JP6722130B2 - 集束イオンビーム装置の制御方法 - Google Patents

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Description

本発明は、集束イオンビーム装置の制御方法に関する。
シリコン(Si)などの半導体を局所加工する技術として、集束イオンビーム(Focused Ion Beam、以下FIBとも言う)を用いた加工技術が知られており、配線の修正や断面観察用の試料加工などに応用されている。
また、大きな面積の加工に適する加工技術として、投射型イオンビーム(Projection on Ion Beam、以下PJIBとも言う)が知られており、FIBとPJIBの両方を使用可能なイオンビーム装置が知られている。
これらのイオンビームは、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems) 技術によるセンサ素子の形成にも用いられている。
なお、イオンビーム装置については、例えば、特開2002−33070号公報(特許文献1)に記載があり、加工用のイオンビームとして、像分解能が高い集束イオンビームと、断面エッジ部がシャープに加工できるエッジ加工用イオンビームとを使い分ける技術が開示されている。
特開2002−33070号公報
イオンビーム加工技術は、近年では、微細構造体、例えばセンサ、アクチュエータ、電子回路などのMEMSの製造技術としても注目されている。
例えば、MEMS技術を利用して卍形状などのセンサを形成する場合、ばね部分のエッジ(隅部)の加工において、大面積加工用のPJIBとFIBとを併用して加工を行うことが考えられる。
この場合、PJIBやFIBを用いて大きな面積の領域を加工した後に、電流量やビームのスポットサイズが小さいFIBによりエッジ(隅部)を追加工する方法が知られているが、試料の加工部分のだれの除去および再付着物の除去が必要であり、その領域は数μm以上となる。
したがって、FIBによる数百nmのスポットサイズでは、加工点数が数百点必要となり、加工時間の増大を招くことが課題である。
本発明の目的は、集束イオンビーム装置を用いて試料を加工する際に、加工時間の短縮化を図ることができる技術を提供することにある。
本発明の前記の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される実施の形態のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
一実施の形態における集束イオンビーム装置の制御方法は、(a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の情報に基づいて、集束イオンビームを用いて加工する第1の加工領域と、投射型イオンビームを用いて加工する第2の加工領域と、を検出する工程、(b)上記集束イオンビーム装置において、上記集束イオンビームを上記第1の加工領域に照射して試料を加工する工程、を有する。さらに、(c)上記集束イオンビーム装置において、上記投射型イオンビームを上記第2の加工領域に照射して上記試料を加工する工程、を有する。
一実施の形態における他の集束イオンビーム装置の制御方法は、(a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の図形パターン情報に基づいて、第1の投射型イオンビームを用いて加工する第5の加工領域と、集束イオンビームを用いて加工する第6の加工領域と、第2の投射型イオンビームを用いて加工する第7の加工領域と、を検出する工程、を有する。また、(b)上記集束イオンビーム装置において、上記第1の投射型イオンビームを上記第5の加工領域に照射して試料を加工する工程、(c)上記集束イオンビーム装置において、上記集束イオンビームを上記第6の加工領域に照射して上記試料を加工する工程、を有する。さらに、(d)上記集束イオンビーム装置において、上記第2の投射型イオンビームを上記第7の加工領域に照射して上記試料を加工する工程、を有する。
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
集束イオンビーム装置を用いて試料を加工する際に、加工時間の短縮化を図ることができる。
本発明の実施の形態の集束イオンビーム装置の一例を示す概略構成図である。 図1の集束イオンビーム装置によって加工される試料の構造の一例を示す平面図である。 図2のA部の構造を拡大して示す部分拡大平面図である。 図3のB部の構造を拡大して示す部分拡大平面図である。 図3のC−C線に沿って切断した図であり、比較例を示す断面図である。 比較例における試料の一部の構造を示す概略図である。 図1の集束イオンビーム装置を用いた加工手順の一例を示すフロー図である。 図1の集束イオンビーム装置におけるイオンビームの照射箇所の順番の一例を示す部分平面図である。 図3のC−C線に沿って切断した図であり、図1の集束イオンビーム装置によって加工された試料の構造の断面図である。 図1の集束イオンビーム装置に入力される加工領域の一例を示す部分平面図である。 図1の集束イオンビーム装置で検出される追加工領域の一例を示す部分平面図である。
図1は本発明の実施の形態の集束イオンビーム装置の一例を示す概略構成図である。
図1を用いて本実施の形態の集束イオンビーム装置の構成について説明する。なお、本実施の形態では、集束イオンビーム装置のことを単にイオンビーム装置とも呼ぶ。
図1に示される集束イオンビーム装置23は、試料11へのイオンビームの照射が行われる真空容器41を備えている。真空容器41内には、イオンを放出するイオン源31、コンデンサレンズ32、アパーチャ33が載置されるアパーチャ回転機構37、イオンビーム走査偏向器34および対物レンズ35などから構成されるイオンビーム照射系が配置されている。
また、イオンビーム装置23は、電子ビーム8を放出する電子銃7、電子ビーム8を集束する電子レンズ9および電子ビーム走査偏向器10などで構成される電子ビーム照射系を備えている。さらに、イオンビーム装置23は、試料11が載置されるステージ13、二次粒子検出器12、マニピュレータ42、プローブ15およびガス源17などを備えている。また、イオンビーム装置23は、その制御系として、イオン源制御装置81、レンズ制御装置82、ステージ制御装置14、マニピュレータ制御装置16、ガス源制御装置18、二次粒子検出器制御装置19、アパーチャ回転制御機構38および計算処理装置85などを備えている。
ここで、計算処理装置85は、イオンビーム装置23のユーザが必要な情報を入力するための情報入力手段や、二次粒子検出器12の検出信号を基に生成された画像、上記情報入力手段によって入力した情報を表示するディスプレイなどを備えている。
また、イオンビーム装置23のステージ13は、試料載置面に平行で、かつ直交する2つの方向(X方向とY方向)への移動を可能にする直線移動機構、試料載置面に対して垂直方向への移動を可能にする直線移動機構、試料載置面に対する回転機構、および試料載置面に対して傾斜軸を有する傾斜機構を備えている。そして、ステージ13の上記移動の制御は、計算処理装置85から送信される指令によってステージ制御装置14で行われる。
また、イオンビーム装置23では、イオン源31より放出されたイオンは、コンデンサレンズ32および対物レンズ35によって試料上に集束される。なお、集束条件設定は、計算処理装置85への入力によってなされる。さらに、試料11に照射されるイオンビームのビーム径は、イオン源を光源とする試料11上への結像と、レンズによる収差によって決定される。
本実施の形態のイオンビーム装置23は、集束イオンビーム(FIB)と投射型イオンビーム(PJIB)とを使い分けることが可能な装置である。
集束イオンビーム(FIB)の特徴は、電流密度が大きく、照射領域の加工速度が速いことである。例えば、数十nm〜数μmのスポット径に応じた加工領域を設定することができ、被加工物のエッジだれ(被加工物の凹部の断面形状における加工内壁の傾斜の程度)は、スポット径と同程度で比較的大きい。なお、スポット径を小さく絞って加工することができるため、微細領域の加工に適しており、狭い範囲にイオンビームを集束しているため、狭い範囲に限定すれば加工速度が速いと言える。したがって、集束イオンビーム(FIB)による加工は、スループットは高いが、加工精度は適度な加工方法と言える。
一方、投射型イオンビーム(PJIB)の特徴は、電流密度が小さく、照射領域の加工速度が集束イオンビーム(FIB)に比較して遅いことである。投射型イオンビームは、プロジェクションマスクなどのマスクの開口部に通してイオンビームを照射するため、マスクの開口形状で被加工物の形状が決まる。また、例えば、数百nm〜数十μmの加工領域を設定することができ、被加工物のエッジだれ(被加工物の凹部の断面形状における加工内壁の傾斜の程度)は、数μmの加工領域で数十μm程度と小さい。したがって、投射型イオンビームの加工精度は、集束イオンビームの加工精度に比較して高いが、加工のスループットは、集束イオンビームに比較して小さい加工方法と言える。
図1に示す本実施の形態のイオンビーム装置23では、アパーチャ33として、集束イオンビームによる加工を行う際には、ビーム制御アパーチャをアパーチャ回転機構37上に配置し、投射型イオンビームによる加工を行う際には、プロジェクションマスクをアパーチャ回転機構37上に配置する。
次に、本願の課題の詳細を、本発明者が検討した比較例を用いて説明する。図2は図1の集束イオンビーム装置によって加工される試料の構造の一例を示す平面図、図3は図2のA部の構造を拡大して示す部分拡大平面図、図4は図3のB部の構造を拡大して示す部分拡大平面図、図5は図3のC−C線に沿って切断した図であり、比較例を示す断面図、図6は比較例における試料の一部の構造を示す概略図である。
図2は、卍パターンの被加工物(例えば、図2に示す加速度センサ1などのMEMSセンサ)を示しており、それぞれデバイス領域であるマス(可動電極)2、バネ3およびアンカー4を備え、さらにデバイス領域にはならないフィールド5が配置されている。加速度センサ1の測定の基本原理は、バネ3によって釣られた電極(マス2)が、Z方向に移動した際の静電容量の変化を検出することで、加速度の測定を行う。例えば、加速度センサ1には、溝パターン6aや穴パターン6bが形成されており、可動電極の4つの上部パッド6cの下方だけにSiO2 膜などの酸化膜4b(図5参照)が存在し、バネ3やマス2の下方はギャップ(空洞)になっている。また、穴パターン6bには下部パッド6dが露出している箇所もある。
そして、図2に示す加速度センサ1において、数KHzを測定可能なMEMSセンサを形成する場合、例えば数μmの可動部厚さでは、図3、図4に示すバネ3の寸法は、その幅Dが数μm、長さEが数十〜数百μm、さらにフィールド5の部分との隙間(図4に示す加工領域F)は、数μmとなる。
また、単位面積当たりの加工速度と加工精度とを両立できる投射型イオンビーム(PJIB)では、マスクを用いた加工であるため、その加工のパターンの数は限られており、各MEMSセンサごとにアパーチャ(マスク)を作製しない限り、投射型イオンビームだけでは任意のMEMSセンサを作製することができない。
そして、バネ3の部分でエッジの加工において、大面積加工用の投射型イオンビームと集束イオンビームを併用した場合、バネ3の途中の部分で凹部の加工内壁のテーパー角が変化してしまい、変形の節となってセンサ特性に悪影響を与える可能性がある。
したがって、加工時間が最短となるよう投射型イオンビームと集束イオンビームを併用すると図4に示すようになる。すなわち、まず、加工領域Fにおいて、投射型イオンビームを用いてフィールド5側の壁3eに沿った大面積の領域であるPJIB加工領域3a(ハッチングを付した領域)を加工する。その後、集束イオンビームを用いてバネ3側およびアンカー4側の壁3fに沿った小面積の領域であるFIB加工領域3bを加工する。
この場合、図4のG部に示す集束イオンビームで加工した加工領域Fの角部3dが、集束イオンビームのビームだれにより平面視の形状が円弧状に形成される。さらに、図4に示す形状に加工した場合、図5に示すように、特に加工内壁である壁3fに囲まれた部分(図4に示す角部3d付近)において再付着物20が付着しやすい。
そして、加工内壁である壁3fに再付着物20が付着すると、集束イオンビームによる加工の後工程であるHF(フッ酸)気相エッチングの工程で気相エッチングが進行しない、または気相エッチングが不均一になってしまう。詳細には、図5に示す加工領域Fにおいて、加工内壁である壁3fに再付着物20が付着していると、上記気相エッチングを行った際に、酸化膜(SiO2 膜)4bと、酸化膜4bの上下に配置されたシリコン4aとからなるバネ3やアンカー4の領域において、図6に示すような酸化膜4bのエッチング残り21が発生する。
つまり、角部3dからのエッチングでは、バネ3とアンカー4との接続部分の下部の酸化膜4bの形状を決定するため、角部3dが上記円弧状に形成されたり、再付着物20が付着したりすると、作製されたMEMSセンサのばね長さが設計と異なる値となる。
例えば、図2に示す卍パターンの加速度センサ1において、4本のバネ3の長さが相互に異なる形状となってしまうと、入力加速度0でのマス2の部分の傾きとバネ3の硬さが感度のずれを引き起し、センサ特性に悪影響を与える。
なお、卍パターンなどのMEMSセンサを加工する技術として、投射型イオンビームを用いた加工を行い、さらに集束イオンビームを用いた加工を行って大面積の領域を加工した後に、電流量およびスポットサイズが小さい集束イオンビームにより、凹部のエッジ部分を追加工することが知られている。しかしながら、角部3d付近でのエッジだれの除去や、再付着物20の除去が必要となる領域の大きさは、数μm以上である。
したがって、集束イオンビームを用いた数百nmのスポットサイズの加工では、加工点数が数百に及び、加工時間の増大を招くことを本発明者は見出した。
次に、本実施の形態の特徴について説明する。図7は図1の集束イオンビーム装置を用いた加工手順の一例を示すフロー図、図8は図1の集束イオンビーム装置におけるイオンビームの照射箇所の順番の一例を示す部分平面図、図9は図3のC−C線に沿って切断した図であり、図1の集束イオンビーム装置によって加工された試料の構造の断面図である。
本実施の形態の集束イオンビーム装置の制御方法では、マス2、バネ3およびアンカー4などのデバイス領域の角部(第1の角部)3dを含む加工領域F(図8参照)に対し、まず、大きな面積の領域であるPJIB加工領域(図8のハッチングを付した領域)3aを投射型イオンビームで加工し、その後、小さな面積の領域であるFIB加工領域3bを集束イオンビームで加工する。そして、集束イオンビームで加工した後に、角部3d付近の領域であるPJIB加工領域(図8のハッチングを付した領域であり、FIB加工領域3bより小さな面積の領域)3cを投射型イオンビームによって加工してエッジ(隅部)を整形するとともに、図5に示す再付着物20を除去する。
図7に示すフローを用いて、本実施の形態の集束イオンビーム装置の制御方法を具体的に説明すると、まず、図7のステップS1に示す「加工領域をFIB装置に入力」を行う。すなわち、ステップS1では、イオンビーム装置23に図8に示す加工領域Fを入力する。ここでは、例えば、図2に示す加速度センサ1の図形パターンをイオンビーム装置23に入力する。なお、マス(第3の加工領域、第8の加工領域)2、バネ(第3の加工領域、第8の加工領域)3およびアンカー(第3の加工領域、第8の加工領域)4などの各デバイス領域は、図9に示すように、酸化膜(SiO2 膜)4bと、酸化膜4bの上下に配置されたシリコン4aとからなる。別の表現にすると、マス2、バネ3およびアンカー4などの各デバイス領域は、シリコン4aと、上下がシリコン4aによって挟まれた酸化膜(SiO2 膜)4bと、からなる。
次に、上記ステップS1の後、図7のステップS2に示す「追加工が必要な角部を検出」を行う。ここでは、イオンビーム装置23に入力された加工領域Fに基づいて、図1に示す投射型イオンビーム(第1の投射型イオンビーム)39を用いて加工するPJIB加工領域(他の加工領域、第5の加工領域)3aと、集束イオンビーム36を用いて加工するFIB加工領域(第1の加工領域、第6の加工領域)3bと、を検出する。さらに、投射型イオンビーム(第2の投射型イオンビーム)40を用いて加工するPJIB加工領域(第2の加工領域、第7の加工領域)3cを検出する。
これにより、図8に示すPJIB加工領域3aとFIB加工領域3bとPJIB加工領域3cを検出する。上記3つの加工領域の検出は、イオンビーム装置23によって自動で行う。なお、PJIB加工領域3cが角部3dを含む領域であり、投射型イオンビーム40を用いて追加工を行う領域である。
また、PJIB加工領域3cに含まれる角部3dは、平面視において、90°以下で、かつ0°より大きい角度を成す角部であり、FIB加工領域3bおよびPJIB加工領域3cに隣接するアンカー4やバネ3に繋がる2つの壁3fからなる。角部3dの平面視の角度が90°以下の場合、デバイス領域側の領域が270°以上となって広くなる。この時、バネ3やアンカー4などのデバイス領域側の壁3fに図5に示す再付着物20が付着していると、センサ特性にさらに悪影響を及ぼすことになるため、図9に示すように壁3fに上記再付着物20が付着しないようにすることが重要である。
さらに、角部3dは、PJIB加工領域3aに隣接するフィールド(第4の加工領域、第9の加工領域)5に繋がる2つの壁3eからなる角部(第2の角部)3gは含まない。すなわち、PJIB加工領域3cに含まれる角部3dは、アンカー4やバネ3などのデバイス領域に隣接する壁3fからなる角部のみである。
また、図8に示すように、PJIB加工領域3cは、FIB加工領域3bより面積が小さい。つまり、追加工により加工を行うPJIB加工領域3cの面積は、FIB加工領域3bの面積に比べて小さい。
次に、上記ステップS2の後、図7のステップS3に示す「PJIBによる加工」を行う。ここでは、図1に示すイオンビーム装置23において、投射型イオンビーム(第1の投射型イオンビーム)39を、図8に示す大きな面積の領域であるPJIB加工領域(他の加工領域、第5の加工領域)3aに照射して図1に示す試料11を加工する。PJIB加工領域3aは、デバイス領域ではないフィールド5に隣接する壁3eに沿った領域である。
次に、上記ステップS3の後、図7のステップS4に示す「FIBによる加工」を行う。ここでは、図1に示すイオンビーム装置23において、照射するイオンビームを集束イオンビーム36に切り替え、集束イオンビーム36をFIB加工領域(第1の加工領域、第6の加工領域)3bに照射して試料11を加工する。FIB加工領域3bは、デバイス領域であるバネ3やアンカー4に隣接する壁3fに沿った領域である。ただし、FIB加工領域3bは、加工領域Fにおいて、壁3eにも壁3fにも隣接しない中央部寄りの内方の領域や壁3eに隣接した領域も一部含んでいる。
次に、上記ステップS4の後、図7のステップS5に示す「追加工用PJIBによる角部加工」を行う。ここでは、図1に示すイオンビーム装置23において、照射するイオンビームを投射型イオンビーム(第2の投射型イオンビーム)40に切り替え、投射型イオンビーム40を、図8に示すPJIB加工領域(第2の加工領域、第7の加工領域)3cに照射して試料11を加工する。PJIB加工領域3cは、角部3dを含む領域である。角部3dは、FIB加工領域3bおよびPJIB加工領域3cに隣接するアンカー4やバネ3に繋がる2つの壁3fからなる。
上記ステップS5の角部の加工終了により、ステップS6に示す加工終了となる。
次に、上記ステップS6の加工終了後、試料11をエッチング処理する。すなわち、加工の後工程であるHF(フッ酸)気相エッチング処理を試料11に対して行う。これにより、バネ3とアンカー4との接続部分の下部の図9に示す酸化膜4bを所望の形状に削る。
以上のように、角部3dを含むPJIB加工領域3cを投射型イオンビーム40で追加工したことにより、角部3d付近を整形することができるとともに、図5に示すような壁3fに付着した再付着物20を除去することができ、その結果、再付着物20が付着していな図9に示すような加工内壁である壁3fを有したアンカー4などのデバイス領域を形成することができる。
次に、図10および図11を用いて、イオンビーム装置23で加工を行うPJIB加工領域と、FIB加工領域と、PJIB追加工領域の各領域の加工手順と検出方法を、さらに詳細に説明する。図10は図1の集束イオンビーム装置に入力される加工領域の一例を示す部分平面図、図11は図1の集束イオンビーム装置で検出される追加工領域の一例を示す部分平面図である。
まず、図1に示すイオンビーム装置23における加工の制御方法(加工手順)について説明する。加工したい領域が図10に示すハッチングを付した加工領域Hとすると、最初に、加工領域Hを示す画像ファイル(図形パターン)をイオンビーム装置23に入力する。
次に、プロジェクションマスクで加工する図11に示すPJIB加工領域I、集束イオンビームで加工するFIB加工領域J、プロジェクションマスクで追加工するPJIB加工領域K(図11のハッチングを付した領域)を検出する。
そして、PJIB加工領域I、FIB加工領域J、PJIB加工領域Kの順で加工を行うことにより、所望の加工形状を得ることができる。
次に、プロジェクションマスクおよび集束イオンビームの加工領域の検出方法について説明する。
まず、図11に示す加工パターン(図形パターン)において、加工幅LがL=3μmより小さなプロジェクションマスクで、最も面積が大きなパターンを選択する。例えば、2μm×8μmの長方形パターンIを選択する。
次に、長方形パターンIと同じ短辺の幅が2μmのプロジェクションマスクを抽出する。例えば、2μm×2μmのプロジェクションマスクと、2μm×4μmのプロジェクションマスクの2つを抽出する。
次に、例えば、図10の加工長さMと加工長さNのそれぞれの領域を複数個に分割する場合、例えば、図11に示すように加工長さMの部分を、プロジェクションマスクの使用回数が少なくなるように、フィールド5側に接するように面積の大きなパターン(ここでは長方形パターンI)から順に使用回数を決める。ここでは、8μmの長さの長方形パターンIを3回使用する。
次に、プロジェクションマスクが配置されない領域より小さいプロジェクションマスクで最も面積が大きなパターンを選択する。ここでは、そのようなパターンが存在しないとする。
次に、プロジェクションマスクが配置されない領域は、集束イオンビームで加工する領域とする。その際、使用する集束イオンビームのスポット径は、必要な加工精度を満たすスポット径のうち、パターンなし領域の幅1μm以上で、かつ加工幅が3μm未満から選択する。例えば、集束イオンビームのスポット径を1.5μmとする。
次に、残りの加工領域を、図11に示す加工長さMの領域と、加工長さNの領域のそれぞれにおいて、長方形パターンIの領域と、FIB加工領域Jの領域に分割する。
次に、平面視で、デバイス領域Pに隣接する加工領域の加工内壁同士が成す角が90°以下となる領域を、追加工領域Kとして抽出する。すなわち、角部を含むPJIB加工領域である追加工領域Kを抽出(検出)する。ここで、追加工用として用いられるプロジェクションマスクのサイズは、短辺、長辺ともに、加工に使用した集束イオンビームのスポット径(1.5μm)の半分以上で、かつ加工幅が3μm未満のものを使用する。例えば、使用するプロジェクションマスクの大きさは、2μm×2μmである。
なお、図11に示すパターンにおいて、長さQは、例えば50μm、長さRは、例えば14μm、長さSは、例えば5μmである。
上述のようにしてプロジェクションマスクおよび集束イオンビームの加工領域を検出する。
以上、本実施の形態の集束イオンビーム装置の制御方法によれば、集束イオンビームをFIB加工領域に照射して試料を加工した後、投射型イオンビームを第2の加工領域であるPJIB加工領域(上記追加工領域K)に照射して上記試料を加工することにより、追加工の点数を数点に限ることができる。その結果、加工時間の短縮化を図ることができる。
すなわち、本実施の形態では、追加工として集束イオンビームの加工領域より小さな領域(角部3dを含む領域)にPJIB(投射型イオンビーム)を使用して加工を行う。つまり、追加工用のPJIBとして、数百nm〜数十μmの加工領域を設定することにより、追加工の点数を数点に限ることができ、加工時間の短縮化を図ることができる。なお、バネ部分におけるPJIB加工領域は、バネ部分の全体の長さの数%となるため、バネ部分の途中での凹部の断面形状における加工内壁のテーパー角の変化を略無くすことができる。
また、PJIBによる追加工領域の加工の前に、まず、投射型イオンビームによるフィールド5側の領域の加工を行って、その後、バネ3やアンカー4などのデバイス領域側の領域を集束イオンビームによって加工することで、再付着物20を付着させたくないデバイス領域側の内壁を後に削ることができる。
これにより、デバイス領域側の凹部の内壁に再付着物20が付着することを防止できる。なお、角部3dの平面視の角度が90°以下の場合であっても、追加工として集束イオンビームの加工領域より小さな領域(角部3dを含む領域)にPJIB(投射型イオンビーム)を使用して加工を行うことにより、デバイス領域側の壁3fに再付着物20が付着していないため、センサ特性に悪影響を及ぼすことを抑制することができる。
また、PJIBによる追加工領域の加工の前に、投射型イオンビームによるフィールド5側の領域の加工と、集束イオンビームによるデバイス領域側の領域の加工とを行う際に、集束イオンビームによるデバイス領域側の領域の加工を先に行って、その後、投射型イオンビームによるフィールド5側の領域の加工を行ってもよい。
また、凹部の加工内壁に付着した再付着物20を、PJIB加工による追加工により、確実に除去することができ、設計通りのバネ長さに製造することができ、MEMSセンサの製造の歩留まりを向上させることができる。
さらに、凹部の加工内壁に付着した再付着物20を、PJIB加工による追加工により除去することができるため、凹部加工後の気相エッチングの際に、図6に示すようなエッチング残り21が形成されないため、気相エッチングによる酸化膜4bの除去を均一に行うことができる。
その結果、MEMSセンサの感度などの特性を向上させることができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。
また、ある実施の形態の構成の一部を他の実施の形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施の形態の構成に他の実施の形態の構成を加えることも可能である。また、各実施の形態の構成の一部について、他の構成の追加、削除、置換をすることが可能である。なお、図面に記載した各部材や相対的なサイズは、本発明を分かりやすく説明するため簡素化・理想化しており、実装上はより複雑な形状となる。
上記実施の形態では、PJIBによる追加工領域(角部を含む)の加工の前に、投射型イオンビームによる加工と、集束イオンビームによる加工とを行う場合を説明したが、投射型イオンビームによる加工は、必ずしも実施しなくてもよい。その場合には、まず、集束イオンビームによる加工を行って、その後、PJIBによる追加工領域(角部を含む)の加工を行う。この場合においても、追加工の点数を数点に限ることができ、加工時間の短縮化を図ることができる。
1 加速度センサ
2 マス(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
3 バネ(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
3a PJIB加工領域(他の加工領域、第5の加工領域)
3b FIB加工領域(第1の加工領域、第6の加工領域)
3c PJIB加工領域(第2の加工領域、第7の加工領域)
3d 角部(第1の角部)
3e 壁
3f 壁
3g 角部(第2の角部)
4 アンカー(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
4a シリコン
4b 酸化膜
5 フィールド(第4の加工領域、第9の加工領域)
6a 溝パターン
6b 穴パターン
6c 上部パッド
6d 下部パッド
7 電子銃
8 電子ビーム
9 電子レンズ
10 電子ビーム走査偏向器
11 試料
12 二次粒子検出器
13 ステージ
14 ステージ制御装置
15 プローブ
16 マニピュレータ制御装置
17 ガス源
18 ガス源制御装置
19 二次粒子検出器制御装置
20 再付着物
21 エッチング残り
23 集束イオンビーム装置
31 イオン源
32 コンデンサレンズ
33 アパーチャ
34 イオンビーム走査偏向器
35 対物レンズ
36 集束イオンビーム(FIB)
37 アパーチャ回転機構
38 アパーチャ回転制御機構
39 投射型イオンビーム(第1の投射型イオンビーム、PJIB)
40 投射型イオンビーム(第2の投射型イオンビーム、PJIB)
41 真空容器
42 マニピュレータ
81 イオン源制御装置
82 レンズ制御装置
85 計算処理装置

Claims (14)

  1. (a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の情報に基づいて、集束イオンビームを用いて加工する第1の加工領域と、投射型イオンビームを用いて加工する第2の加工領域と、を検出する工程、
    (b)前記(a)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記集束イオンビームを前記第1の加工領域に照射して試料を加工する工程、
    (c)前記(b)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記投射型イオンビームを前記第2の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
    を有する、集束イオンビーム装置の制御方法。
  2. 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第2の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
    前記第1の角部は、前記第1および第2の加工領域に隣接する第3の加工領域に繋がる2つの壁からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。
  3. 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第2の加工領域は、前記第1の加工領域より面積が小さい、集束イオンビーム装置の制御方法。
  4. 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記(a)工程で、前記投射型イオンビームを用いて加工する他の加工領域を検出し、
    前記(a)工程の後、前記(b)工程の前に、前記投射型イオンビームを前記他の加工領域に照射して前記試料を加工する、集束イオンビーム装置の制御方法。
  5. 請求項4に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第2の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
    前記第1の角部は、前記他の加工領域に隣接する第4の加工領域に繋がる2つの壁からなる第2の角部は含まない、集束イオンビーム装置の制御方法。
  6. 請求項4に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記(a)工程で、前記他の加工領域と前記第1の加工領域と前記第2の加工領域の検出は、前記集束イオンビーム装置によって自動で行う、集束イオンビーム装置の制御方法。
  7. 請求項2に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第3の加工領域は、シリコンと、上下が前記シリコンによって挟まれた酸化膜と、からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。
  8. 請求項7に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記(c)工程の後、前記酸化膜の一部をエッチング処理する、集束イオンビーム装置の制御方法。
  9. (a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の図形パターン情報に基づいて、第1の投射型イオンビームを用いて加工する第5の加工領域と、集束イオンビームを用いて加工する第6の加工領域と、第2の投射型イオンビームを用いて加工する第7の加工領域と、を検出する工程、
    (b)前記(a)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記第1の投射型イオンビームを前記第5の加工領域に照射して試料を加工する工程、
    (c)前記(b)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記集束イオンビームを前記第6の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
    (d)前記(c)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記第2の投射型イオンビームを前記第7の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
    を有する、集束イオンビーム装置の制御方法。
  10. 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第6の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
    前記第1の角部は、前記第6および第7の加工領域に隣接する第8の加工領域に繋がる2つの壁からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。
  11. 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第7の加工領域は、前記第6の加工領域より面積が小さい、集束イオンビーム装置の制御方法。
  12. 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第6の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
    前記第1の角部は、前記第5の加工領域に隣接する第9の加工領域に繋がる2つの壁からなる第2の角部は含まない、集束イオンビーム装置の制御方法。
  13. 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記(a)工程で、前記第5の加工領域と前記第6の加工領域と前記第7の加工領域の検出は、前記集束イオンビーム装置によって自動で行う、集束イオンビーム装置の制御方法。
  14. 請求項10に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
    前記第8の加工領域は、シリコンと、上下が前記シリコンによって挟まれた酸化膜と、からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。
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