JP6672832B2 - 液晶表示装置および電子機器 - Google Patents

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Description

本開示は、例えばLCOS(Liquid crystal on silicon)等を用いた液晶表示装置および、そのような液晶表示装置を備えた電子機器に関する。
LCOS技術を用いた液晶表示装置では、駆動基板としてのシリコン(Si)チップと対向基板との間に液晶が封止されている。このような液晶表示装置では、均一な厚み(セルギャップ)を確保するために、シリコンチップ表面の平坦性を高めることを目的として、様々な研究開発がなされている(例えば、特許文献1,2)。
特開平8−179377号公報 特開2000−194008号公報
例えば、上記特許文献1では、有効画素領域の周辺領域に、有効画素領域と同様のダミーの画素領域を設けることで、平坦性向上が図られている。また、特許文献2では、液晶を封止するシール下部の領域に、メタルパターンを設け、このメタルパターンの配置密度を制御することで平坦性向上が図られている。
しかしながら、上記のような液晶表示装置では、製造プロセスにおいて対向基板が変形し、基板同士が接触することがある。各基板の表面には、液晶配向のための配向膜が形成されていることから、接触によりこの配向膜が損傷してしまう。この結果、液晶の配向不良を生じ、表示画質が劣化してしまう。
本開示はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、表示画質の劣化を抑制することが可能な液晶表示装置および電子機器を提供することにある。
本開示の液晶表示装置は、シリコン(Si)基板の上に複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、第1基板に対向配置されると共に、複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、第1基板と第2基板との間に封止された液晶層とを備え、第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きく、複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、周辺部において中央部よりも高いものである。

シリコン(Si)基板の上に複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、
前記第1基板に対向配置されると共に、前記複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に封止された液晶層と
を備え、
前記第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きく、
前記複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、前記周辺部において前記中央部よりも高い
液晶表示装置。
本開示の電子機器は、上記本開示の液晶表示装置を備えたものである。
本開示の液晶表示装置および電子機器では、シリコン(Si)基板の上に複数の配線層を含む第1基板の面内の周辺部における厚みが、中央部における厚みよりも大きく、さらに、複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、周辺部において中央部よりも高くなっている。ここで、製造プロセスでは、例えば第1基板と第2基板とを重ね合わせる際の加圧により、あるいは液晶封入の際の負圧により、第2基板が変形する(湾曲する)ことがある。この変形に起因して、第2基板が第1基板へ接触すると、各表面(液晶層側の面)に形成された配向膜が損傷し、液晶の配向不良を生じる。第1基板の厚みが周辺部において中央部よりも大きいことにより、上記のような第2基板の変形による基板同士の接触が抑制される。これにより、配向膜の損傷が抑制され、液晶の配向不良が発生しにくくなる。
本開示の液晶表示装置および電子機器によれば、複数の配線層を含む第1基板の面内の周辺部における厚みが、中央部における厚みよりも大きく、さらに、複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、周辺部において中央部よりも高くなっている。これにより、製造プロセスにおいて第2基板の変形が生じた場合にも、第1基板と第2基板との接触を抑制して、配向膜損傷による液晶の配向不良の発生を抑制することができる。よって、表示画質の劣化を抑制することが可能となる。
尚、上記内容は本開示の一例である。本開示の効果は、上述したものに限らず、他の異なる効果であってもよいし、更に他の効果を含んでいてもよい。
本開示の第1の実施形態に係る液晶表示装置の構成を表す断面模式図である。 図1に示した液晶表示装置の有効画素対向サイズと駆動基板の凹み量との関係を表す図である。 図2Aに示した対向サイズと凹形状について説明するための図である。 図1に示した液晶表示装置の画素回路の構成を表す回路図である。 図1に示した液晶表示装置の画素位置と配線密度との関係を表す図である。 図1に示した液晶表示装置の画素位置と配線密度との関係を表す図である。 図1に示した駆動基板の各配線層の積層順序を表す模式図である。 図1に示した駆動基板の中央部における画素構成を表す平面図である。 図1に示した駆動基板の周辺部における画素構成を表す平面図である。 図1に示した駆動基板の製造方法を説明するための断面図である。 図8の工程に続く工程を表す断面図である。 図9の工程に続く工程を表す断面図である。 図10Aの工程に続く工程を表す断面図である。 図10Bの工程に続く工程を表す断面図である。 変形例1に係る駆動基板の製造方法を説明するための断面図である。 図12の工程に続く工程を表す断面図である。 図13の工程に続く工程を表す断面図である。 変形例2に係る液晶表示装置の構成を表す断面模式図である。 本開示の第2の実施形態に係る液晶表示装置の構成を表す断面模式図である。 図16に示した駆動基板の製造方法を説明するための断面図である。 図17の工程に続く工程を表す断面図である。 図18Aの工程に続く工程を表す断面図である。 図18Bの工程に続く工程を表す断面図である。 図18Cの工程に続く工程を表す断面図である。 適用例1に係る投射型表示装置の全体構成を表す機能ブロック図である。 適用例2に係るデジタル一眼レフカメラの構成を表す正面図である。 適用例2に係るデジタル一眼レフカメラの構成を表す背面図である。 適用例3に係るヘッドマウントディスプレイの構成を表す斜視図である。
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。尚、説明は以下の順序で行う。
1.第1の実施形態(配線密度パターンにより、中央部よりも周辺部において大きい厚みを有する駆動基板を備えた液晶表示装置の例)
2.変形例1(駆動基板の製造方法の他の例)
3.変形例2(他の配線層の配線密度を変化させた場合の例)
4.第2の実施形態(中央部よりも周辺部において大きい厚みを有する駆動基板を備えた他の液晶表示装置の例)
5.適用例1〜3(電子機器の例)
[構成]
図1は、本開示の第1の実施形態に係る液晶表示装置(液晶表示装置1)の構成を表したものである。液晶表示装置1は、例えばLCOS(Liquid crystal on silicon)を用いた反射型表示デバイスである。
液晶表示装置1は、例えば駆動基板10(第1基板)と対向基板20(第2基板)との間に液晶層12が封止されたものである。駆動基板10の一面(液晶層12側の面S1)には、複数の画素電極11a(第1電極)を含む反射電極層11が形成されている。対向基板20の一面(液晶層12側の面)には、反射電極層11に対向して対向電極13a(第2電極)が形成されている。液晶層12の周囲は封止部材14によって封止されている。
この液晶表示装置1は、複数の画素を含む有効画素領域Aを有している。各画素は、例えば液晶素子LC、後述のFET(Field Effect Transistor:電界効果トランジスタ)110および保持容量Cp等含む。液晶素子LCは、画素電極11aと、この画素電極11aの直上に配置された液晶層12および対向電極13aを含むものである。
駆動基板10は、例えばシリコン(Si)からなる基板の上に複数の配線層(ここでは、2つの配線層15a,15b)が設けられたものである。この駆動基板10には、詳細は後述するが、薄膜トランジスタを含む画素回路や各種配線等が多層にわたって形成されている。また、これらの画素回路を構成する各配線層が、層間絶縁膜を介して積層され、駆動基板10の表面は絶縁膜(絶縁膜150)で覆われている。この絶縁膜150は、本開示の「第1絶縁膜」の一具体例に相当する。
この駆動基板10では、面内の周辺部における厚みt2が、中央部における厚みt1よりも大きくなっている。具体的には、駆動基板の面S1は、少なくとも有効画素領域Aに凹形状を有している(有効画素領域Aにおいて凹んでいる)。詳細には、駆動基板10の面S1は、有効画素領域Aにおいて湾曲(または中央部から周辺部に向かって傾斜)しており、これにより駆動基板10では、中央部から周辺部に向かって緩やかに厚みが大きくなっている。反射電極層11は、この面S1上に形成されている。但し、駆動基板10の面S1は、緩やかに湾曲または傾斜する形状に限定されない。面S1は、駆動基板10の周辺部の厚みt2が中央部の厚みt1よりも大きくなるような凹形状を有していればよく、例えば、駆動基板10の厚みが、周辺部から中央部に向かって階段状に変化していてもよい。
図2Aに、有効画素領域Aのサイズ(有効画素対向サイズ)と、面S1の凹み量(任意単位)との関係について示す。ここで、有効画素サイズが大きくなるほど、製造プロセスにおいて液晶層12に注入される液晶の量が多くなる。これにより、液晶層12の膨張力が増し、これに伴って対向基板20の変形量も小さくなる。面S1の凹み量は、この対向基板20の変形量に応じて、即ち有効画素サイズに応じて設定されることが望ましい。一例としては、有効画素対向サイズが0.6型の場合の凹み量(厚みt1,t2の差に対応する量)は1であり、0.3型の場合の凹み量は0.5であることが理想的である。また、面S1の凹形状は、図2Bに示したように、駆動基板10の少なくとも有効画素領域Aにおいて、短辺方向および長辺方向の両方の方向に沿って形成されていることが望ましい。
尚、駆動基板10の面S1と反対側の面は、例えば平坦な面となっている。また、対向基板20は、ここでは、駆動基板10の面S1の形状に倣って全体が湾曲した状態で配置されている。これにより、有効画素領域において、均一なセルギャップが確保される。但し、対向基板20は、平板状であってもよい。また、対向基板20の湾曲形状における凹み量(変形量)は、面S1の凹み量(厚みt1,t2の差に相当する量)と同じであってもよいし、異なっていてもよい。
反射電極層11は、複数の画素電極11aを含む層である。画素電極11aは、画素毎に配置され、例えばアルミニウム(Al)等の高反射率を有する金属を含んで構成されている。画素電極11aの表面には、例えば配向膜11bが形成されている。配向膜11bは、例えば各画素電極11aの上面を覆うと共に、画素電極11a同士の間の領域を埋めるように形成されている。この配向膜11bは、例えば無機配向膜であり、この配向膜11bには、液晶層12の駆動モードに応じた配向処理が施されている。
液晶層12は、画素電極11aおよび対向電極13aを通じて電圧が印加されることで、通過する光の透過率を変化させる液晶を含むものである。液晶層12に用いられる液晶の種類(駆動モード)は、特に限定されないが、例えばVA(Vertical alignment)液晶、またはTN(Twisted Nematic)液晶等が挙げられる。
液晶層12の厚み(セルギャップ)は、例えば1μm以上5μm以下である。この液晶層12は、例えばスペーサを用いずに駆動基板10と対向基板20との間に挟持されている。換言すると、液晶表示装置1では、対向基板20と駆動基板10とがスペーサを介さずに重ね合わせられている。この液晶層12の周囲に形成された封止部材14は、例えば紫外線硬化型の樹脂を含んで構成されている。
対向電極13aは、例えば有効画素領域Aの全域にわたって形成されており、各画素に共通の電極となっている。この対向電極13aは、例えばITO(インジウム錫酸化物)等の透明導電膜から構成されている。この対向電極13aの表面には、例えば配向膜13bが形成されている。配向膜13bは、例えば無機配向膜であり、この配向膜13bには、液晶層12の駆動モードに応じた配向処理が施されている。
対向基板20は、例えばガラス基板を含んで構成されている。この対向基板20には、上記の対向電極13aおよび配向膜13bの他に、カラーフィルタが形成されていてもよい。液晶表示装置1が、単色を表示する場合には、例えば赤(R),緑(G),青(B)のうちのいずれかのカラーフィルタが設けられる。あるいは、3原色を表示する場合には、R,G,Bの各カラーフィルタが所定の配列で設けられる。
(駆動基板10の詳細構成)
図3は、液晶表示装置1の画素回路の構成を表したものである。尚、図3では、4つの画素Pに対応する領域について示している。このように、画素(画素P)は、液晶素子LCと、保持容量Cpと、FET110とを含むものである。各画素Pには、走査線GLと信号線DLとが接続されている。走査線GLは、FET110の例えばゲートに接続されており、図示しない走査線駆動回路から、所定のタイミングでFET110へ走査信号を供給するための配線である。信号線DLは、外部から入力された映像信号に基づく信号を、信号線駆動回路から各画素Pへ供給するための配線である。尚、走査線駆動回路および信号線駆動回路は、有効画素領域Aの周辺領域に形成されるか、または接続されている。この画素回路は、駆動基板10に複数層にわたって形成されている。
本実施の形態では、これらの複数の配線層のうちの1つの配線層(配線層15a)が、所定の配置密度(配線密度)で配置されている。配線層15aは、例えば駆動基板10に形成された複数の配線層のうちの最上層の配線層であり、例えばアルミニウムまたは銅(Cu)等の金属から構成されている。本実施の形態では、配線層15a上に形成された絶縁膜150の厚みが周辺部において中央部よりも大きくなっている。絶縁膜150の表面が例えば面S1を構成し、この面S1に配線層15aの配置パターンに応じた凹形状が形成されている。絶縁膜150は、例えば酸化シリコン(SiO2)を含んで構成されている。
図4Aおよび図4Bに、画素位置と配線密度との関係の一例について示す。このように、周辺部における配置密度が、中央部における配置密度よりも高くなるように設計される。配置密度の変化のパターンとしては、図4Aに示したように緩やかに変化するものであってもよいし、あるいは図4Bに示したように、階段状に変化するものであってもよい。但し、図4Aに示したように、配置密度が緩やかに変化することが望ましい。後述するCMPプロセスにおいて、装置による加工ばらつきの影響を受けにくくなり、緩やかな湾曲形状を形成して、ユニフォーミティを向上できるためである。また、中央部と周辺部との配置密度差d1は、例えば5%以上であることが望ましい。
図5ないし図7に、上記のような配線層15aを有する画素回路の一例について示す。図5は、駆動基板10に配置された各配線層の積層構造を説明するための模式図である。図6は、有効画素領域Aの中央部における画素構成について、図7は、周辺部における画素構成について示している。
図5に示したように、駆動基板10では、シリコン基板の側から順に、例えばFET110の半導体層(Si拡散層111)と、ゲート電極110Gと、走査線GLと、信号線DLとが積層されている。各配線層間は、ビアV1,V2,V3により層間接続されている。この積層構造において、走査線GLと同じ層に、FET110を構成するソース電極110Sとドレイン電極110Dとが配置されている。また、ゲート電極110GおよびSi拡散層111と同じ層に保持容量Cpが形成されている。
配線層15aは、例えばFET110と画素電極11aとの間の層(ここでは、信号線DLと同層)内に配置されると共に、画素電極11aにビアV1を介して電気的に接続されている。この配線層15aでは、図6および図7に示したように、周辺部の配線密度が中央部の配線密度よりも高くなっている。具体的には、周辺部に配置された配線(配線15a2)では、中央部に配置された配線(配線15a1)よりも、配線同士の間隔が小さく、また配線占有面積が大きくなっている。特に図示はしないが、中央部と周辺部との間の領域では、中央部から周辺部に向かって階段状または徐々に配線同士の間隔または占有面積が変化するように設計される。
尚、図6および図7に示したレイアウトは一例であり、配線15a1,15a2を含む各構成要素のレイアウトはこれに限定されるものではない。配線15a1,15a2の各面形状は、図示した矩形状に限らず、他の形状であってもよい。また、配線層15aでは、画素毎に1つの配線(配線15a1,15a2)が配置されているが、画素内に複数の配線が配置されてもよい(ダミーの配線を含んでいてもよい)。
(駆動基板10の製造方法)
上記のような駆動基板10は、例えば次のようにして形成することができる。図8〜図11は、駆動基板10の製造工程を説明するための断面図である。尚、これらの図では、周辺部の2画素に対応する領域と中央部の2画素に対応する領域のみを抜粋して示している。
まず、図8に示したように、例えばシリコンよりなる基板120上の選択的な領域に、各種の薄膜プロセスを用いて、複数のFET110を形成する。
続いて、上述した材料(例えばアルミニウム)からなる配線層15a(配線15a1,15a2)を形成する。具体的には、図9に示したように、FET110を覆って層間絶縁膜121を形成する。この後、例えばスパッタ法を用いてアルミニウムを成膜した後、フォトリソグラフィ法およびエッチングを用いて、周辺部に配線15a2を、中央部に配線15a1をそれぞれ形成する。各配線15a1,15a2は、層間絶縁膜121に形成されたビア122(図5〜図7のビアV2に相当)を介して下層のFET110と電気的に接続される。
次いで、配線15a1,15a2上に、絶縁膜150(絶縁膜123,124)を形成する。具体的には、まず、図10Aに示したように、配線15a1,15a2のそれぞれを覆うように、例えばSiO2からなる絶縁膜123を、例えばHDP(High Density Plasma)技術を用いて所定の厚みで成膜する。これにより、配線15a1,15a2による段差を残しつつ絶縁膜123が形成される。続いて、図10Bに示したように、例えばSiO2からなる絶縁膜124を、例えばプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法により成膜する。これにより、成膜された絶縁膜124では、配線密度の高い周辺部において、配線密度の低い中央部よりも大きな厚みとなる。
この後、絶縁膜124の上から例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学機械研磨)を用いてその表面側を部分的に削る。これにより、図11に示したように、絶縁膜124では、周辺部における厚みt12が中央部における厚みt11よりも大きくなる。これにより、周辺部と中央部とにおいて厚みの異なる絶縁膜150が形成される。即ち、駆動基板10に、凹形状を有する面S1を形成することができる。以上により、駆動基板10を形成することができる。
[効果]
本実施の形態の液晶表示装置1では、画素電極11aおよび対向電極13aを通じて、液晶層12に対して画素毎に映像信号に対応する電圧が印加される。これにより、液晶層12では、画素毎に透過率が変化する。対向基板20の側から入射した光は、反射電極層11において反射された後、液晶層12を透過する際に画素毎に変調され、映像として表示される。
ここで、このような液晶表示装置1では、製造プロセスにおいて、駆動基板10と対向基板20との重ね合わせの際に加圧される。また、これらの駆動基板10と対向基板20との間に液晶を封入して液晶層12を形成する際には負圧となる。これらの圧力下では、対向基板20が変形する(湾曲する)し、この変形によって、対向基板20が駆動基板10へ接触することがある。この結果、駆動基板10および対向基板20の各表面(液晶層12側の面)に形成された配向膜が損傷し、液晶の配向不良を生じる。
この点において、本実施の形態では、駆動基板10の厚みが周辺部において中央部よりも大きいことにより、具体的には、駆動基板10の面S1が凹形状を有していることにより、上記のような対向基板20の変形が生じた場合にも、駆動基板10との接触が抑制される。これにより、配向膜11b,13bの損傷が抑制され、液晶の配向不良が発生しにくくなる。
以上のように本実施の形態では、駆動基板10の面内の周辺部における厚みt2が、中央部における厚みt1よりも大きくなっている。これにより、製造プロセスにおいて対向基板20の変形が生じた場合にも、駆動基板10と対向基板20との接触を抑制して、配向膜損傷による液晶の配向不良の発生を抑制することができる。よって、表示画質の劣化を抑制することが可能となる。
次に、上記第1の実施の形態の変形例および他の実施の形態について説明する。以下では、上記第1の実施の形態と同様の構成要素には同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
<変形例1>
図12〜図14は、変形例1に係る駆動基板の製造方法を説明するための図である。上記第1の実施の形態では、駆動基板10の製造方法において、アルミニウムからなる配線層15aを所定の配線密度で形成した後、その上に成膜した絶縁膜をCMPにより研磨することで、凹形状を形成した。本変形例では、配線層15aが、例えば銅から構成される場合等に、いわゆるダマシンプロセスを用いて凹形状を形成する手法について説明する。
具体的には、まず図12に示したように、絶縁膜125の上面に、中央部と周辺部とにおいて幅の異なる溝H1,H2を形成する。続いて、図13に示したように、これらの溝H1,H2を埋め込むように、銅からなる金属層126を例えばスパッタ法を用いて成膜する。この後、例えばCMPを用いて金属層126の表面側を削る。これにより、図14に示したように、絶縁膜125では、配線層15aが埋め込み形成されると共に、周辺部における厚みt22が中央部における厚みt21よりも大きくなる。この絶縁膜125および配線層15aの上に、絶縁膜150を形成することで、絶縁膜150の表面を凹形状とすることができる。即ち、駆動基板10に、凹形状を有する面S1を形成することができる。
<変形例2>
図15は、変形例2に係る液晶表示装置の構成を表したものである。上記第1の実施の形態では、駆動基板10において配線層15aが最上層に配置される場合について説明したが、この配線層15aは、必ずしも最上層のものでなくともよい。例えば、本変形例では、配線層15aが、駆動基板10に配置された配線層のうち上から2番目の配線層となっている。
本変形例では、配線層15aの配線密度のパターンに応じて、上記第1の実施の形態と同様の手法により、その上に形成される層間絶縁膜151に凹形状が形成される。この層間絶縁膜151の上面に、配線層15cおよび絶縁膜150が順に形成されることで、駆動基板10の面S1に凹形状が形成される。
尚、本変形例では、上から2番目の配線層を配線層15aとして、所定の配線密度で形成するようにしたが、駆動基板10が3層以上の配線層を含む場合には、上から3番目以降のいずれかの配線層が、上記のような配線密度を有していてもよい(上から3番目以降のいずれかの配線層が、配線層15aであってもよい)。また、上記のような配線密度を有する配線層15aが、複数形成されていても構わない。
<第2の実施の形態>
図16は、本開示の第2の実施形態に係る液晶表示装置の構成を表したものである。この液晶表示装置は、上記第1の実施の形態の液晶表示装置1と同様、例えばLCOS(Liquid crystal on silicon)を用いた反射型表示デバイスである。また、駆動基板10と対向基板20との間に液晶層12が封止されたものである。駆動基板10の一面(液晶層12側の面S1)には、複数の画素電極11aを含む反射電極層11が形成されている。対向基板20の一面(液晶層12側の面)には、反射電極層11に対向して対向電極13aが形成されている。液晶層12の周囲は封止部材14によって封止されている。
また、駆動基板10では、例えばシリコンからなる基板の上に複数の配線層(配線層21)が設けられている。配線層21には、薄膜トランジスタを含む画素回路や各種配線等が、層間絶縁膜を介して積層されている。この配線層21上に、絶縁膜127が形成されている。換言すると、駆動基板10の表面側は絶縁膜127で覆われている。この絶縁膜127が、本開示の「第2絶縁膜」の一具体例に相当する。
この駆動基板10では、上記第1の実施の形態と同様、面内の例えば有効画素領域Aの周辺部における厚みt2が、中央部における厚みt1よりも大きくなっている。詳細には、駆動基板10の面S1(絶縁膜127の表面)は、有効画素領域Aにおいて凹形状を有し、これにより駆動基板10では、中央部から周辺部に向かって緩やかに厚みが大きくなっている。反射電極層11は、この面S1上に形成されている。
但し、本実施の形態では、配線層21にダミー配線等が配置されることにより、その上に層間絶縁膜が平坦に形成されるように設計されている。即ち、第1の実施の形態と異なり、配線層21における面内の配線密度の偏りを抑制して、層間絶縁膜ができるだけ平坦な表面形状を成すように形成されている。そして、駆動基板10の表面側に成膜される絶縁膜127の表面が凹形状となるように加工することにより上記第1の実施の形態と同様の面S1を有する駆動基板10を形成することができる。
具体的には、次のようにして、駆動基板10を形成する。即ち、まず、図17に示したように、配線層21の配線密度等のレイアウトを適切に設計することにより、この上に表面が平坦な(平坦な面S110を有する)絶縁膜127aを成膜する。
続いて、図18Aに示したように、絶縁膜127aの面S110上に、所定のパターンを有するフォトレジスト膜128を形成する。このフォトレジスト膜128では、中央部と周辺部とにおいて開口h3の配置密度が異なっている。具体的には、周辺部から中央部に向かって徐々に、開口h3の配置密度が小さくなっている。このようなパターンを有するフォトレジスト膜128をマスクとして、図18Bに示したように、例えばドライエッチングを施し、絶縁膜127aの表面の選択的な領域を除去する。この後、フォトレジスト膜128を除去することにより、図18Cに示したように、絶縁膜127aの表面には、フォトレジスト膜128の開口h3と同様の配置密度を有する凹部パターン127pが形成される。
この後、例えばCMPにより凹部パターン127pが形成された絶縁膜127aの面S110を削ることにより、図19に示したように、凹形状を有する面S1が形成される。
本実施の形態においても、上記第1の実施の形態と同様、駆動基板10の面内の周辺部における厚みt2が、中央部における厚みt1よりも大きくなっている。これにより、製造プロセスにおいて対向基板20の変形が生じた場合にも、駆動基板10と対向基板20との接触を抑制して、配向膜損傷による液晶の配向不良の発生を抑制することができる。よって、上記第1の実施の形態と同等の効果を得ることができる。
次に、上記実施の形態および変形例に係る液晶表示装置の適用例について説明する。上記実施の形態等の液晶表示装置は、様々な電子機器に適用することができる。例えば、以下に説明するような、プロジェクタ(投射型表示装置)、カメラのビューファインダーおよびヘッドマウントディスプレイ等に搭載される。
<適用例1>
図20は、適用例1に係る投射型表示装置(投射型表示装置2)の全体構成を表す機能ブロック図である。この投射型表示装置2は、例えばスクリーン200(投射面)に画像を投射する表示装置である。投射型表示装置2は、例えば、図示しないPC等のコンピュータや各種画像プレーヤ等の外部の画像供給装置に、I/F(インターフェイス)を介して接続されており、このインターフェイスに入力される画像信号に基づいて、スクリーン200への投影を行うものである。
投射型表示装置2は、例えば、光源駆動部31と、光源装置32と、光変調装置1Aと、投影光学系33と、画像処理部34と、フレームメモリ35と、パネル駆動部36と、投影光学系駆動部37と、制御部30とを備えている。
光源駆動部31は、光源装置32に配置された光源の発光タイミングを制御するためのパルス信号を出力するものである。この光源駆動部31は、例えば図示しないPWM設定部、PWM信号生成部およびリミッター等を備えており、制御部30の制御に基づいて、液晶表示装置1の光源ドライバーを制御し、光源をPWM制御することにより、光源の点灯および消灯、あるいは輝度の調整を行うものである。
光源装置32は、例えば光源と、光源を駆動する光源ドライバーと、光源を駆動する際の電流値を設定する電流値設定部とを備えている。光源ドライバーは、図示しない電源回路から供給される電源に基づき、光源駆動部31から入力されるパルス信号に同期して、電流値設定部が設定した電流値をもつパルス電流を生成する。生成されたパルス電流は、光源に供給される。
光変調装置1Aは、画像信号に基づき、光源装置32から出力された光(照明光)を変調して画像光を生成するものであり、1または複数の反射型液晶デバイスを含んで構成されている。この光変調装置1Aに、上記実施の形態等の液晶表示装置が適用される。光変調装置1Aは、例えば、青色光を変調する液晶パネル、赤色光を変調する液晶パネル、および緑色光を変調する液晶パネルを含む。この光変調装置1Aにより変調されたRGBの各色光は、クロスダイクロイックプリズム等により合成されて、投影光学系33に導かれる。



投影光学系33は、光変調装置1Aで変調された光をスクリーン200上に投射して結像させるためのレンズ群等を含むものである。
画像処理部34は、外部から入力された画像信号を取得して、画像サイズの判別、解像度の判別、および静止画像であるか動画像であるかの判別等を行うものである。動画像である場合には、フレームレート等の画像データの属性などについても判定する。また、取得した画像信号の解像度が、光変調装置1Aの各液晶パネルの表示解像度と異なる場合には、解像度変換処理を行う。画像処理部34は、これらの各処理後の画像を、フレーム毎にフレームメモリ35に展開すると共に、フレームメモリ35に展開したフレーム毎の画像を表示信号としてパネル駆動部36に出力する。
パネル駆動部36は、光変調装置1Aの各液晶パネルを駆動するものである。このパネル駆動部36の駆動により、各液晶パネルに配置された各画素における光の透過率が変化し、画像が形成される。
投影光学系駆動部37は、投影光学系33に配置されたレンズを駆動するモータを含んで構成されている。この投影光学系駆動部37は、制御部30の制御に従って、例えば投影光学系33を駆動し、例えばズーム調整、フォーカス調整および絞り調整等を行うものである。
制御部30は、光源駆動部31、画像処理部34、パネル駆動部36および投影光学系駆動部37を制御するものである。
<適用例2>
図21Aおよび図21Bは、デジタル一眼レフカメラ410の外観を表したものである。このデジタル一眼レフカメラ410は、例えば本体部411,レンズ412,グリップ413,表示部414およびビューファインダー415などを有している。表示部414またはビューファインダー415に、上記実施の形態等の液晶表示装置が搭載されている。
<適用例3>
図22は、ヘッドマウントディスプレイ420の外観を表したものである。ヘッドマウントディスプレイ420は、例えば眼鏡型の表示部421および支持部422を有している。表示部421に、上記実施の形態等の液晶表示装置が搭載されている。
以上、実施の形態および変形例を挙げて説明したが、本開示は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々変形が可能である。例えば、上記実施の形態等において例示した液晶表示装置の構成要素の位置、形状および数等は、あくまでも一例であり、全ての構成要素を備える必要はなく、また、他の構成要素を更に備えていてもよい。
また、本開示は以下のような構成を取り得るものである。
(1)
複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、
前記第1基板に対向配置されると共に、前記複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に封止された液晶層と
を備え、
前記第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きい
液晶表示装置。
(2)
前記第1基板の前記液晶層側の面は凹形状を有する
上記(1)に記載の液晶表示装置。
(3)
複数の画素を含み、
前記凹形状は、有効画素領域に形成されている
上記(2)に記載の液晶表示装置。
(4)
前記凹形状は、前記周辺部から中央部に向かって緩やかに湾曲した形状である
上記(2)に記載の液晶表示装置。
(5)
前記複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、前記周辺部において前記中央部よりも高い
上記(1)〜(4)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(6)
前記第1配線層は、前記複数の配線層のうちの最上層の配線層である
上記(5)に記載の液晶表示装置。
(7)
前記複数の配線層には、前記第1電極毎に薄膜トランジスタが形成され、
前記第1配線層は、前記薄膜トランジスタと前記第1電極との間の層に配置されている
上記(5)または(6)に記載の液晶表示装置。
(8)
前記第1基板は、前記第1配線層上に第1絶縁膜を有し、
前記第1絶縁膜の厚みは、前記周辺部において前記中央部よりも大きい
上記(5)〜(7)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(9)
前記第1配線層の配置密度は、前記中央部から前記周辺部に向かって階段状にまたは緩やかに変化する
上記(5)〜(8)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(10)
前記第1配線層では、前記周辺部において前記中央部よりも配線同士の間隔が小さい
上記(5)〜(9)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(11)
前記第1配線層では、前記周辺部において前記中央部よりも配線面積占有率が高い
上記(5)〜(10)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(12)
前記1または複数の配線層の上に第2絶縁膜を有し、
前記第2絶縁膜の厚みは、前記周辺部において前記中央部よりも大きい
上記(1)〜(11)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(13)
前記第1電極は反射電極であり、
前記第2電極は透明電極である
上記(1)〜(12)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(14)
前記第1基板はシリコン(Si)基板を含み、
前記第2基板はガラス基板を含む
上記(1)〜(13)のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
(15)
複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、
前記第1基板に対向配置されると共に、前記複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に封止された液晶層と
を備え、
前記第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きい
液晶表示装置を有する電子機器。
1…液晶表示装置、10…駆動基板、11…反射電極層、11a…画素電極、11b,13b…配向膜、12…液晶層、13a…対向電極、14…封止部材、15a,15b,15c,21…配線層、15a1,15a2…配線、20…対向基板、110…FET、150…絶縁膜、1A…光変調装置、2…投射型表示装置、A…有効画素領域、S1…面、t1,t2,t11,t12,t21,t22…厚み。

Claims (14)

  1. シリコン(Si)基板の上に複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、
    前記第1基板に対向配置されると共に、前記複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、
    前記第1基板と前記第2基板との間に封止された液晶層と
    を備え、
    前記第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きく、
    前記複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、前記周辺部において前記中央部よりも高い
    液晶表示装置。
  2. 前記第1基板の前記液晶層側の面は凹形状を有する
    請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 複数の画素を含み、
    前記凹形状は、有効画素領域に形成されている
    請求項2に記載の液晶表示装置。
  4. 前記凹形状は、前記周辺部から前記中央部に向かって緩やかに湾曲した形状である
    請求項2に記載の液晶表示装置。
  5. 前記第1配線層は、前記複数の配線層のうちの最上層の配線層である
    請求項1〜4のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  6. 前記複数の配線層には、前記第1電極毎に電界効果型トランジスタが形成され、
    前記第1配線層は、前記電界効果型トランジスタと前記第1電極との間の層に配置されている
    請求項1〜5のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  7. 前記第1基板は、前記第1配線層上に第1絶縁膜を有し、
    前記第1絶縁膜の厚みは、前記周辺部において前記中央部よりも大きい
    請求項1〜6のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  8. 前記第1配線層の配置密度は、前記中央部から前記周辺部に向かって階段状にまたは緩やかに変化する
    請求項1〜7のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  9. 前記第1配線層では、前記周辺部において前記中央部よりも配線同士の間隔が小さい
    請求項1〜8のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  10. 前記第1配線層では、前記周辺部において前記中央部よりも配線面積占有率が高い
    請求項1〜9のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  11. 前記複数の配線層の上に第2絶縁膜を有し、
    前記第2絶縁膜の厚みは、前記周辺部において前記中央部よりも大きい
    請求項1〜10のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  12. 前記第1電極は反射電極であり、
    前記第2電極は透明電極である
    請求項1〜11のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  13. 記第2基板はガラス基板を含む
    請求項1〜12のいずれか1つに記載の液晶表示装置。
  14. シリコン(Si)基板の上に複数の配線層を含むと共に、一方の面に複数の第1電極を有する第1基板と、
    前記第1基板に対向配置されると共に、前記複数の第1電極に対向して第2電極を有する第2基板と、
    前記第1基板と前記第2基板との間に封止された液晶層と
    を備え、
    前記第1基板の面内の周辺部における厚みは、中央部における厚みよりも大きく、
    前記複数の配線層のうちの第1配線層の配置密度は、前記周辺部において前記中央部よりも高い
    液晶表示装置を有する電子機器。
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