JP6579132B2 - 電位分布の推定方法および電位分布の推定装置 - Google Patents
電位分布の推定方法および電位分布の推定装置Info
- Publication number
- JP6579132B2 JP6579132B2 JP2017038951A JP2017038951A JP6579132B2 JP 6579132 B2 JP6579132 B2 JP 6579132B2 JP 2017038951 A JP2017038951 A JP 2017038951A JP 2017038951 A JP2017038951 A JP 2017038951A JP 6579132 B2 JP6579132 B2 JP 6579132B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- point
- potential distribution
- metal plate
- back surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
また、図1のような場合は、前記の通り通電部のそれぞれの位置を特定し、通電部毎にそれぞれ流れている電流値を正確に求めることは困難である。
以下、本発明の一実施形態について図面を参照しながら説明する。ただし、本発明は、以下に示す実施形態に限定されない。
この時点で極値点の電位も求められ、その電位を電位V(x,y,0)とする。
さらに、通電点は複数存在することがあり、その場合、複数の極値が存在しうる。複数の極値が存在する場合は、それぞれの極値は、流れ出す電流の大きさによって、それぞれ異なりうる。
そして、この通電点の電位を任意の値Vcal(X,Y,t)、金属板1の給電点の電位Vsp(設定値)を境界条件として、数値計算により金属板1の電位分布を求め、そこからさらに金属板1の表面、裏面の電位分布を求める。この際の数値計算は、公知の方法、例えば金属板1を微小要素に分割して各要素の電位を差分法により求めればよい。
さらに、極値が複数ある場合は、それぞれの極値に対してrを求め、すべてのrが許容範囲内である場合に、金属板1の表面の電位分布は、数値計算で求めた金属板の表面の電位分布であると推定する。
極値が複数ある場合は、すべての極値についてαを計算し、Vcal'(X,Y,t)を求める。
上記のとおり通電点の位置が確認できたので、次に通電点の電位を設定する。まず、通電点A、Bの基準点に対する電位(Vcal(20,70,10),Vcal(70,20,10))を0Vとし、前記通電点A、Bの電位と給電点の電位(Vsp)1.0×10-4Vを境界条件として、数値計算により鋼板の表面および裏面の電位分布を求め、金属板1の裏面の極値点の電位を求める。図8に、前記数値計算により求めた金属板1の裏面の電位分布を示す。前記数値計算により求めた極値点の電位Vcal(20,70,0)、Vcal(70,20,0)は、それぞれ0.319×10-4V、0.286×10-4Vとなった。このとき、測定により求めた極値点の電位に対する、前記数値計算により求めた極値点の電位の比rは、それぞれ下記のように求められる。
補正する通電点A、Bの電位を以下に示す。
Claims (9)
- 金属板の、外部の環境に電流が流れ出す面を表面、その反対の面を裏面としたとき、前記表面の電位分布を推定する方法であって、
前記裏面の電位分布を測定により求め、
前記測定により求めた裏面の電位分布から、前記裏面の極値点の位置と前記表面の通電点の位置を決定し、
前記通電点の電位と金属板に設けた給電点の電位を境界条件として、数値計算により求めた金属板の電位分布から、前記表面と前記裏面の電位分布を求め、
前記数値計算により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位と、前記測定により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位との対比を行って、
前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内である場合に、
前記数値計算による前記表面の電位分布を、金属板表面の電位分布と推定する、電位分布の推定方法。 - 前記測定により求めた裏面の電位分布から通電点の位置を決定するために、
当該裏面の電位分布から下記(1)式によりI(x,y,0)の分布を求め、前記I(x,y,0)が極値となる位置を極値点とし、該極値点に対応する金属板表面の位置を通電点とする、請求項1に記載の電位分布の推定方法。
- 前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内にはない場合には、
前記境界条件とした通電点の電位を補正し、
境界条件とした通電点の電位に代えて、当該補正後の通電点の電位を境界条件として、数値計算により金属板の電位分布を求める、請求項1または2に記載の電位分布の推定方法。 - 金属板の、外部の環境に電流が流れ出す面を表面、その反対の面を裏面としたとき、前記表面の電位分布を推定する方法であって、
前記裏面の電位分布を測定により求めるステップ1と、
前記測定により求めた裏面の電位分布から、前記裏面の極値点の位置と前記表面の通電点の位置を決定するステップ2と、
前記通電点の電位と前記金属板に設けた給電点の電位を境界条件として、数値計算により求めた金属板の電位分布から、前記表面と前記裏面の電位分布を求めるステップ3と、
前記数値計算により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位と、前記測定により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位との対比を行って、
前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内である場合に、
前記数値計算による前記表面の電位分布を、金属板表面の電位分布と推定するステップ4とを有する、電位分布の推定方法。 - 前記ステップ2で、測定により求めた裏面の電位分布から通電点の位置を決定するために、
当該裏面の電位分布から下記(1)式によりI(x,y,0)の分布を求め、前記I(x,y,0)が極値となる位置を極値点とし、該極値点に対応する金属板表面の位置を通電点とする、請求項4に記載の電位分布の推定方法。
- 前記ステップ4で、前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内にはない場合には、
前記境界条件とした通電点の電位を補正し、
境界条件とした通電点の電位に代えて、当該補正後の通電点の電位を境界条件として、前記ステップ3と、前記ステップ4を繰り返す、請求項4または5に記載の電位分布の推定方法。 - 金属板の、外部の環境に電流が流れ出す面を表面、その反対の面を裏面としたとき、前記表面の電位分布を推定する電位分布の推定装置であって、
前記裏面の電位分布を測定する電圧計と、
前記測定により求めた裏面の電位分布から、前記裏面の極値点と前記表面の通電点の位置を決定し、
前記通電点の電位と金属板に設けた給電点の電位を境界条件として、数値計算により求めた金属板の電位分布から、前記表面と前記裏面の電位分布を求め、
前記数値計算により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位と、前記測定により求めた前記裏面の電位分布における極値点の電位との対比を行って、
前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内である場合に、
前記数値計算による前記表面の電位分布を、金属板表面の電位分布と推定する演算器とを具備する、電位分布の推定装置。 - 前記演算器が、前記測定により求めた裏面の電位分布から通電点の位置を決定するために、
当該裏面の電位分布から下記(1)式によりI(x,y,0)の分布を求め、前記I(x,y,0)が極値となる位置を極値点とし、該極値点に対応する金属板表面の位置を通電点とする、請求項7に記載の電位分布の推定装置。
- 前記測定による極値点の電位に対する、前記数値計算による極値点の電位の比が許容範囲内にはない場合には、
前記演算器が、前記境界条件とした通電点の電位を補正し、
境界条件とした通電点の電位に代えて、当該補正後の通電点の電位を境界条件として、数値計算により金属板の電位分布を求める、請求項7または8に記載の電位分布の推定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017038951A JP6579132B2 (ja) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 電位分布の推定方法および電位分布の推定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017038951A JP6579132B2 (ja) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 電位分布の推定方法および電位分布の推定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018146273A JP2018146273A (ja) | 2018-09-20 |
JP6579132B2 true JP6579132B2 (ja) | 2019-09-25 |
Family
ID=63591020
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017038951A Expired - Fee Related JP6579132B2 (ja) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 電位分布の推定方法および電位分布の推定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6579132B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111381114A (zh) * | 2020-04-01 | 2020-07-07 | 华中科技大学 | 一种用混合场域等效无穷远边界传导介质的方法及系统 |
-
2017
- 2017-03-02 JP JP2017038951A patent/JP6579132B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111381114A (zh) * | 2020-04-01 | 2020-07-07 | 华中科技大学 | 一种用混合场域等效无穷远边界传导介质的方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018146273A (ja) | 2018-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8410398B2 (en) | Method and apparatus for characterizing a welding output circuit path | |
KR102247989B1 (ko) | 저항 측정 장치, 기판 검사 장치, 검사 방법, 및 검사용 지그의 메인터넌스 방법 | |
JP5701961B2 (ja) | 電気伝導度測定方法及びそれを用いた電気伝導度計測システム | |
WO2014112511A1 (ja) | 孔食モニタリング用テストピースおよび孔食モニタリング装置並びに孔食モニタリング方法 | |
JP6579132B2 (ja) | 電位分布の推定方法および電位分布の推定装置 | |
CN111141784B (zh) | 氧化物半导体薄膜检测装置及氧化物半导体薄膜检测方法 | |
CN110794290A (zh) | 基板检测装置及基板检测方法 | |
JP2011196737A (ja) | 腐食速度測定方法および腐食速度測定プローブ | |
JP6332162B2 (ja) | 電流の測定方法および装置 | |
JP6332163B2 (ja) | 電流の測定方法 | |
JP6643169B2 (ja) | 処理装置、検査装置および処理方法 | |
TW201424894A (zh) | 電加工方法與加工設備,以及應用於電加工的基準位置檢測方法 | |
CN110088362B (zh) | 镀覆装置 | |
JP2021058829A (ja) | 溶接継手の電着塗装性の評価方法、及び溶接継手の電着塗装性評価装置、及び溶接継手の製造方法 | |
US11674236B2 (en) | Plating apparatus and plating system | |
US9597695B2 (en) | Electrostatic coating apparatus and electric conductivity check method | |
JP5055561B2 (ja) | 船体の周辺uep計算方法 | |
JPH0752152B2 (ja) | 溶接部の損傷検出方法 | |
KR20180020807A (ko) | 전기방식 제어 장치 및 전기방식 제어 방법 | |
JP2006234547A (ja) | 腐食推定方法 | |
JP5463539B2 (ja) | 導電性の液体中における電極の電流測定方法及び電流測定装置 | |
JP2022151951A (ja) | 腐食センサ、腐食モニタリング装置、及び腐食モニタリング方法 | |
RU2312365C2 (ru) | Способ измерения переходного сопротивления контакта к тонкопленочным резисторам с электродами | |
JP2021032582A (ja) | 腐食センサ | |
JP2019152516A (ja) | 腐食センサ、耐食性計測装置、及び耐食性評価方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170327 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20180502 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20180509 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181024 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20190327 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190717 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190730 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190812 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6579132 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |