JP6601230B2 - 放射線撮影装置 - Google Patents

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この発明は、スリット状の放射線の照射野により撮影された複数の画像をつなぎ合わせることにより1枚の放射線画像を作成する、スロット撮影とも呼称される放射線撮影を実行する放射線撮影装置に関する。
このような放射線撮影装置としてのX線撮影装置は、被検者に向けて放射線を照射する放射線照射部としてのX線管と、このX線管から照射されたX線の照射領域を制限することによりスリット状のX線の照射野を形成する複数のコリメータリーフを備えたコリメータと、X線管とコリメータとを一体として被検者の体軸方向に移動させることによりスリット状のX線の照射野を被検者の体軸方向に移動させる照射野移動機構と、X線管から照射され被検者を通過したX線を検出するX線検出器と、スリット状のX線の照射野により撮影された複数の画像をつなぎ合わせることにより1枚のX線画像を作成する画像処理部と、を備えている(特許文献1参照)。
特開2015−100642号公報
例えば、被検者の骨密度の測定を行う場合には、撮影範囲の全域において高精細な画像を取得するために、上述したスロット撮影が実行される。このとき、腰椎と大腿骨の骨密度を測定する場合等においては、例えば、X線検出器として9インチのサイズを有するフラットパネルディテクタを使用し、スリット状のX線の照射野の幅の設定値を、例えば、25mmとして複数回のX線撮影を実行する。このような場合において、実際のスリット幅が設定値より小さかった場合には、撮影した画像間に隙間が生じることになり、正確な骨密度の測定が不可能となる。また、実際のスリット幅が設定値より大きかった場合には、被検者に対して不要な被曝が生じることになる。
従来、X線撮影時のスリット幅の調整を実行するときには、コリメータにおけるコリメータリーフ間の距離をスリット撮影の設定値となるように設定した上で、撮影対象物がない状態でX線撮影を実行し、そのときのフラットパネルディテクタによるX線の検出幅をオペレータが測定することにより、コリメータリーフ間の距離を補正していた。このときには、オペレータによりフラットパネルディテクタによるX線の検出幅を測定するという手作業が介在することから、その入力値に誤差が生じ、調整後のスリット幅に精度ムラが生じるという問題があった。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、コリメータリーフの位置を正確に調整し、スリット状の放射線の照射領域を精度よく設定することが可能な放射線撮影装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、被検者に向けて放射線を照射する放射線照射部と、前記放射線照射部から照射された放射線の照射領域を制限することによりスリット状の放射線の照射野を形成する複数のコリメータリーフを備えたコリメータと、前記放射線照射部と前記コリメータとを移動させることにより、前記スリット状の放射線の照射野を前記被検者の体軸方向に移動させる照射野移動機構と、前記放射線照射部から照射され前記被検者を通過した放射線を検出する放射線検出器と、前記スリット状の放射線の照射野により撮影された複数の画像をつなぎ合わせることにより、1枚の放射線画像を作成する画像処理部と、を備えた放射線撮影装置であって、前記コリメータにおけるコリメータリーフを、前記スリット状の放射線の照射野の幅を放射線撮影時の設定値とするための位置に移動させ、そのときの前記スリット状の放射線の照射野を前記放射線検出器により検出して所定画素値以上の領域を放射線の照射野と認定することにより、前記スリット状の放射線の照射野の幅を測定する照射野幅測定部と、前記照射野幅測定部により測定した前記スリット状の放射線の照射野の幅と、放射線撮影時の照射野の幅の設定値とを比較することにより、それらの差異を演算する比較部と、前記比較部により演算した前記スリット状の放射線の照射野の幅と照射野の幅の設定値との差異に基づいて前記コリメータリーフの位置を補正する位置補正部と、を備えたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記放射線照射部に高電圧が付与されたときの前記放射線検出器の検出画像と前記放射線検出器に低電圧が付与されたときの前記放射線検出器の検出画像とに対してサブトラクション処理を行うサブトラクション処理部と、前記サブトラクション処理部によるサブトラクション処理結果から、前記被検者の骨密度の測定を行う骨密度測定部と、をさらに備える。
請求項1に記載の発明によれば、照射野幅測定部により測定したスリット状の放射線の照射野の幅に基づいてコリメータリーフの位置を補正することから、スリット状の放射線の照射領域を精度よく設定することが可能となる。このため、不要な被曝を生ずることなく、正確に放射線撮影を実行することが可能となる。
請求項2に記載の発明によれば、スリット状の放射線の照射領域を精度よく設定することにより、サブトラクション処理を利用した骨密度測定を正確に実行することが可能となる。
この発明に係るX線透視撮影装置の斜視図である。 コリメータ12におけるコリメータリーフ40を模式的に示す斜視図である。 この発明に係るX線透視撮影装置の主要な制御系を示すブロック図である。 制御部80におけるサブトラクション処理部82を示すブロック図である。 X線撮影を実行するときのX線管11およびコリメータ12の移動動作を示す説明図である。 画像のつなぎ合わせ処理を模式的に示す説明図である。 スリット幅の調整時にフラットパネルディテクタ14により撮影されたX線画像を示す模式図である。 スリット幅の調整時にフラットパネルディテクタ14により検出された画素値を示すグラフである。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る放射線撮影装置としてのX線透視撮影装置の斜視図である。
このX線透視撮影装置は、被検者に対してX線撮影およびX線透視を実行可能なものであり、基台19上に立設された主支柱15と、この主支柱15に対して昇降可能に配設された保持部16と、この保持部16に回転可能に連結された天板13と、X線管11およびコリメータ12を支持する支柱17と、天板13の表面の下方におけるX線管11と対向する位置に配設されたX線検出器としてのフラットパネルディテクタ14とを備える。
保持部16は、Z方向に昇降可能となっている。また、天板13は、天板13の長手方向と直交し、かつ、水平方向を向く軸(図1に示すY方向を向く軸)を中心として回転可能となっている。また、支柱17とフラットパネルディテクタ14とは、天板13の長手方向に互いに独立し、あるいは、互いに同期して往復移動可能となっている。さらに、X線管11およびコリメータ12は、支柱17とともに、Z方向に昇降可能となっている。
図2は、上述したコリメータ12におけるコリメータリーフ40を模式的に示す斜視図である。
上述したコリメータ12は、4枚のコリメータリーフ40を備える。X線管11の焦点から照射されたX線は、その一部がこれら4枚のコリメータリーフ40により遮断されることにより、矩形状のX線照射野Rを形成する。後述するスロット撮影を実行するときには、これら4枚のコリメータリーフ40により、スリット状のX線の照射野が形成される。
図3は、この発明に係るX線透視撮影装置の主要な制御系を示すブロック図である。
このX線透視撮影装置は、装置全体を制御する制御部80を備える。この制御部80は、上述したX線管11、コリメータ12、フラットパネルディテクタ14と接続されている。また、この制御部80は、支柱17を介してX線管11およびコリメータ12をX方向に移動させるX線管移動部88と接続されている。さらに、この制御部80は、X線撮影画像やX線透視画像を表示するための液晶表示パネル等の表示部20とも接続されている。
また、この制御部80は、スロット撮影時に画像のつなぎ合わせ処理等の画像処理を実行する画像処理部81と、後述するサブトラクション処理を実行するサブトラクション処理部82と、後述する骨密度の測定を行う骨密度測定部83を備える。また、この制御部80は、スロット撮影時におけるスリット状のX線の照射野の幅を設定するためのスリット幅設定部84を備える。このスリット幅設定部84は、スリット状のX線の照射野の幅を測定する照射野幅測定部85と、照射野幅測定部85により測定したスリット状のX線の照射野の幅とX線の照射野の幅の設定値とを比較することによりそれらの差異を演算する比較部86と、比較部86により演算したスリット状のX線の照射野の幅と照射野の幅の設定値との差異に基づいてコリメータリーフ40の位置を補正する位置補正部87と、を備える。
図4は、制御部80におけるサブトラクション処理部82を示すブロック図である。
このサブトラクション処理部82は、骨密度の測定のためにサブトラクション処理を実行するためのものであり、高電圧撮影時に使用される高電圧画像メモリ91、LOG変換部92および重みづけ部93と、低電圧撮影時に使用される低電圧画像メモリ94、LOG変換部95および重みづけ部96と、サブトラクション処理を実行するサブトラクション部97とを備える。
X線管11に高電圧値が付与された場合には、フラットパネルディテクタ14により測定された高電圧画像が高電圧画像メモリ91に記憶される。高電圧画像メモリ91に記憶された高電圧画像は、LOG変換部92において対数処理が行われて画像信号に変換された後、重みづけ部93にて体厚情報等に応じた重み係数が乗算される。同様に、X線管11に低電圧値が付与された場合には、フラットパネルディテクタ14により測定された低電圧画像が低電圧画像メモリ94に記憶される。低電圧画像メモリ94に記憶された低電圧画像は、LOG変換部95において対数処理が行われた後、重みづけ部96にて体厚情報等に応じた重み係数が乗算される。対数処理および重みづけ処理された高電圧画像と低電圧画像に対しては、サブトラクション部97において、減算処理であるサブトラクション処理がなされる。サブトラクション処理されたサブトラクション像は、画像処理部81において後述するつなぎ合わせ処理を含む画像処理をなされた後に表示部20に送られ、表示部20においてサブトラクション画像が表示される。
最初に、以上のような構成を有するX線撮影装置において、デュアルエナジーサブトラクションを利用したスロット撮影を実行することにより、被検者の骨密度の測定を行う場合のX線撮影動作について説明する。図5は、X線撮影を実行するときのX線管11およびコリメータ12の移動動作を示す説明図である。
このX線撮影装置によりデュアルエナジーサブトラクションを利用したスロット撮影を行う場合には、図2に示すコリメータ12におけるコリメータリーフ40の位置を調整することによりスリット状のX線の照射野を形成する。そして、この状態において、図3に示すX線管移動部88により、図5に示すように、X線管11とコリメータ12とを、被検者の体軸方向に沿って水平方向に移動させる。
このX線撮影時においては、X線管11に対して高電圧と低電圧とが交互に印加される。このときに、フラットパネルディテクタ14により検出されたX線画像は、制御部80の制御により、一定時間毎に画像処理部81に取り込まれ、このX線画像に対して、サブトラクション処理部82においてサブトラクション処理がなされる。そして、サブトラクション処理後の画像に対しては、画像処理部81においてつなぎ合わせ処理が行われる。
図6は、画像のつなぎ合わせ処理を模式的に示す説明図である。
X線管11とコリメータ12とを被検者の体軸方向にそって水平方向に移動させながらフラットパネルディテクタ14により検出した画像を一定時間毎に取り込んだ場合には、例えば、図6に示す画像P1からP6を得ることができる。なお、図6においては、説明の便宜上6枚の画像のみを図示しているが、実際には、コリメータ12により形成されたスリット状のX線照射野の幅に対応して撮影領域全域を網羅する多数の画像が得られることになる。そして、これらの画像に対して、画像処理部81がつなぎ合わせ処理を実行することにより、一枚の画像Pが作成される。しかる後、つなぎ合わせ処理が終了した被検者の骨部の画像Pに基づいて、骨密度測定部83により骨密度の測定を行う。
以上のようなデュアルエナジーサブトラクションを利用したスロット撮影を実行する場合においては、実際のスリット幅が設定値より小さかった場合には、撮影した画像間に隙間が生じることになり、正確な骨密度の測定が不可能となる。また、実際のスリット幅が設定値より大きかった場合には、被検者に対して不要な被曝が生じることになる。以下、この発明の特徴部分であるスリット状のX線の照射野におけるスリット幅の調整工程について説明する。なお、このスリット幅の調整工程は、上述したデュアルエナジーサブトラクションを利用したスロット撮影を行う前に、予め、実行される。
図7は、スリット幅の調整時にフラットパネルディテクタ14により撮影されたX線画像を示す模式図であり、図8は、そのときのフラットパネルディテクタ14により検出された画素値を示すグラフである。なお、図8においては、図7におけるY方向(スリット状のX線の照射野の長手方向)のある位置におけるX方向(スリット状のX線の照射野の幅方向)の画素値の変化を示しており、図8における縦軸は画素値を示し、横軸はX方向の位置を示している。
スリット状のX線の照射野のスリット幅を調整するときには、最初に、コリメータ12におけるコリメータリーフ40間の距離をスリット撮影の設定値となるように設定した上で、撮影対象物がない状態でX線撮影を実行する。そして、図8に示すように、このときのスリット状のX線の照射野の幅方向に対して、フラットパネルディテクタ14によりX線を検出した時の画素値Tのプロファイルを作成する。
次に、図3に示すスリット幅設定部84における照射野幅測定部85により、フラットパネルディテクタ14により検出された画素値Tが、そのときのX線条件から設定される目標輝度値に対して予め設定された閾値Sを超える領域の幅Wを測定する。この閾値Sは、例えば、フラットパネルディテクタ14によりX線を検出した時の画素値Tの最大値が40000であった場合には、15000程度の値に設定される。
そして、スリット幅設定部84における比較部86により、照射野幅測定部85により測定したスリット状のX線の照射野の幅WとX線の照射野の幅の設定値とを比較することによりそれらの差異を演算する。しかる後、スリット幅設定部84における位置補正部87により、比較部86により演算したスリット状のX線の照射野の幅WとX線の照射野の幅の設定値との差異に基づいてコリメータリーフ40の位置を補正する。例えば、X線の照射野の幅の設定値が25mmであり、照射野幅測定部85により測定したスリット状のX線の照射野の幅Wが30mmであった場合には、比較部86により演算される差異は5mmとなる。このときには、位置補正部87は、スリット状のX線の照射野の幅が5mmだけ狭くなるように、X線の照射野の幅を規制している一対のコリメータリーフ40を互いに近接する方向に移動させる。
このようにしてスリット状のX線の照射野におけるスリット幅の調整工程を実行することにより、スリット状の放射線の照射領域を精度よく設定することが可能となることから、不要な被曝を生ずることなく、正確に放射線撮影を実行することが可能となる。
なお、上述した実施形態においては、フラットパネルディテクタ14を固定してX線撮影を実行しているが、さらに長尺の領域の撮影を実行する場合においては、フラットパネルディテクタ14を被検者の体軸方向に移動させながらX線撮影を実行すればよい。
また、上述した実施形態においては、サブトラクション処理により被検者の骨密度の測定を行うX線透視撮影装置にこの発明を適用した場合について説明したが、スロット撮影を実行するその他の放射線撮影装置にこの発明を適用してもよい。
11 X線管
12 コリメータ
14 フラットパネルディテクタ
40 コリメータリーフ
80 制御部
81 画像処理部
82 サブトラクション処理部
83 骨密度測定部
84 スリット幅設定部
85 照射野幅測定部
86 比較部
87 位置補正部
88 X線管移動部

Claims (2)

  1. 被検者に向けて放射線を照射する放射線照射部と、
    前記放射線照射部から照射された放射線の照射領域を制限することによりスリット状の放射線の照射野を形成する複数のコリメータリーフを備えたコリメータと、
    前記放射線照射部と前記コリメータとを移動させることにより、前記スリット状の放射線の照射野を前記被検者の体軸方向に移動させる照射野移動機構と、
    前記放射線照射部から照射され前記被検者を通過した放射線を検出する放射線検出器と、
    前記スリット状の放射線の照射野により撮影された複数の画像をつなぎ合わせることにより、1枚の放射線画像を作成する画像処理部と、
    を備えた放射線撮影装置であって、
    前記コリメータにおけるコリメータリーフを、前記スリット状の放射線の照射野の幅を放射線撮影時の設定値とするための位置に移動させ、そのときの前記スリット状の放射線の照射野を前記放射線検出器により検出して所定画素値以上の領域を放射線の照射野と認定することにより、前記スリット状の放射線の照射野の幅を測定する照射野幅測定部と、
    前記照射野幅測定部により測定した前記スリット状の放射線の照射野の幅と、放射線撮影時の照射野の幅の設定値とを比較することにより、それらの差異を演算する比較部と、
    前記比較部により演算した前記スリット状の放射線の照射野の幅と照射野の幅の設定値との差異に基づいて前記コリメータリーフの位置を補正する位置補正部と、
    を備えたことを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 請求項1に記載の放射線撮影装置において、
    前記放射線照射部に高電圧が付与されたときの前記放射線検出器の検出画像と前記放射線検出器に低電圧が付与されたときの前記放射線検出器の検出画像とに対してサブトラクション処理を行うサブトラクション処理部と、
    前記サブトラクション処理部によるサブトラクション処理結果から、前記被検者の骨密度の測定を行う骨密度測定部と、
    をさらに備える放射線撮影装置。
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