JP6615925B2 - 可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール - Google Patents

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Description

本発明は、表示器の関連技術分野に係り、特に、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールに関するものである。
表示器技術開発の高度化に伴って、薄膜トランジスタ液晶表示器(Thin film transistor liquidcrystal display,TFT−LCD)は、既に伝統的な陰極線管(Cathode ray tube,CRT)表示器を完全に代替するに至った。
図1は、従来技術のTFT−LCD表示モジュールを示す模式的側面断面図である。図1に示すように、TFT−LCD表示モジュール1aは、バックライトユニット11aと、下偏光フィルム12aと、下ガラス基板13aと、複数個の光学バルブ(optical valves)14aと、液晶層15aと、透明電極16aと、カラーフィルター17aと、上ガラス基板18aと、上偏光フィルム19aとを備える。そのうち、前記光学バルブ14aは、すなわち、薄膜トランジスタであり、かつカラーフィルター17aは、赤色光変換部と、緑色光変換部と、青色光変換部とを有する。
説明に値するのは、薄膜トランジスタの製造工程技術の進歩に伴って、TFT−LCD表示モジュール1aの画素密度も著しく向上されている点である。残念なことに、液晶層15aの非自己発光(self−luminous)材料が原因で、TFT−LCD表示モジュール1aで映像を表示させる場合、光学バルブ14aを用いて液晶層15aの液晶配列方向を制御するほか、また同時にバックライトユニット11aにより白色光を提供すると共に、赤色光変換材料と、緑色光変換材料と、青色光変換材料とを用いて、白色光を赤色光と、緑色光と、青色光とに変換して色光を構成する必要がある。
TFT−LCD表示モジュール1aの開発と製造を熟知するエンジニアであれば、液晶層15aの透過率は、TFT−LCD表示モジュール1aの光電効率の低下、輝度の不足とダイナミックコントラストの悪さの要因となっていることが理解されるはずである。一方、バックライトユニット11aは、通常、複数個の白色光LED素子と、導光板とを有し、そのうち、白色光LED素子が提供可能な色の彩度は、いまだに三原色LED素子に敵わないため、TFT−LCD表示モジュール1aで表現可能な最適色域のNTSC比さえも72%に留まっている。
近年、エネルギー節約、広色域(〜NTSC比140%)、高輝度や高ダイナミックコントラストなどの利点を有するため、LED表示モジュールで作製される各種類のLED表示器が広汎に応用されている。
図2は、現有のLED表示モジュールを示す分解斜視図である。図2に示すように、LED表示モジュール1’は、ガラス基板11’と、粘着剤層12’と、複数の赤色光LED素子14R’、複数の緑色光LED素子14G’及び複数の青色光LED素子14B’から構成されたLED行列と、複数の縦方向導線16C’を載置する第1導線基板15’と、複数の横方向導線16R’を載置する第2導線基板15b’とを備える。LED表示モジュール1’の中に、1粒の赤色光LED素子14R’と、1粒の緑色光LED素子14G’と、1粒の青色光LED素子14B’とで共同に1個の画素(pixel)を示す。このことから、解像度Full HD(1920×1080)でサイズ5.5インチ(12.2cm×6.8cm)のLED表示モジュール1’について言えば、各画素サイズ(pixel size)は、約63μm×63μmであると推論される。
長期にわたってLED素子の開発と製造に関わるエンジニアが熟知するように、GaNまたはInGaNは、LED素子の主要発光材料であり、そのうち、GaN自身は、欠陥密度が高すぎる問題を有すると同時に、GaNとサファイア(Al)基板との間にもまた格子不整合の問題を有する。
GaNとサファイア基板との間に、AlNから作製された格子整合層(緩衝層とも呼ばれる)を挿入することで、前記格子不整合の問題を解決することができるものの、AlNから作製された格子整合層自身に起因する欠陥もかえって同時に、異なるLED素子の間の発光品質にばらつきを引き起こしてしまう問題がある。
図2を継続的に参照すると共に、LED表示モジュールとその制御回路を示す構成図である図3を同時に参照する。前記LED表示モジュール1’の中の各LED素子(14R’, 14G’ ,14B’)は、通常、行駆動ユニット2R’と、列駆動ユニット2C’と、信号制御と処理ユニット20’と、画素補正ユニット2PC’とを含む表示制御回路2’により制御される。
注意に値することは、各画素の光色は、赤色光LED素子14R’から発する赤色光と、緑色光LED素子14G’から発する緑色光と、青色光LED素子14B’から発する青色光とにより決定される点である。このため、異なるLED素子の間は、製造工程の誤差に基づく発光品質のばらつき問題が現われ、現有のLED表示モジュール1’の表示制御回路2’は、通常、画素補正ユニット2PC’を搭載することによって、各画素内の赤色光LED素子14R’と、緑色光LED素子14G’と、青色光LED素子14B’とに対して輝度均一性補償と白色光色度の校正を行う。このような補償方式は、「デッドピクセルの修復」とも呼ばれる。しかしながら、仮に後端の画素補正ユニット2PC’でも、依然として完璧に特定の画素内の赤色光LED素子14R’と、緑色光LED素子14G’と、青色光LED素子14B’とに対して輝度均一性補償を行うことができないと、前記特定の画素は、欠陥画素(defective pixel)と見なされる。現在のIBM製のノート型コンピュータ製品のドット落ちの最大許容数を、下記の表1にまとめて示す。
Figure 0006615925
上記説明から分かるように、如何にしてLED表示モジュール1’の欠陥画素の数を効果的に減少させるかが、各社の表示器メーカーの主要な課題となっている。これに鑑みて、本願の発明者は、極力研究考案した結果、遂に本発明に係る可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールを研究開発して完成させた。
従来技術のLED表示モジュールは、1粒の赤色光LED素子と、1粒の緑色光LED素子と、1粒の青色光LED素子とから単一の画素を構成する。このため、従来技術のLED表示モジュールには、常にLED素子の主要発光材料(GaN)または格子整合層(AlN)に由來する欠陥密度が高すぎるため、出荷時、一定数の欠陥画素(defective pixel)が付き物である。
上記した本発明の主要な目的を達成するために、本願の発明者は、前記可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの一実施例を提供する。
かかる可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールは、薄金属からなる可撓性基板と、前記可撓性基板の上に被覆され、または前記可撓性基板を包囲する基板保護層と、前記基板保護層の上に形成される格子整合層と、前記格子整合層の上に形成される複数個の発光構造と、前記複数個の発光構造の上に設けられる透明導電基板と、前記透明導電基板の上に設けられる光色変換層とを備え、前記複数個の発光構造は、アレーに構成するように配列され、なおかつ、各発光構造は、前記格子整合層の上に形成される第1半導体材料層と、前記第1半導体材料層の上に形成される活性層と、前記活性層の上に形成される第2半導体材料層と、前記第1半導体材料層に電気的に接続される第1電極と、前記第2半導体材料層に電気的に接続される第2電極とを有し、透明導電基板は、また複数本の第1導線と、複数本の第2導線とを有し、そのうち、第1導線は、前記第1電極に電気的に接続され、かつ第2導線は、前記第2電極に電気的に接続され、光色変換層は、また複数個の赤色光変換ユニットと、複数個の緑色光変換ユニットと、複数個の青色光変換ユニットとを有し、そのうち、各個の赤色光変換ユニットと、各個の緑色光変換ユニットと、各個の青色光変換ユニットとは、いずれも前記透明導電基板を隔てて多数個の発光構造をカバーする。
これに鑑みて、本発明の主要な目的は、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールを提出することにあり、それは、可撓性基板と、基板保護層と、格子整合層と、複数個の発光構造と、透明導電基板と、光色変換層とから構成される。
本発明は、特別に前記光色変換層に、複数個の赤色光変換ユニットと、複数個の緑色光変換ユニットと、複数個の青色光変換ユニットとを有させると共に、単一の赤色光変換ユニットと、単一の緑色光変換ユニットと、単一の青色光変換ユニットと、多数個の発光構造とから単一の画素を構成する。このように設計すれば、例え多数個の発光構造には、いくつかの正常に発光できない発光構造を含んでも依然として画素補正回路を利用して、その他の正常な発光構造に対して輝度均一性の調整を行うことができるので、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの欠陥画素を規定に合致させることができる。
従来技術のTFT−LCD表示モジュールを示す模式的側面断面図である。 現有のLED表示モジュールを示す分解斜視図である。 LED表示モジュールとその制御回路を示す構成図である。 本発明に係る可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの第1実施例を示す模式的斜視図である。 光色変換層と複数個の発光構造を示す上面図である。 光色変換層、透明導電基板と複数個の発光構造を示す側面断面図である。 可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールとその制御回路を示す構成図である。 光色変換層と複数個の発光構造を示す上面図である。 発光構造を示す側面断面図である。 本発明の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの第2実施例を示す模式的斜視図である。
本発明が提出した可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールをより明瞭に記述するために、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施例を以下に詳述する。
本発明に係る可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの第1実施例を示す模式的斜視図である図4を参照する。図4に示すように、本発明の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール1は、表示器筐体、関連駆動回路とマンマシンインタフェースに合わせて各種類のLED表示器が作製されると共に、基礎的な構成には、可撓性基板10と、基板保護層11と、格子整合層12と、複数個の発光構造13と、透明導電基板14と、光色変換層15とを備える。
本発明において、可撓性基板10は、厚さは20μm〜500μmの間の範囲にある薄金属基板であってもよく、かつ前記薄金属基板の製造工程材料は、ステンレス鋼、銅、金、ニッケル、モリブデン、チタン、タングステンのうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであってもよい。なおかつ、基板保護層11は、前記可撓性基板10の上に被覆され、かつその厚さは50nm〜1000nmの間の範囲にある。あるいは、製造工程上にも基板保護層11が可撓性基板10の全体を包囲するようにさせることができる。こうして、発光構造13の多層の半導エピタキシャル層を製造する時、基板保護層11の阻害により可撓性基板10がエピタキシャル材料の汚染を受けるのを効果的に回避することができる。ここで、前記基板保護層11の製造材料は、二酸化ケイ素(SiO)、二酸化チタン(TiO)、酸化ニッケル(NiO)、酸化アルミニウム(Al)、酸化亜鉛(ZnO)、窒化物、ハロゲン化物、ケイ素基化合物のうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであってもよい。
注意に値することは、基板保護層11は、可撓性基板10と格子整合層12との間に位置し、かつ格子整合層12は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)、アンドープの窒化ガリウム(undoped GaN)、または酸化亜鉛(ZnO)のような特定の結晶方位を有する単結晶材料から作製される点である。
二酸化ケイ素と窒化アルミニウムをそれぞれ基板保護層11と格子整合層12の模範的な材料とし、そのうち、窒化アルミニウムが六方晶系ウルツ鉱構造であり、a=0.311nm、c=0.498nmの格子定数を有する一方、β−クリストバライト晶系の二酸化ケイ素(β−Cristobalite,SiO)では、a=0.499nmの格子定数を有する。このため、薄膜沈着の製造工程を熟知するエンジニアであれば、二酸化ケイ素を基板保護層11とすることで、可撓性基板10を保護することが達成されるほか、それがエピタキシャル気相物質の汚染を受けるのを回避することができる以外、同時に窒化アルミニウム膜(すなわち、格子整合層12)をc軸配列方向に沿って前記基板保護層11の上に形成させることができることが推知される。補足説明として、基板保護層11と格子整合層12とすることができるその他の材料を、下記の表2と表3にまとめて示す。
Figure 0006615925
Figure 0006615925
補足説明すべき点は、格子整合層12の製造材料としては、格子定数がGaNの整数倍に近似する単結晶材料も選択されうる点である。例えば、II−VI族半導体化合物の硫化亜鉛(ZnS)は格子定数a=0.623nmであり、II−VI族半導体化合物のセレン化亜鉛(ZnSe)では格子定数a=0.653nmである。一方、発光構造13の第1半導体材料層131、活性層132と第2半導体材料層133の材料の選択は、発光色の違いによって異なる。
伝統的に、GaP、GaAsP及びAlGaAsを発光構造13の活性層132の主要材料とすることで、発光構造13から波長範囲が580nm〜740nmの間にある可視光を発させることができる。しかしながら、有機金属化学気相沈着(metal−organicchemical vapor deposition,MOCVD)の製造工程技術の進歩に伴って、窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)、または窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)も活性層132の主要材料となりつつある。本発明において、主にGaNを発光構造13の中の活性層132とすることで、前記発光構造13から青色光を発させることができる。
LEDダイ(die)の設計と製造を熟知するデバイスエンジニアであれば、GaNから作製された活性層132は、第1半導体材料層131と第2半導体材料層133とに単一の量子井戸構造が形成されることが分かるはずである。そのうち、前記第1半導体材料層131の製造材料は、N型窒化ガリウム(n−type gallium nitride,n−GaN)であり、例えば、ケイ素(Si)ドープの窒化ガリウムが挙げられる。加えて、前記第2半導体材料層133の製造材料は、P型窒化ガリウム(p−type gallium nitride,p−GaN)であり、例えば、マグネシウム(Mg)ドープの窒化ガリウムが挙げられる。しかしながら、電子と正孔の活性層132内における再結合率を向上させるために、活性層132をさらに1つの多重量子井戸構造として設計してもよい。そのうち、前記多重量子井戸構造は、窒化ガリウム(GaN)と窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)との多重積層構造、窒化ガリウム(GaN)と窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)との多重積層構造、または窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)と窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)との多重積層構造のうちのいずれか1種であってもよい。
図4を継続的に参照する。第1電極134は、前記第1半導体材料層131に電気的に接続され、かつ前記第2電極135は、前記第2半導体材料層133の上に形成される。
そのうち、第1電極134と第2電極135の製造材料は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、金(Au)、銅(Cu)、クロム(Cr)、白金(Pt)のうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであってもよい。例えば、第1電極134と第2電極135は、ニッケル−金複合構造またはチタン−アルミニウム複合構造であってもよい。
図4に示すように、複数個の発光構造13が並んで配列されてなるLEDアレイは、格子整合層12の上に形成され、かつ透明導電基板14と光色変換層15は、順次に前記LEDアレイの上に設けられる。そのうち、透明導電基板14は、複数本の第1導線141と、複数本の第2導線142とを有し、なおかつ、第1導線141は、前記第1電極134に電気的に接続され、かつ第2導線142は、前記第2電極135に電気的に接続される。
本発明の最も主要な技術的特徴は、前記光色変換層15に、複数個の赤色光変換ユニット15Rと、複数個の緑色光変換ユニット15Gと、複数個の青色光変換ユニット15Bとを有させると同時に、各個の赤色光変換ユニット15Rと、各個の緑色光変換ユニット15Gと、各個の青色光変換ユニット15Bとを、いずれも多数個の発光構造13に対応させる。
光色変換層と複数個の発光構造を示す上面図である図5を参照すると共に、光色変換層、透明導電基板と複数個の発光構造を示す側面断面図である図6を同時に参照する。本発明の設計によれば、単一の赤色光変換ユニット15Rは、多数個の発光構造13から発する青色光を赤色光に変換するためのものであり(例えば、図6参照)、単一の緑色光変換ユニット15Gは、多数個の発光構造13から発する青色光を緑色光に変換するためのものであり、かつ単一の青色光変換ユニット15Bは、多数個の発光構造13から発する青色光を特定の波長を有する青色光に変換するためのものである。言い換えると、解像度Full HD(1920×1080)でサイズ5.5インチ(12.2cm×6.8cm)の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール1について言えば、1個の赤色光変換ユニット15Rと、1個の緑色光変換ユニット15Gと、1個の青色光変換ユニット15Bとから構成された単一の画素サイズ(pixel size)は、約63μm×63μmである。なおかつ、各個の色光変換ユニットの下面に多数個の発光構造13が対応づけられている。
図4、図5と図6を継続的に参照すると共に、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールとその制御回路を示す構成図である図7を同時に参照する。前記可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール1の中の各発光構造13は、行駆動ユニット2Rと、列駆動ユニット2Cと、信号制御と処理ユニット20と、画素補正ユニット2PCとを含む表示制御回路2により制御される。
図8は、光色変換層と複数個の発光構造を示す上面図である。図8から見出されるように、輝度対電流の実験方法により得られた輝度―電流―電圧特性曲線(L−I−V curve)によれば、赤色光変換ユニット15Rの下方の多数個の発光構造13には、2個の不良ダイが含まれることが発見される。なおかつ、緑色光変換ユニット15Gと青色光変換ユニット15Bの下方の多数個の発光構造13にも同様に、2個の不良ダイが含まれる。この場合、依然として画素補正ユニット2PCを利用して、信号制御と処理ユニット20を介してその他の正常な発光構造13に対して輝度均一性補償を行うことで、各画素から発する色光の平均輝度をなるべく同程度にすることができる。
簡単に言えば、単一の赤色光LED素子14R’と、単一の緑色光LED素子14G’と、単一の青色光LED素子14B’とから単一の画素を構成する従来技術と異なり(図2参照)、本発明は、単一の赤色光変換ユニット15Rと、単一の緑色光変換ユニット15Gと、単一の青色光変換ユニット15Bと、複数個の発光構造13とから単一の画素を構成する。なおかつ、本発明の特殊な設計によれば、例え前記複数個の発光構造13の中に、多数個の異常なLEDダイを含んでも、その他の正常な発光構造13は、依然として青色光を発することができると共に、赤色光変換ユニット15Rと、緑色光変換ユニット15Gと、青色光変換ユニット15Bとにより赤色光と、緑色光と、青色光とに変換してから、前記画素を代表する色光を発する。
発光構造を示す側面断面図である図9を継続的に参照する。図9に示すように、各発光構造13のアウトカップリング効率(outcoupling efficiency)を向上させるために、製造工程上では、第1電極134と第1半導体材料層131との間に第1透明導電基層134aを設置すると同時に、第2電極135と第2半導体材料層133との間に第2透明導電基層135aを設置することができる。なおかつ、製造工程上について言えば、第1透明導電基層134aと第2透明導電基層135aは、酸化インジウムスズ(Indium tin oxide,ITO)薄膜、酸化亜鉛(ZnO)薄膜、ニッケル−金複合薄膜であってもよい。
一方、本発明は、複数個の光色変換粒子をコロイド封止層の中にドープする方法によりいわゆる光色変換層15を作製する。考えれば分かる通り、前記複数個の光色変換粒子は、コロイド封止層の中に前記複数個の赤色光変換ユニット15Rと、前記複数個の緑色光変換ユニット15Gと、前記複数個の青色光変換ユニット15Bとを構成する。特に、当該光色変換粒子は、蛍光粉あるいは量子ドットであってもよく、かつその常用の製造工程材料を、下記の表4と表5にまとめて示す。
Figure 0006615925
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次に、本発明の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの第2実施例を示す模式的斜視図である図10を参照する。図4と図10を比較して分かるように、マイクロレンズアレイ19を前述の第1実施例の構造中に付設すれば、前記可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの第2実施例を得ることができる。図10に示すように、前記マイクロレンズアレイ19は、前記光色変換層15の上に設置される。
以上のように、本発明の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールを十分かつ明瞭に説明してきた。上記によれば、本発明は、下記の利点を有することが分かる。
(1)従来技術のLED表示モジュール1’(図2参照)は、1粒の赤色光LED素子14R’と、1粒の緑色光LED素子14G’と、1粒の青色光LED素子14B’とから単一の画素を構成することから、従来技術のLED表示モジュール1’には、常にLED素子の主要発光材料(GaN)または格子整合層(AlN)に由來する欠陥密度が高すぎるため、出荷時、一定数の欠陥画素(defective pixel)が付き物である。
この点に鑑みて、本発明は、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールを提出し、それは、可撓性基板10と、基板保護層11と、格子整合層12と、複数個の発光構造13と、透明導電基板14と、光色変換層15とから構成される。本発明は、特別に光色変換層15に、複数個の赤色光変換ユニット15Rと、複数個の緑色光変換ユニット15Gと、複数個の青色光変換ユニット15Bとを有させると共に、単一の赤色光変換ユニット15Rと、単一の緑色光変換ユニット15Gと、単一の青色光変換ユニット15Bと、多数個の発光構造13とから単一の画素を構成する。このように設計すれば、例え多数個の発光構造13には、いくつかの正常に発光できない発光構造13を含んでも依然として画素補正回路2PCを利用して、その他の正常な発光構造13に対して輝度均一性の調整を行うことができるので、可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールの欠陥画素を規定に合致させることができる。
強調すべき点は、上記の詳細な説明は、本発明の実施可能な実施例を具体的に説明したものであり、本発明の権利範囲はこれらの実施例に限定されるものではなく、本発明の技術的精神を逸脱しない限り、その等効果実施または変更は、なお、本願の特許請求の範囲内に含まれる点である。
<本発明>
1 可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール
10 可撓性基板
11 基板保護層
12 格子整合層
13 発光構造
14 透明導電基板
15 光色変換層
131 第1半導体材料層
132 活性層
133 第2半導体材料層
134 第1電極
135 第2電極
141 第1導線
142 第2導線
15R 赤色光変換ユニット
15G 緑色光変換ユニット
15B 青色光変換ユニット
134a 第1透明導電基層
135a 第2透明導電基層
19 マイクロレンズアレイ
2 表示制御回路
2R 行駆動ユニット
2C 列駆動ユニット
20 信号制御と処理ユニット
2PC 画素補正ユニット
<従来技術>
1a TFT−LCD表示モジュール
11a バックライトユニット
12a 下偏光フィルム
13a 下ガラス基板
14a 光学バルブ
15a 液晶層
16a 透明電極
17a カラーフィルター
18a 上ガラス基板
19a 上偏光フィルム
1’ LED表示モジュール
11’ ガラス基板
12’ 粘着剤層
14R’ 赤色光LED素子
14G’ 緑色光LED素子
14B’ 青色光LED素子
15’ 第1導線基板
16C’ 縦方向導線
15b’ 第2導線基板
16R’ 横方向導線
2’ 表示制御回路
2R’ 行駆動ユニット
2C’ 列駆動ユニット
20’ 信号制御と処理ユニット
2PC’ 画素補正ユニット

Claims (14)

  1. 薄金属からなる可撓性基板と、前記可撓性基板の上に被覆され、または前記可撓性基板を包囲する基板保護層と、前記基板保護層の上に形成される格子整合層と、前記格子整合層の上に形成される複数個の発光構造と、前記複数個の発光構造の上に設けられる透明導電基板と、前記透明導電基板の上に設けられる光色変換層とを備える可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュールであって、
    前記複数個の発光構造は、アレーに構成するように配列され、なおかつ、各当該発光構造は、前記格子整合層の上に形成される第1半導体材料層と、前記第1半導体材料層の上に形成される活性層と、前記活性層の上に形成される第2半導体材料層と、前記第1半導体材料層に電気的に接続される第1電極と、前記第2半導体材料層に電気的に接続される第2電極とを有し、
    前記透明導電基板は、複数本の第1導線と、複数本の第2導線とを有し、当該第1導線は、前記第1電極に電気的に接続され、かつ当該第2導線は、前記第2電極に電気的に接続され、
    前記光色変換層は、複数個の赤色光変換ユニットと、複数個の緑色光変換ユニットと、複数個の青色光変換ユニットとを有し、各個の当該赤色光変換ユニットと、各個の当該緑色光変換ユニットと、各個の当該青色光変換ユニットとは、前記透明導電基板を隔てて多数個の当該発光構造をカバーすることを特徴とする、
    可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  2. 前記薄金属の製造材料は、ステンレス鋼、銅、金、ニッケル、モリブデン、チタン、タングステンのうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  3. 前記格子整合層の製造材料は、窒化アルミニウム(AlN)、アンドープの窒化ガリウム(undoped GaN)、または酸化亜鉛(ZnO)のうちのいずれか1種であることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  4. 前記基板保護層の製造材料は、二酸化ケイ素(SiO)、二酸化チタン(TiO)、酸化ニッケル(NiO)、酸化アルミニウム(Al)、酸化亜鉛(ZnO)、窒化物、ハロゲン化物、ケイ素基化合物のうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  5. 前記第1半導体材料層の製造材料は、N型窒化ガリウム(n−type gallium nitride,n−GaN)であり、かつ前記第2半導体材料層の製造材料は、P型窒化ガリウム(p−type gallium nitride,p−GaN)であることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  6. 前記活性層は、前記第1半導体材料層と前記第2半導体材料層とに単一の量子井戸構造が形成され、かつ前記活性層の製造材料は、窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)、または窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)のうちのいずれか1種であることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  7. 前記活性層は、前記第1半導体材料層と前記第2半導体材料層とに1つの多重量子井戸構造が形成され、かつ前記多重量子井戸構造は、窒化ガリウムと窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)との多重積層構造、窒化ガリウムと窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)との多重積層構造、または窒化アルミニウムガリウム(AlGa1−xN)と窒化インジウムガリウム(InGa1−xN)との多重積層構造のうちのいずれか1種であることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  8. 前記第1電極と前記第2電極の製造材料は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、金(Au)、銅(Cu)、クロム(Cr)、白金(Pt)のうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  9. 前記可撓性基板の厚さは20μm〜500μmの間の範囲にあり、かつ前記基板保護層の厚さは50nm〜1000nmの間の範囲にあることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  10. 前記第1電極と前記第1半導体材料層との間に形成される第1透明導電基層と、前記第2電極と前記第2半導体材料層との間に形成される第2透明導電基層とをさらに備えることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  11. 前記光色変換層は、コロイド封止層であり、かつ複数個の光色変換粒子は、前記コロイド封止層の中にドープされることにより、前記複数個の赤色光変換ユニットと、前記複数個の緑色光変換ユニットと、前記複数個の青色光変換ユニットとを構成することを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  12. 前記光色変換層の上に設置されるマイクロレンズアレイをさらに備えることを特徴とする、請求項1に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  13. 当該光色変換粒子は、ケイ酸塩類蛍光粉、アルミニウム酸塩類蛍光粉、リン酸塩類蛍光粉、硫化物蛍光粉、窒化物蛍光粉、または窒素酸化物蛍光粉のうちのいずれか1種であることを特徴とする、請求項11に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
  14. 当該光色変換粒子は、量子ドットであり、かつ前記量子ドットは、II−VI族複合物、III−V族複合物、シェル−コア構造を有するII−VI族複合物、シェル−コア構造を有するIII−V族複合物、合金構造を有する非球形のII−VI量子ドットのうちのいずれか1種、またはそれらの2種の組み合わせ、あるいはそれらの2種以上の組み合わせであることを特徴とする、請求項11に記載の可撓性マイクロ発光ダイオード表示モジュール。
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