JP6537481B2 - 放射線撮像装置及び放射線撮像システム - Google Patents
放射線撮像装置及び放射線撮像システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6537481B2 JP6537481B2 JP2016196897A JP2016196897A JP6537481B2 JP 6537481 B2 JP6537481 B2 JP 6537481B2 JP 2016196897 A JP2016196897 A JP 2016196897A JP 2016196897 A JP2016196897 A JP 2016196897A JP 6537481 B2 JP6537481 B2 JP 6537481B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- radiation
- threshold
- control unit
- threshold value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 193
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 70
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 105
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 17
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 12
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 22
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 9
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
Description
図1には、本発明の第1実施形態の放射線撮像システム200の構成が示されている。放射線撮像システム200は、放射線で形成される光学像を電気的に撮像し、電気的な放射線画像(即ち、放射線画像データ)を得るように構成されている。放射線は、典型的には、X線でありうるが、α線、β線、γ線などであってもよい。放射線撮像システム200は、例えば、放射線撮像装置210、放射線源230、曝射制御部220およびコンピュータ240を備えうる。放射線源230は、曝射制御部220からの曝射指令(放射指令)に従って放射線の放射を開始する。放射線源230から放射された放射線は、不図示の被険体を通って放射線撮像装置210に照射される。
・機器(例えば、放射線源)の電源のON/OFF
・モーター(例えば、手術用の電動ドリル、放射線源の回転陽極のためのモーター)の駆動
・強力な衝撃(例えば、衝突等)
例えば、放射線源の中には、スイッチが押されると、それに応答して放射線管球内の陽極が回転を始めるものがあり、この際に発生する電磁波によって測定値が閾値を超え、誤。このようなケースでは、誤検出の直後に放射線の照射が行われるため、正常な撮影が行われない可能性がある。
ノイズレベルを推定する第2の方法では、時刻tにおけるノイズ評価範囲内の測定値をV(t)、過去のノイズレベルをA(t−1)、一定値をα(α<1)としたとき、時刻tにおけるノイズレベルA(t)は、(2)式で表される。
ノイズレベルを推定する第3の方法では、時刻tにおけるノイズ評価範囲内の測定値をV(t)、過去のノイズレベルをA(t−1)、一定値をβ(β>0)としたとき、時刻tにおけるノイズレベルA(t)は、(3)式で表される。
ノイズレベルを推定(決定)する方法は、上記の第1、第2および第3の方法に限定されず、他の方法が採用されてもよい。
システムノイズの標準偏差をσとしたとき、システムノイズレベルAi(t)は、3〜4σ程度でありうる。この値は時間によらず一定である。すなわち、A(t)からAi(t)=3σ〜4σを減じた値を外来ノイズレベルAe(t)と考えることができる。ただし、この例では、外来ノイズレベルが負値になることはない。すなわち、外来ノイズレベルは、(5)式で表される。
時刻t+Δtにおける閾値T’(t)は、システムノイズや外来ノイズによる誤検出が発生しない値に設定される必要がある。閾値T’(t+Δt)は、外来ノイズがないときの閾値をTとしたとき、(6)式を満たすことが望ましい。
ここで、kは安全率である。安全率kを大きくすると、誤検出耐性が向上する反面、外来ノイズが加わったときに検出能力が低下しやすくなる。したがって、安全率kを調整可能にすることが望ましい。すなわち、外来ノイズレベルに安全率kを乗じた値と、予め定められた閾値Tとの和を新たな閾値をする構成とすることが望ましい。以上のようにして閾値T’(t+Δt)を設定することで、外来ノイズによる誤検出を防ぎつつ、放射線の照射の開始を正確に検出することができる。
ここで、Tは、外来ノイズが存在しない場合の閾値であり、kは安全率であり、A(t)はノイズレベルである。制御部214は、閾値を更新した後に、ステップその後S1003を実行する。
制御部214は、画素アレイ112における次の行の駆動を行うとともに該駆動により発生する電荷を積分する(S1000)。
制御部214は、画素アレイ112の初期化動作を順次繰り返しながら、当該検知動作を検知するまで繰り返す。
103 検出部
121 差動増幅器
123 A/D変換器
112 画素アレイ
Bs バイアス線
PIX 画素
113 読出部
114 駆動回路
Claims (15)
- 放射線画像を撮像する複数の画素が配列された画素アレイと、前記画素アレイへの放射線の照射を検出するための検出部と、制御部とを備える放射線撮像装置であって、
前記制御部は、前記検出部を使って得られる、基準値に対する変化分である測定値と、
前記基準値に対して正および負のうちの一方における閾値と、の比較に基づく、放射線の照射の開始の判定に応じて、前記画素アレイによる放射線画像の撮像動作を制御し、
前記制御部は、前記正および前記負のうちの他方における前記測定値に応じて予め定められた範囲内で前記閾値を変更するために、前記他方における前記測定値に基づいて現在の閾値から算出された値と、前記予め定められた範囲の上限値及び下限値の少なくとも一方と、の比較に応じて、前記閾値を変更することを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記制御部は、前記値が前記上限値よりも大きい場合に、前記閾値の変更を行うか否かの判定が行われた後に、前記閾値を低下させることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記制御部は、前記閾値が前記上限値よりも大きい場合に、前記閾値が前記上限値よりも大きい期間だけ、前記閾値を前記上限値に設定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記制御部は、前記閾値が前記上限値よりも小さく且つ前記下限値よりも大きい場合に、前記閾値を前記算出された値に設定することにより前記閾値を変更し、前記閾値が前記下限値より小さい場合に、前記閾値を前記下限値に設定することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記制御部は、前記画素アレイの複数の画素を行単位で初期化する初期化動作中で、前記複数の画素における第一の行の初期化から該第一の行の次の行の初期化が行われるまでの間に、前記閾値の変更を行うか否かの判定を行うことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記検出部は、放射線の照射に対して感度を有する信号と所定値との差分を差動増幅する差動増幅器を含み、前記制御部は、前記差動増幅器から出力される信号に基づいて前記測定値を得る、ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 放射線の照射に対して感度を有する前記信号は、前記画素アレイに配された導電線に現れる信号である、ことを特徴とする請求項6に記載の放射線撮像装置。
- 前記導電線は、前記複数の画素に全部または一部に対してバイアス電位を与えるバイアス線を含み、
放射線の照射に対して感度を有する前記信号は、前記バイアス線に現れる信号である、
ことを特徴とする請求項7に記載の放射線撮像装置。 - 前記制御部は、第一のモードと、前記第一のモードよりも感度が高い第二のモードのいずれかで前記放射線の照射が開始されたか否かの判定を選択的に実行可能であり、
前記制御部は、前記第二のモードで判定する場合に、前記予め定められた範囲内で前記閾値を変更し、前記第一のモードで判定する場合には、前記閾値を変更する範囲に制限を設けないことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。 - 放射線画像を撮像する複数の画素が配列された画素アレイと、前記画素アレイへの放射線の照射を検出するための検出部と、制御部とを備える放射線撮像装置であって、
前記制御部は、前記検出部を使って得られる、基準値に対する変化分である測定値と、
前記基準値に対して正および負のうちの一方において閾値と、の比較に基づくに、放射線の照射の開始の判定に応じて、前記画素アレイによる放射線画像の撮像動作を制御し、
前記制御部は、前記正および前記負のうちの他方のみにおける前記測定値に応じて予め定められた範囲内で前記閾値を変更するために、前記他方のみにおける前記測定値に基づいて現在の閾値から算出された値と、前記予め定められた範囲の上限値及び下限値の少なくとも一方と、の比較に応じて、前記閾値を変更することを特徴とする放射線撮像装置。 - 放射線画像を撮像するために複数の画素が配列された画素アレイと、前記画素アレイへの放射線の照射を検出するための検出部と、制御部とを備える放射線撮像装置であって、
前記制御部は、前記検出部を使って得られる、基準値に対する変化分である測定値と、前記基準値に対して正および負のうちの一方における閾値と、の比較に基づく、放射線の照射の開始の判定に応じて、前記画素アレイによる放射線画像の撮像動作を制御し、
前記制御部は、前記一方における前記測定値を除く測定値に応じて予め定められた範囲内で前記閾値を変更するために、前記一方における前記測定値を除く前記測定値に基づいて現在の閾値から算出された値と、且つ、前記予め定められた範囲の上限値及び下限値の少なくとも一方と、の比較に応じて、前記閾値を変更することを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記制御部は、前記閾値が前記上限値よりも大きい場合に、前記閾値の変更を行うか否かの判定が行われた後に、前記閾値を低下させることを特徴とする請求項10又は11に記載の放射線撮像装置。
- 前記制御部は、前記閾値が前記上限値よりも大きい場合に、前記閾値が前記上限値よりも大きい期間だけ、前記閾値を前記上限値に固定するように制御することを特徴とする請求項11に記載の放射線撮像装置。
- 前記制御部は、前記閾値が前記上限値よりも小さく且つ前記下限値よりも大きい場合に、前記閾値を前記算出された値に設定することにより前記閾値を変更し、前記閾値が前記下限値より小さい場合に、前記閾値を前記下限値に設定することを特徴とする請求項11から13のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 請求項1から14に記載の放射線撮像装置と、
前記放射線撮像装置に放射線を照射するための放射線源と、
を含む放射線撮像システム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016196897A JP6537481B2 (ja) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
US15/724,156 US10539692B2 (en) | 2016-10-05 | 2017-10-03 | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016196897A JP6537481B2 (ja) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018057571A JP2018057571A (ja) | 2018-04-12 |
JP6537481B2 true JP6537481B2 (ja) | 2019-07-03 |
Family
ID=61758013
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016196897A Active JP6537481B2 (ja) | 2016-10-05 | 2016-10-05 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10539692B2 (ja) |
JP (1) | JP6537481B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7087435B2 (ja) * | 2018-02-19 | 2022-06-21 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
JP7319809B2 (ja) * | 2019-03-29 | 2023-08-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP7378245B2 (ja) * | 2019-08-29 | 2023-11-13 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP7344769B2 (ja) * | 2019-11-22 | 2023-09-14 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び出力方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU782164B2 (en) * | 2000-02-02 | 2005-07-07 | Gendex Corporation | Automatic x-ray detection for intra-oral dental x-ray imaging apparatus |
US7832928B2 (en) * | 2008-07-24 | 2010-11-16 | Carestream Health, Inc. | Dark correction for digital X-ray detector |
JP5599681B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2014-10-01 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
US10114660B2 (en) * | 2011-02-22 | 2018-10-30 | Julian Michael Urbach | Software application delivery and launching system |
JP5814621B2 (ja) * | 2011-05-24 | 2015-11-17 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法、並びに、撮像システム |
JP5986526B2 (ja) * | 2012-04-06 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5270790B1 (ja) | 2012-05-30 | 2013-08-21 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 |
JP5665901B2 (ja) * | 2012-06-05 | 2015-02-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影システム、放射線撮影装置及びその制御方法 |
JP5986443B2 (ja) * | 2012-07-13 | 2016-09-06 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線の照射開始の検出感度の制御方法およびプログラム |
JP6116152B2 (ja) * | 2012-07-31 | 2017-04-19 | キヤノン株式会社 | イメージセンサ駆動装置および方法、放射線画像撮像装置 |
JP6056380B2 (ja) * | 2012-10-31 | 2017-01-11 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影システム |
JP6089785B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2017-03-08 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
JP6366542B2 (ja) * | 2015-06-17 | 2018-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび照射開始検出方法 |
US10462391B2 (en) * | 2015-08-14 | 2019-10-29 | Kla-Tencor Corporation | Dark-field inspection using a low-noise sensor |
-
2016
- 2016-10-05 JP JP2016196897A patent/JP6537481B2/ja active Active
-
2017
- 2017-10-03 US US15/724,156 patent/US10539692B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018057571A (ja) | 2018-04-12 |
US10539692B2 (en) | 2020-01-21 |
US20180095181A1 (en) | 2018-04-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6366542B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび照射開始検出方法 | |
JP5986524B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
KR101690364B1 (ko) | 방사선 촬상 장치 및 방사선 촬상 시스템 | |
US9541653B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
JP6391388B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP6537481B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
CN107710738B (zh) | 放射线成像装置及其控制方法 | |
US20140239186A1 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation inspection apparatus, method for correcting signal, and computer-readable storage medium | |
US8792022B2 (en) | Image pickup apparatus, image pickup system, and method of controlling them | |
JP2018191152A (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム | |
JP2016015721A (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよびその制御方法 | |
US8446495B2 (en) | Image pickup apparatus and image pickup system | |
JP5539139B2 (ja) | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法 | |
EP2312830A1 (en) | Light or radiation image-pickup apparatus | |
US20210067715A1 (en) | Radiation detection apparatus, control method of the same, and radiation imaging system | |
JP6808458B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
JP5988736B2 (ja) | 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム | |
JP7190360B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
JP4812503B2 (ja) | X線撮影装置 | |
JP2020182667A (ja) | 放射線撮像装置及びその制御方法 | |
WO2022244495A1 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
JP2021108910A (ja) | 放射線撮像装置及びその制御方法 | |
JP2015188129A (ja) | 検出装置、その制御方法及び検出システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180611 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132 Effective date: 20180626 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181113 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190604 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6537481 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |