JP6547474B2 - 高炉、及び、高炉装入物の高さレベルを測定する測定方法 - Google Patents
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Description
図1は高炉の一部における概略図である。高炉1は、炉頂部10、炉口部20、シャフト部30を含む。炉頂部10には旋回シュート11が配置されている。旋回シュート11は、矢印方向に旋回しながら、鉄鉱石及び塊コークスを交互に層状に装入する。ハッチングは、鉄鉱石及び塊コークスからなる高炉装入物Sを示している。
図2はマイクロ波式サウンジング装置の概略図である。マイクロ波式サウンジング装置40は、マイクロ波信号により形成されるマイクロ波ビームを高炉装入物Sに向かって送信するとともに、高炉装入物Sからのエコーを受信する。マイクロ波式サウンジング装置40は、電子ユニット部41を有しており、この電子ユニット部41は受信した高炉装入物Sの反射エコーに基づき高炉装入物Sまでの距離を演算する。
次に、マイクロ波式サウンジング装置40の取り付け位置について説明する。図3はマイクロ波式サウンジング装置40と出銑口50との位置関係を示す平面図である。同図を参照して、マイクロ波式サウンジング装置40は、炉周方向に沿って少なくとも4台設けられており、隣接するマイクロ波式サウンジング装置40の間隔は略等間隔に設定されている。この場合、高炉装入物Sの高さレベルは、各マイクロ波式サウンジング装置40によって測定された距離の平均値とすることができる。
次に、実施例を示して本発明についてより具体的に説明する。図4は高炉装入物Sの高さレベルの変化を測定した測定データであり、横軸が時間、縦軸が高さレベルである。実施例を点線で示し、比較例1〜3を実線で示した。なお、高さレベルが下がる(高炉装入物Sの高さが低くなる)ほど、縦軸の値は大きくなるものとする。実施例ではマイクロ波式サウンジング装置40を用いて高さレベルを測定した。サウンジング装置40を四台設置し、これらのサウンジング装置40によって測定された高さレベルの平均値を算出した。
上述の実施形態では、高炉装入物Sの高さレベルを検出する検出手段としてマイクロ波式サウンジング装置40のみを用いたが、本発明はこれに限るものではない。例えば、マイクロ波式サウンジング装置40及び従来の機械式サウンジング装置を併用することができる。この場合、機械式サウンジング装置により検出された高さレベルの精度チェックを行うために、マイクロ波式サウンジング装置40による検出結果を用いることができる。
10、100:炉頂部
11、110:旋回シュート
20、200:炉口
30、300:シャフト部
40:マイクロ波式サウンジング装置
Claims (3)
- 炉頂部から装入される高炉装入物に含まれる鉄鉱石を、炉下部から吹き上げる還元ガスを用いて還元し、該還元ガスの流速が炉中央側において速い中心流操業を行う高炉において、
炉頂部から炉内の高炉装入物に向かってマイクロ波を送信するとともに、受信した高炉装入物の反射エコーに基づき高炉装入物までの距離を演算するマイクロ波式サウンジング装置を少なくとも4つ有し、
これらのマイクロ波式サウンジング装置は、炉口部の炉壁に対応する位置から400〜600mm離れた炉径方向内側であって、かつ、高炉の軸方向からの平面視において出銑口を避けた位置に設置されており、前記少なくとも4つのマイクロ波式サウンジング装置によって演算された距離の平均値を高炉装入物の炉内における高さレベルとすることを特徴とする高炉。 - 前記少なくとも4つのマイクロ波式サウンジング装置は、炉周方向に沿って配置されるとともに、配置間隔が略等間隔であることを特徴とする請求項1に記載の高炉。
- 炉頂部から装入される高炉装入物に含まれる鉄鉱石を、炉下部から吹き上げる還元ガスを用いて還元し、該還元ガスの流速が炉中央側において速い中心流操業を行う高炉における高炉装入物の高さレベルを測定する測定方法において、
炉頂部から炉内の高炉装入物に向かってマイクロ波を送信するとともに、受信した高炉装入物の反射エコーに基づき高炉装入物までの距離を演算するマイクロ波式サウンジング装置を、炉口部の炉壁に対応する位置から400〜600mm離れた炉径方向内側であって、かつ、高炉の軸方向からの平面視において出銑口を避けた位置に少なくとも4つ配置し、
前記少なくとも4つのマイクロ波式サウンジング装置によって演算された距離の平均値を高炉装入物の炉内における高さレベルとすることを特徴とする高炉装入物の高さレベルを測定する測定方法。
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JP2015138741A JP6547474B2 (ja) | 2015-07-10 | 2015-07-10 | 高炉、及び、高炉装入物の高さレベルを測定する測定方法 |
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