JP6457651B2

JP6457651B2 - 端子台

Info

Publication number: JP6457651B2
Application number: JP2017543878A
Authority: JP
Inventors: ヴャチェスラフ・ヤンツェン
Original assignee: フェニックスコンタクトゲーエムベーハーウントコムパニーカーゲー
Priority date: 2014-11-18
Filing date: 2015-10-12
Publication date: 2019-01-23
Anticipated expiration: 2035-10-12
Also published as: WO2016078832A1; EP3221928A1; JP2017534165A; EP3221928B1; CN107078417A; CN107078417B; DE102014116811A1

Description

本発明は端子台、詳細には交差接続端子に関し、該端子台は、第１の接続レベルと少なくとも１つの第２の接続レベルとを有する絶縁材料ハウジングを有し、電流レールと、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように電流レールに接続されている２つの導体接続ユニットとが各接続レベル上に配置されており、試験コネクタを受容する少なくとも１つの試験コネクタ開口部が絶縁材料ハウジングに形成されている。

端子台は、例えば特許文献１に記載されているものなどの、様々な構造設計において既知である。端子台は、詳細には、１つまたは複数の電位の分布に役立つ。交差接続端子の形を取る端子台が、通常、上下に配置されている２つのまたは３つ以上の接続レベルを有し、その各々において電流レールが配置されており、該電流レールの端部は各々、導電体を接続するための導体接続ユニットに接続されている。端子台は、通常、支持レール上にスナップ留めされており、スイッチキャビネット内に複数で配置され得ることが多い。導体接続ユニットは、ねじ式接続端子、引張ばね接続端子、または圧接接続端子の形を取っていてもよい。

動作中、端子台は、端子台の個々の要素間で電流を送るように意図されている。電流の送りの秩序ある機能を試験するために、必要に応じて誤配線を検出するために、対応する試験コネクタを挿入するための試験コネクタ開口部が絶縁材料ハウジングに形成されている端子台が既知である。一方では、試験コネクタ開口部は、試験コネクタとの、絶縁材料ハウジングの内部での、導体接続ユニットおよび／または電流レールなどの導電性要素の接触を可能にする。他方では、試験コネクタ開口部は、端子台の電気素子への損傷の事態を防止するために、端子台内での試験コネクタの誘導およびしっかりした固定に役立つ。

全般的に、電化製品および電気設備の増進する小型化により、スイッチキャビネットのサイズの益々の縮小もまた望ましい。これに加えて、さらに多くの電化製品および電気設備が共に配線されなければならないので、スイッチキャビネット内の電気端子台に利用可能な空間はさらに縮小している。したがって、非常に小型の構造を有する、すなわち非常に狭い幅および短い長さしかない端子台の必要性が高まっている。

独国実用新案第２９５０２３４７（Ｕ）号明細書

したがって、本発明に内在する目的は、やはり外径寸法の縮小の事態において、試験コネクタによる試験タッピング（test tapping）を可能にし得る端子台を利用可能にすることである。

本発明による目的は請求項１の特徴により達成される。本発明の適切な構造および有利な更なる開発が従属請求項において詳述されている。

導入部においてより詳細に特徴付けられているタイプの端子台の場合には、本目的は、本発明に基づいて、第１の接続レベルに属する導体接続ユニットと、該導体接続ユニットに隣接して配置されている、第２の接続レベルに属する導体接続ユニットとの間に配置されている、試験コネクタ開口部により達成される。

その結果として、試験コネクタ開口部は、２つの接続レベルにわたって延在しており、その結果、試験コネクタ開口部の第１の部分が第１の接続レベルの領域内に配置されており、試験コネクタ開口部の第２の部分が第２の接続レベルの領域内に配置されている。その結果として、試験コネクタ開口部は、互いに分離されている２つの電位にわたって延在している。この関連で、本発明は、試験コネクタ開口部の２つの部分が等しい大きさであるように設計されていることを優先的に実現しており、その結果、試験コネクタ開口部は２つの接続レベルに均等に分布されている。２つの接続レベル上への試験コネクタ開口部の分割のおかげで、試験コネクタ開口部に必要な設置空間は大幅に縮小されることが可能であり、その結果、端子台全体の外径寸法は、試験コネクタ開口部自体の大きさを縮小する必要なく、大幅に縮小され得ることが可能であり、その結果、外径寸法の縮小にも関わらず、従来の寸法を有する試験コネクタが活用され得る。

本発明は、導体接続ユニットが各々、第１の導体を接続するための第１の導体接続領域を有し、かつ第２の導体を接続するための第２の導体接続領域を有することを実現することが好ましく、試験コネクタ開口部は、次いで、優先的に、第１の導体接続領域と第２の導体接続領域との間に配置されている。２つの導体接続領域間の、試験コネクタ開口部の配置のおかげで、試験コネクタ開口部に必要な空間要求はさらに低減されることが可能であり、その結果として、導体接続ユニットにつき２つの導体接続領域の場合、試験コネクタ開口部を有さないタイプのような端子台と比較して、端子台の外径寸法の拡大が不要である。

導体接続ユニットは各々、優先的に、電流バーと、該電流バーに対して、導体接続ユニット内へ導入された導体を圧着する少なくとも１つの渦巻ばねとを有し、導体接続ユニットの電流バーおよび／または少なくとも１つの渦巻ばねは、試験コネクタ開口部内へ突出していることが好ましい。導体接続ユニットは、次いで、ばね力圧着接続の形を取ることが好ましい。導体接続ユニットの電流バーは、ある接続レベルの電流レールに電気的に接触しているように接続されており、その結果、電流レールとの導体接続ユニットの接触は電流バーを介して確立され得る。導体接続ユニットが２つの導体接続領域を有する場合、各々が導体接続ユニットの電流バーに対して導体を圧着することができる２つの渦巻ばねは、各導体接続ユニット内に配置されている。試験コネクタ開口部内へ導入される試験コネクタが、優先的に、導体接続ユニットの電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねと接触する。これを可能にするために、電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねは、試験コネクタ開口部内へ突出している。この目的のために、電流バーは、優先的に、試験コネクタ開口部の方向に曲げられるように設計されている。電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねが試験コネクタ開口部内へ突出している場合、試験コネクタ開口部内へ導入される試験コネクタとの、導体接続ユニットの少なくとも１つの接触点、しかし優先的には２つ以上の接触点、すなわち２つまたは３つの接触点が形成され得る。結果として、また、試験コネクタ開口部内へ導入されたＤｕｓｐｏｌ試験コネクタの良好な接触が確実に保証され得る。

試験コネクタ開口部内への試験コネクタの導入を容易にするために、本発明は、試験コネクタ開口部が、試験コネクタ開口部内へ試験コネクタを導入する面取り挿入領域を有することをさらに実現することが好ましい。

本発明は、試験コネクタ開口部が菱形形状を有することをさらに実現することが特に好ましい。該菱形形状は試験コネクタ開口部の明確な画定を可能にし、その結果、試験コネクタ開口部は、端子台上の他の開口部とはっきりと区別され得る。試験コネクタの誤った挿入の可能性は、この手段により大幅に低減されることが可能であり、その結果、ユーザにとっての操作性が向上され得る。菱形試験コネクタ開口部は、横断面に関しては、絶縁材料ハウジングの試験コネクタ開口部に必要な空間の同時縮小にも関わらず、従来の試験コネクタに必要な空間に対応する。

あるいは、しかし、試験コネクタ開口部が円形形状、長円形形状、または多角形形状を有することもまた可能である。

本発明は、好適な実施形態に基づく添付図面を参照して、下記においてより詳細に明らかにされるであろう。

本発明による端子台の概略斜視図である。図１に示されている端子台の細部の概略斜視図である。図１に示されている端子台の、図２に示されている細部の概略上面図である。図１に示されている端子台の２つの異なる接続レベルに属する、互いに隣接した２つの導体接続ユニットに沿った概略断面図である。試験コネクタが試験コネクタ開口部内へ導入された状態の、図４に示されている断面図である。

図１は、交差接続端子の形を取っている端子台１００を示す。端子台１００は、絶縁材料ハウジング１０に形成されている、上下に配置されているいくつかの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ（ここでは、４つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）を備えた絶縁材料ハウジング１０を有する。電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄに接続されている２つの導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”とがそれぞれ、各接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ上に配置されている。導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は各々、絶縁材料ハウジング１０の前面上に形成されている受容室内へ挿入されていてもよい。

ここに示されている構造では、図３および図４に詳細に示されている通り、各導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は、電流バー１４と、互いに並行して配置されている２つの渦巻ばね１５、１６と、該渦巻ばねを作動させる２つの作動要素１７、１８と、２つの導体挿入開口部１９、２０とを有する。その結果として、ここに図示されていない２つの導体が、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”によって接続され得る。各電流バー１４は分岐接点２１を有し、該分岐接点により、電流バー１４は各電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと接触することができる。

ここで、その結果として、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は各々、２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”を有する。各導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”は、渦巻ばね１５、１６と、作動要素１７、１８と、導体挿入開口部１９、２０とを有し、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の電流バー１４は、２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”にわたって延在している。

さらに、絶縁材料ハウジング１０内に、試験コネクタ２００を導入するいくつかの試験コネクタ開口部２２が形成されている。試験コネクタ開口部２２の各々は、互いに隣接して配置されている２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄにわたって延在しており、それぞれ、互いに隣接して配置されている接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに属する２つの導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”間に形成されている。

詳細には図３において理解され得る通り、試験コネクタ開口部２２の第１の部分２３ａが、第１の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄの領域にわたって延在しており、試験コネクタ開口部２２の第２の部分２３ｂが、第１の接続レベルに隣接した第２の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄの領域にわたって延在している。その結果として、試験コネクタ開口部２２は、互いに分離されている２つの電位にわたって延在している。ここに図示されている構造では、試験コネクタ開口部２２の２つの部分２３ａ、２３ｂは実質的に等しいサイズであるように設計されており、その結果、試験コネクタ開口部２２は、互いに隣接した２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに均等に分布されている。

さらに、試験コネクタ開口部２２は各々、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”間に形成されている。

詳細には図４および図５において理解され得る通り、２つの渦巻ばね１５、１６および電流バー１４の部分１４ａは、試験コネクタ開口部２２内へ突出しており、その結果、試験コネクタ開口部２２内へ導入された試験コネクタ２００は、１つの渦巻ばねまたは両渦巻ばね１５、１６とかつ／または部分１４ａにより電流バー１４と接触することができ、その結果、試験コネクタ開口部２２内へ導入された試験コネクタ２００との、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の最多３つの接触点が形成され得る。この関連で、１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばね１５、１６、および／または互いに隣接して配置されている２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄのうちのより低い第１の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに配置されている導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の電流バー１４は、試験コネクタ開口部２２内へ突出している。

図２および図３においてさらに理解され得る通り、試験コネクタ開口部２２は各々、試験コネクタ開口部２２の上縁部を形成している挿入領域２４を有し、この挿入領域２４は、試験コネクタ開口部２２内への試験コネクタ２００の導入を容易にするために、面取りされているように設計されている。

さらに、試験コネクタ開口部２２は各々、菱形形状を有し、試験コネクタ開口部２２の２つの部分２３ａ、２３ｂは各々、三角形状を形成している。

１０絶縁材料ハウジング
１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ接続レベル
１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ電流レール
１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ” 導体接続ユニット
１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ” 導体接続領域
１４電流バー
１４ａ電流バーの部分
１５、１６渦巻ばね
１７、１８作動要素
１９、２０導体挿入開口部
２１分岐接点
２２試験コネクタ開口部
２３ａ試験コネクタ開口部の第１の部分
２３ｂ試験コネクタ開口部の第２の部分
２４挿入領域
１００端子台
２００試験コネクタ

Claims

第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）と少なくとも１つの第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）とを有する絶縁材料ハウジング（１０）
を備え、
電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）と、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように前記電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）に接続されている２つの導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）とが各接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）上に配置されており、
試験コネクタ（２００）を受容する少なくとも１つの試験コネクタ開口部（２２）が前記絶縁材料ハウジング（１０）に形成されている、端子台（１００）において、
前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）と、前記導体接続ユニットに隣接して配置されている、前記第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）との間に配置されており、
前記試験コネクタ開口部の第１の部分は、前記第１の接続レベルの領域に亘って延在しており、前記試験コネクタ開口部の第２の部分は、前記第２の接続レベルの領域に亘って延在していることを特徴とする、端子台（１００）。
前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）は各々、第１の導体を接続するための第１の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）と、第２の導体を接続するための第２の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）とを有し、前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記第１の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）と前記第２の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）との間に配置されていることを特徴とする、請求項１に記載の端子台（１００）。
前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）は各々、電流バー（１４）と、前記電流バー（１４）に対して前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）内へ導入された導体を圧着する少なくとも１つの渦巻ばね（１５、１６）とを有し、前記電流バー（１４）、および／または前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）の前記少なくとも１つの渦巻ばね（１５、１６）は、前記試験コネクタ開口部（２２）内へ突出していることを特徴とする、請求項１または２に記載の端子台（１００）。
前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記試験コネクタ（２００）を前記試験コネクタ開口部（２２）内へ導入する面取り挿入領域（２４）を有することを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載の端子台（１００）。
前記試験コネクタ開口部（２２）は菱形形状を有することを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載の端子台（１００）。