JP6533666B2 - プローブユニット - Google Patents

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Description

本発明は、プローブユニットに係り、更に詳しくは、ビーム部の自由端にコンタクト部が設けられ、ビーム部の固定端にベース部が設けられたプローブに関する。
プローブカードは、半導体ウエハに形成された電子回路の電気的特性を検査するのに用いられる検査装置であり、電子回路の電極にそれぞれ接触させる微細な多数のプローブが設けられている。カンチレバー型のプローブは、微細化に適したコンタクトプローブであり、検査対象物に接触させるコンタクト部と、配線基板に固定されるベース部と、弾性変形することによって針圧を発生させるビーム部とにより構成される。コンタクト部は、ビーム部の自由端に設けられ、ベース部は、ビーム部の固定端に設けられる。
近年、検査対象とする電子回路の微細化が進んでおり、プローブもそれに追従して微細化する必要がある。従来のシステムでは、微細なプローブを配線基板に取り付ける際に、プローブ実装用のマウンタ装置を用いて、プローブを1本ずつパレットから取り出して配線基板上に移動させ、プローブのベース部を配線基板上の電極パッドに固定する作業が行われていた。このため、作業工数が多くなり、製造コストが増大するという問題があった。
また、プローブには、様々な形状及びサイズのものがあることから、実装対象とするプローブに合わせてマウンタ装置を開発しなければならなかった。さらに、プローブの位置決めには、3次元空間におけるXYZのいずれの方向についても高い精度が要求される。このため、従来のシステムでは、マウンタ装置の開発コストが高いという問題もあった。
なお、特許文献1には、プローブの針部41を基板40と一体的に形成することにより、多数のプローブを配線基板に取り付ける際の作業工数を抑制させる技術が開示されている。この特許文献1に記載のシステムでは、複数の針部41が形成された基板40を配線用の基板50に取り付けることにより、プローブカード30が作製される(図3A及び図3B)。このため、プローブを配線基板に個別に取り付ける必要がなく、作業工数を削減することができる。しかしながら、特許文献1は、実装対象とするプローブユニットに合わせてマウンタ装置を開発しなければならないという問題を解決できるものではない。
また、特許文献2には、プローブハンド機構2に保持させるためのハンドリングプレート6を備えたプローブ1が開示されている。この特許文献2に記載のプローブ1は、プローブカード14の電極17に接合される実装部3と、実装部3から延在するアーム部4と、検査対象物に接触する先端部5と、アーム部4から延びるハンドリングプレート6とにより構成される。ハンドリングプレート6は、板状の実装部3と平行な平板状の部材からなる。プローブハンド機構2は、ハンドリングプレート6を吸着することによってプローブ1を保持するマウンタ装置である。ハンドリングプレート6をプローブ1に設けることにより、プローブ1を配線基板に取り付ける際のプローブ1のハンドリングを容易化することができる。しかしながら、特許文献2は、複数のプローブ1を配線基板に取り付ける際の作業工数を低減させるものではない。
特開2008−286657号公報 特開2010−156632号公報
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、複数のプローブを配線基板に取り付ける際の作業工数を低減させることができるプローブユニットを提供することを目的とする。特に、3以上のプローブを配線基板に同時に取り付けることができるプローブユニットを提供することを目的とする。
第1の本発明によるプローブユニットは、ビーム部の自由端にコンタクト部が設けられ、上記ビーム部の固定端にベース部が設けられた3以上のプローブと、上記プローブの上記ベース部を互いに連結するプローブ連結部材と、上記プローブ連結部材又は上記プローブに連結されたハンドリングプレートとを備え、3以上の上記コンタクト部が、共通の仮想平面上に配置され、上記ハンドリングプレートが、上記仮想平面に平行に配置されるように構成される。
この様な構成によれば、3以上のプローブがプローブ連結部材によって連結されるため、これらのプローブを同時に形成し、配線基板に同時に配置することができる。3以上のプローブを同時に形成することにより、これらのプローブの電気的特性及び機械的特性を揃えることができる。また、3以上のプローブの相対的な位置関係がプローブ連結部材によって規定されるため、これらのプローブを配線基板上に配置する際の位置決め精度を向上させることができる。また、ハンドリングプレートが3以上のコンタクト部を含む仮想平面に平行に配置されるため、プローブユニットを容易に移動させることができる。
第2の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、上記プローブ連結部材が、環状形状を有し、上記ビーム部が、上記プローブ連結部材から内側に向かって延びる形状を有し、上記ハンドリングプレートが、上記コンタクト部よりも更に内側に配置されるように構成される。
この様な構成によれば、ハンドリングプレートがプローブ連結部材よりも内側に配置されるため、プローブユニットを配線基板に取り付ける際、プローブ連結部材よりも外側に取付用のスペースを設けておく必要がない。このため、2以上のプローブユニットを配線基板上に高密度で配置する場合にも適用することができる。
第3の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、上記プローブ連結部材が、共通リング、接地リング及び電源リングにより構成され、上記共通リングには、全ての上記プローブが連結され、上記接地リングには、接地用の上記プローブが連結され、上記電源リングには、電源用の上記プローブが連結されるように構成される。
この様な構成によれば、接地リング及び電源リングをプローブと同時に形成し、プローブとの配線も同時に形成することができる。また、接地リング及び電源リングは、配線基板に対し、3以上のプローブと同時に配置することができる。
第4の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、全ての上記プローブが上記共通リング、上記接地リング及び上記電源リングの全てと連結された状態から、上記プローブと上記接地リングとの連結又は上記プローブと上記電源リングとの連結が選択的に除去された状態に遷移可能であるように構成される。この様な構成によれば、プローブと共通リング、接地リング及び電源リングとが連結された状態では、これらのリングが全てのプローブと連結されているため、プローブユニットの強度を確保し易い。一方、プローブと接地リング又は電源リングとの連結を選択的に除去することにより、プローブに信号用、接地用又は電源用の機能を割り付けることができる。このため、プローブユニットを配線基板に取り付けた後であっても、各プローブに対する機能割付けを行うことができる。
第5の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、上記共通リングが、上記接地リング及び上記電源リングよりも内側に配置されるように構成される。この様な構成によれば、共通リングに連結された全てのプローブについて、ビーム部が共通リングから内側に向かって延びる形状を有することから、各プローブの弾性変形時の機械的特性を揃えることができる。
第6の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、上記接地リング及び上記電源リングが、上記ビーム部の延伸方向に間隔を空けて配置されるように構成される。この様な構成によれば、プローブと接地ライン又は電源ラインとを接続する接続部材の構成を簡素化することができる。
第7の本発明によるプローブユニットは、上記構成に加え、上記プローブ、上記プローブ連結部材及び上記ハンドリングプレートが、上記ハンドリングプレートに対する上記コンタクト部の高さ方向に金属材料を積層することによって形成されるように構成される。この様な構成によれば、プローブ連結部材及びハンドリングプレートをプローブと一体的に形成することができる。
本発明によれば、3以上のプローブが配線基板に同時に配置されるため、複数のプローブを配線基板に取り付ける際の作業工数を低減させることができる。また、ハンドリングプレートが3以上のコンタクト部を含む仮想平面に平行に配置されるため、プローブユニットを容易に移動させることができる。
本発明の実施の形態1によるプローブユニット1の一構成例を示した図である。 図1のプローブユニット1を示した断面図であり、プローブユニット1をA−A切断線により切断した場合の切断面が示されている。 図1のプローブユニット1の製造工程の一例を模式的に示した説明図である。 プローブカードの製造工程の一例を模式的に示した説明図であり、図1のプローブユニット1を配線基板13に取り付ける工程が示されている。 プローブカードの製造工程の一例を模式的に示した説明図であり、プローブ連結部材3やハンドリングプレート4を取り除く工程が示されている。 プローブユニット1の他の構成例を示した図である。 本発明の実施の形態2によるプローブユニット1の一構成例を示した図である。 図7のプローブユニット1から共通リング31、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5を取り除いた状態を示した図である。 図8のプローブユニット1を示した断面図である。 本発明の実施の形態3によるプローブユニット1の一構成例を示した図である。 図10のプローブユニット1を示した断面図である。 プローブユニット1のその他の構成例を示した図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。本明細書では、便宜上、針圧の方向を鉛直方向とし、鉛直方向に垂直な方向を水平方向として説明するが、本発明によるプローブユニットの使用時における姿勢を限定するものではない。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1によるプローブユニット1の一構成例を示した図であり、図中の(a)には、プローブユニット1を鉛直方向から見た場合が示され、(b)には、プローブユニット1を水平方向から見た場合が示されている。図2は、図1のプローブユニット1を示した断面図であり、プローブユニット1をA−A切断線により切断した場合の切断面の一部が示されている。
<プローブユニット1>
プローブユニット1は、後述する配線基板に取り付けられるモジュールであり、3以上のプローブ2と、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5とにより構成される。プローブユニット1を配線基板に取り付けることにより、3以上のプローブ2が配線基板に同時に取り付けられる。
プローブ2は、カンチレバー型のコンタクトプローブであり、検査対象物(不図示)に接触させるコンタクト部21と、配線基板に固定されるベース部23と、弾性変形することによって針圧を発生させるビーム部22とにより構成される。コンタクト部21は、ビーム部22の自由端に設けられる。ベース部23は、ビーム部22の固定端に設けられる。
例えば、ベース部23は、鉛直方向に延びる四角柱形状を有する。ビーム部22は、水平方向に延びる細長い形状を有し、ベース部23に対し、コンタクト部21を鉛直方向に移動可能に支持し、オーバードライブ時には、弾性変形することにより、コンタクト部21を介して検査対象物に所定の針圧を付加する。
プローブ2は、検査対象とするデバイスチップ上の電極パッドの配置に応じたレイアウトで配置される。図示したプローブユニット1では、4つのプローブ列が前後左右の位置にそれぞれ配置されている。各プローブ列は、5本のプローブ2により構成され、ビーム部22の側面を互いに対向させた状態で直線上に配置される。
各プローブ2のコンタクト部21は、共通の仮想平面6上に配置される。この仮想平面6は、コンタクト部21の先端を通る仮想的な平面であり、プローブユニット1を配線基板に取り付けた状態では配線基板に平行である。
プローブ連結部材3は、各プローブ2のベース部23を互いに連結する金属部材である。このプローブ連結部材3は、ハンドリングプレート4を水平面内において取り囲む環状形状を有する。例えば、プローブ連結部材3は、その外形が八角形形状であり、各辺に対応づけてプローブ列とプレート連結部材5とが交互に配置されている。なお、プローブ連結部材3は、外形が矩形状又は円形状であっても良い。
3以上のプローブ2がプローブ連結部材3によって連結されているため、これらのプローブ2を同時に形成し、配線基板に同時に配置することができる。3以上のプローブ2を同時に形成することにより、これらのプローブ2の電気的特性及び機械的特性を揃えることができる。また、3以上のプローブ2の相対的な位置関係がプローブ連結部材3によって規定されるため、これらのプローブ2を配線基板上に配置する際の位置決め精度を向上させることができる。
ハンドリングプレート4は、後述する汎用のマウンタ装置を吸着させるための吸着領域41を有する平板状の金属部材であり、プローブ連結部材3に連結される。また、ハンドリングプレート4は、仮想平面6に平行に配置される。このハンドリングプレート4は、例えば、矩形形状を有し、プレート連結部材5を介してプローブ連結部材3に連結されている。ハンドリングプレート4が仮想平面6に平行に配置されるため、プローブユニット1を移動させるのに汎用のマウンタ装置を利用することができる。
プレート連結部材5は、ハンドリングプレート4をプローブ連結部材3に連結する金属部材である。このプレート連結部材5は、ハンドリングプレート4の頂点とプローブ連結部材3の辺とを接続する4つの接続部により構成される。各接続部は、ハンドリングプレート4から水平方向の外側に向かって延びる細長い形状からなる。なお、プレート連結部材5は、ハンドリングプレート4をプローブ2のベース部23に連結するものであっても良い。
各プローブ2のビーム部22は、平面視した場合にプローブ連結部材3から水平方向の内側に向かって延びる形状を有する。ハンドリングプレート4は、プローブ2のコンタクト部21よりも更に内側に配置される。ハンドリングプレート4をプローブ連結部材3よりも内側に配置することにより、プローブユニット1を配線基板に取り付ける際、プローブ連結部材3よりも外側に取付用のスペースを設けておく必要がない。このため、2以上のプローブユニット1を配線基板上に高密度で配置する場合にも適用することができる。
<プローブユニット1の製造方法>
図3は、図1のプローブユニット1の製造工程の一例を模式的に示した説明図であり、図中の(a)〜(f)には、基材S0上にプローブユニット1を形成するための作業工程が示されている。
プローブユニット1は、いわゆるMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を利用して作製される。MEMSは、フォトリソグラフィ技術及び犠牲層エッチング技術を利用して、微細な立体的構造物を作製する技術である。フォトリソグラフィ技術は、半導体製造プロセスなどで利用される感光レジストを用いた微細パターンの加工技術である。また、犠牲層エッチング技術は、犠牲層と呼ばれる下層を形成し、その上に構造物を構成する層をさらに形成した後、犠牲層のみをエッチングして立体的な構造物を形成する技術である。
プローブユニット1は、基材上に金属材料を電気めっきにより堆積させ、鉛直方向にめっき層を成長させることにより、プローブ2、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5が一体的に形成される。例えば、プローブ2は、ベース部23、ビーム部22、コンタクト部21の順に形成される。
図3を参照しながら具体的に説明すれば、まず、犠牲層S1がめっき用の下地として基材S0の表面に形成される。犠牲層S1には、エッチング液によって容易に除去することができる金属、例えば、銅が用いられる。次に、基材S0上にフォトレジストを塗布してレジスト層S2を形成し、フォトマスクを介して露光した後、現像処理を行って余分なフォトレジストが除去される。このレジスト層S2のパターニングにより、ベース部23に対応する平面位置にレジスト層S2の非形成領域が形成される(図3の(a))。
次に、めっき処理により、レジスト層S2の非形成領域にベース部23を構成する導電層S3が形成される。例えば、導電層S3には、ニッケル合金が用いられる。レジスト層S2は、導電層S3の形成後、剥離剤を用いて除去される。次に、めっき処理により、基材S0上に犠牲層S4が形成され、その後、導電層S3が露出するまで、犠牲層S4の表面が研磨される(図3の(b))。
犠牲層S4の表面研磨後、基材S0上にフォトレジストを塗布してレジスト層S5を形成し、フォトマスクを介して露光した後、現像処理を行って余分なフォトレジストが除去される。このレジスト層S5のパターニングにより、ベース部23、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5に対応する平面位置にレジスト層S5の非形成領域が形成される(図3の(c))。
次に、めっき処理により、レジスト層S5の非形成領域にベース部23、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5を構成する導電層S6が形成される。例えば、導電層S6には、導電層S3と同じ金属が用いられる。レジスト層S5は、導電層S6の形成後、剥離剤を用いて除去される。次に、めっき処理により、基材S0上に犠牲層S7が形成され、その後、導電層S6が露出するまで、犠牲層S7の表面が研磨される(図3の(d))。
図3の(c)及び(d)の工程を繰り返すことにより、ベース部23を構成する導電層S8、犠牲層S9、ビーム部22を構成する導電層S10、犠牲層S11がこの順序で形成される。次に、導電層S10が露出するまで、犠牲層S11の表面を研磨した後(図3の(e))、基材S0上にフォトレジストを塗布してレジスト層S12を形成し、フォトマスクを介して露光した後、現像処理を行って余分なフォトレジストが除去される。このレジスト層S12のパターニングにより、コンタクト部21に対応する平面位置にレジスト層S12の非形成領域が形成される。
次に、めっき処理により、レジスト層S12の非形成領域にコンタクト部21を構成する導電層S13が形成される(図3の(f))。レジスト層S12は、導電層S13の形成後、剥離剤を用いて除去される。次に、基材S0をエッチング液に所定時間浸し、導電層の積層体の内部にエッチング液を浸潤させることにより、積層体から犠牲層S1,S4,S7,S9及びS11を除去すれば、プローブユニット1が完成する。例えば、エッチング液には、硫酸銅が用いられる。
なお、プローブユニット1の製造方法は、鉛直方向、すなわち、ハンドリングプレート4に対するコンタクト部21の高さ方向に金属材料を積層することにより、プローブ2をコンタクト部21、ビーム部22、ベース部23の順に形成するような構成であっても良い。
<プローブカードの製造工程>
図4及び図5は、プローブカードの製造工程の一例を模式的に示した説明図である。図4の(a)〜(c)には、図1のプローブユニット1をパレット12から取り出して配線基板13に取り付ける工程が示されている。図5の(a)及び(b)には、配線基板13に取り付けられたプローブユニット1からプローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5を取り除く工程が示されている。
パレット12は、2以上のプローブユニット1を収容するトレー容器であり、上述した様な製造方法により作製されたプローブユニット1が載置される。各プローブユニット1は、プローブ2のコンタクト部21を鉛直方向の上向きに向けた状態で収容される(図4の(a))。
マウンタ装置10は、電子部品をプリント基板に配置するための汎用の表面実装機であり、プローブユニット1をパレット12から取り出し、配線基板13上に移動させる。このマウンタ装置10は、空気を吸い込むことによって、運搬対象物を吸着させるためのバキュームノズル11を備える。例えば、マウンタ装置10には、デバイスチップを配線基板にマウントするチップマウンタが用いられる。
プローブユニット1をパレット12から取り出す場合、まず、マウンタ装置10をプローブユニット1に近づけ、プローブユニット1のハンドリングプレート4をバキュームノズル11に吸着させる。この状態でマウンタ装置10を鉛直方向の上向きに移動させることにより、プローブユニット1がパレット12から取り出される。
配線基板13には、配線用電極14がプローブ2のベース部23の位置に設けられる(図4の(b))。配線用電極14は、プローブ2ごとに設けられ、上面にはんだ膜15が形成されている。このはんだ膜15は、プローブ2のベース部23を配線用電極14に接合するための導電性接合部材であり、フォトリソグラフィ技術を利用する印刷工程により、配線用電極14と一体的に形成される。なお、はんだ膜15の形成方法は、上述したはんだ印刷による方法に代えて、ディスペンサー等を用いたはんだ塗布による方法であっても良い。
プローブユニット1を配線基板13に取り付ける場合、まず、プローブユニット1を吸着させた状態でマウンタ装置10を鉛直方向の下向きに移動させ、プローブユニット1の各プローブ2を配線用電極14上に配置する。この状態で空気の吸込みを停止させることによってプローブユニット1をリリースすれば、プローブユニット1が配線基板13に設置される。
プローブユニット1を配線基板13に設置した後、リフロー方式又はレーザー光を用いて局所加熱する方式により、はんだ膜15を溶融させ、固化させることにより、各プローブ2のベース部23が配線用電極14に接合され、プローブユニット1が配線基板13に固定される(図4の(c))。
プローブユニット1を配線基板13に取り付けた後、レーザー加工装置16を用いて、プローブ連結部材3を切断することにより(図5の(a))、プローブユニット1からプローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5が除去される(図5の(b))。プローブ連結部材3をレーザー光17の照射による局所加熱によって溶断することにより、各プローブ2が分離される。
配線基板13には、検査対象とするデバイスチップに合わせて2以上のプローブユニット1が配置される。例えば、8つのデバイスチップを同時に検査する場合、8つのプローブユニット1が共通の配線基板13に配置される。この様な工程を経てプローブカードが作製される。
本実施の形態によれば、3以上のプローブ2がプローブ連結部材3によって連結されるため、これらのプローブ2を同時に形成し、配線基板13に同時に配置することができる。3以上のプローブ2を同時に形成することにより、これらのプローブ2の電気的特性及び機械的特性を揃えることができる。また、3以上のプローブ2の相対的な位置関係がプローブ連結部材3によって規定されるため、これらのプローブ2を配線基板13上に配置する際の位置決め精度を向上させることができる。特に、MEMS技術を利用して多数のプローブ2を一括形成するため、3次元位置に関してプローブ2を高精度で実装することができる。
また、ハンドリングプレート4が3以上のコンタクト部21を含む仮想平面6に平行に配置されるため、プローブユニット1を移動させるのに汎用のマウンタ装置10を利用することができる。
また、ハンドリングプレート4がプローブ連結部材3よりも内側に配置されるため、プローブユニット1を配線基板13に取り付ける際、プローブ連結部材3よりも外側に取付用のスペースを設けておく必要がない。このため、2以上のプローブユニット1を配線基板13上に高密度で配置する場合にも適用することができる。
なお、本実施の形態では、プローブ2のベース部23がプローブ連結部材3よりも鉛直方向の下向きに突出する場合の例について説明したが、本発明は、プローブ2やプローブ連結部材3の構成をこれに限定するものではない。例えば、ベース部23の下端面とプローブ連結部材3の下端面とが面一であるような構成であっても良い。
図6は、プローブユニット1の他の構成例を示した図であり、プローブユニット1を水平方向から見た場合が示されている。このプローブユニット1では、ベース部23の下端面と、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5の下端面とが面一になっている。つまり、このプローブユニット1では、ベース部23の鉛直方向の下端と、プローブ連結部材3、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5の下端とが同一平面上となるように形成されている。
実施の形態2.
実施の形態1では、プローブ連結部材3が1つの環状部材からなる場合の例について説明した。これに対し、本実施の形態では、プローブ連結部材3が共通リング、接地リング及び電源リングの3つの環状部材からなる場合について説明する。
図7は、本発明の実施の形態2によるプローブユニット1の一構成例を示した図であり、図中の(a)には、プローブユニット1を鉛直方向から見た場合が示され、(b)には、プローブユニット1を水平方向から見た場合が示されている。
このプローブユニット1は、図1のプローブユニット1と比較すれば、プローブ連結部材3が共通リング31、接地リング32及び電源リング33により構成され、信号用プローブ2a、接地用プローブ2b及び電源用プローブ2cがプローブ2として設けられている点で異なる。
信号用プローブ2aは、テスター装置(不図示)から供給されるテスト信号を検査対象物に伝送し、或いは、検査対象物からの応答信号をテスター装置へ伝送するためのプローブ2である。接地用プローブ2bは、検査対象物を接地するためのプローブ2である。電源用プローブ2cは、検査対象物に駆動用の電力を供給するためのプローブ2である。
例えば、プローブ列は、2本の信号用プローブ2aと、2本の接地用プローブ2bと、1本の電源用プローブ2cとにより構成され、信号用プローブ2a、接地用プローブ2b、接地用プローブ2b、電源用プローブ2c、信号用プローブ2aの順に配置される。
共通リング31は、信号用プローブ2a、接地用プローブ2b及び電源用プローブ2cを互いに連結する連結部材であり、全てのプローブ2が連結される。接地リング32は、接地用プローブ2bを接地するための連結部材であり、接地用プローブ2bが連結される。
電源リング33は、電源用プローブ2cを電源ラインに接続するための連結部材であり、電源用プローブ2cが連結される。プレート連結部材5は、ハンドリングプレート4を共通リング31に連結するとともに、共通リング31、接地リング32及び電源リング33を互いに連結する。
この様に構成することにより、接地リング32及び電源リング33をプローブ2と同時に形成し、プローブ2との配線も同時に形成することができる。また、接地リング32及び電源リング33は、配線基板13に対し、3以上のプローブ2と同時に配置することができる。
共通リング31は、接地リング32及び電源リング33よりも水平方向の内側に配置される。このため、共通リング31に連結された全てのプローブ2について、ビーム部22が共通リング31から水平方向の内側に向かって延びる形状を有することから、各プローブ2の弾性変形時の機械的特性を揃えることができる。ただし、共通リング31、接地リング32及び電源リング33の配置は、上記構成に限定されるものではない。
また、接地リング32及び電源リング33は、ビーム部22の延伸方向に間隔を空けて配置される。このため、プローブ2と接地ライン又は電源ラインとを接続する接続部材の構成を簡素化することができる。また、接地用プローブ2b及び電源用プローブ2cと接地リング32及び電源リング33との接続を簡素化するために、接地リング32は、電源リング33よりも水平方向の内側に配置される。
図8は、図7のプローブユニット1から共通リング31、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5を取り除いた状態を示した図である。図9は、図8のプローブユニット1を示した断面図である。
プローブユニット1を配線基板13に取り付けた後、プローブユニット1から共通リング31、ハンドリングプレート4及びプレート連結部材5が除去される。電源リング33の内側に接地リング32が配置されるため、プローブ列の間に、電源電圧の変動を抑制するためのバイパスコンデンサを容易に設置することができる。
図9中の(a)は、プローブユニット1をB1−B1切断線により切断した場合の切断面の一部を示した図であり、信号用プローブ2aの切断面が示されている。信号用プローブ2aのベース部23は、接地リング32及び電源リング33から離間し、これらの連結部材とは電気的に絶縁される。
図9中の(b)は、プローブユニット1をB2−B2切断線により切断した場合の切断面の一部を示した図であり、電源用プローブ2cの切断面が示されている。電源用プローブ2cのベース部23には、ベース部23を電源リング33に連結する接続部材24が設けられる。この接続部材24は、ベース部23から接地リング32を跨いで水平方向の外側に向かって延びる形状を有する。ベース部23と接地リング32とは電気的に絶縁される。
図9中の(c)は、プローブユニット1をB3−B3切断線により切断した場合の切断面の一部を示した図であり、接地用プローブ2bの切断面が示されている。接地用プローブ2bのベース部23には、ベース部23を接地リング32に連結する接続部材24が設けられる。この接続部材24は、ベース部23から水平方向の外側に向かって延びる形状を有する。ベース部23と電源リング33とは電気的に絶縁される。
本実施の形態によれば、接地リング32及び電源リング33をプローブ2と同時に形成し、プローブ2との配線も同時に形成することができる。また、接地リング32及び電源リング33は、配線基板13に対し、3以上のプローブ2と同時に配置することができる。更に、共通リング31に連結された全てのプローブ2について、ビーム部22が共通リング31から水平方向の内側に向かって延びる形状を有することから、各プローブ2の弾性変形時の機械的特性を揃えることができる。
実施の形態3.
実施の形態2では、プローブ2のベース部23と接地リング32又は電源リング33とを連結する接続部材24が設けられる場合の例について説明した。これに対し、本実施の形態では、プローブユニット1を配線基板13に取り付けた後に、接続部材を切断し、除去することにより、信号用プローブ2a、接地用プローブ2b又は電源用プローブ2cの割り付けが行われる場合について説明する。
図10は、本発明の実施の形態3によるプローブユニット1の一構成例を示した図であり、図中の(a)には、プローブユニット1を鉛直方向から見た場合が示され、(b)には、プローブユニット1を水平方向から見た場合が示されている。図11は、図10のプローブユニット1を示した断面図である。図11中の(a)には、プローブユニット1をC1−C1切断線により切断した場合の切断面の一部が示され、(b)には、プローブユニット1をC2−C2切断線により切断した場合の切断面の一部が示されている。
このプローブユニット1は、図1のプローブユニット1(実施の形態1)と比較すれば、プローブ連結部材3が共通リング31、接地リング32及び電源リング33により構成され、プローブ2のベース部23と接地リング32又は電源リング33とを連結する接続部材24a及び24bが設けられている点で異なる。共通リング31は、全てのプローブ2が連結される。接地リング32は、共通リング31よりも水平方向の外側に配置される。電源リング33は、接地リング32よりも水平方向の外側に配置される。
接地リング32は、接続部材24a及び24bの形成領域において、鉛直方向の下端面が共通リング31の下端面よりも鉛直方向の上側に位置し、接続部材24a及び24bの非形成領域において、鉛直方向の下端面と共通リング31の下端面とが面一である。
接続部材24aは、ベース部23と接地リング32とを連結する接続パターンであり、ベース部23から水平方向の外側に向かって延びる形状を有する。接続部材24bは、ベース部23と電源リング33とを連結する接続パターンであり、ベース部23から接地リング32を跨いで水平方向の外側に向かって延びる形状を有する。接続部材24aは、接続部材24bよりも鉛直方向の上側に配置される。
接続部材24a又は24bを切断することにより、プローブユニット1は、全てのプローブ2が共通リング31、接地リング32及び電源リング33の全てと連結された状態から、プローブ2と接地リング32との連結又はプローブ2と電源リング33との連結が選択的に除去された状態に遷移可能である。プローブ2と共通リング31、接地リング32及び電源リング33とが連結された状態では、これらのリングが全てのプローブ2と連結されているため、プローブユニット1の強度を確保し易い。
一方、プローブ2と接地リング32又は電源リング33との連結を選択的に除去することにより、プローブ2に信号用、接地用又は電源用の機能を割り付けることができる。このため、プローブユニット1を配線基板13に取り付けた後であっても、各プローブ2に対する機能割付けを行うことができる。
本実施の形態によれば、プローブユニット1を配線基板13に取り付けた後、接続部材24a又は24bのいずれか一方又は両方を切断し、除去することにより、信号用プローブ2a、接地用プローブ2b又は電源用プローブ2cの割り付けを行うことができる。
なお、実施の形態1〜3では、プローブ連結部材3が環状形状を有する場合の例について説明したが、本発明は、プローブ連結部材3の形状をこれに限定するものではない。例えば、プローブ連結部材3は、プローブ2の配列方向に延びる直線形状を有するものであっても良い。
図12は、プローブユニット1のその他の構成例を示した図であり、図中の(a)には、プローブユニット1を鉛直方向から見た場合が示され、(b)には、プローブユニット1を水平方向から見た場合が示されている。このプローブユニット1は、3以上のプローブ2と、プローブ連結部材3及びハンドリングプレート4とにより構成される。
プローブ列は、5本のプローブ2により構成され、ビーム部22の側面を互いに対向させた状態で直線上に配置される。プローブ連結部材3は、プローブ列を構成するプローブ2について、これらのプローブ2のベース部23を互いに連結する金属部材であり、各プローブ2の配列方向に細長い矩形形状を有する。ハンドリングプレート4は、プローブ連結部材3に結合される。
また、実施の形態1〜3では、ハンドリングプレート4がプレート連結部材5によりプローブ連結部材3に連結される場合の例について説明したが、本発明は、ハンドリングプレート4をプローブ2に連結するものにも適用することができる。例えば、ハンドリングプレート4は、プローブ2のベース部23に連結されるような構成であっても良い。
1 プローブユニット
2 プローブ
21 コンタクト部
22 ビーム部
23 ベース部
24,24a及び24b 接続部材
3 プローブ連結部材
31 共通リング
32 接地リング
33 電源リング
4 ハンドリングプレート
5 プレート連結部材
6 仮想平面
10 マウンタ装置
11 バキュームノズル
12 パレット
13 配線基板
14 配線用電極
15 はんだ膜
16 レーザー加工装置
17 レーザー光

Claims (7)

  1. 水平方向に延びるビーム部の自由端にコンタクト部が設けられ、上記ビーム部の固定端の下方にベース部が設けられた3以上のプローブと、
    上記プローブの上記ベース部を互いに連結するプローブ連結部材と、
    上記プローブ連結部材又は上記プローブに連結されたハンドリングプレートとを備え、
    上記プローブ連結部材は、上記ハンドリングプレートを取り囲む環状形状を有し、
    上記ビーム部は、上記プローブ連結部材から内側に向かって延びる形状を有し、
    上記ハンドリングプレートは、上記ビーム部よりも下方に配置され、上記コンタクト部よりも更に内側に吸着領域を有することを特徴とするプローブユニット。
  2. 上記ハンドリングプレートは、細長い形状からなるプレート連結部を介して上記プローブ連結部材又は上記プローブに連結されることを特徴とする請求項1に記載のプローブユニット。
  3. 上記プローブ連結部材は、共通リング、接地リング及び電源リングにより構成され、
    上記共通リングには、全ての上記プローブが連結され、
    上記接地リングには、接地用の上記プローブが連結され、
    上記電源リングには、電源用の上記プローブが連結されることを特徴とする請求項1又は2に記載のプローブユニット。
  4. 全ての上記プローブが上記共通リング、上記接地リング及び上記電源リングの全てと連結された状態から、上記プローブと上記接地リングとの連結又は上記プローブと上記電源リングとの連結が選択的に除去された状態に遷移可能であることを特徴とする請求項3に記載のプローブユニット。
  5. 上記共通リングは、上記接地リング及び上記電源リングよりも内側に配置されることを特徴とする請求項3に記載のプローブユニット。
  6. 上記接地リング及び上記電源リングは、上記ビーム部の延伸方向に間隔を空けて配置されることを特徴とする請求項5に記載のプローブユニット。
  7. 上記プローブ、上記プローブ連結部材及び上記ハンドリングプレートは、上記ハンドリングプレートに対する上記コンタクト部の高さ方向に金属材料を積層することによって形成されることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のプローブユニット。
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