JP6606616B2 - サンプル前処理システム及びその制御方法 - Google Patents
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Description
例えば,次のようにエラーコード(error code)を設定することができる。
移動部124が最大に押される位置に到達するまで正常ドロップ数が完全にカウントされていない場合,エラーとして認識する。この場合,正常ドロップ数に達していないものと判断する。
エラー発生の原因は,次のとおりである。
−サンプル容量が少ない場合
−カウントセンサー600の誤作動
−サンプル前処理モジュール100からサンプルが漏れた場合
貫通膜116を突き抜く動作の位置で5以上のドロップ数が感知されると,エラーとして認識する。前記位置は,縁部加圧部220の下端を基準に位置を座標化して設定する。この場合,正常ドロップ数を超えるものと判断する。
エラー発生の原因は,次のとおりである。
−移動部124を押す前に,貫通部146が貫通膜116を突き抜くタイミングでサンプルが過度に出る
−サンプル前処理モジュール100の不良
正常的にドロップする時間よりも短い時間内にドロップ数が全てカウントされると,エラーとして認識する。たとえば,5ドロップ数を測定する場合,10秒以内に5ドロップが全てカウントされると,エラーとして認識するように設定することにより,正常よりも速くドロップする現象を感知することができる。この場合,正常ドロップ数を超えるものと判断する。
エラー発生の原因は,次のとおりである。
−移動部124を押す前に,貫通部146が貫通膜116を突き抜くタイミングでサンプルが過度に出る
−サンプル前処理モジュール100の不良
正常動作後,移動部加圧部230が初期位置に上がるときにドロップが感知されると,エラーとして判断する。この場合,正常ドロップ数を超えるものと判断する。
エラー発生の原因は,次のとおりである。
−正常動作後,排出チップ140に結ばれていたドロップがさらに滴下する場合
インキュベーション(incubation)時間が終わって動作し始めたときから正常ドロップが完了した時間内にドロップ数が正常ドロップ数に達していない場合,エラーとして認識する。ここで,正常ドロップが完全に完了したと予想される十分な時間を基準時間として設定して,エラーか否かを判断する。例えば,正常動作時間が約1分30秒である場合,設定時間は3分とする。この場合,正常ドロップ数に達していないものと判断する。
エラー発生の原因は,次のとおりである。
−サンプル容量が少ない場合
−カウントセンサー600の誤作動
−サンプル前処理モジュール100からサンプルが漏れた場合
(1)ドッティング部材(dotting substrate)に5μLの金粒子をドッティングし,乾燥させる。
(2)(1)のドッティング部材(dotting substrate)をモジュールに挿入する。
(3)ピペット(Reference 2,エッペンドルフ(eppendorf))を用いて70μLの血漿を取り,(2)のモジュールに注入する。
(4)(3)のモジュールを前処理システム機器に挿入する。
(5)(4)のモジュールを前処理システム機器で5分間37℃で加熱する。
(6)(5)が行われている間,磁気攪拌方式で金粒子(gold particle)と血漿とを30秒間混合する。
(7)加熱が終わった(6)の溶液を3滴定量吐出させる。
(8)3滴吐出を確認した後,電子はかり(ME204,METTLER TOLEDO)で容量を測定する。
Claims (17)
- サンプル前処理モジュールが装填されるモジュールホルダーが備えられるホルダー出し入れ部と,
前記サンプル前処理モジュールのチャンバーに収容されたサンプルが排出されて装填(loading)されるカートリッジが収納されるカートリッジ収納部と,
前記サンプル前処理モジュール内に備えられた永久磁石を回転させるように磁力を生成する磁力生成部と,
前記サンプル前処理モジュールの貫通膜を貫通させ,キャップの移動部を加圧して前記サンプルを排出させる貫通及び排出実行部とを含む,サンプル前処理システム。 - 前記モジュールホルダーは,
前記モジュールホルダーの外側を取り囲むように備えられ,前記サンプル前処理モジュールを加熱するモジュールヒーターを含む,請求項1記載のサンプル前処理システム。 - 前記貫通及び排出実行部は,
前記サンプル前処理モジュールのキャップ縁部を加圧して前記サンプル前処理モジュール内部の貫通膜を突き抜く縁部加圧部と,
前記移動部を加圧して前記サンプルを排出させる移動部加圧部とを含む請求項1記載のサンプル前処理システム。 - 前記貫通及び排出実行部は,
前記縁部加圧部が連結される第1移動バーと,前記移動部加圧部に連結される第2移動バーと,前記第1移動バーと前記第2移動バーを駆動させる第1モーターとをさらに含み,
前記第1移動バーと前記第2移動バーは,前記第1モーターの駆動に応じて,互いに遠ざかる方向又は互いに近づく方向に同時に移動することを特徴とする請求項3記載のサンプル前処理システム。 - 前記貫通及び排出実行部は,
前記縁部加圧部の中央部に形成される通孔をさらに含み,
前記移動部加圧部は,前記通孔を通過して移動しながら前記移動部を加圧することを特徴とする請求項4記載のサンプル前処理システム。 - 前記磁力生成部は,
前記モジュールホルダーの一側に回転可能に設置されるボルテックス(vortexing)磁石と,
前記ボルテックス磁石を回転させる第2モーターとを含んでなる請求項1記載のサンプル前処理システム。 - 前記カートリッジ収納部は,
前記カートリッジが装填され,前記カートリッジを装填又は取り外すカートリッジホルダーと,
前記カートリッジホルダーを装填又は取り外し位置へ移動させるための駆動力を提供する第3モーターとを含む請求項1記載のサンプル前処理システム。 - 前記カートリッジ収納部は,装填された前記カートリッジを加熱するカートリッジヒーターをさらに含み,
前記カートリッジヒーターは,前記カートリッジの装填又は取り外しに応じて上昇又は下降することを特徴とする請求項7記載のサンプル前処理システム。 - 前記カートリッジヒーターの少なくとも一部を取り囲み,前記カートリッジに密着するヒーター連結部をさらに含み,
前記ヒーター連結部は,前記カートリッジの反応領域よりもさらに大きい面積を持つように備えられることを特徴とする請求項8記載のサンプル前処理システム。 - 前記カートリッジヒーターは,前記カートリッジ反応領域をカバーするヒーター連結部の領域を含む面積を持つように備えられることを特徴とする請求項9記載のサンプル前処理システム。
- 前記ヒーター連結部は,前記カートリッジ反応領域に密着するように平らな形状からなることを特徴とする請求項9記載のサンプル前処理システム。
- 前記カートリッジヒーターは,前記カートリッジと前記ヒーター連結部との接触面に相応するように平らな形状からなることを特徴とする請求項11記載のサンプル前処理システム。
- 前記ホルダー出し入れ部は,前記モジュールホルダーを移動し,前記モジュールホルダーに装填されたサンプル前処理モジュールを装填又は取り外す駆動力を提供する第4モーターをさらに含む請求項1記載サンプル前処理システム。
- 前記サンプルが排出されるドロップ(drop)回数を感知するカウントセンサーをさらに含む請求項1記載のサンプル前処理システム。
- カートリッジをカートリッジホルダーに装填させた後,カートリッジ収納部に装填する段階と,
チャンバー内にサンプルを収容したサンプル前処理モジュールをモジュールホルダーに安着させた後,装填する段階と,
前記モジュールホルダーの一側に位置したボルテックス磁石を回転させることにより,前記チャンバー内に備えられた永久磁石を回転させる段階と,
前記サンプル前処理モジュールのキャップ縁部を加圧して前記サンプル前処理モジュール内部の貫通膜を突き抜く段階と,
前記サンプル前処理モジュールのキャップの移動部を加圧して前記サンプルを排出させることにより,前記カートリッジにサンプルを装填する段階とを含んでなる,サンプル前処理システムの制御方法。 - 前記カートリッジを加熱して一定の温度に維持する段階をさらに含む請求項15記載のサンプル前処理システムの制御方法。
- 前記モジュールホルダーに装填されたサンプル前処理モジュールを加熱して一定の温度で一定の時間維持する段階をさらに含む請求項15記載のサンプル前処理システムの制御方法。
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