JP6655971B2 - 分析装置、分析方法、及びプログラム - Google Patents
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims description 306
- 239000013618 particulate matter Substances 0.000 claims description 171
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 25
- 239000011236 particulate material Substances 0.000 claims 1
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-NJFSPNSNSA-N Carbon-14 Chemical compound [14C] OKTJSMMVPCPJKN-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000003203 everyday effect Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Images
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
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- G01N1/10—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
- G01N1/14—Suction devices, e.g. pumps; Ejector devices
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N1/2205—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling with filters
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
-
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/075—Investigating concentration of particle suspensions by optical means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N2001/222—Other features
- G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N2015/0042—Investigating dispersion of solids
- G01N2015/0046—Investigating dispersion of solids in gas, e.g. smoke
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N2021/3595—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
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- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Hydrology & Water Resources (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
例えば、特許文献1には、大気中の浮遊粒子状物質の質量濃度と、当該粒子を構成する元素種類とを、連続的にかつ自動的に分析する分析装置が開示されている。
その一方、成分分析は、上記の別の箇所に移動してきた捕集フィルタの領域に捕集されている微小粒子状物質に対して実行されている。すなわち、1つの捕集フィルタを用いて、微小粒子状物質の捕集と分析とを行っている。
従来、上記の動作は、捕集フィルタの移動タイミングにおいて成分分析が実行されているか否かに関わらず、実行されていた。そのため、捕集フィルタの移動の開始タイミングにおいて成分分析が実行中である場合には、成分分析の実行中に当該成分分析の対象である粒子状物質が測定領域から移動していた。
本発明の一見地に係る分析装置は、捕集フィルタと、捕集部と、捕集量測定部と、移動部と、分析部と、分析モード切替部と、を備える。捕集フィルタは、微小粒子状物質を捕集可能な捕集領域を有する。捕集部は、捕集フィルタの長さ方向の第1位置に対応するように設けられ、測定空間に含まれる微小粒子状物質を、第1位置に存在する捕集領域に捕集させる。捕集量測定部は、第1位置に存在する捕集領域に捕集された微小粒子状物質の捕集量を測定する。
移動部は、捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、第1位置に存在する捕集領域を、捕集フィルタの長さ方向の位置であって微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させる一方、微小粒子状物質が捕集されていない未捕集領域を第1位置へ移動させる。分析部は、第2位置に対応するよう設けられ、第1位置から第2位置へと移動された捕集領域に捕集された微小粒子状物質の分析を実行する。
これにより、分析モードを第1分析モード又は第2分析モードのいずれかに適宜切り替えて、微小粒子状物質の捕集と分析をとバランスよく両立できる。
これにより、基準時刻毎に、微小粒子状物質の捕集を繰り返して実行できる。その結果、基準時刻毎に、捕集領域に捕集した微小粒子状物質の質量濃度を算出できる。
これにより、通知信号の出力後すぐに分析を開始しても分析を確実に実行できると判断される場合に、通知信号を出力後、直ちに微小粒子状物質の捕集を開始できる。
これにより、微小粒子状物質の捕集量、質量濃度、及び/又は分析結果を視覚的に確認可能となる。
◎捕集フィルタの長さ方向の第1位置に存在する捕集領域に、測定空間に含まれる微小粒子状物質を捕集させるステップ。
◎第1位置に存在する捕集領域に捕集された微小粒子状物質の捕集量を測定するステップ。
◎捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、第1位置に存在する捕集領域を、捕集フィルタの長さ方向の位置であって微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させるステップ。
◎第1位置から第2位置へと移動された捕集領域に捕集された微小粒子状物質を分析するステップ。
これにより、分析モードを第1分析モード又は第2分析モードのいずれかに適宜切り替えて、微小粒子状物質の捕集と分析をとバランスよく両立できる。
◎微小粒子状物質を捕集可能な捕集領域を有する捕集フィルタの長さ方向の第1位置に存在する捕集領域に、測定空間に含まれる微小粒子状物質を捕集させるステップ。
◎第1位置に存在する捕集領域に捕集された微小粒子状物質の捕集量を測定するステップ。
◎捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、第1位置に存在する捕集領域を、捕集フィルタの長さ方向の位置であって微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させるステップ。
◎第1位置から第2位置へと移動された捕集領域に捕集された微小粒子状物質を分析するステップ。
これにより、分析モードを第1分析モード又は第2分析モードのいずれかに適宜切り替えて、微小粒子状物質の捕集と分析をとバランスよく両立できる。
(1)分析装置の構成
第1実施形態に係る分析装置100の構成を、図1を用いて説明する。分析装置100は、捕集フィルタ1を備える。捕集フィルタ1は、例えば、高分子材料(ポリエチレンなど)の不織布にて形成された補強層上に、微小粒子状物質FP(例えば、粒径が2.5μm以下の粒子状物質)を捕集可能な孔を有する多孔質のフッ素樹脂系材料にて形成された捕集層(捕集領域と呼ぶこともある)を積層して形成された、テープ状の部材である。
上記の構成により、捕集フィルタ1は、捕集フィルタ1の厚み方向にガス流通可能となると同時に、その強度を向上できる。また、捕集フィルタ1を帯電しにくくできる。この結果、捕集した粒子状物質が静電気により拡散して、捕集領域から出てしまうことを防止できる。
なお、捕集フィルタ1としては、例えば、1層のガラスフィルタや、1層のフッ素樹脂形材料のフィルタなどの他のフィルタを用いることもできる。
具体的には、捕集部3は、吸引ポンプ31の吸引力により、例えばインパクタ方式及び/又はサイクロン方式の分級器33の内部に大気Aを取り込む。内部に取り込まれた大気Aは、吸引ポンプ31の吸引力により分級器33内部を排出部35に向かって移動する。分級器33内部を移動中、当該内部に取り込まれた大気Aから粒径が2.5μmより大きい粗大粒子状物質が除去されて、粒径2.5μmの粒子が50%以上の割合にて含まれた分級後大気A1が生成される。すなわち、分級後大気A1には、微小粒子状物質FPとしてPM2.5が主成分として含まれる。その後、微小粒子状物質FPが主成分である分級後大気A1は、排出部35から排出される。
排出部35から排出された分級後大気A1が捕集フィルタ1を通過して吸引部37に吸引されるまでの間に、分級後大気A1に含まれる微小粒子状物質FPが第1位置P1の捕集領域に捕集される。分級後大気A1から微小粒子状物質FPを除去した捕集後大気A2は、吸引ポンプ31により、外部へ排出される。
捕集量測定部5は、β線源51から照射され、第1位置P1の測定領域に捕集された微小粒子状物質FPを透過してβ線検出器53にて検出されたβ線強度から、第1位置P1の測定領域に捕集された微小粒子状物質FPの捕集量を測定する。
本実施形態において、分析部7は、X線源71(例えば、パラジウムなどの金属に電子線を照射してX線を発生させる装置)から発生するX線を第2位置P2に存在する微小粒子状物質FPに照射して、当該微小粒子状物質FPから発生する蛍光X線を検出器73(例えば、シリコン半導体検出器やシリコンドリフト検出器)にて測定することにより、微小粒子状物質FPの成分分析を行う。
具体的には、図2に示すように、制御部9は、制御指令部91と、分析モード切替部93と、演算部95と、上記の表示部97と、通知部99と、を有する。制御指令部91は、分析装置100の各制御を行う。具体的には、制御指令部91は、捕集フィルタ1の制御を実行するフィルタ移動制御部911と、捕集部3の制御を実行する捕集制御部913と、捕集量測定部5のβ線源51の制御を実行する捕集量測定制御部915と、分析部7のX線源71の制御を実行する成分分析部917と、を有する。
演算部95は、捕集量測定部5からの出力信号に基づいて微小粒子状物質の捕集量及び/又は質量濃度を算出する。また、演算部95は、分析部7からの出力信号に基づいて微小粒子状物質FPの分析結果を算出する。表示部97は、演算部95にて算出された捕集量、質量濃度、及び/又は、分析結果を表示する。通知部99は、第1位置P1の捕集領域における微小粒子状物質FPの捕集量が所定量となったことを検知すると、通知信号を出力する。
なお、制御部9の上記の各構成要素の機能は、コンピュータシステムにて実行可能で記憶装置に記憶されたプログラムにより実現されてもよい。
次に、第1実施形態に係る分析装置100における分析動作について、図3のフローチャートを用いて説明する。
分析装置100では、捕集量測定部5及び分析部7に対して、必要に応じて、ゼロ点校正及び/又はスパン校正を実行した後に分析動作を開始する。
校正実行後、分析の初期動作として、分析モード切替部93は、分析モードを第1分析モードに設定する。捕集量測定制御部915は、β線源51にβ線発生指令を出力しβ線源51から第1位置P1へβ線を照射させる。また、成分分析部917は、X線源71にX線発生指令を出力しX線源71から第2位置P2へX線を照射させる。さらに、捕集制御部913は、捕集部3に捕集指令を出力し、第1位置P1に存在する捕集領域への微小粒子状物質FPの捕集を開始する。
微小粒子状物質FPの捕集を開始すると、演算部95は、β線検出器53から検出したβ線の強度を示すβ線検出信号の取り込みを開始する。また、演算部95は、検出器73にて検出された蛍光X線の強度に応じたパルス信号を分析データとして取り込みを開始する。これにより、演算部95は、β線検出信号の大きさに基づいて、第1位置P1に存在する捕集領域における微小粒子状物質FPの捕集量を算出できる。また、演算部95は、蛍光X線の強度に応じたパルス信号(蛍光X線のエネルギーとパルス数との関係を表した信号)に基づいて、微小粒子状物質FPに含まれる元素の種類と量とを算出できる。このようにして、分析装置100における分析動作が開始される(ステップS1)。
上記の基準時刻は、例えば、1時間毎の時刻である。その他、例えば1日毎など、各国毎に定められた所定の基準に基づいて、基準時刻を任意に決定できる。
微小粒子状物質FPの捕集と分析を停止後、分析モード切替部93は、現在選択中の分析モードが第2分析モードであるか否かを判定する(ステップS4)。第1分析モードが現在選択されている場合(ステップS4にて「No」の場合)、分析モード切替部93は、分析モードを第1分析モードのまま切り替えない。その後、分析プロセスは、図4Aに示すように、捕集領域を移動させた後に微小粒子状物質FPの捕集と分析とを開始するステップ(ステップS12〜S14)に進む。
これにより、基準時刻毎に、微小粒子状物質FPの捕集を繰り返し実行できる。その結果、基準時刻毎に、捕集領域に捕集した微小粒子状物質FPの質量濃度を算出できる。具体的には、演算部95は、基準時刻間(1時間、又は、1日)の捕集領域への微小粒子状物質FPの捕集量を、大気A(測定空間)中に含まれる微小粒子状物質FPの質量濃度とできる。その他、演算部95は、捕集を開始してから停止するまでの間の微小粒子状物質FPの捕集量から当該捕集を開始してから停止するまでの時間を除算することによって算出される単位時間あたりの捕集量を、質量濃度としてもよい。
本実施形態においては、具体的には、前々回の基準時刻到達後に捕集を開始してから前回の基準時刻到達時までの間に、捕集制御部913が捕集指令を出力し続けていた場合(すなわち、微小粒子状物質FPの捕集が継続していた場合)、第2位置P2へ移動予定の捕集領域に捕集された微小粒子状物質FPの捕集量は、所定量よりも小さいと判定する。
分析モード切替部93が分析モードを第2分析モードに維持するか、第1分析モードへ切り替えた後、分析プロセスは、ステップS12〜S14に進む。
なお、通知部99は、吸引ポンプ31による捕集後大気A2の吸引流量が所定流量となったことを検知して、微小粒子状物質FPの捕集量が所定量となったことを検知してもよい。
例えば、図4Bに示すように、通知信号が出力された時刻T3に分析データの取り込みが継続していれば、フィルタ移動制御部911は、時刻T3のタイミングでは捕集フィルタ1を移動させる指令である移動指令を出力せず、捕集フィルタ1を長さ方向に移動させない。分析が完了した時刻T4以降において可能であれば、フィルタ移動制御部911が移動指令を出力して捕集フィルタ1を移動させて、新たな捕集と分析とが実行される。これにより、分析部7における分析を確実に実行できる。
通知信号の出力が検知されたときに分析モードを第2分析モードとすることにより、微小粒子状物質FPの分析時間を短縮して、短いスパンで第1位置P1に存在する捕集領域を未捕集領域(捕集フィルタ1の微小粒子状物質FPが捕集されていない領域)に入れ替え可能とできる。この結果、微小粒子状物質FPの捕集量が多く通知信号の出力頻度が高くなっても、捕集のための時間を多く確保して、それにより微小粒子状物質FPの捕集と分析とをバランスよく効率的に両立できる。
また、分析モードの切替を第1分析モードの終了後とすることにより、分析モードを切り替える前後の分析を確実に実行できる。
図4Cに示すように、通知信号が出力された時刻T3から次の基準時刻T1までの時間Δt1が第2分析モードの実行時間である第2時間Δt2よりも小さく、次の基準時刻T1までに微小粒子状物質FPの次の分析を完了できないと判断される場合(ステップS11にて「No」の場合)、分析プロセスは、ステップS2に戻る。
すなわち、図4Cに示すように、フィルタ移動制御部911は、時刻T3のタイミングでは捕集フィルタ1を移動させず(移動指令を出力せず)、上記の次の基準時刻T1(ステップS2が「Yes」の場合)にて移動指令を出力して捕集フィルタ1を移動させる。また、演算部95は、時刻T3のタイミングでは分析データの取り込みを開始せず、次の基準時刻T1の後、分析対象の捕集領域が第3位置P3から第2位置P2へ移動してきた後(図4Cの時刻T2)に分析データの取り込みを開始する。
これにより、通知信号の出力後の時刻T3にて分析を開始しても分析を確実に実行できると判断される場合に、通知信号を出力後の時刻T3にて直ちに捕集フィルタ1を移動して、通知信号の出力から短時間しか経過していない時刻T6にて微小粒子状物質FPの捕集と分析とを開始できる。
通知信号の出力の停止を検知後、捕集制御部913は、捕集部3に対して捕集指令を出力し、第1位置P1に到達した新たな未捕集領域への微小粒子状物質FPの捕集を開始する。演算部95は、新たに第2位置P2へと移動してきた捕集領域に捕集された微小粒子状物質FPの分析データの取り込みを開始する(ステップS14)。
一方、分析装置100を停止しない場合(ステップS15にて「No」の場合)、分析プロセスはステップS2に戻り、上記のステップS2〜S14を繰り返し実行する。
また、微小粒子状物質FPの捕集量が多い捕集領域に対しては第2分析モードを実行して短時間に分析を行いつつ、微小粒子状物質FPの捕集量が少ない捕集領域に対しては第1分析モードを実行して長時間の分析を実行することにより、微小粒子状物質FPの捕集量の多少によらず有意な分析データを取得できる。
上記の第1実施形態においては、図3に示すように、捕集フィルタ1の移動前に、次の分析が次の基準時刻までに完了できるか否かを判断していた。
しかし、これに限られず、微小粒子状物質FPの捕集領域への捕集を優先したい場合には、次の分析が次の基準時刻までに完了できるか否かに関わらず、通知信号の出力直後に捕集フィルタ1を移動してもよい。
具体的には、図6に示すように、第2実施形態における分析動作において、ステップS1〜S10は第1実施形態と同じである一方、ステップS10の分析モードの切替後すぐに捕集領域の移動が実行される(ステップS11’)。
一方、第2実施形態においては、図7に示すように、時間Δt1が第2時間Δt2より小さい場合であっても、時刻T3から時刻T8までの間、捕集フィルタ1の移動がなされ、時刻T8において通知信号の出力が停止され(ステップS12’)、時刻T8から次の基準時刻T1までの間に微小粒子状物質FPの捕集が実行される。
一方、時刻T8から次の基準時刻T1までの時間Δt3が第2時間Δt2以上の場合(ステップS13’にて「Yes」の場合)、時刻T8において微小粒子状物質FPの捕集と分析データの取り込みとが両方開始される(ステップS15’)。
なお、ステップS15’の実行後に実行されるステップS16’における動作は、第1実施形態におけるステップS15の動作と同様であるので、説明を省略する。
以上、本発明の複数の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。
(A)分析動作の他の実施形態
1つの分析装置100において、上記の第1実施形態における分析動作と第2実施形態における分析動作とを両方実行可能としてもよい。例えば、ユーザによる選択により、いずれの分析動作を実行するかを選択可能としてもよい。
また、第1分析モードの第1時間と第2分析モードの第2時間は、任意に設定可能としてもよい。あるいは、第1時間のみを設定して、第2時間を第1時間の例えば1/2として自動的に決定してもよい。
さらに、分析動作の上記のステップS4とS5とを省略してもよい。また、分析動作の上記のステップS9を省略してもよい。
上記の第1実施形態及び第2実施形態における分析部7が、蛍光X線分析以外の、微小粒子状物質FPの分析にある程度の時間を要する他の分析を行う分析部であっても、上記の分析動作を適用できる。例えば、分析部7を、微小粒子状物質FPから発生する放射線量を測定するもの、微小粒子状物質FPとしてのカーボンブラックの含有量を測定するもの、微小粒子状物質FPのラマンスペクトルを測定するもの、微小粒子状物質FPのフーリエ変換赤外分光(FTIR)を測定するもの、などとしてもよい。
上記の第1実施形態及び第2実施形態において、分析装置100は、周囲の大気A中に含まれる微小粒子状物質FPの捕集量(質量密度)及び成分分析を実行していた。しかし、これに限られず、分析装置100は、例えば、焼却場や工場の煙道から排出される排ガスやプロセスガスなどを取り込むことで、当該排ガスやプロセスガス中に含まれる微小粒子状物質FPの質量密度及び成分分析を実行できる。
1 捕集フィルタ
11 移動部
3 捕集部
31 吸引ポンプ
33 分級器
35 排出部
37 吸引部
5 捕集量測定部
51 β線源
53 β線検出器
7 分析部
71 X線源
73 検出器
9 制御部
91 指令制御部
911 フィルタ移動制御部
913 捕集制御部
915 捕集量測定制御部
917 成分分析部
93 分析モード切替部
95 演算部
97 表示部
99 通知部
A 大気
Claims (15)
- 微小粒子状物質を捕集可能な捕集領域を有する捕集フィルタと、
前記捕集フィルタの長さ方向の第1位置に対応するように設けられ、測定空間に含まれる前記微小粒子状物質を、前記第1位置に存在する捕集領域に捕集させる捕集部と、
前記第1位置に存在する前記捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質の捕集量を測定する捕集量測定部と、
前記捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、前記第1位置に存在する前記捕集領域を、前記捕集フィルタの長さ方向の位置であって前記微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させる一方、前記微小粒子状物質が捕集されていない未捕集領域を前記第1位置へ移動させる移動部と、
前記第2位置に対応するよう設けられ前記第1位置から前記第2位置へと移動された捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質の分析を実行する分析部と、
前記捕集量が所定量となったことを検知すると通知信号を出力する通知部と、
を備え、
前記捕集部は、前記微小粒子状物質の捕集を開始した後に捕集を終了する時刻として予め定められた基準時刻に到達すると前記微小粒子状物質の捕集を停止し、前記基準時刻に到達するまでは前記微小粒子状物質の捕集を継続し、前記通知信号が出力された場合は、前記基準時刻に到達する前であっても前記微小粒子状物質の捕集を停止する、
分析装置。 - 前記基準時刻毎に、
前記捕集部が前記微小粒子状物質の捕集を停止し、次に、前記移動部が、前記第1位置に存在する捕集領域を前記第2位置へと移動させる一方、前記未捕集領域を前記第1位置へ移動し、その後、前記捕集部が前記微小粒子状物質の捕集を開始するとともに、前記分析部が前記微小粒子状物質の分析を開始する、
請求項1に記載の分析装置。 - 前記基準時刻よりも前に前記通知信号が出力された時に前記分析部が前記微小粒子状物質の分析を継続している場合、前記移動部は、前記基準時刻よりも前に当該分析が完了した時に、前記第1位置に存在する前記捕集領域を前記第2位置へと移動させる一方、前記未捕集領域を前記第1位置へ移動させる、請求項1又は2に記載の分析装置。
- 前記通知信号が出力されてから次の基準時刻までの間に前記分析部が次の分析を完了可能であると判定した場合、
前記移動部は、前記通知信号の出力直後に前記分析部が分析を停止している状態で、前記第1位置に存在する前記捕集領域を前記第2位置へと移動させる一方、前記未捕集領域を前記第1位置へ移動させ、
前記分析部は、前記通知信号の出力後前記第1位置に存在していた前記捕集領域が前記第2位置へと移動した後に、当該次の分析を開始する、
請求項1〜3のいずれかに記載の分析装置。 - 前記通知信号が出力されてから次の基準時刻までの間に前記分析部が次の分析を完了できないと判定した場合、
前記移動部は、前記次の基準時刻にて前記分析部が分析を停止している状態で、前記第1位置に存在する前記捕集領域を前記第2位置へと移動させる一方、前記未捕集領域を前記第1位置へ移動させ、
前記分析部は、次の基準時刻の後前記第1位置に存在していた前記捕集領域が前記第2位置へと移動した後に、当該次の分析を開始する、
請求項1〜3のいずれかに記載の分析装置。 - 前記移動部は、前記通知信号が出力されてから次の基準時刻までの間に前記分析部が次の分析を完了できるか否かに関わらず、前記通知信号の出力直後に前記分析部が分析を停止している状態で、前記第1位置に存在する前記捕集領域を前記第2位置へと移動させる一方、前記未捕集領域を前記第1位置へ移動させる、
請求項1〜3のいずれかに記載の分析装置。 - 前記通知信号が出力されてから次の基準時刻までの間に前記分析部が前記次の分析を完了できないと判定した場合、前記分析部は、前記通知信号の出力時には当該次の分析を開始しない、請求項6に記載の分析装置。
- 前記微小粒子状物質を分析する分析モードとして、前記分析部における前記微小粒子状物質の分析時間を第1時間とする第1分析モード、又は、前記分析部における前記微小粒子状物質の分析時間を前記第1時間よりも短い第2時間とする第2分析モードのいずれかを選択する分析モード切替部をさらに備える、請求項1〜7のいずれかに記載の分析装置。
- 前記第1分析モードの実行中に前記基準時刻よりも前に前記通知信号が出力されると、前記分析モード切替部は、前記分析モードを、前記第1分析モードから前記第2分析モードへと切り替える、請求項8に記載の分析装置。
- 前記所定量の前記微小粒子状物質を前記第2分析モードにて分析後、前記所定量よりも少ない捕集量の前記微小粒子状物質が捕集された捕集領域が前記第2位置に移動する場合、前記分析モード切替部は、前記分析モードを前記第2分析モードから前記第1分析モードに切り替える、請求項8又は9に記載の分析装置。
- 前記分析モード切替部における前記分析モードの切替は、前記分析部における分析が実行されていないときに行われる、請求項8〜10のいずれかに記載の分析装置。
- 前記捕集部は、前記測定空間に浮遊している浮遊粒子状物質を、所定の基準によって粗大粒子状物質と前記微小粒子状物質とに分級する分級器を含む、請求項1〜11のいずれかに記載の分析装置。
- 前記捕集量測定部からの出力信号に基づいて前記微小粒子状物質の前記捕集量及び/又は質量濃度を算出し、前記分析部からの出力信号に基づいて前記微小粒子状物質の分析結果を算出する演算部と、
前記演算部にて算出された前記捕集量、前記質量濃度、及び/又は、前記分析結果を表示する表示部と、
をさらに備える、請求項1〜12のいずれかに記載の分析装置。 - 微小粒子状物質を捕集可能な捕集領域を有する捕集フィルタを備える分析装置における前記微小粒子状物質の分析方法であって、
前記捕集フィルタの長さ方向の第1位置に存在する捕集領域に、測定空間に含まれる前記微小粒子状物質を捕集させるステップと、
前記第1位置に存在する前記捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質の捕集量を測定するステップと、
前記捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、前記第1位置に存在する前記捕集領域を、前記捕集フィルタの長さ方向の位置であって前記微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させるステップと、
前記第1位置から前記第2位置へと移動された捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質を分析するステップと、
前記微小粒子状物質の捕集を開始した後に捕集を終了する時刻として予め定められた基準時刻に到達すると、前記微小粒子状物質の捕集を停止するステップと、
前記基準時刻に到達するまでは前記微小粒子状物質の捕集を継続するステップと、
前記捕集量が所定量となったことを検知した場合は、前記基準時刻に到達する前であっても、前記微小粒子状物質の捕集を停止するステップと、
を含む、分析方法。 - 微小粒子状物質を捕集可能な捕集領域を有する捕集フィルタを備える分析装置を制御するコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記捕集フィルタの長さ方向の第1位置に存在する前記捕集領域に測定空間に含まれる前記微小粒子状物質を前記分析装置に捕集させるステップと、
前記第1位置に存在する前記捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質の捕集量を前記分析装置に測定させるステップと、
前記分析装置に前記捕集フィルタを長さ方向に移動させることにより、前記第1位置に存在する前記捕集領域を、前記捕集フィルタの長さ方向の位置であって前記微小粒子状物質の分析を実行するための第2位置へと移動させるステップと、
前記第1位置から前記第2位置へと移動された捕集領域に捕集された前記微小粒子状物質を前記分析装置に分析させるステップと、
前記微小粒子状物質の捕集を開始した後に捕集を終了する時刻として予め定められた基準時刻に到達すると、前記分析装置に前記微小粒子状物質の捕集を停止させるステップと、
前記基準時刻に到達するまでは、前記分析装置に前記微小粒子状物質の捕集を継続させるステップと、
前記捕集量が所定量となったことを検知した場合は、前記基準時刻に到達する前であっても、前記分析装置に前記微小粒子状物質の捕集を停止させるステップと、
を備える分析方法を前記コンピュータに実行させるプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015242527A JP6655971B2 (ja) | 2015-12-11 | 2015-12-11 | 分析装置、分析方法、及びプログラム |
CN201611089687.6A CN107024365B (zh) | 2015-12-11 | 2016-11-30 | 分析装置和分析方法 |
DE102016123704.3A DE102016123704A1 (de) | 2015-12-11 | 2016-12-07 | Analysiervorrichtung, Analysierverfahren und Programm |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015242527A JP6655971B2 (ja) | 2015-12-11 | 2015-12-11 | 分析装置、分析方法、及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017106873A JP2017106873A (ja) | 2017-06-15 |
JP6655971B2 true JP6655971B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=58773288
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015242527A Active JP6655971B2 (ja) | 2015-12-11 | 2015-12-11 | 分析装置、分析方法、及びプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6655971B2 (ja) |
CN (1) | CN107024365B (ja) |
DE (1) | DE102016123704A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112018006397T5 (de) * | 2017-12-15 | 2020-08-20 | Horiba Ltd. | Silizium-drift-detektionselement, silizium-drift-detektor und strahlungsdetektionsvorrichtung |
JPWO2022065026A1 (ja) * | 2020-09-25 | 2022-03-31 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003042978A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Rigaku Industrial Co | 蛍光x線分析装置 |
JP2003114204A (ja) * | 2001-10-03 | 2003-04-18 | Canon Inc | 状態検出装置および状態検出方法、走査型分析装置および元素分析方法 |
US6964190B2 (en) * | 2002-06-28 | 2005-11-15 | Horiba, Ltd. | Particulate matter concentration measuring apparatus |
CN100491957C (zh) * | 2003-04-16 | 2009-05-27 | 株式会社崛场制作所 | 颗粒状物质捕集用过滤膜、使用该过滤膜的取样器以及颗粒状物质的分析装置 |
JP2005134270A (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-26 | Horiba Ltd | 粒子状物質分析装置 |
US20060137317A1 (en) * | 2004-12-28 | 2006-06-29 | Bryner Michael A | Filtration media for filtering particulate material from gas streams |
JP4590367B2 (ja) * | 2006-03-20 | 2010-12-01 | 株式会社堀場製作所 | 浮遊粒子状物質測定用フィルタ |
JP2008261712A (ja) * | 2007-04-11 | 2008-10-30 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | 浮遊粒子状物質の測定装置 |
CN103759988B (zh) * | 2014-01-16 | 2016-05-18 | 华测检测认证集团股份有限公司 | 大气颗粒物采集设备 |
JP6412340B2 (ja) * | 2014-05-20 | 2018-10-24 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
JP6325338B2 (ja) * | 2014-05-20 | 2018-05-16 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
JP2015219200A (ja) * | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
JP2015219198A (ja) * | 2014-05-20 | 2015-12-07 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
CN204346781U (zh) * | 2015-01-04 | 2015-05-20 | 深圳睿境环保科技有限公司 | 颗粒物收集检测装置 |
-
2015
- 2015-12-11 JP JP2015242527A patent/JP6655971B2/ja active Active
-
2016
- 2016-11-30 CN CN201611089687.6A patent/CN107024365B/zh active Active
- 2016-12-07 DE DE102016123704.3A patent/DE102016123704A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107024365B (zh) | 2021-04-02 |
DE102016123704A1 (de) | 2017-06-14 |
JP2017106873A (ja) | 2017-06-15 |
CN107024365A (zh) | 2017-08-08 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181004 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
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|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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