JP6537414B2 - ウエーハの加工方法 - Google Patents

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Description

本発明は、表面に複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて形成されたウエーハを加工する加工方法に関する。
IC、LSI等のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウエーハは、分割予定ラインに沿って分割することにより個々のデバイスに分割される。ウエーハを分割する方法として、例えば、ウエーハの裏面を研削してウエーハを薄化した後、ウエーハの表面に保護テープを貼着した状態でウエーハの裏面側からレーザビームを照射してウエーハの内部に改質層を形成し、環状フレームに貼着された粘着シートをウエーハの裏面に貼着してからウエーハの表面から保護テープを剥離する転写工程を実施した後、粘着シートを拡張することにより、ウエーハに外力を付与して改質層に沿ってウエーハを個々のデバイスに分割する方法がある(例えば、下記の特許文献1及び2を参照)。
ここで、ウエーハよりも大きい保護テープをウエーハの表面に貼着すれば、ウエーハの裏面を研削後、転写工程を実施しなくても、保護テープを拡張することによりウエーハを分割できると考えられるが、保護テープを大きくすると、研削装置等が大型化するとともに、使用するテープ面積が大きくなる分コストもかかるため、保護テープはウエーハと同じサイズに形成されている。
特開2009−200140号公報 特開2005−129607号公報
上記のようにウエーハに外力を付与して分割した後は、ウエーハの内部に改質層が残っている場合があり、割れなどのダメージの起点になり得るため、プラズマエッチングやウェットエッチング等で残存した改質層を除去することが必要となる。しかし、上記のような転写工程を実施して表面から保護テープが剥がされた状態のウエーハにプラズマエッチングやウェットエッチングを施すと、ウエーハのパターン面がプラズマ等にさらされてしまい、デバイスを破壊する可能性が高くなるため、ウエーハの表面を保護する保護膜などが必要になる。
また、ウエーハを分割する前にプラズマエッチングやウェットエッチングを実施することも考えられるが、ウエーハにはカーフ(溝)がない状態となっていることから、各デバイスの間にプラズマガスやエッチング液が入り込む隙間がなく、デバイスの側面のダメージを除去することができないという問題がある。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、ウエーハの表面から保護テープを剥離する転写工程を省いてウエーハを分割できるようにするとともに、各デバイス側面のダメージ除去のためのプラズマエッチングやウェットエッチングを行い得るようにすることを目的としている。
本発明は、表面に複数のデバイスが複数の分割予定ラインによって区画されて形成されたウエーハを加工するウエーハの加工方法であって、ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、該表面保護工程を実施した後、該保護部材側を保持手段で保持し、ウエーハの裏面を研削し所定の厚みまで薄化する裏面研削工程と、該裏面研削工程を実施した後、ウエーハの裏面からウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームを照射してウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、テープを環状フレームに貼り付けるとともにウエーハの表面に貼着された該保護部材に貼り付けるテープ貼着工程と、該テープ貼着工程を実施した後、該テープと該保護部材とを拡張することによりウエーハに外力を付与し該改質層を分割起点にウエーハを該分割予定ラインに沿って分割する分割工程と、を含み、該テープは、ウエーハの外径よりも直径が短い開口を有する環状テープからなる
また、本発明は、表面に複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて形成されたウエーハを加工するウエーハの加工方法であって、ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、該表面保護工程を実施した後、ウエーハの裏面からウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームを照射しウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、該改質層形成工程を実施した後、該保護部材側を保持手段で保持し、ウエーハの裏面を研削して所定の厚みまで薄化するとともに、ウエーハを個々のデバイスに分割する分割工程と、テープを環状フレームに貼り付けるとともにウエーハの表面に貼着された該保護部材に貼り付けるテープ貼着工程と、該テープ貼着工程を実施した後、該テープと該保護部材とを拡張することによりウエーハに外力を付与し個々のデバイスの間隔を拡げる拡張工程と、を含み、該テープは、ウエーハの外径よりも直径が短い開口を有する環状テープからなる
さらに、上記両発明において、拡張されたテープを熱収縮させる熱収縮工程をさらに含む構成としてもよい。
本発明のウエーハの加工方法は、ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、ウエーハの裏面を研削し所定の厚みまで薄化する裏面研削工程と、ウエーハの裏面からウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームを照射してウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、該テープを環状フレームに貼り付けるとともにウエーハの表面に貼着された保護部材に貼り付けるテープ貼着工程と、テープと保護部材とを拡張することによりウエーハに外力を付与し改質層を分割起点にウエーハを分割する分割工程とを含むため、ウエーハの表面から保護部材を剥がす転写工程を実施しなくても、環状フレームと保護部材とに貼り付けたテープを拡張することにより、ウエーハを分割することができる。分割後のウエーハの表面には、保護部材が残っているため、例えばプラズマエッチングやウェットエッチングを分割後のウエーハに施しても、デバイスが破壊されることがない。
また、本発明のウエーハの加工方法は、ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、ウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、ウエーハの裏面を所定の厚みまで研削して薄化するとともにウエーハを個々のデバイスに分割する分割工程と、テープを環状フレームとウエーハの保護部材とに貼り付けるテープ貼着工程と、テープと保護部材とを拡張してウエーハに外力を付与しデバイスの間隔を拡張する拡張工程とを含むため、ウエーハの表面から保護部材を剥がすことなく、環状フレームと保護部材とに貼り付けたテープを拡張することにより、ウエーハに外力を付与して個々のデバイスの間隔を拡げ、各デバイスの間に隙間を形成することができる。そのため、例えば、プラズマガスやエッチング液が隙間に入りやすくなることから、デバイス側面のダメージ除去のためのプラズマエッチングやウェットエッチングを行うことができる。
上記テープがウエーハの外径よりも小さい開口を有する環状テープからなることにより、環状テープを拡張するときに、その拡張方向の力を保護テープに伝えやすくなるため、分割工程又は拡張工程を円滑に行うことができる。
さらに、本発明のウエーハの加工方法は、拡張されたテープを熱収縮させる熱収縮工程をさらに含むため、テープの伸びきって弛んだ部分を熱収縮させることにより、テープを弛みなく張った状態にすることが可能となる。したがって、各デバイスの間隔を維持しつつ、例えば各デバイスをピックアップするピックアップ工程に分割後のウエーハを移動させることができる。
表面保護工程を示す斜視図である。 裏面研削工程を示す斜視図である。 改質層形成工程を示す断面図である。 テープの例を示す平面図である。 (a)は、テープ貼着工程を示す平面図である。(b)は、図5(a)のa−a線断面図である。 (a)は、分割工程の開始前を示す断面図である。(b)は、分割工程によりウエーハが個々のデバイスに分割された状態を示す断面図である。 (a)は、熱収縮工程を示す断面図である。(b)は、環状テープが熱収縮された状態を示す断面図である。 改質層形成工程の第2例を示す断面図である。 (a)は、分割工程の第2例を示す断面図である。(b)は、分割工程の第2例によりウエーハが個々のデバイスに分割された状態を示す断面図である。 (a)は、拡張工程の開始前を示す断面図である。(b)は、拡張工程により各デバイスの間隔が拡張された状態を示す断面図である。
1 ウエーハの加工方法の第1例
図1に示すウエーハWは、円板状の被加工物であって、その表面Waには、格子状の分割予定ラインSによって区画された領域のそれぞれにデバイスDが形成されている。一方、表面Waと反対側にある裏面Wbは、研削される被研削面となっている。以下では、ウエーハWを加工するウエーハの加工方法について説明する。
(1)表面保護工程
図1に示すように、ウエーハWの表面Waに保護テープ1を貼着する。保護テープ1は、円板状の保護部材の一例であって、ウエーハWと同径のサイズで形成されており、ウエーハWの表面Waの全面を覆うことが可能となっている。保護テープ1の材質は、例えば、ポリオレフィン、特殊エラストマー等で構成されている。このように構成される保護テープ1をウエーハWの表面Waに貼着して表面Waの全面を覆うことにより、各デバイスDを保護する。
(2)裏面研削工程
表面保護工程を実施した後、図2に示すように、ウエーハWの裏面Wbを所定の厚みに至るまで研削する。ウエーハWを研削する際は、ウエーハWの裏面Wbが上向きに露出するように、回転軸20を有する保持手段2に保護テープ1側を載置する。保持手段2には、図示しない吸引源が接続されている。保持手段2の上方には、ウエーハWに研削を施す研削手段3が配設されている。研削手段3は、鉛直方向の軸心を有するスピンドル4と、スピンドル4の下部にマウンタ5を介して装着された研削ホイール6とから構成され、研削ホイール6の下部には環状に固着された研削砥石7を備えている。研削手段3は、研削ホイール6を回転させながら、全体が昇降可能となっている。
ウエーハWを保持手段2で吸引保持したら、回転軸20が回転し保持手段2を例えば矢印A方向に回転させるとともに、研削手段3は、研削ホイール6を例えば矢印A方向に回転させながら、研削砥石7がウエーハWの裏面Wbに当接するまで下降させる。そして、研削砥石7で裏面Wbを押圧しながら研削してウエーハWを所定の厚みに至るまで薄化する。
(3)改質層形成工程
裏面研削工程を実施した後、図3に示すように、ウエーハWをレーザー加工装置におけるチャックテーブル8に搬送し、チャックテーブル8の上方に配置されたレーザー照射手段9を用いてウエーハWの内部に改質層を形成する。具体的には、レーザー照射手段9の下方にチャックテーブル8を移動させ、レーザー照射手段9が、ウエーハWの裏面Wb側からウエーハWに対して透過性を有する波長のパルスレーザービーム10を入射させ、ウエーハWの内部にパルスレーザービーム10を集光させることにより、ウエーハWの内部に改質層100を形成する。このようにして、図1に示した全ての分割予定ラインSに沿ってパルスレーザービーム10を照射してウエーハWの内部に改質層100を形成する。
(4)テープ準備工程
ウエーハWに保護テープ1を貼着したまま、後記の分割工程を実施するために、図4に示す環状テープ11を準備する。環状テープ11の中央部には、図1に示したウエーハWの外径よりも短い直径を有する開口部110を有している。環状テープ11は、保護テープ1よりも薄く、伸縮性の高い材質で構成されることが好ましい。この環状テープ11は、開口部110を有するため、放射方向に伸びやすい。ウエーハの加工方法の第1例で用いられるテープとしては、実施形態に示す環状テープ11の構成に限定されず、開口のないテープを用いてもよい。
(5)テープ貼着工程
環状テープ11を準備したら、図5(a)及び(b)に示すように、環状テープ11の外周側を、中央に開口を有する環状フレーム12に貼り付けるとともに、環状テープ11の内周側を、ウエーハWの表面Waに貼着されている保護テープ1に貼り付け、保護テープ1及びウエーハWによって開口部110を閉じる。こうして、ウエーハWは、環状テープ11を介して環状フレーム12によって支持される。開口のないテープを用いる場合は、該テープを環状フレーム12に貼り付けるとともに保護テープ1の全面に貼着する。
(6)分割工程
テープ貼着工程を実施した後、図6(a)に示すように、外力付与手段13を用いて環状テープ11と保護テープ1とを拡張することにより、ウエーハWに外力を付与し改質層100を分割起点にしてウエーハWを分割する。外力付与手段13は、ウエーハWを保持する保持テーブル14と、保持テーブル14の外周側に配設され環状フレーム12が載置されるフレーム載置台15と、フレーム載置台15に載置された環状フレーム12をクランプするクランプ部16と、フレーム載置台15の下部に連結されフレーム載置台15を上下方向に昇降させる昇降手段17とを備える。昇降手段17は、シリンダ17aと、シリンダ17aにより昇降駆動されるピストン17bとにより構成され、ピストン17bが上下に移動することにより、フレーム載置台15を昇降させることができる。
ウエーハWを分割する際には、保持テーブル14に保護テープ1側を載置するとともに、フレーム載置台15に環状フレーム12を載置する。その後、クランプ部16が環状フレーム12の上部を押さえて固定する。このとき、環状テープ11の全体が弛みなく張った状態となる。次いで、図6(b)に示すように、ピストン17bが下方に移動しフレーム載置台15を下降させることにより、保持テーブル14に対して相対的にフレーム載置台15を下降させる。これにより、環状テープ11及び保護テープ1が放射状に拡張される。すなわち、環状テープ11が放射状に拡張されると、これにともない保護テープ1も放射状に拡張され、ウエーハWに対して放射方向の外力が付与される。その結果、図6(a)に示した改質層100が分割起点となり、図1に示した分割予定ラインSに沿ってウエーハWが個々のデバイスDに分割される。環状テープ11を使用することにより、環状テープ11を拡張するときに、その拡張方向の力を保護テープ1に伝えやすくなるため、分割工程を円滑に行うことができる。
(7)熱収縮工程
分割工程を実施した後、拡張された環状テープ11は、図7(a)に示すように、伸びきって弛んでいるため、例えばヒータ18を用いて環状テープ11を熱収縮させる。具体的には、ヒータ18が、環状テープ11の弛んでいる部分に熱風を当てて環状テープ11を熱収縮させる。図7(b)に示すように、熱風の当てられた部分が縮むと、環状テープ11の全体が弛みなく張った状態に戻る。これにより、各デバイスDの間隔を維持しながら、各デバイスをピックアップするピックアップ工程にウエーハWを移すことができる。
このように、ウエーハの加工方法の第1例では、表面保護工程の後に裏面研削工程を実施することにより表面Waに保護テープ1が貼着されたウエーハWの裏面Wbを研削した後、改質層形成工程を実施してウエーハWの内部に改質層100を形成し、テープ貼着工程を実施して環状テープ11を環状フレーム12と保護テープ1とに貼り付け、その後、分割工程を実施して環状テープ11及び保護テープ1を拡張することでウエーハWに外力を付与し改質層100を分割起点に分割するように構成したため、ウエーハWの表面Waから保護テープ1を剥離する転写工程を省いて、ウエーハWを個々のデバイスDに分割することができる。分割後のウエーハWの表面Waには、保護テープ1が貼着された状態のままであるため、プラズマエッチングやウェットエッチングをウエーハWに施しても、デバイスDが破壊されることはない。
2 ウエーハの加工方法の第2例
(1)表面保護工程
次に、ウエーハの加工方法の第2例について説明する。ウエーハの加工方法の第1例と同様に、図8に示す保護テープ1をウエーハW1の表面Waに貼着して表面Waの全面を覆うことにより、図1に示したデバイスDを保護する。
(2)改質層形成工程
表面保護工程を実施した後、図8に示すように、ウエーハW1をレーザー加工装置におけるチャックテーブル8aに搬送し、レーザー照射手段9aを用いてウエーハW1の内部に改質層を形成する。具体的には、レーザー照射手段9aは、ウエーハW1の裏面Wb側からウエーハW1に対して透過性を有する波長のパルスレーザービーム10aを入射させることにより、図1に示したすべての分割予定ラインSに沿ってウエーハW1の内部にパルスレーザービーム10aを集光させ、ウエーハW1の内部に改質層100aを形成する。
(3)分割工程
改質層形成工程を実施した後、図9に示すように、保持手段2aの上方に配設された研削手段3aを用いてウエーハW1の裏面Wbを所定の厚みに至るまで研削するとともに、改質層100aを分割起点にウエーハW1を分割する。具体的には、図9(a)に示すように、ウエーハW1の裏面Wbが上向きに露出するようにウエーハW1を保持手段2aで吸引保持したら、保持手段2aを例えば矢印A方向に回転させるとともに、研削手段3aは、研削ホイール6を例えば矢印A方向に回転させながら、研削砥石7がウエーハW1の裏面Wbに当接するまで下降させる。続いて、図9(b)に示すように、研削砥石7でウエーハW1の裏面Wbを押圧しながら研削してウエーハW1を所定の厚みに至るまで薄化すると、改質層100aが分割起点となり、ウエーハW1が個々のデバイスDに分割される。
(4)テープ準備工程
ウエーハW1に保護テープ1を貼着したまま、後記の拡張工程を実施するために、図4で示したのと同様の環状テープ11を準備する。ウエーハの加工方法の第2例においても、環状テープ11のほか、開口のないテープを用いてもよい。
(5)テープ貼着工程
環状テープ11を準備したら、ウエーハの加工方法の第1例と同様に、図10に示す環状テープ11の外周側を環状フレーム12に貼り付けるとともに、環状テープ11の内周側を保護テープ1に貼り付ける。開口のないテープを用いる場合は、該テープを環状フレーム12に貼り付けるとともに保護テープ1の全面に貼着する。
(6)拡張工程
テープ貼着工程を実施した後、図10に示すように、外力付与手段13aを用いて環状テープ11と保護テープ1とを拡張することにより、各デバイスDの間の間隔を拡げる。具体的には、図10(a)に示す保持テーブル14に保護テープ1側を載置するとともに、フレーム載置台15に環状フレーム12を載置する。続いて、クランプ部16が環状フレーム12の上部を押さえて固定する。このとき、環状テープ11の全体が弛みなく張った状態となる。次いで、図10(b)に示すように、ピストン17bが下方に移動しフレーム載置台15を下降させ、保持テーブル14に対して相対的にフレーム載置台15を下降させる。これにより、環状テープ11及び保護テープ1が放射状に拡張されることにより、ウエーハW1に放射方向の外力が付与され、各デバイスDの間隔が拡がって隙間19が形成される。この隙間19は、プラズマガスやエッチング液が入り込める程度の幅を有している。環状テープ11を使用することにより、環状テープ11を拡張するときに、その拡張方向の力を保護テープ1に伝えやすくなるため、拡張工程を円滑に行うことができる。
(7)熱収縮工程
拡張工程を実施した後、ウエーハの加工方法の第1例と同様に、例えば、図示しないヒータによって、環状テープ11の伸びきって弛んだ部分に熱風を当てて熱収縮させる。これにより、環状テープ11の全体が弛みなく張った状態に戻るため、各デバイスDの間隔を維持しながら、各デバイスをピックアップするピックアップ工程にウエーハW1を移すことができる。
このように、ウエーハの加工方法の第2例では、表面保護工程の後に改質層形成工程を実施することにより、表面Waに保護テープ1が貼着されたウエーハW1の内部に改質層100aを形成し、ウエーハW1の裏面Wbを研削して改質層100aを分割起点にウエーハW1を個々のデバイスDに分割した後、テープ貼着工程を実施して環状テープ11を環状フレーム12と保護テープ1とに貼り付け、その後、拡張工程を実施して環状テープ11及び保護テープ1を拡張することでウエーハW1に外力を付与し各デバイスDの間隔を拡げるように構成したため、各デバイスDの間に隙間19を形成することができる。よって、例えばウエーハW1にプラズマエッチングやウェットエッチングを施す際に、プラズマガスやエッチング液が隙間19に入り込み、デバイス側面のダメージを除去することが可能となる。
1:保護テープ 2,2a:保持手段 20:回転軸 3,3a:研削手段
4:スピンドル 5:マウンタ 6:研削ホイール 7:研削砥石
8,8a:チャックテーブル 9,9a:レーザー照射手段
10,10a:パルスレーザービーム 100,100a:改質層
11:環状テープ 12:環状フレーム 13,13a:外力付与手段
14:保持テーブル 15:フレーム載置台 16:クランプ部
17:昇降手段 17a:シリンダ 17b:ピストン 18:ヒータ 19:隙間

Claims (3)

  1. 表面に複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて形成されたウエーハを加工するウエーハの加工方法であって、
    ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、
    該表面保護工程を実施した後、該保護部材側を保持手段で保持し、ウエーハの裏面を研削し所定の厚みまで薄化する裏面研削工程と、
    該裏面研削工程を実施した後、ウエーハの裏面からウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームを照射しウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、
    テープを環状フレームに貼り付けるとともにウエーハの表面に貼着された該保護部材に貼り付けるテープ貼着工程と、
    該テープ貼着工程を実施した後、該テープと該保護部材とを拡張することによりウエーハに外力を付与し該改質層を分割起点にウエーハを該分割予定ラインに沿って分割する分割工程と、を含み、
    該テープは、ウエーハの外径よりも直径が短い開口を有する環状テープからなる
    ウエーハの加工方法。
  2. 表面に複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて形成されたウエーハを加工するウエーハの加工方法であって、
    ウエーハの表面に保護部材を貼着する表面保護工程と、
    該表面保護工程を実施した後、ウエーハの裏面からウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームを照射しウエーハの内部に改質層を形成する改質層形成工程と、
    該改質層形成工程を実施した後、該保護部材側を保持手段で保持し、ウエーハの裏面を研削して所定の厚みまで薄化するとともに、ウエーハを個々のデバイスに分割する分割工程と、
    テープを環状フレームに貼り付けるとともにウエーハの表面に貼着された該保護部材に貼り付けるテープ貼着工程と、
    該テープ貼着工程を実施した後、該テープと該保護部材とを拡張することによりウエーハに外力を付与し個々のデバイスの間隔を拡げる拡張工程と、を含み、
    該テープは、ウエーハの外径よりも直径が短い開口を有する環状テープからなる
    ウエーハの加工方法。
  3. 拡張された前記テープを熱収縮させる熱収縮工程をさらに含むことを特徴とする
    請求項1または2に記載のウエーハの加工方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018195663A (ja) * 2017-05-16 2018-12-06 株式会社ディスコ ウエーハの分割方法
JP7258416B2 (ja) * 2018-12-06 2023-04-17 株式会社ディスコ 被加工物の加工方法、デバイスチップの製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014063813A (ja) * 2012-09-20 2014-04-10 Disco Abrasive Syst Ltd 加工方法
JP6101468B2 (ja) * 2012-10-09 2017-03-22 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JPWO2014080918A1 (ja) * 2012-11-20 2017-01-05 古河電気工業株式会社 半導体チップの製造方法およびそれに用いる薄膜研削用表面保護テープ
JP6298635B2 (ja) * 2014-01-10 2018-03-20 株式会社ディスコ 分割装置及び被加工物の分割方法

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