JP6692914B2 - 検査装置、検査方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 - Google Patents
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Description
本発明のコンピュータプログラムの第1の例は、コンピュータに上述した本発明の検査方法の第1の例を実行させる。
<1>
本実施形態の検査装置は、複数の層が積層された試料の表面にテラヘルツ波を照射する照射部と、前記試料からの前記テラヘルツ波を検出して検出波形を取得する検出部と、前記複数の層の第1界面よりも前記表面から遠い前記複数の層の第2界面に対応して前記検出波形に現れる第2界面パルス波と、前記試料からの前記テラヘルツ波の推定波形を示すライブラリとに基づいて、前記第1界面の位置を推定する推定部とを備える。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち明瞭度が第1閾値以上となる一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち最も明瞭な一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち異なる相の物質の境界を規定する一の第2界面に対応する一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち前記表面から最も遠い一の第2界面に対応する一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記推定部は、前記第2界面パルス波の前記検出波形と前記推定波形との間での類似度に基づいて、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記推定部は、前記第1界面に対応する第1界面パルス波に基づくことなく、前記第1界面の位置を推定する。
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記推定部は、(i)前記第1界面に対応する第1界面パルス波の明瞭度が第2閾値より大きい場合には、前記第1及び第2界面パルス波並びに前記ライブラリに基づいて、前記第1界面の位置を推定し、(ii)前記第1界面パルス波の明瞭度が前記第2閾値より小さい場合には、前記第2界面パルス波及び前記ライブラリに基づく一方で前記第1界面パルス波に基づくことなく、前記第1界面の位置を推定する。
<9>
本実施形態の検査方法は、複数の層が積層された試料の表面にテラヘルツ波を照射する照射工程と、前記試料からの前記テラヘルツ波を検出して検出波形を取得する検出工程と、前記複数の層の第1界面よりも前記表面から遠い前記複数の層の第2界面に対応して前記検出波形に現れる第2界面パルス波と、前記試料からの前記テラヘルツ波の推定波形を示すライブラリとに基づいて、前記第1界面の位置を推定する推定工程とを備える。
<10>
本実施形態のコンピュータプログラムは、コンピュータに上述した本実施形態の検査方法を実行させる。
本実施形態の記録媒体には、上述した本実施形態のコンピュータプログラムが記録されている。
はじめに、図1から図8(b)を参照しながら、第1実施例のテラヘルツ波検査装置100について説明する。
初めに、図1を参照しながら、第1実施例のテラヘルツ波検査装置100の構成について説明する。図1は、第1実施例のテラヘルツ波検査装置100の構成を示すブロック図である。
続いて、図3を参照しながら、テラヘルツ波検査装置100が行う界面B1及び界面B2の位置を推定する推定動作について説明する。図3は、テラヘルツ波検査装置100が行う界面B1及び界面B2の位置を推定する推定動作の流れの一例を示すフローチャートである。
上述した説明では、テラヘルツ波検査装置100は、3つの層L(つまり、層L1から層L3)が積層された試料Sの特性を推定している。しかしながら、テラヘルツ波検査装置100は、4つ以上の層Lが積層された試料Sの特性を推定してもよい。つまり、テラヘルツ波検査装置100は、試料Sを構成する4つ以上の層Lの界面Bの位置を推定してもよい。
続いて、図9から図14(b)を参照しながら、第2実施例のテラヘルツ波検査装置200について説明する。
初めに、図9を参照しながら、第2実施例のテラヘルツ波検査装置200の構成について説明する。図9は、第2実施例のテラヘルツ波検査装置200の構成を示すブロック図である。尚、上述した第1実施例のテラヘルツ波検査装置100が備える構成要件と同一の構成要件については、同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
続いて、図10を参照しながら、テラヘルツ波検査装置100が行う界面B1及び界面B2の位置を推定する推定動作について説明する。図10は、テラヘルツ波検査装置200が行う界面B1及び界面B2の位置を推定する推定動作の流れの一例を示すフローチャートである。尚、上述した第1実施例のテラヘルツ波検査装置100が行う動作と同一の動作については、同一のステップ番号を付してその詳細な説明を省略する。
上述した説明では、テラヘルツ波検査装置200は、3つの層L(つまり、層L1から層L3)が積層された試料Sの特性を推定している。しかしながら、テラヘルツ波検査装置200は、4つ以上の層Lが積層された試料Sの特性を推定してもよい。つまり、テラヘルツ波検査装置100は、試料Sを構成する4つ以上の層Lの界面Bの位置を推定してもよい。
101 パルスレーザ装置
110 テラヘルツ波発生素子
120 光学遅延機構
130 テラヘルツ波検出素子
141 バイアス電圧生成部
142 I−V変換部
150 制御部
150a CPU
150b メモリ
151 ロックイン検出部
152 信号処理部
1521 明瞭度算出部
1522 ライブラリ構築部
1522a ライブラリ
1523 位置推定部
161 ビームスプリッタ
162、163 反射鏡
164 ハーフミラー
LB1 ポンプ光
LB2 プローブ光
THz テラヘルツ波
S 試料
L、L1、L2、L3、L11、L12、L13、L14 層
B、B1、B2、B11、B12、B13 界面
B0、B10 表面
B3、B14 裏面
DW 検出波形
EW 推定波形
BW 基準波形
PW0、PW1、PW2、PW3 パルス波
a 明瞭度
Claims (11)
- 複数の層が積層された試料の表面にテラヘルツ波を照射する照射部と、
前記試料からの前記テラヘルツ波を検出して検出波形を取得する検出部と、
前記複数の層の第1界面よりも前記表面から遠い前記複数の層の第2界面に対応して前記検出波形に現れる第2界面パルス波と、前記試料からの前記テラヘルツ波の推定波形を示すライブラリとに基づいて、前記第1界面の位置を推定する推定部と
を備え、
前記推定部は、前記第1界面に対応する第1界面パルス波に基づくことなく、前記第1界面の位置を推定する検査装置。 - 前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、
前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち明瞭度が第1閾値以上となる一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する
請求項1に記載の検査装置。 - 前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、
前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち最も明瞭な一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する
請求項1又は2に記載の検査装置。 - 前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、
前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち異なる相の物質の境界を規定する一の第2界面に対応する一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する
請求項1から3のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記試料は、前記第2界面を複数含んでおり、
前記推定部は、前記複数の第2界面に夫々対応して前記検出波形に現れる複数の前記第2界面パルス波のうち前記表面から最も遠い一の第2界面に対応する一の第2界面パルス波に基づいて、前記第1界面の位置を推定する
請求項1から4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記推定部は、前記第2界面パルス波の前記検出波形と前記推定波形との間での類似度に基づいて、前記第1界面の位置を推定する
請求項1から5のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記ライブラリは、前記照射部が前記試料の表面に前記テラヘルツを照射した場合に、前記検出部が検出すると推定される波形であって且つ前記試料の前記第1及び第2回面の複数の候補位置毎に記録された複数の前記推定波形を含む
請求項1から6のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記推定部は、(i)前記第1界面に対応する第1界面パルス波の明瞭度が第2閾値より大きい場合には、前記第1及び第2界面パルス波並びに前記ライブラリに基づいて、前記第1界面の位置を推定し、(ii)前記第1界面パルス波の明瞭度が前記第2閾値より小さい場合には、前記第2界面パルス波及び前記ライブラリに基づく一方で前記第1界面パルス波に基づくことなく、前記第1界面の位置を推定する
請求項1から7のいずれか一項に記載の検査装置。 - 検査方法により実行される検査方法であって、
複数の層が積層された試料の表面にテラヘルツ波を照射する照射工程と、
前記試料からの前記テラヘルツ波を検出して検出波形を取得する検出工程と、
前記複数の層の第1界面よりも前記表面から遠い前記複数の層の第2界面に対応して前記検出波形に現れる第2界面パルス波と、前記試料からの前記テラヘルツ波の推定波形を示すライブラリとに基づいて、前記第1界面の位置を推定する推定工程と
を備え、
前記推定工程は、前記第1界面に対応する第1界面パルス波に基づくことなく、前記第1界面の位置を推定する検査方法。 - コンピュータに請求項9に記載の検査方法を実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項10に記載のコンピュータプログラムが記録された記録媒体。
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