JP6476397B2 - リード画像認識方法及びリード画像認識装置並びに画像処理用部品データ作成方法及び画像処理用部品データ作成装置 - Google Patents
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Description
また、前記画像認識を行う際に、AdaBoostとHaar-Like 特徴を用いた検出器を使用して前記リードを画像認識するようにしても良い。更に、前記ラインに沿って平均振幅差関数で計算した波形を微分し、それに対して正規化二乗差関数を取る処理を含むようにしても良い。
図1に示すように、画像処理用部品データ作成装置は、パーソナルコンピュータ等のコンピュータ11と、画像処理用部品データの作成対象となる部品を撮像してグレースケール画像を取得するCMOSセンサ等のイメージセンサを内蔵するカメラ12と、キーボード、マウス、タッチパネル等の入力装置13と、液晶ディスプレイ、CRT等の表示装置14と、後述するリード画像認識と画像処理用部品データ作成のためのプログラムや各種のデータ等を記憶する記憶装置15とを備えた構成となっている。
[平均振幅差関数を用いる波形解析処理]
平均振幅差関数(AMDF:Average Magnitude Difference Function )は、信号の周期性の強さを現す関数であり、音声認識の分野ではピッチの検出のための手法の一つとして用いられている。この平均振幅差関数は、下記の[数1]の式によって定義される。
正規化二乗差関数(NSDF:Normalized Square Difference Function )は、下記の[数2]の式によって定義される。
自己相関関数は主に2種類あり、それらをタイプ1とタイプ2に分類すると、タイプ1の自己相関関数は、下記の[数3]の式によって定義される。
タイプ2の自己相関関数は、下記の[数4]の式によって定義される。
前記[数2]の式の右辺に含まれるm'(τ) は二乗差関数(SDF :Square Difference Function )によって求められる。この二乗差関数も、自己相関関数と同様に、2種類あり、それらをタイプ1とタイプ2に分類すると、タイプ1の二乗差関数は、下記の[数5]の式によって定義される。
同様に、タイプ2の二乗差関数は、下記の[数6]の式によって定義される。
前記[数5]の式を展開すると、下記の[数7]の式に示すように、二乗差関数の式の中に、自己相関関数の式が含まれていることが分かる。
まず、上記波形解析により周期性があると判定した領域に対して、X方向(水平方向)への輝度の投影を行う。平均投影輝度T(x)は、下記の[数9]の式で表される。
Claims (8)
- 同一形状のリードが等ピッチで1列又は複数列に配列された部品をカメラで撮像した画像を処理して前記リードを認識するリード画像認識方法において、
前記画像の縦、横、又は斜め方向に設定した複数のラインに沿って輝度の変化パターンを波形解析して輝度が周期的に変化する領域を前記リードが存在する可能性のあるリード認識対象領域として特定する波形解析処理と、
前記波形解析処理で特定した前記リード認識対象領域内で前記リードを画像認識する画像認識処理と
を含み、
前記画像認識処理では、前記輝度の変化パターンの周期性から検出された前記リードのピッチ、前記リード認識対象領域の平均投影輝度及び検出された前記ピッチで投影された投影輝度の標準偏差に基づいて前記リードの列の開始及び終了の座標を取得することを特徴とするリード画像認識方法。 - 前記波形解析処理では、正規化二乗差関数、平均振幅差関数、フーリエ変換のいずれかを用いて前記リード認識対象領域を特定することを特徴とする請求項1に記載のリード画像認識方法。
- 前記画像認識処理では、AdaBoostとHaar-Like 特徴を用いた検出器を使用して前記リードを画像認識することを特徴とする請求項1又は2に記載のリード画像認識方法。
- 前記波形解析処理では、前記ラインに沿って平均振幅差関数で計算した波形を微分し、それに対して正規化二乗差関数を取る処理を含むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のリード画像認識方法。
- 同一形状のリードが等ピッチで1列又は複数列に配列された部品をカメラで撮像した画像を処理して前記リードを認識するリード画像認識装置において、
前記画像の縦、横、又は斜め方向に設定した複数のラインに沿って輝度の変化パターンを波形解析して輝度が周期的に変化する領域を前記リードが存在する可能性のあるリード認識対象領域として特定する波形解析手段と、
前記波形解析手段で特定した前記リード認識対象領域内で前記リードを画像認識する画像認識手段と
を含み、
前記画像認識手段は、前記輝度の変化パターンの周期性から検出された前記リードのピッチ、前記リード認識対象領域の平均投影輝度及び検出された前記ピッチで投影された投影輝度の標準偏差に基づいて前記リードの列の開始及び終了の座標を取得することを特徴とするリード画像認識装置。 - 前記波形解析手段は、正規化二乗差関数、平均振幅差関数、フーリエ変換のいずれかを用いて前記リード認識対象領域を特定することを特徴とする請求項5に記載のリード画像認識装置。
- 部品実装機で実装するリード付きの部品を画像認識する際に使用する画像処理用部品データを作成する画像処理用部品データ作成方法において、
請求項1乃至4のいずれかに記載のリード画像認識方法で画像認識したリードの認識結果を用いて、リード位置、リード本数、リード間隔、リード幅、リード長さのうちの少なくとも1つのデータを含む画像処理用部品データを作成することを特徴とする画像処理用部品データ作成方法。 - 部品実装機で実装するリード付きの部品を画像認識する際に使用する画像処理用部品データを作成する画像処理用部品データ作成装置において、
請求項5又は6に記載のリード画像認識装置で画像認識したリードの認識結果を用いて、リード位置、リード本数、リード間隔、リード幅、リード長さのうちの少なくとも1つのデータを含む画像処理用部品データを作成することを特徴とする画像処理用部品データ作成装置。
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