JP6474368B2 - レーザ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、レーザ装置に関し、詳細には除湿装置を備えたレーザ装置に関する。
高出力レーザ装置ではレーザ光源であるレーザダイオードの過熱を防止するために冷却が行われる。即ち、この冷却を行うための装置である冷却部が設けられる。通常、レーザ装置は密閉された筐体内に設置され、クーラーなどの除湿機能を有する装置により筐体内の湿度は一定に管理される。しかしながら、保守点検などに際して筐体の扉を解放した場合には、冷却されたレーザダイオードやこの周辺部材に湿度の高い空気が触れると、結露が発生する。この結露による水滴がレーザダイオードに付着するとレーザダイオードが破損するおそれがある。従って、レーザ装置の筐体内の湿度は、常時十分な精度で管理されている必要がある。このような湿度の管理のためには、筐体内に備えられる湿度センサの寿命が十分に長く、安定した検出精度を維持できることが望ましい。
一方、測定現場に設置される湿度センサの寿命予測装置が従来より提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1の技術では、湿度センサに付設したヒータで湿度センサを一定の周期で加熱して劣化した性能を回復させて用いる。こための毎周期における加熱の継続時間を変更したときの、耐用期間中での加熱時間の総和に係る見込みデータと実際の加熱時間の積算値のデータとから、所定の演算によって、湿度センサの寿命を予測するようにしている。このようにして湿度センサの寿命を予測することにより、定期的な交換のための備えをしてメンテナンス時の便宜をはかることができるとされている。
また、空気調和機に付設される湿度センサの検出精度を長期に亘って維持できるようにするための技術も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特許文献2の技術では、湿度センサを通電休止期間をおいて間欠的に作動させ、検出された湿度の値が所定の範囲外の値を示す時、及び、所定範囲内であっても変動率が所定の程度以下である時には、通電休止期間を長く設定するようにしている。通電休止期間の延長によりこの湿度センサへの通電積算時間が短縮され、長期間に亘って検出精度を維持できるようになるとされている。
特開2010−8321号公報 特開平5−333942号公報
特許文献1に開示された技術では、湿度センサの加熱時間に係るデータに基づいて演算により湿度センサの寿命を予測してメンテナンス上の便宜をはかっているが、寿命そのものを延長するための方途は示されない。
また、特許文献2に開示された技術では、空気調和機に付設される湿度センサによる湿度の検出値及び該検出値の変動率に基づいて、湿度センサへの通電休止時間を制御しているが、レーザ装置における冷却部の結露防止のためにはそのままでは適用できない。
本発明は、上記のような状況に鑑みてなされたものであり、適用される湿度センサの寿命の延長をはかりつつ、レーザ装置の冷却部の結露を防止することができるレーザ装置を提供することを目的とする。
本発明のレーザ装置(例えば、後述するレーザ装置1)は、レーザダイオード(例えば、後述するレーザダイオード10)と前記レーザダイオードを冷却する冷却部(例えば、後述する冷却部20)とを筐体(例えば、後述する筐体2)内に備えるレーザ装置(例えば、後述するレーザ装置1)であって、自己への通電を伴いつつ前記レーザ装置内の湿度を検出する湿度検出部(例えば、後述する湿度検出部30)と、前記湿度検出部への通電時間を制御する通電制御部(例えば、後述する通電制御部40)と、を備える。
本発明のレーザ装置は、その一態様において、前記筐体内の温度を検出する温度検出部(例えば、後述する温度検出部50)と、前記湿度検出部により検出された湿度と前記温度検出部により検出された温度とに基づいて露点を算出する露点計算部(例えば、後述する露点計算部60)とを更に備え、前記通電制御部は、前記露点計算部により算出された露点に基づいて前記湿度検出部への通電時間を制御する。
本発明のレーザ装置は、その一態様において、前記筐体の扉(例えば、後述する扉3)の開閉状態を検出する扉開閉検出部(例えば、後述する扉開閉検出部4)を更に備え、前記通電制御部は、前記扉開閉検出部により検出される扉の開閉状態に応じて、前記湿度検出部への通電時間を制御する。
本発明のレーザ装置は、その一態様において、前記湿度検出部は、前記冷却部の近傍に配置されている。
本発明によれば、適用される湿度センサの寿命の延長をはかりつつ、レーザ装置の冷却部の結露を防止することができるレーザ装置を具現することができる。
本発明の一実施形態としてのレーザ装置を示す概略構成図である。 図1のレーザ装置における筐体内の露点に応じた通電制御部による湿度検出部への通電の制御態様を示す図である。 図1のレーザ装置における通電制御部の動作を示すフローチャートである。 本発明の他の実施形態としてのレーザ装置を示す概略構成図である。
図1は、本発明の一実施形態としてのレーザ装置を示す概略構成図である。
このレーザ装置1は、レーザダイオード10と、レーザダイオード10を冷却する冷却部20とを筐体2内に備える。
即ち、レーザ光の光源となるレーザダイオード10にこれを冷却するための冷却部20が付設され、これらレーザダイオード10及び冷却部20は、密閉構造の筐体2内に設置されている。冷却部20としては、例えば、液冷ヒートシンクに冷却液を循環させるタイプのものや、ペルチェ素子のような電子冷却素子を有するタイプのものを適用可能である。
また、自己への通電を伴いつつレーザ装置1内(従って、筐体2内)の湿度を検出する湿度検出部30と、湿度検出部30への通電時間を制御する通電制御部40とが備えられている。尚、湿度検出部30への通電は、加熱によって湿度検出のための感度を回復(リフレッシュ)させるために行われる処置である。この処置により、湿度検出部30を構成する湿度センサにおける感湿部材に保持された水分を除去して検出感度を回復させ、また、検出出力に関するヒステリシスを除く。しかしながら、このような通電の積算時間が極めて長くなると湿度センサは寿命が尽きる。
筐体2内には、更に、筐体2内の温度を検出する温度検出部50と、湿度検出部30により検出された湿度と温度検出部50により検出された温度とに基づいて露点を算出する露点計算部60とを更に備えている。
通電制御部40は、露点計算部60により算出された露点に基づいて湿度検出部30への通電時間を制御する。即ち、通電制御部40は、露点の値に基づいて、湿度検出部30への通電における、時間幅が一定である通電の周期を変更したり、一定の周期における通電のデューティ比を変更するなどして、通電に係る平均デューティ比を調節する。
一方、筐体2には扉3が設けられ、扉3にはその開閉状態を検出する扉開閉検出部4が備えている。
通電制御部40は、扉開閉検出部4により検出される扉の開閉状態に応じて、湿度検出部30への通電時間を制御する。
尚、このレーザ装置1では、湿度検出部30は、冷却部20に接触するか、乃至は、その近傍に設けられている。従って、湿度検出部30により冷却部20の近傍空間の湿度の変化が高感度で遅延が少ない状態で検出され、検出の精度が良好である。この場合には、算出された露点に応じて湿度検出部30への通電時間を制御するに替えて、このような高精度の湿度検出値に基づいて湿度検出部30への通電時間を制御することも可能である。
また、筐体2には、内部の湿度を低レベルに保つための除湿部5が設けられている。除湿部5は湿度検出部30からの湿度検出値に応じて除湿運転に係る能力が調節される。除湿部5としては、例えば、電子除湿器、或いは、高分子電解質膜を利用して水分を電気分解するタイプの除湿器などを適用可能である。
筐体2内の露点が、湿度検出部30から出力される筐体2内の湿度を表す湿度信号RHと、温度検出部50から出力される筐体2内の温度を表す温度信号THとを受ける露点計算部60によって算出され、該算出された露点を表す露点信号DPが通電制御部40に入力される。
通電制御部40にはまた、扉開閉検出部4による扉3の開閉を表す扉開閉信号OMが入力される。
通電制御部40は、入力される露点信号DP及び扉開閉信号OMに応じて湿度検出部30への通電を制御する通電制御信号ECを湿度検出部30に供給する。この通電制御信号ECの供給により湿度検出部30における水分除去手段(不図示)への通電のし方が調節される。
次に、図2を参照して、通電制御部40による通電時間の調節について説明する。
図2は、図1のレーザ装置1における筐体2内の露点に応じた通電制御部40による湿度検出部への通電の態様を示す図である。
図2において左端側に「露点」と表記された複数の黒点は、露点計算部60により算出された筐体2内の露点(℃)である。即ち、露点計算部60は筐体2内の露点を表す露点信号DPを出力する。露点信号DPによって表わされた露点が複数の離散的な黒点で表記されているのは、サンプリング(算出)のタイミングと値を表すためである。また、図中、複数の分散した露点に対して横断的に描かれた点線は、露点に関する或る既定値DP1を表している。露点が既定値DP1以下である場合には、筐体2内に結露が発生するおそれが少なく、反対に、露点が既定値DP1を超えている場合には筐体2内に結露が発生するおそれがある。
図2において、露点信号DPによって表わされた露点が既定値DP1を超過している期間が期間T1と表記され、この露点が既定値DP1以下である期間が期間T2と表記されている。また、扉開閉信号OMが扉が開いていることを表している期間が期間T3と表記されている。
上述の期間T1では、筐体2内の露点が既定値DP1よりも高く、従って、相対的に結露が発生しやすい雰囲気にある。このため、通電制御部40からはONの時間幅が一定でONの発生周期が短く設定された通電制御信号ECが湿度検出部30に供給される。湿度検出部30では、このように供給される通電制御信号ECに応じて、相対的に高い頻度で水分除去手段(不図示)への通電を行って水分の過剰な吸収による感度の低下や検出出力に関するヒステリシスを除去する。従って、湿度検出部30は湿度信号RHに係る正確さを維持することができる。
一方、上述の期間T2では、筐体2内の露点が既定値DP1以下であり、従って、相対的に結露が発生しにくい雰囲気にある。このため、通電制御部40からはONの時間幅が一定でONの発生周期が長く設定された通電制御信号ECが湿度検出部30に供給される。湿度検出部30では、このように供給される通電制御信号ECに応じて、相対的に低い頻度で水分除去手段(不図示)への通電を行うことで水分の過剰な吸収による感度の低下や検出出力に関するヒステリシスを除去することが可能である。従って、湿度検出部30は感度の回復(リフレッシュ)のための通電時間が少なくなり、この状態で湿度信号RHに係る正確さを維持することができる。このため、湿度検出部30は過剰な頻度で通電されることなく運用され、通電時間の積算による寿命の短縮が回避されることになる。
更に、上述の期間T3では、レーザ装置1の筐体2の扉3が開放されているため、筐体2内では急激に結露が発生するおそれがある。このため、通電制御部40では、扉開閉信号OMにより扉が開いていることを検出したときには、直ちに通電制御信号ECをONにしてこの状態を維持する。これにより、湿度検出部30は水分除去手段(不図示)への通電状態が維持されて、水分の過剰な吸収による感度の低下や検出出力に関するヒステリシスの発生が回避される。従って、筐体2の扉3が開放されても、湿度検出部30は湿度信号RHに係る正確さを維持することができ、即座に結露を検出できる。
次に、フローチャートを参照してレーザ装置1における通電制御部40の制御動作について説明する。
図3は、図1のレーザ装置1における通電制御部40の制御動作を示すフローチャートである。
動作が開始すると、通電制御部40は、扉開閉検出部4からの扉開閉信号OMを読み込む(ステップS1)。次いで、読込んだ扉開閉信号OMに基づいて扉の開閉を判断する(ステップS2)。ステップS2で扉が閉まっていると判断されたときには(ステップS2:YES)、通電制御部40は、露点計算部60から露点信号DPを読み込む(ステップS3)。次いで、読込んだ露点信号DPの値が上述の既定値DP1以下であるか否かを判断する(ステップS4)。
ステップS4で、露点信号DPの値が既定値DP1以下であると判断されたときには(ステップS4:YES)、通電制御部40は、通電制御信号ECにおけるONの周期を長く設定する(ステップS5)。ステップS5の後、通電制御部40は、本レーザ装置1の稼働を終了させる操作がされているかを図示しないレーザ装置1の操作部への操作履歴等に基づいて判断する(ステップS6)。ステップS6で、レーザ装置1の稼働を終了させる操作がされていると判断されたときには(ステップS6:YES)、通電制御部40は、動作を終了する。また、ステップS6で、レーザ装置1は稼働中であると判断されたときには(ステップS6:NO)、ステップS1戻り、上述の動作が繰り返される。
一方、通電制御部40は、ステップS2で、扉が開いていると判断されたときには(ステップS2:NO)、通電制御信号ECをON状態を維持するように設定する(ステップS7)。ステップS7の後、既述のステップS6にジャンプする。
通電制御部40は、また、ステップS4で露点信号DPの値が既定値DP1を超過しているとであると判断されたときには(ステップS4:NO)、通電制御部40は、通電制御信号ECにおけるONの周期を短く設定する(ステップS8)。ステップS8の後、既述のステップS6に移行する。
図3のフローチャートを参照して上述したところから明らかな通り、通電制御部40は、先ず、扉開閉検出部4からの扉開閉信号OMを読み込んで、扉3の開閉を確認し、扉3が開いているときには(ステップS2:NO)、無条件で、通電制御信号ECをON状態が維持されるように設定する(ステップS7)。このように、扉3が開いているときには他の条件を俟たずに湿度検出部30への通電を継続するように制御するため、このときの露点計算部60における露点の算出処理は不要となる。また、湿度検出部30への通電が維持されることにより、図2を参照して既述のように、湿度検出部30は水分除去手段(不図示)への通電状態が維持されて、水分の過剰な吸収による感度の低下や検出出力に関するヒステリシスの発生が回避される。従って、筐体2の扉3が開放されても、湿度検出部30は湿度信号RHに係る正確さが維持される。
一方、扉が閉まっている場合に(ステップS2:YES)、露点(DP)が既定値DP1以下か否かを判断し、露点が低ければ結露が発生するおそれが少ないことから、通電制御信号ECにおけるONの周期を長く設定する(ステップS5)。ステップS5におけるこのような設定は、換言すれば、湿度検出部30に対する通電休止時間を長くするということであり、このようにすることにより、湿度検出部30への積算通電時間が低減され、湿度検出部30の寿命が延長される。尚、既述の実施形態では、湿度検出部30への積算通電時間を低減するために、通電制御信号ECにおける毎回のONにおける時間幅は一定にして発生周期を長く設定した。しかしながら、これに限られず、通電制御信号ECの平均ONデューティを相対的に短縮すれば、種々の波形をとりつつも湿度検出部30への積算通電時間を低減することができる。
次に、図4を参照して、本発明の他の実施形態としてのレーザ装置について説明する。
図4は、本発明の他の実施形態としてのレーザ装置を示す概略構成図である。
図4のレーザ装置1aは、レーザ装置部100における温度検出部50への通電をCNC部200から制御する態様を採る。
図4において、既述の図1との対応部は同一の符号を附して示し、それらここの説明は省略する。
図4のレーザ装置部100は、図1を参照して既述のレーザ装置1における通電制御部40及び露点計算部60は自己の内部に持たない。これら通電制御部40及び露点計算部60に対応する機能部は、CNC部200内に、通電制御部41及び露点計算部61として設けられている。通電制御部41及び露点計算部61は、CNC部200のCPU(不図示)とソフトウェアを主体に構成され得るが、別途の各別の回路部によりハードウェとしても構成され得る。
CNC部200の露点計算部61には、図1の露点計算部60におけると同様に、温度検出部50からの温度信号THと湿度検出部30からの湿度信号RHとが入力され、これら入力された温度信号TH及び湿度検出部30に基づいて露点(DP)が算出される。このように算出された露点を表す露点信号DPが、CNC部200内で通電制御部41に入力される。
通電制御部41には、上述の露点信号DPの他、扉開閉信号OMが入力される。通電制御部41は、入力された露点信号DP及び扉開閉信号OMに基づいて、図1の通電制御部40におけると同様にして、通電制御信号ECを生成し、この信号ECを湿度検出部30に供給する。
即ち、筐体内の露点に応じた通電制御部41による湿度検出部30への通電の制御態様は、図2を参照して既述の通りである。
また、通電制御部41の動作は、図3のフローチャートを参照して既述の通りである。
従って、図4の実施形態におけるレーザ装置1aも、図1を参照して既述のレーザ装置1と同様の作用効果を奏する。
以上、図1から図4を参照して説明した本発明の実施形態としてのレーザ装置の作用効果について次に要約する。
(1)本発明のレーザ装置1は、レーザダイオード10とレーザダイオード10を冷却する冷却部20とを筐体2内に備えており、自己への通電を伴いつつレーザ装置1内の湿度を検出する湿度検出部30と、湿度検出部30への通電時間を制御する通電制御部40と、を備える。
上記(1)のレーザ装置1では、通電制御部40によって湿度検出部30を間欠的に運転し、その劣化を低減させることができる。
(2)本発明のレーザ装置1は、その一態様において、筐体2内の温度を検出する温度検出部50と、湿度検出部30により検出された湿度と温度検出部50により検出された温度とに基づいて露点を算出する露点計算部60とを更に備え、通電制御部40は、露点計算部60により算出された露点に基づいて湿度検出部30への通電時間を制御する。
上記(2)のレーザ装置1では、露点計算部60により検出される露点に基づいて結露の可能性があるか否かを判断し、可能性がない場合は、湿度検出部30への通電休止時間を長くして劣化を低減することが可能になる。
(3)本発明のレーザ装置は、その一態様において、筐体2の扉3の開閉状態を検出する扉開閉検出部4を更に備え、通電制御部40は、扉開閉検出部4により検出される扉3の開閉状態に応じて、湿度検出部30への通電時間を制御する。
上記(3)のレーザ装置1では、扉3が開いているときには他の条件を俟たずに湿度検出部30への通電を継続するように制御するため、このときの露点計算部60における露点の算出処理は不要となる。
(4)本発明のレーザ装置は、その一態様において、湿度検出部30は、冷却部20の近傍に配置されている。
上記(4)のレーザ装置1では、湿度検出部30により冷却部20の近傍空間の湿度の変化が高感度で検出され、検出の精度が良好である。
以上を総じて、本発明のレーザ装置1、1aでは、適用される湿度センサである湿度検出部30の寿命の延長をはかりつつ、この湿度検出部30の検出出力に依拠して除湿部5の運転における除湿能力を適切に調節して、レーザ装置1の冷却部20の結露を防止することができる
尚、本発明は既述の実施形態には限定されるものではなく、種々、変形変更して実施可能である。例えば、上述の実施形態では、湿度検出部30で検出された湿度を表す湿度信号RHは、露点計算部61に露点算出のために入力されるが、この湿度信号RHが異常に高い湿度を表す場合には警報を発報するように構成してもよい。
その他、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良も本発明に包摂される。
1、1a レーザ装置
2 筐体
3 扉
4 扉開閉検出部
5 除湿部
10 外側容器
20 冷却部
30 湿度検出部
40、41 通電制御部
50 温度検出部
60、61 露点算出部
100 レーザ装置部
200 CNC部

Claims (2)

  1. レーザダイオードと前記レーザダイオードを冷却する冷却部とを筐体内に備えるレーザ装置であって、
    自己への通電を伴いつつ前記レーザ装置内の湿度を検出する湿度検出部と、
    前記湿度検出部への通電時間を制御する通電制御部と、
    前記筐体内の温度を検出する温度検出部と、
    前記湿度検出部により検出された湿度と前記温度検出部により検出された温度とに基づいて露点を算出する露点計算部と、
    前記筐体の扉の開閉状態を検出する扉開閉検出部とを備え、
    前記通電制御部は、前記露点計算部により算出された露点に基づいて前記湿度検出部への通電時間を制御し、且つ、前記扉開閉検出部により検出される扉の開閉状態に応じて、前記湿度検出部への通電時間を制御する
    レーザ装置。
  2. 前記湿度検出部は、前記冷却部の近傍に配置されている請求項1に記載のレーザ装置。
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