JP6669874B2 - 欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置10を示すブロック図である。
次に、本発明の第2の実施形態に関して説明する。本実施形態では、被検査体OBJの局所領域毎の厚さが算出され、その算出された局所領域毎の厚さに応じた画像処理パラメータが決定される。
次に欠陥検査装置10の第3の実施形態に関して説明をする。
12 制御部
14 操作部
16 I/F
18 表示部
20 バッファメモリ
22 処理部
24 記憶部
50 入力画面
100 撮影システム
102 撮影制御部
104 撮影操作部
106 画像記録部
108 カメラ
110 放射線源
112 放射線源
114 撮影室
200 製品データベース
220 パラメータ決定部
222 欠陥候補抽出部
224 厚さ算出部
226 深さ算出部
ステップS10〜ステップS17 欠陥検査方法の工程
ステップS20〜ステップS25 画像処理パラメータの算出工程
ステップS30〜ステップS35 画像処理パラメータの算出工程
Claims (15)
- 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得部と、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力部と、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得部と、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶部と、
前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、前記入力部で受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定部と、
前記パラメータ決定部で決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理部と、
前記画像取得部で取得された前記受光画像、前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出部と、
を備え、
前記パラメータ決定部は、前記厚さ算出部で算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さに対応する前記画像処理パラメータを決定する、欠陥検査装置。 - 前記パラメータ決定部は、前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、前記入力部で受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて前記被検査体の厚さに対応する濃淡条件を算出し、前記算出された前記濃淡条件と前記画像取得部で取得された前記受光画像とに基づいて前記受光画像のノイズレベルを算出することにより、前記画像処理パラメータを決定する請求項1に記載の欠陥検査装置。
- 前記画像取得部は、前記被検査体の複数の前記受光画像を取得し、
前記露光条件取得部は、複数の前記受光画像の各々の露光条件を取得し、
前記パラメータ決定部は、複数の前記受光画像の各々の前記濃淡条件を算出し、前記算出された複数の前記受光画像の前記濃淡条件と前記画像取得部で取得された複数の前記受光画像とに基づいて前記ノイズレベルを算出することにより、前記画像処理パラメータを決定する請求項2に記載の欠陥検査装置。 - 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得部と、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力部と、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得部と、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶部と、
前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、前記入力部で受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定部と、
前記パラメータ決定部で決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理部と、
前記画像取得部で取得された前記受光画像、前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出部と、
を備え、
前記記憶部は、前記被検査体の厚さに応じたノイズレベルを更に記憶し、
前記パラメータ決定部は、前記厚さ算出部で算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さと前記記憶部に記憶された前記ノイズレベルとから前記被検査体の局所領域毎の前記画像処理パラメータを決定する、欠陥検査装置。 - 前記記憶部は、複数の前記露光情報を記憶する請求項1から4のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 前記記憶部は、露光線図に基づく前記露光情報を記憶する請求項1から5のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 前記画像取得部で取得された前記受光画像、前記露光条件取得部で取得された前記露光条件、および前記記憶部で記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の表面から前記欠陥候補の位置までの深さを算出する深さ算出部を更に備える請求項1から6のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 前記材質に関する物理的特徴は、前記被検査体の密度および原子番号のうち少なくとも一つを含む請求項1から7のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 前記照射条件は、前記放射線の照射強度および照射時間のうち少なくとも一方である請求項1から8のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 前記入力部は、前記物理的特徴として前記被検査体の厚さの入力を受け付け、
前記露光条件取得部は、前記被検査体の前記物理的特徴である前記厚さ、前記材質、および前記記憶部に記憶された露光情報に基づいて適正露光条件を算出することにより前記露光条件を取得する請求項1から9のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。 - 前記露光条件取得部は、前記画像取得部で取得された前記受光画像が作成されたときの放射線源の状態に関する情報を取得し、前記放射線源の状態に関する情報に基づいて、前記露光条件を算出する請求項1から10のいずれか1項に記載の欠陥検査装置。
- 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得ステップと、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力ステップと、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得ステップと、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶ステップと、
前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、前記入力ステップで受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定ステップと、
前記パラメータ決定ステップで決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理ステップと、
前記画像取得ステップで取得された前記受光画像、前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出ステップと、
を含み、
前記パラメータ決定ステップは、前記厚さ算出ステップで算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さに対応する前記画像処理パラメータを決定することを含む、欠陥検査方法。 - 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得ステップと、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力ステップと、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得ステップと、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶ステップと、
前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、前記入力ステップで受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定ステップと、
前記パラメータ決定ステップで決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理ステップと、
前記画像取得ステップで取得された前記受光画像、前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出ステップと、
を含み、
前記記憶ステップは、前記被検査体の厚さに応じたノイズレベルを更に記憶することを含み、
前記パラメータ決定ステップは、前記厚さ算出ステップで算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さと前記記憶ステップで記憶された前記ノイズレベルとから前記被検査体の局所領域毎の前記画像処理パラメータを決定することを含む、欠陥検査方法。 - 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得ステップと、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力ステップと、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得ステップと、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶ステップと、
前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、前記入力ステップで受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定ステップと、
前記パラメータ決定ステップで決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理ステップと、
前記画像取得ステップで取得された前記受光画像、前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出ステップと、
を含み、
前記パラメータ決定ステップは、前記厚さ算出ステップで算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さに対応する前記画像処理パラメータを決定することを含む、処理をコンピュータに実行させる欠陥検査プログラム。 - 被検査体に放射線を照射することにより得られた前記被検査体の透過光または反射光に基づいて作成された受光画像を取得する画像取得ステップと、
前記被検査体の少なくとも材質を含む物理的特徴の入力を受け付ける入力ステップと、
前記放射線の露光条件を取得する露光条件取得ステップと、
前記物理的特徴、前記放射線の照射条件、および前記受光画像の濃淡の関係である露光情報を記憶する記憶ステップと、
前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、前記入力ステップで受け付けられた前記物理的特徴、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記受光画像に対する画像処理パラメータを決定するパラメータ決定ステップと、
前記パラメータ決定ステップで決定された前記画像処理パラメータに基づいて、前記受光画像の画像処理を行うことにより、前記受光画像から前記被検査体の欠陥候補に対応する画像である欠陥候補画像を抽出する画像処理ステップと、
前記画像取得ステップで取得された前記受光画像、前記露光条件取得ステップで取得された前記露光条件、および前記記憶ステップで記憶された前記露光情報に基づいて、前記被検査体の局所領域毎の厚さを算出する厚さ算出ステップと、
を含み、
前記記憶ステップは、前記被検査体の厚さに応じたノイズレベルを更に記憶することを含み、
前記パラメータ決定ステップは、前記厚さ算出ステップで算出された前記被検査体の局所領域毎の前記厚さと前記記憶ステップで記憶された前記ノイズレベルとから前記被検査体の局所領域毎の前記画像処理パラメータを決定することを含む、処理をコンピュータに実行させる欠陥検査プログラム。
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