JP6588785B2 - 研磨パッド - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス基板や半導体デバイス等の研磨に利用される研磨パッドに関する。
光学材料、半導体デバイスやハードディスク用基板等の研磨には研磨パッドが用いられる。研磨時には研磨パッドに研磨スラリーが供給されるが、研磨パッドと被研磨物の間に研磨スラリーが十分に行き渡る必要があり、研磨スラリーが不足すると研磨レートの低下やスクラッチ(研磨傷)が発生するおそれがある。
このため、研磨面に改善を施した研磨パッドが開発されている。例えば、特許文献1には、研磨面のうねりを周期5mm〜200mm、最大振幅40μm以下とした研磨パッドが開示されている。また、特許文献2には、研磨面の算術表面粗さ(Ra)を0.1〜15μmとした研磨パッドが開示されている。
国際公開第2008/029725号 特開2005−333121号公報
しかしながら、特許文献1及び2に記載の研磨パッドでは、研磨パッドが磨耗して研磨面の性状が変化すると、研磨面に研磨スラリーが十分に供給されなくなり、研磨レートの低下やスクラッチ(研磨傷)が発生するおそれがある。
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、研磨特性に優れる研磨パッドを提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係る研磨パッドは、研磨層を具備する。
上記研磨層は、研磨面の臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下である。
研磨面の臨界表面張力が30mN/mより大きいと、研磨面に供給されたスラリーが研磨面になじみ過ぎて、研磨パッドが膨潤して柔らかくなり、砥粒の研磨効率が悪化し、研磨レートが低下する。一方で研磨面の臨界表面張力が25mN/m未満であると、研磨スラリーが研磨面に十分になじまず、研磨面と被研磨物の間に存在する研磨スラリーが不足する。これにより、被研磨物にスクラッチ(研磨傷)が発生する。これに対し、研磨面の臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下であると、研磨スラリーが適度に研磨面になじみ、良好な研磨特性を得られる。
上記研磨層は、ポリウレタン樹脂と、熱可塑性樹脂からなる外殻を有し、上記ポリウレタン樹脂中に分散された中空微粒子を含んでもよい。
ポリウレタン樹脂は、入手性及び加工性がよく、好適な研磨特性を有するため、研磨層の主たる構成材料として好適である。また、ポリウレタン樹脂中に分散された中空微粒子は、気泡として研磨面に露出し、研磨スラリーの研磨面へのなじみ易さを向上させる。
上記ポリウレタン樹脂は、イソシアネート化合物とポリオール系化合からなるプレポリマーと、ポリアミン系硬化剤との重合反応によって生成されていてもよい。
ポリウレタン樹脂は、イソシアネート化合物、ポリオール系化合及びポリアミン系硬化剤の重合反応によって生成する硬質ポリウレタンであるものとすることができる。





上記イソシアネート化合物は、2,4−トルエンジイソシアネートや2,6−トルエンジイソシアネートであり、上記ポリオール系化合物は、ジエチレングリコール及びポリテトラメチレンエーテルグリコールであり、上記ポリアミン系硬化剤は、4,4'−メチレンビス(2−クロロアニリン)であってもよい。
上記プレポリマーにおけるNCO当量は400以上468以下であってもよい。
以上のように、本発明によれば、研磨特性に優れる研磨パッドを提供することが可能である。
本発明の実施形態に係る研磨パッドの斜視図である。 同研磨パッドの断面図である。 同研磨パッドの研磨層に含まれる中空微粒子の断面図である。 同研磨パッドに供給された研磨スラリー液の分布を示す模式図である。 表面張力を示す模式図である。 表面張力が異なる液体の接触角の変化を示す模式図である。 本発明の実施例に係る研磨パッドが備える研磨層の構成を示す表である。 本発明の実施例及び比較例に係る研磨パッドの臨界表面張力を示す表である。 本発明の実施例及びに係る研磨パッドについての各種測定結果を示す表である。
本発明の実施形態に係る研磨パッドについて説明する。
[研磨パッドの構成]
図1は、本実施形態に係る研磨パッド100を示す斜視図である。同図に示すように、研磨パッド100は、研磨層101及びベース層102を具備する。
研磨層101は、被研磨物に当接し、研磨を行う層である。以下、研磨層101の表面を研磨面101aとする。研磨面101aには、研磨スラリーの流れをよくするための溝や穴が形成されていてもよい。研磨層101の厚さは特に限定されず、例えば0.5mm以上3.0mm以下程度とすることができる。
ベース層102は、研磨層101の被研磨物への当接を均一化させる層である。ベース層102は、不織布や合成樹脂等の可撓性を有する材料からなるものとすることができる。ベース層102の厚さは特に限定されず、例えば0.1mm以上5mm以下程度とすることができる。
研磨層101とベース層102は接着材等によって接合され、研磨パッド100を構成する。研磨パッド100は、ベース層102に配設された両面テープ等によって研磨装置に貼付される。研磨パッド100の大きさ(径)は研磨装置のサイズ等に応じて決定することができ、例えば、直径10cm〜1m程度とすることができる。なお、研磨パッド100の形状は円板状に限られず、帯状等であってもよい。
[研磨層の構成]
図2は、研磨パッド100の模式的断面図である。同図に示すように、研磨層101は、ポリマー110及び中空微粒子111を含む。
ポリマー110は、研磨材料の主たる構成材料である。ポリマー110は、プレポリマーと硬化剤の重合反応によって生成するポリマーであるものとすることができる。このようなポリマーとしては、ポリウレタンが挙げられる。ポリウレタンは、入手性及び加工性がよく、好適な研磨特性を有するため、ポリマー110の材料として好適である。
プレポリマーは、イソシアネート化合物とポリオール系化合物を混合したものとすることができる。
イソシアネート化合物は、イソシアネート基末端を有する化合物であり、例えば2,4−トルエンジイソシアネート(2,4−TDI)を利用することができる。
この他にもイソシアネート化合物としては、m−フェニレンジイソシアネート、p−フェニレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート(2,6−TDI)、2,4−トリレンジイソシアネート(2,4−TDI)、ナフタレン−1,4−ジイソシアネート、ジフェニルメタン−4,4'−ジイソシアネート、3,3'−ジメトキシ−4,4'−ビフェニルジイソシアネート、3,3'−ジメチルジフェニルメタン−4,4'−ジイソシアネート、キシリレン−1,4−ジイソシアネート、4,4'−ジフェニルプロパンジイソシアネート、トリメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート(HDI)、イソフォロンジイソシアネート、プロピレン−1,2−ジイソシアネート、ブチレン−1,2−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,2−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,4−ジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−4,4'−ジイソシアネート(水添MDI)、p−フェニレンジイソチオシアネート、キシリレン−1,4−ジイソチオシアネート及びエチリジンジイソチオシアネートが挙げられる。
ポリオール系化合物は、2つ以上のヒドロキシル基を有する物質であり、例えば、ジエチレングリコール(DEG)及びポリテトラメチレンエーテルグリコール(PTMG)とすることができる。
この他にも、ポリオール系化合物として、ブチレングリコール及びヘキサンジオール等の低分子量のポリオール化合物、並びに、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ビスフェノールAとプロピレンオキサイドとの反応物等のポリエーテルポリオール化合物、エチレングリコールとアジピン酸との反応物、ブチレングリコールとアジピン酸との反応物等のポリエステルポリオール化合物、ポリカーボネートポリオール化合物及びポリカプロラクトンポリオール化合物等の高分子量のポリオール化合物が挙げられる。
硬化剤は、ポリアミン系硬化剤を利用することができる。ポリアミン系硬化剤は、2つのアミノ基を有する物質であり、MOCA(4,4'−メチレンビス(2−クロロアニリン))を用いることができる。また、ポリアミン系硬化剤として、二分子のクロロアニリンが結合した二核体であるMOCAや、三分子のクロロアニリンが結合した三核体のMOCAを含む多核体MOCAを利用することも可能である。また、MOCA以外のポリアミン系硬化剤を利用してもよい。
また、ポリアミン系硬化剤に加え、ポリオール系化合物を硬化剤として利用することも可能であり、例えば、MOCAとPTMGの混合物を硬化剤とすることができる。
なお、ポリマー110はポリウレタンに限られず、ポリノルボルネン、トランス−ポリイソプレン、スチレン−ブタジエン等であってもよい。また、ポリマー110はポリウレタン及びこれらの樹脂のうち1種又は複数種を含むものであってもよい。
中空微粒子111は、中空の球体状の物体であり、ポリマー110に含有されている。図3は、中空微粒子111の模式的断面図である。同図に示すように、中空微粒子111は、熱可塑性樹脂からなる球殻状の外殻111aと、外殻111aに囲まれた内部空間111bを有する。中空微粒子111は、液状の低沸点炭化水素を熱可塑性樹脂の殻で包み、加熱することによって形成されたものとすることができる。
加熱によって熱可塑性樹脂が軟化すると共に低沸点炭化水素が気体に変化し、気体の圧力によって熱可塑性樹脂が膨張することにより中空微粒子111が形成される。低沸点炭化水素は例えばイソブタンやペンタン等が用いられ、熱可塑性樹脂は例えば塩化ビニリデンやアクリロニトリルが用いられる。
中空微粒子111は、市販されているものを利用することも可能である。例えばマツモトマイクロスフェアーシリーズ(松本油脂製薬株式会社製)やエクスパンセルシリーズ(AkzoNobel社製)を中空微粒子111として利用することができる。
中空微粒子111の大きさは特に限定されないが、直径数20μm〜200μm程度とすることができ、また径の異なる中空微粒子を2種類以上用いることもできる。研磨材料における中空微粒子111の含有割合は、研磨材料に対して、10〜60体積%が好適であり、15〜45体積%であるとより好適である。中空微粒子111は、研磨層101が研磨によって磨耗すると研磨面101aに露出し、研磨面101aの研磨特性に影響する。
[研磨スラリーについて]
研磨パッド100は、研磨装置によって被研磨物に押圧された状態で回転駆動され、被研磨物を研磨する。その際、研磨パッド100と被研磨物の間には、研磨粒子を含む研磨スラリーが供給される。
図4は、研磨時の研磨スラリーSの分布示す模式図である。同図に示すように研磨スラリーSは、研磨面101aと被研磨物Tの間に位置し、両者を潤滑する。また、研磨スラリーSには図示しない研磨粒子が含まれており、研磨パッド100による被研磨物Tの研磨を補助する。
[研磨層の臨界表面張力について]
研磨層101は、臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下である研磨面101aを有する。
図5は、表面張力を示す模式図である。同図において、γは固体の表面張力(気体/固体間の界面張力)であり、γは液体の表面張力(気体/液体間の界面張力)である。γLSは、液体/固体間の界面張力である。
力のつり合いにより、次の式が成立する。
(式) γ=γcosθ+γLS
臨界表面張力は、「JIS R 3257」によって規定されている。JIS R 3257は、試料表面の臨界表面張力を測定するための規格であり、試料表面に試験混合液を滴下し、液体が試料表面となす接触角(図5中、角度θ)に基づいて臨界表面張力を測定する。試験混合液は、エチレングリコールモノエチルエーテル及びホルムアルデヒドの混合液であり、混合割合によって試験混合液の表面張力が調整されている。
図6は、試料表面に滴下された各種の液体を示す模式図である。液体Aは表面張力80mN/m、試料表面との接触角120°、液体Bは表面張力50mN/m、試料表面との接触角90°、液体Cは表面張力40mN/m、試料表面との接触角45°、液体Dは表面張力30mN/m、試料表面との接触角0°とする。
この場合、接触角が0°である液体Dの表面張力30mN/mがこの試料の臨界表面張力γである。このように、臨界表面張力は、各種表面張力に調整した試験混合液を用いて測定することが可能である。
本実施形態に係る研磨層101は、研磨面101aに対して上記臨界表面張力の測定を実施すると、臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下となるように構成されている。
研磨面101aの臨界表面張力が25mN/m未満であると、研磨面101aに供給されたスラリーが研磨面101aになじまず、研磨面101aと被研磨物の間に存在する研磨スラリーが不足する。これにより、被研磨物にスクラッチ(研磨傷)が発生する。
一方で、研磨面101aの臨界表面張力が30mN/mより大きいと、研磨スラリーが研磨面101aに十分になじみ過ぎて、研磨パッドが膨潤して柔らかくなり、砥粒の被研磨物への作用が弱くなり、研磨レートが低下する。
これに対し、研磨面101aの臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下である場合には、研磨スラリーが適度なぬれ性で研磨面101aと被研磨物の間に存在し、研磨レートが向上し、スクラッチの発生も防止される(実施例参照)。
研磨面101aの臨界表面張力は、ポリマー110の分子構造によって調整することができる。具体的には、ポリマー110に存在する親水性基を多くすることにより臨界表面張力を大きくすることができ、親水性基を少なくすることにより臨界表面張力を小さくすることができる。
[研磨パッドの製造方法]
研磨パッド100は次のようにして製造することが可能である。即ち、A成分としてプレポリマーと中空微粒子の混合物、B成分として硬化剤をそれぞれ準備する。A成分及びB成分を減圧脱泡した後、混合機に供給し、撹拌する。これにより、プレポリマーと硬化剤の重合反応が生じてポリマーが生成し、ポリマーと中空微粒子の混合液が形成される。
得られた混合液を所定温度に加熱した型枠に注型して一定時間加熱し、硬化させる。これにより、ポリマー発泡体が生成する。ポリマー発泡体を型枠から抜き出し、所定の厚みにスライスする。これにより、研磨層101が作製される。研磨層101をベース層102に貼付することにより研磨パッド100が作製される。
本発明の実施例に係る研磨パッドを作製した。図7は、各研磨パッドが備える研磨層の組成を示す表である。
同図に示すように、実施例に係る研磨パッドの研磨層は、プレポリマー、硬化剤及び中空微粒子からなる。
プレポリマーは、TDI(2,4−トルエンジイソシアネートと2,6−トルエンジイソシアネートの混合物)、DEG(ジエチレングリコール)及びPTMG(ポリテトラメチレンエーテルグリコール)の混合物とした。プレポリマーのNCO当量(NCO基1個あたりのプレポリマーの分子量)を図中に示す。プレポリマーにおけるNCO当量は400以上468以下とした。
硬化剤は、実施例1及び2ではMOCA(4,4'−メチレンビス(2−クロロアニリン))とした。実施例3ではMOCAとPTMGの混合物とした。中空微粒子は、エクスパンセルシリーズ(AkzoNobel社製)とした。
上記のように、A成分としてプレポリマーと中空微粒子の混合物、B成分として硬化剤をそれぞれ準備し、減圧脱泡した後、混合機で混合し、ポリマーと中空微粒子の混合液を作製した。
得られた混合液を80℃に加熱した型枠(890mm×890mmの正方形)に注型して5時間加熱して硬化させ、ポリマー発泡体を作製した。ポリマー発泡体を型枠から抜き出し、1.3mmの厚みにスライスした。これにより、研磨層を作製した。この研磨層をベース層に貼付することにより研磨パッドを作製した。
図7には、研磨層の構成材料におけるR値(イソシアネート基に対するアミノ基又は水酸基の当量比)を示す。
また、比較例として、ポリウレタンからなる研磨層を備えるIC1000(ニッタ・ハース社製)を準備した。
実施例及び比較例に係る研磨パッドについて、研磨面の臨界表面張力を測定した。研磨面の臨界表面張力は、上記のようにJIS R 3257に準拠して実施した。試験混合液はエチレングリコールモノエチルエーテル/ホルムアミド混合液(和光純薬工業株式会社製)とした。
100mm角の試験片(実施例及び比較例に係る研磨パッドの一部)に各試験混合液を滴下し、接触角を測定した。接触角の測定には、DropMaster500 画像処理式・固液界面解析システムを用いた。試験温度は23℃、湿度は50%RHとした。
図8は、測定された接触角から算出されたcosθ(図5参照)の値を示す表である。このcosθの値からZismanプロットを作製し、cosθ=1(θ=0°)のときの試験混合液の表面張力を臨界表面張力とした。
同図に示すように、実施例1〜3に係る研磨パッドでは、研磨面の臨界表面張力は25mN/m以上30mN/m以下であった。一方、比較例1に係る研磨パッドでは、研磨面の臨界表面張力は30.5mN/mであった。
実施例及び比較例について、各種測定を実施した。図9は測定結果を示す表である。まず、各研磨パッドについて研磨レートを測定した。各研磨パッドを研磨機(F−REX300(荏原製作所社製))に装着した。研磨ディスクは3M A188(♯60)を利用した。
研磨パッドを被研磨物に当接させ、研磨を実施した。被研磨物は直径300mmのシリコンウエハ上にテトラエトキシシランをPE−CVD(plasma-enhanced chemical vapor deposition)で1μmの厚さになるように形成した基板とした。
研磨パッドの回転数は定盤70rpm、トップリング71rpmとし、研磨圧力は3.5psiとした。研磨パッドには研磨スラリー(SS25原液(キャボット社製):純水=1:1の混合液)を供給し、研磨スラリーの温度は20℃、研磨スラリーの吐出量は200ml/minとした。
研磨後に被研磨物の厚みを測定し、研磨レートを算出した。図9に算出した研磨レート(Å/min)を示す。同図に示すように、実施例1〜3に係る研磨パッドでは比較例1に係る研磨パッドより高い研磨レートが得られた。
また、各研磨パッドについてスクラッチの発生の有無を評価した。各研磨パッドのそれぞれについて25枚の被研磨物を研磨し、研磨加工後の21〜25枚目の5枚の被研磨物について測定を実施した。測定は、表面ウェハ表面検査装置Surfscan SP1DLS(KLAテンコール社製)の高感度測定モードで行い、被研磨物の表面におけるスクラッチ等のディフェクト(欠陥)の個数を評価した。
図9に、評価結果を示す。直径300mmの被研磨物において、0.16μm以上のディフェクトが200個未満となった研磨パッドを○とし、200個以上となった研磨パッドを×とした。同図に示すように、実施例1〜3に係る研磨パッドではディフェクトの数は少なかったが、比較例1に係る研磨パッドでは多数のディフェクトが発生した。
以上から、実施例1〜3のように研磨面の臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下の研磨パッドでは研磨レートが向上し、スクラッチの発生も防止することが可能であるといえる。
100…研磨パッド
101…研磨層
102…ベース層
110…ポリマー
111…中空微粒子

Claims (2)

  1. ポリウレタン樹脂と、熱可塑性樹脂からなる外殻を有し、前記ポリウレタン樹脂中に分散された中空微粒子を含み、研磨面の臨界表面張力が25mN/m以上30mN/m以下である研磨層
    を具備し、
    前記ポリウレタン樹脂は、イソシアネート化合物とポリオール系化合物からなるプレポリマーと、ポリアミン系硬化剤との重合反応によって生成され、
    前記イソシアネート化合物は、トルエンジイソシアネートであり、
    前記ポリオール系化合物は、ジエチレングリコール及びポリテトラメチレンエーテルグリコールであり、
    前記ポリアミン系硬化剤は、4,4'−メチレンビス(2−クロロアニリン)であり、
    前記ポリウレタン樹脂における、イソシアネート基に対するアミノ基又は水酸基の当量比であるR値は、0.90以上0.95以下である
    研磨パッド。
  2. 請求項に記載の研磨パッドであって、
    前記プレポリマーにおけるNCO当量は400以上468以下である
    研磨パッド。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4266579B2 (ja) * 2002-06-28 2009-05-20 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 研磨体およびその製造方法
JP4189963B2 (ja) * 2003-08-21 2008-12-03 東洋ゴム工業株式会社 研磨パッド
US7059936B2 (en) * 2004-03-23 2006-06-13 Cabot Microelectronics Corporation Low surface energy CMP pad
TWI385050B (zh) * 2005-02-18 2013-02-11 Nexplanar Corp 用於cmp之特製拋光墊及其製造方法及其用途
JP2012528487A (ja) * 2009-05-27 2012-11-12 ロジャーズ コーポレーション 研磨パッド、それを用いた組成物および、その製造と使用方法
JP5520030B2 (ja) * 2009-12-15 2014-06-11 富士紡ホールディングス株式会社 研磨パッドおよび研磨パッドの製造方法
JP2012017409A (ja) * 2010-07-08 2012-01-26 Dic Corp 発泡砥石用2液型ウレタン樹脂組成物、ポリウレタン発泡砥石、及びポリウレタン発泡砥石の製造方法

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