JP6642372B2 - X線分析装置 - Google Patents
X線分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6642372B2 JP6642372B2 JP2016202173A JP2016202173A JP6642372B2 JP 6642372 B2 JP6642372 B2 JP 6642372B2 JP 2016202173 A JP2016202173 A JP 2016202173A JP 2016202173 A JP2016202173 A JP 2016202173A JP 6642372 B2 JP6642372 B2 JP 6642372B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- emission window
- ray
- main body
- rays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Description
蛍光X線分析装置401は、試料Sが内部に配置される防護ケース20と、X線管球10とコリメータ(シャッタ)41と検出器30とCCDカメラ45とが内部に配置された装置本体部50と、防護ケース20を上下方向に移動させるケース駆動機構42と、コリメータ41を移動させるコリメータ駆動機構43と、装置全体を制御するコンピュータ460とを備える(例えば、特許文献1参照)。
筐体13の側壁には、例えばBe(ベリリウム)製の円形状の出射窓13aが形成されており、出射窓13aと対向する位置にターゲット11の端面が配置されるとともに、ターゲット11の端面と対向する位置にフィラメント12の先端が配置されている。
コリメータ41は、大円形状(例えば直径10mm)の開口41aと、小円形状(例えば直径1mm)の開口41bとが並ぶように形成された平板であり、X線管球10と開口51aとの間に配置されている。そして、コリメータ41は、コリメータ駆動機構43によって、一次X線の光軸に直交する面内でY方向と−Y方向とに移動可能となっている。よって、X線管球10から出射される所定照射範囲(例えば直径10mmの円形状)の一次X線のうち、任意の設定照射有効範囲の一次X線がコリメータ41を通過するようになっている。これにより、試料Sにおいて、例えば、一次X線によって直径10mmの円形状の設定測定有効領域が照射されたり、一次X線によって直径1mmの円形状の設定測定有効領域が照射されたり、又は全く照射されなかったりする。
また、蛍光X線分析装置401が設置された室内で暖房等の電源が入れられると、室内の空気の温度は上昇するが、熱容量が大きい筐体13の温度は、なかなか上昇せず低いままとなるため、筐体13の外周面に水滴が付着することがあった。つまり、結露等によって出射窓13aの上に付着した水が残留することがあった。
このように出射窓13aに試料Sや水が付着すると腐食が発生し、出射窓13aに穴が開いて筐体13内の真空が破れ、運転不能の原因となる。
そこで、本発明は、出射窓13aが汚染されたことを容易に確認することができるX線分析装置を提供することを目的とする。
また、上記の発明において、前記撮像装置で撮像された出射窓画像と、保存された出射窓画像とを比較することにより、前記出射窓が正常であるか否かを判定する判定部を備えるようにしてもよい。
このようなX線分析装置によれば、例えば正常時の出射窓画像や前回使用時の出射窓画像を保存しておくことで、判定部がその出射窓画像と今回の出射窓画像とを比較することにより、出射窓が正常であるか否かを自動的に判定することができる。
このようなX線分析装置によれば、現在測定中の試料を分析位置に載置したままで、鏡を移動させることで出射窓を確認することができる。また、ある試料を置いた直後、さらにその試料を除去する直前に鏡を移動させることで出射窓を確認することができ、その結果、数ある試料のうち、どの試料が汚染の原因になったかを特定しやすく、汚染の対策が容易になる。
このようなX線分析装置によれば、測定をしながら出射窓を確認することができる。よって、測定中に試料の落下等により出射窓が汚染された場合、直ちにX線の照射を停止して汚染の発生をユーザに通知することができるため、出射窓の劣化を最小限にすることができる。
さらに、上記の発明において、前記装置本体部の上面の開口部に載置される鏡ユニットを備えるようにしてもよい。
図1は、本発明の第一実施形態に係る蛍光X線分析装置の一例を示す概略構成図である。なお、先に述べた蛍光X線分析装置401と同様のものについては、同じ符号を付している。
蛍光X線分析装置1は、試料Sが内部に配置される防護ケース20と、X線管球10とコリメータ(シャッタ)41と検出器30とCCDカメラ45と鏡46とが内部に配置された装置本体部50と、防護ケース20を上下方向に移動させるケース駆動機構42と、コリメータ41を移動させるコリメータ駆動機構43と、鏡46を移動させる鏡駆動機構44と、装置全体を制御するコンピュータ60とを備える。
例えば、試料Sを分析する際には、ユーザは表示装置63に表示された試料Sの分析面画像を観察しながら、試料Sにおける設定測定有効領域が一次X線によって照射されるように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。
また、X線管球10から一次X線を出射させた状態で試料Sを交換する際には、まず、ユーザは試料Sに対する一次X線の照射を遮蔽するように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。これにより、防護ケース20を上方に移動させることが可能となり、ユーザは入力装置62を用いて防護ケース20を上方に移動させる。次に、ユーザは試料Sを交換した後、入力装置62を用いて防護ケース20を下方に移動させる。
図2は、本発明の第二実施形態に係る蛍光X線分析装置の一例を示す概略構成図である。なお、先に述べた蛍光X線分析装置1、401と同様のものについては、同じ符号を付している。
蛍光X線分析装置101は、試料Sが内部に配置される防護ケース20と、X線管球10とコリメータ(シャッタ)41と検出器30とCCDカメラ45とが内部に配置された装置本体部50と、防護ケース20を上下方向に移動させるケース駆動機構42と、コリメータ41を移動させるコリメータ駆動機構43と、鏡ユニット146と、X線管球10と検出器30とケース駆動機構42とコリメータ駆動機構43とCCDカメラ45とを制御するコンピュータ160とを備える。
例えば、試料Sを分析する際には、ユーザは表示装置63に表示された試料Sの分析面画像を観察しながら、試料Sにおける設定測定有効領域が一次X線によって照射されるように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。
また、X線管球10から一次X線を出射させた状態で試料Sを交換する際には、まず、ユーザは試料Sに対する一次X線の照射を遮蔽するように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。これにより、防護ケース20を上方に移動させることが可能となり、ユーザは入力装置62を用いて防護ケース20を上方に移動させる。次に、ユーザは試料Sを交換した後、入力装置62を用いて防護ケース20を下方に移動させる。
図3は、本発明の第三実施形態に係る蛍光X線分析装置の一例を示す概略構成図である。なお、先に述べた蛍光X線分析装置1、101、401と同様のものについては、同じ符号を付している。
蛍光X線分析装置201は、試料Sが内部に配置されるとともにCCDカメラ45が内部に配置された防護ケース220と、X線管球10とコリメータ(シャッタ)41と検出器30とが内部に配置された装置本体部250と、防護ケース220を上下方向に移動させるケース駆動機構42と、コリメータ41を移動させるコリメータ駆動機構43と、装置全体を制御するコンピュータ260とを備える。
例えば、試料Sを分析する際には、ユーザは試料Sにおける設定測定有効領域が一次X線によって照射されるように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。
また、X線管球10から一次X線を出射させた状態で試料Sを交換する際には、まず、ユーザは試料Sに対する一次X線の照射を遮蔽するように、入力装置62を用いてコリメータ41を移動させる。これにより、防護ケース220を上方に移動させることが可能となり、ユーザは入力装置62を用いて防護ケース220を上方に移動させる。次に、ユーザは試料Sを交換した後、入力装置62を用いて防護ケース220を下方に移動させる。
(1)上述した蛍光X線分析装置1では、コリメータ41を移動させるコリメータ駆動機構43と鏡46を移動させる鏡駆動機構44とを備える構成を示したが、コリメータ41と鏡46とを一体化して、1個の駆動機構を備えるような構成としてもよい。
10 X線管球
11 ターゲット(陽極)
12 フィラメント(陰極)
13 筐体
13a 出射窓
20 防護ケース
30 検出器
41 コリメータ(シャッタ)
45 CCDカメラ(撮像装置)
50 装置本体部
51a 開口部
S 試料
Claims (7)
- X線管と検出器とシャッタとが内部に配置され、測定時に上面の開口部に試料が載置される装置本体部と、
前記開口部を覆う測定状態と前記開口部を開放する非測定状態とに移動可能な防護ケースとを備え、
前記X線管は、出射窓が形成されている筐体と、前記筐体の内部に端面が配置された陽極と、前記筐体の内部に配置された陰極とを有し、前記陽極の端面で発生したX線を筐体の出射窓から出射し、
前記検出器は、前記試料にX線が照射されることにより、前記試料で発生したX線の強度を検出し、
前記シャッタは、前記非測定状態時には前記X線管の出射窓の前方に配置される一方、前記測定状態時には前記X線管の出射窓の前方から除去されるX線分析装置であって、
前記測定状態時に前記X線管の出射窓を撮像するための撮像装置を備えることを特徴とするX線分析装置。 - 前記撮像装置で撮像された出射窓画像と、保存された出射窓画像とを比較することにより、前記出射窓が正常であるか否かを判定する判定部を備えることを特徴とする請求項1に記載のX線分析装置。
- 前記判定部は、正常でないと判定したときには、警告を発することを特徴とする請求項2に記載のX線分析装置。
- 前記装置本体部の内部に前記撮像装置が配置されるとともに、前記装置本体部の内部に、可視光を反射する鏡が移動可能に配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のX線分析装置。
- 前記装置本体部の内部に前記撮像装置が配置されるとともに、前記装置本体部の内部に、X線を透過し可視光を反射する鏡が配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のX線分析装置。
- 前記防護ケースの内部に前記撮像装置が配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のX線分析装置。
- 前記装置本体部の上面の開口部に載置される鏡ユニットを備えることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のX線分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016202173A JP6642372B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | X線分析装置 |
CN201611227026.5A CN107957430B (zh) | 2016-10-14 | 2016-12-27 | X射线分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016202173A JP6642372B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | X線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018063196A JP2018063196A (ja) | 2018-04-19 |
JP6642372B2 true JP6642372B2 (ja) | 2020-02-05 |
Family
ID=61953278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016202173A Active JP6642372B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | X線分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6642372B2 (ja) |
CN (1) | CN107957430B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109298004A (zh) * | 2018-12-07 | 2019-02-01 | 深圳市禾苗分析仪器有限公司 | 一种x射线荧光光谱仪 |
US20230236142A1 (en) | 2020-07-01 | 2023-07-27 | Shimadzu Corporation | X-ray analyzer |
JP7416254B2 (ja) * | 2020-07-14 | 2024-01-17 | 株式会社島津製作所 | 蛍光x線分析装置 |
US20240027375A1 (en) * | 2020-07-29 | 2024-01-25 | Shimadzu Corporation | Automated analyzer |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2590158Y2 (ja) * | 1992-10-11 | 1999-02-10 | 株式会社堀場製作所 | 螢光x線分析装置のシャッター構造 |
JP2002328102A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | X-Ray Precision Inc | 走査型x線顕微鏡 |
JP2010197205A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Shimadzu Corp | 蛍光x線分析装置 |
JP5481321B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2014-04-23 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光x線分析装置及び蛍光x線分析方法 |
CN103308539B (zh) * | 2012-03-12 | 2017-04-12 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 荧光x射线分析装置和荧光x射线分析方法 |
JP6096418B2 (ja) * | 2012-04-12 | 2017-03-15 | 株式会社堀場製作所 | X線検出装置 |
JP2014185951A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Hitachi High-Tech Science Corp | 蛍光x線分析装置 |
WO2015056304A1 (ja) * | 2013-10-15 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | 蛍光x線分析方法及び蛍光x線分析装置 |
JP6320814B2 (ja) * | 2014-03-20 | 2018-05-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線分析装置 |
JP6305247B2 (ja) * | 2014-06-13 | 2018-04-04 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光x線分析装置 |
JP2016099308A (ja) * | 2014-11-26 | 2016-05-30 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光x線分析装置及び蛍光x線分析方法 |
JP6305327B2 (ja) * | 2014-12-04 | 2018-04-04 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光x線分析装置 |
-
2016
- 2016-10-14 JP JP2016202173A patent/JP6642372B2/ja active Active
- 2016-12-27 CN CN201611227026.5A patent/CN107957430B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107957430B (zh) | 2021-01-01 |
JP2018063196A (ja) | 2018-04-19 |
CN107957430A (zh) | 2018-04-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6642372B2 (ja) | X線分析装置 | |
TWI646327B (zh) | 螢光x射線分析裝置 | |
US8592780B2 (en) | Quantum-yield measurement device | |
US9188553B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
US9562920B2 (en) | Automated analyzer with cover detection | |
JP6296992B2 (ja) | 試薬カード位置合わせ装置及び方法 | |
US20230235377A1 (en) | Biological indicators, and systems and methods for determining efficacy of sterilization | |
JP5843232B2 (ja) | 定性分析装置 | |
JP6923905B2 (ja) | X線検査装置及びx線検査方法 | |
JP5633702B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP2005221363A (ja) | X線分析用試料支持装置及びx線分析装置 | |
CN110494755B (zh) | 图像取得装置及图像取得方法 | |
US11452195B2 (en) | X-ray device | |
JP6962613B1 (ja) | 蛍光x線分析装置、及び、蛍光x線分析装置の制御方法 | |
US20240027375A1 (en) | Automated analyzer | |
WO2024047702A1 (ja) | キャピラリ電気泳動装置およびその光学性能診断方法 | |
JP6665621B2 (ja) | 分析装置 | |
JP4221282B2 (ja) | 光分析装置及びそれを用いた自動分析装置 | |
JPH0536741B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190116 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191216 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6642372 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |