JP6624599B2 - Substrate processing apparatus and processing liquid discharge method - Google Patents

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Description

本発明は、処理液を用いて基板を処理する基板処理装置、および処理液を吐出する処理液吐出方法に関する。処理液を用いた処理の対象となる基板には、たとえば、半導体ウエハ、液晶表示装置用基板、プラズマディスプレイ用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板、太陽電池用基板などが含まれる。   The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate using a processing liquid, and a processing liquid discharging method for discharging the processing liquid. Substrates to be processed using the processing liquid include, for example, a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display, a substrate for a plasma display, a substrate for an FED (Field Emission Display), a substrate for an optical disk, a substrate for a magnetic disk, and a magneto-optical device. Substrates for disks, substrates for photomasks, ceramic substrates, substrates for solar cells and the like are included.

下記特許文献1には、基板を一枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置が開示されている。前記基板処理装置は、基板を水平に保持して回転させるスピンチャックと、スピンチャックに保持されている基板の上面に向けて処理液を吐出する処理液ノズルと、処理液ノズルに処理液を供給する処理液配管と、処理液配管に介装された開閉バルブとを含む。開閉バルブが開かれると、処理液配管内の処理液が処理液ノズルに供給され、処理液ノズルが閉じられると、処理液ノズルへの処理液の供給が停止される。   Patent Document 1 listed below discloses a single-wafer-type substrate processing apparatus that processes substrates one by one. The substrate processing apparatus includes a spin chuck that horizontally holds and rotates the substrate, a processing liquid nozzle that discharges a processing liquid toward an upper surface of the substrate held by the spin chuck, and a processing liquid that is supplied to the processing liquid nozzle. And a switching valve interposed in the processing liquid piping. When the open / close valve is opened, the processing liquid in the processing liquid pipe is supplied to the processing liquid nozzle, and when the processing liquid nozzle is closed, the supply of the processing liquid to the processing liquid nozzle is stopped.

特開2007−257565号公報JP 2007-257565 A

開閉バルブが開かれるとき、弁体が弁座から離れる。このとき、弁体が弁座に擦れるので、パーティクルが開閉バルブの内部に発生する場合がある。このパーティクルは、処理液と共に処理液ノズルに供給される場合がある。
また、開閉バルブが閉じられるときも同様の理由により、パーティクルが開閉バルブの内部に発生する場合がある。開閉バルブが完全に閉じられる前に発生したパーティクルは、処理液と共に処理液ノズルに供給される場合がある。また、パーティクルが、開閉バルブ内に残留し、開閉バルブが再び開かれたときに処理液と共に処理液ノズルに供給される場合がある。
When the on-off valve is opened, the valve element separates from the valve seat. At this time, since the valve body rubs against the valve seat, particles may be generated inside the on-off valve. The particles may be supplied to the processing liquid nozzle together with the processing liquid.
Also, when the on-off valve is closed, particles may be generated inside the on-off valve for the same reason. Particles generated before the open / close valve is completely closed may be supplied to the processing liquid nozzle together with the processing liquid. Further, there is a case where the particles remain in the opening / closing valve and are supplied to the processing liquid nozzle together with the processing liquid when the opening / closing valve is opened again.

処理液ノズルに供給されたパーティクルが処理液と共に処理液ノズルから基板に吐出される。そのため、開閉バルブ内に発生したパーティクルが基板に付着するおそれがある。
そこで、本発明の目的は、開閉バルブ内で発生したパーティクルを含む処理液が基板に供給されることを確実に防止できる基板処理装置および処理液吐出方法を提供することである。
The particles supplied to the processing liquid nozzle are discharged from the processing liquid nozzle to the substrate together with the processing liquid. Therefore, particles generated in the open / close valve may adhere to the substrate.
Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and a processing liquid discharging method that can reliably prevent a processing liquid containing particles generated in an opening / closing valve from being supplied to a substrate.

前記の目的を達成するための請求項1に記載の発明は、基板を保持するための基板保持ユニットと、前記基板を処理するための処理液を吐出する処理液ノズルと、前記処理液ノズルに接続され、処理液供給ユニットからの処理液を前記処理液ノズルに供給する処理液配管と、前記処理液配管を開閉するための開閉バルブと、前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置で前記処理液配管に分岐接続された分岐配管と、前記処理液供給ユニットから前記処理液配管に供給された処理液を、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の下流側部分に導く状態と前記分岐配管に導く状態との間で切り換えるための切換えユニットと、前記開閉バルブおよび前記切換えユニットを制御する制御ユニットとを含み、前記切換えユニットは、前記下流側部分を液体が流通する際の圧力損失を変更する圧力損失変更ユニットを含み、前記制御ユニットが、前記開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記分岐位置から前記分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを実行し、前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にし、かつ前記処理液吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にする、基板処理装置を提供する。 According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate holding unit for holding a substrate, a processing liquid nozzle for discharging a processing liquid for processing the substrate, and a processing liquid nozzle. A processing liquid pipe connected to supply the processing liquid from the processing liquid supply unit to the processing liquid nozzle, an open / close valve for opening and closing the processing liquid pipe, and a downstream or upstream side of the open / close valve. A branch pipe branched and connected to the processing liquid pipe at a branch position, and a processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the processing liquid supply unit, a downstream portion of the processing liquid pipe downstream of the branch position. It includes a switching unit for switching between the state and the state leading to the branch pipe leading to, and a control unit for controlling the opening and closing valve and the switching unit, the switching Yoo Tsu TMG, the downstream portion includes a pressure loss modification unit for changing the pressure loss when the circulation liquid, said control unit, said opening and closing valve in the held state to the open state, the processing liquid pipe A non-discharge step of not discharging the processing liquid from the processing liquid nozzle by guiding the processing liquid supplied to the branch pipe from the branch position to the branch pipe, and in a state where the open / close valve is kept open, Discharging the processing liquid from the processing liquid nozzle toward the substrate by guiding the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion, and executing the processing unit. In the non-discharging step, the pressure loss changing unit is set to a large pressure loss state where the pressure loss is relatively large, and in the processing liquid discharging step, the pressure The loss change unit the pressure loss is relatively small small pressure loss condition, to provide a substrate processing apparatus.

この構成によれば、非吐出ステップにおいて、制御ユニットは、開閉バルブを開状態に保持しながら、処理液配管に供給される処理液が分岐位置から分岐配管に導かれるように切換えユニットを制御する。これにより、処理液ノズルから処理液が吐出されない。これにより、開閉バルブの開状態を保ちながら処理液ノズルから処理液を吐出させないようにすることができる。 According to this configuration, in the non-ejection step, the control unit controls the switching unit such that the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is guided from the branch position to the branch pipe while the open / close valve is kept open. . Thus, treatment liquid nozzle or et treatment liquid is not ejected. This makes it possible to prevent the processing liquid from being discharged from the processing liquid nozzle while maintaining the open state of the open / close valve.

基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップでは、制御ユニットは、切換えユニットを制御して、処理液配管に供給される処理液が分岐位置から、処理液配管の分岐位置の下流側部分(以下、「下流側部分」という。この項において同じ)に導くことにより、処理液ノズルから処理液が吐出される。
したがって、開閉バルブを開閉することなく、処理液ノズルから処理液を吐出できる。開閉バルブを開閉することなく非吐出ステップから処理液吐出ステップに移行できるので、非吐出ステップから処理液吐出ステップへの移行に伴う、開閉バルブ内における新たなパーティクルの発生はない。
In the processing liquid discharging step of discharging the processing liquid toward the substrate, the control unit controls the switching unit so that the processing liquid supplied to the processing liquid piping is moved from the branch position to a downstream portion of the processing liquid piping branch position. (Hereinafter, referred to as a “downstream portion”; the same applies in this section), the processing liquid is discharged from the processing liquid nozzle.
Therefore, without opening and closing the opening and closing valve can discharge the processing liquid from the processing liquid nozzle. Since the non-ejection step without opening and closing the opening and closing valve can be shifted to the processing liquid discharge step, due to the transition to the treatment liquid ejection step from a non-ejection step, there is no occurrence of a new particle in the opening and closing valve.

したがって、開閉バルブ内で発生したパーティクルを含む処理液が基板に供給されることを確実に防止できる。
また、非吐出ステップにおいて、制御ユニットは圧力損失変更ユニットを高圧力損失状態にする。そのため、下流側部分を液体が流通するのに要する圧力損失が大きくなる。その結果、処理液配管に供給される処理液は、分岐位置から分岐配管に進入するように促される。
一方、処理液吐出ステップにおいて、制御ユニットは圧力損失変更ユニットを小圧力損失状態にする。そのため、下流側部分を液体が流通するのに要する圧力損失が小さくなる。その結果、処理液配管に供給される処理液は、分岐位置から下流側部分に進入するように促される。
請求項2に記載の発明は、前記制御ユニットが、前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに実行し、前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にし、かつ前記プリディスペンスステップおよび前記処理液吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にする、請求項1に記載の基板処理装置である。
Therefore, it is possible to reliably prevent the processing liquid containing particles generated in the opening / closing valve from being supplied to the substrate.
In the non-ejection step, the control unit sets the pressure loss changing unit to a high pressure loss state. Therefore, the pressure loss required for the liquid to flow through the downstream portion increases. As a result, the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is urged to enter the branch pipe from the branch position.
On the other hand, in the processing liquid discharging step, the control unit brings the pressure loss changing unit into a small pressure loss state. Therefore, the pressure loss required for the liquid to flow through the downstream portion is reduced. As a result, the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is urged to enter the downstream portion from the branch position.
In the invention according to claim 2, the control unit opens the opening / closing valve and guides the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion prior to the non-ejection step. According to the present invention, a pre-dispensing step of discharging a processing liquid for pre-dispensing from the processing liquid nozzle is further performed, and in the non-discharging step, the control unit causes the pressure loss changing unit to relatively control the pressure loss. 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate is set to a large pressure loss state, and the pressure loss changing unit is set to a small pressure loss state in which the pressure loss is relatively small in the pre-dispensing step and the processing liquid discharging step. It is.

この構成によれば、制御ユニットが、開閉バルブを開きかつ処理液配管に供給される処理液を分岐位置から下流側部分に導くことにより、処理液ノズルから処理液が吐出される。プリディスペンスステップでは、処理液ノズルから吐出される処理液は基板に供給されることなく機外に排液される。そのため、プリディスペンスステップにおいて、開閉バルブの開動作によってパーティクルが開閉バルブ内に発生したとしても、このパーティクルは処理液と共に処理液ノズルから吐出され、処理液と共に機外に排液される。  According to this configuration, the processing liquid is discharged from the processing liquid nozzle by the control unit opening the opening / closing valve and guiding the processing liquid supplied to the processing liquid piping from the branch position to the downstream portion. In the pre-dispensing step, the processing liquid discharged from the processing liquid nozzle is discharged outside the apparatus without being supplied to the substrate. Therefore, in the pre-dispensing step, even if particles are generated in the opening / closing valve by the opening operation of the opening / closing valve, the particles are discharged from the processing liquid nozzle together with the processing liquid, and are discharged outside the apparatus together with the processing liquid.
したがって、開閉バルブを開閉することなく、処理液ノズルからの処理液を非吐出にできる。開閉バルブを開閉することなくプリディスペンスステップから非吐出ステップに移行できるので、プリディスペンスステップから非吐出ステップへの移行に伴う、開閉バルブ内における新たなパーティクルの発生はない。  Therefore, the processing liquid from the processing liquid nozzle can be made non-discharged without opening and closing the open / close valve. Since the transition from the pre-dispensing step to the non-discharge step can be performed without opening and closing the on-off valve, no new particles are generated in the on-off valve due to the transition from the pre-dispense step to the non-discharge step.
したがって、開閉バルブ内で発生したパーティクルを含む処理液が基板に供給されることを、より一層確実に防止できる。  Therefore, it is possible to more reliably prevent the processing liquid containing particles generated in the opening / closing valve from being supplied to the substrate.

請求項に記載の発明は、前記圧力損失変更ユニットは、前記下流側部分の開度を調整するための開度調整バルブを含み、前記開度調整バルブをその開度が相対的に低い低開度状態とすることにより前記大圧力損失状態を実現し、かつ前記開度調整バルブをその開度が相対的に高い高開度状態とすることにより前記小圧力損失状態を実現する、請求項1または2に記載の基板処理装置である According to a third aspect of the present invention, the pressure loss changing unit includes an opening adjustment valve for adjusting an opening of the downstream portion, and the opening adjustment valve has a low opening. The large pressure loss state is realized by setting an opening degree state, and the small pressure loss state is realized by setting the opening degree adjustment valve to a high opening state with a relatively high opening degree. 3. The substrate processing apparatus according to 1 or 2 .

請求項4に記載の発明は、前記下流側部分は、前記分岐位置よりも上下方向に高い高位置部分を一部に有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の基板処理装置である。  The invention according to claim 4 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the downstream portion has a high position portion that is higher in the vertical direction than the branch position. is there.
この構成によれば、下流側部分の一部に高位置部分を設けることにより、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧による圧力損失がさらに生じる。下流側部分に供給される処理液の供給圧が、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧を含んだ圧力損失を下回ると、分岐位置と高位置部分との高低差を処理液が乗り越えることができない。一方、下流側部分に供給される処理液の供給圧が、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧を含んだ圧力損失を上回ると、分岐位置と高位置部分との高低差を処理液が乗り越えることができ、処理液ノズルから処理液が吐出される。  According to this configuration, by providing the high position portion in a part of the downstream portion, a pressure loss due to the head pressure of the treatment liquid due to the difference in height of the high position portion further occurs. When the supply pressure of the processing liquid supplied to the downstream portion falls below the pressure loss including the head pressure of the processing liquid due to the height difference of the high position portion, the processing liquid passes over the height difference between the branch position and the high position portion. I can't. On the other hand, if the supply pressure of the processing liquid supplied to the downstream portion exceeds the pressure loss including the head pressure of the processing liquid due to the height difference of the high position portion, the difference in height between the branch position and the high position portion is reduced. Can be overcome, and the processing liquid is discharged from the processing liquid nozzle.
請求項5に記載の発明は、前記処理液供給ユニットは、処理液が循環する循環配管を含み、前記処理液配管の上流端が前記循環配管に接続され、かつ前記分岐配管の下流端が前記循環配管に接続されている、請求項1〜4のいずれか一項に記載の基板処理装置である。  The invention according to claim 5, wherein the processing liquid supply unit includes a circulation pipe through which the processing liquid circulates, an upstream end of the processing liquid pipe is connected to the circulation pipe, and a downstream end of the branch pipe is The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is connected to a circulation pipe.
この構成によれば、分岐配管を流通する処理液を、循環配管に戻すことができる。  According to this configuration, the processing liquid flowing through the branch pipe can be returned to the circulation pipe.

前記の目的を達成するための請求項に記載の発明は、基板を保持するための基板保持ユニットと、前記基板を処理するための処理液を吐出する処理液ノズルと、前記処理液ノズルに接続され、処理液供給ユニットからの処理液を前記処理液ノズルに供給する処理液配管と、前記処理液配管を開閉するための開閉バルブと、前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置で前記処理液配管に分岐接続された分岐配管と、前記処理液供給ユニットから前記処理液配管に供給された処理液を、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の下流側部分に導く状態と前記分岐配管に導く状態との間で切り換えるための切換えユニットと、前記開閉バルブおよび前記切換えユニットを制御する制御ユニットとを含み、前記切換えユニットは、前記分岐配管を開閉するための分岐配管バルブを含み、前記制御ユニットが、前記開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記分岐位置から前記分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを実行し、前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを開き、かつ前記処理液吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを閉じる、基板処理装置を提供する。 The invention according to claim 6 for achieving the above object has a substrate holding unit for holding a substrate, a processing liquid nozzle for discharging a processing liquid for processing the substrate, and a processing liquid nozzle. A processing liquid pipe connected to supply the processing liquid from the processing liquid supply unit to the processing liquid nozzle, an open / close valve for opening and closing the processing liquid pipe, and a downstream or upstream side of the open / close valve. A branch pipe branched and connected to the processing liquid pipe at a branch position, and a processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the processing liquid supply unit, a downstream portion of the processing liquid pipe downstream of the branch position. It includes a switching unit for switching between the state and the state leading to the branch pipe leading to, and a control unit for controlling the opening and closing valve and the switching unit, the switching Yoo Tsu DOO includes a branch line valve for opening and closing the branch pipe, wherein the control unit, while holding the opening and closing valve in an open state, the processing liquid supplied to the process liquid pipe, the branch position A non-discharging step in which the processing liquid is not discharged from the processing liquid nozzle by guiding the processing liquid to the branch pipe, and the processing liquid supplied to the processing liquid pipe while maintaining the open / close valve in an open state. Performing a processing liquid discharging step of discharging a processing liquid from the processing liquid nozzle toward the substrate by guiding the processing liquid nozzle to the substrate from the branch position, wherein the control unit performs the branch pipe valve in the non-discharging step. the opening, closing the branch line valve in either one treatment fluid ejection out step, to provide a board processing unit.

この構成によれば、非吐出ステップにおいて、制御ユニットは、開閉バルブを開状態に保持しながら、処理液配管に供給される処理液が分岐位置から分岐配管に導かれるように切換えユニットを制御する。これにより、処理液ノズルから処理液が吐出されない。これにより、開閉バルブの開状態を保ちながら処理液ノズルから処理液を吐出させないようにすることができる。
基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップでは、制御ユニットは、切換えユニットを制御して、処理液配管に供給される処理液が分岐位置から、下流側部分に導くことにより、処理液ノズルから処理液が吐出される。
したがって、開閉バルブを開閉することなく、処理液ノズルから処理液を吐出できる。開閉バルブを開閉することなく非吐出ステップから処理液吐出ステップに移行できるので、非吐出ステップから処理液吐出ステップへの移行に伴う、開閉バルブ内における新たなパーティクルの発生はない。
したがって、開閉バルブ内で発生したパーティクルを含む処理液が基板に供給されることを確実に防止できる。
また、非吐出ステップにおいて、制御ユニットは分岐配管バルブを開く。これにより、処理液配管に供給される処理液が、分岐位置から分岐配管に進入することが可能になる。
一方、処理液吐出ステップにおいて、制御ユニットは分岐配管バルブを閉じる。したがって、処理液配管に供給される処理液は、分岐位置から分岐配管への流入が困難になり、下流側部分への進入が促される。
According to this configuration, in the non-ejection step, the control unit controls the switching unit such that the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is guided from the branch position to the branch pipe while the open / close valve is kept open. . Thus, the processing liquid is not discharged from the processing liquid nozzle. This makes it possible to prevent the processing liquid from being discharged from the processing liquid nozzle while maintaining the open state of the open / close valve.
In the processing liquid discharging step of discharging the processing liquid toward the substrate, the control unit controls the switching unit to guide the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion, thereby processing the processing liquid. The processing liquid is discharged from the nozzle.
Therefore, the processing liquid can be discharged from the processing liquid nozzle without opening and closing the open / close valve. Since the process can be shifted from the non-discharge step to the processing liquid discharge step without opening and closing the open / close valve, there is no generation of new particles in the open / close valve due to the shift from the non-discharge step to the process liquid discharge step.
Therefore, it is possible to reliably prevent the processing liquid containing particles generated in the opening / closing valve from being supplied to the substrate.
In the non-discharge step, the control unit opens the branch pipe valve. Thus, the processing liquid supplied to the processing liquid pipe can enter the branch pipe from the branch position.
On the other hand, in processing solution discharge step, the control unit closes the branch pipe valve. Therefore, it becomes difficult for the processing liquid supplied to the processing liquid pipe to flow from the branch position to the branch pipe, and it is encouraged to enter the downstream portion.

請求項に記載の発明は、前記制御ユニットが、前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに実行し、前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを開き、かつ前記プリディスペンスステップおよび前記処理液吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを閉じる、請求項6に記載の基板処理装置である。
この構成によれば、制御ユニットが、開閉バルブを開きかつ処理液配管に供給される処理液を分岐位置から下流側部分に導くことにより、処理液ノズルから処理液が吐出される。プリディスペンスステップでは、処理液ノズルから吐出される処理液は基板に供給されることなく機外に排液される。そのため、プリディスペンスステップにおいて、開閉バルブの開動作によってパーティクルが開閉バルブ内に発生したとしても、このパーティクルは処理液と共に処理液ノズルから吐出され、処理液と共に機外に排液される。
したがって、開閉バルブを開閉することなく、処理液ノズルからの処理液を非吐出にできる。開閉バルブを開閉することなくプリディスペンスステップから非吐出ステップに移行できるので、プリディスペンスステップから非吐出ステップへの移行に伴う、開閉バルブ内における新たなパーティクルの発生はない。
したがって、開閉バルブ内で発生したパーティクルを含む処理液が基板に供給されることを、より一層確実に防止できる。
In the invention described in claim 7 , the control unit opens the open / close valve and guides the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion prior to the non-ejection step. By executing a pre-dispensing step of discharging a processing liquid for pre-dispensing from the processing liquid nozzle, the control unit opens the branch pipe valve in the non-discharge step, and performs the pre-dispensing step and the The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein the branch pipe valve is closed in the processing liquid discharging step .
According to this configuration, the processing liquid is discharged from the processing liquid nozzle by the control unit opening the opening / closing valve and guiding the processing liquid supplied to the processing liquid piping from the branch position to the downstream portion. In the pre-dispensing step, the processing liquid discharged from the processing liquid nozzle is discharged outside the apparatus without being supplied to the substrate. Therefore, in the pre-dispensing step, even if particles are generated in the opening / closing valve by the opening operation of the opening / closing valve, the particles are discharged from the processing liquid nozzle together with the processing liquid, and are discharged outside the apparatus together with the processing liquid.
Therefore, the processing liquid from the processing liquid nozzle can be made non-discharged without opening and closing the open / close valve. Since the transition from the pre-dispensing step to the non-discharge step can be performed without opening and closing the on-off valve, no new particles are generated in the on-off valve due to the transition from the pre-dispense step to the non-discharge step.
Therefore, it is possible to more reliably prevent the processing liquid containing particles generated in the opening / closing valve from being supplied to the substrate.

請求項に記載の発明は、前記下流側部分は、前記分岐位置よりも上下方向に高い高位置部分を一部に有する、請求項6または7に記載の基板処理装置である。
この構成によれば、下流側部分の一部に高位置部分を設けることにより、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧による圧力損失がさらに生じる。下流側部分に供給される処理液の供給圧が、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧を含んだ圧力損失を下回ると、分岐位置と高位置部分との高低差を処理液が乗り越えることができない。一方、下流側部分に供給される処理液の供給圧が、高位置部分の高低差による処理液の水頭圧を含んだ圧力損失を上回ると、分岐位置と高位置部分との高低差を処理液が乗り越えることができ、処理液ノズルから処理液が吐出される。
The invention according to claim 8 is the substrate processing apparatus according to claim 6 or 7 , wherein the downstream portion partially has a high position vertically higher than the branch position.
According to this configuration, by providing the high position portion in a part of the downstream portion, a pressure loss due to the head pressure of the treatment liquid due to the difference in height of the high position portion further occurs. When the supply pressure of the processing liquid supplied to the downstream portion falls below the pressure loss including the head pressure of the processing liquid due to the height difference of the high position portion, the processing liquid passes over the height difference between the branch position and the high position portion. I can't. On the other hand, if the supply pressure of the processing liquid supplied to the downstream portion exceeds the pressure loss including the head pressure of the processing liquid due to the height difference of the high position portion, the difference in height between the branch position and the high position portion is reduced. Can be overcome, and the processing liquid is discharged from the processing liquid nozzle.

請求項に記載の発明は、前記処理液供給ユニットは、処理液が循環する循環配管を含み、前記処理液配管の上流端が前記循環配管に接続され、かつ前記分岐配管の下流端が前記循環配管に接続されている、請求項1〜のいずれか一項に記載の基板処理装置である。
この構成によれば、分岐配管を流通する処理液を、循環配管に戻すことができる。
According to a ninth aspect of the present invention, the processing liquid supply unit includes a circulation pipe through which the processing liquid circulates, an upstream end of the processing liquid pipe is connected to the circulation pipe, and a downstream end of the branch pipe is it is connected to the circulation piping, a substrate processing apparatus according to any one of claims 1-8.
According to this configuration, the processing liquid flowing through the branch pipe can be returned to the circulation pipe.

前記の目的を達成するための請求項1に記載の発明は、処理液ノズルから基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出方法であって、前記処理液ノズルに処理液を供給する処理液配管を開閉するための開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置から、当該分岐位置において前記処理液配管に分岐接続された分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを含み、前記非吐出ステップが、前記下流側部分を液体が流通する際の圧力損失を変更する圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にするステップを含み、前記非吐出ステップが、前記圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にするステップを含む、処理液吐出方法を提供する。 The invention according to claim 1 0 for achieving the above object, there is provided a treatment liquid ejection method of ejecting the processing liquid toward the treatment liquid nozzle onto the substrate, for supplying a process liquid prior Symbol treatment liquid nozzle in state-like holding the opening and closing valve in the open state for opening and closing the processing liquid piping, the processing liquid supplied to the process liquid pipe set branch located on the downstream side or upstream side of the opening and closing valve By guiding the processing liquid from the processing liquid nozzle to the processing liquid nozzle at the branch position, the processing liquid is not discharged from the processing liquid nozzle, and the open / close valve is kept open. the by the processing liquid processing liquid supplied to the pipe from the branch position to guide the downstream portion, viewed contains a treatment liquid ejection step of ejecting the processing liquid processing liquid toward the substrate from the nozzle, the Non-discharge The step includes a step of setting a pressure loss changing unit that changes a pressure loss when a liquid flows through the downstream portion to a large pressure loss state in which the pressure loss is relatively large, and the non-discharge step includes the step of: the pressure loss changes, steps a including to relatively small low pressure loss state the pressure loss, providing a treatment liquid ejection method.

この発明の方法によれば、請求項1に関連して述べた作用効果と同様な作用効果を奏することができる。
また、請求項11に記載の発明は、前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに含み、前記プリディスペンスステップが、前記圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にするステップを含む、請求項10に記載の処理液吐出方法である。
この発明の方法によれば、請求項2に関連して述べた作用効果と同様な作用効果を奏することができる。
According to the method of the present invention, the same operation and effect as those described in relation to the first aspect can be obtained.
Further, the invention according to claim 11 is that, prior to the non-ejection step, the opening / closing valve is opened and the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is moved from the branch position to the processing liquid pipe from the branch position. A pre-dispensing step of discharging the processing liquid for pre-dispensing from the processing liquid nozzle by guiding the processing liquid to the downstream portion on the downstream side, the pre-dispensing step further includes the pressure loss changing unit, The method according to claim 10, further comprising a step of setting a small pressure loss state in which the pressure loss is relatively small.
According to the method of the present invention, the same operation and effect as the operation and effect described in relation to claim 2 can be obtained.

図1は、本発明の一実施形態に係る基板処理装置を水平方向に見た模式図である。FIG. 1 is a schematic view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention as viewed in a horizontal direction. 図2Aは、基板処理装置に備えられた薬液バルブの内部構造を示す模式的な断面図である。FIG. 2A is a schematic cross-sectional view illustrating an internal structure of a chemical valve provided in the substrate processing apparatus. 図2Bは、基板処理装置に備えられたスローリークバルブの内部構造を示す模式的な断面図である。FIG. 2B is a schematic sectional view showing the internal structure of the slow leak valve provided in the substrate processing apparatus. 図3は、プリディスペンスステップから薬液吐出ステップに至る、吐出バルブ、スローリークバルブおよび分岐配管バルブの状態を示すタイムチャートである。FIG. 3 is a time chart showing states of the discharge valve, the slow leak valve, and the branch pipe valve from the pre-dispensing step to the chemical liquid discharging step. 図4Aは、プリディスペンスステップ(図3のT1)の薬液の流れを示す模式図である。図4Bは、吐出停止ステップ(図3のT2)の薬液の流れを示す模式図である。FIG. 4A is a schematic diagram showing the flow of the chemical solution in the pre-dispensing step (T1 in FIG. 3). FIG. 4B is a schematic diagram showing the flow of the chemical solution in the discharge stop step (T2 in FIG. 3). 図4Cは、ノズル移動ステップ(図3のT3)の薬液の流れを示す模式図である。図4Dは、薬液吐出ステップ(図3のT4)の薬液の流れを示す模式図であるFIG. 4C is a schematic diagram showing the flow of the chemical solution in the nozzle moving step (T3 in FIG. 3). FIG. 4D is a schematic view showing the flow of the chemical solution in the chemical solution discharging step (T4 in FIG. 3). 図5は、薬液配管の下流側部分内の薬液に作用する圧力を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the pressure acting on the chemical solution in the downstream portion of the chemical solution pipe. 図6は、本発明の第1の変形例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a first modification of the present invention. 図7は、本発明の第2の変形例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a second modification of the present invention. 図8は、本発明の第3の変形例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a third modification of the present invention.

以下では、本発明の実施形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る基板処理装置1を水平方向に見た模式図である。
基板処理装置1は、半導体ウエハなどの円板状の基板Wを一枚ずつ処理する枚葉式の装置である。基板処理装置1は、処理液を用いて基板Wを処理する処理ユニット2と、処理ユニット2に基板Wを搬送する搬送ロボット(図示しない)と、基板処理装置1を制御する制御ユニット3とを含む。また、処理ユニット2に対して、薬液供給ユニット(処理液供給ユニット)101からの薬液が供給されるようになっている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a schematic view of a substrate processing apparatus 1 according to one embodiment of the present invention as viewed in a horizontal direction.
The substrate processing apparatus 1 is a single wafer processing apparatus that processes a disk-shaped substrate W such as a semiconductor wafer one by one. The substrate processing apparatus 1 includes a processing unit 2 that processes a substrate W using a processing liquid, a transport robot (not shown) that transports the substrate W to the processing unit 2, and a control unit 3 that controls the substrate processing apparatus 1. Including. Further, the processing unit 2 is supplied with a chemical from a chemical supply unit (processing liquid supply unit) 101.

処理ユニット2および薬液供給ユニット101は、共通の装置の一部であってもよいし、互いに独立したユニット(互いに独立して移動させることができるユニット)であってもよい。すなわち、処理ユニット2および薬液供給ユニット101を含む基板処理装置1が備えていてもよいし、処理ユニット2を含む基板処理装置1と、基板処理装置1から離れた位置に配置された薬液供給ユニット101とが別装置として備えられていてもよい。また、図1では、薬液供給ユニット101が1つのみ図示されているが、薬種を複数設ける場合には、その薬種に応じた個数の薬液供給ユニット101を設けてもよい。   The processing unit 2 and the chemical solution supply unit 101 may be part of a common device, or may be independent units (units that can be moved independently). That is, the substrate processing apparatus 1 including the processing unit 2 and the chemical supply unit 101 may be provided, or the substrate processing apparatus 1 including the processing unit 2 and the chemical supply unit disposed at a position separated from the substrate processing apparatus 1. 101 may be provided as a separate device. Although only one chemical supply unit 101 is shown in FIG. 1, when a plurality of chemicals are provided, the number of chemical supply units 101 may be provided according to the type.

処理ユニット2は、箱形の処理チャンバ4と、処理チャンバ4内で、基板Wを水平に保持しながら基板Wの中央部を通る鉛直な回転軸線A1まわりに基板Wを回転させるスピンチャック(基板保持ユニット)5と、スピンチャック5に保持されている基板Wに向けて処理液を吐出する一または複数の処理液ノズルとを含む。
スピンチャック5は、水平な姿勢で保持された円板状のスピンベース6と、スピンベース6の上方で基板Wを水平な姿勢で保持する複数の挟持ピン7と、スピンベース6の中央部から下方に延びるスピン軸8と、スピン軸8を回転させることにより基板Wおよびスピンベース6を回転軸線A1まわりに回転させるスピンモータ9とを含む。スピンチャック5は、複数の挟持ピン7を基板Wの周端面に接触させる挟持式のチャックに限らず、非デバイス形成面である基板Wの裏面(下面)をスピンベース6の上面に吸着させることにより基板Wを水平に保持するバキューム式のチャックであってもよい。
The processing unit 2 includes a box-shaped processing chamber 4 and a spin chuck (substrate) that rotates the substrate W about a vertical rotation axis A1 passing through the center of the substrate W while holding the substrate W horizontally in the processing chamber 4. (Holding unit) 5 and one or a plurality of processing liquid nozzles for discharging the processing liquid toward the substrate W held by the spin chuck 5.
The spin chuck 5 includes a disc-shaped spin base 6 held in a horizontal position, a plurality of holding pins 7 for holding the substrate W in a horizontal position above the spin base 6, and a central portion of the spin base 6. It includes a spin shaft 8 extending downward, and a spin motor 9 for rotating the substrate W and the spin base 6 around the rotation axis A1 by rotating the spin shaft 8. The spin chuck 5 is not limited to a sandwich type chuck in which a plurality of sandwiching pins 7 are brought into contact with the peripheral end surface of the substrate W, and the back surface (lower surface) of the substrate W which is a non-device forming surface is adsorbed on the upper surface of the spin base 6. May be a vacuum type chuck that holds the substrate W horizontally.

処理ユニット2は、スピンチャック5に保持されている基板Wの上面に向けてリンス液を下方に吐出するリンス液ノズル10と、リンス液供給源からのリンス液をリンス液ノズル10に導くリンス液配管11と、リンス液配管11の内部を開閉するリンス液バルブ12とを含む。リンス液は、たとえば、純水(脱イオン水:Deionized water)である。リンス液は、純水に限らず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水、および希釈濃度(たとえば、10〜100ppm程度)の塩酸水のいずれかであってもよい。   The processing unit 2 includes a rinsing liquid nozzle 10 that discharges a rinsing liquid downward toward the upper surface of the substrate W held by the spin chuck 5, and a rinsing liquid that guides the rinsing liquid from the rinsing liquid supply source to the rinsing liquid nozzle 10. It includes a pipe 11 and a rinse liquid valve 12 that opens and closes the inside of the rinse liquid pipe 11. The rinsing liquid is, for example, pure water (deionized water). The rinsing liquid is not limited to pure water, and may be any of carbonated water, electrolytic ionic water, hydrogen water, ozone water, and hydrochloric acid water having a dilute concentration (for example, about 10 to 100 ppm).

処理ユニット2は、スピンチャック5に保持されている基板Wの上面に向けて薬液を吐出する薬液ノズル(処理液ノズル)13と、薬液ノズル13が先端部に取り付けられたノズルアーム14と、ノズルアーム14を所定の揺動軸(図示しない)まわりに揺動させるアーム揺動ユニット15とを含む。薬液ノズル13は、その吐出口13aをたとえば下方に向けた状態で、水平方向に延びるノズルアーム14に取り付けられている。   The processing unit 2 includes a chemical liquid nozzle (processing liquid nozzle) 13 that discharges a chemical liquid toward the upper surface of the substrate W held by the spin chuck 5, a nozzle arm 14 having the chemical liquid nozzle 13 attached to a tip end, a nozzle An arm swing unit 15 for swinging the arm 14 around a predetermined swing axis (not shown). The chemical liquid nozzle 13 is attached to a nozzle arm 14 extending in the horizontal direction with its discharge port 13a directed downward, for example.

処理ユニット2は、薬液供給ユニット101からの薬液を薬液ノズル13に導く薬液配管(処理液配管)16をさらに含む。薬液配管16の一端16a(すなわち、上流端)は薬液供給ユニット101の循環配管103に接続され、薬液配管16の他端部16bは薬液ノズル13に接続されている。薬液配管16には、薬液配管16の開度を調整する開度調整バルブとしてのスローリークバルブ(圧力損失変更ユニット)17、薬液配管16を開閉するための開閉バルブとしての吐出バルブ(開閉バルブ)18、および薬液配管16を流通する薬液流量を計測するための流量計19が、薬液ノズル13側からこの順に介装されている。   The processing unit 2 further includes a chemical pipe (a processing liquid pipe) 16 that guides the chemical from the chemical supply unit 101 to the chemical nozzle 13. One end 16a (that is, the upstream end) of the chemical pipe 16 is connected to the circulation pipe 103 of the chemical supply unit 101, and the other end 16b of the chemical pipe 16 is connected to the chemical nozzle 13. The chemical pipe 16 has a slow leak valve (pressure loss changing unit) 17 as an opening adjustment valve for adjusting the opening of the chemical pipe 16, and a discharge valve (open / close valve) as an open / close valve for opening and closing the chemical pipe 16. A flow meter 18 for measuring the flow rate of the chemical solution flowing through the chemical solution pipe 16 is provided in this order from the chemical solution nozzle 13 side.

また、薬液配管16の途中部に設定された分岐位置20には、分岐配管21が分岐接続されている。この実施形態では、分岐位置20は、流量計19の上流側の所定位置に設定されている。以降の説明において、薬液配管16における分岐位置20よりも下流側の下流側部分22を、単に「下流側部分22」といい、薬液配管16における分岐位置20よりも上流側部分23を、単に「上流側部分23」という。   Further, a branch pipe 21 is branched and connected to a branch position 20 set in the middle of the chemical liquid pipe 16. In this embodiment, the branch position 20 is set at a predetermined position on the upstream side of the flow meter 19. In the following description, the downstream portion 22 downstream of the branch position 20 in the chemical solution pipe 16 is simply referred to as “downstream portion 22”, and the upstream portion 23 of the chemical solution pipe 16 upstream of the branch position 20 is simply referred to as “the downstream portion 22”. This is referred to as "upstream portion 23".

分岐配管21の一端21a(すなわち、下流端)は、薬液供給ユニット101の循環配管103に接続されている。分岐配管21には、分岐配管21を開閉するための分岐配管バルブ24が介装されている。
薬液配管16は、下流側部分22の一部に、他の部分よりも一段、上下方向に高い高位置部分25を含む。図1では、下流側部分22は、分岐位置20側に設定された低位置部分26と、薬液ノズル13側に設定された高位置部分25と、低位置部分26と高位置部分25とを上下に接続する上下接続部分27と、高位置部分25と薬液ノズルとを接続する先端部分28とを含む。
One end 21 a (that is, the downstream end) of the branch pipe 21 is connected to the circulation pipe 103 of the chemical solution supply unit 101. The branch pipe 21 is provided with a branch pipe valve 24 for opening and closing the branch pipe 21.
The chemical liquid pipe 16 includes a high position portion 25 that is higher in the vertical direction by one step than the other portion in a part of the downstream portion 22. In FIG. 1, the downstream portion 22 includes a low position portion 26 set on the branch position 20 side, a high position portion 25 set on the chemical solution nozzle 13 side, and a low position portion 26 and a high position portion 25. And a top end portion 28 connecting the high position portion 25 and the chemical liquid nozzle.

高位置部分25は、ほぼ水平に沿って延びている。高位置部分25は分岐位置20よりも、高さHの分だけ高く配置されている。高さHは、たとえば数十cmである。
低位置部分26は、分岐位置20とほぼ同じ上下高さを保ちながら、ほぼ水平に沿って延びている。この実施形態では、薬液ノズル13は、下流側部分22のうち低位置部分26に介装されている。
The high portion 25 extends substantially horizontally. The high position portion 25 is disposed higher than the branch position 20 by the height H. The height H is, for example, several tens of cm.
The low position portion 26 extends substantially horizontally while maintaining the same vertical height as the branch position 20. In this embodiment, the chemical liquid nozzle 13 is interposed in the lower portion 26 of the downstream portion 22.

上下接続部分27は、図1に示すように鉛直に沿って延びていてもよいし、鉛直方向に対して傾斜する方向に沿っていてもよい。この実施形態では、スローリークバルブ17は、上下接続部分27に介装されている。
先端部分28は、図1に示すように鉛直に沿って延びていてもよいし、鉛直方向に対して傾斜する方向に沿っていてもよい。
The upper and lower connection portions 27 may extend vertically as shown in FIG. 1 or may extend along a direction inclined with respect to the vertical direction. In this embodiment, the slow leak valve 17 is interposed in the upper and lower connecting portions 27.
The tip portion 28 may extend vertically as shown in FIG. 1 or may extend along a direction inclined with respect to the vertical direction.

処理ユニット2は、平面視でスピンチャック5の周囲に配置された待機ポット(容器)29を含む。待機ポット29は、基板Wの上方から退避した退避位置であるプリディスペンス位置P1に配置されている薬液ノズル13から吐出される薬液を受け止めるための箱状のポットである。待機ポット29の底部には、排液配管30が接続されている。待機ポット29に受け止められた薬液は、排液配管30を介して機外の排液処理設備(図示しない)に送出される。そのため、待機ポットに吐出される薬液は、基板に供給されることはない。   The processing unit 2 includes a standby pot (container) 29 arranged around the spin chuck 5 in plan view. The standby pot 29 is a box-shaped pot for receiving the chemical discharged from the chemical nozzle 13 disposed at the pre-dispensing position P1, which is the retracted position retracted from above the substrate W. A drain pipe 30 is connected to the bottom of the standby pot 29. The chemical solution received by the standby pot 29 is sent out to a drainage treatment facility (not shown) outside the apparatus via a drainage pipe 30. Therefore, the chemical liquid discharged to the standby pot is not supplied to the substrate.

薬液供給ユニット101は、薬液を溜めるための薬液タンク102と、薬液タンク102に溜められている薬液を処理ユニット2へと導くための循環配管103とを含む。循環配管103は、その両端が薬液タンク102に接続されており、薬液タンク102に溜められている薬液が循環配管103内を循環している。循環配管103には、薬液タンク102から薬液を汲み出して循環配管103に送り込むポンプ104が介装されている。その他、図示を省略するが、循環配管103にはフィルタやヒータなどが介装されている。循環配管103に、薬液配管16の一端16a(すなわち、上流端)が接続されている。循環配管103内の薬液の循環圧は、ポンプ104、および循環配管103内に介装されたレギュレータ(図示しない)等の圧力調整ユニットにより、所定の圧力に保たれている。この循環圧により、循環配管103から薬液が所定の供給圧で供給される。また、循環配管103には、分岐配管21の一端21aが接続されている。   The chemical supply unit 101 includes a chemical tank 102 for storing a chemical, and a circulation pipe 103 for guiding the chemical stored in the chemical tank 102 to the processing unit 2. Both ends of the circulation pipe 103 are connected to the chemical tank 102, and the chemical stored in the chemical tank 102 circulates in the circulation pipe 103. The circulation pipe 103 is provided with a pump 104 that draws a chemical solution from the chemical solution tank 102 and sends it to the circulation pipe 103. Although not shown, the circulation pipe 103 is provided with a filter, a heater, and the like. One end 16a (that is, the upstream end) of the chemical liquid pipe 16 is connected to the circulation pipe 103. The circulating pressure of the chemical in the circulation pipe 103 is maintained at a predetermined pressure by a pump 104 and a pressure adjustment unit such as a regulator (not shown) provided in the circulation pipe 103. With this circulation pressure, the chemical is supplied from the circulation pipe 103 at a predetermined supply pressure. Further, one end 21a of the branch pipe 21 is connected to the circulation pipe 103.

循環配管103から薬液配管16に供給される薬液は、たとえば、硫酸、酢酸、硝酸、塩酸、フッ酸、アンモニア水、過酸化水素水、有機酸(たとえばクエン酸、蓚酸など)、有機アルカリ(たとえば、TMAH:テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドなど)、有機溶剤(たとえば、IPA:イソプロピルアルコールなど)、および界面活性剤、腐食防止剤の少なくとも1つを含む液である。   The chemical supplied from the circulation pipe 103 to the chemical pipe 16 is, for example, sulfuric acid, acetic acid, nitric acid, hydrochloric acid, hydrofluoric acid, aqueous ammonia, aqueous hydrogen peroxide, an organic acid (for example, citric acid, oxalic acid, etc.), or an organic alkali (for example, , TMAH: tetramethylammonium hydroxide, etc.), an organic solvent (eg, IPA: isopropyl alcohol, etc.), and at least one of a surfactant and a corrosion inhibitor.

図2Aは、基板処理装置1に備えられた吐出バルブ18の内部構造を示す模式的な断面図である。図2Aでは、開状態の第1の弁体35を実線で示し、閉状態の第1の弁体35を二点鎖線で示している。以下では、図2Aを参照して、吐出バルブ18の内部構造について説明する。
吐出バルブ18は、たとえばダイヤフラムバルブである。吐出バルブ18は、第1の流路32が形成されたバルブ本体を含む。バルブ本体は、液体が流入する第1の流入口31と、第1の流入口31に流入した液体を吐出する第1の流出口33と、第1の流入口31と第1の流出口33とを接続する第1の流路32と、第1の流路32を取り囲む環状の第1の弁座34と、第1の流路32内に配置された第1の弁体35とを含む。第1の弁体35は、樹脂(たとえばPTFE)やゴムなどの弾性材料で形成されたダイヤフラムである。低位置部分26(薬液配管16)は、薬液供給ユニット101からの薬液を第1の流入口31に導く上流配管26aと、第1の流出口33からの薬液を薬液ノズル13に薬液を導く下流配管26bとを含む。
FIG. 2A is a schematic cross-sectional view showing the internal structure of the discharge valve 18 provided in the substrate processing apparatus 1. In FIG. 2A, the first valve element 35 in the open state is indicated by a solid line, and the first valve element 35 in the closed state is indicated by a two-dot chain line. Hereinafter, the internal structure of the discharge valve 18 will be described with reference to FIG. 2A.
The discharge valve 18 is, for example, a diaphragm valve. The discharge valve 18 includes a valve body in which the first flow path 32 is formed. The valve body includes a first inlet 31 into which the liquid flows, a first outlet 33 for discharging the liquid flowing into the first inlet 31, a first inlet 31, and a first outlet 33. And a first valve seat 35 surrounding the first flow path 32, and a first valve body 35 disposed in the first flow path 32. . The first valve body 35 is a diaphragm formed of an elastic material such as resin (for example, PTFE) or rubber. The low position portion 26 (chemical solution pipe 16) includes an upstream pipe 26 a for guiding the chemical solution from the chemical solution supply unit 101 to the first inlet 31, and a downstream for guiding the chemical solution from the first outlet 33 to the chemical solution nozzle 13. And a pipe 26b.

吐出バルブ18は、バルブ本体を開閉させるバルブアクチュエータを含む。バルブアクチュエータは、たとえば空気圧式のアクチュエータ、より具体的には第1のエアシリンダ36を含む。第1のエアシリンダ36は、第1の弁体35を、第1の弁座34から離れた開位置(図2Aに示す実線で位置)と、第1の弁座34に押し付けられた閉位置(図2Aに二点鎖線で示す位置)との間で移動可能である。   The discharge valve 18 includes a valve actuator that opens and closes a valve body. The valve actuator includes, for example, a pneumatic actuator, more specifically, a first air cylinder 36. The first air cylinder 36 moves the first valve body 35 to an open position (position indicated by a solid line in FIG. 2A) away from the first valve seat 34 and a closed position pressed against the first valve seat 34. (A position shown by a two-dot chain line in FIG. 2A).

第1の弁体35が閉位置にある状態では、第1の弁体35が第1の弁座34に接触し、第1の流路32が閉じられる。この状態が、吐出バルブ18の閉状態である。すなわち、吐出バルブ18の閉状態では、第1の弁体35が第1の弁座34に押し付けられる。一方、第1の弁体35が開位置にある状態では、第1の弁体35が第1の弁座34から大きく離れるため、第1の流路32が開かれる。この状態が、吐出バルブ18の開状態である。すなわち、吐出バルブ18の開状態では、第1の弁体35が第1の弁座34から離れる。   When the first valve body 35 is in the closed position, the first valve body 35 contacts the first valve seat 34, and the first flow path 32 is closed. This state is the closed state of the discharge valve 18. That is, in the closed state of the discharge valve 18, the first valve body 35 is pressed against the first valve seat 34. On the other hand, when the first valve body 35 is in the open position, the first valve body 35 is largely separated from the first valve seat 34, so that the first flow path 32 is opened. This state is the open state of the discharge valve 18. That is, when the discharge valve 18 is in the open state, the first valve body 35 is separated from the first valve seat 34.

図1に示すように、制御ユニット3はコンピュータを含む。第1のエアシリンダ36は制御ユニット3に接続されている。制御ユニット3は、第1のエアシリンダ36のロッド(図示しない)の出没量を制御することにより、第1の弁体35を閉位置および開位置のいずれかで静止させる。
第1の弁体35と第1の弁座34とが擦れ合うときに吐出バルブ18の内部にパーティクルが発生することがある。したがって、パーティクルは、接触状態にある第1の弁体35が第1の弁座34から離れるときや、第1の弁体35が第1の弁座34に接触するときに吐出バルブ18の内部に発生することがある。
As shown in FIG. 1, the control unit 3 includes a computer. The first air cylinder 36 is connected to the control unit 3. The control unit 3 controls the amount of the rod (not shown) of the first air cylinder 36 to protrude and retract, thereby stopping the first valve body 35 at one of the closed position and the open position.
When the first valve body 35 and the first valve seat 34 rub against each other, particles may be generated inside the discharge valve 18. Therefore, the particles are generated inside the discharge valve 18 when the first valve body 35 in the contact state is separated from the first valve seat 34 or when the first valve body 35 comes into contact with the first valve seat 34. May occur.

図2Bは、基板処理装置1に備えられたスローリークバルブ17の内部構造を示す模式的な断面図である。図2Bでは、開状態の第2の弁体45を実線で示し、一部開状態の第2の弁体45を二点鎖線で示している。以下では、図2Bを参照して、スローリークバルブ17の内部構造について説明する。
スローリークバルブ17は、たとえばダイヤフラムバルブである。スローリークバルブ17は、第2の流路42が形成されたバルブ本体を含む。バルブ本体は、液体が流入する第2の流入口41と、第2の流入口41に流入した液体を吐出する第2の流出口43と、第2の流入口41と第2の流出口43とを接続する第2の流路42と、第2の流路42を取り囲む環状の第2の弁座44と、第2の流路42内に配置された第2の弁体45とを含む。第2の弁体45は、樹脂(たとえばPTFE)やゴムなどの弾性材料で形成されたダイヤフラムである。上下接続部分27(薬液配管16)は、薬液供給ユニット101からの薬液を第2の流入口41に導く上流配管27aと、第2の流出口43からの薬液を薬液ノズル13に薬液を導く下流配管27bとを含む。
FIG. 2B is a schematic sectional view showing the internal structure of the slow leak valve 17 provided in the substrate processing apparatus 1. In FIG. 2B, the second valve body 45 in the open state is shown by a solid line, and the second valve body 45 in a partially open state is shown by a two-dot chain line. Hereinafter, the internal structure of the slow leak valve 17 will be described with reference to FIG. 2B.
The slow leak valve 17 is, for example, a diaphragm valve. The slow leak valve 17 includes a valve body in which the second flow path 42 is formed. The valve body includes a second inflow port 41 into which the liquid flows, a second outflow port 43 for discharging the liquid flowing into the second inflow port 41, a second inflow port 41 and a second outflow port 43. A second valve seat 44 surrounding the second flow path 42, and a second valve body 45 disposed in the second flow path 42. . The second valve body 45 is a diaphragm formed of an elastic material such as resin (for example, PTFE) or rubber. The upper and lower connecting portions 27 (chemical solution pipes 16) are an upstream pipe 27a for guiding the chemical solution from the chemical solution supply unit 101 to the second inflow port 41 and a downstream direction for guiding the chemical solution from the second outflow port 43 to the chemical solution nozzle 13. And a pipe 27b.

スローリークバルブ17は、バルブ本体を開閉させるバルブアクチュエータを含む。バルブアクチュエータは、たとえば空気圧式のアクチュエータ、より具体的には第2のエアシリンダ46を含む。第2のエアシリンダ46は、第2の弁体45を、第2の弁座44から微小間隔S1を空けて離間する第1の開位置(図2Bに一点鎖線で示す位置)と、第1の開位置よりも第2の弁座44から大きく離れた第2の開位置(図2Bに実線で示す位置)との間で移動可能である。   The slow leak valve 17 includes a valve actuator that opens and closes a valve body. The valve actuator includes, for example, a pneumatic actuator, more specifically, a second air cylinder 46. The second air cylinder 46 separates the second valve body 45 from the second valve seat 44 at a minute opening S1 with a first open position (a position indicated by a dashed line in FIG. 2B). Is movable between a second open position (position indicated by a solid line in FIG. 2B) farther from the second valve seat 44 than the open position.

第2の弁体45が第1の開位置にある状態では、第2の弁体45が第2の弁座44に微小間隔S1を空けて離間し、この状態が、スローリークバルブ17の一部開状態(低開度状態、大圧力損失状態)である。一方、第2の弁体45が第2の開位置にある状態では、第2の弁体45が第2の弁座44から大きく離れるため、第2の流路42が開かれる。この状態が、スローリークバルブ17の開状態(高開度状態、小圧力損失状態)である。   In a state where the second valve body 45 is in the first open position, the second valve body 45 is separated from the second valve seat 44 by a small interval S1. It is in a partially open state (low opening degree state, large pressure loss state). On the other hand, in a state where the second valve body 45 is in the second open position, the second valve body 45 is largely separated from the second valve seat 44, so that the second flow path 42 is opened. This state is the open state of the slow leak valve 17 (high opening degree state, small pressure loss state).

第2のエアシリンダ46は制御ユニット3(図1参照)に接続されている。制御ユニット3は、第2のエアシリンダ46のロッド(図示しない)の出没量を制御することにより、第2の弁体45を第1の開位置および第2の開位置のいずれかで静止させる。
スローリークバルブ17の開状態および一部開状態のいずれでも、第2の弁体45が第2の弁座44から離れる。つまり、第2の弁体45と第2の弁座44とが擦れ合うことがない。そのため、スローリークバルブ17の内部には、パーティクルは発生しない。
The second air cylinder 46 is connected to the control unit 3 (see FIG. 1). The control unit 3 controls the protruding / retracting amount of the rod (not shown) of the second air cylinder 46 to make the second valve body 45 stand still at one of the first open position and the second open position. .
The second valve body 45 separates from the second valve seat 44 regardless of whether the slow leak valve 17 is open or partially open. That is, the second valve body 45 and the second valve seat 44 do not rub against each other. Therefore, no particles are generated inside the slow leak valve 17.

また、一部開状態のときに第2の弁座44と第2の弁体45との間を流通する液体において発生する圧力損失は、開状態のときに第2の弁座44と第2の弁体45との間を流通する液体において発生する圧力損失よりも著しく大きい。そして、一部開状態のときに第2の流出口43から吐出される液体の流量(第1流量)は、開状態のときに第2の流出口43から吐出される液体の流量(第2流量)より著しく小さい。   Further, the pressure loss generated in the liquid flowing between the second valve seat 44 and the second valve body 45 in the partially opened state is equal to the pressure loss generated in the liquid flowing between the second valve seat 44 and the second valve body 45 in the opened state. Is significantly larger than the pressure loss generated in the liquid flowing between the valve body 45 and the valve body 45. The flow rate (first flow rate) of the liquid discharged from the second outlet 43 in the partially opened state is equal to the flow rate (second flow rate) of the liquid discharged from the second outlet 43 in the opened state. Flow rate).

図1に示すように、制御ユニット3は、予め定められたプログラムに従って、スピンモータ9、アーム揺動ユニット15等の動作を制御する。さらに、制御ユニット3は、リンス液バルブ12、スローリークバルブ17、吐出バルブ18、分岐配管バルブ24等の開閉動作等を制御する。また、制御ユニット3には、流量計19からの検出値が与えられるようになっている。   As shown in FIG. 1, the control unit 3 controls operations of the spin motor 9, the arm swing unit 15, and the like according to a predetermined program. Further, the control unit 3 controls the opening / closing operation of the rinse liquid valve 12, the slow leak valve 17, the discharge valve 18, the branch pipe valve 24, and the like. The control unit 3 is provided with a detection value from the flow meter 19.

図1に示すように、基板Wが処理されるときには、制御ユニット3がスピンチャック5を制御することにより、基板Wを回転させる。その後、制御ユニット3は、アーム揺動ユニット15を制御して、薬液ノズル13を、スピンチャック5の側方に退避するプリディスペンス位置P1(図1に破線で示す位置)から、基板Wの上方に設定された処理位置P2(図1に実線で示す位置)まで引き出し、回転している基板Wの上面に向けて薬液を薬液ノズル13に吐出させる。これにより、薬液が基板Wの上面全域に供給される(薬液供給ステップ)。制御ユニット3は、薬液ノズル13からの薬液の吐出を停止させた後、アーム揺動ユニット15を制御して、薬液ノズル13を、処理位置P2からプリディスペンス位置P1まで戻す。薬液ノズル13がプリディスペンス位置P1にある状態では、薬液ノズル13の吐出口13aが待機ポット29に対向している。   As shown in FIG. 1, when the substrate W is processed, the control unit 3 controls the spin chuck 5 to rotate the substrate W. Thereafter, the control unit 3 controls the arm swinging unit 15 to move the chemical solution nozzle 13 from the pre-dispensing position P1 (the position shown by a broken line in FIG. 1) above the substrate W to retract to the side of the spin chuck 5. To the processing position P2 (the position indicated by the solid line in FIG. 1), and the chemical liquid is discharged from the chemical liquid nozzle 13 toward the upper surface of the rotating substrate W. Thus, the chemical is supplied to the entire upper surface of the substrate W (chemical supply step). After stopping the discharge of the chemical solution from the chemical solution nozzle 13, the control unit 3 controls the arm swing unit 15 to return the chemical solution nozzle 13 from the processing position P2 to the pre-dispense position P1. When the chemical liquid nozzle 13 is in the pre-dispensing position P <b> 1, the discharge port 13 a of the chemical liquid nozzle 13 faces the standby pot 29.

その後、制御ユニット3は、リンス液の一例である純水を回転している基板Wに向けてリンス液ノズル10に吐出させる。これにより、純水が基板Wの上面全域に供給され、基板Wに付着している薬液が洗い流される(リンス液供給ステップ)。制御ユニット3は、リンス液ノズル10からの純水の吐出を停止させた後、スピンチャック5に基板Wを高回転速度で回転させる。これにより、基板Wに付着している純水が遠心力によって基板Wの周囲に振り切られる。そのため、基板Wから純水が除去され、基板Wが乾燥する(乾燥ステップ)。   Thereafter, the control unit 3 causes the rinsing liquid nozzle 10 to discharge pure water, which is an example of the rinsing liquid, toward the rotating substrate W. As a result, pure water is supplied to the entire upper surface of the substrate W, and the chemical liquid attached to the substrate W is washed away (rinse liquid supply step). After stopping the discharge of the pure water from the rinsing liquid nozzle 10, the control unit 3 causes the spin chuck 5 to rotate the substrate W at a high rotation speed. Thus, the pure water adhering to the substrate W is shaken off around the substrate W by centrifugal force. Therefore, pure water is removed from the substrate W, and the substrate W is dried (drying step).

基板処理装置1の処理例では、基板Wに対する薬液の吐出に先立って、プリディスペンスが行われる。
図3は、プリディスペンスステップT1から薬液吐出ステップT4に至る、吐出バルブ18、スローリークバルブ17および分岐配管バルブ24の状態を示すタイムチャートである。図4Aは、プリディスペンスステップT1の薬液の流れを示す模式図である。図4Bは、吐出停止ステップT2の薬液の流れを示す模式図である。図4Cは、ノズル移動ステップT3の薬液の流れを示す模式図である。図4Dは、薬液吐出ステップT4の薬液の流れを示す模式図である。図5は、下流側部分22内の薬液に作用する圧力を説明するための図である。
In the processing example of the substrate processing apparatus 1, pre-dispensing is performed prior to discharging the chemical solution onto the substrate W.
FIG. 3 is a time chart showing states of the discharge valve 18, the slow leak valve 17, and the branch pipe valve 24 from the pre-dispensing step T1 to the chemical liquid discharging step T4. FIG. 4A is a schematic diagram illustrating the flow of the chemical solution in the pre-dispensing step T1. FIG. 4B is a schematic diagram illustrating the flow of the chemical solution in the discharge stop step T2. FIG. 4C is a schematic diagram illustrating the flow of the chemical solution in the nozzle movement step T3. FIG. 4D is a schematic diagram illustrating the flow of the chemical solution in the chemical solution discharging step T4. FIG. 5 is a diagram for explaining the pressure acting on the chemical solution in the downstream portion 22.

図5に示すように、上下接続部分27の下端部には、上下接続部分27の存在する薬液による水頭圧Pが作用する。
下流側部分22の低位置部分26における薬液の供給圧Pが、上下接続部分27の上端一杯まで薬液が存在するときの最大水頭圧PMHと、スローリークバルブ17を通過する際の圧力損失Pとの合計圧力を上回れば、低位置部分26からの薬液は、高位置部分25を乗り越えて薬液ノズル13に供給される。
As shown in FIG. 5, the lower end of the upper and lower connecting portion 27, head pressure P H by existing chemical vertical connection portion 27 acts.
The supply pressure P D of the chemical in the low position portion 26 of the downstream portion 22 is the maximum head pressure P MH when the chemical is present up to the upper end of the upper and lower connection portion 27, and the pressure loss when passing through the slow leak valve 17. if it exceeds the total pressure of P S, chemical from a low position portion 26 is supplied to the chemical liquid nozzle 13 passes over the high position part 25.

一方、下流側部分22の低位置部分26における薬液の供給圧Pが、上下接続部分27全体に薬液が存在するときの最大水頭圧PMHと、スローリークバルブ17を通過する際の圧力損失Pとの合計圧力を下回れば、低位置部分26からの薬液は、高位置部分25を乗り越えることができない。
前述のように、第2の弁座44と第2の弁体45との間を流通する液体において発生する圧力損失Pは、スローリークバルブ17の一部開状態の方が、スローリークバルブ17の開状態と比較して、著しく大きい。そのため、開状態にあるスローリークバルブ17の圧力損失Pを、当該圧力損失Pと最大水頭圧PMHとの合計圧力が、低位置部分26における薬液の供給圧Pよりも大きくなるように設定しておけば、吐出バルブ18を開状態のまま保っていても、低位置部分26からの薬液は高位置部分25を乗り越えることはできず、この場合、薬液ノズル13から薬液が吐出されることはない。
On the other hand, the supply pressure P D of the chemical in the low position part 26 of the downstream part 22 is the maximum water head pressure P MH when the chemical is present in the entire upper and lower connection part 27 and the pressure loss when passing through the slow leak valve 17. if falls below the total pressure of P S, chemical from a low position part 26 can not get over the high position part 25.
As described above, the second valve seat 44 the pressure loss P S generated in the liquid that flows between the second valve element 45, the direction of some open state of the slow leak valve 17, the slow leak valve 17 is significantly larger than the open state. Therefore, the pressure loss P S of the slow leak valve 17 in the open state, so that the total pressure of the pressure loss P S and the maximum water head pressure P MH is greater than the supply pressure P D of the chemical in the low position part 26 If the discharge valve 18 is kept open, the chemical liquid from the low position portion 26 cannot cross the high position portion 25. In this case, the chemical liquid is discharged from the chemical liquid nozzle 13. Never.

次に、図1、図3および図4A〜4Dを参照しながら、各ステップT1〜T4について説明する。また、図4A〜4Dにおいて流量計19の図示は省略している。
基板処理装置1の処理例では、薬液の吐出に先立ち、制御ユニット3は、プリディスペンス位置P1にある薬液ノズル13から薬液を吐出するプリディスペンスステップT1と、薬液ノズル13からの薬液の吐出を停止させる吐出停止ステップT2と、薬液ノズル13をプリディスペンス位置P1から処理位置P2に移動させるノズル移動ステップT3とを実行する。その後、薬液ノズル13から基板Wに向けて薬液を吐出する薬液吐出ステップ(処理液吐出ステップ)T4を実行する。
Next, steps T1 to T4 will be described with reference to FIGS. 1, 3, and 4A to 4D. 4A to 4D, illustration of the flow meter 19 is omitted.
In the processing example of the substrate processing apparatus 1, the control unit 3 stops the pre-dispensing step T1 of discharging the chemical from the chemical nozzle 13 at the pre-dispensing position P1 and the discharging of the chemical from the chemical nozzle 13 prior to the discharge of the chemical. The discharging stop step T2 to be performed and the nozzle moving step T3 for moving the chemical liquid nozzle 13 from the predispensing position P1 to the processing position P2 are executed. Thereafter, a chemical liquid discharging step (processing liquid discharging step) T4 of discharging a chemical liquid from the chemical liquid nozzle 13 toward the substrate W is executed.

プリディスペンスを実行するタイミングになると、制御ユニット3はプリディスペンスステップT1を実行開始する。具体的には、制御ユニット3は、図3に示すように、分岐配管バルブ24を閉じたままの状態で吐出バルブ18およびスローリークバルブ17を開く。そのため、循環配管103から上流側部分23に供給された薬液は、分岐位置20から下流側部分22に流れる。このとき、分岐位置20における薬液の供給圧Pが、最大水頭圧PMHおよび開状態にあるスローリークバルブ17の圧力損失Pの合計を上回るので、分岐位置20の薬液は、高位置部分25を乗り越えて薬液ノズル13に供給される。そして、図4Aに示すように、薬液ノズル13の吐出口13aから薬液が吐出される。薬液ノズル13から吐出された薬液は、待機ポット29に受け止められた後、排液配管30を通って基板の処理設備へと導かれる。 When it is time to execute the pre-dispense, the control unit 3 starts executing the pre-dispense step T1. Specifically, as shown in FIG. 3, the control unit 3 opens the discharge valve 18 and the slow leak valve 17 with the branch pipe valve 24 kept closed. Therefore, the chemical supplied from the circulation pipe 103 to the upstream portion 23 flows from the branch position 20 to the downstream portion 22. At this time, supply pressure P D of the chemical at the branching position 20, because above the sum of the pressure loss P S of the slow leak valve 17 in the maximum water head pressure P MH and open state, chemical branching position 20, the high position part The liquid is supplied to the chemical liquid nozzle 13 after going over 25. Then, as shown in FIG. 4A, the chemical is discharged from the discharge port 13a of the chemical liquid nozzle 13. The chemical solution discharged from the chemical solution nozzle 13 is received by the standby pot 29 and then guided to the substrate processing equipment through the drainage pipe 30.

吐出バルブ18が開かれてから所定のプリディスペンス期間が経過すると、制御ユニット3は吐出停止ステップT2を実行開始する。具体的には、制御ユニット3は、図3に示すように、吐出バルブ18を開いたままの状態で、分岐配管バルブ24を開きかつスローリークバルブ17を一部開状態とする。分岐配管バルブ24が開くことにより、上流側部分23を流れる薬液が分岐配管21に進入することが可能になる。これにより、分岐位置20における薬液の供給圧Pが下がる。また、スローリークバルブ17の閉成により、スローリークバルブ17の圧力損失Pが増大する。そして、分岐位置20における薬液の供給圧Pが、最大水頭圧PMHおよび一部開状態にあるスローリークバルブ17の圧力損失Pの合計を下回る場合、分岐位置20の薬液は、高位置部分25を乗り越えることができない。この場合、上流側部分23に既に供給されている薬液は、分岐位置20から分岐配管21に流れる。また、その後に循環配管103から上流側部分23に供給される薬液も、分岐位置20から分岐配管21に流れる。その結果、図4Bに示すように、薬液ノズル13の吐出口13aからの薬液吐出が停止される。したがって、吐出バルブ18の開状態を保ちながら薬液ノズル13からの薬液の吐出が停止される。 When a predetermined pre-dispense period has elapsed since the discharge valve 18 was opened, the control unit 3 starts executing a discharge stop step T2. Specifically, as shown in FIG. 3, the control unit 3 opens the branch pipe valve 24 and partially opens the slow leak valve 17 with the discharge valve 18 kept open. By opening the branch pipe valve 24, the chemical solution flowing through the upstream portion 23 can enter the branch pipe 21. Thus, it lowers supply pressure P D of the chemical at the branching position 20. In addition, the closing of the slow leak valve 17, the pressure loss P S of the slow leak valve 17 is increased. When the supply pressure P D of the chemical at the branch position 20 is below the sum of the pressure loss P S of the slow leak valve 17 with maximum water head pressure P MH and partially opened state, the branch position 20 chemical liquid, high position Part 25 cannot be overcome. In this case, the chemical liquid already supplied to the upstream portion 23 flows from the branch position 20 to the branch pipe 21. Further, a chemical solution supplied from the circulation pipe 103 to the upstream portion 23 also flows from the branch position 20 to the branch pipe 21. As a result, as shown in FIG. 4B, the discharge of the chemical from the discharge port 13a of the chemical nozzle 13 is stopped. Accordingly, the discharge of the chemical from the chemical nozzle 13 is stopped while the discharge valve 18 is kept open.

その後、基板Wに対する薬液吐出のタイミングが近づくと、制御ユニット3は、ノズル移動ステップT3を実行する。すなわち、制御ユニット3は、図3および図4Cに示すように、吐出バルブ18および分岐配管バルブ24の開状態、ならびにスローリークバルブ17の一部開状態を維持しながら、アーム揺動ユニット15を制御して、薬液ノズル13を、プリディスペンス位置P1から処理位置P2まで引き出す。   Thereafter, when the timing of discharging the chemical solution to the substrate W approaches, the control unit 3 executes a nozzle moving step T3. That is, the control unit 3 controls the arm swing unit 15 while maintaining the open state of the discharge valve 18 and the branch pipe valve 24 and the partially open state of the slow leak valve 17 as shown in FIGS. 3 and 4C. Under control, the chemical liquid nozzle 13 is pulled out from the predispensing position P1 to the processing position P2.

薬液ノズル13が処理位置P2に配置された後、制御ユニット3は、薬液吐出ステップT4を実行する。具体的には、制御ユニット3は、図3に示すように、吐出バルブ18を開いたままの状態で、スローリークバルブ17を開け、かつ分岐配管バルブ24を閉じる。分岐配管バルブ24が閉じることにより、上流側部分23を流れる薬液が分岐配管21に進入できなくなり、これに伴って、分岐位置20における薬液の供給圧Pが上がる。また、スローリークバルブ17の開成により、スローリークバルブ17の圧力損失Pが低下する。そして、分岐位置20における薬液の供給圧Pが、最大水頭圧PMHおよび開状態にあるスローリークバルブ17の圧力損失Pの合計を上回る場合、分岐位置20の薬液は、高位置部分25を乗り越えることが可能になる。この場合、循環配管103から上流側部分23に供給された薬液は、分岐位置20から下流側部分22に流れ、図4Dに示すように、高位置部分25を乗り越えて、薬液ノズル13の吐出口13aから薬液が吐出される。薬液ノズル13から吐出された薬液は、基板Wに供給される。 After the chemical liquid nozzle 13 is arranged at the processing position P2, the control unit 3 executes a chemical liquid discharge step T4. Specifically, as shown in FIG. 3, the control unit 3 opens the slow leak valve 17 and closes the branch pipe valve 24 with the discharge valve 18 kept open. By branch pipe valve 24 is closed, upstream chemical liquid flowing through the side portion 23 will not be able to enter the branch line 21, along with this, increases the supply pressure P D of the chemical at the branching position 20. Further, the opening of the slow leak valve 17, the pressure loss P S of the slow leak valve 17 is reduced. When the supply pressure P D of the chemical at the branching position 20, exceeds the sum of the pressure loss P S of the slow leak valve 17 in the maximum water head pressure P MH and open state, chemical branching position 20, the high position part 25 It is possible to get over. In this case, the chemical supplied from the circulation pipe 103 to the upstream portion 23 flows from the branch position 20 to the downstream portion 22, as shown in FIG. The liquid medicine is discharged from 13a. The chemical discharged from the chemical nozzle 13 is supplied to the substrate W.

以上により、この実施形態によれば、制御ユニット3が、分岐配管バルブ24の閉状態およびスローリークバルブ17の開状態で吐出バルブ18を開くと、薬液ノズル13から薬液が吐出される。プリディスペンスステップT1では、薬液ノズル13から吐出される薬液は基板Wに供給されることなく機外に排液される。そのため、プリディスペンスステップT1において、吐出バルブ18の開動作によってパーティクルが吐出バルブ18内に発生したとしても、このパーティクルは薬液と共に薬液ノズル13から吐出され、薬液と共に機外に排液される。   As described above, according to this embodiment, when the control unit 3 opens the discharge valve 18 with the branch pipe valve 24 closed and the slow leak valve 17 opened, the chemical liquid is discharged from the chemical liquid nozzle 13. In the pre-dispensing step T1, the chemical discharged from the chemical nozzle 13 is drained outside the apparatus without being supplied to the substrate W. Therefore, even if particles are generated in the discharge valve 18 by the opening operation of the discharge valve 18 in the pre-dispensing step T1, the particles are discharged from the chemical liquid nozzle 13 together with the chemical liquid, and are discharged outside the machine together with the chemical liquid.

プリディスペンス後の吐出停止ステップT2において、制御ユニット3は、吐出バルブ18を開状態に保持したままの状態で分岐配管バルブ24を開きかつスローリークバルブ17を一部開状態にする。これにより、薬液配管16に供給される薬液は、分岐位置20から分岐配管21に導かれて、薬液ノズル13からの薬液の吐出が停止する。したがって、吐出バルブ18の開状態を保ちながら薬液ノズル13からの薬液の吐出を停止することができる。   In the discharge stop step T2 after the pre-dispensing, the control unit 3 opens the branch pipe valve 24 and keeps the slow leak valve 17 partially open while keeping the discharge valve 18 in the open state. As a result, the chemical supplied to the chemical pipe 16 is guided from the branch position 20 to the branch pipe 21, and the discharge of the chemical from the chemical nozzle 13 is stopped. Therefore, the discharge of the chemical solution from the chemical solution nozzle 13 can be stopped while the discharge valve 18 is kept open.

基板Wに向けて薬液を吐出する薬液吐出ステップT4では、制御ユニット3は、吐出バルブ18を開状態に保持したままの状態で分岐配管バルブ24を閉じかつスローリークバルブ17を開状態にする。これにより、薬液配管16に供給される薬液は、分岐位置20から下流側部分22に導かれて、薬液ノズル13から薬液が吐出される。
したがって、吐出停止ステップT2および薬液吐出ステップT4では、吐出バルブ18を開閉することなく、薬液ノズル13からの薬液を吐出停止および吐出再開を行う。吐出バルブ18の開閉がないので、吐出停止ステップT2および薬液吐出ステップT4において、吐出バルブ18内における新たなパーティクルの発生はない。
In the chemical liquid discharging step T4 for discharging the chemical liquid toward the substrate W, the control unit 3 closes the branch pipe valve 24 and opens the slow leak valve 17 while keeping the discharge valve 18 in the open state. As a result, the chemical supplied to the chemical pipe 16 is guided from the branch position 20 to the downstream portion 22, and the chemical is discharged from the chemical nozzle 13.
Therefore, in the discharge stop step T2 and the chemical liquid discharge step T4, the discharge of the chemical liquid from the chemical liquid nozzle 13 is stopped and restarted without opening and closing the discharge valve 18. Since there is no opening and closing of the discharge valve 18, no new particles are generated in the discharge valve 18 in the discharge stop step T2 and the chemical liquid discharge step T4.

これにより、吐出バルブ18内で発生したパーティクルを含む薬液が基板Wに供給されることを確実に防止できる。そのため、パーティクルが発生していない薬液を基板Wに供給することができ、ゆえに、基板Wの汚染を低減できる。
また、吐出停止ステップT2において、制御ユニット3が、吐出バルブ18を開いたままの状態で、分岐配管バルブ24を開きかつスローリークバルブ17を一部開状態とすることにより、薬液ノズル13からの薬液の吐出を停止する。すなわち、吐出バルブ18を開状態に保持したままの状態で、薬液ノズル13からの薬液の吐出を停止することができる。したがって、吐出バルブ18の開状態を維持しながらかつ薬液ノズル13からの薬液の吐出停止が保たれながら、プリディスペンス位置P1から処理位置P2に薬液ノズル13を移動させることができる。これにより、吐出バルブ18の開状態を維持しながら薬液ノズル13を移動させても、基板Wの周辺部材や基板Wを薬液によって汚染するおそれがない。
Thus, it is possible to reliably prevent the chemical solution containing particles generated in the discharge valve 18 from being supplied to the substrate W. Therefore, a chemical solution in which particles are not generated can be supplied to the substrate W, and therefore, contamination of the substrate W can be reduced.
In the discharge stop step T2, the control unit 3 opens the branch pipe valve 24 and partially opens the slow leak valve 17 while keeping the discharge valve 18 open, so that the Stop discharging the chemical solution. That is, while the discharge valve 18 is kept open, the discharge of the chemical from the chemical nozzle 13 can be stopped. Therefore, the chemical liquid nozzle 13 can be moved from the pre-dispense position P1 to the processing position P2 while maintaining the discharge valve 18 in the open state and keeping the discharge of the chemical liquid from the chemical liquid nozzle 13 stopped. Accordingly, even when the chemical liquid nozzle 13 is moved while the discharge valve 18 is kept open, there is no possibility that the peripheral members of the substrate W and the substrate W are contaminated with the chemical liquid.

また、内部でパーティクルが発生する可能性がないスローリークバルブ17が、吐出バルブ18よりも薬液ノズル13側に配置されている。すなわち、薬液配管16において吐出バルブ18と薬液ノズル13との間にスローリークバルブ17が配置されている。そのため、吐出バルブ18の内部でパーティクルが発生した場合であっても、そのパーティクルの薬液ノズル13へのダイレクトな供給が阻害される。これにより、パーティクルが薬液ノズル13に供給されるのを抑制できる。   Further, a slow leak valve 17 having no possibility of generating particles inside is disposed closer to the chemical liquid nozzle 13 than the discharge valve 18. That is, the slow leak valve 17 is disposed between the discharge valve 18 and the chemical liquid nozzle 13 in the chemical liquid pipe 16. Therefore, even when particles are generated inside the discharge valve 18, direct supply of the particles to the chemical liquid nozzle 13 is hindered. Thus, the supply of particles to the chemical liquid nozzle 13 can be suppressed.

また、吐出バルブ18が薬液配管16において分岐位置20よりも下流側に配置されているので、吐出バルブ18の内部で発生したパーティクルが分岐配管21に流入するのを確実に防止できる。これにより、分岐配管21を流通する薬液を清浄に保つことができる。また、パーティクルの混入していない清浄な薬液を、分岐配管21を介して循環配管103に戻すことができる。   In addition, since the discharge valve 18 is disposed downstream of the branch position 20 in the chemical liquid pipe 16, it is possible to reliably prevent particles generated inside the discharge valve 18 from flowing into the branch pipe 21. Thereby, the chemical solution flowing through the branch pipe 21 can be kept clean. In addition, a clean chemical solution containing no particles can be returned to the circulation pipe 103 via the branch pipe 21.

また、分岐位置20を流量計19に対し上流側に設定した。すなわち、流量計19を下流側部分22に設けた。そのため、上流側部分23に供給された薬液が、分岐位置20から上流側部分23に流れているのか、あるいは分岐位置20から下流側部分22に流れているのかを検出できる。これにより、ノズル移動ステップT2において薬液ノズル13から薬液吐出(ぼた落ち)が発生した場合でも、その検出ができる。   Further, the branch position 20 is set on the upstream side with respect to the flow meter 19. That is, the flow meter 19 is provided in the downstream portion 22. Therefore, it can be detected whether the chemical solution supplied to the upstream portion 23 flows from the branch position 20 to the upstream portion 23 or flows from the branch position 20 to the downstream portion 22. Thus, even when a chemical solution is ejected (dropping) from the chemical solution nozzle 13 in the nozzle moving step T2, it can be detected.

以上、この発明の一実施形態について説明したが、この発明は、他の形態で実施することもできる。
たとえば前述の実施形態では、吐出バルブ18およびスローリークバルブ17に関し、エアシリンダ36,46によって弁体(ダイヤフラム)35,45の形態を変化させる場合について説明した。しかしながら、吐出バルブ18およびスローリークバルブ17の少なくとも一方において、電動モータなど、エアシリンダ以外のアクチュエータによって第1の弁体35の形態を変化させてもよい。
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, this invention can be implemented in another form.
For example, in the above-described embodiment, the case where the shapes of the valve bodies (diaphragms) 35 and 45 are changed by the air cylinders 36 and 46 with respect to the discharge valve 18 and the slow leak valve 17 has been described. However, in at least one of the discharge valve 18 and the slow leak valve 17, the form of the first valve body 35 may be changed by an actuator other than an air cylinder such as an electric motor.

また、吐出バルブ18およびスローリークバルブ17は、ニードルバルブなどの他の形式のバルブであってもよい。
また、前述の説明では、吐出バルブ18を低位置部分26に介装し、スローリークバルブ17を上下接続部分27に介装すると説明したが、吐出バルブ18およびスローリークバルブ17の双方を低位置部分26に介装してもよいし、吐出バルブ18およびスローリークバルブ17の双方を上下接続部分27に介装してもよい。
Further, the discharge valve 18 and the slow leak valve 17 may be other types of valves such as a needle valve.
In the above description, the discharge valve 18 is interposed in the low position portion 26 and the slow leak valve 17 is interposed in the upper and lower connection portions 27. However, both the discharge valve 18 and the slow leak valve 17 are in the low position. The discharge valve 18 and the slow leak valve 17 may both be interposed in the upper and lower connection portions 27.

また、図6に示すように、スローリークバルブ(圧力損失変更ユニット、開度調整バルブ)217が、薬液配管16において吐出バルブ(開閉バルブ)218より上流側に配置されていてもよい。
さらに、図7に示すように、分岐位置220が、薬液配管16においてスローリークバルブ17よりも下流側に設定されていてもよい。
As shown in FIG. 6, a slow leak valve (pressure loss changing unit, opening adjustment valve) 217 may be arranged on the chemical liquid pipe 16 on the upstream side of a discharge valve (open / close valve) 218.
Further, as shown in FIG. 7, the branch position 220 may be set in the chemical liquid pipe 16 on the downstream side of the slow leak valve 17.

また、図8に示すように、分岐配管221の一端221a(すなわち、下流端)が、循環配管103に接続されずに、機外の回収装置に接続されていてもよい。また、分岐配管221の一端221aが機外の排液装置に接続され、分岐配管221を流通する薬液が排液処理されるようになっていてもよい。
また、分岐配管21,221の下流側に吸引ユニット(図示しない)が配置され、吸引ユニットが発生する吸引力によって、薬液配管16内の薬液が分岐配管21,221を介して吸引可能な構成が採用されていてもよい。すなわち、分岐配管21,221が吸引配管で構成されていてもよい。この場合、吸引ユニットが駆動されると、吸引ユニットの吸引力が、吸引配管を介して薬液配管16の内部に伝達され、薬液配管16内の薬液が、吸引配管を介して吸引ユニットに吸引される。吸引ユニットは、吸引ポンプであってもよいし、吸引力を発生するエジェクタとエジェクタへの気体の供給および供給停止を切り替える気体バルブとを組み合わせた構成であってもよい。
Further, as shown in FIG. 8, one end 221a (that is, the downstream end) of the branch pipe 221 may be connected to an external recovery device without being connected to the circulation pipe 103. Further, one end 221a of the branch pipe 221 may be connected to a drainage device outside the machine, so that a chemical solution flowing through the branch pipe 221 may be drained.
In addition, a suction unit (not shown) is arranged downstream of the branch pipes 21 and 221, and a structure in which a chemical solution in the chemical pipe 16 can be sucked through the branch pipes 21 and 221 by a suction force generated by the suction unit. It may be adopted. That is, the branch pipes 21 and 221 may be configured by suction pipes. In this case, when the suction unit is driven, the suction force of the suction unit is transmitted to the inside of the chemical liquid pipe 16 via the suction pipe, and the chemical liquid in the chemical liquid pipe 16 is sucked by the suction unit via the suction pipe. You. The suction unit may be a suction pump or a combination of an ejector that generates a suction force and a gas valve that switches between supply and stop of gas supply to the ejector.

また、高温の薬液が循環配管103内を循環していてもよい。循環配管103には温度調節用のヒータが介装されており、薬液タンク102に溜められている薬液が、循環配管103内を循環することにより、薬液が所定の高温に温度調節される。この場合、前述のプリディスペンスステップT1は高温の薬液を吐出するステップであり、薬液ノズル13から薬液が長時間に亘って吐出されていない状態で、薬液配管16に薬液を通液させる。これにより、低温状態にある薬液ノズル13のノズル配管の管壁および薬液配管16の管壁を温めることができ、これにより、その後に実行される薬液吐出ステップT4において、その当初から、所望の高温に温度調節された薬液を薬液ノズル13から吐出することができる。   Further, a high-temperature chemical solution may be circulating in the circulation pipe 103. The circulation pipe 103 is provided with a heater for temperature adjustment, and the chemical solution stored in the chemical tank 102 circulates in the circulation pipe 103 to adjust the temperature of the chemical solution to a predetermined high temperature. In this case, the above-described pre-dispensing step T1 is a step of discharging a high-temperature chemical, and the chemical is passed through the chemical pipe 16 in a state where the chemical is not discharged from the chemical nozzle 13 for a long time. Thereby, the pipe wall of the nozzle pipe of the chemical liquid nozzle 13 and the pipe wall of the chemical liquid pipe 16 which are in a low temperature state can be warmed, so that in the subsequent chemical liquid discharge step T4, a desired high temperature can be obtained. The chemical solution whose temperature has been adjusted can be discharged from the chemical solution nozzle 13.

また、薬液配管16が高位置部分25を一部に有する構成を例に挙げて説明したが、薬液配管16が高位置部分25を有していなくてもよい。
また、基板処理装置1が複数の処理ユニット2を含んでいる場合には、薬液供給ユニット101は、複数の処理ユニット2に共通に薬液を供給するものであってもよい。この場合、各処理ユニット2に含まれる薬液配管16が、循環配管103に分岐接続されており、また、各処理ユニット2に含まれる分岐配管21も、循環配管103に分岐接続されている。
In addition, although the description has been given by taking as an example the configuration in which the chemical liquid pipe 16 partially has the high position part 25, the chemical liquid pipe 16 may not have the high position part 25.
When the substrate processing apparatus 1 includes a plurality of processing units 2, the chemical supply unit 101 may supply a chemical to the plurality of processing units 2 in common. In this case, the chemical liquid pipe 16 included in each processing unit 2 is branched and connected to the circulation pipe 103, and the branch pipe 21 included in each processing unit 2 is also branched and connected to the circulation pipe 103.

また、前述の実施形態では、処理液配管が薬液配管16である場合について説明したが、処理液配管を通過する処理液は、薬液以外の液体であってもよい。
また、前述の実施形態では、薬液ノズル13が基板Wの上面に向けて薬液を吐出する場合について説明したが、薬液ノズル13は、基板Wの下面に向けて薬液を吐出してもよい。
Further, in the above-described embodiment, the case where the processing liquid piping is the chemical liquid piping 16 has been described, but the processing liquid passing through the processing liquid piping may be a liquid other than the chemical liquid.
Further, in the above-described embodiment, the case where the chemical liquid nozzle 13 discharges the chemical liquid toward the upper surface of the substrate W has been described, but the chemical liquid nozzle 13 may discharge the chemical liquid toward the lower surface of the substrate W.

また、前述の実施形態では、基板処理装置1が、円板状の基板Wを処理する装置である場合について説明したが、基板処理装置1は、多角形の基板Wを処理する装置であってもよい。
また、前述の全ての変形例のうちの二つ以上が組み合わされてもよい。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
In the above-described embodiment, the case where the substrate processing apparatus 1 is an apparatus for processing a disk-shaped substrate W has been described, but the substrate processing apparatus 1 is an apparatus for processing a polygonal substrate W. Is also good.
Further, two or more of all the modifications described above may be combined.
In addition, various design changes can be made within the scope of the matters described in the claims.

1 :基板処理装置
3 :制御ユニット
5 :スピンチャック(基板保持ユニット)
13 :薬液ノズル(処理液ノズル)
16 :薬液配管(処理液配管)
17 :スローリークバルブ(圧力損失変更ユニット、開度調整バルブ)
18 :吐出バルブ(開閉バルブ)
20 :分岐位置
21 :分岐配管
22 :下流側部分
24 :分岐配管バルブ
25 :高位置部分
101 :薬液供給ユニット(処理液供給ユニット)
103 :循環配管
217 :スローリークバルブ(圧力損失変更ユニット、開度調整バルブ)
218 :吐出バルブ(開閉バルブ)
220 :分岐位置
221 :分岐配管
1: substrate processing apparatus 3: control unit 5: spin chuck (substrate holding unit)
13: Chemical liquid nozzle (treatment liquid nozzle)
16: Chemical liquid piping (treatment liquid piping)
17: Slow leak valve (pressure loss changing unit, opening adjustment valve)
18: Discharge valve (open / close valve)
20: branch position 21: branch pipe 22: downstream side part 24: branch pipe valve 25: high position part 101: chemical liquid supply unit (treatment liquid supply unit)
103: Circulation piping 217: Slow leak valve (pressure loss changing unit, opening adjustment valve)
218: Discharge valve (open / close valve)
220: branch position 221: branch pipe

Claims (11)

基板を保持するための基板保持ユニットと、
前記基板を処理するための処理液を吐出する処理液ノズルと、
前記処理液ノズルに接続され、処理液供給ユニットからの処理液を前記処理液ノズルに供給する処理液配管と、
前記処理液配管を開閉するための開閉バルブと、
前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置で前記処理液配管に分岐接続された分岐配管と、
前記処理液供給ユニットから前記処理液配管に供給された処理液を、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の下流側部分に導く状態と前記分岐配管に導く状態との間で切り換えるための切換えユニットと、
前記開閉バルブおよび前記切換えユニットを制御する制御ユニットとを含み、
前記切換えユニットは、前記下流側部分を液体が流通する際の圧力損失を変更する圧力損失変更ユニットを含み、
前記制御ユニットが、前記開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記分岐位置から前記分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを実行し、
前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にし、かつ前記処理液吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にする、基板処理装置。
A substrate holding unit for holding the substrate,
A processing liquid nozzle for discharging a processing liquid for processing the substrate,
A processing liquid pipe connected to the processing liquid nozzle and supplying a processing liquid from a processing liquid supply unit to the processing liquid nozzle;
An opening and closing valve for opening and closing the processing liquid pipe;
A branch pipe branch-connected to the treatment liquid pipe at a branch position set on the downstream side or the upstream side of the on-off valve,
To switch between a state in which the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit to the processing liquid pipe is guided to a downstream portion of the processing liquid pipe downstream of the branch position and a state in which the processing liquid is guided to the branch pipe. Switching unit,
A control unit for controlling the switching valve and the switching unit ,
The switching unit includes a pressure loss changing unit that changes a pressure loss when the liquid flows through the downstream portion,
Wherein the control unit, the on-off valve in the held state to the open state, the processing liquid supplied to the process liquid pipe, by leading to the branch pipe from the branch position, the treatment liquid from the treatment liquid nozzle A non-discharging step of not discharging the liquid, and guiding the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion in a state where the open / close valve is kept in an open state, thereby forming the processing liquid nozzle. perform the treatment liquid ejection step of ejecting the processing liquid toward the substrate from,
In the non-discharge step, the control unit sets the pressure loss change unit to a large pressure loss state in which the pressure loss is relatively large, and in the processing liquid discharge step, sets the pressure loss change unit to a state in which the pressure loss is relatively large. Substrate processing equipment that makes a small pressure loss state as small as possible .
前記制御ユニットが、前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに実行し、  Prior to the non-ejection step, the control unit opens the opening / closing valve and guides the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion, thereby pre-dispensing the processing liquid from the processing liquid nozzle. Further performing a pre-dispensing step of discharging a processing liquid for
前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にし、かつ前記プリディスペンスステップおよび前記処理液吐出ステップにおいて、前記圧力損失変更ユニットをその圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にする、請求項1に記載の基板処理装置。  In the non-discharge step, the control unit sets the pressure loss change unit to a large pressure loss state where the pressure loss is relatively large, and in the pre-dispensing step and the processing liquid discharge step, the pressure loss change unit includes the pressure loss change unit. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pressure loss is set to a small pressure loss state where the pressure loss is relatively small.
前記圧力損失変更ユニットは、前記下流側部分の開度を調整するための開度調整バルブを含み、
前記開度調整バルブをその開度が相対的に低い低開度状態とすることにより前記大圧力損失状態を実現し、かつ前記開度調整バルブをその開度が相対的に高い高開度状態とすることにより前記小圧力損失状態を実現する、請求項1または2に記載の基板処理装置。
The pressure loss changing unit includes an opening adjustment valve for adjusting the opening of the downstream portion,
The large pressure loss state is realized by setting the opening degree control valve to a low opening state whose opening degree is relatively low, and the opening degree adjustment valve is set to a high opening state whose opening degree is relatively high. to realize the small pressure loss condition by a substrate processing apparatus according to claim 1 or 2.
前記下流側部分は、前記分岐位置よりも上下方向に高い高位置部分を一部に有する、請求項1〜のいずれか一項に記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3 , wherein the downstream portion includes a high position portion that is higher in the vertical direction than the branch position. 前記処理液供給ユニットは、処理液が循環する循環配管を含み、
前記処理液配管の上流端が前記循環配管に接続され、かつ前記分岐配管の下流端が前記循環配管に接続されている、請求項1〜のいずれか一項に記載の基板処理装置。
The processing liquid supply unit includes a circulation pipe through which the processing liquid circulates,
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4 , wherein an upstream end of the processing liquid pipe is connected to the circulation pipe, and a downstream end of the branch pipe is connected to the circulation pipe.
基板を保持するための基板保持ユニットと、
前記基板を処理するための処理液を吐出する処理液ノズルと、
前記処理液ノズルに接続され、処理液供給ユニットからの処理液を前記処理液ノズルに供給する処理液配管と、
前記処理液配管を開閉するための開閉バルブと、
前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置で前記処理液配管に分岐接続された分岐配管と、
前記処理液供給ユニットから前記処理液配管に供給された処理液を、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の下流側部分に導く状態と前記分岐配管に導く状態との間で切り換えるための切換えユニットと、
前記開閉バルブおよび前記切換えユニットを制御する制御ユニットとを含み、
前記切換えユニットは、前記分岐配管を開閉するための分岐配管バルブを含み、
前記制御ユニットが、前記開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記分岐位置から前記分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを実行し、
前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを開き、かつ前記処理液吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを閉じる、基板処理装置。
A substrate holding unit for holding the substrate,
A processing liquid nozzle for discharging a processing liquid for processing the substrate,
A processing liquid pipe connected to the processing liquid nozzle and supplying a processing liquid from a processing liquid supply unit to the processing liquid nozzle;
An opening and closing valve for opening and closing the processing liquid pipe;
A branch pipe branch-connected to the treatment liquid pipe at a branch position set on the downstream side or the upstream side of the on-off valve,
To switch between a state in which the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit to the processing liquid pipe is guided to a downstream portion of the processing liquid pipe downstream of the branch position and a state in which the processing liquid is guided to the branch pipe. Switching unit,
A control unit for controlling the switching valve and the switching unit,
The switching unit includes a branch pipe valve for opening and closing the branch pipe,
The control unit guides the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the branch pipe while holding the open / close valve in an open state, thereby discharging the processing liquid from the processing liquid nozzle. The non-ejection step not to be performed, and in a state in which the open / close valve is kept in an open state, the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is guided from the branch position to the downstream portion, so that the processing liquid nozzle is Performing a processing liquid discharging step of discharging the processing liquid toward the substrate,
The control unit, the opening of the branch line valve in the non-ejection step, or One prior Symbol treatment liquid ejection step closing the branch line valve, board processor.
前記制御ユニットが、前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに実行し、  Prior to the non-ejection step, the control unit opens the opening / closing valve and guides the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion, thereby pre-dispensing the processing liquid from the processing liquid nozzle. Further performing a pre-dispensing step of discharging a processing liquid for
前記制御ユニットは、前記非吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを開き、かつ前記プリディスペンスステップおよび前記処理液吐出ステップにおいて前記分岐配管バルブを閉じる、請求項6に記載の基板処理装置。  The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein the control unit opens the branch pipe valve in the non-discharge step and closes the branch pipe valve in the pre-dispensing step and the processing liquid discharge step.
前記下流側部分は、前記分岐位置よりも上下方向に高い高位置部分を一部に有する、請求項6または7に記載の基板処理装置。  8. The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein the downstream portion includes a high position portion that is higher in the vertical direction than the branch position. 9. 前記処理液供給ユニットは、処理液が循環する循環配管を含み、  The processing liquid supply unit includes a circulation pipe through which the processing liquid circulates,
前記処理液配管の上流端が前記循環配管に接続され、かつ前記分岐配管の下流端が前記循環配管に接続されている、請求項6〜8のいずれか一項に記載の基板処理装置。  The substrate processing apparatus according to any one of claims 6 to 8, wherein an upstream end of the processing liquid pipe is connected to the circulation pipe, and a downstream end of the branch pipe is connected to the circulation pipe.
処理液ノズルから基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出方法であって、
前記処理液ノズルに処理液を供給する処理液配管を開閉するための開閉バルブを開状態に保持した状態で、前記処理液配管に供給される処理液を、前記開閉バルブの下流側または上流側に設定された分岐位置から、当該分岐位置において前記処理液配管に分岐接続された分岐配管に導くことにより、前記処理液ノズルから処理液を吐出させない非吐出ステップと、
前記開閉バルブを開状態に保持したままの状態で、前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から、前記処理液配管における前記分岐位置よりも下流側の下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルから前記基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出ステップとを含み、
前記非吐出ステップが、前記下流側部分を液体が流通する際の圧力損失を変更する圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に大きい大圧力損失状態にするステップを含み、
前記非吐出ステップが、前記圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にするステップを含む、処理液吐出方法。
A processing liquid discharging method for discharging a processing liquid from a processing liquid nozzle toward a substrate,
In the open condition form which holds the closed valve to an open state for opening and closing the processing liquid piping for supplying the treatment liquid to the treatment liquid nozzle, the processing liquid supplied to the process liquid pipe, downstream of the on-off valve A non-discharge step in which the processing liquid is not discharged from the processing liquid nozzle by guiding the liquid from the processing liquid nozzle to the processing liquid piping at the branch position from the branch position set on the side or the upstream side .
In a state where the open / close valve is kept in the open state, the processing liquid supplied to the processing liquid pipe is guided from the branch position to a downstream portion of the processing liquid pipe downstream of the branch position. , look containing a treatment liquid ejection step of ejecting the processing liquid toward the substrate from the treatment liquid nozzle,
The non-discharge step includes a step of changing the pressure loss changing unit that changes the pressure loss when the liquid flows through the downstream portion into a large pressure loss state in which the pressure loss is relatively large,
The non-ejection step, the pressure loss changes, steps a including to relatively small low pressure loss state the pressure loss, the treatment liquid ejection method.
前記非吐出ステップに先立って、前記開閉バルブを開きかつ前記処理液配管に供給される処理液を前記分岐位置から前記下流側部分に導くことにより、前記処理液ノズルからプリディスペンスのために処理液を吐出するプリディスペンスステップを、さらに含み、  Prior to the non-ejection step, the processing liquid is opened from the processing liquid nozzle for pre-dispensing by opening the open / close valve and guiding the processing liquid supplied to the processing liquid pipe from the branch position to the downstream portion. Further comprising a pre-dispensing step of discharging
前記プリディスペンスステップが、前記圧力損失変更ユニットを、その圧力損失が相対的に小さい小圧力損失状態にするステップを含む、請求項10に記載の処理液吐出方法。  The method according to claim 10, wherein the pre-dispensing step includes a step of setting the pressure loss changing unit to a small pressure loss state in which the pressure loss is relatively small.
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