JP6638275B2 - 検査装置および車両 - Google Patents

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Description

本発明は、検査装置および車両に関する。
従来、レンズを介して対象物を撮影して対象物の表面を検査する検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開平07―222754号公報
レンズを介して受光する検査装置では、受光部から対象物までの距離が変わる場合に、レンズから受光部までの距離を変化させて焦点位置を合せていた。しかしながら、撮像主体が移動しながら対象物を撮像する場合、または、移動している対象物を撮像する場合、焦点位置合わせの速度が移動速度に追従できない場合がある。
(発明の一般的開示)物体の表面を検査する検査装置は、発光部と受光部とを備えてよい。発光部は、光源を有してよい。発光部は、物体に光を照射してよい。受光部は、物体からの光を受光してよい。受光部は、少なくとも1つの受光素子と、変換部とを有してよい。少なくとも1つの受光素子は、焦点を有するレンズを介さずに、物体の異なる位置からの反射光を受光してよい。変換部は、位置毎の光受信信号に基づいて画像データを生成してよい。
発光部は、レーザー光を第1方向において走査しながらレーザー光を出射してよい。
検査装置は、反射部をさらに有してよい。反射部は、物体の異なる位置から入射する反射光のうち、少なくとも1つの受光素子に直接入射せず、少なくとも1つの受光素子の近傍に入射する光を少なくとも1つの受光素子へ反射してよい。
反射部は、第1方向に平行な中心軸方向を有する半円筒形状であってよい。
反射部は、第1の湾曲面と第2の湾曲面とを有してよい。第1の湾曲面は、第1方向に平行な中心軸方向を有してよい。第1の湾曲面は、第1の曲率を有してよい。第2の湾曲部は、第1方向に平行な中心軸方向を有してよい。第2の湾曲面は、第1の曲率と異なる第2の曲率を有してよい。第2の湾曲面は、第1の湾曲面における曲率方向の両端面に直接接して設けられてよい。
複数の受光素子は、中心軸方向に沿って配置されてよい。
複数の受光素子のうち少なくとも1つの受光素子の受光面は、反射部の反射面に対向して配置されてよい。
発光部は、ミラーをさらに有してよい。ミラーは、回転または振動しながら光源からの光を反射することにより光源からの光を第1方向において走査してよい。
検査装置は、画像処理部をさらに備えてよい。画像処理部は、ミラーの角度に基づいて画像データから画像を生成してよい。
発光部は、複数の光源を有してよい。複数の光源は、複数の波長のレーザー光を物体に照射してよい。
発光部は、光源からの光の強度を時間に対して変調する光変調部をさらに有してよい。
車両は、上記に記載の検査装置を搭載してよい。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
車両500の概要を示す図である。 第1実施形態における検査装置100の概要を示す図である。 角度可変ミラー14の側面図である。 第2実施形態における角度可変ミラー54の側面図である。 第3実施形態における反射部42 を示す斜視図である。 (A)から(C)は、受光面26‐1〜受光面26‐4の配置を示す断面図である。 第4実施形態における反射部50を示す断面図である。 第5実施形態における複数の波長のレーザー光源12を用いる例を示す図である。 第6実施形態における検査装置200の概要を示す図である。 第7実施形態における検査装置300の概要を示す図である。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
本明細書では、X軸、Y軸およびZ軸の直交座標軸を用いて技術的事項を説明する。直交座標軸は、構成要素の相対位置を特定するに過ぎず、特定の方向を限定するものではない。例えば、Z軸は地面に対する高さ方向を限定して示すものではない。なお、+Z軸方向と−Z軸方向とは互いに逆向きの方向である。正負を記載せず、Z軸方向と記載した場合、+Z軸および−Z軸に平行な方向を意味する。また、本明細書において、「反射光」とは、光が照射された物体からの反射光と散乱光とを含むとする。
図1は車両500の概要を示す図である。本例の車両500は、車両本体510および検査装置100を有する。なお、本例は、車両500の例示的構成であり、車両500はここに示す以外の構成を有してもよい。
車両本体510は、路面上を走行可能な自動車であってもよく、レール上を走行可能な鉄道車両であってもよい。本例の車両500は自動車である。本例の車両500は、X軸方向に走行する。車両500は、80km〜100kmで走行しながらトンネルの天井内壁を撮像してよい。検査装置100については図2以降において詳述する。
検査装置100は、車両本体510の外面に取り付けられてよい。本例では、検査装置100は、車両本体510のルーフ上に取り付けられている。検査装置100は、対象物101の表面を撮像する。本例の検査装置100は、第1方向としてのY方向に走査する光を対象物101に照射する。検査装置100は、対象物101からの反射光を各時刻で受光することにより、時刻ごとに対象物101の表面を撮像する。対象物101は、トンネルの一部であってよい。本例の対象物101は、トンネルの天井内壁である。
本例では、検査装置100はトンネルの天井内壁に向かってレーザー光102を照射する。車両500が、トンネル内をX軸方向において走行しつつ、検査装置100がY軸方向においてレーザー光102を走査する。これにより、車両500はトンネルの天井内壁を撮像することができる。これにより、トンネルの天井内壁に発生しているヒビ、取り付けられているボルトの緩み、および、ファン等の構造物の異常などを検査することができる。
図2は、第1実施形態における検査装置100の概要を示す図である。本例では、車両に搭載される検査装置を説明する。
検査装置100は、発光部10、受光部20、画像処理部30、制御部32および反射部40を有する。本例では、検査装置100は、記録装置34および表示装置36に接続されている。
発光部10は、レーザー光源12および角度可変ミラー14を有する。レーザー光源12は、発光部10の光源となる光を発生する。レーザー光の波長帯域は限定されず、可視光帯域であってよいし、赤外帯域であってよいし、紫外帯域であってもよい。レーザー光源12の出力は、10mW未満であってよい。本例のレーザー光源12の出力は、1mWである。
角度可変ミラー14は、時間に応じて反射面の角度を変えつつレーザー光102を反射する機能を有する。当該機能によって、発光部10は、時間に応じて、レーザー光102をY方向において走査しながらレーザー光102を出射する。これにより、レーザー光102は、光走査における各時刻において対象物101の異なる位置に順次に照射される。
制御部32は、角度可変ミラー14の動作を制御する。本例の制御部32は、角度可変ミラー14の回転または振動の周期を制御する。制御部32は、受光素子22、AD変換部24および画像処理部30の動作も制御する。本例の制御部32は、受光素子22の受光時間、受光素子22が光電変換した電荷をAD変換部24に出力するタイミング、AD変換部24で生成されたデジタル信号を画像処理部30に出力するタイミング、および、画像処理部30の動作タイミング等を制御する。
受光部20は、受光素子22およびAD変換部24を有する。受光素子22は、焦点を有するレンズを介さずに、光走査における各時刻において対象物101の異なる位置からの反射光103を受光する。なお、本明細書においてレンズとは、受光素子22へ集光することを目的として設けられた固体または液体のレンズを意味する。
本例の受光素子22は、フォトダイオード等の光電変換装置を有する。受光素子22は、反射光103の強度に応じて電荷を生成する。例えば、反射光103の強度が強い程より多くの電荷を生成する。生成される電荷の量が光受信信号として得られる。
AD変換部24は、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタルコンバータを有する。AD変換部24は、対象物101の異なる位置毎の光受信信号をデジタル信号としての画像データに変換する。本例では、車両500がX方向に走行しつつ、発光部10がY方向にレーザー光102を走査するので、AD変換部24は、対象物101のX方向およびY方向において異なる複数の位置毎に対応した複数の画像データを取得する。
画像処理部30は、AD変換部24から取得した画像データから画像を生成する。本例の画像処理部30は、角度可変ミラー14の角度に基づいて画像データから画像を生成してよい。角度に基づいて画像を生成することは、角度と関係づけられるパラメータに基づいて画像を生成することも含む。時刻に応じて角度が変化する場合には、時刻が角度と関係づけられる。したがって、本例の画像処理部30は、時刻に基づいて画像データから画像を生成する。
画像処理部30は、トンネルの天井内壁を撮像した画像を以前に撮像した画像と比較する。これにより、トンネルの天井内壁の異常を検出することができる。画像比較は、既知の画像マッチング技術を用いてよい。これにより、検査装置100は、トンネルの天井内壁を検査することができる。
本例では、角度可変ミラー14の角度および車両500の位置が時刻に応じて変化する。それゆえ、本例の画像処理部30は、時刻ごとの画像データをX方向およびY方向にマッピングして、対象物101の表面の展開図である二次元画像を生成する。
受光素子22、AD変換部24および画像処理部30は、1つの筐体内に設けられていてもよく、画像処理部30を別装置として設けてもよい。本例では、検査装置100が画像処理部30を有している。これにより、受光部20と同一装置内で画像生成まで実行できるので、画像生成を検査装置100以外の他の装置で行う場合と比較して、ノイズおよびエラーを低減させることができる。
記録装置34は、画像処理部30が生成した画像を記録してよい。表示装置36は、画像処理部30が生成した画像を表示してよい。
反射部40は、異なる位置から入射する反射光103のうち、受光素子22に直接入射せず、受光素子22の近傍に入射する光を受光素子22に反射する。本例では、反射部40は、受光素子22を取り囲むように配置された半球形状を有する。これにより、受光素子22に直接入射する光に加えて、受光素子22の近傍に入射する反射光も集光できる。したがって、画像の明るさおよびコントラストを向上させることができる。
本例では、レンズを用いて集光しないので、焦点位置合わせに起因して撮像した画像がぼけることを防ぐことができる。また、レーザー光102を対象物101に照射してその反射光を取得することにより、レンズを用いずとも受光部から対象物までの距離によらず鮮明な画像を得ることができる。
図3は、角度可変ミラー14の側面図である。本例の角度可変ミラー14は、ガルバノミラーである。本例の角度可変ミラー14は、三角柱形状のミラー本体16とモータ18とを有する。三角柱形状のミラー本体16の側面は、レーザー光源12からの光を反射することができる。モータ18の回転軸がミラー本体16における三角柱の高さ方向(X方向)と平行に接続されている。モータ18の回転駆動によりミラー本体16が回転する。これにより、ミラー本体16は、回転しながら、レーザー光源12からの光をY方向において走査することができる。
走査した光の反射光を受光部20が受光することにより、対象物101を画像化することができる。本例においては、受光素子22は、焦点深度に制約があるレンズを介さずに受光する。これにより、受光部20から対象物101までの距離にかかわらず画像を形成できる。
本例において、発光部10は、レーザー光102を出射する。レーザー光102は、光を放射状に出力する光源からの光と比較して直進性を有するので、反射光の強度を高くすることができる。本例ではレーザー光102を用いることにより、画像の明るさおよびコントラストを向上させることができる。
本例において、レーザー光102が対象物101に到達した際のスポットサイズが画像の分解能に対応する。レーザー光源12を用いる場合は、光を放射状に出力する光源を用いる場合に比べて、受光部20から対象物101までの距離が変化しても、スポットサイズが変化しにくい。これにより、分解能の低下を抑制することができる。
ただし、本明細書における光源はレーザー光源に限定されない。後述する他の例においては、レーザー光源12に代えて、放射状に光を出す光源に筒を取り付けた構成を採用してもよい。
図4は、第2実施形態における角度可変ミラー54の側面図である。第2実施形態における発光部10は、角度可変ミラー54を有する。第2実施形態の検査装置は、第1実施形態における検査装置100と比べて、角度可変ミラー54の構造以外は同様である。したがって、他の構成について繰り返しの説明を省略するとともに、同様の部材については同じ符号を用いて説明する。
本例の角度可変ミラー54は、ミラー本体51、梁部52および駆動部53‐1および駆動部53‐2を有する。本例の角度可変ミラー54は、SOI(Silicon On Insulator)基板を用いて構成されたMEMS(Micro Electro‐Mechanical System)である。本例のミラー本体51は、シリコン表面に金属膜を有する。梁部52は、X方向に延伸している。梁部52の一端はミラー本体51に接続されている。梁部52は、ミラー本体51の回転軸として機能する。梁部52は、ミラー本体51の回転に応じて弾性的にねじれることができる。ミラー本体51と駆動部53とは、近接して配置されている。
ミラー本体51に直流電圧を印加する一方、駆動部53に交流電圧を印加する。これにより、ミラー本体51と駆動部53との間の静電気力を利用して梁部52を回転軸としてミラー本体51を回転振動させることができる。ミラー本体51は、回転振動しながら、レーザー光源12からの光を反射する。これにより、レーザー光源12からの光をY方向において走査することができる。本例の角度可変ミラー54は、ガルバノミラーを用いる場合に比べて走査周波数を高くできる。例えば、MEMSで構成された角度可変ミラー54の走査周波数は10kHzである。これに対して、ガルバノミラーを用いた角度可変ミラーの走査周波数は数kHz(例えば、1kHz)である。したがって、本例では、より高速に光を走査することができる。
図5は、第3実施形態における反射部42を示す斜視図である。第3実施形態における検査装置は、半球形状の反射部40に代えて半円筒形状の反射部42を有し、かつ、1つの受光素子22に代えて複数の受光素子22‐1〜受光素子22‐4を有する。この点において、第3実施形態、第1実施形態および第2実施形態と異なる。他の構成は、第1実施形態および第2実施形態と同様である。したがって、他の構成について繰り返しの説明を省略するとともに、同様の部材については同じ符号を用いて説明する。
反射部42は、Y方向に平行な中心軸方向を有する半円筒形状を持つ。半円筒形状の内側面は、反射面43である。反射部42は、反射光を中心軸付近に集光する。これにより、画像の明るさおよびコントラストを向上させることができる。
受光素子22‐1〜受光素子22‐4は、反射部42の中心軸方向に沿って配置されてよい。本例の受光素子22の数は4つであるが、受光素子22の数は4つに限定されず、任意に設定してよい。受光素子22の数は2つまたは3つであってよく、5以上であってもよい。本例では、受光素子22‐1〜受光素子22‐4の受光面は、半円筒形状の内側面に面して配置される。本例では、支持部44が反射部42に対して受光素子22‐1〜受光素子22‐4を固定する。
受光素子22‐1〜受光素子22‐4のそれぞれが、光走査における各時刻において、対象物101からの反射光を同時に受光する。本例では、各時刻において、受光素子22‐1〜受光素子22‐4の各々は、アナログの受光信号を生成する。AD変換部24は、各受光信号をデジタル変換して複数の画像データを得る。画像処理部30は、複数の画像データの総和または平均値を、各時刻における画像データとして用いて画像を形成してよい。あるいは、画像処理部30は、複数の画像データの最大値を、各時刻における画像データとして用いて画像を形成してもよい。
図6(A)から(C)は、受光面26‐1〜受光面26‐4の配置を示す断面図である。図6(A)に示すように、受光素子22‐1〜受光素子22‐4は、外向き受光素子22‐2および外向き受光素子22‐4と、内向き受光素子22‐1および22‐3とを有する。なお、本明細書における「外向き受光素子」とは、受光面26が対象物101に対向するように配置された受光素子22を意味する。「内向き受光素子」とは受光面26が反射部42の反射面43に対向するように配置された受光素子22を意味する。
反射部42による集光によって、内向き受光素子22‐1および受光素子22‐3は、外向き受光素子22‐2および受光素子22‐4に比べて受光量が多くてよい。それゆえ、受光素子22‐1〜受光素子22‐4間において、明るさおよびコントラストに差が生じうる。そこで、内向き受光素子22‐1および内向き受光素子22‐3の出力と外向き受光素子22‐2および外向き受光素子22‐4の出力を平均するために、画像処理部30が平均化補正を実行してもよい。
図6(B)に示すように、受光素子22‐1〜受光素子22‐4は、すべて内向き受光素子であってもよい。また、図6(C)に示すように、受光素子22‐1〜受光素子22‐4は、すべて外向き受光素子であってもよい。
図6(A)および図6(B)に示される場合では、受光素子22‐1〜受光素子22‐4のうち少なくとも1つの受光素子の受光面が、反射部42の反射面43に対向して配置される。これにより、受光素子22‐1および受光素子22‐3は、反射部42を介して受光できる。したがって、図6(A)および図6(B)の構成は、図6(C)の構成と比較して、明るさおよびコントラストを向上させることができる。
図7は、第4実施形態における反射部140を示す断面図である。第4実施形態における検査装置は、半球形状の反射部40および半円筒形状の反射部42に代えて、複数の湾曲面を有する反射部140を有する。この点において、先の実施例と異なる。他の点は、先の実施例のいずれかと同じである。したがって、他の構成について繰り返しの説明を省略するとともに、同様の部材については同じ符号を用いて説明する。
本例の反射部140は、第1湾曲面142、第2湾曲面144および第3湾曲面146を有する。第1湾曲面142は、Y方向に平行な中心軸方向152を有する。第1湾曲面142は、第1の曲率Q1を有する。
第2湾曲面144は、Y方向に平行な中心軸方向154を有する。第2湾曲面144は、第2の曲率Q2を有する。第2の曲率Q2は、第1の曲率Q1と異なる。第2湾曲面144は、第1湾曲面142における曲率方向の両端面162‐1および162‐2に直接接して設けられる。曲率方向の両端面とは、図に示すように、Y方向の端部ではない湾曲面の端部である。
第3湾曲面146は、Y方向に平行な中心軸方向156を有する。第3湾曲面146は、第3の曲率Q3を有する。第3の曲率Q3は、第1の曲率Q1および第2の曲率Q2と異なる。本例では、Q1>Q2>Q3となるように曲率Q1〜Q3が設定されている。第3湾曲面146は、第2湾曲面144における曲率方向の両端面164‐1および164‐2に直接接して設けられる。
本例では、反射部140が異なる曲率を持つ複数の湾曲面を有するので、複数の焦点を有する。すなわち、焦点が一点とならない。本例では、複数の受光素子22をZ方向に位置を変えて中心軸方向152、154、156に沿って配置する。これにより、異なる高さの対象物からの反射光を効率的に集光することができる。なお、本例では、反射部140が、3つの湾曲面を有する場合を示したが、湾曲面の数は、3つに限定されず4つ以上としてもよい。
図8は、第5実施形態における複数の波長のレーザー光源12を用いる例を示す図である。第5実施形態における検査装置は、3つのレーザー光源12‐1〜レーザー光源12‐3を有する。第5実施形態は、この点において先の実施形態と異なる。他の点は先の実施形態のいずれかと同様である。したがって、他の構成について繰り返しの説明を省略するとともに、同様の部材については同じ符号を用いて説明する。
本例の発光部10は、複数の波長のレーザー光源12を有する。レーザー光源12‐1、12‐2および12‐3は、互いに異なる波長のレーザー光を対象物101に照射する。本例では、複数のレーザー光源12を用いることにより、1つのレーザー光源12を用いる場合と比較して、単位時間あたりに対象物101に光を照射する面積を増やすことができる。これにより、例えば1mmの分解能で画像を撮像することができる。
受光部20は、複数波長の反射光をまとめて受光してよい。これに代えて、受光部20は、カラーフィルタを用いて複数波長の反射光から特定の波長の反射光を分離して個別に受光してもよい。
レーザー光102の波長が外乱光と異なる波長である場合には、外乱光は反射光103へのノイズとならない。外乱光は、例えば、トンネル内における車のヘッドライトからの光である。本例では、複数の波長を用いることにより、発光部10が出力する光の波長が、外乱光と異なる波長となる確率を高めることができる。これにより、外乱光によるノイズの影響を低減することができる。
図9は、第6実施形態における検査装置200の概要を示す図である。検査装置200は、発光部60、受光部70、画像処理部30、制御部32および反射部40を有する。本例では、検査装置200は、記録装置34および表示装置36に接続されている。本例は、発光部60が光変調部62を有する点、および、受光部70がDCフィルタ72を用いる点において、先の実施形態と異なる。他の構成は、先の実施形態と同じである。
発光部60は、レーザー光源12、角度可変ミラー54および光変調部62を有する。光変調部62は、レーザー光源12からのレーザー光102の強度を時間に対して変調する。本例の光変調部62は、レーザー光源12に印加する電圧を時間に対して変調する。変調された光は、時間に対して周期的に強度が変化する。変調された光の強度の周波数は、100kHz〜10GHzであってよい。本例の代替例として、光変調部62が、電気光学効果などの外部的効果を用いて、レーザー光102を外部的に変調してもよい。
角度可変ミラー54は、図4に示した構成と同様であるので、詳しい説明を省略する。本例では、光変調部62の変調周波数は、MEMSを有する角度可変ミラー54の走査周波数の10倍〜1000倍に設定してよい。
制御部32は、角度可変ミラー54の動作を制御する。本例の制御部32は、受光素子22、AD変換部24、DCフィルタ72および画像処理部30の動作も制御する。本例の制御部32は、AD変換部24で生成されたデジタル信号をDCフィルタ72に出力するタイミング、および、DCフィルタ72によってフィルタリングされたデジタルデータを画像処理部30に出力するタイミングも制御する。
受光部70は、受光素子22、AD変換部24およびDCフィルタ72を有する。受光素子22およびAD変換部24は、図1に示す場合と同様であるので詳しい説明を省略する。DCフィルタ72は、受光した光の直流(DC)成分を遮断して、変調周波数に対応した高周波成分を通過させるフィルタである。DC成分とは、時間に対して変化しない、または、直線的に変化する光の強度を意味する。一般に、ノイズとなる外乱光はDC成分を有する。本例によれば、DC成分を除去することにより 外乱ノイズの影響を低減することができる。他の構成は、第1〜第5実施形態の場合と同様であるので、詳しい説明を省略する。
図10は、第7実施形態における検査装置300の概要を示す図である。本例の発光部80は、先の実施形態におけるレーザー光源12に代えて、光を放射状に出力する光源82を有する。また、本例の受光部90は、先の実施形態における反射部40または反射部42および受光素子22に代えて、筒部96および筒部96内の受光素子98を有する。また、本例では、先の実施形態における制御部32に代えて、受光側制御部38を有する。係る点において、先の実施形態と異なる。他の構成について繰り返しの説明を省略するとともに、同様の部材については同じ符号を用いて説明する。
本例の検査装置300は、発光部80、受光部90、画像処理部30、受光側制御部38を有する。検査装置300は、記録装置34および表示装置36に接続されていてよい。光源82は、たとえばLED照明や白熱灯などの光源である。
受光部90は、受光ヘッド部92、AD変換部24および回転振動機構94を有する。受光ヘッド部92は、筒部96および受光素子98を有する。筒部96は、受光素子98の受光可能エリア104を一定の範囲に限定してよい。
本例の回転振動機構94は、回転振動用のリンク機能付きモータである。回転振動機構94の回転軸が受光ヘッド部92に接続される。回転振動機構94の回転振動により、受光ヘッド部92が検出角度を変えるように回転振動する。受光ヘッド部92は、回転振動しながら、異なる時刻ごとに受光可能エリア104を対象物101上でY方向において移動するように走査する。
受光素子98は、受光可能エリア104の走査における各時刻で受光することにより、対象物の異なる位置からの反射光を順次に受光することができる。AD変換部24は、位置毎の光受信信号に基づいて画像データを生成する。
本例では、受光ヘッド部92内の受光素子98の角度および車両500の位置が時刻に応じて変化する。それゆえ、本例の画像処理部30は、時刻ごとの画像データをX方向およびY方向にマッピングして、対象物101の表面の展開図である二次元画像を生成する。受光ヘッド部92は、焦点深度に制約があるレンズを介することなく受光するので、受光部90から対象物101までの距離にかかわらず画像を形成することができる。
上述の実施形態においては、車両本体510のルーフに検査装置100、検査装置200または検査装置300(検査装置100等と略記する。)を設けることを想定している。そこで、検査装置100等に防振装置を設けてもよい。これにより、撮像する画像のブレを防止することができる。また、上述の実施形態においては、検査装置100等を用いて、トンネルの天井内壁を検査することを想定している。そこで、トンネルの天井からの塵および液滴が受光部20、受光部70または受光部90(受光部20等と略記する。)に付着することを防ぐために、受光部20等と対象物101との間にレンズ機能を有さない透光性部材を設けてもよい。透光性部材は、例えばガラス板である。
上述の実施形態は、車両本体510のルーフに検査装置100等を設けて、+Z方向から対象物101を撮像等する用途例である。ただし、検査装置100等は他の用途にも用いてよい。例えば、検査装置100等を用いて、ベルトコンベア上を流れる構造物を−Z方向から撮像することにより、当該構造物を検査することができる。構造物の例としては、プリント基板に設けられたコンデンサおよび放熱板であってよく、鉄鋼の鋼板であってもよい。検査装置100等を用いることにより、動きがあり、かつ、奥行きの幅がある対象を検査することができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
10・・発光部、12・・レーザー光源、14・・角度可変ミラー、16・・ミラー本体、18・・モータ、20・・受光部、22・・受光素子、24・・AD変換部、26・・受光面、30・・画像処理部、32・・制御部、34・・記録装置、36・・表示装置、38・・受光側制御部、40・・反射部、42・・反射部 、43・・反射面、44・・支持部、50・・反射部、51・・ミラー本体、52・・梁部、53・・駆動部、54・・角度可変ミラー、60・・発光部、62・・光変調部、70・・受光部、72・・DCフィルタ、80・・発光部、82・・光源、90・・受光部、92・・受光ヘッド部、94・・回転振動機構、96・・筒部、98・・受光素子、100・・検査装置、101・・対象物、102・・レーザー光、103・・反射光、104・・受光可能エリア、140・・反射部、142・・第1湾曲面、144・・第2湾曲面、146・・第3湾曲面、152・・中心軸方向、154・・中心軸方向、156・・中心軸方向、162・・曲率方向の両端面、164・・曲率方向の両端面 、200・・検査装置、300・・検査装置、500・・車両、510・・車両本体

Claims (8)

  1. 物体の表面を検査する検査装置であって、
    光源を有しており、前記物体に光を照射する発光部と、
    前記物体からの光を受光する受光部と
    を備え、
    前記発光部は、レーザー光を第1方向において走査しながら前記レーザー光を出射し、
    前記受光部は、
    焦点を有するレンズを介さずに、前記物体の異なる位置からの反射光を受光する少なくとも1つの受光素子と、
    位置毎の光受信信号に基づいて画像データを生成する変換部と
    を有し、
    前記検査装置は、前記物体の異なる位置から入射する前記反射光のうち、前記少なくとも1つの受光素子に直接入射せず、前記少なくとも1つの受光素子の近傍に入射する光を前記少なくとも1つの受光素子へ反射する反射部
    をさらに備え、
    前記反射部は、
    前記第1方向に平行な中心軸方向を有し、第1の曲率を有する第1の湾曲面と、
    前記第1方向に平行な中心軸方向を有し、前記第1の曲率と異なる第2の曲率を有し、前記第1の湾曲面における曲率方向の両端面に直接接して設けられた第2の湾曲面と
    を有する
    検査装置。
  2. 物体の表面を検査する検査装置であって、
    光源を有しており、前記物体に光を照射する発光部と、
    前記物体からの光を受光する受光部と
    を備え、
    前記発光部は、レーザー光を第1方向において走査しながら前記レーザー光を出射し、
    前記受光部は、
    焦点を有するレンズを介さずに、前記物体の異なる位置からの反射光を受光する少なくとも1つの受光素子と、
    位置毎の光受信信号に基づいて画像データを生成する変換部と
    を有し、
    前記検査装置は、前記物体の異なる位置から入射する前記反射光のうち、前記少なくとも1つの受光素子に直接入射せず、前記少なくとも1つの受光素子の近傍に入射する光を前記少なくとも1つの受光素子へ反射する反射部
    をさらに備え、
    前記反射部は、前記第1方向に平行な中心軸方向を有する半円筒形状であり、
    複数の前記受光素子は、前記中心軸方向に沿って配置される
    検査装置。
  3. 物体の表面を検査する検査装置であって、
    光源を有しており、前記物体に光を照射する発光部と、
    前記物体からの光を受光する受光部と
    を備え、
    前記発光部は、レーザー光を第1方向において走査しながら前記レーザー光を出射し、
    前記受光部は、
    焦点を有するレンズを介さずに、前記物体の異なる位置からの反射光を受光する少なくとも1つの受光素子と、
    位置毎の光受信信号に基づいて画像データを生成する変換部と
    を有し、
    前記検査装置は、前記物体の異なる位置から入射する前記反射光のうち、前記少なくとも1つの受光素子に直接入射せず、前記少なくとも1つの受光素子の近傍に入射する光を前記少なくとも1つの受光素子へ反射する反射部
    をさらに備え、
    前記反射部は、前記第1方向に平行な中心軸方向を有する半円筒形状であり、
    複数の前記受光素子は、前記中心軸方向に沿って配置され、
    複数の前記受光素子のうち少なくとも1つの前記受光素子の受光面は、前記反射部の反射面に対向して配置され、
    複数の前記受光素子のうち少なくとも1つの前記受光素子の受光面は、前記物体に対向して配置される
    検査装置。
  4. 前記発光部は、回転または振動しながら前記光源からの光を反射することにより前記光源からの光を前記第1方向において走査するミラーをさらに有する
    請求項1から3のいずれか一項に記載の検査装置。
  5. 前記ミラーの角度に基づいて前記画像データから画像を生成する画像処理部をさらに備える
    請求項4に記載の検査装置。
  6. 前記発光部は、複数の波長のレーザー光を前記物体に照射する複数の前記光源を有する
    請求項1から3のいずれか一項に記載の検査装置。
  7. 前記発光部は、前記光源からの光の強度を時間に対して変調する光変調部をさらに有する
    請求項1から6のいずれか一項に記載の検査装置。
  8. 請求項1からのいずれか一項に記載の前記検査装置を搭載した車両。
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