JP6558454B1 - 位相雑音低減器及び位相雑音低減方法。 - Google Patents

位相雑音低減器及び位相雑音低減方法。 Download PDF

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Abstract

【課題】遅延量の変動を相殺し、位相雑音の変化量を常に高精度で取得し、低位相雑音を実現する。【解決手段】光源は、連続光を生成する。位相変調部は、連続光を位相変調させて周波数シフト光を生成する。遅延器は、周波数シフト光が3分岐された第1〜第3分岐光のうち、第1分岐光に遅延を与える。周波数シフタは、遅延された第1分岐光に周波数シフトを与える。合波器は、周波数シフトされた第1分岐光と、第2分岐光とを合波して合波光を生成する。第1ループは、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、遅延器における遅延量の変動を相殺するように、周波数シフタを制御する。第2ループは、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、光源における位相の変動を相殺するように、位相変調部を制御する。スイッチ部は、第1ループで位相同期が確立した後、第2ループで位相同期を確立させる。【選択図】図1

Description

この発明は、例えば、レーザ出力における位相雑音を低減する、位相雑音低減器及び位相雑音低減方法に関する。
光通信やセンシングで用いられるレーザ光源の出力(レーザ出力)には、位相雑音が重畳されている。例えば、位相変調信号を用いるコヒーレント通信の場合、信号光と局発光の位相雑音の量に比例して復調性能が悪化するため、低位相雑音の光源を用いることが好ましい。
低位相雑音の光源として、半導体レーザの出力を2分岐して、一方を遅延させ、他方に周波数シフトを加えて、両者をバランス検波することにより瞬時周波数として観測される位相雑音を相殺させる技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2011−49970号公報
ここで、レーザの位相雑音の変化量を正確に測定するためには、与えられる遅延量τが、レーザ光のコヒーレンス時間より小さいこと、及び、整数mに対して、レーザ光の中心角周波数ωLDがωLDτ−2πm=π/2を満たすことが必要である。上述の特許文献1では、この条件を満たすために、バランス検波出力を基準周波数でミキシングする際に、ミキサ出力の平均電圧が0となるように設定している。
しかしながら、遅延量τは温度や外乱により顕著に変化する。例えば、200THzのレーザ光の場合、遅延量τがフェムト秒程度変化した際に、ωLDτで表される位相変動は数十度になる。よって、位相雑音の変化量を常に高精度で取得するためには、遅延量τの影響を十分に低く抑える必要がある。
この発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、この発明の目的は、遅延による位相差に対してフィードバック制御を施すことにより、遅延量の変動を相殺し、位相雑音の変化量を常に高精度で取得し、低位相雑音を実現する、位相雑音低減器及び位相雑音低減方法を提供することにある。
上述した目的を達成するために、この発明の位相雑音低減器は、光源と、位相変調部と、遅延器と、周波数シフタと、合波器と、第1ループと、第2ループと、スイッチ部とを備えて構成される。
光源は、連続光を生成する。位相変調部は、連続光を位相変調し、周波数シフト光を生成する。遅延器は、周波数シフト光が3分岐された第1〜第3分岐光のうち、第1分岐光に遅延を与える。周波数シフタは、遅延された第1分岐光にさらに周波数シフトを与える。合波器は、周波数シフトされた第1分岐光と、第2分岐光とを合波して合波光を生成する。第1ループは、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、遅延器における遅延量の変動を相殺するように、周波数シフタを制御する。第2ループは、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、光源における位相の変動を相殺するように、位相変調部を制御する。スイッチ部は、第1ループで位相同期が確立した後、第2ループで位相同期を確立させる。
また、この発明の位相雑音低減方法は、以下の過程を備えて構成される。
先ず、連続光を生成する。次に、連続光を位相変調して周波数シフト光を生成する。次に、周波数シフト光を第1〜第3分岐光に3分岐する。次に、遅延器において、第1分岐光に遅延を与える。次に、周波数シフタにおいて、遅延された第1分岐光にさらに周波数シフトを与える。次に、周波数シフトされた第1分岐光と、第2分岐光とを合波して合波光を生成する。次に、第1ループにおいて、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、遅延器における遅延量の変動を相殺するように、周波数シフタを制御する。第1ループで位相同期が確立した後、第2ループにおいて、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、連続光の位相の変動を相殺するように、連続光の位相変調量を制御する。
この発明の位相雑音低減器及び位相雑音低減方法によれば、第1ループ及び第2ループを用い、第1ループにおいて、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、外乱等により位相変動する第1分岐光と、第2分岐光との位相差を相殺することで遅延器における遅延量の変動を相殺するように、周波数シフタを制御した後、第2ループにおいて、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、連続光の位相の変動を相殺するように、連続光の位相変調量を制御する。このため、遅延量の変動を抑えた上で位相雑音を低減させるので、低位相雑音が実現できる。
位相雑音低減器の模式的なブロック図である。 角周波数スペクトルを示す図である。
以下、図を参照して、この発明の実施の形態について説明するが、各構成要素の形状、大きさ及び配置関係については、この発明が理解できる程度に概略的に示したものに過ぎない。また、以下、この発明の好適な構成例につき説明するが、各構成要素の材質及び数値的条件などは、単なる好適例にすぎない。従って、この発明は以下の実施の形態に限定されるものではなく、この発明の構成の範囲を逸脱せずにこの発明の効果を達成できる多くの変更又は変形を行うことができる。
(位相雑音低減器の構成)
図1及び図2を参照して、位相雑音低減器及び位相雑音低減方法について説明する。図1は、位相雑音低減器の模式的なブロック図である。また、図2は、角周波数スペクトルを示す図である。
位相雑音低減器は、光源と、位相変調部と、遅延器と、周波数シフタと、合波器と、第1ループと、第2ループと、スイッチ部とを備えて構成される。
光源としての半導体レーザ10は、角周波数ωの連続光S1を生成する(図2(A))。連続光S1は、位相変調部20に送られる。連続光S1は、以下の式(1)で表される。
Figure 0006558454
ここで、pは連続光S1の強度であり、φは、半導体レーザ10における位相雑音である。
位相変調部20は、第2電圧制御発振器(VCO)82で生成される角周波数Δωの発振信号を用いて、連続光S1を位相変調させて角周波数ω+Δωの周波数シフト光S3を生成する。
位相変調部20は、任意好適な構成にすることができるが、例えば、光位相変調器22と光バンドパスフィルタ(光BPF)24を備えて構成される。位相変調部20に送られた連続光S1は、光位相変調器22に入力される。光位相変調器22は、角周波数ωの連続光を位相変調して、ω±nΔω(nは0以上の整数)で与えられる複数の角周波数成分を生成する。この複数の角周波数成分を有する光S2(図2(B))は、光バンドパスフィルタ24に送られる。光バンドパスフィルタ24は、高周波側の一次モード(ω+Δω)の角周波成分のみを通過させる。この結果、光バンドパスフィルタ24の出力は、角周波数ω+Δωの周波数シフト光S3になる(図2(C))。周波数シフト光S3は、以下の式(2)で表される。
Figure 0006558454
ここで、pは周波数シフト光S3の強度であり、φは光位相変調器22で加えられる位相である。
周波数シフト光S3は第1〜第3分岐光に3分岐される。3分岐された周波数シフト光の1つである第3分岐光は、出力光として外部に出力される。
3分岐された周波数シフト光S3の他の1つである第1分岐光は、遅延器である遅延線30に送られる。第1分岐光には、遅延線30において遅延量τの遅延が与えられる。遅延された第1分岐光は、周波数シフタであるAOM(Acoustic Optic Modulator)32において、Δωの周波数シフトを受ける。この遅延線30及びAOM32を経た光S4(図2(D))は、合波器である光3dBカプラ40に送られる。
3分岐された周波数シフト光S3の残りの1つである第2分岐光S5(図2(D))は、光3dBカプラ40に送られる。
光3dBカプラ40に入力される第1分岐光S4及び第2分岐光S5は、それぞれ、以下の式(3)及び(4)で表される。
Figure 0006558454
Figure 0006558454
ここで、pは第1分岐光S4及び第2分岐光S5の強度である。また、ψは、AOM32でΔωの周波数シフトと同時に加えられる位相シフトである。
3dBカプラ40は、入力された光S4及びS5を合波する。3dBカプラ40で合波された合波光は、光電変換器(O/E)50に送られる。
光電変換器50の出力は、以下の式(5)で表される。
Figure 0006558454
ここで、pは、光電変換器50の出力の振幅である。また、Δθは、以下の式(6)で表される。
Figure 0006558454
なお、光電変換器50の出力は、適切に交流(AC)結合されており、光電変換器50からの出力は直流(DC)成分を含まないものとする。
光電変換器50の出力は、ミキサ52に送られる。ミキサ52には、発振器54で生成される角周波数Δωの発振信号が入力される。ミキサ52は、光電変換器50の出力と発振器54の出力とをミキシングして、以下の式(7)で与えられる信号を抽出する。
Figure 0006558454
なお、発振器54の出力は、別途位相調整がなされているものとする。ミキサ52の出力は分岐器56に送られる。分岐器56は、ミキサ52の出力を2分岐して、一方を第1ループフィルタ60に送る。また、分岐器56は、2分岐した他方を、スイッチ部70を経て第2ループフィルタ80に送る。
スイッチ部70は、この装置の起動時には切断(OFF)状態となっている。このため、起動時には、分岐器56の出力は、第1ループフィルタ60に送られるが、第2ループフィルタ80には送られない。スイッチ部70は、第1ループフィルタ70を含んで構成される第1ループで位相同期が確立すると、切断状態から導通(ON)状態に切り替わる。導通状態になると、分岐器56の出力は、第2ループフィルタ80にも送られる。その後、第2ループフィルタ80を含んで構成される第2ループで位相同期が確立する。
ここで、第1ループは、AOM32、光3dBカプラ40、光電変換器50、ミキサ52、分岐器56、第1ループフィルタ60及び第1VCO62を含んで構成される。また、第2ループは、位相変調部20、光3dBカプラ40、光電変換器50、ミキサ52、分岐器56、スイッチ部70、第2ループフィルタ80及び第2VCO82を含んで構成される。
第1ループは、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、遅延線30における遅延量の変動を相殺するように、AOM32を制御する。また、第2ループは、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、半導体レーザ10における位相の変動を相殺するように、位相変調部20を制御する。ここで、第1誤差信号は、ミキサ52で抽出された位相変動成分に含まれる、遅延線30における遅延量の変動に基づく成分である。また、第2誤差信号は、ミキサ52で抽出された位相変動成分に含まれる、光源における位相の変動に基づく成分である。
スイッチ部70は、例えば、スイッチ72とタイマ74を備えて構成される。スイッチ72は、位相雑音低減器の起動時は切断(OFF)状態である。タイマ74は、位相雑音低減器の起動後、所定の時間が経過すると、その旨、スイッチ72に通知する。スイッチ72は、所定の時間の経過を知らせるタイマ74から信号に応じて、切断(OFF)状態から導通(ON)状態に切り替える。
このタイマ74が知らせる所定の時間は、第1ループでの引き込み時間に応じて定められる。引き込み時間は、第1ループで位相同期が確立(ロック)するまでの時間であり、第1ループの各パラメータに基づいて見積もることができる。そこで、確実にロックするまでの時間が所定の時間として設定される。
ここで、連続光S1の角周波数ωは、一般に数百rad/sになる。よって、遅延線30での遅延量τを十分小さく、例えば、ピコ秒レベルで遅延させたとしても、ωτは十分大きくなる。さらに、この遅延量τは、遅延線30の僅かな熱変化による伸縮に応じて、ゆっくりと揺らいでいる。従って、直流成分の近傍では、ωτに対して高速に変動するΔθは、白色雑音とみなすことが可能であり、ωτの変動量に対してその時間変化の割合も十分小さい。
従って、第1ループのループ帯域、すなわち、第1ループフィルタ60のカットオフ周波数を十分狭く設定することにより、ゆっくり変動するωτの変動のみ抽出することができる。このため、上記式(7)で与えられる、ミキサ52で抽出される信号は、第1ループでは、近似的に以下の式(8)で与えられる。
Figure 0006558454
第1ループフィルタ60の出力は、第1電圧制御発振器(VCO)62に送られる。第1電圧制御発振器62は、第1ループフィルタ60から受け取る第1誤差信号に含まれる位相誤差成分に応じて、自己の発振周波数を変更する。第1電圧制御発振器62が生成した発振信号は、AOM32に送られて、AOM32を通過する光の周波数を変更する。
第1ループは、いわゆる位相同期回路と同様に動作し、以下の式(9)を満たすように、第1電圧制御発振器62が駆動される。
Figure 0006558454
その結果、AOM32は、周波数Δωの周りで制御されて、上記式(9)が成立する位相ψ(t)が与えられる。
この第1ループで位相同期が確立した後、上述のスイッチ部70での切り換えにより第2ループが動作する。
第1ループで位相同期が確立した後は、上記式(9)が成立している。このため、上記式(7)で与えられる、ミキサ52で抽出される信号は、以下の式(10)に比例する。
Figure 0006558454
スイッチ部70がON状態になった後、第2ループフィルタ80の出力は、第2電圧制御発振器(VCO)82に送られる。第2電圧制御発振器82は、第2ループフィルタ80から受け取る第2誤差信号に含まれる位相誤差成分に応じて、自己の発振周波数を変更する。第2電圧制御発振器82が生成した発振信号は、位相変調部20に送られて、位相変調部20を通過する光の周波数を変更する。
第2ループは、いわゆる位相同期回路と同様に動作し、上記式(10)に比例する誤差成分が0になるように、第2電圧制御発振器82を駆動させる。
ここで、第2ループのループ帯域、すなわち、第2ループフィルタ80のカットオフ周波数を、第1ループに比べて十分広く設定することにより、上記式(10)に比例する広帯域な誤差成分が0になるように、第2ループを動作させることができる。
具体的には、上記式(2)のφ(t)を制御し、以下の式(11)で与えられる、上記式(2)の第2式の時間変化Δθ(t)が0になるように、第2ループが動作する。
Figure 0006558454
このとき、Δθは十分0に近いため、上記式(6)から、以下の式(12)が成り立つ。
Figure 0006558454
上記式(12)が成り立つように、第2ループが動作することは、上記式(12)において、θの時間変化が0になることを意味する。この条件は、上記式(2)において、θ(t)の変動が緩和されることを意味しており、この結果、周波数シフト光S3の位相雑音が小さくなる。
このように、この位相雑音低減器及び位相雑音低減方法によれば、第1ループ及び第2ループを用い、第1ループにおいて、合波光から得られる第1誤差信号を用いて、遅延器における遅延量の変動を相殺するように、周波数シフタを制御した後、第2ループにおいて、合波光から得られる第2誤差信号を用いて、連続光の位相の変動を相殺するように、連続光の位相変調量を制御する。このため、遅延量の変動を抑えた上で位相雑音を低減させるので、低位相雑音が実現できる。
10 半導体レーザ
20 位相変調部
22 光位相変調器
24 光BPF
30 遅延線
32 AOM
40 光3dBカプラ
50 O/E
52 ミキサ
54 発振器
56 分岐器
60 第1ループフィルタ
62 第1VCO
70 スイッチ部
72 スイッチ
74 タイマ
80 第2ループフィルタ
82 第2VCO

Claims (6)

  1. 連続光を生成する光源と、
    前記連続光を位相変調させて周波数シフト光を生成する位相変調部と、
    前記周波数シフト光が3分岐された第1〜第3分岐光の、前記第1分岐光に遅延を与える遅延器と、
    遅延された前記第1分岐光に周波数シフトを与える周波数シフタと、
    周波数シフトされた前記第1分岐光と、前記第2分岐光とを合波して合波光を生成する合波器と、
    前記合波光から得られる第1誤差信号を用いて、前記遅延器における遅延量の変動を相殺するように、前記周波数シフタを制御する第1ループと、
    前記合波光から得られる第2誤差信号を用いて、前記光源における位相の変動を相殺するように、前記位相変調部を制御する第2ループと、
    前記第1ループで位相同期が確立した後、前記第2ループで位相同期を確立させるスイッチ部と
    を備える位相雑音低減器。
  2. 前記合波光を電気信号に変換する光電変換器と、
    前記電気信号から位相変動成分を抽出するミキサと、
    前記位相変動成分に含まれる、前記遅延器における遅延量の変動に基づく成分を第1誤差信号とする第1ループフィルタと、
    前記第1誤差信号に応じて、発振周波数を変更し、前記周波数シフタを駆動させる第1電圧制御発振器と、
    前記位相変動成分に含まれる、前記光源における位相の変動に基づく成分を第2誤差信号とする第2ループフィルタと、
    前記第2誤差信号に応じて、発振周波数を変更し、前記位相変調部を駆動させる第2電圧制御発振器と
    を備える
    ことを特徴とする請求項1に記載の位相雑音低減器。
  3. 前記スイッチ部は、スイッチ、及び、タイマを備え、
    前記ミキサで抽出された位相変動成分は2分岐されて、一方は前記第1ループフィルタに送られ、他方は前記スイッチに送られ、
    前記スイッチは、当該位相雑音低減器を駆動させてから一定時間経過するまで、切断状態であり、一定時間経過後に導通状態となり、前記導通状態では、前記2分岐された位相変動成分の他方を前記第2ループフィルタに送る
    ことを特徴とする請求項2に記載の位相雑音低減器。
  4. 前記位相変調部は、
    前記連続光を、複数の角周波数成分を含む光に変調する位相変調器と、
    前記複数の角周波数成分から角周波数成分側の一次モードのみを通過させる光バンドパスフィルタと
    を備える
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の位相雑音低減器。
  5. 連続光を生成する過程と、
    前記連続光を位相変調させて周波数シフト光を生成する過程と、
    前記周波数シフト光を第1〜第3分岐光に3分岐する過程と、
    遅延器において、前記第1分岐光に遅延を与える過程と、
    周波数シフタにおいて、遅延された前記第1分岐光に周波数シフトを与える過程と、
    周波数シフトされた前記第1分岐光と、前記第2分岐光とを合波して合波光を生成する過程と、
    第1ループにおいて、前記合波光から得られる第1誤差信号を用いて、前記遅延器における遅延量の変動を相殺するように、前記周波数シフタを制御する過程と、
    前記第1ループで位相同期が確立した後、第2ループにおいて、前記合波光から得られる第2誤差信号を用いて、前記連続光の位相の変動を相殺するように、前記連続光の位相変調量を制御する過程と
    を備える位相雑音低減方法。
  6. 前記合波光を電気信号に変換する過程と、
    前記電気信号から位相変動成分を抽出する過程と、
    前記第1ループにおいて実施される、前記位相変動成分に含まれる、遅延量の変動に基づく成分を第1誤差信号とする過程、及び、前記第1誤差信号に応じて、発振周波数を変更し、前記周波数シフタを駆動させる過程と、
    前記第2ループにおいて実施される、前記位相変動成分に含まれる、前記光源における位相の変動に基づく成分を第2誤差信号とする過程、及び、前記第2誤差信号に応じて、発振周波数を変更し、前記連続光の位相変調量を制御する過程と
    を備える
    ことを特徴とする請求項5に記載の位相雑音低減方法。
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