JP6512006B2 - センサ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、ジャイロセンサと他の力学量センサとが共に形成されたコンボセンサを構成するセンサ装置に関するものである。
従来より、ジャイロセンサ(つまり角速度センサ)と加速度センサとを共に1つのパッケージに収めたコンボセンサを有するセンサ装置がある。
例えば、特許文献1では、ウェハレベルパッケージ(以下、WLP(Wafer Level Package)という)を用いて2種類の力学量センサを有するコンボセンサを構成している。同一のセンサ基板に対してジャイロセンサと加速度センサを作成する構造、すなわち1チップによってコンボセンサを構成しつつ、センサ基板を支持基板およびキャップ層によって封止した構造としている。
具体的には、櫛歯型の容量式ジャイロセンサと櫛歯型の容量式加速度センサとを隣同士に配置することで、1チップ化を図っている。このように、1チップによってコンボセンサを構成することで、センサ装置の小型化を図ることが可能となる。
特許第3435665号公報
しかしながら、上記特許文献1に示すようなセンサ装置の場合、ジャイロセンサと加速度センサを隣り合って配置した構造であるため、各センサを小型化するしか装置の小型化を図ることができない。また、ジャイロセンサからの振動が加速度センサに漏れないように、各センサの間隔を空ける必要がある。これらのことから、個別に間隔を空けて横並び配置するしかなく、小型化が難しいという問題がある。
なお、ここではコンボセンサを有するセンサ装置として、ジャイロセンサと加速度センサを備える構成について説明したが、ジャイロセンサと加速度センサ以外の他の力学量センサとを一体化するものであっても、同様の問題が発生する。

、例えば弾性表面波(以下、SAWという)素子とを一体化するものであっても、同様の問題が発生する。
本発明は上記点に鑑みて、より小型化が容易な構造のコンボセンサを有するセンサ装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、支持基板(11)と、支持基板に対して固定された固定部(20)と、駆動錘および検出錘(31、32)とを有する可動部(30)と、駆動錘を支持基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ固定部に対して支持する駆動梁(42)、および、検出錘を支持基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ固定部に対して支持する検出梁(41)を有する梁部(40)とを有する振動型角速度センサと、該振動型角速度センサの周囲を囲むと共に支持基板に接続された周辺部(10c)と、を備えたセンサ基板(10)と、を有するセンサ装置であって、固定部は、枠体形状によって構成されており、センサ基板には、固定部が構成する枠体形状の内側に配置された力学量センサ(200)が備えられていることを特徴としている。
このように、振動型角速度センサ(すなわちジャイロセンサ)のうち枠体形状で構成された固定部の内側に他の力学量センサを配置している。これにより、1チップ化を図りつつ、ジャイロセンサの内側に他の力学量センサを配置した構造となる。したがって、さらなる小型化が容易な構造のコンボセンサを有するセンサ装置とすることが可能となる。
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係の一例を示すものである。
本発明の第1実施形態にかかるセンサ装置の上面レイアウト図である。 図1のII−II'断面図である。 図1におけるIII−III’断面図である。 図1におけるIV−IV’断面図である。 センサ装置の実装例を示した断面図である。 センサ装置の実装例を示した断面図である。 センサ装置の実装例を示した断面図である。 図1に示すジャイロセンサ100の駆動振動時の様子を示した上面図である。 図1に示すジャイロセンサ100の角速度印加時の様子を示した上面図である。 他の実施形態で説明するセンサ装置の断面図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態について説明する。本実施形態で説明するセンサ装置は、振動型のジャイロセンサと共に櫛歯型の容量式加速度センサを1チップに形成し、WLP構造としたものである。このセンサ装置は、例えば、ジャイロセンサにて車両の上下方向に平行な中心線周りの回転角速度の検出を行いつつ、加速度センサにて車両の前後方向もしくは左右方向の加速度の検出を行うものに用いられるが、勿論、車両用以外にも適用できる。
以下、図1〜図7を参照して、本実施形態にかかるセンサ装置について説明する。
本実施形態にかかるセンサ装置は、図1および図2に示すように、センサ基板10を用いてジャイロセンサ100と加速度センサ200とを共に形成したものである。以下、図1および図2の紙面左右方向をx軸方向、図1の紙面上下方向をy軸方向、図1の紙面法線方向および図2の紙面上下方向をz軸方向として本実施形態にかかるセンサ装置の詳細について説明する。
センサ装置は、図1中のxy平面が車両水平方向に向けられ、図2のz軸方向が車両の上下方向と一致するようにして車両に搭載される。
図1および図2に示すように、センサ装置に備えられるジャイロセンサ100および加速度センサ200は、板状のセンサ基板10をエッチングして所定のレイアウトとすることで形成されている。センサ基板10の裏面10a側には、支持基板11が配置されており、接合部12を介して接合されている。また、センサ基板10の表面10b側、つまり支持基板11と反対側には、キャップ層13が配置されており、接合部14を介して接合されている。このように、センサ基板10を挟んで支持基板11とキャップ層13とを貼り合せることでWLP構造のセンサ装置を構成している。
本実施形態では、センサ基板10、支持基板11およびキャップ層13を例えばシリコン基板によって構成しており、接合部12、14を例えばシリコン酸化膜などの絶縁膜によって構成している。センサ基板10、支持基板11およびキャップ層13については1枚1枚独立したシリコン基板によって構成されていても良いが、例えば、センサ基板10および支持基板11が接合部12を挟み込んだSOI(Silicon on insulator)基板にて構成されていても良い。
ジャイロセンサ100は、固定部20と可動部30および梁部40にパターニングされている。固定部20は、図2に示すように、接合部12を介して支持基板11に固定されている。可動部30および梁部40は、ジャイロセンサ100における振動子を構成するものである。可動部30は、支持基板11の上にリリースされた状態で配置されている。梁部40は、可動部30を支持すると共に角速度検出を行うために可動部30をx軸方向およびy軸方向において変位させるものである。これら固定部20と可動部30および梁部40の具体的な構造を説明する。
固定部20は、可動部30を支持すると共に、駆動用電圧の印加用のパッド接続部や角速度検出に用いられる検出信号の取り出し用のパッド接続部などの各種パッド接続部300、301が形成される部分である。本実施形態では、これら各機能を1つの固定部20によって実現しているが、例えば可動部30を支持するための支持用固定部、駆動用電圧が印加される駆動用固定部、角速度検出に用いられる検出用固定部に分割した構成とされても良い。その場合、例えば図1に示した固定部20を支持固定部とし、支持固定部に連結されるように駆動用固定部と検出用固定部を備え、駆動用固定部に駆動用電圧の印加用のパッド接続部や検出用固定部に検出信号取り出し用のパッド接続部などを備えればよい。
具体的には、固定部20は、例えば上面形状が四角形の枠体形状で構成されており、内部に空間21が設けられると共に外部に空間22が設けられた構造とされている。これらのうちの空間21に、加速度センサ200が配置されている。この固定部20の幅は、任意であるが、ここでは後述する検出梁41の幅よりも広くしてある。
固定部20と支持基板11との間には内側接合部12aが配置されており、内側接合部12aを介して固定部20が支持基板11に固定されている。同様に、固定部20とキャップ層13との間には内側接合部14aが配置されており、内側接合部14aを介して固定部20がキャップ層13にも固定されている。内側接合部12a、14aは、空間21を囲む四角形の枠体形状とされている。これら内側接合部12a、14aにより、センサ基板10と支持基板11もしくはキャップ層13との間において、空間21と空間22とが区画されている。すなわち、固定部20の外側、つまり可動部30や梁部40などのジャイロセンサ100の構成要素が配置される空間22と、固定部20の内側、つまり加速度センサ200の構成要素が配置される空間21とが区画されている。
可動部30は、角速度印加に応じて変位する部分であり、駆動用電圧の印加によって駆動振動させられる駆動用錘と駆動振動時に角速度が印加されたときにその角速度に応じて振動させられる検出用錘とを有した構成とされる。本実施形態の場合、可動部30として、駆動用錘と検出用錘の役割を同じ錘によって担う駆動兼検出用錘31、32が備えられている。駆動兼検出用錘31、32は、x軸方向において、固定部20を挟んだ両側に配置されており、固定部20から等間隔の場所に配置されている。各駆動兼検出用錘31、32は、同寸法(同質量)で構成され、本実施形態の場合、上面形状が四角形で構成されている。そして、各駆動兼検出用錘31、32は、それぞれ相対する二辺において梁部40に備えられる後述する駆動梁42に連結させられることで、両持ち支持されている。各駆動兼検出用錘31、32の下方においては、接合部12が除去されており、支持基板11から各駆動兼検出用錘31、32がリリースされている。このため、各駆動兼検出用錘31、32は、駆動梁42の変形によってx軸方向に駆動振動可能とされ、角速度印加の際には駆動梁42などの変形によってy軸方向を含む固定部20を中心とした回転方向へも振動可能とされている。
梁部40は、検出梁41と、駆動梁42および支持梁43を有した構成とされている。
検出梁41は、固定部20と支持梁43とを連結するy軸方向に延設された直線状の梁とされ、本実施形態では固定部20の相対する二辺に連結されることで、支持梁43を固定部20に連結させている。検出梁41のx軸方向の寸法は、z軸方向の寸法よりも薄くされており、x軸方向に変形可能とされている。
駆動梁42は、駆動兼検出用錘31、32と支持梁43とを連結するy軸方向、つまり検出梁41と平行な方向に延設された直線状の梁とされている。各駆動兼検出用錘31、32に備えられた駆動梁42から検出梁41までは等距離とされている。駆動梁42のx軸方向の寸法も、z軸方向の寸法よりも薄くされており、x軸方向に変形可能とされている。これにより、駆動兼検出用錘31、32をxy平面状において変位可能としている。
支持梁43は、x軸方向に延設された直線状の部材とされ、支持梁43の中心位置において検出梁41が連結されており、両端位置において各駆動梁42が連結されている。支持梁43は、y軸方向の寸法が検出梁41や駆動梁42におけるx軸方向の寸法よりも大きくされている。このため、駆動振動時には駆動梁42が主に変形し、角速度印加時には検出梁41および駆動梁42が主に変形するようになっている。
このような構造により、駆動梁42と支持梁43および駆動兼検出用錘31、32によって上面形状が四角形の枠体が構成され、その内側に検出梁41および固定部20が配置されたジャイロセンサ100の基本構造が構成されている。
さらに、駆動梁42には、図1および図3に示すように駆動部51が形成されており、検出梁41には、図4に示すように、振動検出部53が形成されている。これら駆動部51および振動検出部53が外部に備えられた図示しない制御装置に電気的に接続されることで、センサ装置の駆動が行われるようになっている。
駆動部51は、図1に示すように、各駆動梁42のうち支持梁43との連結部近傍に備えられており、各場所に2本ずつ所定距離を空けて配置され、y軸方向に延設されている。図3に示すように、駆動部51は、センサ基板10のうちの駆動梁42を構成する部分の表面に下層電極51aと駆動用薄膜51bおよび上層電極51cが順に積層された構造とされている。下層電極51aおよび上層電極51cは、例えばAl電極などによって構成されている。これら下層電極51aおよび上層電極51cは、図1に示した支持梁43および検出梁41を経て固定部20まで引き出された配線部51d、51eを通じて、図示しない駆動用電圧の印加用のパッドやGND接続用のパッドに接続されている。また、駆動用薄膜51bは、例えばチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)膜によって構成されている。
このような構成において、下層電極51aと上層電極51cとの間に電位差を発生させることで、これらの間に挟まれた駆動用薄膜51bを変位させ、駆動梁42を強制振動させることで駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させる。例えば、各駆動梁42のx軸方向の両端側に1本ずつ駆動部51を備えるようにし、一方の駆動部51の駆動用薄膜51bを圧縮応力で変位させると共に他方の駆動部51の駆動用薄膜51bを引張応力で変位させる。このような電圧印加を各駆動部51に対して交互に繰り返し行うことで、駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させている。
振動検出部53は、図1および図4に示すように、検出梁41のうちの固定部20との連結部近傍に備えられており、検出梁41におけるx軸方向の両側それぞれに設けられ、y軸方向に延設されている。図4に示すように、振動検出部53は、検出梁41を構成する接合部12の表面に下層電極53aと検出用薄膜53bおよび上層電極53cが順に積層された構造とされている。下層電極53aおよび上層電極53cや検出用薄膜53bは、それぞれ、駆動部51を構成する下層電極51aおよび上層電極51cや駆動用薄膜51bと同様の構成とされている。下層電極53aおよび上層電極53cは、図1に示した固定部20まで引き出された配線部53d、53eを通じて、図示しない検出信号出力用のパッドに接続されている。
このような構成では、角速度の印加に伴って検出梁41が変位すると、それに伴って検出用薄膜53bが変形する。これにより、例えば下層電極53aと上層電極53cとの間の電気信号(定電圧駆動の場合の電流値、定電流駆動の場合の電圧値)が変化することから、それを角速度を示す検出信号として図示しない検出信号出力用のパッドを通じて外部に出力している。
以上のようにして、本実施形態にかかるセンサ装置に備えられたジャイロセンサ100が構成されている。なお、図1中では、駆動部51の配線部51d、51eや振動検出部53の配線部53d、53eとの接続関係を省略してあるが、各配線部51d、51e、53d、53eは、例えばそれぞれが異なるパッド接続部300に接続されている。
続いて、本実施形態にかかるセンサ装置に備えられた加速度センサ200について説明する。
加速度センサ200は、上記したように、固定部20の内側に形成される空間21に備えられている。加速度センサ200は、図1に示されるように、可動部210、第1固定電極220および第2固定電極230を有した構造体として構成されており、この構造体によって加速度に応じたセンサ信号を出力する。
可動部210は、空間21を横断するように配置されており、支持基板11の上において浮遊させられた梁構造体として構成されている。具体的には、可動部210は、錘部211、可撓部212、第1可動電極213および第2可動電極214を備えている。
錘部211は、一方を長手方向とする長方形状で構成されている。錘部211は、長手方向の両先端位置において可撓部212に連結されている。また、錘部211の両長辺に第1可動電極213および第2可動電極214が連結されている。
可撓部212は、四角形の枠体形状で構成されており、平行なニ本の直線状部分の両端を連結した構造とされ、ニ本の直線状部分の一方の中央位置において錘部211と連結され、もう一方の中央位置において固定部20の内周壁に連結されている。そして、固定部20が接合部12を介して支持基板11に固定されていることから、可撓部212のうちの錘部211と反対側は、固定部20および接合部12を介して支持基板11に支持された状態になっている。また、可撓部212は、二本の直線状部分において撓み易くなっている。この可撓部212の撓みによって、錘部211や第1可動電極213および第2可動電極214を錘部211の長手方向に対して変位可能としている。
第1可動電極213および第2可動電極214は、共に、錘部211の各長辺から垂直方向に延設された構成とされ、それぞれが複数本ずつ備えられている。第1可動電極213は、複数本の電極それぞれが後述するように第1固定電極220に備えられる複数の電極それぞれと一定距離離された状態で対向配置されている。同様に、第2可動電極214は、複数本の電極それぞれが後述するように第2固定電極230に備えられる複数の電極それぞれと一定距離離された状態で対向配置されている。そして、可撓部212の撓みによって錘部211と共に第1可動電極213および第2可動電極214が変位させられると、第1固定電極220や第2固定電極230との間の距離が変化するようになっている。
第1固定電極220および第2固定電極230は、固定部20のうち錘部211の各長辺を構成している面と対向するそれぞれの面から垂直方向に延設されている。このため、第1固定電極220および第2固定電極230は、可動部210を挟むように配置されている。図1では、第1固定電極220が可動部210に対して紙面左側に配置され、第2固定電極230が可動部210に対して紙面右側に配置されている。これら第1固定電極220および第2固定電極230は互いに電気的に独立している。また、固定部20が接合部12を介して支持基板11に固定されていることから、第1固定電極220および第2固定電極230は固定部20および接合部12を介して支持基板11に支持された状態になっている。
以上のようにして、本実施形態にかかるセンサ装置に備えられた加速度センサ200が構成されている。なお、図1中では、可動部210が接続される配線や第1固定電極220および第2固定電極230が接続される配線については図示を省略してあるが、これらは、例えばそれぞれが異なるパッド接続部301に接続されている。
さらに、センサ基板10には、ジャイロセンサ100および加速度センサ200を囲むように配置された周辺部10cが形成されている。周辺部10cは、ジャイロセンサ100および加速度センサ200の周囲を囲む四角形の枠体形状で構成されている。そして、周辺部10cは、外側接合部12bを介して支持基板11と接合され、外側接合部14bを介してキャップ層13と接合されている。
支持基板11は、上記したようにシリコン基板によって構成されており、一面側が接合部12を介してセンサ基板10に貼り合わされている。具体的には、支持基板11は、内側接合部12aを介して固定部20と接合されており、外側接合部12bを介して周辺部10cと接合されている。支持基板11は、単なる板状部材であっても良いが、本実施形態の場合、内側接合部12aおよび外側接合部12bを介して接合されている固定部20や周辺部10c以外の部分については、エッチングによってキャビティ11aを形成している。このようなキャビティ11aが形成されることで、ジャイロセンサ100や加速度センサ200を構成する各部が支持基板11と接触しないようにされている。
また、支持基板11と固定部20との間には、ダミーパッド部302a、302bが形成されている。ダミーパッド部302a、302bは、パッド接続部300、301と対応する位置に同パターンで形成されており、パッド接続部300、301と同材料(例えばアルミニウム)などで構成されている。ダミーパッド部302a、302bによって固定部20と支持基板11との電気的接続を行うことも可能であるが、本実施形態の場合は電気的接続を目的としてダミーパッド部302a、302bを配置しているのではなく、応力緩和を目的として配置している。
すなわち、ジャイロセンサ100や加速度センサ200を構成する各部との電気的接続のためにパッド接続部300、301を備えているが、センサ基板10を挟んだ両側の一方のみに形成してあると、センサ基板10の表面10b側と裏面10a側とで応力にズレが生じる。このため、センサ基板10の表面10b側と裏面10a側とで応力の均一化を図るべく、ダミーパッド部302a、302bをパッド接続部300、301と対応する位置に同パターンで形成してある。
キャップ層13も、上記したようにシリコン基板によって構成されており、一面側が接合部14を介してセンサ基板10に貼り合わされている。具体的には、キャップ層13は、内側接合部14aを介して固定部20と接合されており、外側接合部14bを介して周辺部10cと接合されている。キャップ層13は、単なる板状部材であっても良いが、本実施形態の場合、内側接合部14aおよび外側接合部14bを介して接合されている固定部20や周辺部10c以外の部分についてはエッチングによってキャビティ13aを形成している。このようなキャビティ13aが形成されることで、ジャイロセンサ100や加速度センサ200を構成する各部がキャップ層13と接触しないようにされている。
また、キャップ層13と固定部20との間には、パッド接続部300、301が形成されている。さらに、キャップ層13のうち、パッド接続部300、301と対応する位置には、貫通孔13b、13cが形成されており、これらの貫通孔13b、13c内にスルーホールビア(以下、TSVという)13d、13eが形成されている。そして、キャップ層13の表面側に複数のパッド部13f、13gが形成されている。これにより、TSV13d、13eを通じて各パッド部13f、13gが対応する各パッド接続部300、301に電気的に接続された構成とされている。このように構成された各パッド部13f、13gに対して例えばワイヤボンディングを行うことで外部との電気的接続が行われるようになっている。
さらに、本実施形態の場合、キャップ層13のうち加速度センサ200と対応する位置には大気開放孔13hが形成されている。この大気開放孔13hを通じて加速度センサ200が配置される空間21に大気が導入され、空間21が大気圧となるようにしている。空間21を真空室としても良いが、低周波側の加速度を測定する場合には、可撓部212のダンパを効かせて可動部210が低周波のみで変位して高周波では変位しないようにするのが好ましい。このため、空間21を大気開放して、可撓部212のダンパ効果を高めるようにしている。
以上のようにして、本実施形態にかかるセンサ装置が構成されている。このように構成されるセンサ装置は、例えば、図5(a)に示すように、各パッド部13f、13gに対してボンディングワイヤ310を介して図示しないプリント基板に設けられた配線パターンなどの外部配線と電気的に接続される。または、図5(b)に示すように、プリント基板などの回路基板320上にはんだボール321を介してセンサ装置をフリップチップ接続しても良い。さらに、図5(c)に示すように、各パッド部13f、13gとリード330とをボンディングワイヤ331を介して接続したのち、モールド樹脂332にて樹脂封止した構造とし、リード330を図示しないプリント基板に設けられた配線パターンなどと電気的に接続しても良い。
次に、このように構成されるセンサ装置の作動について、上述した図に加えて図6および図7を参照して説明する。
まず、図3に示すように、駆動梁42に備えられた駆動部51に対して駆動用電圧の印加を行う。具体的には、下層電極51aと上層電極51cとの間に電位差を発生させることで、これらの間に挟まれた駆動用薄膜51bを変位させる。そして、2本並んで設けられた2つの駆動部51のうち、一方の駆動部51の駆動用薄膜51bを圧縮応力で変位させると共に他方の駆動部51の駆動用薄膜51bを引張応力で変位させる。このような電圧印加を各駆動部51に対して交互に繰り返し行うことで、駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させる。これにより、図6に示すように、駆動梁42によって両持ち支持された駆動兼検出用錘31、32が固定部20を挟んでx軸方向において互いに逆方向に移動させられる駆動モードとなる。つまり、駆動兼検出用錘31、32が共に固定部20が近づく状態と遠ざかる状態とが繰り返されるモードとなる。
この駆動振動が行われているときに、振動型角速度センサに対して角速度、つまり固定部20を中心軸としたx軸周りの振動が印加されると、コリオリ力が発生する。このコリオリ力の働きによって、図7に示すように駆動兼検出用錘31、32がy軸方向を含む固定部20を中心とした回転方向へも振動する検出モードとなる。したがって、検出梁41も変位し、この検出梁41の変位に伴って、振動検出部53に備えられた検出用薄膜53bが変形する。これにより、例えば下層電極53aと上層電極53cとの間の電気信号が変化し、この電気信号が外部に備えられる図示しない制御装置などに入力されることで、発生した角速度を検出することが可能となる。
また、y軸方向の加速度が発生したときには、可撓部212の撓みによって錘部211と共に第1可動電極213および第2可動電極214が移動させられる。これによって、第1可動電極213と第1固定電極220との間および第2可動電極214と第2固定電極230との間の距離が変化し、これらそれぞれの間に形成される静電容量が変化する。この静電容量の変化に基づいて、発生した加速度を検出することが可能となる。
以上説明したように、本実施形態のセンサ装置では、ジャイロセンサ100のうち枠体形状で構成された固定部20の内側に加速度センサ200を配置している。これにより、1チップ化を図りつつ、ジャイロセンサ100の内側に加速度センサ200を配置した構造となる。したがって、さらなる小型化が容易な構造のコンボセンサを有するセンサ装置とすることが可能となる。
特に、固定部20の幅を検出梁41の幅よりも広くしていることから、角速度検出時の検出振動が固定部20の内側に配置した加速度センサ200に与える影響を減らすことが可能となる。これにより、さらにセンサ装置の小型化が容易になる。
(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
上記実施形態では、ジャイロセンサ100における固定部20の内側に配置した力学量センサとして櫛歯型の容量式の加速度センサ200を例に挙げて説明した。しかしながら、これは力学量センサの一例を示したのであり、他の力学量センサ、例えば弾性表面波(以下、SAWという)を用いた加速度センサや荷重センサなどであっても良い。なお、力学量センサとして櫛歯型の容量式の加速度センサ200を備える場合には、ダンパを効かせられるようにするために、キャップ層13に大気開放孔13hを備えるようにしたが、他の力学量センサの場合には大気開放孔13hを備えなくても良い。
また、上記実施形態では、センサ基板10と支持基板11およびキャップ層13をそれぞれ異なる3枚の基板で構成したが、センサ基板10と支持基板11を同じ基板によって構成することもできる。例えば、1枚の半導体基板をエッチングすることでジャイロセンサ100や加速度センサ200を形成し、その上面をキャップ層13で覆う構造としても良い。
さらに、上記実施形態では、センサ基板10と支持基板11およびキャップ層13とが接合部12、14を介して接合されるようにしており、接合部12、14の構成材料の一例としてシリコン酸化膜などの絶縁膜を挙げている。しかしながら、これは一例を示したのであり、接合部12、14を金属接合材料によって構成した金属接合部としても良い。この場合、図8に示すように、例えばキャップ層13に貫通孔400を形成し、貫通孔400内に金属接合材料で構成された接合部14と電気的に接続されるTSV401を形成し、これをパッド部13fのうちの接地電位とされる接地パッド部に接続することもできる。
10 センサ基板
11 支持基板
13 キャップ層
20 固定部
30 可動部
40 梁部
100 ジャイロセンサ
200 加速度センサ
210 可動部
220、230 第1、第2固定電極

Claims (10)

  1. 支持基板(11)と、
    前記支持基板に対して固定された固定部(20)と、駆動錘および検出錘(31、32)とを有する可動部(30)と、前記駆動錘を前記支持基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ前記固定部に対して支持する駆動梁(42)、および、前記検出錘を前記支持基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ前記固定部に対して支持する検出梁(41)を有する梁部(40)とを有する振動型角速度センサと、該振動型角速度センサの周囲を囲むと共に前記支持基板に接続された周辺部(10c)と、を備えたセンサ基板(10)と、を有するセンサ装置であって、
    前記固定部は、枠体形状によって構成されており、前記センサ基板には、前記固定部が構成する枠体形状の内側に配置された力学量センサ(200)が備えられていることを特徴とするセンサ装置。
  2. 前記固定部の幅は、前記検出梁の幅よりも大きくされていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。
  3. 前記支持基板と前記センサ基板は別々の基板によって構成されており、前記支持基板の上に前記センサ基板が接合部(12)を介して接合されていることを特徴とする請求項1または2に記載のセンサ装置。
  4. 前記支持基板と前記センサ基板は1枚の半導体基板によって構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のセンサ装置。
  5. 前記力学量センサは、加速度センサ(200)であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載のセンサ装置。
  6. 前記加速度センサは、前記支持基板の平面と平行な平面上の一方向において移動可能な可動電極(213、214)と、前記支持基板に対して固定されていると共に前記可動電極と対向配置された固定電極(220、230)とを有し、加速度の印加に伴う前記可動電極の移動によって前記可動電極と前記固定電極との間の距離が変化し、前記可動電極と前記固定電極との間の容量値が変化することに基づいて前記加速度の検出を行うことを特徴とする請求項5に記載のセンサ装置。
  7. 前記加速度センサは、前記固定部の内周壁に連結されると共に前記一方向に変位可能な可撓部(212)と、前記可撓部に連結されていると共に前記可動電極が前記一方向に対する垂直方向に延設された錘部(211)とを有していることを特徴とする請求項6に記載のセンサ装置。
  8. 前記センサ基板のうち前記支持基板と反対側の一面に配置され、接合部(14)を介して前記周辺部と接合されるキャップ層(13)が備えられていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1つに記載のセンサ装置。
  9. 前記キャップ層と前記センサ基板とを接合する前記接合部は、金属接合材料によって構成された金属接合部であり、
    前記キャップ層には、前記金属接合部に繋がる貫通孔(400)が形成されており、該貫通孔内を通じて前記金属接合部を接地電位点に接続する接地パッド部(13f)が備えられていることを特徴とする請求項8に記載のセンサ装置。
  10. 前記センサ基板のうち前記支持基板と反対側の一面に配置され、接合部(14)を介して前記周辺部と接合されるキャップ層(13)が備えられており、
    前記キャップ層のうち前記加速度センサと対応する部位に大気開放孔(13h)が形成されていることを特徴とする請求項5ないし7のいずれか1つに記載のセンサ装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107063223B (zh) * 2017-04-17 2019-04-30 东南大学 单片式谐振加速度计陀螺仪结构
CN109613301B (zh) * 2018-12-19 2020-09-11 东南大学 一种可同时测量水平方向加速度和角速度的微传感器
CN109613300B (zh) * 2018-12-19 2020-09-11 东南大学 一种可同时测量垂直方向加速度和角速度的微传感器
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Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3435665B2 (ja) 2000-06-23 2003-08-11 株式会社村田製作所 複合センサ素子およびその製造方法
JP2006162314A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 複合センサ
JP2007178386A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Kyocera Kinseki Corp 複合センサ
EP2187168A4 (en) 2007-09-03 2013-04-03 Panasonic Corp INERTIA FORCE SENSOR
JP4687791B2 (ja) * 2007-09-19 2011-05-25 株式会社村田製作所 複合センサおよび加速度センサ
US8710599B2 (en) * 2009-08-04 2014-04-29 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined devices and fabricating the same
CN101871951B (zh) * 2010-06-07 2011-11-30 瑞声声学科技(深圳)有限公司 微加速度传感器
US9638524B2 (en) * 2012-11-30 2017-05-02 Robert Bosch Gmbh Chip level sensor with multiple degrees of freedom
JP2014157063A (ja) 2013-02-15 2014-08-28 Tdk Corp 複合センサ素子

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