JP6665041B2 - Cutting equipment - Google Patents

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Description

本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を切削するための切削装置に関する。   The present invention relates to a cutting device for cutting a workpiece such as a semiconductor wafer.

半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列された分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体デバイスに分割し、分割された半導体デバイスは、携帯電話、パソコン等の電気機器に利用される。   In a semiconductor device manufacturing process, a plurality of regions are divided by scheduled dividing lines arranged in a grid on the surface of a semiconductor wafer having a substantially disc shape, and devices such as ICs and LSIs are formed in the divided regions. . Then, the semiconductor wafer is cut along the planned dividing line to divide the region in which the device is formed and is divided into individual semiconductor devices, and the divided semiconductor devices are used for electric devices such as mobile phones and personal computers. Is done.

半導体ウエーハ等の被加工物を分割予定ラインに沿って切断する切削装置は、複数の被加工物を収容したカセットが載置されるカセット載置手段と、該カセット載置手段に載置されたカセットから被加工物を搬出および搬入する搬出・搬入手段と、該搬出・搬入手段によって搬出された被加工物を仮置きする仮置手段と、該仮置手段に仮置された被加工物を保持する保持テーブルと、該保持テーブルに保持された被加工物を切削する切削手段と、該保持テーブルを加工送り方向(X軸方向)に加工送りする加工送り手段と、を備えている。そして、切削手段として第1の切削ブレードを回転可能に備えた第1の切削ブレードを回転可能に備えた第2の切削手段を備えることにより、半導体ウエーハ等の被加工物を分割予定ラインに沿って効率よく切断して個々のデバイスに分割することができる(例えば、特許文献1を参照。)。   A cutting device that cuts a workpiece such as a semiconductor wafer along a line to be divided includes a cassette mounting unit on which a cassette containing a plurality of workpieces is mounted, and a cutting device mounted on the cassette mounting unit. Unloading and loading means for unloading and loading the workpiece from the cassette, temporary placement means for temporarily placing the workpiece unloaded by the loading and unloading means, and the workpiece temporarily placed on the temporary placement means. A holding table for holding, a cutting means for cutting a workpiece held by the holding table, and a processing feed means for processing and feeding the holding table in a processing feed direction (X-axis direction) are provided. And, by providing the second cutting means rotatably provided with the first cutting blade rotatably provided with the first cutting blade rotatably as a cutting means, the workpiece such as a semiconductor wafer along the scheduled dividing line And can be efficiently cut and divided into individual devices (for example, see Patent Document 1).

特開平11−026402号公報JP-A-11-026402

ところで、上述した切削装置には、特に被加工物を搬送するための機構が複数必要で装置全体の構成が複雑になり大型化すると共に、部品点数も多くなり製造コストが高くなるという問題がある。   By the way, the above-mentioned cutting apparatus has a problem that a plurality of mechanisms for transporting a workpiece are particularly necessary, which complicates and increases the configuration of the entire apparatus, increases the number of parts, and increases the manufacturing cost. .

本発明は、上記事実に鑑みなされたものであり、その主たる技術課題は、装置全体の構成を単純にして小型化すると共に、部品点数を少なくして製造コストを低減することができる切削装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above facts, and a main technical problem of the present invention is to provide a cutting device capable of reducing the manufacturing cost by reducing the number of parts and simplifying the configuration of the entire device. To provide.

上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を切削する切削装置であって、複数の被加工物を収容したカセットが載置されるカセット載置手段と、該カセットから被加工物を搬出および搬入する搬出入手段と、該搬出入手段によって搬出された被加工物を仮置きする仮置手段と、該仮置手段から移送された被加工物を保持する保持手段と、該保持手段に保持された被加工物を切削する切削手段と、該保持手段をX軸方向に加工送りする加工送り手段と、を少なくとも含み、該加工送り手段は、該保持手段をX軸方向に移動可能に支持するX軸ガイドレールと、該X軸ガイドレールに沿って保持手段を移動するX軸駆動部と、を備え、該カセット載置手段と該仮置手段とはY軸方向に配設され、該搬出入手段は、カセット内に収容された被加工物を把持する把持部と被加工物を所定の位置に規制する一対の規制部材と、該把持部と該規制部材が配設される支持基台と該支持基台をY軸方向に移動する移動部と、を備え、該仮置手段は、Y軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し、該底部が開閉可能に構成された一対の第1の支持レールと、該第1の支持レールの直下に配設されY軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第2の支持レールと、該第1の支持レールと該第2の支持レールとを上昇および下降する昇降部と、を備え、該X軸ガイドレールは、該仮置手段の直下から少なくとも該切削手段の下方領域に至り配設されており、該第1の支持レールと該第2の支持レールとの直下に該保持手段を位置付けすると共に、該搬出入手段によって該カセットから被加工物を搬出して該仮置手段を構成する該第1の支持レールに仮置きし、該第1の支持レールが該第2の支持レールと共に下降して該第1の支持レールの該底部を開にして被加工物を該保持手段上に保持する切削装置が提供される。   In order to solve the main technical problem, according to the present invention, there is provided a cutting device for cutting a workpiece, comprising: a cassette mounting unit on which a cassette containing a plurality of workpieces is mounted; Carrying-in / out means for carrying out and carrying-in the workpiece, temporary placing means for temporarily placing the workpiece carried out by the carrying-in / out means, and holding means for holding the workpiece transferred from the temporary placing means , A cutting means for cutting the workpiece held by the holding means, and a processing feed means for processing and feeding the holding means in the X-axis direction, wherein the processing feed means comprises: An X-axis guide rail movably supporting the cassette mounting means and an X-axis drive unit for moving the holding means along the X-axis guide rail, wherein the cassette mounting means and the temporary mounting means are in the Y-axis direction. And the carrying-in / out means is provided in the cassette. A gripping portion for gripping the accommodated workpiece, a pair of regulating members for regulating the workpiece to a predetermined position, a support base on which the gripping portion and the regulating member are provided, and a support base having Y A moving part that moves in the axial direction, the temporary placement means has a bottom part and a side part that extend in the Y-axis direction and support the workpiece, and the bottom part is configured to be openable and closable. A first support rail, and a bottom portion and a side portion which are disposed immediately below the first support rail, extend in the Y-axis direction, and support the workpiece, and the bottom portion is configured to be openable and closable. A pair of second support rails, and an elevating unit that raises and lowers the first support rail and the second support rail, wherein the X-axis guide rail is at least from immediately below the temporary placement unit. The holding means is disposed below the cutting means and is provided immediately below the first support rail and the second support rail. And the workpiece is unloaded from the cassette by the loading / unloading means and temporarily placed on the first support rails constituting the temporary placement means, and the first support rail is moved by the second support rail. A cutting device is provided for lowering with the rail to open the bottom of the first support rail and holding the workpiece on the holding means.

該仮置手段に隣接し該カセット載置手段とは反対側のY軸方向に被加工物を洗浄するスピンナーテーブルを備えた洗浄手段が配設されると共に該洗浄手段の直上で被加工物を仮置きする補助仮置手段が配設され、該補助仮置手段は、Y軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第1の補助支持レールと、該第1の補助支持レールの直下に配設されY軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第2の補助支持レールと、該第1の補助支持レールと該第2の補助支持レールとを上下動する補助昇降部と、を備え、該補助仮置手段と該仮置手段との間で被加工物の受け渡しが可能に構成することができる。   Cleaning means provided with a spinner table for cleaning the workpiece in the Y-axis direction adjacent to the temporary mounting means and opposite to the cassette mounting means is provided, and the workpiece is disposed immediately above the cleaning means. A pair of auxiliary temporary placement means for temporary placement are provided, the auxiliary temporary placement means extending in the Y-axis direction and having a bottom portion and a side portion that support the workpiece and the bottom portion is configured to be openable and closable. A first auxiliary support rail, and a bottom portion and a side portion which are disposed immediately below the first auxiliary support rail, extend in the Y-axis direction, and support the workpiece, and the bottom portion is openable and closable. A pair of second auxiliary support rails, and an auxiliary elevating unit for vertically moving the first auxiliary support rail and the second auxiliary support rail, the auxiliary temporary placement means and the temporary placement means The workpiece can be delivered to and from the workpiece.

該搬出入手段は、該把持部に加え該補助支持レールに位置付けられた被加工物を把持する補助把持部と、該一対の規制部材に加え該第1の補助支持レールと該第2の補助支持レールに位置付けられた被加工物を所定の位置に規制する一対の補助規制部材と、を備え、該保持手段に保持された切削済みの被加工物が該仮置手段の直下に位置付けられた際、該底部を開にした該第2の支持レールが下降して該底部が切削済みの被加工物の下部に位置付けられ該底部を閉にして切削済みの被加工物を支持して上昇し、次に、該搬出入手段の把持部によってカセットに収容された未加工の被加工物を把持すると共に該一対の補助規制部材を該仮置手段に支持された切削済みの被加工物の側面に位置付けて該洗浄手段側に移動しつつ該カセットに収容された被加工物を該第1の支持レールに位置付けると共に切削済みの被加工物を該第2の補助支持レールに位置付け、次に、該補助昇降部によって該第2の補助支持レールを該第1の補助支持レールと共に下降して該第2の補助支持レールの底部を開にして切削済みの被加工物を該スピンナーテーブルに保持することが好ましい。   The carrying-in / out means includes an auxiliary gripping portion for gripping a workpiece positioned on the auxiliary support rail in addition to the gripping portion, the first auxiliary support rail and the second auxiliary support in addition to the pair of regulating members. A pair of auxiliary regulating members for regulating the workpiece positioned on the support rail to a predetermined position, and the cut workpiece held by the holding means is positioned immediately below the temporary placement means. At this time, the second support rail with the bottom opened is lowered, the bottom is positioned below the cut work, and the bottom is closed to support the cut work and rise. Next, an unprocessed workpiece accommodated in a cassette is gripped by the gripping portion of the loading / unloading means, and the pair of auxiliary regulating members are supported by the temporary placement means. In the cassette while moving to the cleaning means side. The work piece is positioned on the first support rail and the cut work piece is positioned on the second auxiliary support rail, and then the second auxiliary support rail is moved by the auxiliary lift unit to the first auxiliary support rail. It is preferable that the workpiece is lowered together with the auxiliary support rail, and the bottom of the second auxiliary support rail is opened to hold the cut workpiece on the spinner table.

該洗浄手段によって被加工物の洗浄が終了した後、該補助仮置手段は該補助昇降部によって該第1の補助支持レールを該第2の補助支持レールと共に下降して該第1の補助支持レールの底部を開にして洗浄済みの被加工物の下部に該底部を位置付けると共に閉にして洗浄済みの被加工物を該第1の補助支持レールで支持して上昇し、該仮置手段は、該昇降部によって該第1の補助支持レールに対応する高さ位置に該第1の支持レールを位置付け、該搬出入手段は、該補助把持部によって該第1の補助支持レールに支持された洗浄済みの被加工物を把持し該第1の支持レールまで搬送し、その後、該規制部材を洗浄済みの被加工物の側面に位置付けてカセット側に移動してカセット内に搬入するように構成されることが好ましい。   After the cleaning of the workpiece by the cleaning means is completed, the auxiliary temporary placing means lowers the first auxiliary support rail together with the second auxiliary support rail by the auxiliary elevating unit, and the first auxiliary support means The bottom of the rail is opened, the bottom is positioned below the cleaned workpiece, and the rail is closed and the cleaned workpiece is supported by the first auxiliary support rail and lifted. Positioning the first support rail at a height position corresponding to the first auxiliary support rail by the elevating unit, and the carrying-in / out means is supported by the first auxiliary support rail by the auxiliary gripping unit; A configuration in which the cleaned workpiece is gripped and transported to the first support rail, and then the regulating member is positioned on the side surface of the cleaned workpiece, moved to the cassette side, and loaded into the cassette. Is preferably performed.

該洗浄手段は、該スピンナーテーブルの上方に洗浄水を噴射するノズルを備えており、該ノズルは該搬出入手段の基台の係合部と選択的に係合可能に構成され、該搬出入手段の基台の係合部の移動に伴ってY軸方向に揺動し、少なくとも被加工物の外周から中心に至り切削水を噴射するように構成されることが好ましい。   The cleaning means includes a nozzle for spraying cleaning water above the spinner table, and the nozzle is configured to be selectively engageable with an engaging portion of a base of the loading / unloading means. It is preferable that it is configured to swing in the Y-axis direction with movement of the engaging portion of the base of the means, and to inject cutting water from at least the outer periphery of the workpiece to the center.

該洗浄手段のノズルには錘がワイヤーとプーリーとを介して連結され、該搬出入手段の基台の係合部には、ロッドが進退自在に装着されており、進出したロッドはノズルの重力による移動に対向する方向から該ノズルに接触してY軸方向に揺動するように構成されることが好ましい。   A weight is connected to the nozzle of the washing means via a wire and a pulley, and a rod is mounted on the engaging portion of the base of the carrying-in / out means so as to be able to move forward and backward. It is preferable to be configured to swing in the Y-axis direction by contacting the nozzle from a direction opposite to the movement by the nozzle.

該切削手段は、第1の切削ブレードを回転可能に備えた第1の切削手段と、第2の切削ブレードを回転可能に備えた第2の切削手段と、該第1の切削ブレードと第2の切削ブレードとを対峙させ、該X軸方向と直交するY軸方向に割り出し送り可能に該第1の切削手段と第2の切削手段とを支持するY軸ガイドレールと、該Y軸ガイドレールに沿って該第1の切削手段と該第2の切削手段とを移動する第1の駆動部と第2の駆動部と、を備えることが好ましい。   The cutting means includes a first cutting means rotatably provided with a first cutting blade, a second cutting means rotatably provided with a second cutting blade, the first cutting blade and a second cutting blade. A Y-axis guide rail for supporting the first cutting means and the second cutting means so as to be indexable and feedable in a Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction; It is preferable to include a first driving unit and a second driving unit that move the first cutting unit and the second cutting unit along.

本発明による切削装置は、上述したように、搬出入手段によって搬出された被加工物を仮置きする仮置手段が、Y軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し、該底部が開閉可能に構成された一対の第1の支持レールと、該第1の支持レールの直下に配設されY軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第2の支持レールとの直下該第1の支持レールと該第2の支持レールとを上昇および下降する昇降部と、を備え、該仮置手段から移送された被加工物を保持する保持手段をX軸方向に移動可能に支持するX軸ガイドレールが、該仮置手段の直下から少なくとも切削手段の下方領域に至り配設されており、該第1の支持レールと該第2の支持レールとの直下に該保持手段を位置付けすると共に、搬出入手段によってカセットから被加工物を搬出して該仮置手段を構成する該第1の支持レールに仮置きし、該第1の支持レールが該第2の支持レールと共に下降して該第1の支持レールの該底部を開にして被加工物を該保持手段上に保持するように構成されている。これにより、被加工物を搬送する搬送手段は実質的に上記搬出入手段のみで構成されるため、部品点数が少なく構成されてコストが低減すると共に、該第1の支持レールと該第2の支持レールとを備えることで、加工前や洗浄乾燥後の汚れのない被加工物と、加工後で未洗浄の被加工物との間で搬送時に支持させる支持レールを使い分けることができ、汚染された被加工物によって、未加工、又は洗浄乾燥後の綺麗なウエーハが間接的に汚されることを防止することができる。   As described above, in the cutting device according to the present invention, the temporary placing means for temporarily placing the workpiece carried out by the carrying-in / out means extends in the Y-axis direction, and the bottom and the side support the workpiece. A pair of first support rails whose bottoms are configured to be openable and closable, and a bottom and side portions disposed immediately below the first support rails and extending in the Y-axis direction to support a workpiece. An elevating unit that raises and lowers the first support rail and the second support rail directly below a pair of second support rails having bottoms configured to be openable and closable; An X-axis guide rail for supporting the holding means for holding the workpiece transferred from the temporary placement means so as to be movable in the X-axis direction is provided from immediately below the temporary placement means to at least a region below the cutting means. And positioning the holding means immediately below the first support rail and the second support rail. At the same time, the workpiece is unloaded from the cassette by the loading / unloading means and temporarily placed on the first support rails constituting the temporary placement means, and the first support rail is lowered together with the second support rail. The bottom of the first support rail is opened to hold the workpiece on the holding means. Thereby, since the conveying means for conveying the workpiece is substantially constituted only by the carrying-in / out means, the number of parts is reduced, the cost is reduced, and the first support rail and the second With the support rails, it is possible to properly use the support rails that support the transfer between the clean work piece before processing or after washing and drying and the unwashed work piece after processing, so that contamination can occur. It is possible to prevent the unprocessed or cleaned and dried clean wafer from being indirectly contaminated by the workpiece.

本発明に従って構成された切削装置の全体斜視図である。1 is an overall perspective view of a cutting device configured according to the present invention. 図1に示す切削装置の要部斜視図である。It is a principal part perspective view of the cutting device shown in FIG. 図1に示す切削装置に装備される切削機構を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the cutting mechanism equipped with the cutting device shown in FIG. 図1におけるA−A断面図である。It is AA sectional drawing in FIG. 図1に示す搬出・搬入機構7の要部正面図である。FIG. 2 is a front view of a main part of the carry-out / carry-in mechanism 7 shown in FIG. 図5に示す搬出・搬入機構の要部正面図である。It is a principal part front view of the carrying out / in carrying-in mechanism shown in FIG. 図1に示す切削装置を構成する仮置き機構および補助仮置き機構の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a temporary placement mechanism and an auxiliary temporary placement mechanism that constitute the cutting device shown in FIG. 1. 図7に示す仮置き機構の側面図である。FIG. 8 is a side view of the temporary placing mechanism shown in FIG. 7. 図1に示す切削装置を構成する仮置き機構の別実施形態の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of another embodiment of a temporary placing mechanism that forms the cutting device shown in FIG. 1. 図1に示す切削装置を構成する洗浄機構の斜視図である。It is a perspective view of the cleaning mechanism which comprises the cutting apparatus shown in FIG. 搬出・搬入機構の把持部材および一対の規制ピンを待機位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing a state in which a gripping member and a pair of regulating pins of the carry-out / carry-in mechanism are positioned at a standby position. 搬出・搬入機構の把持部材によってカセット載置機構に位置付けされたカセットに収容されている被加工物を支持した環状のフレームを把持する状態を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing a state in which an annular frame supporting a workpiece accommodated in a cassette positioned in a cassette mounting mechanism is gripped by a gripping member of an unloading / loading mechanism. 搬出・搬入機構によって環状のフレームに支持された被加工物を仮置き機構の一対の第1の支持レールに搬送する状態を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view showing a state in which a workpiece supported by an annular frame by a carry-out / carry-in mechanism is carried to a pair of first support rails of a temporary placing mechanism. 保持テーブルの上面に環状のフレームにダイシングテープを介して支持された被加工物を載置した状態を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing a state where a workpiece supported on a ring-shaped frame via a dicing tape is placed on an upper surface of a holding table. 仮置き機構の一対の第1の支持レールを上昇して上部位置に位置付けされた状態を示す斜視図である。It is a perspective view showing the state where a pair of 1st support rails of a temporary placing mechanism were raised and were located in an upper position. 被加工物を吸引保持した保持テーブルを切削機構が配設され加工領域に移動した状態を示す斜視図である。It is a perspective view showing the state where the cutting mechanism was arranged and the holding table which held the workpiece by suction was moved to the processing area. 切削済みの被加工物を吸引保持した保持テーブルを被加工物着脱位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a state where a holding table that holds a cut workpiece by suction is positioned at a workpiece attaching / detaching position. 図16に示す状態から仮置き機構の下段側に位置する一対の第2の支持レールを下部位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 17 is a perspective view showing a state in which a pair of second support rails located on the lower side of the temporary placing mechanism are positioned at a lower position from the state shown in FIG. 16. 図17に示す状態から仮置き機構の一対の第2の支持レールを上部位置より僅かに下方の中間位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 18 is a perspective view illustrating a state in which the pair of second support rails of the temporary placing mechanism is positioned at an intermediate position slightly below the upper position from the state illustrated in FIG. 17. 搬出・搬入機構の把持部によってカセット載置機構に載置されたカセットに収容された被加工物を把持した状態を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a state in which a workpiece accommodated in a cassette mounted on a cassette mounting mechanism is gripped by a gripping portion of an unloading / loading mechanism. 搬出・搬入機構の把持部によって新たな被加工物を仮置き機構の一対の第1の支持レールに位置付けるとともに、切削済み被加工物を補助仮置き機構の下段側に位置する一対の第2の補助支持レールに位置付けた状態を示す斜視図である。A new workpiece is positioned on the pair of first support rails of the temporary placing mechanism by the gripping portions of the carry-out / in mechanism, and a pair of second workpieces located on the lower side of the auxiliary temporary placing mechanism are placed on the cut workpiece. It is a perspective view showing the state where it was located in the auxiliary support rail. 図20の状態から補助仮置き機構の一対の第2の補助支持レールを下部位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 21 is a perspective view showing a state where a pair of second auxiliary support rails of the auxiliary temporary placing mechanism are positioned at a lower position from the state of FIG. 20; 図21の状態から仮置き機構の第1、第2の支持レールと、補助仮置き機構の第1、第2の補助支持レールを上部位置に位置付けた状態を示す斜視図、および洗浄機構のノズルを移動する状態を示す斜視図である。FIG. 21 is a perspective view showing a state where the first and second support rails of the temporary placement mechanism and the first and second auxiliary support rails of the auxiliary temporary placement mechanism are positioned at the upper position from the state of FIG. 21, and a nozzle of the cleaning mechanism. It is a perspective view which shows the state which moves. 図22に示す状態から搬出・搬入機構7を待機位置に位置付けるとともに、補助仮置き機構を構成する第1、第2の補助支持レールを下部位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 23 is a perspective view showing a state in which the carry-out and carry-in mechanism 7 is positioned at the standby position from the state shown in FIG. 22 and first and second auxiliary support rails constituting the auxiliary temporary placing mechanism are positioned at the lower position. 環状のフレームに支持された洗浄済みの被加工物を支持した補助仮置き機構の一対の第1の補助支持レールを上部位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing a state in which a pair of first auxiliary support rails of an auxiliary temporary placing mechanism that supports a cleaned workpiece supported by an annular frame is positioned at an upper position. 図24の状態から環状のフレームに支持された洗浄済みの被加工物を補助仮置き機構の一対の第1の補助支持レールから仮置き機構の一対の第1の支持レールに移動した状態を示す斜視図である。24 shows a state in which the cleaned workpiece supported by the annular frame is moved from the state of FIG. 24 to the pair of first support rails of the temporary placement mechanism from the pair of first auxiliary support rails of the auxiliary temporary placement mechanism. It is a perspective view. 図26の状態から仮置き機構の一対の第1の支持レールを中間位置に位置付けるとともに、搬出・搬入機構の把持部材および一対の規制ピンを待機位置に位置付けた状態を示す斜視図である。FIG. 27 is a perspective view showing a state in which the pair of first support rails of the temporary placing mechanism is positioned at the intermediate position from the state of FIG. 26, and the gripping member and the pair of regulating pins of the unloading / loading mechanism are positioned at the standby position. 図27の状態から搬出・搬入機構を作動して環状のフレームに支持された洗浄済みの被加工物をカセットに収容する状態を示す斜視図である。FIG. 28 is a perspective view showing a state in which the carry-out / carry-in mechanism is operated from the state shown in FIG. 27 to accommodate the cleaned workpiece supported by the annular frame in the cassette.

以下、本発明に従って構成された切削装置について添付図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, a cutting device configured according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1には、本発明に従って構成された切削装置の好適な実施形態の全体斜視図(一部省略している。)が示されている。図示の実施形態における切削装置は、静止基台2と、該静止基台2上に配設され被加工物を保持する保持手段としての保持テーブル機構3と、該保持テーブル機構3に保持された被加工物を切削する切削手段としての切削機構4とを備えている。   FIG. 1 is an overall perspective view (partially omitted) of a preferred embodiment of a cutting device configured according to the present invention. The cutting device in the illustrated embodiment includes a stationary base 2, a holding table mechanism 3 as a holding unit that is disposed on the stationary base 2 and holds a workpiece, and is held by the holding table mechanism 3. And a cutting mechanism 4 as cutting means for cutting the workpiece.

保持テーブル機構3は、図2に示すように、静止基台2上に矢印Xで示す加工送り方向(以下、「X軸方向」という。)に沿って配設された2本のX軸ガイドレール31、31と、該2本のX軸ガイドレール31、31上に摺動可能に配設された移動基台32と、該移動基台32上に配設された円筒状の支持部材33に回転可能に支持された被加工物を保持する保持テーブル34と、該保持テーブル34が配設された移動基台32を2本のX軸ガイドレール31、31に沿って加工送り方向(X軸方向)に移動させるための加工送り手段35とを備えている。保持テーブル34は、円筒状の支持部材33に回転可能に支持されたテーブル本体341と、該テーブル本体341の上面に配設された吸着チャック342とを備えている。テーブル本体341は、外径が後述する被加工物としてのウエーハの外径より大きくウエーハを、ダイシングテープを介して支持する環状のフレームの内径より小さく形成されている。吸着チャック342は、ポーラスセラミックスによって形成され図示しない吸引手段に接続されており、適宜負圧が作用させられるようになっている。従って、吸着チャック342上に載置された被加工物は、図示しない吸引手段を作動することにより吸着チャック342上に吸引保持される。また、保持テーブル34は、円筒状の支持部材33内に配設された図示しないパルスモータによって回動させられるようになっている。   As shown in FIG. 2, the holding table mechanism 3 includes two X-axis guides disposed on the stationary base 2 along a processing feed direction indicated by an arrow X (hereinafter, referred to as “X-axis direction”). Rails 31, a movable base 32 slidably disposed on the two X-axis guide rails 31, 31, and a cylindrical support member 33 disposed on the movable base 32 A holding table 34, which holds a workpiece rotatably supported on the table, and a moving base 32 on which the holding table 34 is disposed, are moved along two X-axis guide rails 31, 31 in the processing feed direction (X (In the axial direction). The holding table 34 includes a table body 341 rotatably supported by the cylindrical support member 33, and a suction chuck 342 disposed on the upper surface of the table body 341. The table body 341 is formed such that the outer diameter is larger than the outer diameter of a wafer as a workpiece to be described later and smaller than the inner diameter of an annular frame that supports the wafer via a dicing tape. The suction chuck 342 is formed of porous ceramics, is connected to suction means (not shown), and is adapted to apply a negative pressure as appropriate. Therefore, the workpiece placed on the suction chuck 342 is suction-held on the suction chuck 342 by operating a suction unit (not shown). Further, the holding table 34 is configured to be rotated by a pulse motor (not shown) provided in the cylindrical support member 33.

上記加工送り手段35は、2本のX軸ガイドレール31、31の間に配設されX軸方向に延在するX軸リニアレール351と、該X軸リニアレール351に移動可能に嵌挿され保持テーブル34が配設された移動基台32に装着されたX軸コイル可動子352とからなっている。X軸リニアレール351は、例えば複数の円柱状の永久磁石のN極とS極とを交互に接合して軸状に構成し、この軸状に構成された複数の円柱状の永久磁石をステンレス鋼の非磁性材からなる円筒状のケースに配設して構成されている。このように構成されたX軸リニアレール351は、その両端部に図2に示すように支持部材353、353が装着されており、この支持部材353、353を介して上記静止基台2に取り付けられる。X軸リニアレール351とX軸コイル可動子352とからなる加工送り手段35は、所謂リニアシャフトモータを構成しており、X軸コイル可動子352に電流が流れると磁力による吸引力、反発力を繰り返して推力が発生する。従って、X軸コイル可動子352に印加する電流の方向を変えることにより、X軸コイル可動子352がX軸リニアレール351に沿って移動する方向を変更することができる。このように構成された加工送り手段35は、保持テーブル34が配設された移動基台32を、図2に示す後述するカセット60の前方領域に位置する被加工物着脱領域と切削機構4が上方に配設された加工領域との間を移動させる。なお、図示の実施形態における加工送り手段35は所謂リニアシャフトモータによって構成した例を示したが、当該構成はこれに限定されず、例えば、ボールねじ機構によっても構成してもよい。   The processing feed means 35 is provided between the two X-axis guide rails 31, 31 and extends in the X-axis direction. The X-axis linear rail 351 is movably fitted to the X-axis linear rail 351. It comprises an X-axis coil mover 352 mounted on the movable base 32 on which the holding table 34 is disposed. The X-axis linear rail 351 is formed, for example, by alternately joining N poles and S poles of a plurality of columnar permanent magnets to form an axis. The plurality of columnar permanent magnets formed of the axis is made of stainless steel. It is arranged and arranged in a cylindrical case made of a non-magnetic material of steel. The X-axis linear rail 351 thus configured has support members 353, 353 mounted on both ends thereof as shown in FIG. 2, and is attached to the stationary base 2 via the support members 353, 353. Can be The processing and feeding means 35 including the X-axis linear rail 351 and the X-axis coil mover 352 constitutes a so-called linear shaft motor. Thrust is generated repeatedly. Therefore, the direction in which the X-axis coil mover 352 moves along the X-axis linear rail 351 can be changed by changing the direction of the current applied to the X-axis coil mover 352. The processing and feeding means 35 configured as described above moves the movable base 32 on which the holding table 34 is disposed to the work attaching / detaching area and the cutting mechanism 4 which are located in a front area of a cassette 60 described later and shown in FIG. It is moved between the upper processing area and the processing area. Although the processing feed unit 35 in the illustrated embodiment has been described as an example configured by a so-called linear shaft motor, the configuration is not limited to this, and may be configured by, for example, a ball screw mechanism.

次に、上記切削機構4について説明する。
切削機構4は、図2に示すように、上記静止基台2上に固定された門型の支持フレーム41を有している。この門型の支持フレーム41は、間隔をおいて配設された第1の柱部411および第2の柱部412と、該第1の柱部411と第2の柱部412の上端を連結し矢印Xで示す加工送り方向と直交する矢印Yで示す割り出し送り方向(Y軸方向)に沿って配設された支持部413とからなり、上記2本のX軸ガイドレール31、31を跨ぐように配設されている。なお、本願明細書においては、図1、2に示されているように、直交するX軸方向とY軸方向とで水平面をなし、該X、Y軸方向と直交し上下方向に向かう方向をZ軸方向と定義付ける。
Next, the cutting mechanism 4 will be described.
As shown in FIG. 2, the cutting mechanism 4 has a gate-shaped support frame 41 fixed on the stationary base 2. The gate-shaped support frame 41 connects the first pillar 411 and the second pillar 412 disposed at an interval with the upper ends of the first pillar 411 and the second pillar 412. And a support portion 413 arranged along an index feed direction (Y-axis direction) indicated by an arrow Y orthogonal to a machining feed direction indicated by an arrow X, and straddles the two X-axis guide rails 31, 31. It is arranged as follows. In the specification of the present application, as shown in FIGS. 1 and 2, the X-axis direction and the Y-axis direction orthogonal to each other form a horizontal plane, and the direction orthogonal to the X- and Y-axis directions and going in the vertical direction is Defined as Z-axis direction.

上記門型の支持フレーム41を構成する支持部413の図1および図2において背面側には、第1の切削手段5aと第2の切削手段5bが配設されている。第1の切削手段5aおよび第2の切削手段5bについて、図3および図4を参照して説明する。第1の切削手段5aおよび第2の切削手段5bは、それぞれ割り出し送り移動基台51と切り込み移動基台52およびスピンドルユニット53を備えている。第1の切削手段5aの割り出し移動基台51および第2の切削手段5bの割り出し送り基台51は、それぞれ上記支持部413の図4において左方の側面に設けられた2本のY軸ガイドレール413a、413aと嵌合する被案内溝511、511が設けられており、この被案内溝511、511を2本のY軸ガイドレール413a、413aに嵌合することにより、割り出し送り移動基台51は、2本のY軸ガイドレール413a、413aに沿って移動可能に構成される。なお、第1の切削手段5aの割り出し送り移動基台51および第2の切削手段5bの割り出し送り移動基台51の一方の面には、それぞれ後述する割り出し送り手段が配設される凹部513が形成されている。また、第1の切削手段5aの割り出し移動基台51および第2の切削手段5bの割り出し送り基台51の他方の面には、それぞれ図4に示すように矢印Zで示す切り込み送り方向に沿って一対の案内レール512、512(図4には一方の案内レールのみが示されている。)が設けられている。   In FIGS. 1 and 2, the first cutting means 5a and the second cutting means 5b are provided on the back side of the support portion 413 constituting the portal-type support frame 41 in FIGS. The first cutting means 5a and the second cutting means 5b will be described with reference to FIGS. Each of the first cutting means 5a and the second cutting means 5b includes an index feed moving base 51, a cutting moving base 52, and a spindle unit 53, respectively. The indexing moving base 51 of the first cutting means 5a and the indexing feed base 51 of the second cutting means 5b are respectively provided with two Y-axis guides provided on the left side surface of the support portion 413 in FIG. Guide grooves 511 and 511 that fit with the rails 413a and 413a are provided. By fitting the guide grooves 511 and 511 with the two Y-axis guide rails 413a and 413a, the indexing feed moving base is provided. 51 is configured to be movable along two Y-axis guide rails 413a, 413a. On one surface of the indexing and moving base 51 of the first cutting means 5a and the indexing and moving base 51 of the second cutting means 5b, there are provided recesses 513 in which indexing means, which will be described later, are provided. Is formed. Further, the other surfaces of the indexing moving base 51 of the first cutting means 5a and the indexing feed base 51 of the second cutting means 5b are respectively arranged along the cutting feed direction indicated by the arrow Z as shown in FIG. A pair of guide rails 512, 512 (only one guide rail is shown in FIG. 4).

上記第1の切削手段5aの切り込み移動基台52および第2の切削手段5bの切り込み送り移動基台52は、それぞれ上下方向に延びる被支持部521と、該被支持部521の下端から直角に水平に延びる装着部522からなっている。図4に示すように被支持部521における装着部522側の面には上記割り出し移動基台51の他方の面に設けられた一対のZ軸ガイドレール512、512と嵌合する被案内溝523、523(図4には一方の案内溝のみが示されている)が設けられており、この被案内溝523、523を2本のZ軸ガイドレール512、512に嵌合することにより、切り込み移動基台52は2本のZ軸ガイドレール512、512に沿って矢印Zで示す切り込み送り方向に移動可能に構成される。このようにして割り出し送り移動基台51に装着された切り込み移動基台52は、図1および図2に示すように装着部522が門型の支持フレーム41を構成する支持部413の下側に突出して配置される。   The cutting moving base 52 of the first cutting means 5a and the cutting feed moving base 52 of the second cutting means 5b are respectively supported portions 521 extending in the up-down direction and perpendicular to the lower end of the supported portions 521. It consists of a horizontally extending mounting part 522. As shown in FIG. 4, a guided groove 523 fitted on a pair of Z-axis guide rails 512 and 512 provided on the other surface of the indexing movable base 51 on a surface of the supported portion 521 on the side of the mounting portion 522. , 523 (only one guide groove is shown in FIG. 4), and the guided grooves 523, 523 are fitted into the two Z-axis guide rails 512, 512, so that the notches are formed. The moving base 52 is configured to be movable in the cutting and feeding direction indicated by the arrow Z along the two Z-axis guide rails 512 and 512. In this manner, the notch moving base 52 mounted on the indexing feed moving base 51 has a mounting portion 522 on a lower side of the supporting portion 413 constituting the portal type supporting frame 41 as shown in FIGS. It is arranged to protrude.

上記スピンドルユニット53は、第1の切削手段5aと第2の切削手段5bの切り込み移動基台52を形成する装着部522の下面にそれぞれ装着されている。この第1の切削手段5aのスピンドルユニット53および第2の切削手段5bのスピンドルユニット53は、それぞれ図3および図4に示すようにスピンドルハウジング531と、該スピンドルハウジング531に回転可能に支持された回転スピンドル532と、該回転スピンドル532の一端に装着された切削ブレード533と、切削水を供給する切削水供給管534および回転スピンドル532を回転駆動する図示しないサーボモータを備えており、回転スピンドル532の軸線方向が矢印Yで示す割り出し送り方向に沿って配設されている。そして、第1の切削手段5aのスピンドルユニット53を構成する切削ブレード533と第2の切削手段5bのスピンドルユニット53を構成する切削ブレード533は、互いに対向して配設されている。   The spindle unit 53 is mounted on the lower surface of a mounting portion 522 that forms the cutting base 52 of the first cutting means 5a and the second cutting means 5b. The spindle unit 53 of the first cutting means 5a and the spindle unit 53 of the second cutting means 5b are rotatably supported by the spindle housing 531 and the spindle housing 531 as shown in FIGS. The rotary spindle 532 includes a rotary spindle 532, a cutting blade 533 attached to one end of the rotary spindle 532, a cutting water supply pipe 534 for supplying cutting water, and a servomotor (not shown) for driving the rotary spindle 532 to rotate. Are arranged along the index feed direction indicated by the arrow Y. The cutting blade 533 forming the spindle unit 53 of the first cutting means 5a and the cutting blade 533 forming the spindle unit 53 of the second cutting means 5b are arranged to face each other.

図示の実施形態における第1の切削手段5aと第2の切削手段5bは、図3に示すように、上記割り出し送り移動基台51、51を2本のY軸ガイドレール413a、413aに沿って矢印Yで示す割り出し送り方向(Y軸方向)に移動するための割り出し送り手段54を備えている。割り出し送り手段54は、上記2本のY軸ガイドレール413a、413aに沿って配設された共通のY軸リニアレール540と、該共通のY軸リニアレール540に移動可能に嵌挿され第1の切削手段5aの割り出し送り基台51に装着された第1のY軸コイル可動子544aと、共通のY軸リニアレール540に移動可能に嵌挿され第2の切削手段5bの割り出し送り移動基台51に装着された第2のY軸コイル可動子544bとからなっている。共通のY軸リニアレール540は例えば複数の円柱状の永久磁石のN極とS極とを交互に接続して軸状に構成し、この軸状に構成された複数の円柱状の永久磁石をステンレス鋼等の非磁性材からなる円筒状のケースに配設して構成されている。このように構成された共通のY軸リニューアル540は、その両端部に図3に示すように、支持部材543、543が装着されており、この支持部材543、543を介して上記支持フレーム41の支持部413に取り付けられる。この共通のY軸リニアレール540に移動可能に嵌挿された第1のコイル可動子544aおよび第2のコイル可動子544bは、それぞれ第1の切削手段5aの割り出し送り移動基台51および第2の切削手段5bの割り出し移動基台51に設けられた凹部513に配設され、それぞれ割り出し送り移動基台51の一方の面に装着される。   As shown in FIG. 3, the first cutting means 5a and the second cutting means 5b in the illustrated embodiment move the indexing feed bases 51, 51 along two Y-axis guide rails 413a, 413a. An index feed unit 54 for moving in the index feed direction (Y-axis direction) indicated by the arrow Y is provided. The indexing and feeding means 54 includes a common Y-axis linear rail 540 disposed along the two Y-axis guide rails 413a and 413a, and a first Y-axis linear rail 540 that is movably fitted to the common Y-axis linear rail 540. The first Y-axis coil mover 544a mounted on the indexing feed base 51 of the cutting means 5a and the indexing feed moving base of the second cutting means 5b movably inserted into the common Y-axis linear rail 540. And a second Y-axis coil mover 544b mounted on the table 51. The common Y-axis linear rail 540 is formed, for example, by alternately connecting N poles and S poles of a plurality of columnar permanent magnets to form a shaft. It is arranged in a cylindrical case made of a non-magnetic material such as stainless steel. As shown in FIG. 3, the common Y-axis renewal 540 thus configured has support members 543, 543 mounted on both ends thereof, and supports the support frame 41 via the support members 543, 543. It is attached to the support portion 413. The first coil mover 544a and the second coil mover 544b, which are movably fitted to the common Y-axis linear rail 540, are respectively used for the index feed moving base 51 and the second coil mover 51 of the first cutting means 5a. The cutting means 5b is disposed in a concave portion 513 provided in the indexing moving base 51, and is mounted on one surface of the indexing feeding moving base 51, respectively.

上記のように共通のY軸リニアレール540と第1のコイル可動子544aおよび第2のコイル可動子544bとからなる割り出し送り手段54は、上記X軸リニアレール361とX軸コイル可動子362とからなる加工送り手段35と同様に所謂シャフトモータを構成しており、第1のコイル可動子544aおよび第2のコイル可動子544bに電流が流れると磁力による吸引力、反発力を繰り返して推進力が発生する。従って、第1のコイル可動子544aおよび第2のコイル可動子544bに印加する電流の方向を変えることにより、第1のコイル可動子544aおよび第2のコイル可動子544bが共通のY軸リニアレール540に沿って移動する方向を変更することができる。なお、図示の実施形態における割り出し送り手段54は所謂リニアシャフトモータによって構成した例を示したが本発明はこれに限定されず、ボールねじ機構によって構成してもよい。   As described above, the indexing and feeding means 54 including the common Y-axis linear rail 540, the first coil mover 544a, and the second coil mover 544b performs the above-described X-axis linear rail 361, X-axis coil mover 362, and A so-called shaft motor is constructed similarly to the machining feed means 35 composed of the following. When a current flows through the first coil mover 544a and the second coil mover 544b, the attractive force and the repulsive force due to the magnetic force are repeated, and the propulsive force is generated. Occurs. Therefore, by changing the direction of the current applied to the first coil mover 544a and the second coil mover 544b, the first coil mover 544a and the second coil mover 544b can share a common Y-axis linear rail. The direction of travel along 540 can be changed. Although the indexing and feeding means 54 in the illustrated embodiment has been described as an example constituted by a so-called linear shaft motor, the present invention is not limited to this, and may be constituted by a ball screw mechanism.

また、図示の実施形態における第1の切削手段5aと第2の切削手段5bは、図4に示すように上記切り込み移動基台52、52を2本のZ軸ガイドレール512、512に沿って矢印Zで示す切り込み送り方向(Z軸方向)に移動するための切り込み送り手段55、55を備えている。切り込み送り手段55、55は、それぞれ2本のZ軸ガイドレール512、512と平行に配設された雄ねじロッド551と、雄ねじロッド551の一端部を回転可能に支持する軸受け552と、雄ねじロッド551の他端に連結され該雄ねじロッド551を正転または逆転駆動するパルスモータ553とからなっている。このように構成された切り込み送り手段55、55は、それぞれ雄ねじロッド551が上記切り込み送り移動基台52の被支持部521に形成された雄ねじ521aに螺合される。従って、切り込み送り手段55、55は、それぞれパルスモータ553を駆動して雄ねじロッド551を正転または逆転駆動することにより、切り込み移動基台52を2本のZ軸ガイドレール512、512に沿って図4において矢印Zで示す切り込み送り方向(Z軸方向)に移動することができる。   Further, the first cutting means 5a and the second cutting means 5b in the illustrated embodiment, as shown in FIG. 4, move the notch moving bases 52, 52 along two Z-axis guide rails 512, 512. Cutting feed means 55 are provided for moving in the cutting feed direction (Z-axis direction) indicated by arrow Z. The cut feed means 55, 55 are respectively provided with a male screw rod 551 disposed in parallel with the two Z-axis guide rails 512, 512, a bearing 552 rotatably supporting one end of the male screw rod 551, and a male screw rod 551. And a pulse motor 553 for driving the male screw rod 551 to rotate forward or reverse. In the cut feed means 55, 55 configured as described above, the male screw rod 551 is screwed to the male screw 521a formed on the supported portion 521 of the cut feed moving base 52, respectively. Therefore, the notch feeding means 55, 55 drives the pulse motor 553 to drive the male screw rod 551 in the forward or reverse direction, thereby moving the notch moving base 52 along the two Z-axis guide rails 512, 512. In FIG. 4, it can be moved in the cutting feed direction (Z-axis direction) indicated by arrow Z.

図1を参照して説明を続けると、上記静止基台2には、半導体ウエーハ等の複数の被加工物を収容するカセット60が載置されるカセット載置手段としてのカセット載置機構6と、該カセット載置機構6に載置されたカセット60から被加工物を搬出すると共に切削済みの被加工物をカセット60に搬入する搬出入手段としての搬出・搬入機構7と、該搬出・搬入機構7によって搬出された被加工物を仮置きする仮置手段としての仮置き機構8と、該仮置き機構8と隣接して配設された補助仮置手段としての補助仮置き機構9と、切削後の被加工物を洗浄する洗浄機構10と、を備えている。カセット載置機構6は、図示しない制御手段から出力される駆動信号に基づき駆動される昇降部によって昇降させられるカセットテーブル61上に、カセット60が載置されるようになっている。カセット60には環状のフレームFに装着されたダイシングテープTの表面に貼着された半導体ウエーハWが収容されている。なお、環状のフレームFの外周には、後述する規制部材としての規制ピンが係合するノッチF−1およびフラット面F−2が設けられている。   Continuing the description with reference to FIG. 1, the stationary base 2 has a cassette mounting mechanism 6 as a cassette mounting means on which a cassette 60 accommodating a plurality of workpieces such as semiconductor wafers is mounted. A loading / unloading mechanism 7 serving as loading / unloading means for loading and unloading the workpiece from the cassette 60 mounted on the cassette mounting mechanism 6 and loading the cut workpiece into the cassette 60; A temporary placing mechanism 8 as temporary placing means for temporarily placing the workpiece carried out by the mechanism 7, an auxiliary temporary placing mechanism 9 as auxiliary temporary placing means disposed adjacent to the temporary placing mechanism 8, A cleaning mechanism 10 for cleaning the workpiece after cutting. The cassette mounting mechanism 6 is configured such that the cassette 60 is mounted on a cassette table 61 which is moved up and down by an elevating unit driven based on a drive signal output from control means (not shown). The cassette 60 accommodates a semiconductor wafer W attached to a surface of a dicing tape T mounted on an annular frame F. In addition, a notch F-1 and a flat surface F-2 are provided on the outer periphery of the annular frame F to which a restriction pin as a restriction member described later is engaged.

搬出・搬入機構7は、図1に示すように上記門型の支持フレーム41を構成する支持部413の表面側に配設された移動部としての搬送移動手段71と、該搬送移動手段71によってY軸方向に移動させられる支持基台72と、該支持基台72と搬送移動手段71とを連結する連結部材73とからなっている。搬送移動手段71は支持基台72が連結された連結部材73をY軸方向に移動させるベルト機構からなっている。図5および6を参照して説明を続けると、搬出・搬入機構7を構成する支持基台72には、カセット載置機構6に載置されたカセット60に収容された半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFを把持するための把持部としての把持部材74と、該把持部材74を上下方向に移動するエアーシリンダ740と、把持部材74の両側に配設され上記環状のフレームFに設けられたノッチF−1およびフラット面F−2と係合して環状のフレームFを所定の位置に規制する一対の規制部材としての規制ピン75と、が取付けられている(図6参照)。このように構成された搬出・搬入機構7は、支持基台72をカセット載置機構6に載置されたカセット60に向けて移動し、一対の規制ピン75をカセット60に収容された半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFに設けられたノッチF−1およびフラット面F−2と係合することにより、半導体ウエーハWを所定の位置に位置規制する。そして、エアーシリンダ740によって把持部材74を上方に移動することにより、環状のフレームFを支持基台72と把持部材74との間に把持する。   As shown in FIG. 1, the carrying-in / carrying-out mechanism 7 includes a carrying / moving unit 71 as a moving unit disposed on the surface side of the supporting unit 413 constituting the portal-shaped supporting frame 41, and the carrying / moving unit 71. The support base 72 is moved in the Y-axis direction, and a connecting member 73 connects the support base 72 and the transfer unit 71. The transport moving means 71 is composed of a belt mechanism for moving the connecting member 73 to which the support base 72 is connected in the Y-axis direction. 5 and 6, the semiconductor wafer W stored in the cassette 60 mounted on the cassette mounting mechanism 6 is diced on the support base 72 constituting the unloading / loading mechanism 7. A gripping member 74 as a gripping portion for gripping the annular frame F supported via the tape T, an air cylinder 740 for vertically moving the gripping member 74, and the air cylinder 740 disposed on both sides of the gripping member 74 A restriction pin 75 as a pair of restriction members for engaging the notch F-1 and the flat surface F-2 provided on the annular frame F to regulate the annular frame F at a predetermined position is attached. (See FIG. 6). The unloading / loading mechanism 7 configured as described above moves the support base 72 toward the cassette 60 mounted on the cassette mounting mechanism 6, and moves the pair of regulating pins 75 to the semiconductor wafer housed in the cassette 60. The semiconductor wafer W is restricted to a predetermined position by engaging the notch F-1 and the flat surface F-2 provided on the annular frame F supporting the dicing tape T via the dicing tape T. Then, the holding member 74 is moved upward by the air cylinder 740 to hold the annular frame F between the support base 72 and the holding member 74.

また、搬出・搬入機構7を構成する支持基台72には、下側に配設され後述する切削済みの半導体ウエーハWを、ダイシンテープTを介して支持する環状のフレームFを把持するための補助把持部としての補助把持部材76と、該補助把持部材76を上下方向に移動するエアーシリンダ760と、補助把持部材76の両側に配設され上記環状のフレームFと係合して環状のフレームFを所定の位置に規制する一対の補助規制部材としての補助規制ピン77が取付けられている(図6参照)。更に、搬出・搬入機構7を構成する支持基台72には、後述する洗浄機構の噴射ノズル13と選択的に係合する係合手段78が配設されている。この係合手段78は、支持基台72の下面より下方に向けて進退可能に配設された係合ロッド781と、該係合ロッド781を進退させるエアーシリンダ782とからなっている。さらに、支持基台72の把持部材74が配設された領域と、補助把持部材76とが配設された領域とは、傾斜連結部79を介して連結されており、把持部材74によって環状のフレームFが把持される高さは、補助把持部材76によって環状のフレームFが把持される高さよりも高く、すなわち、把持部材74が配設された領域と、補助把持部材76とが配設された領域との間には段差が設定されている。なお、当該傾斜連結部79により段差を設ける理由については追って説明する。   The support base 72 constituting the unloading / loading mechanism 7 is provided on the lower side for holding an annular frame F that supports a cut semiconductor wafer W, which will be described later, via a dicing tape T. An auxiliary gripping member 76 as an auxiliary gripping portion, an air cylinder 760 for moving the auxiliary gripping member 76 in the vertical direction, and an annular frame disposed on both sides of the auxiliary gripping member 76 and engaged with the annular frame F. An auxiliary regulating pin 77 as a pair of auxiliary regulating members for regulating F to a predetermined position is attached (see FIG. 6). Further, the support base 72 constituting the unloading / loading mechanism 7 is provided with an engaging means 78 which selectively engages with the jet nozzle 13 of the cleaning mechanism described later. The engagement means 78 includes an engagement rod 781 that is provided so as to be able to advance and retreat downward from the lower surface of the support base 72, and an air cylinder 782 that advances and retreats the engagement rod 781. Further, the region of the support base 72 where the gripping member 74 is provided and the region where the auxiliary gripping member 76 is provided are connected via an inclined connecting portion 79. The height at which the frame F is gripped is higher than the height at which the annular frame F is gripped by the auxiliary gripping member 76, that is, the region where the gripping member 74 is provided and the auxiliary gripping member 76 are provided. A step is set between the region and the region. The reason for providing the step by the inclined connecting portion 79 will be described later.

上記仮置手段としての仮置き機構8について、図1、7および8を参照して説明する。仮置き機構8は、上記カセット載置機構6とY軸方向に隣接して上記保持テーブル34の被加工物着脱領域の直上に配設されている。この仮置き機構8は、一対の第1の支持レール80Aと、該第1の支持レール80Aの直下に配設された一対の第2の支持レール80Bから構成される。該第1の支持レール80Aは、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部をX軸方向で支持するための底部81a、81bと側部82a、82bとを有し、該底部81a、81bは、開閉手段85a、85bにより開閉可能に構成されている。また、該第2の支持レール80Bも、第1の支持レール80Aと略同様の構成を有しており、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部をX軸方向で支持するための底部86a、86bと側部87a、87bとを有し、該底部86a、86bは、開閉手段88a、88bにより開閉可能に構成されている。なお、図7では開閉手段88aは作図上見えていないが、開閉手段85aの直下に位置付けられる。   The temporary placement mechanism 8 as the temporary placement means will be described with reference to FIGS. The temporary placing mechanism 8 is disposed adjacent to the cassette placing mechanism 6 in the Y-axis direction and immediately above the workpiece attachment / detachment area of the holding table 34. The temporary placing mechanism 8 includes a pair of first support rails 80A and a pair of second support rails 80B disposed immediately below the first support rails 80A. The first support rail 80A has bottoms 81a and 81b and side parts 82a and 82b that extend in the Y-axis direction and support both sides of the annular frame F in the X-axis direction. , 81b can be opened and closed by opening and closing means 85a, 85b. The second support rail 80B has substantially the same configuration as the first support rail 80A, and extends in the Y-axis direction to support both sides of the annular frame F in the X-axis direction. And bottom portions 86a and 86b and side portions 87a and 87b. The bottom portions 86a and 86b can be opened and closed by opening and closing means 88a and 88b. In FIG. 7, the opening / closing means 88a is not visible in the drawing, but is positioned immediately below the opening / closing means 85a.

上記した第1、第2の支持レール80A、80Bは、上下に位置付けられ一体化されており、両者を上下方向に移動させる昇降部89を備えている。なお、該一対の第1の支持レール80Aを構成する側部82a、82bの上端には、互いに内側に突出するフランジ部83a、83bが設けられており、該フランジ部83a、83bの一端部側が、連結部84によって連結されている。開閉手段85a、85b、88a、88bは図示の実施形態においてはエアーモータからなっており、第1、第2の支持レール80A、80Bの底部81a、81b、86a、86bのすべてを閉位置とする状態(図8(a)を参照)、底部81a、81b、86a、86bのすべてを開位置とする状態(図8(b)を参照)、底部81a、81bを閉位置に維持し、底部86a、86bを開位置とする状態(図8(c)を参照)にそれぞれ作動させることが可能になっている。上記昇降部89は、図示しない固定部材に取り付けられたエアーシリンダ891からなっており、該エアーシリンダ891のピストンロッド862の先端が上記連結部84に連結されている。   The above-described first and second support rails 80A and 80B are positioned vertically and integrated, and include an elevating unit 89 for moving the both vertically. It should be noted that flanges 83a, 83b projecting inward from each other are provided at the upper ends of the side portions 82a, 82b constituting the pair of first support rails 80A, and one end sides of the flange portions 83a, 83b are connected to each other. , And a connecting portion 84. The opening / closing means 85a, 85b, 88a, 88b are air motors in the illustrated embodiment, and all the bottoms 81a, 81b, 86a, 86b of the first and second support rails 80A, 80B are closed. The state (see FIG. 8A), the state where all of the bottoms 81a, 81b, 86a, 86b are in the open position (see FIG. 8B), the bottoms 81a, 81b are maintained in the closed position, and the bottom 86a is maintained. , 86b in the open position (see FIG. 8C). The elevating unit 89 includes an air cylinder 891 attached to a fixing member (not shown). The tip of a piston rod 862 of the air cylinder 891 is connected to the connecting unit 84.

上記補助仮置き機構9は、上記仮置き機構8とY軸方向に隣接し上記カセット載置機構6に対してY軸方向反対側において後述する洗浄手段としての洗浄機構10の直上に配設されている。この補助仮置き機構9は、上記仮置き機構8と同様の構成であり、図7に示すように一対の第1の補助支持レール90Aと、該第1の補助支持レール90Aの直下に配設された一対の第2の補助支持レール90Bから構成される。該第1の補助支持レール90Aは、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部をX軸方向で支持するための底部91a、91bと側部92a、92bとを有し、該底部91a、91bは、開閉手段95a、95bにより開閉可能に構成されている。また、該第2の補助支持レール90Bも、第1の補助支持レール90Aと同様の構成を有しており、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部をX軸方向で支持するための底部96a、96bと側部97a、97bとを有し、該底部96a、96bは、開閉手段98a、98bにより開閉可能に構成されている。   The auxiliary temporary placing mechanism 9 is disposed immediately adjacent to the temporary placing mechanism 8 in the Y-axis direction and on the opposite side of the cassette placing mechanism 6 in the Y-axis direction, directly above a cleaning mechanism 10 as a cleaning means described later. ing. This auxiliary temporary placing mechanism 9 has the same configuration as the temporary temporary placing mechanism 8, and as shown in FIG. 7, is provided with a pair of first auxiliary supporting rails 90A and directly below the first auxiliary supporting rails 90A. And a pair of second auxiliary support rails 90B. The first auxiliary support rail 90A has bottom portions 91a, 91b and side portions 92a, 92b extending in the Y-axis direction and supporting both side portions of the annular frame F in the X-axis direction. The components 91a and 91b can be opened and closed by opening and closing means 95a and 95b. The second auxiliary support rail 90B also has the same configuration as the first auxiliary support rail 90A, and extends in the Y-axis direction to support both sides of the annular frame F in the X-axis direction. And bottom portions 96a and 96b and side portions 97a and 97b, and the bottom portions 96a and 96b can be opened and closed by opening and closing means 98a and 98b.

第1、第2の補助支持レール90A、90Bは、上下に位置付けられ一体化されており、両者を上下方向に移動させる補助昇降部99を備えている。なお、該一対の第1の補助支持レール90Aを構成する側部92a、92bの上端には、互いに内側に突出するフランジ部93a、93bが設けられており、該フランジ部93a、93bの一端部側が、連結部94によって連結されている。開閉手段95a、95b、98a、98bは図示の実施形態においてはエアーモータからなっており、一対の第1、第2の補助支持レール90A、90Bの底部91a、91b、96a、96bのすべてを閉位置とする状態、底部91a、91b、96a、96bのすべてを開位置とする状態、底部91a、91bを閉位置に維持し、底部96a、96bを開位置とする状態にそれぞれ作動させることが可能になっている。上記補助昇降部99は、図示しない固定部材に取り付けられたエアーシリンダ991からなっており、該エアーシリンダ991のピストンロッド992が上記連結部94に連結されている。図7に示したように、仮置き機構8、補助仮置き機構9は、平面視でコ字状をなし、開口側が互いに向き合うように配設されており、一方側に保持されたフレームFに保持されたウエーハを、両機構の底部に沿って他方側に移送可能になっている。なお、補助仮置き機構9の該底部の作動については、図8に示した第1、第2の支持レール80A、80Bの動作と同様であるので図示は省略するが、以降、補助仮置き機構9の作動について図8を参照する場合は、仮置き機構8の構成部材に基づいて付与された数字を、該補助仮置き機構9の構成部材の数字に置き換えて参照するものとする。   The first and second auxiliary support rails 90A and 90B are positioned vertically and integrated, and include an auxiliary elevating unit 99 for moving the both vertically. Incidentally, flanges 93a, 93b projecting inward from each other are provided at the upper ends of the side portions 92a, 92b constituting the pair of first auxiliary support rails 90A, and one end of the flange portions 93a, 93b. The sides are connected by a connecting portion 94. The opening / closing means 95a, 95b, 98a, 98b comprises an air motor in the illustrated embodiment, and closes all the bottoms 91a, 91b, 96a, 96b of the pair of first and second auxiliary support rails 90A, 90B. It can be operated in a state where it is in a position, a state where all of the bottom parts 91a, 91b, 96a and 96b are in an open position, a state where the bottom parts 91a and 91b are kept in a closed position and the bottom parts 96a and 96b are in an open position. It has become. The auxiliary lifting unit 99 includes an air cylinder 991 attached to a fixing member (not shown), and a piston rod 992 of the air cylinder 991 is connected to the connection unit 94. As shown in FIG. 7, the temporary placing mechanism 8 and the auxiliary temporary placing mechanism 9 have a U-shape in plan view, are disposed so that the opening sides face each other, and are mounted on the frame F held on one side. The held wafer can be transferred to the other side along the bottom of both mechanisms. The operation of the bottom portion of the auxiliary temporary placing mechanism 9 is the same as the operation of the first and second support rails 80A and 80B shown in FIG. When FIG. 8 is referred to for the operation of 9, the numbers given based on the constituent members of the temporary placing mechanism 8 are replaced with the numbers of the constituent members of the auxiliary temporary placing mechanism 9 to refer to.

次に、上記洗浄手段としての洗浄機構10について、図1および図10を参照して説明する。図示の実施形態における洗浄機構10は、上記仮置き機構8に隣接しカセット載置機構6に対してY軸方向反対側に配設される。この洗浄機構10は、洗浄ハウジング11を備えている。この洗浄ハウジング11は、前壁111と後壁112と側壁113および114と低壁(図示せず)とからなっており、上方が解放されている。このように構成された洗浄ハウジング11内には、スピンナーテーブル12が配設されている。スピンナーテーブル12は、テーブル本体121と、該テーブル本体121の上面に配設された吸着チャック122と、テーブル本体121を回転駆動するサーボモータ123とからなっている。テーブル本体121は、外径が上記ウエーハWの外径より大きくウエーハWを、ダイシングテーブルTを介して支持する環状のフレームFの内径よりも小さく形成されている。吸着チャック122は、ポーラスセラミックスによって形成され図示しない吸引手段に接続されており、適宜負圧が作用させられるようになっている。従って、吸着チャック122上に載置された被加工物は、図示しない吸引手段を作動することにより吸着チャック122上に吸引保持される。   Next, the cleaning mechanism 10 as the cleaning means will be described with reference to FIGS. The cleaning mechanism 10 in the illustrated embodiment is disposed adjacent to the temporary placing mechanism 8 and on the opposite side of the cassette placing mechanism 6 in the Y-axis direction. The cleaning mechanism 10 includes a cleaning housing 11. The cleaning housing 11 includes a front wall 111, a rear wall 112, side walls 113 and 114, and a low wall (not shown). A spinner table 12 is provided in the cleaning housing 11 configured as described above. The spinner table 12 includes a table main body 121, a suction chuck 122 provided on the upper surface of the table main body 121, and a servomotor 123 that drives the table main body 121 to rotate. The table main body 121 is formed such that the outer diameter is larger than the outer diameter of the wafer W and smaller than the inner diameter of an annular frame F that supports the wafer W via the dicing table T. The suction chuck 122 is formed of porous ceramics and connected to a suction unit (not shown) so that a negative pressure is applied as appropriate. Therefore, the workpiece placed on the suction chuck 122 is suction-held on the suction chuck 122 by operating a suction unit (not shown).

図1および図10を参照して説明を続けると、洗浄ハウジング11の前壁111にはY軸方向に沿って形成された案内孔111aが設けられており、この案内孔111aに上記スピンナーテーブル12に保持された被加工物に洗浄水を噴射する噴射ノズル13がY軸方向に移動可能に配設されている。この噴射ノズル13には、一端に錘14が連結されたワイヤー15の他端がプーリー16を介して連結され、錘14の重力によって矢印Y1で示す方向に移動するように構成されている。上記搬出・搬入機構7を構成する支持基台72に配設された係合手段78は、支持基台72の下面より下方に向けて進退可能に配設された係合ロッド781を備えており、噴射ノズル13には、該係合ロッド781が進出した状態で噴射ノズル13における錘14の重力によって移動する矢印Y1で示す方向から接触させられる。なお、噴射ノズル13は、図示しない洗浄水供給手段に接続させられる。   1 and 10, the front wall 111 of the cleaning housing 11 is provided with a guide hole 111a formed along the Y-axis direction, and the guide hole 111a is provided in the guide hole 111a. An injection nozzle 13 that injects cleaning water to the workpiece held in the nozzle is disposed so as to be movable in the Y-axis direction. The other end of a wire 15 having one end connected to a weight 14 is connected to the injection nozzle 13 via a pulley 16, and is configured to move in a direction indicated by an arrow Y <b> 1 by gravity of the weight 14. The engagement means 78 provided on the support base 72 constituting the unloading / loading mechanism 7 includes an engagement rod 781 provided so as to be able to advance and retreat downward from the lower surface of the support base 72. The ejection nozzle 13 is brought into contact with the ejection rod 13 in a direction indicated by an arrow Y1 which is moved by gravity of the weight 14 of the ejection nozzle 13 in a state where the engagement rod 781 is advanced. The injection nozzle 13 is connected to a cleaning water supply unit (not shown).

図示の実施形態における切削装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
先ず、図11に示すように、仮置き機構8のエアーシリンダ891を作動して一対の第1の支持レール80Aを上部位置に位置付けるとともに、搬出・搬入機構7の把持部材74(図6参照)および一対の規制ピン75(図5、図6を参照)が配設された支持基台72を図示の位置(待機位置)に位置付ける。
The cutting device in the illustrated embodiment is configured as described above, and its operation will be described below.
First, as shown in FIG. 11, the air cylinder 891 of the temporary placing mechanism 8 is operated to position the pair of first support rails 80A at the upper position, and the gripping member 74 of the carrying-out / loading mechanism 7 (see FIG. 6). The support base 72 on which the pair of regulating pins 75 (see FIGS. 5 and 6) are disposed is positioned at the position shown (standby position).

次に、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71(図1および図5を参照)を作動して図12に示すように把持部材74および一対の規制ピン75が配設された支持基台72をカセット載置機構6側に移動し、一対の規制ピン75を、カセット60に収容された半導体ウエーハWをダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFに設けられたノッチF−1およびフラット面F−2(図1参照)と係合することにより半導体ウエーハWを所定の位置に位置規制する。そして、エアーシリンダ740を作動することにより、環状のフレームFを支持基台72と把持部材74(図6参照)との間に把持する。   Next, the transfer unit 71 (see FIGS. 1 and 5) of the unload / load mechanism 7 is operated to support the support base 72 on which the gripping member 74 and the pair of regulating pins 75 are disposed as shown in FIG. Is moved to the cassette mounting mechanism 6 side, and the pair of regulating pins 75 are connected to a notch F-1 and a flat plate provided on an annular frame F supporting the semiconductor wafer W accommodated in the cassette 60 via a dicing tape T. The position of the semiconductor wafer W is regulated to a predetermined position by engaging with the surface F-2 (see FIG. 1). Then, by operating the air cylinder 740, the annular frame F is gripped between the support base 72 and the gripping member 74 (see FIG. 6).

環状のフレームFを支持基台72と把持部材74とによって把持したならば、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71を作動して支持基台72をカセット載置機構6と反対側に移動し、図13に示すように環状のフレームFを仮置き機構8の上段側に位置する一対の第1の支持レール80Aに搬送し把持部材74による把持状態を解除して仮置きする。   When the annular frame F is gripped by the support base 72 and the holding member 74, the transfer unit 71 of the unloading / loading mechanism 7 is operated to move the support base 72 to the side opposite to the cassette mounting mechanism 6. As shown in FIG. 13, the annular frame F is transported to the pair of first support rails 80A located on the upper side of the temporary placing mechanism 8, released from the gripping state by the gripping member 74, and temporarily placed.

環状のフレームFを仮置き機構8の一対の第1の支持レール80Aに搬送し仮置きしたならば、図14に示すように、エアーシリンダ891を作動して一対の第1の支持レール80Aを下降して下部位置に位置付ける。この結果、環状のフレームFに装着された半導体ウエーハWが貼着されているダイシングテープTが、保持テーブル機構3における被加工物着脱位置に位置付けられている保持テーブル34の上面に載置される。そして、上記開閉手段85a、85b、88a、88bを作動して一対の第1、第2の支持レール80A、80Bの底部81a、81b、86a、86bを、図8(b)に実線で示す開位置に位置付ける。   When the annular frame F is transported to the pair of first support rails 80A of the temporary placing mechanism 8 and temporarily placed, as shown in FIG. 14, the air cylinder 891 is operated to move the pair of first support rails 80A. Descend to the lower position. As a result, the dicing tape T to which the semiconductor wafer W attached to the annular frame F is adhered is placed on the upper surface of the holding table 34 positioned at the workpiece attaching / detaching position in the holding table mechanism 3. . Then, by operating the opening / closing means 85a, 85b, 88a, 88b, the bottom portions 81a, 81b, 86a, 86b of the pair of first and second support rails 80A, 80B are opened by solid lines in FIG. Position.

次に、図示しない吸引手段を作動することにより、図15に示すように保持テーブル34の上面にダイシングテープTを介して半導体ウエーハWを吸引保持する。そして、仮置き機構8のエアーシリンダ891を作動して、底部81a、81b、86a、86bを、開位置に維持したまま、一対の第1、第2の支持レール80A、80Bを共に上昇させる。   Next, by operating a suction unit (not shown), the semiconductor wafer W is suction-held on the upper surface of the holding table 34 via the dicing tape T as shown in FIG. Then, the air cylinder 891 of the temporary placing mechanism 8 is operated to raise the pair of first and second support rails 80A and 80B together while keeping the bottom portions 81a, 81b, 86a and 86b at the open positions.

図15に示すように保持テーブル34の上面にダイシングテープTを介して半導体ウエーハWを吸引保持したならば、保持テーブル機構3を構成する加工送り手段35を作動して半導体ウエーハWを吸引保持した保持テーブル34を図16に示すように切削機構4が配設された加工領域に移動する。そして、第1の切削手段5a、と第2の切削手段5bとによって保持テーブル34に保持された半導体ウエーハWに所定の切削加工が施される。なお、保持テーブル34は上述したように外径が半導体ウエーハWの外径より大きく環状のフレームFの内径より小さく形成されているので、環状のフレームFが自重によって僅かに垂れ下がり、切削加工において第1の切削手段5aと第2の切削手段5bの切削ブレード533と干渉することがないとともに、フレーム押え機構を必要とせずコスト低減になる。   As shown in FIG. 15, when the semiconductor wafer W is suction-held on the upper surface of the holding table 34 via the dicing tape T, the processing and feeding means 35 constituting the holding table mechanism 3 is operated to suction-hold the semiconductor wafer W. The holding table 34 is moved to a processing area where the cutting mechanism 4 is provided as shown in FIG. Then, a predetermined cutting process is performed on the semiconductor wafer W held on the holding table 34 by the first cutting means 5a and the second cutting means 5b. Since the holding table 34 has an outer diameter larger than the outer diameter of the semiconductor wafer W and smaller than the inner diameter of the annular frame F as described above, the annular frame F slightly hangs down by its own weight, and the holding table 34 has There is no interference with the cutting blades 533 of the first cutting means 5a and the second cutting means 5b, and the cost is reduced because no frame holding mechanism is required.

上述したように、保持テーブル34に保持された半導体ウエーハWに所定の切削加工を施したならば、加工送り手段35を作動して切削済みの半導体ウエーハWを吸引保持した保持テーブル34を図17に示す被加工物着脱位置に位置付ける。この状態で、保持テーブル34に保持された切削済みの半導体ウエーハWは、仮置き機構8の直下に位置付けられる。   As described above, when the semiconductor wafer W held on the holding table 34 is subjected to a predetermined cutting process, the holding table 34 holding the cut semiconductor wafer W by suction is operated by operating the processing feeding means 35 as shown in FIG. At the workpiece attachment / detachment position shown in FIG. In this state, the cut semiconductor wafer W held by the holding table 34 is positioned immediately below the temporary placing mechanism 8.

保持テーブル34に保持された切削済みの半導体ウエーハWを仮置き機構8の直下に位置付けたならば、少なくとも仮置き機構8の下段側に位置する一対の第2の支持レール80Bの底部86a、86bを開位置にある状態に維持した状態でエアーシリンダ891を作動して、図18に示すように、一対の第2の支持レール80Bを下降して下部位置に位置付ける。そして、一対の第2の支持レール80Bの底部86a、86bを閉位置に位置付けて環状のフレームFを支持するとともに、保持テーブル34により半導体ウエーハWの吸引保持を解除する。   If the cut semiconductor wafer W held by the holding table 34 is positioned immediately below the temporary placing mechanism 8, at least the bottom portions 86a and 86b of the pair of second support rails 80B located below the temporary placing mechanism 8. The air cylinder 891 is operated in a state where is maintained at the open position to lower the pair of second support rails 80B to the lower position as shown in FIG. Then, the bottom portions 86a and 86b of the pair of second support rails 80B are positioned at the closed position to support the annular frame F, and the holding table 34 releases the suction holding of the semiconductor wafer W.

次に、仮置き機構8のエアーシリンダ891を作動して環状のフレームFを支持した一対の第2の支持レール80Bを上昇させ、図19に示すように、上記した上部位置よりも下方で搬出・搬入機構7の把持部材76および一対の規制ピン77が一対の第2の支持レール80Bに支持された切削済み半導体ウエーハWの上方を移動できる中間位置に一対の第2の支持レール80Bを位置付ける。   Next, the pair of second support rails 80B supporting the annular frame F is raised by operating the air cylinder 891 of the temporary placing mechanism 8, and as shown in FIG. Positioning the pair of second support rails 80B at an intermediate position where the gripping member 76 and the pair of regulating pins 77 of the loading mechanism 7 can move above the cut semiconductor wafer W supported by the pair of second support rails 80B. .

そして、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71を作動して、図20に示すように支持基台72をカセット載置機構6側に移動し、一対の規制ピン75(図5、図6を参照)をカセット60に収容された未加工の半導体ウエーハWに対して近接させ、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFに設けられたノッチF−1およびフラット面F−2(図1を参照)と係合することにより、半導体ウエーハWを所定の位置に位置規制する。そして、エアーシリンダ740を作動することにより新たな半導体ウエーハWを支持した環状のフレームFを支持基台72と把持部材74(図6を参照)との間に把持する。この動作は、把持部材74と一対の規制ピン75を、該第2の支持レール80Bに支持されている切削済みの半導体ウエーハWの上方を移動しつつ実行される。   Then, the transfer unit 71 of the unloading / loading mechanism 7 is operated to move the support base 72 toward the cassette mounting mechanism 6 as shown in FIG. 20, and a pair of regulating pins 75 (see FIGS. 5 and 6). Notch F-1 and a flat surface F-2 (FIG. 1) provided on an annular frame F supported via a dicing tape T by bringing the unprocessed semiconductor wafer W accommodated in the cassette 60 into close proximity. ), The position of the semiconductor wafer W is regulated at a predetermined position. Then, by operating the air cylinder 740, the annular frame F supporting the new semiconductor wafer W is gripped between the support base 72 and the gripping member 74 (see FIG. 6). This operation is performed while moving the gripping member 74 and the pair of regulating pins 75 above the cut semiconductor wafer W supported by the second support rail 80B.

次に、仮置き機構8のエアーシリンダ891を作動して切削済み半導体ウエーハWを支持している一対の第2の支持レール80Bを僅かに上昇させることにより、切削済み半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFにおけるカセット載置機構6側の端面を支持基台72に配設された一対の補助規制ピン77と対向する位置に位置付ける。上述したように、支持基台72のカセット載置機構6側の領域には、傾斜連結部79を介し段差を持って把持部材74が設置された領域と補助把持部材76が設置された領域が接続されており、補助規制ピン77が配設された位置は、把持部材74が配設された位置に対して段差を持って低い位置になるように形成されている。そして、その段差は、ちょうど、第1の支持レール80Aの底部と、第2の支持レール80Bの底部との距離に相当するように設定されている。よって、その後、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71を作動して図21に示すように支持基台72をカセット載置機構6と反対側移動することにより、支持基台72と把持部材74によって把持された新たな半導体ウエーハWを支持した環状のフレームFを仮置き機構8の上段側に位置する一対の第1の支持レール80Aに搬送して把持部材74による把持状態を解除すると共に、一対の補助規制ピン77が当接される切削済みの半導体ウエーハWを支持した環状のフレームFを補助仮置き機構9の下段側に位置する一対の第2の補助支持レール90Bに搬送する。   Next, by operating the air cylinder 891 of the temporary placing mechanism 8 to slightly raise the pair of second support rails 80B supporting the cut semiconductor wafer W, an annular shape supporting the cut semiconductor wafer W is formed. The end face of the frame F on the cassette mounting mechanism 6 side is positioned at a position facing a pair of auxiliary regulation pins 77 provided on the support base 72. As described above, in the region of the support base 72 on the cassette mounting mechanism 6 side, there are a region where the holding member 74 is installed with a step via the inclined connecting portion 79 and a region where the auxiliary holding member 76 is installed. The position where the auxiliary regulating pin 77 is disposed is lower than the position where the gripping member 74 is disposed with a step. The step is set so as to correspond to the distance between the bottom of the first support rail 80A and the bottom of the second support rail 80B. Therefore, after that, the transfer unit 71 of the unload / load mechanism 7 is operated to move the support base 72 on the opposite side of the cassette mounting mechanism 6 as shown in FIG. The annular frame F supporting the new semiconductor wafer W gripped by the above is transported to the pair of first support rails 80A located on the upper side of the temporary placing mechanism 8 to release the gripping state by the gripping member 74, The annular frame F supporting the cut semiconductor wafer W on which the pair of auxiliary control pins 77 is in contact is transported to the pair of second auxiliary support rails 90B located on the lower side of the auxiliary temporary placing mechanism 9.

切削済み半導体ウエーハWを支持した環状のフレームFを補助仮置き機構9の下段側に位置する一対の第2の補助支持レール90Bに搬送したならば、図22に示すようにエアーシリンダ991を作動して一対の第2の補助支持レール90Bを下降して下部位置に位置付ける。なお、上述したように、補助仮置き機構9も、仮置き機構8と同様に、上部に位置する第1の補助支持レール90Aと、第2の補助支持レール90Bとは一体的に構成されているため、一体的に下降させられる。この状態で環状のフレームFに装着された半導体ウエーハWが貼着されているダイシングテープTが、洗浄機構10のスピンナーテーブル12の上面に接触する。そして、一対の第2の補助支持レール90Bの底部96a、96bを閉位置から開位置に位置付けることにより(図8(c)を参照)、切削済みの半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介してスピンナーテーブル12の上面に載置する。そして、図示しない吸引手段を作動することにより、スピンナーテーブル12の上面にダイシングテープTを介して切削済みの半導体ウエーハWを吸引保持する。   When the annular frame F supporting the cut semiconductor wafer W is transported to the pair of second auxiliary support rails 90B located on the lower side of the auxiliary temporary placing mechanism 9, the air cylinder 991 is operated as shown in FIG. Then, the pair of second auxiliary support rails 90B is lowered to be positioned at the lower position. As described above, in the auxiliary temporary placing mechanism 9 as well, the first auxiliary supporting rail 90A and the second auxiliary supporting rail 90B located at the upper part are integrally formed, similarly to the temporary placing mechanism 8. Therefore, they can be lowered integrally. In this state, the dicing tape T to which the semiconductor wafer W attached to the annular frame F is attached comes into contact with the upper surface of the spinner table 12 of the cleaning mechanism 10. Then, by positioning the bottom portions 96a and 96b of the pair of second auxiliary support rails 90B from the closed position to the open position (see FIG. 8 (c)), the cut semiconductor wafer W can be transferred via the dicing tape T. It is placed on the upper surface of the spinner table 12. Then, by operating suction means (not shown), the cut semiconductor wafer W is suction-held on the upper surface of the spinner table 12 via the dicing tape T.

なお、本実施形態では、環状のフレームFに装着された半導体ウエーハWが貼着されているダイシングテープTを、洗浄機構10のスピンナーテーブル12の上面に接触させて、一対の第2の補助支持レール90Bの底部96a、96bのみを閉位置から開位置に位置付けることにより、半導体ウエーハWをスピンナーテーブル12の上面に載置したが、必ずしもこのように制御する必要はなく、図8(b)に示すように、底部91a、91bと底部96a、96bとを常に同時に開位置、閉位置に制御するようにしてもよく、その場合は、4つで構成される開閉手段95a、95b、98a、98bを2つに集約することができ、制御ロジックもシンプルに構成することができる。   In the present embodiment, the dicing tape T, to which the semiconductor wafer W attached to the annular frame F is attached, is brought into contact with the upper surface of the spinner table 12 of the cleaning mechanism 10 to form a pair of second auxiliary supports. The semiconductor wafer W is placed on the upper surface of the spinner table 12 by positioning only the bottom portions 96a and 96b of the rail 90B from the closed position to the open position. However, such control is not necessarily required. As shown, the bottom portions 91a and 91b and the bottom portions 96a and 96b may be always controlled to be in the open position and the closed position at the same time. In this case, the opening / closing means 95a, 95b, 98a, and 98b formed of four members And the control logic can be simply configured.

次に、仮置き機構8の第1、第2の支持レール80A、80Bと補助仮置き機構9の第1、第2の補助支持レール90A、90Bを図23(a)に示すように上方に移動させて、スピンナーテーブル12を回転するとともに、図23(b)に示すように図示しない洗浄水供給手段を作動することにより噴射ノズル13から洗浄水130を噴射する。このとき、搬出・搬入機構7の支持基台72に配設された係合手段78の係合ロッド781を進出して噴射ノズル13と係合する位置に位置付け、搬送移動手段71を作動して係合ロッド781をY軸方向に往復動させる。従って、噴射ノズル13に対して別個の駆動機構を追加せずに、連結されたワイヤー15の一端に連結された錘14の重力と協働して噴射ノズル13をY軸方向に往復動させることができる。なお、噴射ノズル13の往復動範囲は、少なくとも切削済みの半導体ウエーハWの外周から中心までの範囲でよい。この結果、スピンナーテーブル12にダイシングテープTを介して吸引保持された切削済みの半導体ウエーハWはスピンナー洗浄される。そして、上記噴射ノズル13のY軸方向への往復動においても、搬出・搬入機構7が駆動源となっているので、小型化が可能になるとともに、コストの低減を図ることができる。また、スピンナーテーブル12は上述したように外径が半導体ウエーハWの外径より大きく環状のフレームFの内径より小さく形成されているので、環状のフレームFが自重によって僅かに垂れ下がり半導体ウエーハWに供給された洗浄水が円滑に排出されるとともに、フレーム押え機構が不要となり、コスト低減になる。   Next, the first and second support rails 80A and 80B of the temporary placement mechanism 8 and the first and second auxiliary support rails 90A and 90B of the auxiliary temporary placement mechanism 9 are moved upward as shown in FIG. By moving the spinner table 12, the washing water 130 is sprayed from the spray nozzle 13 by operating the washing water supply means (not shown) as shown in FIG. At this time, the engaging rod 781 of the engaging means 78 provided on the support base 72 of the unloading / loading mechanism 7 is advanced to a position where it is engaged with the injection nozzle 13, and the transport moving means 71 is operated. The engaging rod 781 is reciprocated in the Y-axis direction. Therefore, the injection nozzle 13 is reciprocated in the Y-axis direction in cooperation with the gravity of the weight 14 connected to one end of the connected wire 15 without adding a separate driving mechanism to the injection nozzle 13. Can be. The reciprocating range of the injection nozzle 13 may be at least a range from the outer periphery to the center of the cut semiconductor wafer W. As a result, the cut semiconductor wafer W suction-held on the spinner table 12 via the dicing tape T is subjected to spinner cleaning. Also, in the reciprocating movement of the injection nozzle 13 in the Y-axis direction, the carry-out / carry-in mechanism 7 is a driving source, so that downsizing can be achieved and cost can be reduced. Further, since the spinner table 12 is formed such that the outer diameter is larger than the outer diameter of the semiconductor wafer W and smaller than the inner diameter of the annular frame F as described above, the annular frame F slightly sags by its own weight and is supplied to the semiconductor wafer W. The drained cleaning water is smoothly discharged, and a frame holding mechanism is not required, thereby reducing costs.

上述したように、切削済みの半導体ウエーハWを洗浄したならば、搬出・搬入機構7を上記待機位置に位置付けるとともに、補助仮置き機構9の上段側に位置する一対の第1の補助支持レール90Aの底部91a、91b、および下段側に位置する第2の補助支持レール90Bの底部96a、96bを開位置に位置付けた状態(図8(b)を参照)で、補助昇降部99を作動して下降させて第1の補助支持レール90Aの該底部91a、91bを、半導体ウエーハを支持する環状のフレームFの高さ位置に位置付け、図24に示すように、第1の補助支持レール90A、第2の補助支持レール90Bの該底部91a、91b、96a、96bを閉位置にして洗浄済みの半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFを支持する。そして、スピンナーテーブル12により半導体ウエーハWの吸引補助を解除する。   As described above, when the cut semiconductor wafer W is cleaned, the carry-out / carry-in mechanism 7 is positioned at the standby position, and the pair of first auxiliary support rails 90A located on the upper stage side of the auxiliary temporary placement mechanism 9 are arranged. With the bottom portions 91a and 91b and the bottom portions 96a and 96b of the second auxiliary support rail 90B located on the lower side positioned at the open position (see FIG. 8B), the auxiliary elevating unit 99 is operated. By lowering, the bottom portions 91a and 91b of the first auxiliary support rail 90A are positioned at the height of the annular frame F supporting the semiconductor wafer, and as shown in FIG. With the bottom portions 91a, 91b, 96a, and 96b of the second auxiliary support rail 90B closed, an annular frame F that supports the cleaned semiconductor wafer W is supported. Then, the suction assist of the semiconductor wafer W is released by the spinner table 12.

次に、図25に示すように洗浄済みの半導体ウエーハWを支持する一対の補助支持レール90Aを、補助昇降部99を作動することにより上昇させて上部位置に位置付ける。そして、搬出・搬入機構7の支持基台72を移動し、補助把持部材76を作動して環状のフレームFを把持する。   Next, as shown in FIG. 25, the pair of auxiliary support rails 90A that support the cleaned semiconductor wafer W are moved up by operating the auxiliary elevating unit 99 to be positioned at the upper position. Then, the support base 72 of the unloading / loading mechanism 7 is moved, and the auxiliary gripping member 76 is operated to grip the annular frame F.

補助把持部材76を作動して環状のフレームFを把持したならば、図26に示すように、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71を作動して、洗浄済みの半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFを補助仮置き機構9の上段側に位置する一対の第1の補助支持レール90Aから、Y軸方向に隣接する仮置き機構8の上段側に位置する一対の第1の支持レール80Aまで移送し、補助把持部材76による把持状態を解除する。   When the auxiliary gripping member 76 is operated to grip the annular frame F, as shown in FIG. 26, the transporting and moving means 71 of the unloading / loading mechanism 7 is operated to support the washed semiconductor wafer W. A pair of first support rails 80A located on the upper side of the temporary placing mechanism 8 adjacent in the Y-axis direction from a pair of first auxiliary supporting rails 90A located on the upper side of the auxiliary temporary placing mechanism 9 of the frame F. And the gripping state by the auxiliary gripping member 76 is released.

次に、図27に示すように昇降部89を作動して仮置き機構8の一対の第1の支持レール80Aを下降させて中間位置に位置付けるとともに、搬送移動手段71を作動して、搬出・搬入機構7の支持基台72に配設された把持部材74および一対の規制ピン75を待機位置に位置付ける。さらに、昇降部89を作動して一対の第1の支持レール80Aを上昇させ、該補助把持部材76、補助規制ピン77よりも上段側に位置する規制ピン75の位置が半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFと一致する高さに合わせる。   Next, as shown in FIG. 27, the elevating unit 89 is operated to lower the pair of first support rails 80A of the temporary placing mechanism 8 so as to be positioned at the intermediate position, and the transport moving means 71 is operated to carry out the unloading / loading. The holding member 74 and the pair of regulating pins 75 disposed on the support base 72 of the loading mechanism 7 are positioned at the standby position. Further, the lifting / lowering portion 89 is operated to raise the pair of first support rails 80A, and the position of the auxiliary gripping member 76 and the regulating pin 75 located above the auxiliary regulating pin 77 supports the semiconductor wafer W. Adjust to a height that matches the annular frame F.

規制ピン75の位置が半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFと一致する高さに合わせられたら、搬出・搬入機構7の搬送移動手段71を作動して、図28に示すように、支持基台72をカセット載置機構6のカセット60まで移動することにより、洗浄済みの半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFをカセット60の所定の位置に収容する。洗浄済みの半導体ウエーハWをカセット60に収容する際は、予め当該洗浄済みの半導体ウエーハWが収容されるべきカセット60の収容位置に収容されるようにカセットテーブル61の高さ位置が調節される。   When the position of the regulating pin 75 is adjusted to the height corresponding to the annular frame F that supports the semiconductor wafer W, the transporting and moving means 71 of the unloading / loading mechanism 7 is operated, and as shown in FIG. By moving the table 72 to the cassette 60 of the cassette mounting mechanism 6, the annular frame F supporting the washed semiconductor wafer W is accommodated in a predetermined position of the cassette 60. When accommodating the cleaned semiconductor wafer W in the cassette 60, the height position of the cassette table 61 is adjusted in advance so that the cleaned semiconductor wafer W is accommodated in the accommodating position of the cassette 60 to be accommodated. .

なお、上述したように、切削加工済みの半導体ウエーハWを洗浄するとともにカセット60に収容する作業を実施している際に、カセット60から仮置き機構8の一対の第1の支持レール80Aに搬出された新たな半導体ウエーハWは、上述したように保持テーブル機構3を構成する保持テーブル34に搬送され吸引保持される。そして、保持テーブル34に吸引保持された新たな半導体ウエーハWは、加工送り手段35によって切削機構4が配設された加工領域に移動させられ、第1の切削手段5aと第2の切削手段5bによって所定の切削加工が施される。   As described above, during the operation of cleaning the semiconductor wafer W after cutting and accommodating the semiconductor wafer W in the cassette 60, the semiconductor wafer W is unloaded from the cassette 60 to the pair of first support rails 80A of the temporary placing mechanism 8. The new semiconductor wafer W thus carried is conveyed to the holding table 34 constituting the holding table mechanism 3 as described above and held by suction. Then, the new semiconductor wafer W sucked and held by the holding table 34 is moved by the working feeding means 35 to the working area where the cutting mechanism 4 is arranged, and the first cutting means 5a and the second cutting means 5b Thus, a predetermined cutting process is performed.

以上のようにして、図示の実施形態における切削装置は、被加工物を保持する保持テーブルが被加工物着脱領域に位置付けられている際に、搬出・搬入機構7によってカセット60に収容された半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFを搬出して仮置き機構8の上段側に位置する一対の第1の支持レール80Aに仮置きし、昇降部89によって一対の第1の支持レール80Aを下降して環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持された半導体ウエーハWを保持テーブル34に載置し、開閉手段85a、85b、88a、88bによって、底部81a、81b、86a、86bを開くことによりダイシングテープTを介して半導体ウエーハWを保持テーブル34に保持するので、被加工物としての半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFを搬送する搬送手段は実質的に搬出・搬入機構7のみであるため、部品点数が低減してコストが低減するとともに、装置の小型化を図ることができる。また、搬出・搬入機構7は、洗浄機構10のスピンナーテーブル12の直上に配設された補助仮置き機構9にも切削済みの半導体ウエーハWを、ダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFを搬送する機能を有しているので、更に装置の小型化を図ることができる。   As described above, when the holding table for holding the workpiece is positioned in the workpiece attachment / detachment area, the cutting device in the illustrated embodiment uses the semiconductor device accommodated in the cassette 60 by the carry-in / carry-out mechanism 7. The wafer W is unloaded from the annular frame F supporting the dicing tape T via the dicing tape T, and temporarily placed on the pair of first support rails 80A located on the upper side of the temporary placing mechanism 8. The semiconductor wafer W supported on the annular frame F via the dicing tape T by moving down the first support rail 80A is placed on the holding table 34, and the bottom portions 81a, 81b are opened and closed by the opening / closing means 85a, 85b, 88a, 88b. , 86a and 86b, the semiconductor wafer W is held on the holding table 34 via the dicing tape T. Since the transport means for transporting the annular frame F supporting the semiconductor wafer W via the dicing tape T is substantially only the carry-out / load-in mechanism 7, the number of parts is reduced and the cost is reduced. The size can be reduced. Further, the carry-out / carry-in mechanism 7 has an annular frame F that supports the cut semiconductor wafer W via a dicing tape T on the auxiliary temporary placement mechanism 9 disposed directly above the spinner table 12 of the cleaning mechanism 10. Has the function of transporting the device, so that the size of the apparatus can be further reduced.

また、搬出・搬入機構7の支持基台72には、進退自在な係合ロッド781を備えた係合手段78が配設されており、当該係合ロッド781を洗浄機構10のスピンナーテーブル12に吸引保持された半導体ウエーハWに対して洗浄水を供給する噴射ノズル13に係合させて噴射ノズル13のY軸方向における往復動の駆動源となっており、別途の駆動源を用意する必要がない。   Further, on the support base 72 of the carry-out / carry-in mechanism 7, there is provided an engaging means 78 provided with a movable engaging rod 781, and the engaging rod 781 is attached to the spinner table 12 of the cleaning mechanism 10. A driving source for reciprocating movement of the injection nozzle 13 in the Y-axis direction by engaging with the injection nozzle 13 that supplies cleaning water to the semiconductor wafer W held by suction is required. Absent.

さらにいえば、本実施形態における仮置手段としての仮置き機構8は、第1の支持レール80A、第2の支持レール80Bを、補助仮置き機構9は第1の補助支持レール90A、第2の補助支持レール90Bを備えており、未加工あるいは洗浄後で汚れが付着していない半導体ウエーハWを支持する場合は、専ら第1の支持レール80A、第1の補助支持レール90Aを用いて仮置きし、切削済みで汚染物質が付着した半導体ウエーハWの搬送については、専ら第2の支持レール80B、第2の補助支持レール90Bに仮置きするように使い分けし、搬送経路を区別しているので、洗浄された後の半導体ウエーハWが、再び汚染物質等により汚染されることが防止される。   Furthermore, in this embodiment, the temporary placement mechanism 8 serving as the temporary placement means includes the first support rail 80A and the second support rail 80B, and the auxiliary temporary placement mechanism 9 includes the first auxiliary support rail 90A and the second support rail 90A. In order to support the semiconductor wafer W which has not been processed or is not contaminated after cleaning, only the first support rail 80A and the first auxiliary support rail 90A are used. The transfer of the semiconductor wafer W that has been placed, cut, and to which contaminants have adhered is selectively used such that the semiconductor wafer W is temporarily placed exclusively on the second support rail 80B and the second auxiliary support rail 90B, and the transfer path is distinguished. The semiconductor wafer W after the cleaning is prevented from being contaminated again by contaminants or the like.

本発明は、以上説明したような実施形態により実現されるが、これに限定されるものではなく、種々の変形例が含まれ得る。例えば、上述した仮置手段としての仮置き機構8、補助仮置手段としての補助仮置き機構9は、図7、図8に示したように、開閉手段85a、85b、88a、88bによって底部81a、81b、86a、86bを外方に向けて開く構成を備えることにより、底部が開閉可能な構成を実現していたが、これに替えて、図9(a)、(b)に示すような形態とすることもできる。以下に、上述した仮置き機構8の別実施形態としての仮置き機構8´についいて、図1、図9を参照しながら説明する。なお、当該仮置き機構8´は、そのままの構成で、補助仮置き機構9を代替する補助仮置き機構9´として採用することができる。   The present invention is realized by the embodiment as described above, but is not limited thereto, and may include various modifications. For example, as shown in FIGS. 7 and 8, the temporary placement mechanism 8 as the temporary placement means and the auxiliary temporary placement mechanism 9 as the auxiliary temporary placement means are provided with opening and closing means 85a, 85b, 88a, and 88b. , 81b, 86a, and 86b are opened outwardly, thereby realizing a configuration in which the bottom can be opened and closed. Instead, as shown in FIGS. 9A and 9B, FIG. It can also be in the form. Hereinafter, a temporary placement mechanism 8 ′ as another embodiment of the above-described temporary placement mechanism 8 will be described with reference to FIGS. 1 and 9. The temporary placing mechanism 8 ′ can be adopted as an auxiliary temporary placing mechanism 9 ′ that replaces the auxiliary temporary placing mechanism 9 with the same configuration.

仮置き機構8´は、図1に示された仮置き機構8と同様の位置に配設され、該カセット載置機構6とY軸方向に隣接して保持テーブル34の被加工物着脱領域の直上に配設される。図9(a)に示すように、この仮置き機構8´は、上段側に位置する一対の第1の支持レール80A´と、該第1の支持レール80A´の直下に一体的に配設された一対の第2の支持レール80B´から構成される。該第1の支持レール80A´は、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部を支持するための底部81a´、81b´と側部82a´、82b´とを有している。また、該第2の支持レール80B´も、第1の支持レール80A´と略同様の構成を有しており、Y軸方向に延在し環状のフレームFの両側部を支持するための底部86a´、86b´と側部87a´、87b´とを有している。   The temporary placing mechanism 8 ′ is disposed at the same position as the temporary placing mechanism 8 shown in FIG. 1, and is located adjacent to the cassette placing mechanism 6 in the Y-axis direction and in the workpiece attaching / detaching area of the holding table 34. It is arranged directly above. As shown in FIG. 9 (a), the temporary placement mechanism 8 'is provided integrally with a pair of first support rails 80A' located on the upper side and directly below the first support rails 80A '. And a pair of second support rails 80B '. The first support rail 80A 'has bottom portions 81a' and 81b 'and side portions 82a' and 82b 'that extend in the Y-axis direction and support both side portions of the annular frame F. Also, the second support rail 80B 'has substantially the same configuration as the first support rail 80A', and extends in the Y-axis direction to support both sides of the annular frame F. 86a 'and 86b' and side parts 87a 'and 87b'.

上記した第1、第2の支持レール80A´、80B´は、上下方向で一体的に形成されており、該一対の第1の支持レール80A´を構成する側部82a´、82b´の上端には、互いに内側に突出するフランジ部83a´、83b´が設けられ、該フランジ部83a´、83b´の一端部を連結するように連結部84´が配設されている。該フランジ部83a´、83b´は、該連結部84´に対して矢印X1で示す方向にスライド可能に構成されている。仮置き機構8´は、第1、第2の支持レール80A´、80B´を上下方向に移動させる昇降部89´を備えており、該昇降部89´は、図示しない固定部材に取り付けられたエアーシリンダ891´からなっており、該エアーシリンダ891´のピストンロッド892´が上記連結部84´に連結される。また、該連結部84´には、図9(a)、(b)に示すように、エアーシリンダ85a´、85b´が配設されており、該エアーシリンダ85a´、85b´に配設された進退自在の係合ロッド851a´、851b´の先端は、該フランジ部83a´、83b´上に配設された支持部材852a´、852b´に連結されている。矢印Xで示す方向において、該係合ロッド851a、851bを進退自在に作動させることにより、図9(b)に実線で示す底部81a´、81b´と底部86a´、86b´とが近接する閉位置にある状態から、2点鎖線で示す底部81a´、81b´と底部86a´、86b´とが離間して開位置となる状態に任意に制御することが可能になっている。仮置き機構8の別実施形態として仮置き機構8´を示したが、補助仮置き機構9の別実施形態として同様の構成にすることも当然に可能である。   The above-mentioned first and second support rails 80A 'and 80B' are integrally formed in the vertical direction, and upper ends of the side portions 82a 'and 82b' constituting the pair of first support rails 80A '. Are provided with flange portions 83a 'and 83b' projecting inward from each other, and a connecting portion 84 'is provided so as to connect one end portions of the flange portions 83a' and 83b '. The flange portions 83a 'and 83b' are configured to be slidable in the direction indicated by arrow X1 with respect to the connecting portion 84 '. The temporary placing mechanism 8 'includes an elevating unit 89' for vertically moving the first and second support rails 80A 'and 80B', and the elevating unit 89 'is attached to a fixing member (not shown). It comprises an air cylinder 891 ', and a piston rod 892' of the air cylinder 891 'is connected to the connecting portion 84'. Also, as shown in FIGS. 9A and 9B, air cylinders 85a 'and 85b' are provided in the connecting portion 84 ', and are provided in the air cylinders 85a' and 85b '. The distal ends of the retractable engagement rods 851a ', 851b' are connected to support members 852a ', 852b' disposed on the flange portions 83a ', 83b'. By operating the engaging rods 851a and 851b in the direction indicated by the arrow X so that the bottoms 81a 'and 81b' and the bottoms 86a 'and 86b' shown by solid lines in FIG. From the position, it is possible to arbitrarily control a state in which the bottoms 81a ', 81b' and the bottoms 86a ', 86b' shown by two-dot chain lines are separated from each other to be in the open position. Although the temporary placement mechanism 8 ′ is shown as another embodiment of the temporary placement mechanism 8, it is naturally possible to adopt a similar configuration as another embodiment of the auxiliary temporary placement mechanism 9.

また、上述した実施形態では、搬出入手段に備えられた被加工物を所定の位置に規制する一対の規制部材として、一対の規制ピン75を配設する例を示したが、規制部材としては必ずしも図示したようなピン形状に限定されるものではなく、半導体ウエーハWを支持する環状のフレームFに係合して支持レール上を移動させる機能を奏する部材であれば、どのような形状であってもよい。   Further, in the above-described embodiment, an example in which the pair of regulating pins 75 are arranged as the pair of regulating members that regulate the workpiece provided in the carrying-in / out means at a predetermined position has been described. The shape is not necessarily limited to the pin shape as shown in the drawings, and any shape may be used as long as the member has a function of engaging with the annular frame F supporting the semiconductor wafer W and moving on the support rail. You may.

2:静止基台
3:保持テーブル機構
32:移動基台
34:保持テーブル
35:加工送り機構
351:X軸リニアレール
4:切削機構
5a:第1の切削手段
5b:第2の切削手段
54:割り出し送り手段
540:Y軸リニアレール
6:カセット載置機構
60:カセット
7:搬出・搬入機構
71:搬送移動手段
72:支持基台
74:把持部材
75:一対の規制ピン
76:補助把持部材
77:一対の補助規制ピン
8:仮置き機構
80A:一対の第1の支持レール
80B:一対の第2の支持レール
9:補助仮置き機構
90A:一対の第1の補助支持レール
90B:一対の第2の補助支持レール
10:洗浄手段
11:洗浄ハウジング
12:スピンナーテーブル
13:噴射ノズル
14:錘
15:ワイヤー
16:プーリー
F:環状のフレーム
T:ダイシングテープ
W:半導体ウエーハ
2: stationary base 3: holding table mechanism 32: moving base 34: holding table 35: processing feed mechanism 351: X-axis linear rail 4: cutting mechanism 5a: first cutting means 5b: second cutting means 54: Indexing and feeding means 540: Y-axis linear rail 6: Cassette mounting mechanism 60: Cassette 7: Unloading / loading mechanism 71: Transporting means 72: Support base 74: Holding member 75: A pair of regulating pins 76: Auxiliary holding member 77 : A pair of auxiliary regulating pins 8: Temporary placing mechanism 80A: A pair of first supporting rails 80B: A pair of second supporting rails 9: Auxiliary temporary placing mechanism 90A: A pair of first auxiliary supporting rails 90B: A pair of first supporting rails 2 auxiliary support rails 10: cleaning means 11: cleaning housing 12: spinner table 13: injection nozzle 14: weight 15: wire 16: pulley F: annular Frame T: dicing tape W: semiconductor wafer

Claims (7)

被加工物を切削する切削装置であって、
複数の被加工物を収容したカセットが載置されるカセット載置手段と、該カセットから被加工物を搬出および搬入する搬出入手段と、該搬出入手段によって搬出された被加工物を仮置きする仮置手段と、該仮置手段から移送された被加工物を保持する保持手段と、該保持手段に保持された被加工物を切削する切削手段と、該保持手段をX軸方向に加工送りする加工送り手段と、を少なくとも含み、
該加工送り手段は、該保持手段をX軸方向に移動可能に支持するX軸ガイドレールと、該X軸ガイドレールに沿って保持手段を移動するX軸駆動部と、を備え、
該カセット載置手段と該仮置手段とはY軸方向に配設され、
該搬出入手段は、カセット内に収容された被加工物を把持する把持部と被加工物を所定の位置に規制する一対の規制部材と、該把持部と該規制部材が配設される支持基台と該支持基台をY軸方向に移動する移動部と、を備え、
該仮置手段は、Y軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し、該底部が開閉可能に構成された一対の第1の支持レールと、該第1の支持レールの直下に配設されY軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第2の支持レールと、該第1の支持レールと該第2の支持レールとを上昇および下降する昇降部と、を備え、
該X軸ガイドレールは、該仮置手段の直下から少なくとも該切削手段の下方領域に至り配設されており、
該第1の支持レールと該第2の支持レールとの直下に該保持手段を位置付けすると共に、該搬出入手段によって該カセットから被加工物を搬出して該仮置手段を構成する該第1の支持レールに仮置きし、
該第1の支持レールが該第2の支持レールと共に下降して該第1の支持レールの該底部を開にして被加工物を該保持手段上に保持する切削装置。
A cutting device for cutting a workpiece,
Cassette mounting means for mounting a cassette accommodating a plurality of workpieces; loading / unloading means for loading and unloading the workpiece from the cassette; and temporarily placing the workpiece unloaded by the loading / unloading means Temporary holding means, holding means for holding the workpiece transferred from the temporary holding means, cutting means for cutting the workpiece held by the holding means, and processing the holding means in the X-axis direction. Processing feed means for feeding, at least,
The processing feed unit includes: an X-axis guide rail that supports the holding unit so as to be movable in the X-axis direction; and an X-axis driving unit that moves the holding unit along the X-axis guide rail.
The cassette mounting means and the temporary mounting means are arranged in the Y-axis direction,
The carrying-in / out means includes a gripping portion for gripping the workpiece accommodated in the cassette, a pair of regulating members for regulating the workpiece at a predetermined position, and a support provided with the gripping portion and the regulating member. A moving unit that moves the support base and the support base in the Y-axis direction,
The temporary placement means includes a pair of first support rails extending in the Y-axis direction and supporting a workpiece, and a pair of first support rails configured to be openable and closable. A pair of second support rails disposed immediately below the support rails, extending in the Y-axis direction, supporting a workpiece, and having a bottom portion and a side portion, the bottom portions being configured to be openable and closable; An elevating unit that raises and lowers the support rail and the second support rail,
The X-axis guide rail is disposed from immediately below the temporary placement means to at least a region below the cutting means,
The holding means is positioned immediately below the first support rail and the second support rail, and the workpiece is carried out of the cassette by the carrying-in / out means to constitute the temporary placing means. Temporarily put on the support rail of
A cutting device for lowering the first support rail together with the second support rail to open the bottom of the first support rail and holding a workpiece on the holding means;
該仮置手段に隣接し該カセット載置手段とは反対側のY軸方向に被加工物を洗浄するスピンナーテーブルを備えた洗浄手段が配設されると共に該洗浄手段の直上で被加工物を仮置きする補助仮置手段が配設され、
該補助仮置手段は、Y軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第1の補助支持レールと、該第1の補助支持レールの直下に配設されY軸方向に延在し被加工物を支持する底部と側部とを有し該底部が開閉可能に構成された一対の第2の補助支持レールと、該第1の補助支持レールと該第2の補助支持レールとを上下動する補助昇降部と、を備え、該補助仮置手段と該仮置手段との間で被加工物の受け渡しが可能に構成されている請求項1に記載の切削装置。
Cleaning means provided with a spinner table for cleaning the workpiece in the Y-axis direction adjacent to the temporary mounting means and opposite to the cassette mounting means is provided, and the workpiece is disposed immediately above the cleaning means. An auxiliary temporary placement means for temporary placement is provided,
The auxiliary temporary placement means includes a pair of first auxiliary support rails extending in the Y-axis direction and supporting a workpiece, the pair of first auxiliary support rails being configured to be openable and closable. A pair of second auxiliary support rails disposed directly below the auxiliary support rails, extending in the Y-axis direction, supporting a workpiece, and having a bottom and side portions, the bottom being configured to be openable and closable; An auxiliary elevating unit that moves the first auxiliary support rail and the second auxiliary support rail up and down, so that a workpiece can be transferred between the auxiliary temporary placement means and the temporary placement means. The cutting device according to claim 1, wherein the cutting device is configured.
該搬出入手段は、該把持部に加え該補助支持レールに位置付けられた被加工物を把持する補助把持部と、該一対の規制部材に加え該第1の補助支持レールと該第2の補助支持レールに位置付けられた被加工物を所定の位置に規制する一対の補助規制部材と、を備え、
該保持手段に保持された切削済みの被加工物が該仮置手段の直下に位置付けられた際、該底部を開にした該第2の支持レールが下降して該底部が切削済みの被加工物の下部に位置付けられ該底部を閉にして切削済みの被加工物を支持して上昇し、
次に、該搬出入手段の把持部によってカセットに収容された未加工の被加工物を把持すると共に該一対の補助規制部材を該仮置手段に支持された切削済みの被加工物の側面に位置付けて該洗浄手段側に移動しつつ該カセットに収容された被加工物を該第1の支持レールに位置付けると共に切削済みの被加工物を該第2の補助支持レールに位置付け、
次に、該補助昇降部によって該第2の補助支持レールを該第1の補助支持レールと共に下降して該第2の補助支持レールの底部を開にして切削済みの被加工物を該スピンナーテーブルに保持する請求項2に記載の切削装置。
The carrying-in / out means includes an auxiliary gripping portion for gripping a workpiece positioned on the auxiliary support rail in addition to the gripping portion, the first auxiliary support rail and the second auxiliary support in addition to the pair of regulating members. A pair of auxiliary regulating members for regulating the workpiece positioned on the support rail to a predetermined position,
When the cut workpiece held by the holding means is positioned immediately below the temporary placement means, the second support rail having the bottom opened lowers and the bottom has been cut. It is positioned at the bottom of the object, rises in support of the machined workpiece with the bottom closed,
Next, the unprocessed workpiece accommodated in the cassette is gripped by the gripping portion of the loading / unloading means, and the pair of auxiliary regulating members are attached to the side faces of the cut workpiece supported by the temporary placement means. Positioning the workpiece contained in the cassette on the first support rail while moving to the cleaning means side, and positioning the cut workpiece on the second auxiliary support rail;
Next, the second auxiliary support rail is lowered together with the first auxiliary support rail by the auxiliary elevating unit to open the bottom of the second auxiliary support rail, and the cut workpiece is removed from the spinner table. 3. The cutting device according to claim 2, wherein the cutting device is held.
該洗浄手段によって被加工物の洗浄が終了した後、該補助仮置手段は該補助昇降部によって該第1の補助支持レールを該第2の補助支持レールと共に下降して該第1の補助支持レールの底部を開にして洗浄済みの被加工物の下部に該底部を位置付けると共に閉にして洗浄済みの被加工物を該第1の補助支持レールで支持して上昇し、
該仮置手段は、該昇降部によって該第1の補助支持レールに対応する高さ位置に該第1の支持レールを位置付け、
該搬出入手段は、該補助把持部によって該第1の補助支持レールに支持された洗浄済みの被加工物を把持し該第1の支持レールまで搬送し、その後、該規制部材を洗浄済みの被加工物の側面に位置付けてカセット側に移動してカセット内に搬入する請求項3に記載の切削装置。
After the cleaning of the workpiece by the cleaning means is completed, the auxiliary temporary placing means lowers the first auxiliary support rail together with the second auxiliary support rail by the auxiliary elevating unit, and the first auxiliary support means Opening the bottom of the rail and positioning the bottom at the bottom of the cleaned workpiece and closing and supporting the cleaned workpiece with the first auxiliary support rail and rising.
The temporary placement means positions the first support rail at a height position corresponding to the first auxiliary support rail by the elevating unit,
The carrying-in / out means grasps the cleaned workpiece supported by the first auxiliary support rail by the auxiliary gripper, conveys the workpiece to the first support rail, and then cleans the regulating member. The cutting device according to claim 3, wherein the cutting device is positioned on a side surface of the workpiece, moves toward the cassette, and is loaded into the cassette.
該洗浄手段は、該スピンナーテーブルの上方に洗浄水を噴射するノズルを備えており、該ノズルは該搬出入手段の支持基台の係合部と選択的に係合可能に構成され、該搬出入手段の支持基台の係合部の移動に伴ってY軸方向に揺動し、少なくとも被加工物の外周から中心に至り切削水を噴射する請求項2乃至4のいずれかに記載の切削装置。   The washing means includes a nozzle for spraying washing water above the spinner table, and the nozzle is configured to be selectively engageable with an engaging portion of a support base of the carrying-in / out means, and The cutting according to any one of claims 2 to 4, wherein the cutting means oscillates in the Y-axis direction with movement of the engaging portion of the support base of the input means, and injects cutting water from at least the outer periphery of the workpiece to the center. apparatus. 該洗浄手段のノズルには錘がワイヤーとプーリーとを介して連結され、
該搬出入手段の支持基台の係合部には、ロッドが進退自在に装着されており、進出したロッドはノズルの重力による移動に対向する方向から該ノズルに接触してY軸方向に揺動する請求項5に記載の切削装置。
A weight is connected to the nozzle of the washing means via a wire and a pulley,
A rod is attached to the engaging portion of the support base of the carrying-in / out means so as to be able to move forward and backward. The rod that has moved out contacts the nozzle from a direction opposed to the movement of the nozzle due to gravity and swings in the Y-axis direction. The cutting device according to claim 5, which moves.
該切削手段は、第1の切削ブレードを回転可能に備えた第1の切削手段と、第2の切削ブレードを回転可能に備えた第2の切削手段と、該第1の切削ブレードと第2の切削ブレードとを対峙させ、該X軸方向と直交するY軸方向に割り出し送り可能に該第1の切削手段と第2の切削手段とを支持するY軸ガイドレールと、該Y軸ガイドレールに沿って該第1の切削手段と該第2の切削手段とを移動する第1の駆動部と第2の駆動部と、を備えている請求項1に記載の切削装置。   The cutting means includes a first cutting means rotatably provided with a first cutting blade, a second cutting means rotatably provided with a second cutting blade, and the first cutting blade and the second cutting blade. A Y-axis guide rail that supports the first cutting means and the second cutting means so as to be indexable and feedable in a Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction; The cutting device according to claim 1, further comprising a first driving unit and a second driving unit that move the first cutting unit and the second cutting unit along the axis.
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