JP6510626B2 - 原料供給装置及び原料供給方法、並びに自溶炉 - Google Patents

原料供給装置及び原料供給方法、並びに自溶炉 Download PDF

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本発明は、原料供給装置及び原料供給方法、並びに自溶炉に関する。
自溶炉とは、銅、ニッケル等の非鉄金属の製錬、及び、マット処理製錬に用いられる製錬炉であり、反射炉型のセットラの上にシャフトを設け、その頂部から原料と反応ガスを吹き込むことで原料の酸化熱を最大限に利用し、瞬時に酸化溶融を行う炉である。自溶炉において、原料と反応用ガスを炉内へ供給する装置は、自溶炉の性能を決定付ける重要な役割を担っている。この原料供給装置の性能が反応シャフト内での原料の反応効率、反応進行度を左右し、その結果、自溶炉の処理能力及びメタル採収率に影響を及ぼす。自溶炉における反応シャフト内での反応は、速やか、かつ、全ての原料が均一に同じ反応進行度で進行することが望ましい。このため、原料をなるべく均一な状態で自溶炉へ供給することが好ましい。
最近では、自溶炉に対して原料を均一な状態で供給するため、3方向以上(例えば4方向)から原料を供給する技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、原料の供給路内に隔壁や衝突板を設ける技術も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開2003−160822号公報 特表2013−513727号公報
しかしながら、自溶炉へ供給する原料は、粒子同士が分散せずに塊状となっていることもあり、特許文献1のように、3方向以上から原料を供給するのみでは、原料の均一化が不十分となる場合もある。また、原料の均一化が不十分であることにより、原料と酸素の反応が不均一となり、反応生成物にムラが生じるおそれがある。また、特許文献2のように、原料の供給路内に隔壁や衝突板を設けた場合、隔壁や衝突板に原料(例えば銅線屑など)が引っかかり、原料の流れが阻害され、原料の均一化が不十分になるおそれもある。
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、供給する原料を均一化することが可能な原料供給装置及び原料供給方法、並びに反応生成物のムラを抑制することが可能な自溶炉を提供することを目的とする。
本発明の原料供給装置は、自溶炉内に原料を供給するとともに、前記自溶炉内に前記原料の反応に寄与する第1ガスを供給する原料供給装置であって、前記第1ガスが内部を通過するランスの外側に設けられた、前記原料が通過する原料流路と、該原料流路内を通過する前記原料に向けて第2ガスを吹き込み、前記原料の分布を調整する調整手段と、を備え、前記調整手段は、前記原料の分布に関連する情報を測定する測定部と、前記測定部の測定結果に基づいて、前記原料の分布が前記原料流路内で均一となるように前記第2ガスの吹き込みに関する調整を行う制御部と、を有している。
この場合において、前記調整手段は、前記原料に向けて前記第2ガスを吹き込む複数の管路を有し、前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記複数の管路それぞれから前記原料に向けて吹き込む前記第2ガスの量を制御することとしてもよい。また、前記調整手段は、前記原料に向けて前記第2ガスを吹き込む管路が形成された複数の管路部材を有し、複数の前記管路部材は、前記原料流路を形成する仕切り壁に対して交換可能に設けられていてもよい。
この場合において、前記管路部材が、前記原料流路を形成する仕切り壁に形成されたスリットに対して交換可能に設けられていてもよい。
本発明の原料供給装置においては、前記原料流路に対し、2方向から前記原料を供給する供給部を備えることとしてもよい。
本発明の自溶炉は、本発明の原料供給装置を備えている。
本発明の原料供給方法は、自溶炉内に原料を供給する原料供給方法であって、前記原料が通過する原料流路内にガスを吹き込む工程と、前記ガスの吹き込みにより分散した前記原料の分布に関連する情報を測定する工程と、前記測定する工程での測定結果に基づいて、前記原料の分布が前記原料流路内で均一となるように前記ガスの吹き込みに関する調整を行う工程と、を含んでいる。
この場合において、前記ガスを吹き込む工程では、前記原料流路内に複数方向から前記ガスを吹き込み、前記調整を行う工程では、前記複数方向から吹き込むガスの量及び/又は吹き込むガスの角度を調整することとしてもよい。
本発明の原料供給装置及び原料供給方法は、供給する原料を均一化することができるという効果を奏する。また、本発明の自溶炉は、反応生成物のムラを抑制することができるという効果を奏する。
一実施形態に係る銅錬用の自炉の構成を概略的に示す図である。 原料供給装置の一部を拡大した図である。 図3(a)は、整流ノズルを示す斜視図であり、図3(b)は、分割ブロック及び仕切り壁の一部の断面図である。 図4(a)は、第2通路内で精鉱が不均一な状態にある場合を示す図であり、図4(b)は、第2通路内で精鉱が均一な状態にある場合を示す図である。 反応シャフト内を仮想的に分割した状態を示す図である。 図6(a)は、精鉱が不均一に供給される場合の、冷却水抜熱量(Mcal/h)の推移の一例を示すグラフであり、図6(b)は、精鉱が均一に供給される場合の、冷却水抜熱量(Mcal/h)の推移の一例を示すグラフである。 変形例について説明するための図(その1)である。 変形例について説明するための図(その2)である。
以下、一実施形態に係る自溶炉について、図1〜図6に基づいて、詳細に説明する。図1は、一実施形態に係る銅製錬用の自溶炉100の構成を概略的に示す図である。
図1に示すように、自溶炉100は、原料供給装置1と、炉体2と、を備える。原料供給装置1は、精鉱バーナーとも呼ばれ、原料である精鉱(銅精鉱(CuFeS2など))、反応用主送風ガス、反応用補助ガス、及び分散用ガス(反応にも寄与する)を炉体2内に供給する。炉体2は、精鉱と反応用ガスとが混合する反応シャフト3、セットラ4、アップテイク5を備える。なお、反応用主送風ガス及び反応用補助ガスは、酸素富化空気であり、分散用ガスは、空気または酸素富化空気である。これらの反応用ガス、および分散用ガスは、精鉱を分散し、同時に酸化させ、反応シャフト3の底部でマット及びスラグに分離する。
図2は、原料供給装置1の一部を拡大した図であって、原料、反応用ガス、分散用ガスを反応シャフト3側へ投入する投入部10を示した説明図である。
原料供給装置1の投入部10は、ランス16を備え、ランス16内には第1ガスとしての分散用ガスの通る第1通路11、反応用補助ガスが通過する第4通路14が形成されている。また、投入部10は、ランス16の外周に設けられた原料流路としての第2通路12と、第2通路12の外周に設けられた反応用ガス流路としての第3通路13とを備えている。なお、第2通路12と、第3通路13は、円筒状の仕切り壁21により、仕切られた状態となっている。
第1通路11は、分散用ガスを反応シャフト3内へ供給する。第2通路12は、精鉱を反応シャフト3内へ供給する。第3通路13は、反応用主送風ガスをエアチャンバー17から反応シャフト3内へ供給する。また、第4通路14は、反応用補助ガスを反応シャフト3内へ供給する。
なお、ランス16の先端部(下端部)には、中空円錐台状の分散コーン15が形成されている。分散コーン15の側面下部151には第1通路11を通過した分散用ガスを反応シャフト3内へ吐出する複数の供給孔152が形成されている。
仕切り壁21のエアチャンバー17よりも上側には、調整手段としての原料均一化機構30が設けられている。原料均一化機構30は、第2通路12内を通過する精鉱の分布を均一化するための機構であり、図2に示すように、整流ノズル32と、複数のガス流量調整弁34と、ガス供給装置36と、測定部としての非接触型計測器38(たとえばマイクロ波、レーザ等を用いた粉体流量計または粒度分布測定器)と、制御部としての制御装置40と、を備えている。
整流ノズル32は、図3(a)に示すように、全体として円環状の形状を有している。整流ノズル32は、管路部材としての複数の分割ブロック42を有する。分割ブロック42それぞれの内部には、分割ブロック42を断面して示す図3(b)に示すように、管路42aが形成されている。管路42aには、ガス配管44が接続されている。各分割ブロック42は、図3(b)に示すように、仕切り壁21に形成された切断部分(スリット)21aに対して嵌合できるようになっている。また、分割ブロック42は、仕切り壁21の外周部に設けられたフランジ21b,21cに対してネジ(又はボルト)72により固定されるようになっている。すなわち、分割ブロックは、仕切り壁21の切断部分21aに対して、交換可能に設けられているといえる。
ガス流量調整弁34は、ガス供給装置36からガス配管44に供給される第2ガスとしての原料均一化用のガスの量を調整する弁であり、制御装置40により制御される。
ガス供給装置36は、例えば酸素富化空気などの原料均一化用のガスを第2通路12内に供給する装置である。なお、原料均一化用のガスは、上述した反応用ガスの一部でもよい。また、原料均一化用のガスとしては、圧縮空気、圧縮窒素等あらゆるガスを用いることとしてもよい。ガス供給装置36から供給される原料均一化用のガスは、ガス配管44を通過して、管路42aの下端部(吹き出し口42b)から吹き出されるようになっている。なお、図3(b)に示す原料均一化用のガスの吹き出し角αは、0°〜80°の範囲であるものとする。なお、分割ブロック42を交換することで、吹き出し角αを変更することが可能である。また、各分割ブロックの吹き出し角を個別に設定(異なる角度に設定)することもできる。
なお、本実施形態では、図3(b)からも分かるように、仕切り壁21によって囲まれた内部空間に吹き出し口42b(管路42aの下端部)を突出させない構成を採用している。これにより、精鉱と吹き出し口42bが接触するなどして、吹き出し口42bが損耗するのを防止することができる。また、吹き出し口42bが精鉱の流れを阻害するのを抑制することもできる。
非接触型計測器38(たとえばマイクロ波、レーザー等を用いた粉体流量計または粒度分布測定器)は、仕切り壁21の内面に沿って所定間隔で複数設けられている。非接触型計測器38は、第2通路12内を通過する精鉱の流量、分布を連続的に計測する。
制御装置40は、非接触型計測器38の計測結果に基づいて、ガス流量調整弁34の開度を調整し、第2通路12内の精鉱の分布が均一になるように各管路42aから吹き出される原料均一化用のガスの量を調整する。
ここで、本実施形態では、図4(a)に示すように、供給部(供給シュート)50から第2通路12内に対して、2方向から精鉱を供給するとする。この場合、原料均一化機構30を用いないとすると、図4(a)のように、精鉱の分布が偏ってしまうおそれがある。これに対し、本実施形態のように、原料均一化機構30を用いて、精鉱に対し原料均一化用のガスを吹き付け、精鉱の流れを補正することで、図4(b)に示すように精鉱の分布を均一化することができる。また、精鉱に対し原料均一化用のガスを吹き付けることで、エアレーション機能により精鉱の粒子同士を分散させることができる(塊を無くすことができる)ので、精鉱の分布をより均一化することができる。また、本実施形態では、整流ノズル32が複数の分割ブロックを有しているため、原料均一化用のガスの吹き出し量を細かく調整することができる。これにより、精鉱の分布が時々刻々と変化する場合(例えば、精鉱の投入量が変動する場合等)でも、第2通路12内における精鉱の分布を均一化することが可能である。
図5は、炉体2の反応シャフト3内を仮想的に4分割した状態(A〜D領域に区分けした状態)を示す図である。ここで、各領域を冷却するウォータージャケットの冷却水の抜熱量(冷却水の顕熱)を測定することで、各領域内における精鉱の反応度合を確認することができる。
図6(a)には、図4(a)のように精鉱が不均一に供給される場合の、冷却水抜熱量(Mcal/h)の推移の一例が示されている。図6(a)の場合、冷却水抜熱量は、各領域において均一ではなく、また、例えば領域Aにおける変動が大きい。一方、図6(b)には、図4(b)のように精鉱が均一に供給される場合の、冷却水抜熱量の推移の一例が示されている。図6(b)の場合、冷却水抜熱量は、各領域ほぼ均一で変動も小さいため、各領域で精鉱の反応度合が同等で安定していることが分かる。すなわち、本実施形態では、原料均一化機構30を用いることで、反応シャフト3内における精鉱の反応度合を各領域で同等にすることができ、かつ精鉱を安定的に反応させることができるといえる。
以上、詳細に説明したように、本実施形態によると、原料供給装置1は、反応用ガスが内部を通過するランス16の外側に設けられた、精鉱(原料)が通過する第2通路12と、該第2通路12内を通過する精鉱に向けて原料均一化用のガスを吹き込み、精鉱の分布を調整する原料均一化機構30と、を備えているので、第2通路12内を通過する精鉱の分布を均一化することができる。また、原料均一化用のガスのエアレーション機能により精鉱の粒子同士を分散させ、粒子密度を低くすることができる(塊を無くすことができる)ので、この点からも精鉱の分布を均一化することができる。更に、本実施形態では、原料流路である第2通路12内に隔壁や衝突板を設けないため、隔壁や衝突板によって原料の流れが阻害されるようなこともない。この点からも、原料の均一化を図ることができる。
また、本実施形態では、原料均一化機構30は、精鉱に向けて原料均一化用のガスを吹き込む管路42aを複数有しており、制御装置40は、精鉱の分布を計測する非接触型計測器38の計測結果に基づいて、複数の管路それぞれから精鉱に向けて吹き込む原料均一化用のガスの量を制御する。これにより、精鉱の実際の分布に基づいて、精鉱が均一化するように、原料均一化用のガスの量を適切に調整することができるため、精鉱の均一化を精度よく行うことができる。この場合、分割ブロック42を採用し、複数の管路42aから吹き出すガスの量を個別に細かく調整できるようにしているため、精鉱の分布を精度よく均一化することができる。
また、本実施形態では、管路42aを有する分割ブロック42が、仕切り壁21に設けられた切断部分21aに対して交換可能に設けられているので、原料均一化用のガスの吹き出し角αの調整を、分割ブロック42を交換することで容易に行うことができる。
また、本実施形態では、供給部50は、第2通路12に対して2方向から精鉱(原料)を供給するので、例えば、3方向又は4方向から精鉱を供給する場合と比べて、メンテナンス性が向上するとともに、装置設計の自由度も向上する。また、2方向から原料を供給することとしても、本実施形態では、原料均一化機構30を設けることとしているので、精鉱の分布を均一化することができる。ただし、供給部50は、2方向に限らず、3以上の方向から第2通路12に対して精鉱を供給するようにしてもよい。
また、本実施形態では、自溶炉100が、精鉱を均一な状態で供給することが可能な原料供給装置1を備えているので、精鉱と酸素の反応(固−気反応)が均一かつ速やかに行われることとなり、反応生成物にムラが生じるのを抑制することができる。これにより、部分的に過酸化なスラグが生成してスラグへのメタルロスが悪化するのを抑制することができる。
なお、上記実施形態では、図7に示すように、管路42a内に可動式ダンパ60,80を設けることとしてもよい。可動式ダンパ60は、羽部材62と、羽部材62の角度を軸62a基準で変更可能な駆動装置61とを有する。可動式ダンパ60によれば、羽部材62の角度を変更することで、吹き出し角αを変更することができる。可動式ダンパ80も同様に、羽部材82と、羽部材82の角度を軸82a基準で変更可能な駆動装置81とを有する。可動式ダンパ80によれば、羽部材82の角度を変更することで、図7の紙面手前側及び奥側に関するガスの吹き出し角を変更することができる。なお、駆動装置61,81は、制御装置40により制御される。
制御装置40は、図7の構成において、非接触型計測器38の計測結果に基づいて、ガス流量調整弁34の開度と、可動式ダンパ60,80の羽部材62,82の角度を調整することで、第2通路12内の精鉱の分布が均一になるように制御することができる。
なお、可動式ダンパ60,80のいずれか一方を省略してもよい。あるいは、可動式ダンパ60,80の数を増やしてもよい。
なお、上記実施形態では、各管路42aに対応して、各管路42aの近傍に非接触型計測器38を設けることとしてもよい。これにより、各管路42aから吹き出す適正ガス量を精度よく制御することが可能となる。
なお、上記実施形態では、非接触型計測器38の計測結果に基づいて、制御装置40がガス流量調整弁34を制御する場合について説明したが、これに限られるものではない。例えば、制御装置40は、反応シャフト3のウォータージャケットの冷却水抜熱量をモニタし、冷却水抜熱量が図6(a)のように推移した場合に、図6(b)のような推移となるよう整流ノズルに設けられた各吹き出し口に対応したガス流量調整弁34を制御することとしてもよい。
なお、上記実施形態では、整流ノズル32の分割ブロック42が、図3(b)に示すような構造を有し、仕切り壁21に形成された切断部分(スリット)21aに対して嵌合し、フランジ21b,21cに対してネジ(又はボルト)72により固定される場合について説明したが、これに限られるものではない。例えば、分割ブロック42は、図8に示すような構造を有していてもよい。すなわち、分割ブロック42それぞれの内部には、図8のように管路242aが形成されており、該管路242aが、仕切り壁21に形成された吹き出し管路221aに連通した状態となっていてもよい。なお、分割ブロック42と仕切り壁21とは、不図示のボルトなどを用いて固定されればよい。
なお、図8の吹き出し管路221aに対して、図7の可動式ダンパ60及び/又は可動式ダンパ80を設けることとしてもよい。これにより、吹き出し管路221aからのガスの吹き出し角を調整することが可能となる。
なお、上記実施形態では、自溶炉における原料供給装置(精鉱バーナー)に原料均一化機構30を設けた場合について説明したが、これに限らず、その他反応炉にも上記実施形態と同様の原料均一化機構を採用することとしてもよい。
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。
1 原料供給装置
2 炉体(自溶炉)
12 第2通路(原料流路)
16 ランス
21 仕切り壁
21a スリット(切断部分)
30 原料均一化機構(調整手段)
38 非接触型計測器38(測定部)
40 制御装置(制御部)
42 管路部材
42a 管路
50 供給部

Claims (8)

  1. 自溶炉内に原料を供給するとともに、前記自溶炉内に前記原料の反応に寄与する第1ガスを供給する原料供給装置であって、
    前記第1ガスが内部を通過するランスの外側に設けられた、前記原料が通過する原料流路と、
    該原料流路内を通過する前記原料に向けて第2ガスを吹き込み、前記原料の分布を調整する調整手段と、を備え、
    前記調整手段は、
    前記原料の分布に関連する情報を測定する測定部と、
    前記測定部の測定結果に基づいて、前記原料の分布が前記原料流路内で均一となるように前記第2ガスの吹き込みに関する調整を行う制御部と、を有することを特徴とする原料供給装置。
  2. 前記調整手段は、前記原料に向けて前記第2ガスを吹き込む複数の管路を有し、
    前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記複数の管路それぞれから前記原料に向けて吹き込む前記第2ガスの量を制御することを特徴とする請求項1に記載の原料供給装置。
  3. 前記調整手段は、前記原料に向けて前記第2ガスを吹き込む管路が形成された複数の管路部材を有し、
    複数の前記管路部材は、前記原料流路を形成する仕切り壁に対して交換可能に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の原料供給装置。
  4. 前記管路部材が、前記原料流路を形成する仕切り壁に形成されたスリットに対して交換可能に設けられていることを特徴とする請求項3に記載の原料供給装置。
  5. 前記原料流路に対し、2方向から前記原料を供給する供給部を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の原料供給装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の原料供給装置を備える自溶炉。
  7. 自溶炉内に原料を供給する原料供給方法であって、
    前記原料が通過する原料流路内にガスを吹き込む工程と、
    前記ガスの吹き込みにより分散した前記原料の分布に関連する情報を測定する工程と、
    前記測定する工程での測定結果に基づいて、前記原料の分布が前記原料流路内で均一となるように前記ガスの吹き込みに関する調整を行う工程と、を含む原料供給方法。
  8. 前記ガスを吹き込む工程では、前記原料流路内に複数方向から前記ガスを吹き込み、
    前記調整を行う工程では、前記複数方向から吹き込むガスの量及び/又は吹き込むガスの角度を調整することを特徴とする請求項7に記載の原料供給方法。
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