JP6586224B2 - 相短絡スイッチ - Google Patents

相短絡スイッチ Download PDF

Info

Publication number
JP6586224B2
JP6586224B2 JP2018506395A JP2018506395A JP6586224B2 JP 6586224 B2 JP6586224 B2 JP 6586224B2 JP 2018506395 A JP2018506395 A JP 2018506395A JP 2018506395 A JP2018506395 A JP 2018506395A JP 6586224 B2 JP6586224 B2 JP 6586224B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adc
analog
differential
digital
digital converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018506395A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018525922A (ja
Inventor
ラミン ザンバギー,
ラミン ザンバギー,
アーロン ブレナン,
アーロン ブレナン,
ダニエル ジェイ. アレン,
ダニエル ジェイ. アレン,
ジョン エル. メランソン,
ジョン エル. メランソン,
Original Assignee
シーラス ロジック インターナショナル セミコンダクター リミテッド
シーラス ロジック インターナショナル セミコンダクター リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US14/826,996 external-priority patent/US9729164B2/en
Application filed by シーラス ロジック インターナショナル セミコンダクター リミテッド, シーラス ロジック インターナショナル セミコンダクター リミテッド filed Critical シーラス ロジック インターナショナル セミコンダクター リミテッド
Publication of JP2018525922A publication Critical patent/JP2018525922A/ja
Priority to JP2019079926A priority Critical patent/JP6983193B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6586224B2 publication Critical patent/JP6586224B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/14Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10Complex mathematical operations
    • G06F17/11Complex mathematical operations for solving equations, e.g. nonlinear equations, general mathematical optimization problems
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/005Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements using switched capacitors, e.g. dynamic amplifiers; using switched capacitors as resistors in differential amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45475Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45479Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
    • H03F3/45928Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit
    • H03F3/4595Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit by using feedforward means
    • H03F3/45955Measuring at the input circuit of the differential amplifier
    • H03F3/45959Controlling the input circuit of the differential amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/124Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • H03M1/129Means for adapting the input signal to the range the converter can handle, e.g. limiting, pre-scaling ; Out-of-range indication
    • H03M1/1295Clamping, i.e. adjusting the DC level of the input signal to a predetermined value
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/494Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for delta-sigma type analogue/digital conversion systems
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/494Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for delta-sigma type analogue/digital conversion systems
    • H03M3/496Details of sampling arrangements or methods
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R19/00Electrostatic transducers
    • H04R19/04Microphones
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/004Monitoring arrangements; Testing arrangements for microphones
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R3/00Circuits for transducers, loudspeakers or microphones
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45421Indexing scheme relating to differential amplifiers the CMCL comprising a switched capacitor addition circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45512Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more capacitors, not being switched capacitors, and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45544Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising one or more capacitors, e.g. coupling capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45551Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising one or more switched capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/124Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R2420/00Details of connection covered by H04R, not provided for in its groups
    • H04R2420/05Detection of connection of loudspeakers or headphones to amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R2499/00Aspects covered by H04R or H04S not otherwise provided for in their subgroups
    • H04R2499/10General applications
    • H04R2499/11Transducers incorporated or for use in hand-held devices, e.g. mobile phones, PDA's, camera's

Description

(関連特許出願の相互参照)
本願は、2016年8月12日に出願され、“Phase Shorting Switch”と題されたZanbaghiらに対する米国特許出願第15/236,163号の利益を主張するものであり、これは、2015年8月14日に出願され、“Dual Processing Paths for Differential Mode and Common Mode Signals for an Adaptable Analog−To−Digital Converter (ADC) Topology”と題されたZanbaghiらに対する米国特許出願第14/826,996号の一部継続出願であり、これらの各々は、参照により本明細書中に援用される。
本開示は、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)に関する。より具体的には、本開示の一部は、異なる入力デバイス構成で動作するようにADCを適合させることに関する。
マイクロホンは、マイクロホンの周囲の環境内の雑音および音を表す電気信号を発生させる。マイクロホンは、音、特に、発話が、ヒトと電子デバイスおよび電子デバイスを通したヒトと別のヒトとの間の相互作用の最も重要な様式のうちの1つであるため、多くの電子デバイスにとって重要なデバイスである。マイクロホンは、概して、アナログ信号を生成するが、電子デバイス内のプロセッサは、概して、デジタル信号で動作する、デジタルコンポーネントである。したがって、マイクロホンのアナログ信号は、電子デバイス内のさらなる処理のために、デジタル信号に変換されなければならない。例えば、アナログマイクロホン出力は、デジタル信号に変換され、個人の発話が1つの携帯電話から別の携帯電話に伝送されることを可能にし得る。別の実施例では、アナログマイクロホン出力は、デジタル信号に変換され、携帯電話がユーザからの発話コマンドを検出することを可能にし得る。アナログ信号をデジタル信号に変換するためにマイクロホンに結合されたコンポーネントは、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)である。
ADCは、したがって、電子デバイスにおける重要なコンポーネントである。ADCの使用に関わる1つの複雑性は、マイクロホンとADCとの間の結合構成が、ADCがマイクロホンのアナログ出力を処理し、マイクロホン出力のデジタル表現を発生させる方法を変化させることである。すなわち、ADCは、ADCに結合された特定のマイクロホンと整合されなければならない。本制限は、ユーザが任意のマイクロホンとその電子デバイスを併用する能力を阻止する。さらに、本制限は、製造業者が供給不足に起因して異なるマイクロホンを代用する能力を阻止する。いくつかの異なる結合構成が、図1A−1Dに示される。
マイクロホンは、完全差動(FD)または擬似差動(PD)のいずれかであって、かつアナログ/デジタルコンバータ(ADC)にACまたはDCのいずれかで結合される。したがって、少なくとも4つの異なるマイクロホントポロジ構成が存在し、ADCからの異なる動作およびそれとのインターフェースを要求する。図1Aは、マイクロホンおよびADCのためのAC結合完全差動構成を図示する。マイクロホン102は、出力104および106を提供してもよい。出力104および106はまた、ADC108への入力でもあって、マイクロホン102によって捕捉された音のデジタル表現を含有する、Doutデジタル信号を発生させる。図1A等のAC結合構成では、コンデンサ112および114が、マイクロホン102とADC108との間に結合される。コンデンサ112および114は、ADC108の入力インピーダンスとともに、高域通過フィルタを生成し、マイクロホン102からのDC信号がADC108に到達しないように遮断する。コンデンサ112および114は、ADC108とともにチップの中に統合されるか、またはADC108を含有するチップから別個であるかのいずれかであってもよい。いずれの場合も、コンデンサ112および114は、電子デバイス内の空間を消費し、電子デバイスの寸法および厚さを増加させる。図1Aと同様に、図1Bは、マイクロホンおよびADCのためのAC結合擬似差動構成を図示する。図1Bの擬似差動構成120は、図1Aの完全差動構成110に類似するが、ノード116に接地されたマイクロホン102の1つの端子を伴う。
図1Aおよび1BのAC結合トポロジの代替として、DC結合トポロジが、ADCとマイクロホンのインターフェースをとるために実装されてもよい。DC結合マイクロホントポロジは、マイクロホン出力のDC値を遮断するために、コンデンサ112および114を要求しない。コンデンサの排除は、コストおよびサイズを削減するが、ADCを完全差動(FD)マイクロホンおよび擬似差動(PD)マイクロホンと互換性を持たせるために、余剰処理を要求する。図1Cおよび図1Dは、それぞれ、DC結合完全差動(FD)構成130およびDC結合擬似差動(PD)構成140を図示する。余剰処理の1つの実施例は、完全差動(FD)マイクロホン102が、VinおよびVipの出力値を提供し得るが、これらの値が、相互およびADCの動作を補正するための所望のDC値とも不整合であり得ることである。付加的処理を要求する構成の別の実施例は、Vin信号が接地116に接続される、擬似差動(PD)マイクロホンのものである。これらの実施例の両方では、ADC108は、図1Cおよび図1Dのいずれかのマイクロホン構成に特有の処理を適用しなければならない。
前述のように、図1A、図1B、図1C、および図1Dに示されるマイクロホントポロジの4つの構成はそれぞれ、異なる動作およびADCとのインターフェースを要求する。例えば、AC結合マイクロホンは、DC信号を遮断するために、ACDの入力にコンデンサを要求する。別の実施例として、AC結合マイクロホンは、入力VinおよびVipのDC値を設定するために、ADCに結合されたコモンモード電圧発生器を要求する。さらに別の実施例として、DC結合完全差動マイクロホンは、マイクロホン入力信号を所望のDC値に整合させるために、ACDによる処理を要求する。これらの異なる要件のため、ADCは、従来、具体的マイクロホン構成に整合するように設計され、したがって、概して、他のマイクロホン構成には使用不能である。
さらに、望ましくない影響は、マイクロホンがADCとインターフェースをとるために異なる入力を通して結合されるときに生じ得る。例えば、完全差動入力のコモンモード(CM)電圧値は、入力ノード104におけるコモンモードが、入力ノード106におけるコモンモードと異なるように、整合されない場合がある。入力CM値間の任意の不整合は、差動信号に変換され得、ADCのコンポーネントをクリッピングおよび飽和させ得る。別の実施例として、差動入力間のAC信号振幅不整合は、ADC内に類似クリッピングおよび飽和を生成し得る。図1E−1Gは、これらの望ましくなる影響を図示する。図1E−1Gのグラフは、入力電圧が整合している(図1E)、不整合CM電圧を有する(図1F)、および不整合DC電圧を有する(図1G)ときの、モジュレータ出力とともに、差動入力信号を図示する。図1Fおよび図1Gの不整合CMならびに不整合DC実施例は両方とも、それぞれ、ADC内に量子化器の飽和またはクリッピング、したがって、不良なADC性能をもたらし得る。図1Fの不整合CMでは、モジュレータ出力は、入力CM不整合値の半分(ΔCM/2)に略等しいDCシフト132を被る。図1GのAC振幅不整合では、出力コード上にオフセットシフトは存在しないが、不整合は、利得スケーリングを生じさせ、量子化器内に対称クリッピングをもたらし得る。
完全差動(FD)動作の間の望ましくない影響が前述されたが、望ましくない影響はまた、一方の入力が接地に結合され、他方の入力が信号Vip=Vcmi+Vdmを生成する、擬似差動(PD)動作の間にも生じ得る。擬似差動(PD)動作では、ADC内のコンポーネントの差動出力間の不平衡DCシフトが、偶数高調波等によって生じる動揺駆動歪曲を生じさせ得る。そのような望ましくない影響もまた、不良なADC性能をもたらす。
ここで述べられた短所は、代表にすぎず、単に、改良された電子コンポーネント、特に、携帯電話等の消費者レベルデバイス内で採用されるADCの必要性が存在することを強調するために含まれている。本明細書に説明される実施形態は、ある短所に対処するが、必ずしも、ここに説明された、または当該分野で公知のあらゆるものに対処するわけではない。
アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、ある実施形態では、マイクロホン構成を自動的に判定し、判定されたマイクロホン構成に整合させるように動作を調節するように構成されてもよい。したがって、単一ADCデバイスが、ADCの入力におけるマイクロホンの構成にかかわらず使用されてもよい。本ADC構成は、ユーザがマイクロホンを選択する前に電子デバイスのADC設計に詳しくない状態を可能にし得る。本ADC構成はまた、製造業者が1つのADCを用いて電子デバイスを製造することを可能にするが、依然として、製造の際、マイクロホン構成を変更することを可能にし得る。例えば、AC結合完全差動マイクロホンの供給不足が生じる場合、製造業者は、いくつかの生産ロットのために、電子デバイス内のADCもまた置換する必要なく、AC結合擬似差動マイクロホンに切り替えてもよい。本考慮点は、ADCが電子デバイス内の他のコンポーネントと統合され得、これが、生産の間のマイクロホン構成の変更が電子デバイスの有意な再設計をもたらし得ることを意味するため、重要である。
ADC内のマイクロホン入力を処理し、マイクロホン構成を判定する1つの方法は、2つの処理経路内のマイクロホン入力信号を処理するものであって、1つの処理経路は、差動入力信号間の差異を処理し、別の処理経路は、差動入力信号の平均値を処理する。これらの処理経路の出力は、組み合わせられ、マイクロホンからのアナログ信号を表すデジタル信号を発生させてもよい。デジタル信号は、マイクロホンの周囲の環境内のオーディオのデジタルバージョンを含有するが、また、マイクロホントポロジを検出し、検出されたマイクロホントポロジに整合するように処理経路の側面を構成するために使用されてもよい。ADCのための装置は、2つの処理経路を2つのデルタシグマ変調器ループとして実装してもよい。出力デジタル信号からのフィードバックは、デジタル/アナログコンバータ(DAC)内でアナログ信号に変換されてもよい。これらのDACの動作は、コントローラによって、マイクロホントポロジに基づいて調節されてもよい。
アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の改良された動作は、例えば、オーディオまたはビデオプレーヤ、スマートフォン、タブレットコンピュータ、およびパーソナルコンピュータ等のエンターテインメントデバイスを含む、電子デバイス内において有益であり得る。ADCは、これらの電子デバイス内の多数のマイクロホンのいずれかに結合されてもよい。ADCは、電子デバイス内における使用時、マイクロホントポロジを検出し、それに適合することができる。本説明は、マイクロホンと併用されるADCを参照するが、本明細書に説明されるADCの実施形態は、マイクロホン以外のアナログデバイスに結合されてもよく、ADCは、その情報を類似様式で処理してもよい。すなわち、本明細書に説明されるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、アナログ信号を提供し、アナログ信号がデジタル電子機器内で処理される必要がある、任意のアナログデバイスに結合されてもよい。さらに、本明細書に説明されるADCは、アナログ信号を処理する、任意の電子デバイス内で使用されてもよい。例えば、携帯電話等の消費者デバイスの動作が、説明され得るが、ADCは、オーディオ機器等の他のコンポーネント内で使用されてもよい。
ADCは、前述のマイクロホンインターフェース構成を検出する能力に加え、またはそれを伴わずに、望ましくない影響を感知および/または補償する能力を含んでもよい。例えば、感知ノードは、差動入力間に提供されてもよく、感知ノードは、2つまたはそれを上回るスイッチによって差動入力から分離される。感知ノードは、差動入力の平均電圧の測定を可能にしてもよい。平均電圧が、得られ、スイッチをアクティブ化し、差動入力に結合されるサンプリングコンデンサ上に記憶される電荷を中和してもよい。その平均電圧は、ADCの動作にかかわらず、コモンモード(CM)データとして使用されてもよい。コントローラは、CMデータを差動モード(DM)データとともに受信し、CMおよびDMデータを使用して、マイクロホンインターフェースまたはマイクロホン信号とアナログ/デジタルコンバータ(ADC)との間のインターフェースにおけるDCまたはAC不整合等の望ましくない影響を判定してもよい。コントローラは、次いで、補助デジタル/アナログコンバータ(DAC)を通して等、補償を差動入力に適用するための信号を発生させ、望ましくない影響を低減または排除してもよい。
一実施形態によると、入力アナログ信号を出力デジタル信号に変換するためのアナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、入力アナログ信号を表す差動信号の第1の入力を受信するための第1の入力ノードと、入力アナログ信号を表す差動信号の第2の入力を受信するための第2の入力ノードと、基準コモンモード信号を受信するためのコモンモード入力ノードと、第1の入力ノードに結合され、かつ第2の入力ノードに結合される第1の処理経路であって、第1の処理出力ノードにおいて、受信された差動信号を示す第1のデジタル信号を出力するように構成される、第1の処理経路と、第1の入力ノードに結合され、第2の入力ノードに結合され、かつコモンモード入力ノードに結合される第2の処理経路であって、第2の処理出力ノードにおいて、受信された差動信号の平均値と基準コモンモード信号との間の比較を示す第2のデジタル信号を出力するように構成される、第2の処理経路と、第1の処理経路の第1の処理出力ノードおよび第2の処理経路の第2の処理出力ノードに結合されるコンバイナモジュールであって、少なくとも部分的に、第1のデジタル信号および第2のデジタル信号に基づいて、出力デジタル信号を発生させるように構成される、コンバイナモジュールとを含んでもよい。
ある実施形態では、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)はまた、コントローラであって、出力デジタル信号を受信し、少なくとも部分的に、受信された出力デジタル信号に基づいて、第1の入力ノードおよび第2の入力ノードに結合される入力デバイスの結合構成を判定し、少なくとも部分的に、判定された結合構成に基づいて、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を調節するように構成される、コントローラと、コンバイナモジュールに結合される第1のデジタル出力データノードとを含んでもよく、また、コンバイナモジュールに結合される第2のデジタル出力データノードであって、第1のデジタル出力データノードおよび第2のデジタル出力データノードにおける出力は、出力デジタル信号の表現である、第2のデジタル出力データノードを含んでもよく、また、第1のデジタル出力データノードに結合され、かつ第1の処理経路の少なくとも第1の入力に結合される第1のデジタル/アナログコンバータ(DAC)を含んでもよく、および/または、さらには、第2のデジタル出力データノードに結合され、かつ第1の処理経路の少なくとも第2の入力に結合される第2のデジタル/アナログコンバータ(DAC)を含んでもよく、コントローラは、第1のDACおよび第2のDACに結合され、少なくとも部分的に、受信されたデジタル出力データに基づいて、第1のDACおよび第2のDACを動作させることを含むステップを行うことによってアナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を調節するようにさらに構成される。
ある実施形態では、コントローラは、AC結合完全差動、AC結合擬似差動、DC結合完全差動、およびDC結合擬似差動のうちの1つである結合構成を判定してもよく、コンバイナモジュールは、出力デジタル信号を第1のデジタル出力データノードおよび第2のデジタル出力データノードにおいて出力するように構成されてもよく、コンバイナモジュールは、第1のデジタル出力データノードにおいて、少なくとも部分的に、第1の処理経路の出力および第2の処理経路の出力の総和に基づいて、第1のデジタル信号を出力してもよく、コンバイナは、第2のデジタル出力データノードにおいて、少なくとも部分的に、第1の処理経路の出力と第2の処理経路の出力との間の差異に基づいて、第2のデジタル信号を出力してもよく、第1の処理経路は、第1のデルタシグマ変調器ループを含んでもよく、第2の処理経路は、第2のデルタシグマ変調器を含んでもよく、および/または第1の入力ノードならびに第2の入力ノードは、差動出力を伴うマイクロホンに結合するように構成されてもよい。
別の実施形態によると、方法は、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)によって、アナログ差動信号の第1の入力を受信するステップと、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)によって、アナログ差動信号の第2の入力を受信するステップと、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)によって、第1の処理ループ内で第1の入力と第2の入力との間の差異を処理するステップと、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)によって、第2の処理ループ内で第1の入力および第2の入力の平均を処理するステップと、および/またはアナログ/デジタルコンバータ(ADC)によって、第1の処理ループの処理された差異および第2の処理ループの処理された平均を組み合わせ、アナログ差動信号を示すデジタル信号を生成するステップとを含んでもよい。
いくつかの実施形態では、本方法はさらに、コントローラによって、入力デバイスの結合構成を判定し、第1の入力および第2の入力をアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に発生させるステップを含んでもよく、さらに、コントローラによって、少なくとも部分的に、判定された結合構成に基づいて、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を調節するステップを含んでもよく、さらに、組み合わせられたデジタル信号の第1のデジタル出力を第1のアナログフィードバック信号に変換するステップを含んでもよく、さらに、第1のアナログフィードバック信号を第1の処理ループに提供するステップを含んでもよく、さらに、組み合わせられたデジタル信号の第2のデジタル出力を第2のアナログフィードバック信号に変換するステップを含んでもよく、および/またはさらに、第2のアナログフィードバック信号を第1のアナログフィードバック信号に結合される第1の処理ループの入力と異なる第1の処理ループの入力に提供するステップを含んでもよい。
ある実施形態では、結合構成を判定するステップは、入力デバイスの結合構成がAC結合完全差動であることを判定するステップと、入力デバイスの結合構成がAC結合擬似差動であることを判定するステップと、入力デバイスの結合構成がDC結合完全差動であることを判定するステップと、入力デバイスの結合構成がDC結合擬似差動であることを判定するステップとのうちの少なくとも1つを含んでもよく、組み合わせ、デジタル信号を発生させるステップは、少なくとも部分的に、第1の処理経路の出力および第2の処理経路の出力の総和に基づいて、第1のデジタル信号を出力するステップ、および/または少なくとも部分的に、第1の処理経路の出力と第2の処理経路の出力との間の差異に基づいて、第2のデジタル信号を出力するステップを含んでもよく、第1の処理ループ内で処理するステップは、第1のデルタシグマ変調器ループ内で処理するステップを含んでもよく、第2の処理ループ内で処理するステップは、第2のデルタシグマ変調器ループ内で処理するステップを含んでもよく、および/または第1の入力を受信するステップならびに第2の入力を受信するステップは、入力を差動出力を伴うマイクロホンから受信するステップを含んでもよい。
別の実施形態によると、装置は、アナログ差動信号の第1の入力を受信するための第1の入力ノード、アナログ差動信号の第2の入力を受信するための第2の入力ノード、デジタル出力ノード、擬似差動信号であり得るアナログ差動信号をデジタル出力ノードにおけるデジタル信号に変換するように構成されるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)、および/またはアナログ/デジタルコンバータに結合されるコントローラを含んでもよい。アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、第1の入力と第2の入力との間の差異を処理するように構成される第1の処理ループ、第1の入力および第2の入力の平均を処理するように構成される第2の処理ループ、および/または第1の処理ループの出力を受信し、第2の処理ループの出力を受信し、少なくとも部分的に、第1の処理ループの出力および第2の処理ループの出力に基づいて、デジタル信号を発生させるように構成されるコンバイナモジュールを含んでもよい。コントローラは、入力デバイスの結合構成を判定し、第1の入力および第2の入力をアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に発生させるように構成されてもよく、判定された構成は、少なくとも部分的に、デジタル信号に基づき、および/または少なくとも部分的に、判定された結合構成に基づいて、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を調節するように構成されてもよい。
ある実施形態では、コンバイナは、第1の成分および第2の成分を含む擬似差動デジタル信号を出力するように構成されてもよく、第1の成分は、第1の処理経路の出力および第2の処理経路の出力の総和を示すデジタルデータを含み、第2の成分は、第1の処理経路の出力と第2の処理経路の出力との間の差異を示すデジタルデータを含み、第1の処理経路は、第1のデルタシグマ変調器ループを含んでもよく、第2の処理経路は、第2のデルタシグマ変調器を含んでもよく、第1の入力ノードおよび第2の入力ノードは、マイクロホン入力ノードであってもよく、および/または装置は、エンターテインメントデバイス、スマートフォン、タブレットコンピュータ、およびパーソナルコンピュータのうちの少なくとも1つであってもよい。
さらなる実施形態によると、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのコモンモードおよび差動モード不整合を補償するための方法は、デジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信するステップ、および/またはデジタル/アナログコンバータ(DAC)が、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)において、コモンモードおよび差動モード不整合のうちの少なくとも1つのための補償を提供するように、デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のための制御信号を発生させるステップを含んでもよい。
ある実施形態では、コモンモード(CM)データを受信するステップは、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノード間のDC平均電圧レベルおよび/またはAC電圧レベルを受信するステップを含んでもよく、DC平均電圧レベルは、スイッチによって差動入力ノードに結合されるコモンモード(CM)感知ノードから受信され、本方法はまた、スイッチをアクティブ化し、差動入力ノードに結合されるサンプリングコンデンサ内の平均電圧値を得るステップを含んでもよく、差動モード(DM)データを受信するステップは、差動入力ノード間の差異を受信するステップを含んでもよく、差異は、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の量子化器から受信され、および/または制御信号を発生させるステップは、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノードに結合されるマイクロホンの構成を判定するステップ、および/またはアナログ/デジタルコンバータ(ADC)内のコモンモードおよび差動モード不整合を判定するステップを含み、制御信号を発生させるステップは、少なくとも部分的に、マイクロホンの判定される構成ならびに判定されたコモンモードおよび差動モード不整合に基づいて、制御信号を発生させるステップを含む。
別の実施形態によると、装置は、前述のコモンモードおよび差動モード不整合を補償するための方法を含む、ステップを行うことによって、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を動作させるように構成される、コントローラを含んでもよい。
さらなる実施形態によると、コモンモード切替式コンデンサシステム内の2つの入力ノードにおける差動入力電圧の平均を感知するための方法は、差動入力を切替式コンデンサシステムに提供するステップを含んでもよく、少なくとも2つのサンプリングコンデンサは、2つの入力ノードのそれぞれに結合され、および/または本方法は、2つもしくはそれを上回るスイッチを動作させ、サンプリングノードにおける差動入力の平均電圧を得るステップを含んでもよい。本方法はまた、切替式コンデンサシステムのコントローラへのフィードバックのために平均電圧のアナログ値をデジタル値に変換するステップ、および/または少なくとも部分的に、出力ノードにおいて発生された平均電圧に基づいて、差動入力における望ましくない影響を補償するステップを含んでもよい。
別の実施形態によると、装置は、第1の入力ノードおよび第2の入力ノードを含む、差動入力、第1の入力ノードに結合される第1のコンデンサおよび第2の入力ノードに結合される第2のコンデンサを含む、少なくとも2つのサンプリングコンデンサ、第1のコンデンサに結合される第1のスイッチ、および第2のコンデンサに結合され、かつ第1のスイッチに結合される第2のスイッチを含む、少なくとも2つのスイッチ、および/または少なくとも2つのスイッチに結合されるコントローラであって、少なくとも2つのスイッチを動作させ、第1のスイッチと第2のスイッチとの間の出力ノードにおいて差動入力の平均電圧を得ることを含む、ステップを行うように構成される、コントローラを含んでもよい。いくつかの実施形態では、本装置はまた、出力ノードに結合され、かつコントローラに結合される、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を含んでもよく、ADCは、平均電圧に基づいて、コモンモード(CM)データをコントローラに提供するように構成され、および/または装置は、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を含んでもよく、コントローラはさらに、ADCを動作させ、少なくとも部分的に、出力ノードにおいて発生された平均電圧に基づいて、差動入力における不整合を補償するように構成される。
前述は、以下の発明を実施するための形態がより深く理解され得るために、本発明の実施形態のある特徴および技術的利点をかなり広義に概略している。本発明の請求項の主題を形成する、付加的特徴および利点は、本明細書に後述されるであろう。開示される概念および具体的実施形態は、同一または類似目的を果たすための他の構造を修正もしくは設計するための基礎として容易に利用され得ることが、当業者によって理解されるはずである。また、そのような均等物構造は、添付の請求項に記載される本発明の精神および範囲から逸脱しないことが、当業者によって認識されるはずである。付加的特徴は、付随の図と併せて検討されるとき、以下の説明からより深く理解されるであろう。しかしながら、図はそれぞれ、例証および説明の目的のためだけに提供されており、本発明を限定することを意図するものではないことは、はっきりと理解されたい。
例えば、本願は以下の項目を提供する。
(項目1)
アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのコモンモードおよび差動モード不整合を補償するための方法であって、
デジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信するステップと、
前記デジタル/アナログコンバータ(DAC)が、少なくとも部分的に、前記受信されたデジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データに基づいて、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でコモンモードおよび差動モード不整合のうちの少なくとも1つの補償を提供するように、デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のための制御信号を発生させるステップと、
を含む、方法。
(項目2)
前記コモンモード(CM)データを受信するステップは、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノード間のDC平均電圧レベルを受信するステップを含み、前記DC平均電圧レベルは、スイッチによって前記差動入力ノードに結合されるコモンモード(CM)感知ノードから受信される、項目1に記載の方法。
(項目3)
前記スイッチをアクティブ化し、前記差動入力ノードに結合されるサンプリングコンデンサをサンプリングするステップをさらに含み、前記スイッチは、前記DC平均電圧レベルを得るためにアクティブ化される、項目2に記載の方法。
(項目4)
前記差動モード(DM)データを受信するステップは、差動入力ノード間の差異を受信するステップを含み、前記差異は、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の量子化器から受信される、項目1に記載の方法。
(項目5)
前記制御信号を発生させるステップは、
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノードに結合されるマイクロホンの構成を判定するステップと、
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内のコモンモードおよび差動モード不整合を判定するステップと、
を含み、
前記制御信号を発生させるステップは、少なくとも部分的に、前記マイクロホンの判定される構成ならびに前記判定されたコモンモードおよび差動モード不整合に基づいて、前記制御信号を発生させるステップを含む、項目1に記載の方法。
(項目6)
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、切替式コンデンサADCを備える、項目1に記載の方法。
(項目7)
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、連続時間ADCを備える、項目1に記載の方法。
(項目8)
装置であって、
デジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信するステップと、
デジタル/アナログコンバータ(DAC)が、少なくとも部分的に、前記受信されたデジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データに基づいて、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でコモンモードおよび差動モードのうちの少なくとも1つの不整合の補償を提供するように、前記デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のための制御信号を発生させるステップと、
を含む、ステップを行うことによって、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を動作させるように構成される、コントローラを備える、装置。
(項目9)
前記コモンモード(CM)データを受信するステップは、差動入力ノード間のDC平均電圧レベルを受信するステップを含み、前記DC平均電圧レベルは、スイッチによって前記差動入力ノードに結合されるコモンモード(CM)感知ノードから受信される、項目8に記載の装置。
(項目10)
前記コントローラはさらに、前記スイッチをアクティブ化し、前記差動入力ノードに結合されるサンプリングコンデンサをサンプリングするステップを行うように構成され、前記スイッチは、前記DC平均電圧レベルを得るためにアクティブ化される、項目9に記載の装置。
(項目11)
前記差動モード(DM)データを受信するステップは、差動入力ノード間の差異を受信するステップを含み、前記差異は、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の量子化器から受信される、項目8に記載の装置。
(項目12)
前記制御信号を発生させるステップは、
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノードに結合されるマイクロホンの構成を判定するステップと、
前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の望ましくない影響を判定するステップと、
を含み、
前記制御信号を発生させるステップは、少なくとも部分的に、前記マイクロホンの構成および前記望ましくない影響に基づいて、前記制御信号を発生させるステップを含む、項目8に記載の装置。
(項目13)
前記コントローラは、切替式コンデンサアナログ/デジタルコンバータ(ADC)を制御するように構成される、項目8に記載の装置。
(項目14)
前記コントローラは、連続時間アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を制御するように構成される、項目8に記載の装置。
(項目15)
コモンモードインセンシティブ切替式コンデンサシステム内の2つの入力ノードにおける差動入力電圧の平均を感知するための方法であって、
差動入力を前記切替式コンデンサシステムに提供するステップであって、少なくとも2つのサンプリングコンデンサは、前記2つの入力ノードのそれぞれに結合される、ステップと、
前記差動入力の平均電圧が出力ノードにおいて発生されるように、2つまたはそれを上回るスイッチを動作させ、前記少なくとも2つのサンプリングコンデンサをサンプリングするステップと、
を含む、方法。
(項目16)
前記切替式コンデンサシステムのコントローラへのフィードバックのために前記平均電圧のアナログ値をデジタル値に変換するステップをさらに含む、項目15に記載の方法。
(項目17)
少なくとも部分的に、前記出力ノードにおいて発生された平均電圧に基づいて、前記差動入力における望ましくない影響を補償するステップをさらに含む、項目15に記載の方法。
(項目18)
装置であって、
第1の入力ノードおよび第2の入力ノードを備える、差動入力と、
前記第1の入力ノードに結合される第1のコンデンサおよび前記第2の入力ノードに結合される第2のコンデンサを備える、少なくとも2つのサンプリングコンデンサと、
前記第1のコンデンサに結合される第1のスイッチ、および前記第2のコンデンサに結合され、かつ前記第1のスイッチに結合される第2のスイッチを備える、少なくとも2つのスイッチと、
前記少なくとも2つのスイッチに結合されるコントローラであって、前記コントローラは、前記差動入力の平均電圧が、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチとの間の出力ノードにおいて発生されるように、前記少なくとも2つのスイッチを動作させ、前記少なくとも2つのサンプリングコンデンサをサンプリングすることを含む、ステップを行うように構成される、コントローラと、
を備える、装置。
(項目19)
前記出力ノードに結合され、かつ前記コントローラに結合される、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)をさらに備え、前記ADCは、前記平均電圧に基づいて、コモンモード(CM)データを前記コントローラに提供するように構成される、項目18に記載の装置。
(項目20)
デジタル/アナログコンバータ(DAC)をさらに備え、前記コントローラはさらに、少なくとも部分的に、前記出力ノードにおいて発生された平均電圧に基づいて、前記DACを動作させ、前記差動入力における不整合を補償するように構成される、項目18に記載の装置。
開示されるシステムおよび方法のより完全な理解のために、ここで、添付の図面と併せて検討される、以下の説明を参照する。
図1Aは、完全差動AC結合構成におけるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に結合されるマイクロホンを図示する、ブロック図である。図1Bは、擬似差動AC結合構成におけるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に結合されるマイクロホンを図示する、ブロック図である。図1Cは、完全差動DC結合構成におけるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に結合されるマイクロホンを図示する、ブロック図である。図1Dは、擬似差動DC結合構成におけるアナログ/デジタルコンバータ(ADC)に結合されるマイクロホンを図示する、ブロック図である。 図1Eは、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の変調器デジタル出力コードを図示する、グラフである。図1Fは、不整合コモンモード(CM)値を有する完全差動入力を伴う、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の変調器デジタル出力コードを図示する、グラフである。図1Gは、不整合差動モード(DM)値を有する完全差動入力を伴う、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の変調器デジタル出力コードを図示する、グラフである。 図2は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を検出および調節し、マイクロホントポロジに整合させる方法を図示するフローチャートである。 図3は、本開示の一実施形態による、アナログ信号を処理するための2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)の一部を図示する、ブロック図である。 図4は、本開示の一実施形態による、2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でアナログ信号をデジタル信号に変換する方法を図示するフローチャートである。 図5は、本開示の一実施形態による、2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータの一部を図示する、回路図である。 図6は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のフィードバック経路からのデジタル/アナログコンバータ(DAC)を図示する、回路図である。 図7は、本開示の一実施形態に従って構成される5ビットアナログ/デジタルコンバータ(ADC)の例示的出力を示す、表である。 図8は、本開示の一実施形態による、異なるトポロジのマイクロホンを動作させることが可能なアナログ/デジタルコンバータ(ADC)を伴う電子デバイスを示す、例証である。 図9は、本開示の一実施形態による、感知ノードを提供するように構成される短絡相スイッチを伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのフロントエンドスイッチを図示する、回路図である。 図10は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのインターフェース検出および補償を図示する、回路図である。 図11は、本開示の一実施形態による、マイクロホン構成を判定し、不整合補償を適用するための例示的方法を図示する、フローチャートである。 図12は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の望ましくない影響を補償するための例示的方法を図示する、フローチャートである。 図13は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内のコモンモード(CM)データを感知するための例示的方法を図示する、フローチャートである。
図2は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作を検出および調節し、マイクロホントポロジに整合させる方法を図示するフローチャートである。方法200は、ブロック202から開始し、アナログ入力をマイクロホンから受信する、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の出力を監視する。監視される出力は、例えば、ADCからのデジタル出力または擬似デジタル出力であってもよい。次いで、ブロック204では、マイクロホンの結合構成が、ブロック202においてADCの監視される出力に基づいて判定されてもよい。判定は、ADC出力における瞬間値に基づいて行われてもよい、または判定は、ある時間期間にわたってADC出力を評価することによって行われてもよい。次に、ブロック206では、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の動作が、判定されたマイクロホンの結合構成に基づいて調節されてもよい。方法200は、アナログ/デジタルコンバータに結合されるコントローラまたはアナログ/デジタルコンバータと統合されるコントローラによって行われてもよい。
図2に説明されるように、ADC内のマイクロホンからのアナログ信号を処理し、マイクロホン構成を判定する1つの方法は、2つの処理経路内のマイクロホン入力信号を処理するものである。第1の処理経路は、差動入力信号間の差異を処理してもよく、第2の処理経路は、差動入力信号の平均値を処理してもよい。図3は、本開示の一実施形態による、アナログ信号を処理するための2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)の一部を図示する、ブロック図である。アナログ/デジタルコンバータ(ADC)300は、第1の入力ノード302と、第2の入力ノード304とを含んでもよい。入力ノード302および304は、マイクロホン310に結合し、差動または擬似差動入力として、マイクロホン310の周囲の環境内の音を示すマイクロホン310によって発生されたアナログ信号を受信するように構成されてもよい。ループフィルタコンポーネント等のADC300の一部のみが図3に図示されるが、図3に示されない付加的コンポーネントが、ADC内に存在してもよい。
ADC300は、入力ノード302および304において受信された入力を処理し、出力ノード308においてデジタル出力Doutを発生させてもよい。処理は、2つの処理経路312および322を通して生じてもよい。差動処理経路322は、入力ノード302および304における差動信号間の差異を処理してもよい。コモンモード処理経路312は、入力ノード302および304における差動入力の平均値を処理してもよい。一実施形態では、コモンモード処理経路312は、差動入力の平均値と入力ノード306において受信された理想的コモンモード電圧VCMIとの間の差異を発生させてもよい。処理経路312および322の出力は、コンバイナ332に提供されてもよく、これは、少なくとも1つのデジタル出力信号Doutを出力ノード308において発生させる。
図3に図示されるように2つの処理経路と構成されるADCを通してアナログ差動信号を処理するための方法は、図4を参照して説明される。図4は、本開示の一実施形態による、2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でアナログ信号をデジタル信号に変換する方法を図示するフローチャートである。方法400は、ブロック402から開始し、デジタル信号への変換のためにアナログ差動信号の第1の入力および第2の入力を受信する。次いで、ブロック404では、第1の入力と第2の入力との間の差異が、図3の差動処理経路322等の第1の処理ループ内で処理される。次に、ブロック406では、第1の入力および第2の入力の平均が、図3のコモンモード処理経路312等の第2の処理経路内で処理される。ブロック404および406の処理は、同時に生じてもよい。他の実施形態では、ブロック404および406の処理は、第1の入力および第2の入力から得られた個々のサンプルに対して順次方式で生じてもよい。次いで、ブロック408では、ブロック404の差異処理およびブロック406の平均処理の出力は、図3のコンバイナ332等において組み合わせられ、デジタル信号を生成してもよい。処理経路の出力を組み合わせることによって生成されたデジタル信号は、アナログ差動信号のデジタル表現に対応する。マイクロホンが、第1の入力および第2の入力に結合されると、本デジタル信号は、マイクロホンの周囲の環境内の音のデジタル表現となる。
2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)を実装するための一実施形態は、図5に示されるように、デルタシグマ変調器として2つの処理経路を実装する。図5は、本開示の一実施形態による、2つの処理経路を伴うアナログ/デジタルコンバータの一部を図示する、回路図である。アナログ/デジタルコンバータ(ADC)500は、AC結合、DC結合、完全差動、および擬似差動マイクロホン等のマイクロホントポロジをサポートする、汎用マイクロホントポロジをサポートする。第1の処理経路322および第2の処理経路312は、それぞれ、ループフィルタ522および512と、量子化器524および514とを含む。処理経路312および322は、コンバイナ332に出力し、これは、擬似デジタル信号を出力ノード308Aおよび308Bにおいて発生させる。ノード308Aおよび308Bにおける擬似デジタル信号は、それぞれ、フィードバック経路540を通して処理経路312および322の入力に提供される。フィードバック経路540は、デジタル/アナログコンバータ(DAC)542および544を含む。DAC542および544の出力は、それぞれ、差動処理経路322の第1および第2の入力に結合されてもよい。さらに、DAC542および544の出力は、コモンモード処理経路312への入力のために平均化されてもよい。処理経路312および322はそれぞれ、したがって、同一フロントエンドおよびバックエンドに結合される機能ADCループである。しかしながら、処理経路312および322はそれぞれ、入力ノード302および304において受信された入力信号の異なる側面を処理する。
入力ノード302および304は、差動信号を2つのフロントエンド総和ノードVxn、Vxpおよび差動モード(DM)ループフィルタ522に結合する。入力ノード302および304はまた、差動信号の平均をコモンモード(CM)ループフィルタ512に結合する。コモンモードループフィルタはまた、入力ノード306から、ループフィルタ512および522内の増幅器(図示せず)における所望の入力に整合するように選択された所望のコモンモード電圧を示し得る、理想的CM電圧VCMIを受信する。したがって、差動誤差信号は、DMループフィルタ522を通して通過し、コモンモード誤差信号は、CMループフィルタ512を通して通過する。ループフィルタ512および522は、例えば、演算増幅器を含有する、積分器を含んでもよい。それらの演算増幅器は、ノード306において受信された理想的コモンモード電圧VCMIに整合する、ある範囲内で動作するように設計されてもよい。ループフィルタ512および522の出力は、それぞれ、量子化器514および524内で量子化され、デジタル出力DCMおよびDDMを発生させる。DCMデジタル出力は、入力の平均値と理想的コモンモード電圧VCMIの比較に基づく誤差信号のデジタル表現を含有してもよく、DDMデジタル出力は、入力ノード302および304における差動入力に基づく誤差信号のデジタル表現を含有してもよい。量子化後、CMおよびDMデジタル出力DCMおよびDDMは、デコーダを使用して、CMおよびDM情報を搬送する擬似デジタルデータを発生させること等によって、コンバイナ332において組み合わせられる。擬似デジタルデータは、DおよびD信号としてノード308Aおよび308Bにおいて出力されてもよく、Dは、(DCM+DDM/2)情報を含有し、Dは、(DCM−DDM/2)情報を含有する。コンバイナは、増幅器532と、総和ブロック534および536とを含み、出力DおよびD信号を経路312ならびに322の出力から発生させてもよい。
擬似デジタルデータ(D,D)は、それぞれ、フィードバック経路540内のDAC544および542に結合されてもよい。一実施形態では、DAC544および542は、電流操向DACとして実装されてもよい。図6は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のフィードバック経路からのデジタル/アナログコンバータ(DAC)を図示する、回路図である。DAC542および544では、擬似デジタル出力Dは、DAC542内の電流DACのスイッチを制御し、Dは、DAC544のスイッチを制御する。
図5のADC500の動作は、5ビットADCとして構成されるとき、ADC500の例示的出力を示す表である、図7を参照して説明され得る。AC結合完全差動マイクロホントポロジに関して、VinおよびVipのDC値は、VCMIに内部設定されてもよく、CM誤差は、ゼロであってもよい。その結果、DAC542出力値Iは、−32DAC〜+32DACに及び得、DAC544出力値Iは、+32DAC〜−32DACに及び得、DおよびDにおいて反対コードをもたらす。DC結合完全差動トポロジに関して、ノード302および304における入力のDC値がノード306におけるVCMIと整合される場合、任意のコモンモード誤差信号は存在せず、出力は、AC結合FDの場合に類似するであろう。DC結合完全差動トポロジに関して、ノード304および304における入力のDC値がノード306におけるVCMIと不整合である場合(CM誤差が存在するように)、CMループフィルタ512は、lおよびI値を調節し、そのCM誤差を相殺してもよい。次いで、出力は、再び、AC結合FDの場合に類似するであろう。したがって、図5のコントローラ550等のコントローラが、DおよびDの平均を検出する場合、デジタル出力コードは、ゼロであって、次いで、コントローラは、マイクロホントポロジが完全差動であることを判定し得る。コントローラはさらに、付加的情報を受信することによって、完全差動トポロジのAC結合とDC結合変形例を判別してもよい。例えば、コントローラは、プログラムされた信号をメモリまたはヒューズから受信してもよい。別の実施例では、コントローラは、VCMI入力ノード306から引き出される電流の量を判定してもよい。
AC結合擬似差動トポロジに関して、VipおよびVinのDC値は、入力ノード306において受信されたVCMIに整合するように内部設定されてもよい。次いで、DおよびI値は、AC結合FDの場合に類似するが、Vinに関してノード304におけるAC信号が存在せず、そのDC値が、Vcm発生器ブロック(図示せず)によって設定されるため、I値がゼロ(D=[10000]、これは、中間コードである)であろうという点において異なり得る。したがって、図5のコントローラ550等のコントローラが、[10000]のD値を検出する場合、コントローラは、マイクロホントポロジがAC結合擬似差動であることを判定し得る。
DC結合擬似差動トポロジに関して、DおよびI値は、AC結合擬似差動トポロジの場合と類似するであろう(VipにおけるDC値がVCMIに整合すると仮定して)が、Iは、+32DACにおいて最大限に達し、VxnノードのDC値を設定し、出力値D=[11111]をもたらすであろう。したがって、図5のコントローラ550等のコントローラが、[11111]のD値を検出する場合、コントローラは、マイクロホントポロジがDC結合擬似差動トポロジであることを判定し得る。
コントローラは、デジタル検出アルゴリズムを使用して、DおよびD上のデータパターンを監視することによって、マイクロホントポロジを検出し、それに基づいて、種々のトポロジを区別してもよい。いくつかの実施形態では、付加的情報が、コントローラに提供され、判定を補助してもよい。マイクロホントポロジを判定後、コントローラは、判定されたトポロジに基づいて、ADCの動作を調節してもよい。例えば、トポロジが擬似差動AC結合されるとき、コントローラ550は、DAC544をシャットダウンしてもよい。代替として、DAC544のうちのいくつかのユニットは、不整合を判定するために、オンに切り替えられたままであってもよい。別の実施例として、トポロジが、擬似差動DC結合されるとき、コントローラは、DAC544のNMOS側電流をシャットダウンし、電力消費を削減してもよい。いくつかの実施形態では、コントローラは、安定条件がADC内で達成されるまで、DACの動作の調節を待機してもよい。安定条件は、ADCの始動またはADCの入力に最初に現れた信号からある時間量が経過した後に到達され得る。代替として、安定条件は、DACの出力が予期される信号に到達すると到達されてもよい。本明細書に説明されるコントローラ550は、DACと統合される、またはDACの外部にあってもよい。
種々のマイクロホントポロジのための汎用および/または適応DACとして前述のDAC構成は、マイクロホン(またはデジタルコンポーネントと相互作用する他のアナログ入力デバイス)を有する電子デバイス内に実装されてもよい。図8は、本開示の一実施形態による、異なるトポロジのマイクロホンを動作させることが可能なアナログ/デジタルコンバータ(ADC)を伴う電子デバイスを示す、例証である。モバイルデバイス802は、例えば、携帯電話であってもよい。モバイルデバイス802は、音声マイクロホン804Aおよび804B、ノイズキャンセリングのための近接マイクロホン804C、および/またはヘッドセットマイクロホン806等の複数のマイクロホンを含んでもよい。マイクロホンは、マイクロホン804A、804B、および804C等の電子デバイス802と統合されるか、またはマイクロホン806等の電子デバイス802の外部にあるかのいずれかであってもよい。電子デバイス802のADC810は、マイクロホン804A、804B、804C、および/または806に結合され、マイクロホン804A、804B、804C、および/または806からの入力信号を処理してもよい。ADC810は、図3、図4、図5、および図6を参照して説明されるように、2つの処理ループを組み込んでもよい。ADC810はまた、図2および図7を参照して説明される監視ならびに調節能力を組み込んでもよい。異なるトポロジをサポートするADC810の汎用性質は、エンドユーザがマイクロホントポロジを認知する必要がないという利点をエンドユーザにもたらし、製造業者が、電子デバイスの生産の際、ADC810もまた変更する必要なく、マイクロホン供給業者を切り替えてもよいという利点を製造業者にもたらす。さらに、マイクロホンがAC結合トポロジであるとき、ADC810とマイクロホンとの間のインターフェースは、図1Aおよび図1Bのコンデンサ112ならびに114等のコンデンサに結合することを要求しない。したがって、本明細書に開示されるようなADCの使用は、電子デバイス内のマイクロホンおよびADCインターフェースによって占有される空間を縮小させることができる。モバイルデバイス802等の電子デバイス内に実装され得る、ADCまたはADCの一部の付加的実施形態が、以下に説明される。
図5および図5を参照する説明は、コントローラ550による動作下、差動入力ノード302および304に結合されるVxpならびにVxnにおける差動ノードに信号を印加するためのフィードバック経路540の使用を図示し、それを説明する。いくつかの実施形態では、フィードバック経路540のデジタル/アナログコンバータ(DAC)は、補助デジタル/アナログコンバータ(DAC)として使用され、コモンモードおよび差動モード不整合の補償を提供してもよい。これらの実施形態のうちのいくつかでは、補助DACは、コモンモード(CM)感知ノードからの測定に基づいて制御されてもよい。CM感知ノードは、差動入力間に結合される2つまたはそれを上回るスイッチを通して提供されてもよい。1つのそのような実施形態は、短絡相スイッチを使用する図9に示される。図9は、本開示の一実施形態による、感知ノードを提供するように構成される短絡相スイッチを伴うアナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのフロントエンドスイッチを図示する、回路図である。回路900は、2つの短絡スイッチ912および914を含み、これは、コントローラ(まだ図示せず)等によって動作され、動作の第2のクロック相の間、2つの入力サンプリングキャップを短絡させてもよい。2つの短絡スイッチ912と914との間の感知ノード916は、コモンモード(CM)感知ノードを提供してもよい。
特に、感知ノード916における電圧は、回路900の動作のある時間の間、入力ノード902と904との間の平均電圧に関するデータを提供してもよい。短絡スイッチ912および914は、スイッチ912と914との間の任意の寄生静電容量(図示せず)とともに、切替式コンデンサ(SC)レジスタを生成する。SCレジスタは、値が小寄生キャップ値に反比例するため、大抵抗値を有し得る。図9の実施形態は、スイッチを使用して、CM感知ノードを提供するための2つの大レジスタを生成する。スイッチ912および914が、伝導性にされるとき、中央ノード916は、入力ノード902および904における入力電圧の略平均である電圧レベルに安定化する。
感知ノード916からの入力は、ADCのフィードバック経路内でDACを動作させるためにコントローラに提供されてもよい。CM感知ノードに基づくフィードバックを実装するADCの一実施形態が、図3または図5を参照して説明されるものに類似するインターフェース検出ハードウェアとともに、図10に示される。図10は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのインターフェース検出および補償を図示する、回路図である。特定のADC構成が図10に示されるが、本明細書に説明される感知ノードおよび/またはコントローラは、切替式コンデンサADC回路および連続時間ADC回路を含む、他のADC構成に実装されてもよい。
アナログ/デジタルコンバータ(ADC)回路1000は、それぞれ、サンプリングコンデンサ1022および1024の第1の側に結合される第1の短絡スイッチ1012および1014のセットを含む。短絡スイッチ1012および1014は、差動入力ノード1002および1004を感知ノード1016に結合する。回路1000はまた、それぞれ、サンプリングコンデンサ1022および1024の第2の側に結合される第2の短絡スイッチ1032および1034のセットを含む。短絡スイッチ1032および1034は、差動入力をノード1036に結合し、ノード1036は、コモンモードVcm電圧であってもよい。
感知ノード1016は、外部コモンモードVcm,pと内部コモンモードVcm,iとの間の不整合を判定するために測定および使用されてもよい。外部コモンモードVcm,pは、スイッチ1012および1014を制御し、伝導モードに入り、感知ノード1016がADC1000の外部の差動入力ノード1002と1004との間の平均電圧を等圧化することを可能にすることによって監視されてもよい。デジタル/アナログコンバータ(DAC)1042は、外部コモンモードVcm,p値を測定してもよい。ADC1042は、Vcm,iおよびVcm,p値に基づいて、コモンモード値Dcmを発生させてもよい。そのコモンモード値Dcmは、コントローラ1044に提供されてもよい。Vcm,iとVcm,p値との間の不整合は、回路1000の出力が、不整合を検出し、不整合を補償することによって改良され得るように、回路1000の出力に現れ得る、差動信号を生成する、または回路1000の出力に雑音を生成する。
補償は、フィードバック経路1060を通して得られてもよい。補償は、DcmおよびDmain出力の監視に従ってコントローラ1044によって選択されたデジタルコードに従って、補助DAC1062を通して提供されてもよい。差動入力信号は、サンプリングコンデンサ1022および1024と、コンパレータ1052と、他のループフィルタコンポーネント1054と、量子化器1056とを通して等、ADCコンポーネント1050を通して処理され、量子化された出力Dmainを発生させてもよい。量子化された出力Dmainは、コントローラ1044に提供され、コントローラ1044によって使用され、回路1000のデジタル出力Doutを発生させてもよい。コントローラ1044はまた、量子化された出力Dmainを使用して、フィードバック経路1060を制御するための制御信号を発生させてもよい。フィードバック経路1060は、補助DAC1062を含んでもよい。フィードバック経路1060はまた、主DAC1064を含んでもよく、これは、量子化された出力Dmainを受信し、Dmain値をADC1000にフィードバックする。コントローラ1044は、補助DAC1062を動作させるための制御信号を発生させてもよく、これは、信号を内部CM感知ノードに印加し、CM不整合を補償する。
コントローラ1044は、マイクロホンインターフェース構成を処理するように構成されてもよい。インターフェース構成は、部分的に、量子化器1056出力から判定されてもよい。量子化器1056デジタル出力コードは、入力の差動モード(DM)表現を表す。すなわち、量子化雑音をフィルタ処理後、量子化された出力Dmainは、Vip−Vin情報を有し、Vipは、ノード1002における入力であって、Vinは、ノード1004における入力である。インターフェース構成はまた、部分的に、ADC1042出力から判定されてもよく、これは、感知ノード1016からの情報を含む。感知ノード1016電圧をデジタル化することによって、コントローラ1044は、入力ノード1002および1004における差動入力電圧にかかわらず、コモンモード(CM)情報、例えば、値(Vip+Vin)/2のインジケーションを有し得る。本DMおよびCM情報を使用して、コントローラ1044は、インターフェース構成(例えば、完全差動FDまたは擬似差動PDのいずれか)を判定してもよく、コントローラ1044はまた、入力ノード1002および1004における差動入力信号の可能性として考えられるDMまたはCM不整合を判定してもよい。
コントローラ1044は、DM出力が、中央コード中心出力コードにあって、CMデータがAC信号項が感知ノードに現れることを示すとき、マイクロホンが擬似差動(PD)構成にあることを判定し得る。擬似差動(PD)構成が検出されない場合、コントローラ1044は、マイクロホンが完全差動(FD)構成で動作していることを判定し得る。コントローラ1044は、CMデータがAC信号項を含み、DMデータがコードシフトを有していないとき、AC不整合が存在することを判定し得る。コントローラ1044は、CMデータがAC信号項を示さず、DMデータがコードシフトを有するとき、DC不整合を判定し得る。コントローラ1044は、CMデータがAC信号項を示し、DMデータがコードシフトを有するとき、ACおよびDC不整合が存在することを判定し得る。これらのシナリオのいずれにおいても、CM入力におけるAC信号項は、入力AC不整合振幅に比例し得、DM入力におけるコードシフトは、DC不整合に比例し得る。
コントローラ1044の動作のための1つの方法が、図11に示される。図11は、本開示の一実施形態による、マイクロホン構成を判定し、不整合補償を適用するための例示的方法を図示する、フローチャートである。方法1100は、ブロック1102から開始し、コモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データに基づいて、マイクロホン構成を判定する。CMデータは、図10におけるADC1042からの信号Dcm等におけるように、CM感知ノードにおける電圧レベルを示す信号として受信されてもよい。DMデータは、図10における量子化器1056からの信号Dmain等の差動モード経路内の量子化器からの信号として受信されてもよい。次いで、方法1100は、ブロック1104に継続し、マイクロホン入力からのADC内の望ましくない影響を判定する。例えば、ブロック1104は、差動入力ノード間および/または内部ならびに外部コモンモード間のACまたはDC不整合の存在を判定するステップを含んでもよい。次に、ブロック1106では、方法1100は、補助DAC等のADCのコンポーネントを制御し、ブロック1104の望ましくない影響を補償するステップを含んでもよい。例えば、補助DAC1062は、信号をADCの差動入力に適用し、不整合を補償するように制御されてもよい。
ブロック1106の補償は、例えば、入力転送電荷の不整合部分を相殺するように適用されてもよい。差動入力のための総ADC入力経路電荷は、以下に示されるように、qi,pおよびqi,nによって与えられ得る。
Figure 0006586224
差動入力のDAC経路電荷は、以下に示されるように、qdac,pおよびqdac,nによって与えられ得る。
Figure 0006586224
補助DACは、入力転送電荷の不整合部分を相殺するように制御されてもよい。
Figure 0006586224
一実施形態では、コントローラ1044は、補助DAC1062に入力転送電荷の不整合部分を相殺するために十分な電荷を印加させる、補助DAC1062への出力のためのデジタルコード値Dauxを発生させてもよい。
いくつかの実施形態では、コントローラ1044は、ブロック1106における補償ステップの一部として具体的措置を講じてもよい。以下の実施例では、VCMは、外部コモンモードを指し、Vcm,iおよびVcm,pは、それぞれ、入力VinおよびVipにおけるコモンモードを指す。例えば、DcmがDC項(Vcm,i−Vcmに比例し得る)のみを有し、DmainがDCシフトを有していないとき、コントローラ1044は、インターフェースが整合DCおよびAC値を伴う完全差動(FD)であることを判定し得、したがって、発生されたDaux出力は、中性であり得る(中央コードに設定される等)。別の実施例として、DcmがDC項(Vcm,i−Vcm+ΔVcm,i/2に比例し得る)のみを有し、DmainがDCシフト(ΔVcm,iに比例し得る)を有するとき、コントローラ1044は、インターフェースが完全差動(FD)であることを判定し得、入力DC値は、不整合であって、したがって、発生されたDaux出力は、ΔVcm,i/2に比例する望ましくない電荷を補償するように選択され得る。別の実施例として、DcmがDC項(Vcm,i−Vcmに比例し得る)およびAC項(ΔVdm,iに比例し得る)を有し、DmainがDCシフトを有していないとき、コントローラ1044は、インターフェースが整合DC入力値であるが、不整合AC値を伴う完全差動(FD)であることを判定し得、したがって、発生されたDaux出力は、ΔVdm,i/2に比例する望ましくない電荷を補償するように選択され得る。さらなる実施例として、DcmがDC項(Vcm,i−Vcm+ΔVcm,i/2に比例し得る)およびAC項(ΔVdm,iに比例し得る)を有し、DmainがDCシフトを有するとき、コントローラ1044は、インターフェースが不整合ACおよびDC値を伴う完全差動(FD)であることを判定し得、したがって、発生されたDaux出力は、(ΔVcm,i+ΔVdm,i)/2に比例する望ましくない電荷を補償するように選択され得る。別の実施例として、DcmがDC項(Vcm,i/2−Vcmに比例し得る)およびAC項(Vdm,i/2に比例し得る)を有し、DmainがDCシフトを有していないとき、Dcmは、高DC項を有し、Dcmは、高(例えば、>=Vdm,i/2)AC項を有し、コントローラ1044は、インターフェースが擬似差動(PD)であることを判定し得、したがって、発生されたDaux出力は、Vcm,i/2に比例する望ましくない電荷を補償し、アクティブブロック出力におけるDCシフトを除去するように選択され得る。
望ましくない影響を判定し、補償を適用する一例示的実施形態が、図12を参照してより詳細に説明される。図12は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の望ましくない影響を補償するための例示的方法を図示する、フローチャートである。方法1200は、ブロック1202から開始し、コモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信してもよい。受信されたCMデータおよびDMデータは、それぞれ、例えば、差動入力ノード電圧の平均および差動入力ノード電圧の差異であってもよい。次いで、ブロック1204では、コモンモード(CM)および/または差動モード(DM)不整合等の望ましくない影響が、判定されてもよい。CM不整合およびDM不整合は、部分的に、ブロック1202から受信されたCMデータおよびDMデータに基づいて計算される、2つの未知数であってもよい。次に、ブロック1206では、制御信号が、デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のために発生されてもよく、制御信号は、DACがブロック1204において判定される望ましくない影響の少なくとも一部のための補償を提供するように選択される。例えば、DACは、差動入力間のDC不整合を中和するように制御されてもよい。
ブロック1202において受信されたCMデータは、図10のCM感知ノード1016等のADC内のCM感知ノードから受信されてもよい。CMデータを得るための一例示的方法が、図13を参照してより詳細に説明される。図13は、本開示の一実施形態による、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内のコモンモード(CM)データを感知するための例示的方法を図示する、フローチャートである。方法1300は、ブロック1302から開始し、切替式コンデンサ回路の2つのサンプリングコンデンサに結合される2つの入力ノードを通して差動入力を受信してもよい。例えば、差動入力は、図10のサンプリングコンデンサ1022および1024に結合される入力ノード1002および1004において受信されてもよい。次いで、ブロック1304では、2つまたはそれを上回るスイッチが、平均電圧が2つまたはそれを上回るスイッチ間の出力ノードにおいて発生され得るように、2つのサンプリングコンデンサをサンプリングするために制御されてもよい。例えば、スイッチ1012および1014は、伝導状態に切り替わり、サンプリングコンデンサ1022および1024の平均電圧をサンプリングするように制御されてもよい。
図2、図4、図11、図12、および図13の概略フローチャート略図は、概して、論理フローチャート略図として記載される。したがって、描写される順序および標識されるステップは、開示される方法の側面を示す。図示される方法の1つもしくはそれを上回るステップまたはその一部と機能、論理、もしくは効果上均等物である、他のステップおよび方法も、想起され得る。加えて、採用されるフォーマットおよび記号は、方法の論理ステップを説明するために提供され、方法の範囲を限定するものと理解されるものではない。種々の矢印タイプおよび線タイプが、フローチャート略図において採用され得るが、それらは、対応する方法の範囲を限定するものと理解されるものではない。実際には、いくつかの矢印または他のコネクタは、方法の論理フローのみを示すために使用され得る。例えば、矢印は、描写される方法の列挙されたステップ間の規定されていない持続時間の待機または監視期間を示し得る。加えて、特定の方法が生じる順序は、示される対応するステップの順序に厳密に従ってもよい、またはそうではなくてもよい。
コントローラによって行われるような前述の動作は、説明される動作を行うように構成される任意の回路によって行われてもよい。そのような回路は、半導体基板上に構築される集積回路(IC)であり得、論理ゲートとして構成されるトランジスタ等の論理回路と、動的ランダムアクセスメモリ(DRAM)、電子プログラマブル読取専用メモリ(EPROM)、または他のメモリデバイスとして構成されるトランジスタおよびコンデンサ等のメモリ回路とを含んでもよい。論理回路は、有線接続を通して、またはファームウェア内に含有される命令によるプログラミングを通して、構成されてもよい。さらに、論理回路は、ソフトウェア内に含有される命令を実行可能な汎用プロセッサとして構成されてもよい。ファームウェアおよび/またはソフトウェア内に実装される場合、前述の機能は、コンピュータ可読媒体上またはメモリ回路内の1つもしくはそれを上回る命令もしくはコードとして記憶されてもよい。実施例として、データ構造でエンコードされた非一過性コンピュータ可読媒体およびコンピュータプログラムでエンコードされたコンピュータ可読媒体が挙げられる。コンピュータ可読媒体は、物理的コンピュータ記憶媒体を含む。記憶媒体は、コンピュータによってアクセスされ得る、任意の利用可能な媒体であってもよい。限定ではないが、一例として、そのようなコンピュータ可読媒体として、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読取専用メモリ(ROM)、電気的に消去可能なプログラマブル読取専用メモリ(EEPROM)、コンパクトディスク読取専用メモリ(CD−ROM)もしくは他の光ディスク記憶、磁気ディスク記憶もしくは他の磁気記憶デバイス、または所望のプログラムコードを命令もしくはデータ構造の形態で記憶するために使用され得、コンピュータによってアクセスされ得る、任意の他の媒体が挙げられ得る。ディスク(diskおよびdisc)は、コンパクトディスク(CD)、レーザディスク、光学ディスク、デジタル多用途ディスク(DVD)、フロッピー(登録商標)ディスク、およびBlu−ray(登録商標)ディスクを含む。概して、ディスク(disk)は、データを磁気的に再生し、ディスク(disc)は、データを光学的に再生する。前述の組み合わせもまた、コンピュータ可読媒体の範囲内に含まれるべきである。
コンピュータ可読媒体上の記憶に加え、命令および/またはデータは、通信装置内に含まれる伝送媒体上の信号として提供されてもよい。例えば、通信装置は、命令およびデータを示す信号を有する、送受信機を含んでもよい。命令およびデータは、1つまたはそれを上回るプロセッサに、請求項に概略された機能を実装させるように構成される。
本開示およびある代表的利点が詳細に説明されたが、種々の変更、代用、ならびに改変が、添付の請求項によって定義される本開示の精神および範囲から逸脱することなく、本明細書に成され得ることを理解されたい。さらに、本願の範囲は、明細書に説明されるプロセス、機械、製造、組成物、手段、方法、およびステップの特定の実施形態に限定されるものと意図されない。例えば、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)が、発明を実施するための形態全体を通して説明されるが、本発明の側面は、デジタル/アナログコンバータ(DAC)およびデジタル/デジタルコンバータ等の他のコンバータ、またはデルタシグマ変調に基づく他の回路およびコンポーネントの設計に適用されてもよい。別の実施例として、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのマイクロホンインターフェースが、本明細書に説明されるが、本明細書に開示されるADCは、任意のアナログ入力デバイスに適用されてもよい。当業者が本開示から容易に理解するであろうように、本明細書に説明される対応する実施形態と実質的に同一機能を行う、または実質的に同一結果を達成する、現在既存である、もしくは後に開発される、プロセス、機械、製造、組成物、手段、方法、およびステップが、利用されてもよい。故に、添付の請求項は、その範囲内に、そのようなプロセス、機械、製造、組成物、手段、方法、およびステップを含むことが意図される。

Claims (10)

  1. アナログ/デジタルコンバータ(ADC)のためのコモンモードおよび差動モード不整合を補償するための方法であって、
    デジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信するステップであって、前記コモンモード(CM)データを受信するステップは、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノード間のDC平均電圧レベルを受信することを含み、前記DC平均電圧レベルは、スイッチによって前記差動入力ノードに結合されているコモンモード(CM)感知ノードから受信され、前記差動モード(DM)データを受信するステップは、差動入力ノード間の差異を受信することを含み、前記差異は、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の量子化器から受信される、ステップと、
    ジタル/アナログコンバータ(DAC)が前記受信されたデジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データに少なくとも部分的に基づいて、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でコモンモードおよび差動モード不整合のうちの少なくとも1つの補償を提供するように、前記デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のための制御信号を生成するステップ
    を含む、方法。
  2. 前記スイッチをアクティブ化することにより、前記差動入力ノードに結合されているサンプリングコンデンサをサンプリングするステップをさらに含み、前記スイッチは、前記DC平均電圧レベルを得るためにアクティブ化される、請求項に記載の方法。
  3. 前記制御信号を生成するステップは、
    前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノードに結合されているマイクロホンの構成を判定するステップと、
    前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内のコモンモードおよび差動モード不整合を判定するステップ
    を含み、
    前記制御信号を生成するステップは、前記マイクロホンの判定され構成ならびに前記判定されたコモンモードおよび差動モード不整合に少なくとも部分的に基づいて、前記制御信号を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、切替式コンデンサADCを含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)は、連続時間ADCを含む、請求項1に記載の方法。
  6. 装置であって、
    前記装置は、コントローラを備え、
    前記コントローラは、
    デジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データを受信するステップであって、前記コモンモード(CM)データを受信するステップは、差動入力ノード間のDC平均電圧レベルを受信することを含み、前記DC平均電圧レベルは、スイッチによって前記差動入力ノードに結合されているコモンモード(CM)感知ノードから受信され、前記差動モード(DM)データを受信するステップは、差動入力ノード間の差異を受信することを含み、前記差異は、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の量子化器から受信される、ステップと、
    デジタル/アナログコンバータ(DAC)が前記受信されたデジタルコモンモード(CM)データおよび差動モード(DM)データに少なくとも部分的に基づいて、アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内でコモンモードおよび差動モードのうちの少なくとも1つの不整合の補償を提供するように、前記デジタル/アナログコンバータ(DAC)への出力のための制御信号を生成するステップ
    を含ステップを実行することによって、前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を動作させるように構成されてい装置。
  7. 前記コントローラは前記スイッチをアクティブ化することにより、前記差動入力ノードに結合されているサンプリングコンデンサをサンプリングするステップを実行するようにさらに構成されており、前記スイッチは、前記DC平均電圧レベルを得るためにアクティブ化される、請求項に記載の装置。
  8. 前記制御信号を生成するステップは、
    前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)の差動入力ノードに結合されているマイクロホンの構成を判定するステップと、
    前記アナログ/デジタルコンバータ(ADC)内の望ましくない影響を判定するステップ
    を含み、
    前記制御信号を生成するステップは前記マイクロホンの構成および前記望ましくない影響に少なくとも部分的に基づいて、前記制御信号を生成することを含む、請求項に記載の装置。
  9. 前記コントローラは、切替式コンデンサアナログ/デジタルコンバータ(ADC)を制御するように構成されている、請求項に記載の装置。
  10. 前記コントローラは、連続時間アナログ/デジタルコンバータ(ADC)を制御するように構成されている、請求項に記載の装置。
JP2018506395A 2015-08-14 2016-08-12 相短絡スイッチ Active JP6586224B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019079926A JP6983193B2 (ja) 2015-08-14 2019-04-19 相短絡スイッチ

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/826,996 US9729164B2 (en) 2015-08-14 2015-08-14 Dual processing paths for differential mode and common mode signals for an adaptable analog-to-digital converter (ADC) topology
US14/826,996 2015-08-14
US15/236,163 2016-08-12
US15/236,163 US9762257B2 (en) 2015-08-14 2016-08-12 Phase shorting switch
PCT/US2016/046881 WO2017030994A1 (en) 2015-08-14 2016-08-12 Phase shorting switch

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019079926A Division JP6983193B2 (ja) 2015-08-14 2019-04-19 相短絡スイッチ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018525922A JP2018525922A (ja) 2018-09-06
JP6586224B2 true JP6586224B2 (ja) 2019-10-02

Family

ID=56802687

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018506395A Active JP6586224B2 (ja) 2015-08-14 2016-08-12 相短絡スイッチ
JP2019079926A Active JP6983193B2 (ja) 2015-08-14 2019-04-19 相短絡スイッチ

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019079926A Active JP6983193B2 (ja) 2015-08-14 2019-04-19 相短絡スイッチ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9762257B2 (ja)
JP (2) JP6586224B2 (ja)
KR (2) KR102152844B1 (ja)
WO (1) WO2017030994A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3340654A1 (en) 2016-12-20 2018-06-27 Widex A/S Integrated circuit component for a hearing assistive device
US10931243B2 (en) 2019-02-21 2021-02-23 Apple Inc. Signal coupling method and apparatus
CN110049407A (zh) * 2019-05-15 2019-07-23 昆腾微电子股份有限公司 音频设备及其控制方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6008749A (en) 1997-12-22 1999-12-28 Lucent Technologies, Inc. Mask programmable low power voltage/current-mode ADC
CA2273658A1 (en) * 1999-06-07 2000-12-07 Tet Hin Yeap Method and apparatus for cancelling common mode noise in communications channels
AU2001289524A1 (en) * 2000-06-09 2001-12-24 Ziyi Cheng A noise-suppressing receiver
US6697006B1 (en) 2001-10-03 2004-02-24 Analog Devices, Inc. Conditioning circuit for selectively buffering an input signal to a signal processing circuit, and a signal processing circuit incorporating the conditioning circuit
JP2004193724A (ja) * 2002-12-09 2004-07-08 Hitachi Kokusai Electric Inc ダイレクトコンバージョン受信機
JP2006115003A (ja) * 2004-10-12 2006-04-27 Sony Corp サンプルホールド回路およびそれを用いたパイプラインad変換器
JP4751667B2 (ja) * 2005-08-12 2011-08-17 富士通セミコンダクター株式会社 逐次比較型ad変換器。
US7950281B2 (en) * 2007-02-28 2011-05-31 Infineon Technologies Ag Sensor and method for sensing linear acceleration and angular velocity
JP4492713B2 (ja) * 2008-02-21 2010-06-30 セイコーエプソン株式会社 集積回路装置及び電子機器
JP5503271B2 (ja) 2009-12-09 2014-05-28 キヤノン株式会社 入力回路及びそれを備えたアナログ/デジタルコンバータ
GB201000857D0 (en) * 2010-01-20 2010-03-10 Cambridge Silicon Radio Ltd A delta sigma analogue to digital converter
US8570200B2 (en) * 2011-01-20 2013-10-29 Mediatek Singapore Pte. Ltd. Continuous-time oversampled converter having enhanced immunity to noise
TWI448071B (zh) * 2011-02-22 2014-08-01 Ind Tech Res Inst 組合式數位輸出系統
JP2012186715A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Renesas Electronics Corp 信号変換装置及び信号変換方法
JPWO2012153372A1 (ja) * 2011-05-10 2014-07-28 パナソニック株式会社 逐次比較型ad変換器
JP2013005149A (ja) * 2011-06-15 2013-01-07 Semiconductor Components Industries Llc 完全差動型オペアンプ
GB2502557B8 (en) 2012-05-30 2015-10-21 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Analogue-to-digital converter
US8907703B1 (en) * 2013-03-15 2014-12-09 Linear Technology Corporation Isolated high voltage sampling network
DE102013015274A1 (de) 2013-09-16 2015-03-19 Sebastian Zeller Techniken zur Verlustleistungs- und Chipflächenreduktion von integrierten Schaltkreisen
KR102092904B1 (ko) * 2013-11-06 2020-03-24 삼성전자주식회사 스위치드-커패시터 적분기, 이의 동작 방법, 및 이를 포함하는 장치들

Also Published As

Publication number Publication date
JP6983193B2 (ja) 2021-12-17
KR102048439B1 (ko) 2019-11-25
KR20190064691A (ko) 2019-06-10
JP2018525922A (ja) 2018-09-06
KR20180041171A (ko) 2018-04-23
US9762257B2 (en) 2017-09-12
WO2017030994A1 (en) 2017-02-23
US20170047939A1 (en) 2017-02-16
JP2019115077A (ja) 2019-07-11
KR102152844B1 (ko) 2020-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9503121B2 (en) Very high dynamic-range switched capacitor ADC with large input impedance for applications tolerating increased distortion and noise at large input signal levels
JP6983193B2 (ja) 相短絡スイッチ
CN107852170B (zh) 相位短路开关
US9252801B2 (en) Sigma-delta converter system and method
CN111342840A (zh) 精密的电流到数字转换器
JP2009260605A (ja) Δς変調器及びδς型ad変換器
US10460819B2 (en) Noise reduction in voltage reference signal
TWI524678B (zh) 逐漸趨近式類比至數位轉換器與轉換方法
KR20190021634A (ko) 연산 증폭기 이득 보상 기능을 가지는 이산-시간 적분기 회로
US10069483B1 (en) Multi-path analog system with multi-mode high-pass filter
JP6106469B2 (ja) Δσa/dコンバータ、およびそれを用いたオーディオ信号処理回路、電子機器、δς変調方法
CN111226395B (zh) 具有多模式高通滤波器的多路径模拟系统
US10009039B1 (en) Multi-path analog system with multi-mode high-pass filter
US20230344442A1 (en) A/d converter and sensor system including the same
US10305507B1 (en) First-order sigma-delta analog-to-digital converter
JP2011101247A (ja) Δς型アナログデジタル変換器およびそれを用いた電子機器
US20180335458A1 (en) Capacitance sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180207

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190125

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190419

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190821

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6586224

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250