 0.32. Preferably it is about 0.1-0.2.

反応温度は、用いる溶媒の融点から沸点までの範囲で適宜設定すればよく、通常0〜100℃程度であるが、得られるポリアミック酸の溶液中でのイミド化を防いでポリアミック酸単位の高含有量を維持するためには、好ましくは0〜70℃程度であり、より好ましくは0〜60℃程度であり、より一層好ましくは0〜50℃程度である。   What is necessary is just to set reaction temperature suitably in the range from melting | fusing point to the boiling point of the solvent to be used, and it is about 0-100 degreeC normally, However, Imidation in the solution of the obtained polyamic acid is prevented and high content of a polyamic acid unit is contained. In order to maintain the amount, the temperature is preferably about 0 to 70 ° C, more preferably about 0 to 60 ° C, and still more preferably about 0 to 50 ° C.

反応時間は、反応温度や原料物質の反応性に依存するため一概に規定できないが、通常1〜100時間程度である。   Although the reaction time depends on the reaction temperature and the reactivity of the raw material, it cannot be defined unconditionally, but is usually about 1 to 100 hours.

このようにして得られるポリアミック酸の重量平均分子量は、通常5,000〜500,000程度であるが、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、好ましくは10,000〜200,000程度、より好ましくは30,000〜150,000程度である。なお、本発明において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)測定によるポリスチレン換算値である。   The weight average molecular weight of the polyamic acid thus obtained is usually about 5,000 to 500,000, but preferably 10,000 to 200,000 from the viewpoint of improving the function of the resulting film as a release layer. About 000, more preferably about 30,000 to 150,000. In addition, in this invention, a weight average molecular weight is a polystyrene conversion value by a gel permeation chromatography (GPC) measurement.

本発明の剥離層形成用組成物は、有機溶媒を含むものである。この有機溶媒としては、上記反応の反応溶媒の具体例と同様のものが挙げられる。中でも、ポリアミック酸をよく溶解し、均一性の高い組成物が調製し易いことから、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、N−エチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトンが好ましく、N−メチル−2−ピロリドンがより好ましい。   The composition for forming a release layer of the present invention contains an organic solvent. As this organic solvent, the same thing as the specific example of the reaction solvent of the said reaction is mentioned. Among them, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3-dimethyl-, which dissolve polyamic acid well and is easy to prepare a highly uniform composition. 2-Imidazolidinone, N-ethyl-2-pyrrolidone and γ-butyrolactone are preferred, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferred.

なお、単独ではポリアミック酸を溶解させない溶媒であっても、ポリアミック酸が析出しない範囲であれば、組成物の調製に用いることができる。特に、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、エチルカルビトール、ブチルカルビトール、エチルカルビトールアセテート、エチレングリコール、1−メトキシ−2−プロパノール、1−エトキシ−2−プロパノール、1−ブトキシ−2−プロパノール、1−フェノキシ−2−プロパノール、プロピレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールジアセテート、プロピレングリコール−1−モノメチルエーテル−2−アセテート、プロピレングリコール−1−モノエチルエーテル−2−アセテート、ジプロピレングリコール、2−(2−エトキシプロポキシ)プロパノール、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸n−ブチル、乳酸イソアミル等の低表面張力を有する溶媒を適度に混在させることができる。これにより、基板への塗布時に塗膜均一性が向上することが知られており、本発明においても好適に用い得る。   In addition, even if it is a solvent which does not dissolve polyamic acid alone, it can be used for the preparation of the composition as long as polyamic acid does not precipitate. In particular, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1-ethoxy-2-propanol, 1-butoxy-2-propanol, 1-phenoxy -2-propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol-1-monoethyl ether-2-acetate, dipropylene glycol, 2- (2-ethoxy Propoxy) A solvent having a low surface tension such as propanol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, isoamyl lactate and the like can be mixed appropriately. Thereby, it is known that the coating film uniformity is improved at the time of application to the substrate, and can be suitably used in the present invention.

本発明の剥離層形成用組成物の調製方法は任意である。調製方法の好ましい一例としては、上記で説明した方法によって得られた目的とするポリアミック酸を含む反応溶液をろ過する方法が挙げられる。この際、濃度調整等を目的として必要があればろ液を希釈又は濃縮してもよい。このような方法を採用することで、得られる組成物から製造される剥離層の密着性、剥離性等の悪化の原因となり得る不純物の混入を低減できるだけでなく、効率よく剥離層形成用組成物を得ることができる。希釈に用いる溶媒としては、特に限定されるものではなく、その具体例としては、上記反応の反応溶媒の具体例と同様のものが挙げられる。希釈に用いる溶媒は、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   The method for preparing the composition for forming a release layer of the present invention is arbitrary. A preferable example of the preparation method includes a method of filtering the reaction solution containing the target polyamic acid obtained by the method described above. At this time, the filtrate may be diluted or concentrated if necessary for the purpose of adjusting the concentration. By adopting such a method, it is possible not only to reduce the contamination of impurities that can cause deterioration in the adhesion, peelability, etc. of the release layer produced from the resulting composition, but also to efficiently form a release layer forming composition. Can be obtained. The solvent used for dilution is not particularly limited, and specific examples thereof include those similar to the specific examples of the reaction solvent for the above reaction. The solvent used for dilution may be used singly or in combination of two or more.

本発明の剥離層形成用組成物におけるポリアミック酸の濃度は、作製する剥離層の厚み、組成物の粘度等を勘案して適宜設定するものではあるが、通常1〜30質量%程度、好ましくは1〜20質量%程度である。このような濃度とすることで、0.05〜5μm程度の厚さの剥離層を再現性よく得ることができる。ポリアミック酸の濃度は、ポリアミック酸の原料であるジアミンとテトラカルボン酸二無水物の使用量を調整する、単離したポリアミック酸を溶媒に溶解させる際にその量を調整する等して調整することができる。   The concentration of the polyamic acid in the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, the viscosity of the composition, etc., but is usually about 1 to 30% by mass, preferably It is about 1-20 mass%. By setting it as such a density | concentration, the peeling layer about 0.05-5 micrometers thick can be obtained with reproducibility. The concentration of the polyamic acid should be adjusted by adjusting the amount of diamine and tetracarboxylic dianhydride used as the raw material for the polyamic acid, adjusting the amount when the isolated polyamic acid is dissolved in the solvent, etc. Can do.

本発明の剥離層形成用組成物の粘度は、作製する剥離層の厚み等を勘案して適宜設定するものではあるが、特に0.05〜5μm程度の厚さの膜を再現性よく得ること目的とする場合、通常、25℃で10〜10,000mPa・s程度、好ましくは20〜5,000mPa・s程度である。   The viscosity of the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, etc., but in particular, a film having a thickness of about 0.05 to 5 μm can be obtained with good reproducibility. When intended, it is usually about 10 to 10,000 mPa · s at 25 ° C., preferably about 20 to 5,000 mPa · s.

ここで、粘度は、市販の液体の粘度測定用粘度計を使用して、例えば、JIS K7117−2に記載の手順を参照して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。好ましくは、粘度計としては、円錐平板型(コーンプレート型)回転粘度計を使用し、好ましくは同型の粘度計で標準コーンロータとして1°34’×R24を使用して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。このような回転粘度計としては、例えば、東機産業株式会社製TVE−25Lが挙げられる。   Here, the viscosity can be measured using a commercially available liquid viscosity measurement viscometer, for example, with reference to the procedure described in JIS K7117-2, at a temperature of the composition of 25 ° C. . Preferably, a conical plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, and preferably the composition temperature is 25 ° C. using 1 ° 34 ′ × R24 as a standard cone rotor. It can be measured under the condition of ° C. An example of such a rotational viscometer is TVE-25L manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.

なお、本発明の剥離層形成用組成物は、ポリアミック酸と有機溶媒の他に、例えば膜強度を向上させるために、架橋剤等を含んでいてもよい。   In addition, the composition for peeling layer formation of this invention may contain the crosslinking agent etc. in order to improve film | membrane intensity | strength other than a polyamic acid and an organic solvent, for example.

以上説明した本発明の剥離層形成用組成物を基体に塗布し、得られた塗膜を加熱してポリアミック酸を熱イミド化することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する、ポリイミド膜からなる剥離層を得ることができる。   By applying the composition for forming a release layer of the present invention described above to a substrate, and heating the resulting coating to thermally imidize the polyamic acid, excellent adhesion to the substrate and appropriateness with the resin substrate It is possible to obtain a release layer made of a polyimide film having good adhesion and moderate peelability.

このような本発明の剥離層を基体上に形成する場合、剥離層は基体の一部表面に形成されていてもよいし、全面に形成されていてもよい。基体の一部表面に剥離層を形成する態様としては、基体表面のうち所定の範囲にのみ剥離層を形成する態様、基体表面全面にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状に剥離層を形成する態様等がある。なお、本発明において、基体とは、その表面に本発明の剥離層形成用組成物が塗られるものであって、フレキシブル電子デバイス等の製造に用いられるものを意味する。   When such a release layer of the present invention is formed on a substrate, the release layer may be formed on a partial surface of the substrate, or may be formed on the entire surface. As an aspect of forming a release layer on a part of the surface of the substrate, an embodiment in which the release layer is formed only within a predetermined range of the substrate surface, a release layer is formed in a pattern such as a dot pattern or a line and space pattern on the entire surface of the substrate. There are forms to be formed. In addition, in this invention, a base | substrate means what is used for manufacture of a flexible electronic device etc. by which the composition for peeling layer formation of this invention is applied to the surface.

基体(基材)としては、例えば、ガラス、プラスチック(ポリカーボネート、ポリメタクリレート、ポリスチレン、ポリエステル、ポリオレフィン、エポキシ、メラミン、トリアセチルセルロース、ABS、AS、ノルボルネン系樹脂等)、金属(シリコンウエハ等)、木材、紙、スレート等が挙げられるが、特に、本発明の剥離層がそれに対する十分な密着性を有することから、ガラスが好ましい。なお、基体表面は、単一の材料で構成されていてもよく、2以上の材料で構成されていてもよい。2以上の材料で基体表面が構成される態様としては、基体表面のうちのある範囲はある材料で構成され、その余の表面はその他の材料で構成されている態様、基体表面全体にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状にある材料がその他の材料中に存在する態様等がある。   Examples of the substrate (substrate) include glass, plastic (polycarbonate, polymethacrylate, polystyrene, polyester, polyolefin, epoxy, melamine, triacetyl cellulose, ABS, AS, norbornene resin, etc.), metal (silicon wafer, etc.), Although wood, paper, slate, etc. are mentioned, since the peeling layer of this invention has sufficient adhesiveness with respect to it, glass is preferable. In addition, the base | substrate surface may be comprised with the single material and may be comprised with two or more materials. As an aspect in which the substrate surface is composed of two or more materials, a certain range of the substrate surface is composed of a certain material, and the other surface is composed of other materials. A dot pattern is formed on the entire surface of the substrate. There is a mode in which a material in a pattern such as a line and space pattern is present in other materials.

本発明の剥離層形成用組成物を基体に塗布する方法は、特に限定されるものではないが、例えば、キャストコート法、スピンコート法、ブレードコート法、ディップコート法、ロールコート法、バーコート法、ダイコート法、インクジェット法、印刷法(凸版、凹版、平版、スクリーン印刷等)等が挙げられる。   The method for applying the release layer-forming composition of the present invention to the substrate is not particularly limited, and examples thereof include cast coating, spin coating, blade coating, dip coating, roll coating, and bar coating. Method, die coating method, ink jet method, printing method (eg, relief printing, intaglio printing, planographic printing, screen printing, etc.).

イミド化するための加熱温度は、通常50〜550℃の範囲内で適宜決定されるものではあるが、好ましくは150℃超〜510℃である。加熱温度をこのようにすることで、得られる膜の脆弱化を防ぎつつ、イミド化反応を十分に進行させることが可能となる。加熱時間は、加熱温度によって異なるため一概に規定できないが、通常5分〜5時間である。また、イミド化率は、50〜100%の範囲であればよい。   The heating temperature for imidization is usually appropriately determined within the range of 50 to 550 ° C, but is preferably more than 150 ° C to 510 ° C. By setting the heating temperature in this way, it is possible to sufficiently advance the imidization reaction while preventing the obtained film from being weakened. The heating time varies depending on the heating temperature and cannot be defined unconditionally, but is usually 5 minutes to 5 hours. Moreover, the imidation ratio should just be the range of 50 to 100%.

本発明における加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で5分間〜2時間加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に150℃超〜510℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で5分間〜2時間加熱した後に、100℃超〜375℃で5分間〜2時間、最後に375℃超〜450℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜150℃で5分間〜2時間加熱した後に、150℃超〜350℃で5分間〜2時間、次いで350℃超〜450℃で30分〜4時間、最後に450℃超〜510℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。   As a preferable example of the heating mode in the present invention, after heating at 50 to 150 ° C. for 5 minutes to 2 hours, the heating temperature is gradually increased as it is, and finally from 150 ° C. to 510 ° C. for 30 minutes to 4 hours. The method of heating is mentioned. In particular, as a more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 100 ° C. for 5 minutes to 2 hours, more than 100 ° C. to 375 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and finally more than 375 ° C. to 450 ° C. for 30 minutes to The method of heating for 4 hours is mentioned. Furthermore, as another more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 150 ° C. for 5 minutes to 2 hours, more than 150 ° C. to 350 ° C. for 5 minutes to 2 hours, then more than 350 ° C. to 450 ° C. for 30 minutes A method of heating at 450 ° C. to 510 ° C. for 30 minutes to 4 hours at the end of ˜4 hours is mentioned.

加熱に用いる器具は、例えばホットプレート、オーブン等が挙げられる。加熱雰囲気は、空気下であっても不活性ガス下であってもよく、また、常圧下であっても減圧下であってもよい。   Examples of the appliance used for heating include a hot plate and an oven. The heating atmosphere may be under air or under an inert gas, and may be under normal pressure or under reduced pressure.

剥離層の厚さは、通常0.01〜50μm程度、生産性の観点から好ましくは0.05〜20μm程度である。なお、所望の厚さは、加熱前の塗膜の厚さを調整することによって実現する。   The thickness of the release layer is usually about 0.01 to 50 μm, and preferably about 0.05 to 20 μm from the viewpoint of productivity. In addition, desired thickness is implement | achieved by adjusting the thickness of the coating film before a heating.

以上説明した剥離層は、基体、特にガラスの基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する。それ故、本発明の剥離層は、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、当該デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく、当該樹脂基板を、その樹脂基板上に形成された回路等とともに、基体から剥離させるために好適に用いることができる。   The release layer described above has excellent adhesion to a substrate, particularly a glass substrate, moderate adhesion to a resin substrate, and moderate release. Therefore, the release layer of the present invention peels the resin substrate from the substrate together with the circuit formed on the resin substrate without damaging the resin substrate of the device in the manufacturing process of the flexible electronic device. Therefore, it can be suitably used.

以下、本発明の剥離層を用いたフレキシブル電子デバイスの製造方法の一例について説明する。
本発明の剥離層形成用組成物を用いて、上述の方法によって、ガラス基体上に剥離層を形成する。この剥離層の上に、樹脂基板を形成するための樹脂溶液を塗布し、この塗膜を加熱することで、本発明の剥離層を介して、ガラス基体に固定された樹脂基板を形成する。この際、剥離層を全て覆うようにして、剥離層の面積と比較して大きい面積で、基板を形成する。樹脂基板としては、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板として代表的なポリイミドからなる樹脂基板が挙げられ、それを形成するための樹脂溶液としては、ポリイミド溶液やポリアミック酸溶液が挙げられる。当該樹脂基板の形成方法は、常法に従えばよい。
Hereinafter, an example of the manufacturing method of the flexible electronic device using the peeling layer of this invention is demonstrated.
Using the composition for forming a release layer of the present invention, a release layer is formed on a glass substrate by the method described above. A resin solution for forming a resin substrate is applied on the release layer, and this coating film is heated to form a resin substrate fixed to the glass substrate via the release layer of the present invention. At this time, the substrate is formed with a larger area than the area of the release layer so as to cover the entire release layer. Examples of the resin substrate include a resin substrate made of polyimide, which is a typical resin substrate for flexible electronic devices, and examples of the resin solution for forming the resin substrate include a polyimide solution and a polyamic acid solution. The method for forming the resin substrate may follow a conventional method.

次に、本発明の剥離層を介して基体に固定された当該樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、例えば剥離層に沿って樹脂基板をカットし、この回路とともに樹脂基板を剥離層から剥離して、樹脂基板と基体とを分離する。この際、基体の一部を剥離層とともにカットしてもよい。   Next, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the base via the release layer of the present invention, and then the resin substrate is cut along the release layer, for example. The resin substrate and the substrate are separated by peeling from the release layer. At this time, a part of the substrate may be cut together with the release layer.

なお、特開2013−147599号公報では、これまで高輝度LEDや三次元半導体パッケージ等の製造において使用されてきたレーザーリフトオフ法(LLO法)をフレキシブルディスプレイの製造に適用することが報告されている。上記LLO法は、回路等が形成された面とは反対の面から、特定の波長の光線、例えば、波長308nmの光線をガラス基体側から照射することを特徴とするものである。照射された光線は、ガラス基体を透過し、ガラス基体近傍のポリマー(ポリイミド)のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。その結果、ディスプレイの性能を決定づけることとなる、樹脂基板上に設けられた回路等に影響を与えることなく、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。   In JP 2013-147599 A, it is reported that the laser lift-off method (LLO method) that has been used in the manufacture of high-brightness LEDs, three-dimensional semiconductor packages and the like is applied to the manufacture of flexible displays. . The LLO method is characterized in that light having a specific wavelength, for example, light having a wavelength of 308 nm, is irradiated from the surface opposite to the surface on which a circuit or the like is formed from the glass substrate side. The irradiated light passes through the glass substrate, and only the polymer (polyimide) in the vicinity of the glass substrate absorbs this light and evaporates (sublimates). As a result, it is possible to selectively peel the resin substrate from the glass substrate without affecting the circuit or the like provided on the resin substrate, which determines the performance of the display.

本発明の剥離層形成用組成物は、上記LLO法の適用が可能となる特定波長(例えば308nm)の光線を十分に吸収するという特徴を持つため、LLO法の犠牲層として用いることができる。そのため、本発明に組成物を用いて形成した剥離層を介してガラス基体に固定された樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、LLO法を実施して308nmの光線を照射すると、該剥離層のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。これにより、上記剥離層が犠牲となり(犠牲層として働く)、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。   Since the composition for forming a release layer of the present invention has a feature of sufficiently absorbing light having a specific wavelength (for example, 308 nm) that enables application of the LLO method, it can be used as a sacrificial layer for the LLO method. Therefore, when a desired circuit is formed on a resin substrate fixed to a glass substrate through a release layer formed by using the composition according to the present invention, and then an LLO method is performed to irradiate a light beam of 308 nm. Only the release layer absorbs this light and evaporates (sublimates). Thereby, the release layer is sacrificed (acts as a sacrifice layer), and the resin substrate can be selectively peeled from the glass substrate.

以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明は、これら実施例に限定されるものではない。
[1]化合物の略語
p−PDA:p−フェニレンジアミン
DATP:4,4’’−ジアミノ−p−ターフェニル
TFMB:2,2’―ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン
6FAP:2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン
PMDA:ピロメリット酸二無水物
BPDA:3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
LS−3280:4−アミノフェノキシジメチルビニルシラン
LS−3150:3−アミノプロピルトリエトキシシラン
TMA:トリメリット酸無水物
IHPA:イソフタルアルデヒド
NMP:N−メチル−2−ピロリドン
EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated further in detail, this invention is not limited to these Examples.
[1] Abbreviations of compounds p-PDA: p-phenylenediamine DATP: 4,4 ″ -diamino-p-terphenyl TFMB: 2,2′-bis (trifluoromethyl) benzidine 6FAP: 2,2-bis ( 3-Amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane PMDA: pyromellitic dianhydride BPDA: 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride LS-3280: 4-aminophenoxydimethylvinylsilane LS -3150: 3-aminopropyltriethoxysilane TMA: trimellitic anhydride IHPA: isophthalaldehyde NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

[2]重量平均分子量及び分子量分布の測定
ポリマーの重量平均分子量(以下Mwと略す)及び分子量分布の測定は、日本分光株式会社製GPC装置(カラム:Shodex製 OHpak SB803−HQ、及びOHpak SB804−HQ;溶離液:ジメチルホルムアミド/LiBr・H2O(29.6mM)/H3PO4(29.6mM)/THF(0.1wt%);流量:1.0mL/分;カラム温度:40℃;Mw:標準ポリスチレン換算値)を用いて行った。
[2] Measurement of weight average molecular weight and molecular weight distribution The weight average molecular weight (hereinafter abbreviated as Mw) and molecular weight distribution of a polymer are measured by a GPC apparatus manufactured by JASCO Corporation (column: OHpak SB803-HQ manufactured by Shodex, and OHpak SB804-). HQ; eluent: dimethylformamide / LiBr.H 2 O (29.6 mM) / H 3 PO 4 (29.6 mM) / THF (0.1 wt%); flow rate: 1.0 mL / min; column temperature: 40 ° C. Mw: standard polystyrene conversion value).

[3]ポリマーの合成
<合成例F1 ポリアミック酸(F1)の合成>
p−PDA 20.261g(187mmol)とDATP 12.206g(47mmol)をNMP 617.4gに溶解させた。得られた溶液を15℃に冷却し、そこへPMDA 50.112g(230mmol)を加え、窒素雰囲気下、50℃まで昇温し48時間反応させた。得られたポリマーのMwは82,100、分子量分布は2.7であった。
[3] Synthesis of Polymer <Synthesis Example F1 Synthesis of polyamic acid (F1)>
20.261 g (187 mmol) of p-PDA and 12.206 g (47 mmol) of DATP were dissolved in 617.4 g of NMP. The obtained solution was cooled to 15 ° C., 50.112 g (230 mmol) of PMDA was added thereto, and the temperature was raised to 50 ° C. in a nitrogen atmosphere and reacted for 48 hours. Mw of the obtained polymer was 82,100, and molecular weight distribution was 2.7.

<合成例F2 ポリアミック酸(F2)の合成>
p−PDA 3.218g(30mmol)をNMP 88.2gに溶解させた。得られた溶液にBPDA 8.581g(29mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは107,300、分子量分布4.6であった。
<Synthesis Example F2 Synthesis of polyamic acid (F2)>
3.218 g (30 mmol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP. To the obtained solution, 8.581 g (29 mmol) of BPDA was added and reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. Mw of the obtained polymer was 107,300, and the molecular weight distribution was 4.6.

<合成例L1 ポリアミック酸(L1)の合成>
p−PDA 2.66g(24.6mmol)とTFMB 0.18g(0.6mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.09g(27.9mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS-3280 1.08g(5.6mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは62,700、分子量分布2.7であった。
<Synthesis Example L1 Synthesis of polyamic acid (L1)>
2.66 g (24.6 mmol) of p-PDA and 0.18 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. PMDA 6.09 g (27.9 mmol) was added to the resulting solution and reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, followed by addition of LS-3280 1.08 g (5.6 mmol) and further reaction for 24 hours. Thus, silyl groups were introduced at both ends of the polyamic acid. Mw of the obtained polymer was 62,700 and molecular weight distribution was 2.7.

<合成例L2 ポリアミック酸(L2)の合成>
p−PDA 2.96g(27.3mmol)とTFMB 0.19g(0.6mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.34g(29.1mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS−3150 0.52g(2.3mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは51,100、分子量分布2.8であった。
<Synthesis Example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)>
2.96 g (27.3 mmol) of p-PDA and 0.19 g (0.6 mmol) of TFMB were dissolved in 90 g of NMP. PMDA 6.34 g (29.1 mmol) was added to the resulting solution and reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, and then LS-3150 0.52 g (2.3 mmol) was added and reacted for another 24 hours. Thus, silyl groups were introduced at both ends of the polyamic acid. Mw of the obtained polymer was 51,100 and molecular weight distribution was 2.8.

<合成例L3 ポリアミック酸(L3)の合成>
p−PDA 3.06(28.3mmol)をNMP 90gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 6.42g(29.4mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、LS−3150 0.52g(2.4mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にシリル基を導入した。得られたポリマーのMwは47,800、分子量分布2.8であった。
<Synthesis Example L3 Synthesis of polyamic acid (L3)>
p-PDA 3.06 (28.3 mmol) was dissolved in 90 g of NMP. PMDA 6.42g (29.4mmol) was added to the obtained solution and reacted at 23 ° C for 24 hours under a nitrogen atmosphere. Then, LS-3150 0.52g (2.4mmol) was added and reacted for another 24 hours. Thus, silyl groups were introduced at both ends of the polyamic acid. Mw of the obtained polymer was 47,800 and molecular weight distribution was 2.8.

<合成例L4 ポリアミック酸(L4)の合成>
p−PDA 0.78g(7.2mmol)をNMP 17.6gに溶解させた。得られた溶液に、PMDA 1.51g(6.9mmol)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた後、TMA 0.11g(0.3mmol)を加えて更に24時間反応させてポリアミック酸の両端にカルボン酸基を導入した。得られたポリマーのMwは48,000、分子量分布3.1であった。
<Synthesis Example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)>
0.78 g (7.2 mmol) of p-PDA was dissolved in 17.6 g of NMP. To the obtained solution, 1.51 g (6.9 mmol) of PMDA was added and reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere, and then 0.11 g (0.3 mmol) of TMA was added and reacted for another 24 hours. Carboxylic acid groups were introduced at both ends of the polyamic acid. The obtained polymer had Mw of 48,000 and a molecular weight distribution of 3.1.

<比較合成例1 ポリベンゾオキサゾール前駆体(B1)の合成>
6FAP 3.18g(0.059モル)をNMP70gに溶解させた。得られた溶液にIHPA 7.92g(0.060モル)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは107,300、分子量分布4.6であった。
<Comparative Synthesis Example 1 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (B1)>
3.18 g (0.059 mol) of 6FAP was dissolved in 70 g of NMP. To the resulting solution, 7.92 g (0.060 mol) of IHPA was added and reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. Mw of the obtained polymer was 107,300, and the molecular weight distribution was 4.6.

[4]樹脂基板形成用組成物の調製
合成例F1,F2で得られた反応液を、それぞれ、そのまま樹脂基板形成用組成物W,Xとして用いた。
[4] Preparation of Resin Substrate Forming Composition The reaction solutions obtained in Synthesis Examples F1 and F2 were used as resin substrate forming compositions W and X, respectively.

[5]剥離層形成用組成物の調製
[実施例1−1]
合成例L1で得られた反応液10gに、NMP6gとブチロセロソルブ4g添加し、室温で24時間撹拌し、剥離層形成用組成物を得た。
[5] Preparation of release layer forming composition [Example 1-1]
6 g of NMP and 4 g of butyrocellosolve were added to 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L1, and the mixture was stirred at room temperature for 24 hours to obtain a release layer forming composition.

[実施例1−2〜1−3]
合成例L1で得られた反応液の代わりに、それぞれ合成例L2〜L3で得られた反応液を用いた以外は、実施例1−1と同様の方法で、剥離層形成用組成物を得た。
[Examples 1-2 to 1-3]
A composition for forming a release layer was obtained in the same manner as in Example 1-1, except that the reaction solutions obtained in Synthesis Examples L2 to L3 were used in place of the reaction solution obtained in Synthesis Example L1, respectively. It was.

[実施例1−4]
合成例L4で得られた反応液10gに、NMP9.4gとブチロセロソルブ4.6g添加し、室温で24時間撹拌し、剥離層形成用組成物を得た。
[Example 1-4]
To 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example L4, 9.4 g of NMP and 4.6 g of butyrocellosolve were added and stirred at room temperature for 24 hours to obtain a composition for forming a release layer.

[比較例1−1]
比較合成例1で得られた反応液を、ポリマー濃度が5wt%となるようにNMPで希釈して、組成物を得た。
[Comparative Example 1-1]
The reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example 1 was diluted with NMP so that the polymer concentration was 5 wt% to obtain a composition.

[6]剥離層の形成及びその評価
[実施例2−1]
スピンコータ(条件:回転数3,000rpmで約30秒)を用いて、実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物を、ガラス基体としての100mm×100mmガラス基板(以下同様)の上に塗布した。
そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて80℃で10分間加熱し、その後、オーブンを用いて、300℃で30分間加熱し、加熱温度を400℃まで昇温(10℃/分)し、更に400℃で30分間加熱し、ガラス基板上に厚さ約0.1μmの剥離層を形成した。なお、昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。
[6] Formation of release layer and evaluation thereof [Example 2-1]
Using a spin coater (condition: about 3,000 rpm for about 30 seconds), the release layer forming composition obtained in Example 1-1 was placed on a 100 mm × 100 mm glass substrate (hereinafter the same) as a glass substrate. It was applied to.
The obtained coating film was heated at 80 ° C. for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 300 ° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature was raised to 400 ° C. (10 ° C./min. And then heated at 400 ° C. for 30 minutes to form a release layer having a thickness of about 0.1 μm on the glass substrate. During the temperature increase, the film-coated substrate was not removed from the oven but heated in the oven.

[実施例2−2〜2−4]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物の代わりに、それぞれ実施例1−2〜1−4で得られた剥離層形成用組成物を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、剥離層を形成した。
[Examples 2-2 to 2-4]
Example 2-1 except that the composition for forming a release layer obtained in Examples 1-2 to 1-4 was used in place of the composition for forming a release layer obtained in Example 1-1. A release layer was formed in the same manner as described above.

[比較例2−1]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物の代わりに、比較例1−1で得られた組成物を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、樹脂薄膜を形成した。
[Comparative Example 2-1]
A resin thin film was prepared in the same manner as in Example 2-1, except that the composition obtained in Comparative Example 1-1 was used instead of the release layer forming composition obtained in Example 1-1. Formed.

[7]剥離性の評価
[実施例3−1〜3−4,比較例3−1]
以下の方法により、表1に示した剥離層と樹脂基板の組み合わせとなるよう基板を作製し、剥離性の評価をした。
実施例2−1〜2−4で得られた剥離層とガラス基板の剥離性及び当該剥離層(樹脂薄膜)と樹脂基板の剥離性を確認した。なお、樹脂基板としては、ポリイミドからなる樹脂基板を用いた。
まず、実施例2−1〜2−4で得られた剥離層付きガラス基板上の剥離層のクロスカット(縦横1mm間隔、以下同様)、並びに、樹脂基板・剥離層付きガラス基板上の樹脂基板・剥離層のクロスカットを行うことにより、100マスカットを行った。すなわち、このクロスカットにより、1mm四方のマス目を100個形成した。
そして、この100マスカット部分に粘着テープを張り付けて、そのテープを剥がし、以下の基準(5B〜0B,B,A,AA)に基づき、剥離の程度を評価した(実施例3−1〜3−4)。また、上記手法に準じて、比較例2−1で得られた樹脂薄膜付きガラス基板を用いて、同様の試験を行った(比較例3−1)。結果を表1に示す。
[7] Evaluation of peelability [Examples 3-1 to 3-4, Comparative example 3-1]
By the following method, the board | substrate was produced so that it might become a combination of the peeling layer shown in Table 1, and the resin substrate, and peelability was evaluated.
The peelability of the release layer and glass substrate obtained in Examples 2-1 to 2-4 and the peelability of the release layer (resin thin film) and the resin substrate were confirmed. As the resin substrate, a resin substrate made of polyimide was used.
First, cross-cutting of the release layer on the glass substrate with the release layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 (1 mm in length and width, the same applies hereinafter), and the resin substrate on the resin substrate / glass substrate with the release layer -A 100 muscut was made by cross-cutting the release layer. That is, 100 crosses of 1 mm square were formed by this cross cut.
And the adhesive tape was stuck on this 100 muscat part, the tape was peeled off, and the degree of peeling was evaluated based on the following criteria (5B-0B, B, A, AA) (Examples 3-1 to 3- 4). Moreover, according to the said method, the same test was done using the glass substrate with a resin thin film obtained by Comparative Example 2-1 (Comparative Example 3-1). The results are shown in Table 1.

5B:0%剥離(剥離なし)
4B:5%未満の剥離
3B:5〜15%未満の剥離
2B:15〜35%未満の剥離
1B:35〜65%未満の剥離
0B:65%〜80%未満の剥離
B:80%〜95%未満の剥離
A:95%〜100%未満の剥離
AA:100%剥離(すべて剥離)
5B: 0% peeling (no peeling)
4B: Less than 5% peeling 3B: Less than 5-15% peeling 2B: 15-35% peeling 1B: 35-65% peeling 0B: 65% -80% peeling B: 80% -95 % Peeling A: 95% to less than 100% peeling AA: 100% peeling (all peeling)

なお、実施例3−1〜3−4及び比較例3−1の樹脂基板は、下記方法で形成した。
バーコーター(ギャップ:250μm)を用いて、ガラス基板上の剥離層(樹脂薄膜)の上に樹脂基板形成用組成物W又はXのいずれかを塗布した。そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて80℃で10分間加熱し、その後、オーブンを用いて、140℃で30分間加熱し、加熱温度を210℃まで昇温(10℃/分、以下同様)し、210℃で30分間、加熱温度を300℃まで昇温し、300℃で30分間、加熱温度を400℃まで昇温し、400℃で60分間加熱し、剥離層上に厚さ約20μmのポリイミド基板を形成した。昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。
In addition, the resin substrate of Examples 3-1 to 3-4 and Comparative Example 3-1 was formed by the following method.
Using a bar coater (gap: 250 μm), either the resin substrate forming composition W or X was applied on the release layer (resin thin film) on the glass substrate. The obtained coating film was heated at 80 ° C. for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 140 ° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature was raised to 210 ° C. (10 ° C./min. The same applies to the following, and the heating temperature was raised to 210 ° C. for 30 minutes, the heating temperature was raised to 300 ° C., the heating temperature was raised to 300 ° C. for 30 minutes, the heating temperature was raised to 400 ° C., and the heating temperature was raised to 400 ° C. for 60 minutes. A polyimide substrate having a thickness of about 20 μm was formed. During the temperature increase, the film-coated substrate was not removed from the oven but heated in the oven.

表1に示される通り、実施例の剥離層は、ガラス基板との密着性に優れ、かつ、樹脂基板との剥離性に優れていることがわかる。一方、比較例の樹脂薄膜は、ガラス基板と剥離層の密着性が低い、もしくは、密着性が高い場合は、樹脂層とも密着し、全く剥がれない事が判明した。   As Table 1 shows, it turns out that the peeling layer of an Example is excellent in adhesiveness with a glass substrate, and excellent in peelability with a resin substrate. On the other hand, the resin thin film of the comparative example was found to adhere to the resin layer and not peel at all when the adhesion between the glass substrate and the release layer was low or the adhesion was high.

Figure 2016158990
Figure 2016158990

Claims (8)

その重合体鎖末端のいずれか一方又は両方にアンカー基を導入してなるポリアミック酸と、有機溶媒とを含む剥離層形成用組成物。   A composition for forming a release layer comprising a polyamic acid obtained by introducing an anchor group into either one or both of the polymer chain ends and an organic solvent. 前記アンカー基が、シリル基又はカルボン酸基である請求項1記載の剥離層形成用組成物。   The composition for forming a release layer according to claim 1, wherein the anchor group is a silyl group or a carboxylic acid group. 前記ポリアミック酸が、芳香族ジアミンを含むジアミン成分と芳香族テトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分とを反応させて得られたポリアミック酸であることを特徴とする請求項1又は2記載の剥離層形成用組成物。   The polyamic acid is a polyamic acid obtained by reacting a diamine component containing an aromatic diamine and an acid dianhydride component containing an aromatic tetracarboxylic dianhydride. The composition for peeling layer formation of description. 前記芳香族ジアミンが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンであることを特徴とする請求項3記載の剥離層形成用組成物。   The composition for forming a release layer according to claim 3, wherein the aromatic diamine is an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei. 前記芳香族テトラカルボン酸二無水物が、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物であることを特徴とする請求項3又は4記載の剥離層形成用組成物。   The release layer forming composition according to claim 3 or 4, wherein the aromatic tetracarboxylic dianhydride is an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei. 請求項1〜5のいずれか1項記載の剥離層形成用組成物を用いて形成される剥離層。   The peeling layer formed using the composition for peeling layer formation of any one of Claims 1-5. 請求項6記載の剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法。   A method for producing a flexible electronic device comprising a resin substrate, wherein the release layer according to claim 6 is used. 前記樹脂基板が、ポリイミドからなる基板であることを特徴とする請求項7に記載の製造方法。   The manufacturing method according to claim 7, wherein the resin substrate is a substrate made of polyimide.
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