JP6630058B2 - 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム - Google Patents

撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP6630058B2
JP6630058B2 JP2015094444A JP2015094444A JP6630058B2 JP 6630058 B2 JP6630058 B2 JP 6630058B2 JP 2015094444 A JP2015094444 A JP 2015094444A JP 2015094444 A JP2015094444 A JP 2015094444A JP 6630058 B2 JP6630058 B2 JP 6630058B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
focus detection
output
pixel value
pixels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015094444A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016028265A (ja
Inventor
武志 小川
武志 小川
本田 充輝
充輝 本田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2015094444A priority Critical patent/JP6630058B2/ja
Priority to US14/739,648 priority patent/US9621828B2/en
Publication of JP2016028265A publication Critical patent/JP2016028265A/ja
Priority to US15/445,364 priority patent/US9807325B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6630058B2 publication Critical patent/JP6630058B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • H04N25/134Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements based on three different wavelength filter elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H04N25/46Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by combining or binning pixels
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
    • H04N25/683Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects by defect estimation performed on the scene signal, e.g. real time or on the fly detection
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/703SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
    • H04N25/704Pixels specially adapted for focusing, e.g. phase difference pixel sets
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N2209/00Details of colour television systems
    • H04N2209/04Picture signal generators
    • H04N2209/041Picture signal generators using solid-state devices
    • H04N2209/042Picture signal generators using solid-state devices having a single pick-up sensor
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • H04N23/672Focus control based on electronic image sensor signals based on the phase difference signals

Description

本発明は、撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラムに関する。
焦点検出技術の1つとして瞳分割位相差方式がある。この方式では、撮影レンズの通過光束を分割して一対の分割像を形成する。この一対の分割像のパターンズレを検出することによって、撮影レンズのデフォーカス量とでフォーカス方向を検出できる。この原理を用いて撮像素子の画素に遮光層をもうけて焦点検出用画素として利用する固体撮像素子がある。
撮像素子の画素に遮光層を設けて焦点検出用画素として利用する撮像素子がある。特許文献1は撮像用画素の間に焦点検出用画素が埋め込まれた撮像素子を用い、周囲の撮像用画素から補間した画素値と焦点検出用画素の画素値を取得して焦点検出用画素位置の画像データを取得する方法を開示する。この場合、画質の劣化を引き起こすおそれがある。
また、特許文献2は、焦点検出用画素の信号を撮像信号として用いる技術を開示する。焦点検出用画素は撮像レンズの通過光束の一部を遮光して瞳分割像を得ており、遮光部分に相当する信号を周囲の焦点検出用画素の遮光部分と開口部が逆になっている画素から補間して撮像信号用画素としている。
特開2007−279597公報 特開2010−243772号公報
しかしながら、上述の特許文献に開示された従来技術では、周囲の画素を用いて画素値の半分の成分を補間しているため、信号成分の半分はローパス効果により周波数特性が落ちた成分となってしまう。特に、ナイキスト周波数に近い高周波成分の繰り返し模様を持った被写体を撮影すると、焦点検出画素の配置された部分だけ、ぼけてしまい、不自然な画像となるという問題がある。また、上述の特許文献2では同色の焦点検出画素を用いるために隣接画素上下左右の画素を使って補正する事ができないために、高周波成分の再現性が低くなってしまう。
そこで、本発明は、焦点検出画素位置の画素信号の高周波成分の再現性を向上させる技術を提供する。
上記目的を達成するための本発明は、撮像装置であって、
焦点検出用の画像を生成するための所定方向に交互に配列された異なる色の複数の焦点検出用画素と、被写体を撮像した撮像画像を生成するための複数の撮像用画素とを含む撮像素子と、
処理対象の焦点検出用画素の周辺に位置する撮像用画素から出力された画素値に基づき、色比を検出する色比検出手段と、
前記処理対象の焦点検出用画素に対して前記所定方向に位置する焦点検出用画素から出力された画素値を、前記色比を用いて色変換して第1の画素値を生成する色変換手段と、
前記処理対象の焦点検出用画素から出力された第2の画素値と、前記第2の画素値と同色の前記第1の画素値とを、混合して第3の画素値を生成する混合手段と
を備えることを特徴とする。
本発明によれば、焦点検出画素位置の画素信号の高周波成分の再現性を向上させる技術を提供することができる。
発明の実施形態1に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態1に対応するラインメモリの構成例を示すブロック図。 発明の実施形態1に対応する色比検出部の構成例及び動作を示す図。 発明の実施形態1に対応する色変換部の構成例及び動作を示す図。 発明の実施形態1に対応する混合部の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態に対応する撮像素子の画素断面図。 発明の実施形態に対応する撮像素子における画素の配列例を示す図。 発明の実施形態2に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態2に対応する混合部の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態2に対応する色変換部の構成例及び動作を示す図。 発明の実施形態3に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態3に対応する混合部の構成例を示すブロック図。 シェーディングを説明するための図。 シェーディング像を説明するための図。 撮像用画素と焦点検出用画素とのシェーディング像の違いを説明するための図。 発明の実施形態3に対応するレベル比算出部における処理の一例を示すフローチャート。 発明の実施形態4に対応するゲインテーブルの一例と補正量を示す図。 発明の実施形態5に対応する撮像装置及びレベル比算出部の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態6に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図。 発明の実施形態6に対応する欠陥画素補正部における処理を説明するための図。 発明の実施形態6に対応する合成比算出部における処理の一例を示すフローチャート。 発明の実施形態6に対応する0挿入G画像を説明するためのフローチャート 発明の実施形態6に対応する撮像装置の撮像面について説明するための図。 発明の実施形態6に対応する合成比の算出方法を説明するための図。 発明の実施形態6に対応する撮像素子の構成例を示す図。
以下、発明の実施形態を、添付の図面を参照して説明する。
[実施形態1]
図1は発明の実施形態に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図である。当該撮像装置は、例えばデジタルカメラとして構成することができるが、撮像用画素と焦点検出用画素とを有する画素構造の撮像素子を使用する装置であれば、これに限らない。例えば、デジタルビデオカメラ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、スマートフォン、PDA、タブレット端末等を含むことができる。
図1において、撮像装置は以下の構成を備える。撮像レンズ101により結像する光学像を撮像素子102により電気信号に変換する。撮像素子102はCCDやCMOSセンサで構成されており、図7に示すベイヤー配列に従う複数の画素の集合で構成されているものとする。撮像素子102から出力された画素信号はラインメモリ103に蓄積され、色比検出部104に出力される。色比検出部104では、図3で説明するように、入力された画素信号に基づき色比信号を生成し、画素信号と共に出力する。
また、撮像素子102からの出力は焦点検出画素分離部110にも供給される。色変換部105は、図4で説明するように、色比検出部104から供給された画素信号を、色比信号を用いて色変換し、混合部106に供給する。混合部106は、図5で説明するように、色変換部105から入力された色変換値とスルー出力された画素信号(スルー画像)とに基づき混合画像を生成し、スルー画像と共に出力する。スイッチ108は、混合部106から入力される混合画像とスルー画像のいずれかを選択し信号処理部109へ供給する。信号処理部109は供給された画像に所定の画像処理を実行し後段に出力する。
なお、スイッチ108の切替えは、同期信号発生部107から供給されるタイミング信号により行われる。即ち、スイッチ108は、処理対象が焦点検出画素からの画素信号の場合には混合画像を選択し、撮像用画素の場合にはスルー画像を選択するように制御される。焦点検出画素分離部は、同期信号発生部107から供給されるタイミング信号に基づき、焦点検出画素からの画素信号を分離し焦点検出部111へ供給する。焦点検出部111は焦点検出画素分離部110から供給された焦点検出画素の画素信号に基づき焦点検出を行い、レンズ制御部112に制御信号を出力しレンズの動作を制御する。
なお、図1の撮像装置において、撮像素子のような物理的デバイスを除き、各ブロックは専用ロジック回路やメモリを用いてハードウェア的に構成されてもよい。或いは、メモリに記憶されている処理プログラムをCPU等のコンピュータが実行して装置の動作を制御することにより、ソフトウェア的に構成されてもよい。
以下、図1の各ブロックの構成及び動作について添付の図面を参照して説明する。まず、図6を参照して、本実施形態に対応する撮像素子102の構成及び動作を説明する。図6は発明の実施形態に対応する撮像素子102における、撮像用画素と焦点検出用画素の断面構造の一例を示す。本実施形態において、撮像素子はマイクロレンズ601、カラーフィルタ602、配線層603、配線層603を延長して形成された遮光部604、入射した光を電気信号に変換する光電変換部605及び606を含んで構成される。
撮像用画素のための光電変換部606は、マイクロレンズ601からの入射光のうちカラーフィルタ602を透過した所定波長の光を受光して電気信号に変換し、撮像画像を生成する。焦点検出用画素のための光電変換部605は、マイクロレンズ601からの入射光のうち、カラーフィルタ602を透過した所定波長の光は遮光部604によって一部遮られる。従って、光電変換部605の露光面の重心位置は該焦点検出用画素の中心位置からシフトしている。光電変換部605は、遮光部604によって遮られなかった光を受光し、電気信号に変換する。上述の構造により、撮像レンズの通過光束の一部のみを受光する焦点検出用画素が構成される。光電変換部605の上方領域のうち、遮光部604によって遮られていない部分を本実施形態では開口部と呼ぶ。光電変換部605の遮光部604と開口部との配置関係が逆になった画素を用意することで瞳を2分割することができる。即ち、図6の場合では、光電変換部605の上方領域は図の左側が開口部で右側が遮光部604となっているが、光電変換部605の上方領域で右側が開口部で左側が遮光部604となった画素が用意されることになる。なお、焦点検出の方法に対しては、本発明とは無関係のため詳細な説明は省略する。
次に、図7(a)は本実施形態に対応する撮像素子102の配列を示す図である。画素701は緑色のカラーフィルタが配置された画素、画素702は青色のカラーフィルタが配置された画素、画素703は赤色のカラーフィルタが配置された画素である。図7(a)に示す配列は、ベイヤー配列と呼ばれ、カラー撮像素子で一般的に用いられる配列である。画素701から703の間に配置された画素704および705は焦点検出用画素である。焦点検出用画素は所定方向に規則的に配列される。図7(a)では水平方向に配列されているが、垂直方向であっても良いし、斜め方向(例えば、45度や135度等)であっても良い。画素704は青色用画素で右側が遮光部、左側が開口部となっている。画素705は緑色用画素で左側が遮光部、右側が開口部となっている。画素704、705のラインを用いて焦点検出を行うことができる。
画素705は右側が開口部になっているが、それに対して周囲の4画素の平均から減算すると、左側の開口で得られる値の近似値が得られる。焦点検出部111は、こうして得られた右側と左側の画素値で得られる右側像と左側像の位相差を検出することで焦点検出が可能となる。なお、焦点検出の方法に関しては本発明の本質ではないため、これ以上の詳細な説明は省略することとする。画素704、705のラインは焦点検出画素であるので、通常の撮像用画素は存在していない。したがって、そのまま処理するとノイズとなってしまうため、画像信号を得るための信号を作成しなければならない。
次に図2を参照してラインメモリ103の構成及び動作を説明する。撮像素子102の出力は入力信号201としてラインメモリ103に入力される。入力信号201は1ライン遅延回路202により1ライン遅延される。1ライン遅延回路202の出力は1ライン遅延回路203の入力となっており、1ライン遅延回路203の出力は入力信号201を2ライン遅延した出力信号207となる。1ライン遅延回路203からの出力信号は1ライン遅延回路204を介して1ライン遅延回路205に供給され、さらに1ラインずつ、2ライン分遅延される。
ラインメモリ103からの出力は、入力信号201をそのまま出力する出力信号206、1ライン遅延回路203の出力である出力信号207、遅延回路205の出力である出力信号208の3系統がある。出力信号207を中心とみなして、上下に2ライン離れた画素を出力する。具体的に、出力208は2ライン上の画素を出力し、出力206は2ライン下のラインの画素を出力する。ここで、ラインの上下は焦点検出用画素の配列方向に対して直交する方向として特定することができる。このように中心出力207と2ライン上下の信号206、208が同期されて出力される。
次に図3(a)を参照して色比検出部104の構成及び動作を説明する。ラインメモリ103の2ライン下出力206が入力300に、中心ライン出力207が入力315に、2ライン上出力208が入力321にそれぞれ入力される。
色比検出部104はすべてのラインで同じ処理を行うが、出力として利用されるのは入力315に入力される信号であるので、そのラインのあるサイクルにおける信号について説明する。入力315に対して緑色の焦点検出画素が入力されるサイクルでは、入力300には2ライン下の緑色の画素(以後G画素、又は、単にGと呼ぶ)が、入力321には2ライン上の緑色の画素がそれぞれ入力される。
図3(a)において、入力信号は遅延素子を用いて遅延される。例えば、遅延素子301からは、1つ前のサイクルで入力された青色画素(以後B画素、又は、単にBと呼ぶ)が出力される。加算器303は遅延素子301及び302により2サイクル遅延したG画素と、入力されたばかりのG画素とを加算し、減衰器304によって半分の値になる。また、割り算器305によって減衰器304からの出力と、遅延素子301からの出力の比が計算される。演算器303、304、305によって遅延素子301の画素と、その両隣の画素の平均との比が計算されていることとなる。これは、G画素からなる画像信号とB画素からなる画像信号のそれぞれに対して、周波数帯域を制限する空間フィルタであるローパスフィルタを適用してから、色比を求めていることになる。
割り算器305の出力はこのタイミングではG/Bの値が出力されているが、入力300にはGとBが交互に入力されるため、割り算器305の出力もG/BとB/Gが交互に出力される。割り算器305の出力は遅延素子306から309により遅延され、加算器310、311によって2サイクル後と4サイクル後の値が加算される。これにより遅延素子307の出力のタイミングに対して左右に2画素離れた値を加算したこととなる。
入力300から加算器311までの回路と同じ回路が点線で示すブロック322内にも存在する。ブロック322には2ライン上の値に相当する入力321が入力されている。ブロック322の出力と加算器311の出力が加算器312によって加算され減衰器313により値が6分の1に減衰された後、色比出力314として出力される。
それに対して入力315は遅延素子316から318によって3サイクル遅延され出力される。この遅延段数は、遅延素子301、306、307に対応したものである。この回路により出力320の値に対し、その2ライン上と2ライン下の3か所ずつの場所における色比の平均値が同期して出力される。このときの出力の関係は図3(b)のタイミングチャートに示す通りである。ここに示すとおり、クロック信号に合わせて各サイクルで、遅延出力320ではGとBが交互に出力され、色比出力314もまた、G/BとB/Gとが交互に出力される。
次に、図4(a)を参照して色変換部105の構成及び動作の一例を説明する。色変換部105の入力401には色比検出部104の色比出力314が入力され、入力402には色比検出部104の遅延出力320が入力される。乗算器403は入力402に対して色比401を乗算して、色変換を行い、色変換出力404が出力される。入力402はスルー出力405として、そのまま後段の回路に出力される。
入力402にGの信号が入るサイクルでは、色比入力にはB/Gが入力される。よって、色変換出力404で出力されるのは、Gの信号をBに換算した値となる。当該出力は、Bの値として演算に利用できる。
このときの出力の関係は図4(b)のタイミングチャートに示す通りである。ここに示す通りクロックに合わせて各サイクルでスルー出力405ではGとBの値が交互に出力され、色変換出力404は、スルー出力405と逆相の色信号が出力されている。
次に図5を参照して混合部106の構成及び動作の一例を説明する。まず、入力501には、色変換部105の色変換出力404の値が入力される。色変換部105からのスルー出力405は入力506に入力される。入力501は遅延素子502、503により遅延され、加算器504に供給される。入力506は遅延素子507により1サイクル遅延されて加算器508に供給されると共に、そのままスルー出力510として出力される。
加算器504は、入力501と、入力501を2サイクル遅延させた遅延信号値とを加算し、減衰器505に出力する。減衰器505では、加算器504での加算結果を1/2に減衰する。減衰器505からの出力は加算器508に供給される。加算器508は、減衰器505の出力と遅延素子507によって1サイクル遅延された入力506の値とを加算する。
入力506にGが入力されるサイクルを例に説明すると、遅延素子507の出力はBであり、入力501および遅延素子503の出力もBである。この回路により遅延素子507からの出力のBを中心として、それに対する左右の画素をBに換算した値の平均を加算したこととなる。
混合出力509、スルー出力510は、スイッチ108に入力される。同期信号発生部107から、スイッチ108を切替える切替信号が出力され、通常の撮像用画素出力のタイミングではスルー出力510が選択され、焦点検出画素の出力のタイミングでは混合出力509が選択され出力される。
このようにしてスイッチ108の出力は、常にベイヤー配列の信号が出力されるので信号処理部109は通常のベイヤーを処理して映像信号を作り出すことができる。上記のような回路構成により、図7(a)の配列の焦点検出画素を含む撮像素子の出力において、同色でない隣接画素を用いて撮影レンズの通過光束のすべての領域をカバーする信号を作成することができる。
本実施形態では、焦点検出用画素周辺の撮像用画素における色比を検出し、当該色比に基づき焦点検出用画素から出力された画素値を補間するための色変換値を生成し、当該画素値と混合することにより、焦点検出用画素の位置における高周波成分の再現性を向上できる。
[実施形態2]
以下、発明の第2の実施形態を説明する。図7(b)は、本実施形態に対応する撮像素子の配列を示す図である。画素701〜703、705は実施形態1と同様である。画素706は画素705の遮光領域と開口領域が逆になっているG画素である。即ち、実施形態1の図7(a)では焦点検出画素の配列がGとBとが交互に配列されていたのに対し、本実施形態では焦点検出画素がすべてGとなっている。この配列において画素705と画素706のそれぞれで、左像、右像を作成して位相差を検出することで焦点検出が可能である。但し、焦点検出の詳細に関しては本発明の本質ではないため説明を省略する。
図8は本実施形態に対応する撮像装置の構成の一例を示すブロック図である。実施形態1の構成と比較すると、混合部106と色変換部105の順序が逆になっている。実施形態2において、焦点検出画素はすべてGで隣接画素が同色なため、遮光領域を左右から補間して混合することができる。また、焦点検出画素と通常撮像用画素の切り替えを行うスイッチ108に加え、本実施形態では、色変換部105からの出力と、混合出力の切り替えを行うスイッチ801も存在する。
以下、図9を参照して本実施形態の混合部106の構成及び動作を説明する。入力901には、図3(b)に示す色比検出部104が出力した遅延出力320が入力される。入力される信号は全てGであり、遅延素子902、903で遅延された後、加算器904が入力901と遅延素子903の出力とを加算し、減衰器905で当該加算結果を1/2に減衰する。減衰器905からの出力は加算器906に入力され、遅延素子902からの出力と加算されて混合出力907が生成される。この回路により遅延素子902からの出力のGを中心として、それに対する左右の画素の値の平均を加算して混合出力が得られたこととなる。また、加算器906における混合を行わずに遅延素子902からの出力をそのままスルー出力908として出力する。
また、色比検出部104が出力した色比出力314は、入力911として遅延素子912に入力され、1サイクル遅延されて色比出力913として出力される。
このように、図9では、入力901より入力されるのが全てGの同色なので、中心画素は遅延素子902の出力となっている点で、実施形態1の構成と異なる。
次に、図10(a)を参照して実施形態2における色変換部105の構成及び動作について説明する。まず、入力1001には、混合部106が出力した色比出力913が入力される。また、入力1002には、混合部106が出力した混合出力907が入力される。乗算器1003は、入力1001と混合入力1002とを混合して、入力1002を色変換して色変換出力1004を出力する。なお、色変換は、混合入力Gに対し、色比入力がB/Gの場合は有効値となる。これにより、焦点検出用画素には存在しないB画素を生成することが可能となる。
一方、混合入力Gに対し、色比入力がG/Bの場合は、色比を算出できないので無効値となる。但し、この場合にはGのタイミングに相当し、混合部106で得られた混合画素値を用いればよいだけなので全く問題はない。よって、混合入力1002は、そのまま混合出力1005としても出力され、混合部106からのスルー出力908は、スルー出力1006としてそのまま出力される。
色変換部105からの出力は、スイッチ801及び108に供給される。スイッチ108にはスルー出力1006が入力され、スイッチ801には色変換出力1004と混合出力1005とが入力される。なお、スイッチ108には、スイッチ801からの出力信号が更に入力される。
図10(b)は、スイッチ801の入出力信号のタイミングチャートである。スイッチ801には、色変換部105からの色変換出力1004と混合出力1005とが入力される。混合出力1005は常にGであり、色変換出力1004は、有効値と無効値とが1サイクル毎に切り替る。有効値はBとなる。同期信号発生部107から供給される切替信号は、HIGHの時に混合出力1005を選択し、LOWの時に色変換出力1004を選択する。これにより、色変換が有効値として正しくBに変換されているサイクルだけ切り替え信号が発生する。これにより、スイッチ801の出力は、ベイヤー出力1010のようにGとBとが交互に出力されるようになる。このようにしてGのみ一列の焦点検出画素を持った撮像素子の出力もベイヤー配列の信号と同等の信号に変換される。
本実施形態では、焦点検出用画素周辺の撮像用画素における色比を検出し、当該色比に基づき焦点検出用画素の位置で焦点検出用画素が有しない青色画素の信号を生成することができる。また、当該信号は、色比を用いて生成されるので、焦点検出用画素の位置における高周波成分の再現性を向上できる。
[実施形態3]
次に、発明の第3の実施形態を説明する。図11は、実施形態3に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図である。撮像装置は、撮像レンズ1101、撮像素子1102である。混合部1103、レベル補正部1104、レベル比算出部1105、焦点検出部1106、信号処理のタイミング信号を発生させる同期信号発生部1107、スイッチ1108、映像信号を作成する信号処理部1109、焦点検出画素分離部1110、焦点検出部の出力に応じてレンズを駆動するレンズ制御部1111を有する。
撮像素子1102から図7(a)の配列で構成された信号が出力される。なお、図7(a)では各画素にカラーフィルタにより色が割り当てられているが、カラーフィルタを透明フィルタとして白黒の撮像素子としてもよい。図7(a)の704、705の焦点検出画素が配置されたラインで焦点検出画素分離部1110が焦点検出画素を分離できるように同期信号発生部1107がタイミング信号を発生させる。焦点検出部1106は焦点検出画素分離部1110から転送される焦点検出画素信号に基づいて焦点検出を行い、レンズ制御部1111に制御信号を出力する。焦点検出部1106の詳細に関しては、本発明の本質ではないため、説明を省略する。
撮像素子1102の出力は混合部1103、レベル補正部1104にも転送される。混合部1103、レベル補正部1104は共に信号を加工せずに出力するスルー出力を持つ。同期信号発生部1107からのタイミング信号に基づいて信号切り替え回路1108で混合に用いられた画素値のスルー出力と混合部1103、レベル補正部1104で加工された補正画素値の出力とを切り替える。このように撮像用画素のラインではスルー出力、焦点検出画素の配置されたラインでは混合、レベル補正された補正画素値の出力に切り替わり、信号処理部1109に転送される。
以下、焦点検出画素の信号を撮像用画素と同様に処理する信号に変換するために混合部1103とレベル補正部1104で行う処理を説明する。
まず、図12を参照して混合部1103の構成及び動作を説明する。撮像素子1102から出力された画素信号は入力1201から入力され、遅延素子1202、1203で遅延される。遅延素子1202の信号を中心画素とすると、入力1201及び遅延素子1203の信号はそれぞれ左右の画素の信号に相当する。例えば、遅延素子1202の信号が、右側開口の焦点検出画素705である場合、入力1201、遅延素子1203は左側開口の焦点検出画素704の値となっている。当該中心画素に対して左右に配置された左側開口画素704の値は、加算器1204により加算され、減衰器1205で二分の一に減衰される。減衰器1205の出力は加算器1208に供給され、遅延素子1202の出力と加算されて混合出力1209が得られる。次のサイクルでは、遅延素子1202の出力は左側開口の焦点検出画素704となり、同様に左右の右側開口の焦点検出画素705と混合される。
このように混合部1103で行っている処理は、中心の半開口画素に対して同じ重心の逆開口画素を左右から補間して加算する処理であり、特許文献2にも記載されている。この補間処理によって撮像用画素と同様の特性を持った画素出力を得ることができる。しかし、遮光部分が逆になっている画素で補間しても、混合画素と撮像用画素の間に生じるシェーディング特性の違いに起因して周囲の画素に対してレベル差が生じてしまうため、薄く焦点検出画素の跡が画像に残ってしまうおそれがある。
ここで図13(a)のレンズ断面図を参照してシェーディングが発生する理由を説明する。図11に示すレンズ1101は、前レンズ1301、絞り1302、後レンズ1303で構成することができ、レンズにより集光された被写体からの反射光が撮像面1304上で合焦され被写体像が形成される。また、前レンズ1301の枠を前枠、後レンズ1303によってできる枠を後枠と呼ぶ。図13(b)は、撮像面1304のxの位置から見た1301、1302、1303の枠の重なりと、撮像面yの位置から見た1301、1302、1303の枠の重なり方とを示している。xの位置からみると光量を制限しているものは絞り1302だけであるが、yの位置から見ると、絞り1302の他に、前枠1301と後枠1303によっても光量が制限されている。
図13(c)は図13(b)のyの位置における光が届く範囲(斜線部)に撮像素子1102の焦点検出画素を重ねたものである。画素704と705とでは光が届く範囲が大きく異なることがわかる。このようにシェーディングとは光軸中心から離れて像高が高くなるにつれ光量(画素の受光量)が落ちてくる現象であり、瞳分離された像においては像高が高くなるとバランスがくずれるという性質がある。図13(c)の斜線部の形状のことをケラレ形状という。ケラレ形状は場所により異なるが、場所がずれることにより少しずつ変化する。
図14は、ある像高中心を通るラインにおけるシェーディング像を示している。横軸が撮像素子1102上の位置を示し縦軸は光量を示している。点線1402で示すのは撮像用画素(701〜703)のシェーディング像であり、二点鎖線1401で示すは焦点検出画素(704、705)の混合出力のシェーディング像である。このようにシェーディング像1401と1402とでは特性が異なることが分かる。また、像高中心から外側にいくにつれて光量が減少し、シェーディング像1402は、像高中心ではシェーディング像1401よりも光量が高いのに対し、像高が高くなると光量の相対的関係が逆転し、シェーディング像1401よりも光量が低くなっている。
そこで本実施形態では、レベル補正部1104を用いてシェーディング像1401と1402との特性の差を吸収する。以下、焦点検出画素の混合出力と撮像用画素出力のシェーディング像になぜ違いが生じるかを図15を参照して説明する。
図15(a)は撮像用画素及び焦点検出画素の瞳強度を示すグラフである。横軸に入射光の入射角、縦軸に感度を示している。1501は撮像用画素701等の特性である。入射角垂直を0°として0°が最も感度が高く、入射角が傾くにつれ感度が低下する。撮像用画素の特性1501に対し、1502は焦点検出画素704の特性を示している。焦点検出画素704は左側に開口しているため開口部中心に対する角度において最も感度が高くなっている。同様に1503は右側に開口を有する焦点検出画素705の特性を示している。このように感度中心が左右に分離されていることにより、瞳分離が行われている。
特性1504は特性1502と1503を加算した特性である。特性1504は焦点検出画素の混合部の出力の特性と一致する。本来であれば特性1502と1503とを加算した特性は、特性1501と一致するように設計するが、アルミ配線層で遮光して得られた特性を加算しても、遮光の無い画素と完全に同じ特性にすることは困難であり、若干の特性差が生じる。なお、図15(a)では横軸をX方向のみの特性で示したが、実際はX軸Y軸からなる平面でこのような特性があり、これを瞳強度分布という。
図15(b)は瞳強度分布を等高線で表現したものである。図15(b)の(i)の1511は撮像用画素701等の瞳強度分布を示している。(ii)の1512は、焦点検出画素の混合信号の瞳強度分布を示している。1514のあたりの強度中心部分に撮像用画素との差異が生じている。また、1513はケラレ形状を示している。(iii)の1515は焦点検出画素704の瞳強度分布を示している。ある像高における光量差は、ケラレ形状1513の内側の瞳強度の積分値の差と一致する。したがって、(i)の場合と(ii)の場合とでは得られる積分値が異なる。このような理由から図14の1401及び1402のようなシェーディング像の差が生じる。この特性はケラレ形状に依存するため、レンズのズームポジションやフォーカシングポジション、絞りの状態などで変化する。
本実施形態のレベル補正部1104はこれらの特性差を補正するために混合部1103の出力である混合画素値にゲインをかける。具体的に、図14に示すシェーディング像の差異を解消するように、混合画素値の値をレベル比算出部1105から供給される補正量に基づき補正する。その際、補正量は像高中心から離れるほど小さくなる。なお、レベル比算出部1105は焦点検出部1106からレンズ制御部1111に送られる制御信号を入力として、レンズのズームポジション、フォーカシングポジション、絞り等の撮像時の設定に関する情報を得て補正量を決定する。
図16はレベル比算出部1105の処理の一例を示すフローチャートである。該フローチャートに対応する処理は、例えば、レベル比算出部1105として機能するCPUが対応するプログラム(ROM等に格納)を実行することにより実現できる。
まず、S1601で、補正する焦点検出画素の位置を初期値に設定する。続くS1602からS1606までのループで、焦点検出画素が存在する位置を網羅する。まず、S1602で、撮像用画素のシェーディング特性を計算する。次にS1603で混合焦点検出画素のシェーディング特性を計算する。さらにS1604で撮像用画素のシェーディングと混合焦点検出画素のシェーディングの比を計算し、S1605で次の補正位置を設定する。S1606では、全ての補正位置について算出が完了したか否かを判定し、完了している場合は処理を終了する。完了していない場合はS1602に戻って処理を続ける。
S1602、S1603におけるシェーディング計算は、図16(b)のシェーディング計算ルーチンによって処理される。但し、S1602とS1603とではシェーディング計算に与えるパラメータとして瞳強度分布が異なる。
シェーディング計算処理では、まず、S1611において撮像素子1102の各画素の位置X,Yから見たケラレ形状を算出し、射出瞳に投影する。次いでS1612で射出瞳に瞳強度分布を投影し、ケラレ形状内の強度を積分する。これにより図15(b)のケラレ形状1513の内側の強度積分値にあたる値が計算される。その後、親ルーチンに復帰する。なお射出瞳上の投影は絞りに相当する距離の平面に対して、レンズの枠の距離と直径を元に各図形の射影処理を行う事である。したがって、ズームポジション、フォーカシングポジション、絞り値が変わると枠の距離と直径が変化するため、再計算が必要となる。
また、S1611におけるケラレ形状の計算は、図16(c)のサブルーチンに従って実施できる。まず、S1621でズームポジション、フォーカシングポジション、絞りの値を取得し、S1622でレンズ前枠を射出瞳に投影する。次にS1623でレンズ後枠を射出瞳に投影し、S1623で絞りを射出瞳に投影し、全ての投影図形の内側がケラレ形状となる。その後、親ルーチンに復帰する。
以上により、シェーディング特性に基づき混合画素値のレベルを補正し、撮像用画素と焦点検出用画素とのレベル差を解消することができ、薄く焦点検出画素の跡が画像に残ってしまうといった問題を解決することができる。
[実施形態4]
以下、発明の第4の実施形態について説明する。上述の実施形態3では、レベル比算出部1105において、レンズの状態からケラレ形状を幾何学計算により求め、瞳強度分布とケラレ形状からシェーディング係数を算出し、最終的に混合焦点検出画素にかけるゲインを求めていた。これに対し本実施形態ではレベル比算出部1105が予め計算済みのテーブルを用いてゲインを算出する。
図17(a)は撮像素子1102のある位置X,Yにおける補正量を登録するゲインテーブルを示している。縦軸横軸に絞り、フォーカスポジション、奥行き方向にズームポジションをとり、それぞれの軸に離散的に打った目盛りの交点に対して1つの補正量のデータを持つ。黒点1701に相当する位置に1つのデータが存在する。本ゲインテーブルを用いれば、ズーム、フォーカス、絞りが決まると一意に補正量が決まる。なお、テーブルに登録される補正量は離散値となるため、ズーム、フォーカス、絞りに対応する値が存在しない場合は、近傍の値から補間して求めることができる。
図17(b)のシェーディング像は横軸に離散的に目盛り1702が示してある。この目盛りのそれぞれの位置に対して図17(a)のテーブルが存在する。また、図17(b)の目盛りの中間位置におけるゲインは、近傍のデータから補間して求めることができる。
このように本実施形態のレベル比算出部1105は、予め算出済みのデータを参照してゲインを求めることができる。レベル比算出部1105以外の部分に関しては実施形態3と同様である。
[実施形態5]
以下、発明の第5の実施形態を説明する。本実施形態では、レベル比算出部1105がレンズの設計情報及び制御情報を用いずにレベル比を検出する。
図18(a)は本実施形態に対応する撮像装置の構成例を示すブロック図である。図11に示した実施形態3の構成とは、撮像素子1102と混合部1103との間に遅延調整部1113が挿入されている点、レベル比算出部1105の入力としてレンズの制御情報ではなく撮像素子1102の出力が接続されている点で異なる。
以下、図18(b)を参照して本実施形態に対応するレベル比算出部1105の構成及び動作を説明する。入力信号として撮像素子102の出力が入力され、1ライン遅延部1801、1802により入力信号が遅延される。入力信号と1ライン遅延部1802の出力は1ライン遅延部1801の出力に対して、上下のラインの信号となる。加算器1803と4分の1乗算器1804により上下の信号の平均信号が得られる。4分の1乗算器1804の出力と1ライン遅延部1801の出力はそれぞれローパスフィルタ1805、1806により各画素値は低周波成分のみが出力され、除算器1807により比が算出される。
このように本実施形態では上下の撮像用画素の平均にローパスフィルタをかけた波形と、焦点検出画素にローパスフィルタをかけた波形とを用いて、レベル比を算出している。シェーディング像比は、その特性上なだらかにしか変化しないため、ローパスフィルタによりなだらかにしか変化しないようにスムージングを行った信号から直接レベル比を検出することができる。
[実施形態6]
次に、発明の第6の実施形態を説明する。本実施形態に対応する発明は、焦点検出用画素を有する撮像素子の画素補正性能を向上させる。
上述の特開2007−279597公報に開示の技術では、周囲の画素を用いて補間した画素値では、焦点検出用画素の配列方向と同方向の被写体で補正痕が目立つという問題点がある。また焦点検出用画素値は、半開口分の画素値しか存在しないため、デフォーカス領域の画素値が正しく再現できないという問題点がある。また、特開2010−243772号公報に記載の方法では、高周波成分の繰り返し模様を持った被写体を撮影すると、正しい補正が行われず、補正痕が残るという問題がある。本実施形態では、当該問題を解決する発明を提供する。
図19は、撮像装置の全体を示す構成図である。当該撮像装置は、例えばデジタルカメラとして構成することができるが、撮像用画素と焦点検出用画素とを有する画素構造の撮像素子を使用する装置であれば、これに限らない。例えば、デジタルビデオカメラ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、スマートフォン、PDA、タブレット端末等を含むことができる。
図19において、撮像部101は不図示の撮影レンズ、撮像素子及びその駆動回路を含んで構成され、撮影レンズにより結像する光学像を撮像素子により電気信号に変換する。撮像素子はCCDやCMOSセンサで構成されており、図23(a)に示すベイヤー配列に従う複数の画素の集合で構成されているものとする。ベイヤー配列は、赤成分(R)、青成分(B)、緑成分(G)の3つの色成分からなり、各色成分が図23(a)に示す順で繰り返し配列される。
撮像部1901から出力されるアナログ信号は、A/D変換部1902によってデジタル信号に変換される。A/D変換部1902によってデジタル信号に変換された画像信号は、欠陥画素補正部1903に入力される。欠陥画素補正部1903は、詳細は後述するが、欠陥画素と判定された画素の信号値を補正して、欠陥補正後のRAW信号を出力する。欠陥画素補正部1903は、周辺画素補間部1904、半開口補間部1905、合成比算出部1906、合成部1907で構成される。詳細は後述するが、A/D変換部1902から出力された画像信号は周辺画素補間部1904、半開口補間部1905および合成比算出部1906に出力される。周辺画素補間部1904の出力は合成部1907に接続されている。半開口補間部1905の出力は、合成部1907および合成比算出部1906に接続されている。合成比算出部1906から出力される合成比にしたがって、合成部1907では周辺画素補間部1904と半開口補間部1905とからの出力を合成する。欠陥画素補正部1903から出力された欠陥画素補正後のRAW信号は、信号処理部1908に送られ、公知のホワイトバランス部、色補間処理、ノイズリダクション処理、ガンマ処理、マトリックス処理等の信号処理が行われる。
なお、図19の撮像装置において、撮像素子のような物理的デバイスを除き、各ブロックは専用ロジック回路やメモリを用いてハードウェア的に構成されてもよい。或いは、メモリに記憶されている処理プログラムをCPU等のコンピュータが実行して装置の動作を制御することにより、ソフトウェア的に構成されてもよい。本実施形態に対応する撮像素子の構成は図6に示したとおりであるので、説明は省略する。
次に図20(a)を参照して、半開口補間部1905における具体的な処理の一例を説明する。ここでは、欠陥画素補正を行う着目画素を中心に位置するGa34とし、Ga34を含む横1列のラインGa30、Gb31、Ga32、Gb33、Ga34、Gb35、Ga36、Gb37、Gb38が焦点検出用画素で構成されているものとする。これらの焦点検出用画素では、互いに隣接する焦点検出用画素の間で、光電変換部605の露光面の重心位置の画素中心位置からのシフト方向が互いに逆となっている。具体的に、Ga30、Ga32、Ga34、Ga36、Ga38の位置は、右側が開口部で左側が遮光部となる。逆に、Gb31、Gb33、Gb35、Gb37の位置は、左側が開口部で右側が遮光部となる。また、焦点検出用画素のカラーフィルタは同一のカラーフィルタとなっており、この例ではG(緑)としている。Ga34の位置での半開口補間は、中心の半開口画素に対して同じ重心の逆半開口画素を左右から補間して加算を行う。具体的にはGa34でのG画素値Gpos_1は、
pos_1=(Gb33+Ga34×2+Gb35)/4・・・(式1)
となる。但し、半開口補間部1905はGb33、Ga34、Gb35という水平3画素分を使って補間を行うので、水平方向のエッジ成分が連続する被写体、例えば高周波の縦線に対しては補間の精度を確保することが難しい場合がある。
次に図20(a)を参照して、周辺画素補間部1904の具体的な動作の一例を説明する。ここでは、欠陥画素補正を行う着目画素が中心に位置するGa34である場合の補正方法について説明を行う。一例として、図23(b)に示すような中心画素を含む水平3画素(図中の×印の画素)を除いた3x3の領域の6画素の領域で差分絶対値和(以下SAD)を取得し、差分絶対値和が小さい場所が最も相関が高い領域であるという判定条件で補正を行う例を示す。具体的には、着目画素を中心とする3x3領域とG12の位置を中心とする3x3領域とのSAD12は、下記の式で表される。
SAD12=ABS(G01-G23) +ABS(R02-R24) +ABS(G03-G25)
+ ABS(G21-G43) +ABS(R22-R44) +ABS(G23-G45)・・・(式2)
以下、実施形態中のSADを取得する領域は3x3領域であるとして記載を行う。同様に、着目画素を中心とする領域とG14の位置を中心とする領域とのSAD14を、着目画素を中心とする領域とG16の位置を中心とする領域とのSAD16を取得する。同様に、着目画素を中心とする領域とG52の位置を中心とする領域とのSAD52を、着目画素を中心とする領域とG54の位置を中心とする領域とのSAD54を、着目画素を中心とする領域とG56の位置を中心とする領域とのSAD56を取得する。
続いて、取得したSAD値からSADの最小値をとる位置でのG画素値Gpos_2を取得する。SAD最小値がSAD12の場合はGpos_2はG12となり、SAD最小値がSAD14の場合はGpos_2はG14となり、SAD最小値がSAD16の場合はGpos_2はG16となる。また、SAD最小値がSAD52の場合はGpos_2はG52となり、SAD最小値がSAD54の場合はGpos_2はG54となり、SAD最小値がSAD56の場合はGpos_2はG56となる。
ここで、図20(b)のような焦点検出用画素と同方向(例えば、横線)の被写体を考える。この場合、被写体画像では垂直成分のエッジが水平方向に連続して発生する。即ち、焦点検出用画素の配列方向と直交する成分のエッジが、焦点検出用画素の配列方向と一致する方向に配置されている。以下、具体的に領域2000(図中の斜線領域)が周囲に比べて輝度が低い場合を考える。Gpos_2の出力はG12、G14、G16、G52、G54及びG56のいずれかの値を取ることになるが、どの値を取得しても、斜線領域の外の画素ゆえ本来の被写体の値には近づかなくなってしまう。つまり、周辺画素補間部1904は、高周波の横線に対して正しい補間処理ができない場合がある。
このように、半開口補間にしても、周辺画素補間にしても、特定方向のエッジ成分を有する被写体が含まれる場合は補間の効力を発揮しない場合がある。そこで、以下で説明するように、特定方向のエッジ成分を有する被写体を検出し、検出結果に基づき半開口補間と周辺画素補間とを組み合わせることとする。これにより、単一の補間方法では対応が難しかった特定方向のエッジ成分についても対応が可能となる。
図21のフローチャートを参照して、発明の実施形態に対応する合成比算出部1906における合成処理の詳細を説明する。該フローチャートに対応する処理は、例えば、合成比算出部1906として機能するCPUが対応するプログラム(ROM等に格納)を実行することにより実現できる。ここでは、周辺画素補間部1904が不得意とする垂直成分のエッジを有する被写体である横線について、補間が可能となる周波数帯域を検出する。
まず、S2101で、処理対象の焦点検出用画素を含む所定領域内の画素についてG以外の画素に0を挿入し、0挿入G画像を作成する。ここで図22を参照して、0挿入G画像の生成方法を説明する。まず、図20(a)と同じ画素配列の図22(a)に示す画像が対象であり、本実施形態では焦点検出用画素Ga34を中心とした5×5の画像となる。このような画像に対して、G32、G34、G36の画素には上記の半開口補間により得られた画素値を与える。その結果は図22(b)に示す通りである。次に、画像を構成する各画素のうち、G成分以外、すなわち、R成分とB成分の画素値をすべて0とする。また、半開口補間を行わなかったGb33及びGb35も画素値を0とする。この結果生成されるのが0挿入G画像であり、図22(c)に示すとおりである。
再び図21のフローチャートの説明に戻ると、S2102では、S2101で作成した0挿入G画像に対して、焦点検出用画素の配列方向と同一方向の水平方向(H方向)にローパスフィルタ処理(LPF)を実施して、G_LPFを作成する。これにより、水平方向における高周波成分が除去される。次にS2103では、G_LPFに対して、焦点検出用画素の配列方向と直交する垂直方向(V方向)にバンドパスフィルタ処理(BPF)を実施して、G_BPFを作成する。これにより垂直成分の特定周波数成分、具体的には、周辺画素補間部1904では補間が難しい高周波の横線に対応する成分が抽出される。なお、BPFにより抽出すべき周波数成分は、例えば図20(b)に示すような焦点検出用画素と同方向の横線を、0挿入G画像において検出可能な範囲で設定される。
ここで図24を参照してG_BPFについて説明する。図24(a)はCZP(Circular Zone Plate)であるが、領域2401の位置がDC成分、領域2402、2403、2404の位置がそれぞれナイキスト周波数を示している。図24(b)において、2401、2402、2403、2404は図24(a)と同じ周波数帯域を示し、2410の領域がG_BPFが出力される帯域となるように、水平方向にローパスフィルタ処理(LPF)を実施して、垂直方向にバンドパスフィルタ処理(BPF)を実施する。この領域は横線を成しており垂直成分のエッジが多く、周辺画素補間部1904よりも半開口補間部1905での補間に適するといえる。
再び、図21のフローチャートの説明に戻る。バンドパスフィルタをかけて得られたG_LPFでは、特定の周波数成分が抽出され、当該周波数成分以外は減衰するので、S2104において、閾値Thres2と比較してG_BPFが大きい場合はS2108に進み、半開口補間部1905の出力だけを使うように合成比(SR)を0に設定する。この場合、垂直成分のエッジが強く存在するので、半開口補間部1905からの出力を優先する。一方、S2104において、閾値Thres2と比較してG_BPFが小さい場合は、S2105に進み、閾値Thres1と比較する。閾値Thres1と比較してG_BPFが小さい場合は、S2107に進み、周辺画素補間部1904の出力だけを使うように合成比SRを1に設定する。この場合、垂直成分のエッジが存在しないか、或いは、エッジが弱いので周辺画素補間部1904を使用することができる。閾値Thres1と比較してG_BPFが大きい場合は、S2106にて閾値Thres1と閾値Thres2の間を線形補間する。この場合、垂直成分のエッジの強度に応じて周辺画素補間部1904からの出力と半開口補間部1905からの出力とを合成する。即ち、垂直成分のエッジの強度が弱くなるほど周辺画素補間部1904からの出力を優先し、垂直成分のエッジの強度が強くなれば半開口補間部1905からの出力を優先する。図24(c)に上記処理におけるG_BPFと閾値Thres1とThres2と合成比SRとの関係を図示する。図24(c)において、G_BPFがThres1より小さい場合、合成比SRは1を出力し、G_BPFがThres2より大きい場合は合成比SRは0を出力し、G_BPFとが閾値Thres1と閾値Thres2との間の場合は
SR = (Thres1−G_BPF)/(Thres2−Thres1)・・・(式3)
となる。
なお、閾値Thres1と閾値Thres2は、周囲の輝度値やGの値に応じて、可変としてもよい。例えば、周囲の輝度値が大きい場合は、大きめの閾値を設定することができる。このとき、閾値が大きくなるほど図24(c)のグラフが右側にシフトし、周辺画素補間部1904からの出力が合成される割合が高くなる。なお、周囲画素の輝度値の求め方は、周辺画素にLPFをかける等の公知の方法を用いればよいので詳細な説明は省略する。また、閾値Thres1と閾値Thres2は、高感度時や長秒露光時など撮像素子で発生するノイズ量に応じて可変としてもよい。例えば、高感度時や長秒露光時は、撮像画像に含まれるノイズが多くなるので周辺画素補間部1904からの出力が合成される割合がより高くなるように、大きめの閾値を設定することができる。
さらに、閾値Thres1と閾値Thres2は、処理対象の焦点検出用画素の周辺領域に飽和画素が存在するか否かに応じて、可変としてもよい。例えば、周辺画素補間部1904で着目画素を中心とする3x3領域とSADを取得した3x3領域に飽和画素が含まれる場合は、半開口補間部1905がより優先されるように、小さめの閾値を設定することができる。これにより、飽和画素が含まれる場合は、飽和画素が含まれない場合に比べて周辺画素補間部1904からの出力が合成される割合が低くなる。
再び図19に戻るが、合成比算出部1906の出力である合成比SRの値に応じて、周辺画素補間部1904の出力Gpos_1、半開口補間部1905の出力Gpos_2の画素値を合成部1907で合成する。
Gpos = (Gpos_2×(1-SR))+(Gpos_1×SR)・・・(式4)
なお、焦点検出用画素でべイヤー上でカラーフィルタがBの位置となる画素の補間に関しては、公知の周囲画素からの補間によって求めることができるため、ここでは詳細な説明は省略する。
上記説明したとおり、周辺画素補間部1904と半開口補間部1905とにおける2つの補間処理を行い、焦点検出用画素の配列方向と直交する成分方向のエッジを検出して、当該エッジがある場合は、半開口補間部1905の重みを重くした合成処理を行う。このようにして、周辺画素補間部1904が効力を発揮しにくい種類の領域であっても、半開口補間部1905で精度の高い補間を行うことができ、より正確な画素補正が可能となる。また、焦点検出用画素の配列方向と直交する成分方向のエッジが検出された場合に、半開口補間部1905を選択し、当該エッジが検出されない場合に、周辺画素補間部1904を選択するように、2つの補間部を切り替える処理を行うように構成してもよい。当該エッジが検出されたか否かは、閾値Thres1と比較してG_BPFが大きいか否かを判定すればよい。
なお本実施形態では、焦点検出用画素が配列される方向を水平方向としたが、焦点検出用画素が所定方向に規則的に配列されていればその方向は水平方向に限定されるものではない。例えば図25(a)のように焦点検出用画素を垂直方向、図25(b)のように焦点検出用画素をななめ45度方向、図25(c)のように焦点検出用画素をななめ135度方向としてもよい。詳細なアルゴリズムに関しては、本実施形態で説明したものと方向が異なるのみで同一なため、詳細な説明は省略する。
なお、本実施形態では、周辺画素補間部1904での周辺画素との相関を求める方法として、3x3の画素範囲でのSAD値が最小の値となるものを最も相関が高いとしたが、方法はこれにかぎるものではない。また、本実施形態では、最も相関が高い画素範囲の中心画素で着目画素を置き換える処理を行ったが、方法はこれに限るものではない。例えば周囲の画素も使い、3x3の領域のG画素5画素の平均値が同じ値になるように、着目画素を補正するような処理を行ってもよい。
(その他の実施例)
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
101:レンズ、102:撮像素子、103:ラインメモリ、104:色比検出部、105:色変換部、106:混合部、107:同期信号発生部、108:スイッチ、109:信号処理部、110:焦点検出画素分離部、111:焦点検出部、112:レンズ制御部

Claims (8)

  1. 焦点検出用の画像を生成するための所定方向に交互に配列された異なる色の複数の焦点検出用画素と、被写体を撮像した撮像画像を生成するための複数の撮像用画素とを含む撮像素子と、
    処理対象の焦点検出用画素の周辺に位置する撮像用画素から出力された画素値に基づき、色比を検出する色比検出手段と、
    前記処理対象の焦点検出用画素に対して前記所定方向に位置する焦点検出用画素から出力された画素値を、前記色比を用いて色変換して第1の画素値を生成する色変換手段と、
    前記処理対象の焦点検出用画素から出力された第2の画素値と、前記第2の画素値と同色の前記第1の画素値とを、混合して第3の画素値を生成する混合手段と
    を備える、ことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記混合手段は、前記処理対象の焦点検出用画素に対して前記所定方向において両隣となる焦点検出用画素から出力された画素値から生成された前記第1の画素値を、前記処理対象の焦点検出用画素から出力された第2の画素値を混合することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記複数の撮像用画素はベイヤー配列であることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
  4. 焦点検出用の画像を生成するための所定方向に配置された同色の複数の焦点検出用画素と、被写体を撮像した撮像画像を生成するための複数の撮像用画素とを含む撮像素子と、
    処理対象の焦点検出用画素の周辺に位置する撮像用画素から出力された画素値に基づき、色比を検出する色比検出手段と、
    前記処理対象の焦点検出用画素が出力した第1の画素値と、該第1の画素値と前記所定方向に隣接する画素値とを混合して第2の画素値を生成する混合手段と、
    前記色比に基づく前記第2の画素値の色変換により第3の画素値を生成する色変換手段と
    を備えることを特徴とする撮像装置。
  5. 前記複数の撮像用画素はベイヤー配列であり、前記同色の複数の焦点検出用画素は前記所定方向に隣接して配置されることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  6. 焦点検出用の画像を生成するための所定方向に交互に配列された異なる色の複数の焦点検出用画素と、被写体を撮像した撮像画像を生成するための複数の撮像用画素とを含む撮像素子を備える撮像装置の制御方法であって、
    処理対象の焦点検出用画素の周辺に位置する撮像用画素から出力された画素値に基づき、色比を検出する色比検出工程と、
    前記処理対象の焦点検出用画素に対して前記所定方向に位置する焦点検出用画素から出力された画素値を、前記色比を用いて色変換して第1の画素値を生成する色変換工程と、
    前記処理対象の焦点検出用画素から出力された第2の画素値と、前記第2の画素値と同色の前記第1の画素値とを、混合して第3の画素値を生成する混合工程と
    を含むことを特徴とする撮像装置の制御方法。
  7. 焦点検出用の画像を生成するための所定方向に配置された同色の複数の焦点検出用画素と、被写体を撮像した撮像画像を生成するための複数の撮像用画素とを含む撮像素子を備える撮像装置の制御方法であって、
    処理対象の焦点検出用画素の周辺に位置する撮像用画素から出力された画素値に基づき、色比を検出する色比検出工程と、
    前記処理対象の焦点検出用画素が出力した第1の画素値と、該第1の画素値と前記所定方向に隣接する画素値とを混合して第2の画素値を生成する混合工程と、
    前記色比に基づく前記第2の画素値の色変換により第3の画素値を生成する色変換工程と
    を含むことを特徴とする撮像装置の制御方法。
  8. 撮像素子を備えるコンピュータを請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像装置の各手段として機能させるプログラム。
JP2015094444A 2014-06-16 2015-05-01 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム Active JP6630058B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015094444A JP6630058B2 (ja) 2014-06-16 2015-05-01 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム
US14/739,648 US9621828B2 (en) 2014-06-16 2015-06-15 Imaging apparatus, control method for imaging apparatus, and non-transitory computer-readable storage medium
US15/445,364 US9807325B2 (en) 2014-06-16 2017-02-28 Imaging apparatus, control method for imaging apparatus, and non-transitory computer-readable storage medium

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014123814 2014-06-16
JP2014123814 2014-06-16
JP2014144568 2014-07-14
JP2014144568 2014-07-14
JP2015094444A JP6630058B2 (ja) 2014-06-16 2015-05-01 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019222241A Division JP6764518B2 (ja) 2014-06-16 2019-12-09 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016028265A JP2016028265A (ja) 2016-02-25
JP6630058B2 true JP6630058B2 (ja) 2020-01-15

Family

ID=54837247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015094444A Active JP6630058B2 (ja) 2014-06-16 2015-05-01 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム

Country Status (2)

Country Link
US (2) US9621828B2 (ja)
JP (1) JP6630058B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015141084A1 (ja) * 2014-03-18 2015-09-24 富士フイルム株式会社 撮像装置及び合焦制御方法
JP6364259B2 (ja) * 2014-07-02 2018-07-25 オリンパス株式会社 撮像装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
JP6017641B1 (ja) * 2015-07-13 2016-11-02 オリンパス株式会社 撮像装置,信号処理方法,信号処理プログラム
US9965881B2 (en) * 2015-08-28 2018-05-08 Panasonic Intellectual Property Corporation Of America Method for generating image and image generation system
WO2018181164A1 (ja) * 2017-03-30 2018-10-04 富士フイルム株式会社 撮像装置及び画像処理方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4007716B2 (ja) * 1999-04-20 2007-11-14 オリンパス株式会社 撮像装置
US7711261B2 (en) * 2006-04-11 2010-05-04 Nikon Corporation Imaging device, camera and image processing method
JP4857877B2 (ja) 2006-04-11 2012-01-18 株式会社ニコン 撮像装置およびカメラ
JP5176959B2 (ja) * 2006-09-14 2013-04-03 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JP5040458B2 (ja) * 2007-06-16 2012-10-03 株式会社ニコン 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
JP5180795B2 (ja) * 2007-12-10 2013-04-10 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP5371331B2 (ja) * 2008-09-01 2013-12-18 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法及びプログラム
JP5278123B2 (ja) 2009-04-06 2013-09-04 株式会社ニコン 撮像装置
JP5697433B2 (ja) * 2010-12-22 2015-04-08 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
WO2012127699A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 富士フイルム株式会社 カラー撮像素子、撮像装置、及び撮像プログラム
US20130002936A1 (en) * 2011-06-30 2013-01-03 Nikon Corporation Image pickup apparatus, image processing apparatus, and storage medium storing image processing program
JP5784395B2 (ja) * 2011-07-13 2015-09-24 オリンパス株式会社 撮像装置
JP6239820B2 (ja) * 2011-12-19 2017-11-29 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP5979961B2 (ja) * 2012-05-07 2016-08-31 キヤノン株式会社 焦点検出装置、焦点検出方法及び撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US9807325B2 (en) 2017-10-31
US20150365639A1 (en) 2015-12-17
JP2016028265A (ja) 2016-02-25
US20170171481A1 (en) 2017-06-15
US9621828B2 (en) 2017-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20160142656A1 (en) Image pickup apparatus, image processing apparatus, and storage medium storing image processing program
US8203645B2 (en) Image-pickup apparatus and control method thereof with image generation based on a detected spatial frequency
JP6630058B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム
US9451160B2 (en) Imaging apparatus and method for controlling the imaging apparatus
US10630920B2 (en) Image processing apparatus
WO2017098897A1 (ja) 撮像装置、撮像制御方法、および、プログラム
US8648940B2 (en) Image processing apparatus and image processing method of interpolating defective pixel of image pickup element to perform image processing
US20100085449A1 (en) Image Apparatus and Method and Program for Producing Interpolation Signal
US9398207B2 (en) Imaging apparatus and image correction method, and image processing apparatus and image processing method
JP5737929B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
JP4823168B2 (ja) 撮像装置
JP2011041056A (ja) 撮像装置及び撮像方法
US9503661B2 (en) Imaging apparatus and image processing method
JP2013171257A (ja) 撮像装置およびその制御方法
US9749520B2 (en) Imaging device and image processing method
JP5814610B2 (ja) 画像処理装置及びその制御方法、並びにプログラム
JP2009047734A (ja) 撮像装置及び画像処理プログラム
JP6764518B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム
JP2009022044A (ja) 画像処理装置及び画像処理プログラム
JP6316140B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP4269369B2 (ja) カメラ信号処理装置及びカメラ信号処理方法
JP2007180689A (ja) 撮像装置
JP6727911B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、プログラム
JP2019022033A (ja) 画像処理装置
JP2004140424A (ja) 撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180424

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190712

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190910

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191206

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6630058

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151