JP6722130B2 - 集束イオンビーム装置の制御方法 - Google Patents
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Description
2 マス(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
3 バネ(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
3a PJIB加工領域(他の加工領域、第5の加工領域)
3b FIB加工領域(第1の加工領域、第6の加工領域)
3c PJIB加工領域(第2の加工領域、第7の加工領域)
3d 角部(第1の角部)
3e 壁
3f 壁
3g 角部(第2の角部)
4 アンカー(デバイス領域、第3の加工領域、第8の加工領域)
4a シリコン
4b 酸化膜
5 フィールド(第4の加工領域、第9の加工領域)
6a 溝パターン
6b 穴パターン
6c 上部パッド
6d 下部パッド
7 電子銃
8 電子ビーム
9 電子レンズ
10 電子ビーム走査偏向器
11 試料
12 二次粒子検出器
13 ステージ
14 ステージ制御装置
15 プローブ
16 マニピュレータ制御装置
17 ガス源
18 ガス源制御装置
19 二次粒子検出器制御装置
20 再付着物
21 エッチング残り
23 集束イオンビーム装置
31 イオン源
32 コンデンサレンズ
33 アパーチャ
34 イオンビーム走査偏向器
35 対物レンズ
36 集束イオンビーム(FIB)
37 アパーチャ回転機構
38 アパーチャ回転制御機構
39 投射型イオンビーム(第1の投射型イオンビーム、PJIB)
40 投射型イオンビーム(第2の投射型イオンビーム、PJIB)
41 真空容器
42 マニピュレータ
81 イオン源制御装置
82 レンズ制御装置
85 計算処理装置
Claims (14)
- (a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の情報に基づいて、集束イオンビームを用いて加工する第1の加工領域と、投射型イオンビームを用いて加工する第2の加工領域と、を検出する工程、
(b)前記(a)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記集束イオンビームを前記第1の加工領域に照射して試料を加工する工程、
(c)前記(b)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記投射型イオンビームを前記第2の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
を有する、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第2の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
前記第1の角部は、前記第1および第2の加工領域に隣接する第3の加工領域に繋がる2つの壁からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第2の加工領域は、前記第1の加工領域より面積が小さい、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項1に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記(a)工程で、前記投射型イオンビームを用いて加工する他の加工領域を検出し、
前記(a)工程の後、前記(b)工程の前に、前記投射型イオンビームを前記他の加工領域に照射して前記試料を加工する、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項4に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第2の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
前記第1の角部は、前記他の加工領域に隣接する第4の加工領域に繋がる2つの壁からなる第2の角部は含まない、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項4に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記(a)工程で、前記他の加工領域と前記第1の加工領域と前記第2の加工領域の検出は、前記集束イオンビーム装置によって自動で行う、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項2に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第3の加工領域は、シリコンと、上下が前記シリコンによって挟まれた酸化膜と、からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項7に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記(c)工程の後、前記酸化膜の一部をエッチング処理する、集束イオンビーム装置の制御方法。 - (a)集束イオンビーム装置に入力された加工領域の図形パターン情報に基づいて、第1の投射型イオンビームを用いて加工する第5の加工領域と、集束イオンビームを用いて加工する第6の加工領域と、第2の投射型イオンビームを用いて加工する第7の加工領域と、を検出する工程、
(b)前記(a)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記第1の投射型イオンビームを前記第5の加工領域に照射して試料を加工する工程、
(c)前記(b)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記集束イオンビームを前記第6の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
(d)前記(c)工程の後、前記集束イオンビーム装置において、前記第2の投射型イオンビームを前記第7の加工領域に照射して前記試料を加工する工程、
を有する、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第6の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
前記第1の角部は、前記第6および第7の加工領域に隣接する第8の加工領域に繋がる2つの壁からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第7の加工領域は、前記第6の加工領域より面積が小さい、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第6の加工領域は、平面視で90°以下の角度を成す第1の角部を含み、
前記第1の角部は、前記第5の加工領域に隣接する第9の加工領域に繋がる2つの壁からなる第2の角部は含まない、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項9に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記(a)工程で、前記第5の加工領域と前記第6の加工領域と前記第7の加工領域の検出は、前記集束イオンビーム装置によって自動で行う、集束イオンビーム装置の制御方法。 - 請求項10に記載の集束イオンビーム装置の制御方法において、
前記第8の加工領域は、シリコンと、上下が前記シリコンによって挟まれた酸化膜と、からなる、集束イオンビーム装置の制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2017050827A JP6722130B2 (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 集束イオンビーム装置の制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2017050827A JP6722130B2 (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 集束イオンビーム装置の制御方法 |
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JP2018156756A JP2018156756A (ja) | 2018-10-04 |
JP6722130B2 true JP6722130B2 (ja) | 2020-07-15 |
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Family Applications (1)
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JP2017050827A Active JP6722130B2 (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 集束イオンビーム装置の制御方法 |
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2017
- 2017-03-16 JP JP2017050827A patent/JP6722130B2/ja active Active
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