JP6695383B2 - 精密部品 - Google Patents

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Description

本発明は、精密部品、および精密部品を製造するために使用することができるガラスセラミックに関する。
精密部品とは、その特性(例えば、機械特性、物理特性、光学特性)に関して特に厳格な要件を満たさなければならない部品である。この精密部品は、ことに天文学、LCDリソグラフィーおよびマイクロリソグラフィー、計測学、分光学および測定技術において使用される。この場合、この部品は、特別な用途に応じて、ことに極めて低い熱膨張を有することが必要である。
一般に、材料の熱膨張率の決定は、特定の温度間隔の開始時および終了時に試験体の長さを決定し、この長さの相違から、熱膨張率αまたはCTE(Coefficient of Thermal Expansion)を算出する静的方法により行われる。CTEは、この温度間隔についての平均値として表され、例えば0℃〜50℃の温度間隔について、CTE(0;50)またはα(0;50)として表される。
常に高まりつつある要求を満たすために、それぞれの部品に、より良好に適合させたCTEを有する精密部品が開発された。例えば、CTEを、標準温度間隔CTE(0;50)について最適化するのではなく、例えば実際の適用温度付近の温度間隔について、例えば所定のリソグラフィー用途にとって19℃〜24℃の間隔CTE(19;24)について最適化することができる。多くの精密部品では、適用温度においてさらに低い熱膨張率を保証するために、適切な温度処理によってCTE−T曲線のゼロクロッシングを精密部品の適用温度にシフトすることもできる。わずかな温度変化において精密部品の長さの変化をできる限りわずかなものにするために、CTE−T曲線の勾配も、ゼロクロッシング内ではできる限り低いことが好ましい。
室温付近の温度範囲でゼロ膨張率を有する精密部品のための材料として、セラミック、Tiドープ石英ガラスSiO2およびガラスセラミックが公知である。ガラスセラミックは、ことにリチウム−アルミニウム−ケイ酸塩ガラスセラミック(LASガラスセラミック)であり、これは例えば米国特許第4,851,372号明細書(US 4,851,372)、米国特許第5,591,682号明細書(US 5,591,682)、欧州特許出願公開第587979号明細書(EP 587979)、米国特許第7,226,881号明細書(US 7,226,881)、米国特許第7,645,714号明細書(US 7,645,714)、独国特許出願公開第102004008824号明細書(DE 102004008824 A1)に記載されている。精密部品のための他の材料は、チタンドープ石英ガラスおよびセラミックのコーディエライトである。
先に記載したCTEまたは熱膨張率の最適化は、ガラスセラミックの場合に、原則として、組成が変わらない場合には、セラミック化条件を変更することにより行われる。
精密部品、および精密部品の基礎をなす材料が、この方法を用いて熱膨張率に関して既に最適化された場合であっても、今までは、より大きな温度間隔にわたって、例えば40Kを越える大きな温度間隔にわたって、熱膨張率をゼロ膨張率に、またはゼロ膨張率付近、例えば±0.015ppm/Kに維持すること、つまりいわゆるCTEプラトーを形成することは不可能であった。図1には、この時点で得られる精密部品用の材料のCTE−T曲線が示されている。ガラスセラミックのZerodur(登録商標)(図1中で曲線e)は、この場合に次の値を有する。
公知のZerodur(登録商標)は、本当のプラトーを有していない。このCTE−T曲線の放物線形状によれば、単に、熱膨張率の変化がわずかである狭い範囲が生じているだけにすぎない。
精密部品用の他の材料(図1中で曲線a〜d参照)では、0ppm/K近くの膨張率を示す範囲はさらに狭い。
40〜50℃を越える適用温度に関して、熱膨張率の最適化、つまりCTE−T曲線のゼロクロッシングまたはCTEプラトーも不可能であった。
したがって本発明の課題は、比較的大きな温度間隔にわたり、つまり40℃以上または40K以上の範囲にわたり、CTEプラトー、つまり最適化されたゼロ膨張率を有する精密部品およびこのような精密部品用のための材料を提供することであった。他の課題は、40℃を越える適用温度でも熱膨張が極めてわずかな精密部品を提供することである。
本発明の課題は、特許請求の範囲の主題により解決される。ことに、CTE−T曲線の「プラトー」を有し、かつそれにより40K以上の温度間隔にわたって熱膨張が極めてわずかな精密部品が提供される。
精密部品用の、わずかな線熱膨張率を有する先行技術から公知の材料のCTE−T曲線を示す。 ガラスセラミック組成についての好ましい組成範囲、ならびにこの範囲内の本発明による実施例および比較例の位置を図式的に示す。 本発明による精密部品を製造するために使用することができるガラスセラミックのΔl/l0−T曲線を示し、図4はそれに属するCTE−T曲線を示す。 本発明による精密部品を製造するために使用することができるガラスセラミックの、CTEプラトーを有するCTE−T曲線を示す。 本発明による精密部品を製造するために使用することができるガラスセラミックの、CTEプラトーを有するCTE−T曲線を示す。 本発明による精密部品を製造するために使用することができるガラスセラミックの、CTEプラトーを有するCTE−T曲線を示す。 40℃より高くでCTE−T曲線のゼロクロッシングを有するが、広幅のCTEプラトーを有しないガラスセラミックのCTE−T曲線を示す。 広幅のCTEプラトーを有しないガラスセラミックのCTE−T曲線を示す。
本発明による精密部品は、CTEプラトーを有する。つまり少なくとも40Kもしくは40℃の幅を有する温度間隔TP内で、CTE(T)が0±0.015ppm/Kの範囲内であり、および/または少なくとも50Kの幅を有する温度間隔TP内で0±0.025ppm/K未満である。
他の実施形態の場合に、CTE(T)についての他の、またはより厳格な範囲、例えば0±0.020ppm/K、0±0.010ppm/K、または0±0.005ppm/Kを選択することもできる。本発明によれば、0±0.010ppm/Kまたは0±0.005ppm/Kの場合については、既に少なくとも30K、有利に少なくとも35Kの温度間隔TPである。
温度間隔TPの最大幅を限定することは本発明の場合に望ましくなく、0±0.025ppm/Kの偏差について、100Kまでの幅の、場合により150Kまでの幅の、または200Kまでの幅のプラトーを達成できることが期待される。
CTE−T曲線のプラトーの決定のために、原則としてまず微分CTEもしくはCTE(T)が決定される。このCTE(T)は、温度の関数として決定される。このCTEは、次の式(1)により定義されている:
CTE(T)=(1/l0)×(∂l/∂T) (1)
Δl/l0−T曲線もしくは膨張曲線を記入するため、または温度に対する試験体の長さ変化Δl/l0をプロットするために、開始温度t0での出発長さl0から温度tでの長さltまでの試験体の長さの温度依存性の長さ変化を測定することができる。この場合、有利には、測定点を決定するために、例えば5℃または3℃の小さな温度間隔を選択する。このような測定は、例えば、膨張計測定法、干渉計測定法、例えばファブリ・ペローによる方法、つまり材料内に入射するレーザービームの共鳴ピークのシフトの評価により、または他の適切な方法により実施することができる。Δl/l0−測定点を決定するために選択された方法は、有利に少なくとも±0.10ppm、さらに好ましくは少なくとも±0.05ppm、最も好ましくは少なくとも±0.01ppm、それどころか大抵の実施形態の場合に±0.005ppmの精度を有することが有利である。図3は、本発明による精密部品のΔl/l0−T曲線を示す。
CTE−T曲線はこのΔl/l0−T曲線の誘導により得られる。CTE−T曲線から、ゼロクロッシング、CTE−T曲線の勾配、および温度間隔内の平均熱膨張を決定することができる。
意外にも、CTEプラトーを有する精密部品を製造できることが明らかになった。この場合、CTE−プラトーとは、CTE−T曲線の一部にわたって延びる、CTE(T)が0±0.015ppm/K、さらに好ましくは0±0.010ppm/K、最も好ましくは0±0.005ppm/Kの値を上回らない範囲、つまりCTE(T)がほぼ0ppb/Kである範囲であると解釈される。CTEプラトーの温度間隔をTPで表示する。
温度間隔TPが−10〜+100℃、好ましくは0〜80℃の範囲内である場合が有利であることがある。
CTEプラトーの位置は、有利に精密構成要素の適用温度に合わせられている。好ましい適用温度は、−60℃〜+100℃、より好ましくは−40℃〜+80℃の範囲にある。本発明の特別な変形態様は、22℃、40℃、60℃、80℃、および100℃の適用温度TA用の精密構成要素に関する。CTEプラトー、つまり温度間隔TP内でCTE(T)のわずかな偏差を有する曲線領域は、[−10;100]、[0;80]、[0;30℃]、[10;40℃]、[20;50℃]、[30;60℃]、[40;70℃]および/または[50;80℃]の温度範囲にあってもよい。
本発明の変形態様によると、CTE−T曲線は、30K、有利に40K、より好ましくは50Kの少なくとも1つの幅を有する温度間隔において、さらに、わずかな勾配、ことに最大で±10×10-4ppm/K2、つまり±1ppb/K2、有利に最大で±8×10-4ppm/K2、それどころか特別な変形態様の場合にだけ最大で±5×10-4ppm/K2の勾配を有する少なくとも1つの曲線部分を有する。
別の変形態様の場合に、CTE−T曲線が少なくとも40℃、有利に少なくとも45℃、さらに好ましくは少なくとも50℃、一変形態様の場合に少なくとも60℃の温度で、最大で0±0.020ppm/K、有利に最大で0±0.010ppm/K、さらに最も好ましくは最大で0±0.005ppm/KのCTEの少なくとも1つの値を有する精密部品が提供される。さらに、本発明のこの変形態様の場合に、CTE−T曲線は1つ以上のゼロクロッシングを有していてもよい。
有利に、本発明による精密部品は高いCTE均一性を有する。この場合、CTE均一性の値(英語:「total spatial variation of CTE」)とは、いわゆるピークバレー(peak-to-valley)値、つまり取り出された試料のそれぞれ最大のCTE値と最小のCTE値の間の差であると解釈される。この数値は、本発明の場合にppb/Kで表されていて、この場合1ppb/K=0.001×10-6/Kが当てはまる。CTE均一性は、全体の精密部品にわたり、最大で5ppb/K、有利に最大で4ppb/K、最も好ましくは最大で3ppb/Kである。
精密部品は、有利に、ドープ石英ガラス、ガラスセラミック、およびセラミックからなる、有利にTiドープ石英ガラス、LASガラスセラミック、およびコーディエライトからなる群から選択される無機材料を含む。
一実施形態は、わずかな寸法を有する精密部品、特に(長)方形の場合には辺の長さ(横幅および/または奥行き)が、もしくは丸い平面の場合には直径が、少なくとも100mmおよび/または少なくとも500mm未満であり、かつ/または厚みが50mm未満、有利に10mmおよび/または少なくとも1mm、さらに好ましくは少なくとも2mmである精密部品に関する。このような精密部品は、例えばマイクロリソグラフィーにおいて使用することができる。
しかしながら、極めて大きな精密部品を製造することもできる。したがって、本発明の一実施形態は、大きな体積を有する部品に関する。この大きな体積を有する部品とは、この出願の主旨では、少なくとも500kg、有利に少なくとも1t、さらに好ましくは少なくとも2t、本発明の一変形態様の場合には少なくとも5tの質量を有するか、または(長)方形の場合には少なくとも0.5m、より好ましくは少なくとも1mの辺の長さ(横幅および/または奥行き)を有し、かつ少なくとも50mm、有利に100mmの厚み(高さ)を有するか、もしくは円形の場合には少なくとも0.5m、より好ましくは少なくとも1m、さらに好ましくは少なくとも1.5mの直径を有し、かつ/または少なくとも50mm、有利に100mmの厚み(高さ)を有する部品であると解釈される。本発明の特別な実施形態は、例えば少なくとも3mまたは少なくとも4m以上の直径を有するさらに大きな部品であってもよい。一変形態様の場合に、本発明は、有利に少なくとも1つの表面が、少なくとも1m2、有利に少なくとも1.2m2、さらに最も好ましくは少なくとも1.4m2の面積を有する長方形の部品にも関する。原則として、高さよりも明らかに大きな底面を有する大きな体積の部品が製造される。しかしながら、本発明による方法は、立方体または球に近い形状を有する大きな体積の部品の製造のために適している。このような部品を、体積および質量の他に、形状因子R=h/dによっても記載することができる。この場合、hは部品の高さに対応し、dは直径に対応する。この場合、形状因子R=h/dは、高さh対横方向の拡がりdの比率として定義され、この場合、横方向の拡がりdは、円柱形の場合にはその直径であり、直方体形状の場合にはその対角線である。形状因子が原則として0.1未満である例えばレンズまたは望遠鏡ミラーのようなかなり大きい体積の部品を製造する場合、形状因子が0.1を越える、例えば0.1〜0.3の範囲内にある大きな体積の部品、例えばプリズムが必要とされる。したがって、本発明の別の実施形態は、約0.1から0.3まで、最大で約0.5までであることができる大きな形状因子を有する大きな体積の部品に関する。
本発明による精密部品は極めて有利である、というのも部品を後の適用温度に関して最適化することができるばかりか、例えば比較的高い温度負荷の場合でも、例えばその製造の間にも、同様に低い熱膨張率を有しているためである。マイクロリソグラフィーおよび計測学用の精密部品は、通常では、標準条件で、ことに22℃の室温で使用される。このCTEは、この適用温度に合わせられていてよい。しかしながら、このような部品は、例えば金属層による被覆、清浄化プロセス、構造化プロセスおよび/または露光プロセスのような多様な加工工程に曝され、この場合、クリーンルーム内を支配する、後の使用の場合よりも高い温度が存在することがある。したがって、適用温度だけでなく、場合により製造時のより高い温度でも、CTEプラトーを有し、それにより最適化されたゼロ膨張率を有する本発明による精密部品が極めて好ましい。
精密部品は、例えば光学部品、そのうちでも特にいわゆる直入射ミラー、つまり垂直方向の放射線入射の付近で用いられるミラー、またはいわゆる斜入射ミラー、つまりかすめ方向の放射線入射で用いられるミラーであることができる。このようなミラーは、基材の他に、入射する放射線を反射する被覆を含む。ことに、X線用のミラーの場合に、反射する被覆は、例えば、非斜入射の場合にX線領域で高い反射率を有する多数の層を備えた多層系またはマルチレイヤーである。好ましくは、直入射ミラーのこのような多層系は、Mo/Si、Mo/Biおよび/またはMoRu/Beの材料対の一つの交互層からなる40〜200の積層ペアを含む。
ことに、本発明による光学素子は、X線光学素子であることができ、つまりX線との関連で、ことにX線もしくはEUV線との関連で使用される光学素子、ことにEUV(極端UV)マイクロリソグラフィー用の、特に反射で行われるレチクルマスクまたはフォトマスクであることができる。さらに好ましくは、精密部品はEUVリソグラフィー用のミラーとして使用可能である。
さらに、本発明による精密部品は、天文学用途のための部品、ことにミラーであることができる。この場合、天文学用途のためのこのような部品は、地上でも、宇宙空間でも使用することができる。
本発明による部品は、軽量構造であることができる。本発明による部品は、さらに軽量構造を含むことができる。これは、部品の多くの領域内で軽量化のために中空部が予定されていることを意味する。有利に、部品の重量は、軽量化処理により未処理の部品と比べて少なくとも80%、さらに好ましくは少なくとも90%低減されている。
本発明はさらに、本発明による精密部品の、計測学のため、分光学のため、および天文学において、例えば分割されたもしくは一体式の天体望遠鏡用のミラー支持体として、または例えば宇宙空間支援型の望遠鏡もしくは地上観察用の光学系用の軽量化されたもしくは超軽量のミラー支持体として、精密測定技術用の標準のような精密部材として、例えばリングレーザージャイロスコープ用の機械精密部材として、時計工業用の渦巻きばねとして、LCDリソグラフィーにおいて、例えばミラーおよびプリズムとして、ならびにマイクロリソグラフィーにおいて、例えばマスクホルダー、ウェハテーブルおよび基準プレート、グリッドプレートとしての使用にも関する。
本発明は、さらに本発明による精密部品の製造のために使用することができるガラスセラミックに関する。
ガラスセラミックとは、結晶質相およびガラス質相を有する本発明による無機の無孔性材料であると解釈され、ここで、原則としてマトリックス、つまり連続相はガラス相である。ガラスセラミックを製造するために、まずガラスセラミックの成分を混合し、溶融させ、かつ清澄させ、かついわゆるグリーンガラスをキャスティングする。このグリーンガラスを冷却後に再加熱により制御して結晶化する。グリーンガラスおよびこのグリーンガラスから製造されたガラスセラミックの化学組成(分析)は同じであり、セラミック化によって材料の内部構造が変化するだけである。したがって、以後、ガラスセラミックの組成について言及する場合、この言及は同じようにガラスセラミックの前駆体の対象物、つまりグリーンガラスについても当てはまる。
ガラスセラミックは、少なくともSiO2、Al23、P25、ZnO、MgO、Li2OおよびTiO2の成分を含むLAS(リチウム−アルミニウム−ケイ酸塩)ガラスセラミックである。
ガラスセラミックは、次の組成(酸化物を基準とするMol%で表す)を含む:
意外にも、既に慣用の組成の付近において、既に公知のガラスセラミックと対照的にCTEプラトーを形成することができるLASガラスセラミック用の特別な新規の組成範囲が存在することが明らかになった。
ガラスセラミックは、有利に、少なくとも55Mol%、さらに好ましくは少なくとも60Mol%、より好ましくは少なくとも61Mol%、さらに好ましくは少なくとも61.75Mol%、さらに好ましくは少なくとも62.0Mol%の二酸化ケイ素(SiO2)の割合を含む。SiO2割合は、有利に最大で75Mol%、さらに最も好ましくは最大で70Mol%、さらに好ましくは最大で66.0Mol%である。SiO2のより多い割合の場合には、この混合物は溶融困難であり、この理由からより低い含有率が好ましいことがある。17.0Mol%未満のAl23含有率を有する変形態様の場合、SiO2の上限として、最大で65.5Mol%、有利に65.25Mol%、場合によりそれどころか最大で65.0Mol%の割合が好ましく、および/またはさらに好ましい下限として、少なくとも63.5Mol%、さらに好ましくは少なくとも63.75Mol%、さらに好ましくは少なくとも64.0Mol%が適切であることがある。少なくとも17.0Mol%のAl23含有率を有する変形態様の場合、SiO2についての好ましい下限は、少なくとも62.0Mol%、好ましくは62.0Mol%超であってよい。多くの好ましい変形態様は、少なくとも62.25Mol%を含んでいてもよい。少なくとも17.0Mol%のAl23含有率を有する変形態様の場合、SiO2についての好ましい上限は、65.75Mol%であってよい。
Al23の割合は、有利に少なくとも10Mol%、さらに好ましくは少なくとも15Mol%、より好ましくは少なくとも15.8Mol%、さらに好ましくは少なくとも16.0Mol%、さらに好ましくは少なくとも16.1Mol%、さらに好ましくは16.1Mol%超である。Al23の割合は、有利に最大で25Mol%、より好ましくは最大で20Mol%、さらに好ましくは最大で19.0Mol%である。
本発明の場合に、高温石英混晶を形成する成分であるSiO2対Al23の所定の割合が、CTEプラトーの形成のために有益であることがあることが明らかとなった。好ましい組成範囲は、方程式(モル含有率SiO2−(m×モル含有率Al23))=dにより定義することができ、この場合、mは直線の勾配であり、かつdは定数項を表す。少なくとも17.0Mol%のAl23割合を有する組成に関する変形態様Aの場合に、好ましい範囲の境界は、勾配m1=−4.6および少なくとも142.5および/または有利に最大で149.0の項d1を有する直線により表すことができる。好ましい範囲の境界は、変形態様Bの場合に、勾配m3=−2.0および有利に101.0未満、さらに好ましくは最大で100.5の項d3を有する直線により表すことができる。17.0Mol%未満のAl23割合を有する変形態様Cの場合に、好ましい組成範囲の境界は、勾配m2=2.0および有利に最大で34.0および/または有利に少なくとも30.7の項d2を有する直線により表すことができる。変形態様Cの場合に、d2は最大で32.0であってもよい。
変形態様Aに該当するガラスセラミックは、比較的高い温度でのプラトーが望ましい場合に特に適している。用途に応じて、異なるように形成されたCTEプラトーを有するガラスセラミックが好ましいこともある。
変形態様A〜Cは、それぞれの変形態様の場合に異なるように定義されない限り、SiO2およびAl23についての上述の上限または下限と任意に組合せることができる。
特別な場合に、本発明の第1の変形態様は、17.0Mol%未満のAl23含有率を有するガラスセラミックに関し、この場合、次の条件の1つ以上が満たされている:
− Al23含有率は、有利に少なくとも15.0Mol%、好ましくは少なくとも15.8Mol%、より好ましくは少なくとも16.0Mol%、有利に少なくとも16.1Mol%、好ましくは16.1Mol%超である、および
− SiO2含有率は、有利に少なくとも63.5Mol%、好ましくは少なくとも63.75Mol%、より好ましくは少なくとも64.0Mol%、および/または有利に最大で65.6Mol%、さらに好ましくは最大で65.0Mol%である、および
− 30.7≦(モル含有率SiO2−(2.0×モル含有率Al23))、好ましくは30.9≦(モル含有率SiO2−(2.0×モル含有率Al23))、有利に31.0≦(モル含有率SiO2−(2.0×モル含有率Al23))の条件が当てはまる。
− 好ましくは(モル含有率SiO2−(2.0×モル含有率Al23))≦34.0の条件が当てはまることができる。
本発明の別の変形態様は、Al23≧17.0Mol%を有するガラスセラミックに関し、この場合、次の条件の一つ以上が満たされている:
− Al23含有率は、有利に最大で19.5Mol%、好ましくは最大で19.0Mol%である、および
− SiO2含有率は、有利に少なくとも62.0Mol%、有利に62.0Mol%超、および/または有利に最大で66.0Mol%である、および
− 142.5≦(モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))、好ましくは143.0≦(モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))、143.0<(モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))が当てはまる、および
− 次の、
− (モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))≦149.0、または
− (モル含有率SiO2+(2.0×モル含有率Al23))≦101.0、有利に≦100.5
の条件の一つが当てはまる。
ガラスセラミックは常にP25を含む。ガラスセラミックのリン酸塩P25含有率は、有利に少なくとも1Mol%、さらに好ましくは少なくとも2Mol%、および/または最大で10Mol%、さらに好ましくは最大で8Mol%、一変形態様の場合に最大で5Mol%、さらに好ましくは最大で4Mol%である。
LASガラスセラミックの基本成分であるSiO2およびAl23のMol%で表す合計割合は、有利に少なくとも75Mol%、さらに好ましくは少なくとも78Mol%、および/または有利に最大で85Mol%である。
LASガラスセラミックの基本成分であるSiO2、Al23およびP25のMol%で表す合計割合は、有利に少なくとも70Mol%、好ましくは少なくとも75Mol%、さらに最も好ましくは少なくとも78Mol%、さらに好ましくは少なくとも80Mol%、および/または有利に最大で95Mol%、さらに好ましくは最大で90Mol%、一変形態様の場合には最大で89Mol%である。
ガラスセラミックは、さらに酸化チタン(TiO2)を含む。このガラスセラミックは、TiO2を、有利に少なくとも0.5Mol%、有利に少なくとも1.0Mol%および/または有利に最大で5Mol%、より好ましくは最大で3Mol%、さらに好ましくは最大で2.0Mol%の割合で含む。
このガラスセラミックは、さらに酸化ジルコニウム(ZrO2)を、最大で5Mol%、有利に最大で3Mol%、さらに好ましくは最大で2Mol%の割合で含んでいてよい。有利に、ZrO2は、少なくとも0.1Mol%、より好ましくは少なくとも0.5Mol%、少なくとも0.6Mol%の割合で含まれている。ZrO2不含の変形態様も可能である。
核生成剤であるTiO2およびZrO2の割合の合計は、有利に少なくとも2Mol%、好ましくは2Mol%超、さらに好ましくは少なくとも2.5Mol%、所定の変形態様の場合に少なくとも3.0Mol%である。好ましい上限は、10Mol%、有利に8Mol%、好ましくは5Mol%または4Mol%であってよい。
他の成分として、ガラスセラミックは、酸化リチウム(Li2O)を、有利に少なくとも1Mol%、有利に少なくとも5Mol%、特に好ましくは少なくとも7Mol%の割合で含む。Li2Oの割合は、有利に最大で15Mol%、さらに好ましくは最大で12Mol%、さらに好ましくは最大で10Mol%に制限される。
酸化ナトリウム(Na2O)および/または酸化カリウム(K2O)は、任意でガラスセラミック中に含まれており、つまりNa2O不含および/またはK2O不含の変形態様も可能である。Na2Oおよび/またはK2Oの割合は、それぞれかつ互いに無関係に最大で2Mol%、有利に最大で1Mol%、最も好ましくは最大で0.5Mol%であってよい。Na2OおよびK2Oは、それぞれかつ互いに無関係に、少なくとも0.01Mol%、有利に少なくとも0.02Mol%、さらに好ましくは少なくとも0.05Mol%の割合でガラスセラミック中に含まれていてよい。
ガラスセラミックはさらに酸化マグネシウム(MgO)を含む。このガラスセラミックは、有利にMgOを、有利に少なくとも0.1Mol%、好ましくは少なくとも0.5Mol%、一変形態様の場合に少なくとも1.0Mol%、および/または最大で5Mol%、有利に最大で3Mol%、一変形態様の場合に最大で2Mol%の割合で含む。
他の成分として、ガラスセラミックは酸化ジルコニウム(ZnO)を含む。この成分は、有利に少なくとも0.1Mol%、より好ましくは少なくとも0.5Mol%の割合で、本発明の一変形態様の場合に、少なくとも1.0Mol%の割合で含まれている。ZnOの割合は、有利に、最大で5Mol%、さらに好ましくは最大で4Mol%、一変形態様の場合に最大で3Mol%に制限される。多くの変形態様は、最大で2Mol%のZnOを有していてよい。
MgOおよびZnOの成分のMol%で表す合計割合は、有利に少なくとも1.8Mol%、より好ましくは少なくとも2.0Mol%、および/または有利に最大で10Mol%、より好ましくは最大5Mol%である。
本発明のいくつかの変形態様の場合に、MgOおよびZnOおよびLi2Oの成分のMol%で表す合計割合は、有利に少なくとも10.0Mol%、いくつかの変形態様の場合には好ましくは少なくとも11.0Mol%、より好ましくは少なくとも11.2Mol%、さらに好ましくは少なくとも11.5Mol%である。Al23<17.0Mol%を有するガラスセラミックの場合に、MgOおよびZnOおよびLi2Oの成分のMol%で表す合計割合は、少なくとも10.0Mol%、有利に少なくとも10.4Mol%である場合が好ましいことがある。Al23≧17.0Mol%を有するガラスセラミックの場合に、MgOおよびZnOおよびLi2Oの成分のMol%で表す合計割合は、少なくとも11.0Mol%、有利に11.0Mol%超、好ましくは少なくとも11.2Mol%、さらに好ましくは少なくとも11.5Mol%である場合が好ましいことがある。Al23<17.0Mol%を有するガラスセラミックについても、Al23≧17.0Mol%を有するガラスセラミックについても、25Mol%、有利に20Mol%、好ましくは15Mol%が好ましい上限であってよい。特別な変形態様の場合に、13Mol%が有利な上限であってもよい。
ガラスセラミックは、CaO、BaOおよび/またはSrOのような他のアルカリ土類金属酸化物を含んでいてよい。CaOの割合は、有利に最大で5Mol%、さらに好ましくは最大で3Mol%、より好ましくは最大で2Mol%である。ガラスセラミックは、少なくとも0.1Mol%、有利に少なくとも0.5Mol%のCaOを含んでいてよい。ガラスセラミックは、BaOを、少なくとも0.1Mol%、有利に少なくとも0.5Mol%、および/または最大で5Mol%、有利に最大で3Mol%、より好ましくは最大で2Mol%の割合で含んでいてよい。ガラスセラミックは、SrOを最大で5Mol%、有利に最大で4Mol%、さらに好ましくは最大で3Mol%、および/または有利に少なくとも0.1Mol%の割合で含んでいてよい。個別の実施形態の場合に、ガラスセラミックは、CaO、BaOおよび/またはSrO不含である。
ガラスセラミックは、さらに、As23、Sb23、SnO、SO4 2-、F-、Cl-、Br-、またはこれらの混合物からなる群から選択される1つ以上の通常の清澄剤を、少なくとも0.1Mol%および/または最大で1Mol%の割合で含んでいてよい。
本発明によるガラスセラミックは、高温石英混晶を主結晶相として有する。このガラスセラミックは、通常では主結晶相として、β−ユークリプタイト混晶ともいわれる高温石英含有混晶約50〜80%を含む。この結晶化生成物は、結晶化条件に依存してその組成および/または構造が変化するか、または他の結晶相に移行する準安定相である。高温石英含有混晶は、極めて低い熱膨張率、またはそれどころか温度が上昇すると低下する熱膨張率を有する。
本発明の場合に、「X不含」または「成分Xを有しない」との表現は、ガラスセラミックがこの成分Xを本質的に含まないことを意味し、つまりこのような成分はガラス中に最大で不純物として存在するが、この組成に個別の成分として添加されていないことを意味する。Xは、この場合、任意の成分、例えばSrOを意味する。
本発明の一実施形態の場合に、透明なガラスセラミックが使用される。透明性により、このようなガラスセラミックの多くの特性、特にもちろんその内部品質をより良好に評価することができる。本発明によるガラスセラミックは透明であり、つまり350〜650nmの波長領域で少なくとも70%の純透過率を有する。
本発明の先に挙げられた特徴および次にさらに説明されるべき特徴は、それぞれ示された組合せにおいて使用可能であるだけでなく、本発明の範囲を越えることなしに、他の組合せでも使用可能であることは自明である。
実施例
ガラスセラミックの製造は、例えば国際公開第2015/124710号(WO 2015/124710 A1)に記載されている。表1および2は、本発明によるガラスセラミックおよび比較例の組成、ならびにそれらの特性を示す。
表1:組成、セラミック化および特徴(Mol%)
表2:組成、セラミック化および特徴(Mol%)

Claims (14)

  1. CTE(T)が0ppm/K付近でプラトーを有する、つまり少なくとも40Kの幅を有する温度間隔TPでCTE(T)が0±0.015ppm/K未満である、および/または少なくとも50Kの幅を有する温度間隔TPで、0±0.025ppm/K未満である、精密部品であって、次の組成(酸化物を基準とするMol%で表す):
    を有するガラスセラミックを含み、
    − Al23のモル含有率が17.0Mol%未満である場合に、
    − SiO2 63.5Mol%〜65.6Mol%および
    − 30.7≦(モル含有率SiO2−(2×モル含有率Al23))の条件が当てはまるか;または
    − Al23のモル含有率が17.0Mol%以上である場合に、
    − SiO2 62.0Mol%〜66.0Mol%および
    − 142.5≦(モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))≦149.0の条件が当てはまり、CTE−T曲線は、少なくとも30Kの幅を有する温度間隔T P で、最大で±10×10 -4 ppm/K 2 の勾配を有する、精密部品。
  2. 温度間隔TPは、−10〜+100℃、有利に0〜80℃の範囲内にある、請求項1記載の精密部品。
  3. 少なくとも100mmおよび/または500mm未満の辺の長さもしくは直径を有し、かつ/または50mm未満、有利に10mm未満および/または少なくとも1mm、より好ましくは少なくとも2mmの厚みを有する、請求項1または2記載の精密部品。
  4. 天文学用のミラー、EUVリソグラフィー用ミラー、EUVリソグラフィー用レチクルマスク、マイクロリソグラフィー用の基準系またはグリッドプレート全般、LCDリソグラフィー用のミラーまたはプリズム、および計測学または分光学用の部品からなる群から選択される精密部品である、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品。
  5. ZnOおよびMgOのモル含有率の合計は少なくとも2.0Mol%である、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品。
  6. Al23のモル含有率が17.0Mol%未満である場合に、Al23 ≧15.8Mol%、有利に≧16.0Mol%、好ましくは少なくとも16.1Mol%であることが当てはまる、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品。
  7. ZnO+MgO+Li2Oのモル含有率の合計が少なくとも10.0Mol%、有利に少なくとも11.0Mol%である、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品。
  8. SiO2+Al23+P25のモル含有率の合計が80〜90Mol%である、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品。
  9. 次の組成(酸化物を基準とするMol%で表す):
    を含み、
    − Al23のモル含有率が17.0Mol%未満である場合に、
    − SiO2 63.5Mol%〜65.6Mol%および
    − 30.7≦(モル含有率SiO2−(2×モル含有率Al23))の条件が当てはまるか;または
    − Al23のモル含有率が17.0Mol%以上である場合に、
    − SiO2 62.0Mol%〜66.0Mol%および
    − 142.5≦(モル含有率SiO2+(4.6×モル含有率Al23))≦149.0の条件が当てはまる、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品用のガラスセラミック。
  10. ZnOおよびMgOのモル含有率の合計は少なくとも2.0Mol%である、請求項記載のガラスセラミック。
  11. Al23のモル含有率が17.0Mol%未満である場合に、Al23 ≧15.8Mol%、有利に≧16.0Mol%、好ましくは少なくとも16.1Mol%であることが当てはまる、請求項記載のガラスセラミック。
  12. ZnO+MgO+Li2Oのモル含有率の合計が少なくとも10.0Mol%、有利に少なくとも11.0Mol%である、請求項から11までのいずれか1項記載のガラスセラミック。
  13. SiO2+Al23+P25のモル含有率の合計が80〜90Mol%である、請求項から12までのいずれか1項記載のガラスセラミック。
  14. 天文学における、例えば分割されたもしくは一体式の天体望遠鏡用のミラー支持体として、または例えば宇宙空間支援型の望遠鏡もしくは地上観察用の光学系用の軽量化されたまたは超軽量のミラー支持体として、精密測定技術用の標準のような精密部材として、機械精密部材として、例えばリングレーザージャイロスコープ用の機械精密部材として、時計工業用の渦巻きばねとして、LCDリソグラフィーにおいて、例えばミラーおよびプリズムとして、ならびにマイクロリソグラフィーにおいて、例えばマスクホルダー、ウェハテーブルおよび基準プレートとしての、請求項1からまでのいずれか1項記載の精密部品の使用。
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