JP6556616B2 - 圧力センサ - Google Patents

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Description

本発明は、ダイアフラムなどの可動部を備えた静電容量式の圧力センサを用いて圧力を測定する圧力センサに関する。
半導体装置の製造においては、気相成長による様々な成膜装置が用いられている。このような成膜装置では、nm単位の厚さの薄膜を形成するため、成膜室内の圧力や原料ガスの分圧などを正確に制御しており、圧力を正確に検出することが重要となる。このような圧力の検出のために、静電容量式の圧力センサが用いられている(特許文献1参照)。
この圧力センサは、図3に示すように、絶縁体からなる基台301と、基台301の上に支持部301aによって支持されて可動領域302aで基台301と離間して配置され、可動領域302aで基台301の方向に変位可能とされた絶縁体からなり、測定対象からの圧力を受けるダイアフラム302と、可動領域302aにおけるダイアフラム302と基台301との間に形成された気密室303とを備える。
また、気密室303の内部でダイアフラム302の可動領域302aに形成された可動電極304と、気密室303の内部で基台301の上に可動電極304に向かい合って形成された固定電極305とを備える。また、気密室303の内部でダイアフラム302の可動領域302aにおいて可動電極304の周囲に形成された可動参照電極306と、気密室303の内部で固定電極305の周囲の基台301の上に形成され、可動参照電極306に向かい合って形成された固定参照電極307とを備える。
上述したように構成されている圧力センサは、測定対象の流体が流れる配管や被測定流体が収容されているタンクに取り付けられて流体の圧力を測定する。静電容量式の圧力センサでは、流体圧を受けたダイアフラム302の可動領域302a変位を、可動電極304と固定電極305との間の静電容量値に変換している。この圧力センサは、ガス種類に対して依存性が少ないことから、上述したような半導体装置製造設備をはじめ、工業用途に広く使用されている。
特開2014−109484号公報
上述した圧力センサでは、原料ガスなどの装置に用いられているガスに対する耐腐食性と共に、成膜などのプロセス中で発生する副生成物に対しても耐性が要求される。また、成膜プロセスでは、成膜室内壁、配管内壁、真空ポンプ内部、および圧力センサの受圧部であるダイアフラムなど、原料ガスが通過する箇所には堆積が発生し、様々な問題を起こす。
例えば、従来一般的に用いられている化学的気相成長法(CVD)に比較し、段差被覆性や膜質において優れているとして近年開発され、ゲート絶縁膜などの形成に用いられている原子層堆積法(ALD)がある。このALDは、特性上、原料ガスが通過する様々な箇所に、原料ガスが付着しやすく、上述した無用な堆積が発生しやすい。
このような堆積を防止するために、上述したような成膜装置では、例えば成膜動作時などにおいて、各部分を例えば200℃程度に加熱している。しかしながら、このような加熱による回避策を行っても堆積は微量ずつ進行する。圧力センサにおいては、図3に示すように、ダイアフラム302の受圧領域に堆積物321が堆積する。
このように堆積が発生した場合、堆積量に対応して圧力センサにおけるセンサ感度が変化する。このため、堆積が発生した圧力センサは、変化したセンサ感度に対応させて較正する必要がある。このような較正は、圧力センサを装置より取り外して行うことになるため、装置の稼働を長い時間停止することになり、大きな手間となる。
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、堆積が発生したことによる圧力センサのセンサ出力の較正が、より容易に実施できるようにすることを目的とする。
本発明に係る圧力センサは、測定対象からの圧力を受ける受圧部の変位による容量変化により圧力を測定し、設定されているセンサ感度を用いて容量変化を圧力値に変換して出力する圧力値出力部と、圧力センサを用いた一定圧力の測定を、電源周波数を変化させて得られる結果より受圧部の共振点を求める共振点測定部と、共振点測定部が求めた共振点より受圧部の厚さまたは弾性率を受圧部の物理特性として求める特性算出部と、特性算出部が求めた物理特性により圧力センサのセンサ感度を補正した補正センサ感度を求め、求めた補正センサ感度で圧力値出力部に設定されているセンサ感度を更新する補正部とを備える。
上記圧力センサにおいて、特性算出部は、受圧部の弾性率を物理特性として求めるようにすればよい。
上記圧力センサにおいて、前回、補正部が補正感度を求めた時点における共振点を基準値とし、基準値と共振点測定部が求めた共振点との差が規定値を超えたことを検出する検出部を備えるようにし、検出部が、求められた共振点と基準値との差が規定値を超えたことを検出すると、特性算出部は物理特性を求め、補正部は補正センサ感度を求めて求めた補正センサ感度で圧力値出力部に設定されているセンサ感度を更新するようにしてもよい。
上記圧力センサにおいて、補正部が求めた補正センサ感度が設定されている許容範囲を超えたことを検出して警報を出力する警報出力部を備えるようにしてもよい。
以上説明したことにより、本発明によれば、堆積が発生したことによる圧力センサのセンサ出力の較正が、より容易に実施できるという優れた効果が得られる。
図1は、本発明の実施の形態における圧力センサの構成を示す構成図である。 図2は、本発明の実施の形態における圧力センサの動作例を説明するためのフローチャートである。 図3は、圧力センサの一部構成を一部破断して示す斜視図である。
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。図1は、本発明の実施の形態における圧力センサの構成を示す構成図である。この圧力センサは、センサチップ101と、回路部102とを備える。
センサチップ101は、よく知られた静電容量式であり、基台111,ダイアフラム112,可動電極114,固定電極115を備える。基台111およびダイアフラム112は、例えば、サファイアやアルミナセラミックなどの耐熱耐食性を有する絶縁体から構成されている。また、受圧部となるダイアフラム112は、基台111の支持部111aによって支持され、支持部111aの内側の可動領域112aにおいて、基台111の方向に変位可能とされた可動部である。可動領域112aは、例えば、平面視円形とされている。
可動領域112aおけるダイアフラム112と基台111との間は、気密に封止された気密室113とされている。圧力センサを真空計として用いる場合、気密室113はいわゆる真空とされ、基準真空室となる。
また、可動電極114は、気密室113の内部でダイアフラム112の可動領域112aに形成されている。また、固定電極115は、可動電極114と、気密室113の内部で基台111の上に可動電極114に向かい合って形成されている。なお、実施の形態におけるセンサチップ101は、気密室113の内部でダイアフラム112の可動領域112aにおいて可動電極114の周囲に形成された可動参照電極116と、気密室113の内部で固定電極115の周囲の基台111の上に形成され、可動参照電極116に向かい合って形成された固定参照電極117とを備える。
回路部102は、圧力値出力部121、共振点測定部122、特性算出部123、および補正部124を備える。
圧力値出力部121は、設定されているセンサ感度を用いて容量変化を圧力値に変換して出力する。初期に測定されたセンサチップ101のセンサ感度が、圧力値出力部121に設定されている。回路部102は、基台111に形成された配線(不図示)、および基台111を貫通する貫通配線を介し、気密室113内の各電極に電気的に接続している。各電極による容量および容量の変化が、上述した配線および貫通配線を介して圧力値出力部121に読み出される。
共振点測定部122は、圧力センサを用いた一定圧力の測定を、容量値を検出するために可動電極114と固定電極115との間に印加する電源の周波数(電源周波数)を変化させて得られる結果より受圧部であるダイアフラム112の共振点を求める。例えば、ダイアフラム112が受圧していない(撓んでいない)状態のいわゆる0点を測定する状態における電源電圧の周波数を、低周波数から高周波数へ例えば数Hz単位で徐々に変化させる。このようにして電源電圧の周波数を変化させることでダイアフラム112の振動状態を変化させるなかで、センサチップ101のセンサ出力値の変化よりダイアフラム112の共振点を求める。上述した電源周波数の変化に応じて得られるセンサ出力値の変化が、所定の閾値を超えたときの電源周波数を、ダイアフラム112の共振点とする。
特性算出部123は、共振点測定部122が求めた共振点より受圧部の厚さまたは弾性率を受圧部の物理特性として求める。特性算出部123は、例えば、受圧部であるダイアフラム112の弾性率を物理特性として求める。
共振点測定部122に求められる共振点fnは、定数である補正係数α,ダイアフラム112の厚さt,ダイアフラム112の弾性率Eを用い「fn=αtE1/2・・・(1)」により求めることができる。ここで、ダイアフラム112の受圧面に堆積物が堆積している場合、弾性率が変化する。堆積物の厚さは、ダイアフラム112の厚さに対して無視できる程度に薄いため、堆積物が堆積していても、式(1)におけるtは、ダイアフラム112の厚さとして近似することができる。従って、求められた共振点fnにより、堆積物が堆積している状態における弾性率E’は、「E’=(fn/α/t)2・・・(2)」により求めることができる。
補正部124は、特性算出部123が求めた物理特性により圧力センサ(センサチップ101)のセンサ感度を補正した補正センサ感度を求め、求めた補正センサ感度で圧力値出力部121に設定されているセンサ感度を更新する。センサ感度Sは、定数である補正係数βを用い「S=β−1/Et3・・・(3)」により求められる。上述したようにして特性算出部123が求めた弾性率E’で、式(3)のEを更新した「S’=β−1/E’t3・・・(4)」により、補正センサ感度S’を求めることができる。なお、センサ感度Sは、ダイアフラム112に圧力が印加されている状態のセンサ出力値(静電容量値)Cpと、ダイアフラム112に圧力が印加されていない状態のセンサ出力値C0とにより、「S=Cp−C0・・・(5)」として定義される。
また、加わる圧力の変化と静電容量の変化との関係が非線形の場合、式(4)においてβを圧力の関数として設定してもよい。補正センサ感度の導出は、用いるセンサチップ101の特性や測定環境に適合させて適宜に設定すればよい。
上述したように、実施の形態によれば、ダイアフラム112の受圧面に堆積物が堆積したことによる圧力センサの較正を、センサチップ101を装置より取り外すことなく、また、迅速に実施することが可能となる。
また、回路部102は、基準値記憶部125,検出部126,警報出力部127を備える。
検出部126は、前回、補正部124が補正感度を求めた時点における共振点を基準値とし、基準値と共振点測定部122が求めた共振点との差が規定値を超えたことを検出する。基準値は、基準値記憶部125に記憶されている。
検出部126が、求められた共振点と基準値との差が規定値を超えたことを検出すると、特性算出部123は物理特性を求め、補正部124は補正センサ感度を求め、求めた補正センサ感度で圧力値出力部121に設定されているセンサ感度を更新する。
ダイアフラム112の受圧面に堆積した堆積物が微量であれば、センサ感度の変化は小さく、較正の必要はない。同様に、堆積量の増加分が微量であれば、前回の補正(較正処理)を実施した時点からのセンサ感度の変化は小さく、新たな較正の必要はない。これに対し、堆積物の増加によるセンサ感度の変化が、測定に影響を与える水準となった場合、較正が必要となる。
この較正が必要となる堆積物増加量を、検出部126において共振点の変化により検出している。求められた共振点と基準値との差が規定値を超えた状態が、上述した較正が必要となる堆積物増加量に相当するように、規定値を設定しておけばよい。このようにすることで、自動的に較正動作が行われるようになる。
ここで、基準値記憶部125に対する基準値の記憶は、例えば、補正部124が、補正センサ感度を求めて更新した時点で実施すればよい。この時点において、補正センサ感度の算出に用いた共振点を、基準値として基準値記憶部125に記憶する。
例えば、基準値記憶部125は、1つの基準値のみ記憶する設定にすればよい。また、基準値記憶部125に既に基準値が記憶されている場合、補正部124が、補正センサ感度を求めて更新した時点で記憶する基準値は、既に記憶されている基準値を上書きして新たな共振点が記憶された状態とする。このようにすることで、基準値記憶部125には、直前に、補正部124が補正センサ感度の算出に用いた共振点が記憶されていることになる。なお、初期値として、製造直後のセンサチップ101におけるダイアフラム112の共振点を設定しておけばよい。
従って、現時点で求められた共振点と、基準値記憶部125に記憶されている基準値との差が、規定値を超えたことにより、新たに増加した堆積物の量が、測定に影響を与える水準となり、較正が必要な状態であることが判断できる。
次に、警報出力部127は、補正部124が求めた補正センサ感度が、設定されている許容範囲を超えたことを検出して警報を出力する。圧力値出力部121で用いるセンサ感度が小さくなりすぎると、出力する圧力値のダイナミックレンジが小さくなり、所望とする測定分解能が得られなくなる。このため、補正部124が求めた補正センサ感度の、設定されている許容範囲を超えたことの検出により警報を発令することで、センサチップ101の交換を促す。
以下、本発明の実施の形態における圧力センサの動作例について、図2のフローチャートを用いて説明する。
まず、ステップS201で、共振点の測定を実施する時点となると(ステップS201のy)、ステップS202に移行し、共振点測定部122が、圧力センサを用いた一定圧力の測定を、電源周波数を変化させて得られる結果よりダイアフラム112の共振点を求める。例えば、設定されている時間が経過する毎に、共振点の測定が実施される。また、図示しない入力部より入力された測定実施の指示により、共振点の測定が実施される。
次に、ステップS203で、検出部126が、基準値記憶部125に記憶されている基準値と、共振点測定部122により測定された共振点との差が、規定値を超えたことを検出する。基準値と共振点との差が規定値を超えたことが検出されると(ステップS203のy)、ステップS204で、特性算出部123が、共振点を測定した時点におけるダイアフラム112の弾性率E’を、測定された共振点fn,および補正係数α,ダイアフラム112の厚さtにより、式(2)を用いて算出する。
次に、ステップS205で、補正部124が、特性算出部123が求めた物理特性である弾性率E’によりセンサチップ101のセンサ感度を補正した補正センサ感度S’を、式(4)により算出する。
次に、ステップS206で、警報出力部127が、算出された補正センサ感度S’が、設定されている許容範囲を超えたことを検出する。補正センサ感度S’が、許容範囲を超えず、許容範囲内である場合(ステップS206のy)、ステップS207で、補正部124が、算出した補正センサ感度S’で圧力値出力部121に設定されているセンサ感度を更新する。一方、補正センサ感度S’が、許容範囲を超えていることが検出されると(ステップS206のn)、警報出力部127が、警報を発令(出力)する。
上述したように、測定された共振点との差が規定値を超え、算出された補正センサ感度が許容範囲内であれば、補正センサ感度で圧力値出力部121に設定されているセンサ感度が更新される。この較正動作は、センサチップ101を装置に装着した状態で実施されるので、圧力センサが用いられる装置の稼働をほとんど停止することなく実施される。
以上に説明したように、本発明によれば、一定圧力の測定を、電源周波数を変化させて得られる結果より受圧部の共振点を求め、求めた共振点より求めることができる受圧部の物理特性より、圧力センサのセンサ感度を補正した補正センサ感度を求めるようにしたので、堆積が発生したことによるセンサ出力の較正が、より容易に実施できるようになる。
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。例えば、上述では、受圧部の物理特性として、弾性率を求めるようにしたが、これに限るものではなく、受圧部の厚さを物理特性として求めるようにしてもよい。受圧部の特性、堆積物の堆積による不具合の状態などにより、適宜に選択すればよい。
101…センサチップ、102…回路部、111…基台、111a…支持部、112…ダイアフラム、112a…可動領域、113…気密室、114…可動電極、115…固定電極、116…可動参照電極、117…固定参照電極、121…圧力値出力部、122…共振点測定部、123…特性算出部、124…補正部、125…基準値記憶部、126…検出部、127…警報出力部。

Claims (4)

  1. 測定対象からの圧力を受ける受圧部の変位による容量変化により前記圧力を測定する圧力センサにおいて、
    設定されているセンサ感度を用いて前記容量変化を圧力値に変換して出力する圧力値出力部と、
    前記圧力センサを用いた一定圧力の測定を電源周波数を変化させて行って得られる結果より前記受圧部の共振点を求める共振点測定部と、
    前記共振点測定部が求めた共振点より前記受圧部の厚さまたは弾性率を前記受圧部の物理特性として求める特性算出部と、
    前記特性算出部が求めた前記物理特性により前記圧力センサのセンサ感度を補正した補正センサ感度を求め、求めた補正センサ感度で前記圧力値出力部に設定されているセンサ感度を更新する補正部と
    を備えることを特徴とする圧力センサ。
  2. 請求項1記載の圧力センサにおいて、
    前記特性算出部は、前記受圧部の弾性率を前記物理特性として求めることを特徴とする圧力センサ。
  3. 請求項1または2記載の圧力センサにおいて、
    前回、前記補正部が補正感度を求めた時点における共振点を基準値とし、前記基準値と前記共振点測定部が求めた共振点との差が規定値を超えたことを検出する検出部を備え、
    前記検出部が、求められた共振点と前記基準値との差が規定値を超えたことを検出すると、前記特性算出部は前記物理特性を求め、前記補正部は補正センサ感度を求めて求めた補正センサ感度で前記圧力値出力部に設定されているセンサ感度を更新する
    ことを特徴とする圧力センサ。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の圧力センサにおいて、
    前記補正部が求めた補正センサ感度が設定されている許容範囲を超えたことを検出して警報を出力する警報出力部
    を備えることを特徴とする圧力センサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6609728B1 (ja) * 2018-12-12 2019-11-20 株式会社アルバック 圧力測定システム
CN115144125B (zh) * 2022-03-07 2024-02-20 钛深科技(深圳)有限公司 电子设备按压部的压感检测校准方法、模块及系统

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4678752B2 (ja) * 2004-05-27 2011-04-27 東京エレクトロン株式会社 圧力計の製造方法及びガス処理装置の製造方法
JP5222457B2 (ja) * 2005-09-26 2013-06-26 株式会社日立製作所 センサおよびセンサモジュール
EP2135052B1 (en) * 2007-04-06 2011-05-18 Freescale Semiconductor, Inc. Improvements in or relating to diagnostics of a capacitive sensor
JP2013124947A (ja) * 2011-12-15 2013-06-24 Panasonic Corp 半導体圧力センサ
JP6002016B2 (ja) 2012-11-30 2016-10-05 アズビル株式会社 静電容量型圧力センサ
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