JP6412735B2 - Thickness measuring device using optical distance detector - Google Patents

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明の実施形態は、光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to a thickness measuring apparatus using an optical distance detector.

従来、鋼板の製造ラインにおいては、搬送される鋼板の厚さを測定する装置として、光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, in a steel plate production line, a thickness measuring device using an optical distance detector is known as a device for measuring the thickness of a conveyed steel plate.

このような光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置には、被測定物の両面にそれぞれ光を照射して、その反射光を受光して基準位置からの変位を検出する一対の光学式変位センサ(距離検出器)と、この距離検出器を被測定物に対して移動させる走査機構と、を備え、被測定物の厚さ分布を測定する厚さ測定装置がある(例えば、特許文献1参照。)。   A thickness measuring apparatus using such an optical distance detector has a pair of optical systems that irradiate light on both sides of the object to be measured and receive the reflected light to detect displacement from the reference position. There is a thickness measuring device that includes a displacement sensor (distance detector) and a scanning mechanism that moves the distance detector with respect to the object to be measured, and measures the thickness distribution of the object to be measured (for example, Patent Documents). 1).

また、鋼板などの厚さ測定の場合には、C型フレームの腕部に光学式距離検出器を対向して設けた厚さ測定装置がある(例えば、特許文献2参照。)。   In the case of measuring the thickness of a steel plate or the like, there is a thickness measuring device in which an optical distance detector is provided facing an arm portion of a C-shaped frame (see, for example, Patent Document 2).

一般に、光学式距離検出器を備えた厚さ測定装置においては、一対の光学式距離検出器と基準位置との間の距離を一定に制御するために種々の工夫がなされている。   In general, in a thickness measuring apparatus provided with an optical distance detector, various devices have been devised in order to control the distance between a pair of optical distance detectors and a reference position to be constant.

例えば、特許文献1に開示された光学式厚さ測定装置においては、距離検出器を移動させるレールの曲りや撓みによる、基準位置間距離の変動を抑制するため、予め移動方向に各位置における厚さ基準板での厚さを測定して、厚さ基準板との偏差を記憶しておき、測定値時の値を補正するようにしている。   For example, in the optical thickness measuring device disclosed in Patent Document 1, in order to suppress fluctuations in the distance between the reference positions due to bending or bending of the rail that moves the distance detector, the thickness at each position in the moving direction is previously determined. The thickness at the reference plate is measured, the deviation from the thickness reference plate is stored, and the measured value is corrected.

また、特許文献2に開示された厚さ測定装置においては、距離検出器間の設定距離の変動を抑制するために、距離検出器を内装するC型フレームの内面に断熱材を内張りし、さらに、C型フレーム内の温度が一様になるようC型フレームの内部を空調するようにしている。   In addition, in the thickness measurement device disclosed in Patent Document 2, in order to suppress the variation in the set distance between the distance detectors, a heat insulating material is lined on the inner surface of the C-type frame that houses the distance detector, The interior of the C-type frame is air-conditioned so that the temperature in the C-type frame is uniform.

特開平4−369409号公報JP-A-4-369409 特開2009−128322号公報JP 2009-128322 A

厚板などの鋼板の厚さ測定は、予め設定された鋼板の幅方向位置で、または、幅方向の厚さ分布を、連続して測定することが要求される。   The thickness measurement of a steel plate such as a thick plate is required to continuously measure a thickness distribution in the width direction at a preset position in the width direction of the steel plate.

また、被測定物が赤熱された鋼板の場合、外気温の変化だけでなく、鋼板の輻射熱の状態により、装置が設置される周囲温度の変化パターンが多用に変化する。   Further, when the object to be measured is a red-heated steel plate, the change pattern of the ambient temperature at which the apparatus is installed changes frequently depending on not only the change in the outside air temperature but also the state of the radiant heat of the steel plate.

このような温度環境下に置かれる厚さ測定装置の場合において、要求される測定精度を満たすためには、特許文献1に開示されたような距離検出器の移動機構を適用する場合では、基準位置との間の距離を設定する移動機構であるレールの曲りや、撓みの再現性が必要となる。また、特許文献2に開示されたような、外気温や輻射熱などに対し測定装置を断熱、及び距離検出器が固定される厚さ測定装置内の空調も必要となる。   In the case of a thickness measuring device placed in such a temperature environment, in order to satisfy the required measurement accuracy, when a moving mechanism of a distance detector as disclosed in Patent Document 1 is applied, a reference is required. Reproducibility of the bending of the rail, which is a moving mechanism for setting the distance to the position, and the bending is necessary. In addition, as disclosed in Patent Document 2, it is necessary to insulate the measuring device against outside air temperature, radiant heat, and the like, and to air-condition the thickness measuring device to which the distance detector is fixed.

しかしながら、特許文献1に開示された手法では、多様な温度変化パターンに対して、その基準位置との間の距離を学習して記憶することは難しく、また、手間がかかる問題がある。   However, with the method disclosed in Patent Document 1, it is difficult to learn and store the distance between the reference position for various temperature change patterns, and there is a problem that it takes time and effort.

また、特許文献2に開示された空調設備は設けることは、大掛かりで装置が複雑となり、一定の温度環境を維持するための保守にも手間が掛かる問題がある。   In addition, providing the air conditioning equipment disclosed in Patent Document 2 has a problem that the apparatus is large and complicated, and maintenance for maintaining a constant temperature environment is troublesome.

本発明は、光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置において、外部温度の変化による光学式距離検出器の基準位置との間の距離の変位を検出して、簡易な断熱対策で、厚さ測定誤差を容易に補正することが可能な光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置を提供することを目的とする。   The present invention is a thickness measuring apparatus using an optical distance detector, which detects the displacement of the distance from the reference position of the optical distance detector due to a change in external temperature, An object of the present invention is to provide a thickness measuring device using an optical distance detector capable of easily correcting a thickness measurement error.

上記目的を達成するために、本実施形態の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置は、被測定物との距離を求める一対の光学式距離検出器を、水平方向に移動する被測定物の鉛直方向に対向して設けて、前記被測定物の表面及び裏面と、予め設定される前記光学式距離検出器の鉛直方向の夫々の基準位置との間の距離を求めて前記被測定物の厚さを求める光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置であって、前記光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置は、検出部と制御部とを備え、前記検出部は、前記被測定物に跨り、当該被測定物の幅方向の厚さ測定位置で、前記光学式距離検出器を鉛直方向に対向して支持する門型フレームと、両端部を前記門型フレームの支柱に固定し、表面側に設ける前記光学式距離検出器を、前記被測定物の幅方向の前記厚さ測定位置に移動する上部ガイドレールと、両端部を前記門型フレームの支柱に固定し、裏面側に設ける前記光学式距離検出器を、前記厚さ測定位置に移動する下部ガイドレールと、前記上部ガイドレールに固定され、レーザビームを前記被測定物の表面に照射してその反射光の位置から距離を求める表面側の前記光学式距離検出器と、前記下部ガイドレールに固定され、レーザビームを前記被測定物の裏面に照射してその反射光の位置から距離を求める裏面側の前記光学式距離検出器と、表面側の前記光学式距離検出器の光学基盤と一体で固定されるレーザビーム投光器と、前記門型フレームの左右の支柱に固定され、当該レーザビーム投光器から水平軸方向に照射されたレーザビームを当該レーザビームと直交する平面上で受光し、当該レーザビームの受光位置を検出する一対のレーザビーム位置検出器と、を備え、前記制御部は、表面側の前記光学式距離検出器、及び裏面側の前記光学式距離検出器の出力、から、予め設定された前記基準位置との間の距離を求め、予め作成された厚さ校正テーブルを参照して厚さを求める厚さ演算部と、前記一対のレーザビーム位置検出器の出力から、表面側の前記光学式距離検出器の前記基準位置との間の距離変位と、鉛直方向に対する角度変位による前記基準位置との間の距離変位とを、予め校正された位置校正テーブルを参照して求める位置演算部と、前記上部及び下部のガイドレールを駆動して表面側の前記光学式距離検出器と、裏面側の前記光学式距離検出器と、を前記厚さ測定位置に移動する厚さ測定位置制御部と、前記位置演算部で求めた前記光学式距離検出器の基準位置に対する距離変位を参照して前記厚さ演算部が求めた厚さ出力を補正する厚さ補正演算部と、を備えるようにしたことを特徴とする   In order to achieve the above object, the thickness measuring apparatus using the optical distance detector according to the present embodiment is configured to measure a pair of optical distance detectors for obtaining a distance to the object to be measured. Provided in opposition to the vertical direction of the object, and determine the distance between the front and back surfaces of the object to be measured and the respective reference positions in the vertical direction of the optical distance detector set in advance. A thickness measuring device using an optical distance detector for determining the thickness of an object, the thickness measuring device using the optical distance detector comprising a detection unit and a control unit, the detection unit A portal frame that supports the optical distance detector in a vertical direction at a thickness measurement position in the width direction of the object to be measured across the object to be measured; and both ends of the portal frame The optical distance detector fixed to the support and provided on the surface side is the width direction of the object to be measured. An upper guide rail that moves to the thickness measurement position, and a lower guide rail that moves the optical distance detector provided on the back surface side to the thickness measurement position, with both ends fixed to the support of the portal frame. The optical distance detector on the surface side that is fixed to the upper guide rail, irradiates the surface of the object to be measured with a laser beam to obtain the distance from the position of the reflected light, and is fixed to the lower guide rail, The optical distance detector on the back surface side that irradiates the back surface of the object to be measured to obtain the distance from the position of the reflected light, and the optical base of the optical distance detector on the front surface side are fixed integrally. The laser beam projector is fixed to the left and right columns of the portal frame, and the laser beam emitted from the laser beam projector in the horizontal axis direction is received on a plane orthogonal to the laser beam. A pair of laser beam position detectors for detecting a light receiving position of the laser beam, and the control unit outputs the optical distance detector on the front surface side and the optical distance detector on the rear surface side, From the output of the pair of laser beam position detectors and the thickness calculator that obtains the distance from the preset reference position and obtains the thickness by referring to a thickness calibration table prepared in advance. The distance displacement between the optical distance detector on the surface side and the reference position and the distance displacement between the reference position due to the angular displacement with respect to the vertical direction are referred to a position calibration table calibrated in advance. The position calculating unit obtained by driving the upper and lower guide rails to move the optical distance detector on the front surface side and the optical distance detector on the rear surface side to the thickness measurement position. Measurement position control unit and front A thickness correction calculation unit that corrects a thickness output obtained by the thickness calculation unit with reference to a distance displacement with respect to a reference position of the optical distance detector obtained by the position calculation unit. Characterized by

実施形態の厚さ測定装置の検出部の構成図。The block diagram of the detection part of the thickness measuring apparatus of embodiment. 実施形態の厚さ測定装置の制御部の構成図。The block diagram of the control part of the thickness measuring apparatus of embodiment. レーザビーム投光器の構成図。The block diagram of a laser beam projector. 測定誤差の説明図。Explanatory drawing of a measurement error. 撓み発生時の測定誤差の説明図。Explanatory drawing of the measurement error at the time of bending generation | occurrence | production.

以下、本実施形態の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置について、図面を参照して説明する。   Hereinafter, a thickness measuring apparatus using the optical distance detector of the present embodiment will be described with reference to the drawings.

図1は、本実施形態の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置(以下、厚さ測定装置と称す。)の検出部50の構成図である。   FIG. 1 is a configuration diagram of a detection unit 50 of a thickness measuring device (hereinafter referred to as a thickness measuring device) using the optical distance detector of the present embodiment.

図1(a)は、y軸方向に搬送基準面PL(x−y平面)となる搬送テーブル上を搬送される被測定物30をその正面から見た断面図で、図1(b)は、図1(a)に示すA−A’から見た部分断面図である。   Fig.1 (a) is sectional drawing which looked at the to-be-measured object 30 conveyed on the conveyance table used as the conveyance reference plane PL (xy plane) in the y-axis direction from the front, FIG.1 (b) is FIG. It is the fragmentary sectional view seen from AA 'shown to Fig.1 (a).

厚さ測定装置100は、被測定物30との距離を求める一対の光学式距離検出器1T、1Bを、水平方向に移動する被測定物30の鉛直方向(z軸)に対向して設けて、被測定物30の表面及び裏面と、予め設定される光学式距離検出器の鉛直方向の夫々の基準位置Pt、Pbとの間の距離(dt、db)を求めて被測定物30の厚さを求める。   The thickness measuring apparatus 100 is provided with a pair of optical distance detectors 1T and 1B for obtaining a distance from the object to be measured 30 facing the vertical direction (z axis) of the object to be measured 30 moving in the horizontal direction. The thickness of the object to be measured 30 is obtained by determining the distance (dt, db) between the front and back surfaces of the object to be measured 30 and the respective reference positions Pt and Pb in the vertical direction of the optical distance detector set in advance. I ask for it.

図1において、厚さ測定装置100は、図1に示す検出部50と図2に示す制御部60とを備える。   In FIG. 1, the thickness measuring apparatus 100 includes a detection unit 50 shown in FIG. 1 and a control unit 60 shown in FIG.

検出部50は、被測定物30に跨り、被測定物30の幅方向(x軸方向)の厚さ測定位置で、光学式距離検出器1T及び光学式距離検出器1Bを鉛直方向に対向して支持する門型フレーム20と、両端部を門型フレーム20の支柱に固定し、表面側に設ける光学式距離検出器1Tを、被測定物をの幅方向の厚さ測定位置に移動する上部ガイドレール2Tと、両端部を門型フレーム20の支柱に固定し、裏面側に設ける光学式距離検出器1Bを、厚さ測定位置に移動する下部ガイドレール2Bとを備える。   The detection unit 50 straddles the measurement object 30 and opposes the optical distance detector 1T and the optical distance detector 1B in the vertical direction at the thickness measurement position in the width direction (x-axis direction) of the measurement object 30. The top frame frame 20 is supported by the top, and the optical distance detector 1T provided on the front surface side is fixed to the columns of the portal frame 20 and both ends are moved to the thickness measurement position in the width direction of the object to be measured. The guide rail 2T is provided with an optical distance detector 1B which is fixed to the support of the portal frame 20 at both ends and provided on the back surface side and which moves to the thickness measurement position.

さらに、上部ガイドレール2Tに固定され、レーザビームを被測定物30の表面に照射してその反射光の位置から距離を求める表面側の光学式距離検出器1Tと、下部ガイドレール2Bに固定され、レーザビームを被測定物30の裏面に照射してその反射光の位置から距離を求める裏面側の光学式距離検出器1Bと、を備える。   Further, it is fixed to the upper guide rail 2T, and is fixed to the surface side optical distance detector 1T for obtaining the distance from the position of the reflected light by irradiating the surface of the object 30 with a laser beam and the lower guide rail 2B. And an optical distance detector 1B on the back surface side for obtaining a distance from the position of the reflected light by irradiating the back surface of the object 30 with a laser beam.

さらに、表面側の光学式距離検出器1Tの光学基盤と一体で固定されるレーザビーム投光器4と、門型フレーム20の左右の支柱に固定され、当該レーザビーム投光器4から水平軸(x軸)方向に照射されたレーザビームを当該レーザビームと直交する平面上(y−z平面)で受光し、当該レーザビームの受光位置を検出する一対のレーザビーム位置検出器5R、5Lと、を備える。   Further, the laser beam projector 4 fixed integrally with the optical base of the optical distance detector 1T on the surface side, and the left and right columns of the portal frame 20 are fixed to the horizontal axis (x axis) from the laser beam projector 4 A pair of laser beam position detectors 5R and 5L that receive a laser beam irradiated in a direction on a plane (yz plane) orthogonal to the laser beam and detect a light receiving position of the laser beam.

次に、図2を参照して制御部60の構成を説明する。制御部60は、表面側の光学式距離検出器1T、及び裏面側の光学式距離検出器1Bの出力、から、予め設定された基準位置(Pt、Pb)との間の距離を求め、予め作成された厚さ校正テーブルを参照して厚さを求める厚さ演算部11と、一対のレーザビーム位置検出器5R、5Lの出力から、表面側の光学式距離検出器1Tの基準位置との間の距離変位(Δd)と、鉛直方向に対する角度変位(θ)による基準位置との間の距離変位(Δdθ)とを、予め校正された位置校正テーブルを参照して求める位置演算部15と、を備える。   Next, the configuration of the control unit 60 will be described with reference to FIG. The control unit 60 obtains a distance from a preset reference position (Pt, Pb) from the outputs of the optical distance detector 1T on the front surface side and the optical distance detector 1B on the rear surface side, The thickness calculator 11 that obtains the thickness with reference to the prepared thickness calibration table, and the reference position of the optical distance detector 1T on the surface side from the outputs of the pair of laser beam position detectors 5R and 5L. A position calculator 15 that obtains a distance displacement (Δdθ) between a distance displacement (Δd) between the reference position and a reference position by an angular displacement (θ) with respect to the vertical direction with reference to a position calibration table calibrated in advance; Is provided.

さらに、上部及び下部のガイドレール2T、2Bを駆動して表面側の光学式距離検出器1Tと、裏面側の光学式距離検出器1Bと、を厚さ測定位置に移動する厚さ測定位置制御部13と、前記位置演算部15が求めて距離変位(Δd、Δdθ)出力を参照して厚さ演算部11が求めた厚さ出力を補正する厚さ補正演算部16と、を備える。   Further, the thickness measurement position control for driving the upper and lower guide rails 2T and 2B to move the optical distance detector 1T on the front surface side and the optical distance detector 1B on the rear surface side to the thickness measurement position. And a thickness correction calculation unit 16 that corrects the thickness output obtained by the thickness calculation unit 11 with reference to the distance displacement (Δd, Δdθ) output obtained by the position calculation unit 15.

次に、検出部50の各部の構成について説明する。光学式距離検出器1T、1Bは、図示しない1枚の剛体からなる光学基板上に、レーザビームの投光部と受光部とを備え、要求される距離測定範囲と、測定精度から、適時その構成が選択される。   Next, the structure of each part of the detection part 50 is demonstrated. Each of the optical distance detectors 1T and 1B includes a laser beam projecting part and a light receiving part on an optical substrate made of a single rigid body (not shown). A configuration is selected.

また、レーザビームの投光部と受光部とは、この光学基盤上に設けられ、投光角度、受光角度が固定される。また、光学基盤は、夫々、ボールネジのガイドレール2T、2Bに固定され、鉛直方向の厚さ基準位置が要求された精度を満たすように固定される。   Also, the laser beam projecting section and the light receiving section are provided on this optical base, and the light projecting angle and the light receiving angle are fixed. The optical substrates are fixed to the guide rails 2T and 2B of the ball screw, respectively, so that the thickness reference position in the vertical direction satisfies the required accuracy.

また、上部のガイドレール2T及び下部のガイドレール2Bは、夫々、これを駆動するガイドレール駆動部3T、ガイドレール駆動部3Bを備え、ガイドレールをその両端部で軸支するとともに、厚さ測定位置制御部13は、ガイドレールを駆動して、被測定物30毎に要求される幅方向での厚さ測定位置に、光学式距離検出器1T、1Bを同期して設定する。   The upper guide rail 2T and the lower guide rail 2B are each provided with a guide rail drive unit 3T and a guide rail drive unit 3B for driving the guide rail 2T, and the guide rail is supported at both ends thereof, and the thickness is measured. The position control unit 13 drives the guide rail to set the optical distance detectors 1T and 1B in synchronization with the thickness measurement position in the width direction required for each object to be measured 30.

ガイドレール駆動部3T、ガイドレール駆動部3Bは、図1に示すように、門型フレーム20の左右の支柱に固定する。   The guide rail driving unit 3T and the guide rail driving unit 3B are fixed to the left and right columns of the portal frame 20 as shown in FIG.

また、光学式距離検出器1Tの光学基盤上に一体で設けられるレーザビーム投光器4は、図3に示すように、レーザビームコリメータ4aと、レーザビームスプリッタ4bとを備え、レーザビームコリメータ4aは、レーザビームを鉛直方向から、1本、または、2本を生成し、レーザビームスプリッタ4bは三角柱のミラーとし、レーザビームを水平軸(x軸)上の異なる方向に照射する。   Further, as shown in FIG. 3, the laser beam projector 4 provided integrally on the optical base of the optical distance detector 1T includes a laser beam collimator 4a and a laser beam splitter 4b, and the laser beam collimator 4a includes: One or two laser beams are generated from the vertical direction, the laser beam splitter 4b is a triangular prism mirror, and irradiates the laser beam in different directions on the horizontal axis (x axis).

このレーザビームの位置を検出する位置変位検出器5R、5Lは、ラインスキャン型CCDカメラ、または、エリアスキャン型CCDカメラとし、門型フレーム20の左右の支柱に対向して固定され、上部ガイドレール2Tに固定される光学式距離検出器1Tの光学基盤の基準位置の変位を検出する。   The position displacement detectors 5R and 5L for detecting the position of the laser beam are line scan type CCD cameras or area scan type CCD cameras, and are fixed to the left and right columns of the portal frame 20 and fixed to the upper guide rail. The displacement of the reference position of the optical base of the optical distance detector 1T fixed to 2T is detected.

門型フレーム20は、変位を検出する一対の位置変位検出器5R、5Lの固定位置精度が、基準測定面PLに対する要求精度を満たすような材料と、その構造が要求される。   The portal frame 20 is required to have a material and structure so that the fixed position accuracy of the pair of position displacement detectors 5R and 5L for detecting the displacement satisfies the required accuracy for the reference measurement surface PL.

被測定物30が赤熱された鋼板の場合は、検出部50と被測定物30との光学空間を除く、被測定物30の周囲を断熱する断熱カバー22で覆うようにするとともに、前記門型フレームの周囲を含む検出部の周囲を、外気に対して断熱する断熱カバー21で覆うようにしておく。   In the case where the object to be measured 30 is a red-heated steel plate, the surroundings of the object to be measured 30 excluding the optical space between the detection unit 50 and the object to be measured 30 are covered with a heat insulating cover 22 and the gate shape is used. The periphery of the detection unit including the periphery of the frame is covered with a heat insulating cover 21 that insulates the outside air.

次に、制御部60の各部の構成について説明する。厚さ演算部11は、光学式距離検出器1T、及び光学式距離検出器1Bから、予め設定される距離検出器間Dsの一方の基準位置Ptと被測定物30との距離dtと、他方の基準位置Pbと被測定物30との距離dbと、に対応する夫々の距離検出信号を受信して、予め作成された厚さ校正テーブルを参照して距離を求め、さらに、被測定物30の厚さtを演算(t=Ds−(dt+db))により求める。   Next, the configuration of each unit of the control unit 60 will be described. The thickness calculation unit 11 is configured to detect the distance dt between one reference position Pt of the distance detectors Ds set in advance from the optical distance detector 1T and the optical distance detector 1B and the DUT 30, and the other Each distance detection signal corresponding to the distance db between the reference position Pb and the object to be measured 30 is received, the distance is obtained by referring to a thickness calibration table prepared in advance, and further, the object to be measured 30 is measured. Is obtained by calculation (t = Ds− (dt + db)).

また、厚さ測定位置制御部13は、図示しない、予め上位から設定される被測定物の幅Wsとその厚さ測定位置Xrsに上部ガイドレール駆動部3T及び下部ガイドレール駆動部3Bを駆動して、設定位置に光学式距離検出器1T及び、光学式距離検出器1Bを移動する。そして、移動した厚さ測定位置xs(実績値)は、位置演算部15に送信する。   Further, the thickness measurement position control unit 13 drives the upper guide rail drive unit 3T and the lower guide rail drive unit 3B to the measured object width Ws and the thickness measurement position Xrs (not shown) set in advance from the upper level. Then, the optical distance detector 1T and the optical distance detector 1B are moved to the set position. Then, the moved thickness measurement position xs (actual value) is transmitted to the position calculation unit 15.

次に、位置演算部15は、レーザビーム位置検出器5R及びレーザビーム位置検出器5Lから、光学式距離検出器1Tの基準位置Poからの変位(Δdr、Δdl)を受信し、この変位に対応する基準位置(Pt)の変位を、予め作成される位置校正テーブルを参照して求める。この変位に対応する基準位置(Pt)からの変位(Δd、Δdθ)の求め方は、後述する。   Next, the position calculator 15 receives the displacement (Δdr, Δdl) from the reference position Po of the optical distance detector 1T from the laser beam position detector 5R and the laser beam position detector 5L, and responds to this displacement. The displacement of the reference position (Pt) to be obtained is obtained with reference to a position calibration table created in advance. A method of obtaining displacements (Δd, Δdθ) from the reference position (Pt) corresponding to this displacement will be described later.

次に、厚さ補正演算部16は、厚さ演算部11で求めた被測定物30の厚さtに対して、位置演算部15で求めた変位(Δd、Δdθ)を補正し、補正された厚さを出力する。   Next, the thickness correction calculation unit 16 corrects the displacement (Δd, Δdθ) obtained by the position calculation unit 15 with respect to the thickness t of the measurement object 30 obtained by the thickness calculation unit 11 to be corrected. Output the thickness.

尚、位置演算部15、厚さ補正演算部16は、厚さ演算部11と一体で構成することも可能である。   The position calculation unit 15 and the thickness correction calculation unit 16 can be configured integrally with the thickness calculation unit 11.

次に、このように構成された、厚さ測定装置100の光学設定と、光学式距離検出器1T、及び光学式距離検出器2Tの基準位置に対応する変位の求め方について、図4及び図5を参照して説明する。   Next, the optical setting of the thickness measuring apparatus 100 configured as described above and how to obtain the displacement corresponding to the reference position of the optical distance detector 1T and the optical distance detector 2T will be described with reference to FIGS. This will be described with reference to FIG.

図4は、厚さ測定装置100の光学設定図である。被測定物30の上部の光学距離検出器1Tと被測定物30の下部光学距離検出器1Bとの間の基準位置Pt、Pbとその間の距離Dsと、夫々の光学距離検出器1T、1Bの基準位置からの距離dt及びdbとすると、厚さ演算部11は下記演算式に基づいて、被測定物30の厚さtが求められる。
t=Ds−(dt+db) ・・・・・・(1)
FIG. 4 is an optical setting diagram of the thickness measuring apparatus 100. The reference positions Pt and Pb between the optical distance detector 1T on the upper side of the object to be measured 30 and the lower optical distance detector 1B of the object to be measured 30 and the distance Ds therebetween, and the respective optical distance detectors 1T and 1B. Assuming distances dt and db from the reference position, the thickness calculator 11 calculates the thickness t of the device under test 30 based on the following calculation formula.
t = Ds− (dt + db) (1)

ここで、上部の光学式距離検出器1Tの基準位置Poが、上部ガイドレール2Tの長さ方向の中央部での撓みで、Pv点にΔd変位したとすると、その時の厚さ演算部13の出力t’は、
t’=Ds-(dt-Δd+db) ・・・・・(2)
となる。
Here, if the reference position Po of the upper optical distance detector 1T is bent at the central portion in the length direction of the upper guide rail 2T and is displaced Δd to the point Pv, the thickness calculation unit 13 at that time The output t ′ is
t ′ = Ds− (dt−Δd + db) (2)
It becomes.

この撓みによる変位Δdは、左右のレーザビーム位置変位検出器5Rの出力Δdrと、レーザビーム位置変位検出器5Lの出力Δdlとで、夫々同じ値が検出されるので、位置演算部15ではこの変位を、左右のレーザビーム位置検出器5R,5Lの出力から、下記式に基づいて求めることが出来る。
Δd=(Δdr+Δdl)/2 ・・・・・(3)
Since the displacement Δd due to this bending is detected by the output Δdr of the left and right laser beam position displacement detector 5R and the output Δdl of the laser beam position displacement detector 5L, the position calculator 15 detects this displacement. Can be obtained from the outputs of the left and right laser beam position detectors 5R and 5L based on the following equation.
Δd = (Δdr + Δdl) / 2 (3)

したがって、この場合には、厚さ補正部15では、厚さ演算部11の出力と位置演算部15の出力とから、下記式に基づいて変位を補正した正しい厚さtを求めることができる。
t=t’+Δd
=Ds-(dt-Δd+db)-Δd
=Ds-(dt+db) ・・・・・(4)
Therefore, in this case, the thickness correction unit 15 can obtain the correct thickness t with the displacement corrected based on the following equation from the output of the thickness calculation unit 11 and the output of the position calculation unit 15.
t = t ′ + Δd
= Ds− (dt−Δd + db) −Δd
= Ds- (dt + db) (4)

本実施例では、被測定物30の下部の光学距離検出器1Bでの距離変位は少ないものとして、上部のみの変位を検出して補正するようにしたが、下部の変位も無視できない場合には、上部の変位検出と同じような構成としてその変位を検出し、両面での変位を補正するようにすることも可能である。   In the present embodiment, it is assumed that the distance displacement at the optical distance detector 1B below the object to be measured 30 is small, and the displacement only at the top is detected and corrected. However, when the displacement at the bottom cannot be ignored. It is also possible to detect the displacement as a configuration similar to the upper displacement detection and correct the displacement on both sides.

次に、図5を参照して、厚さ測定位置がx軸方向でxrの位置に移動して、光学式距離検出器1Tの基準位置Poが、上部ガイドレール2Tの熱歪で、Pv点に、基準位置に対して下部方向にΔd(=Δdl+Δdxl)、その光軸が鉛直方向に対してΔθ右に傾斜変位したとする。   Next, referring to FIG. 5, the thickness measurement position is moved to the position xr in the x-axis direction, and the reference position Po of the optical distance detector 1T is the thermal strain of the upper guide rail 2T, and the point Pv Further, it is assumed that Δd (= Δdl + Δdxl) in the lower direction with respect to the reference position and the optical axis thereof is tilted to the right by Δθ with respect to the vertical direction.

この場合、上部の光学距離検出器1Tの出力は、図5(b)に示すtd’となる。   In this case, the output of the upper optical distance detector 1T is td 'shown in FIG.

この場合、左右のレーザビーム位置検出器5R、5Lは、夫々、Δdr、Δdlを検出し、また、厚さ測定位置制御部13の出力、予め設定される移動ストロークWsは既知(設定値)であるので、Wsと測定位置xrの値を厚さ位置演算部15に送り、厚さ位置演算部15でその変位を求める。   In this case, the left and right laser beam position detectors 5R and 5L detect Δdr and Δdl, respectively, and the output of the thickness measurement position control unit 13 and the preset movement stroke Ws are known (set values). Therefore, the values of Ws and measurement position xr are sent to the thickness position calculation unit 15 and the thickness position calculation unit 15 obtains the displacement.

上下方向の基準位置からの距離変位は、
xl=Ws-xr ・・・・・(5)
であるので、
Δdxl=(Δdr-Δdl)×xl/(xl+xr) ・・・・・(6)
を演算により求め、更に、上下方向の変位Δd(距離が減少するので厚さが増加する方向の変位)を、下記式で求める。
Δd=Δdl+Δdxl ・・・・・(7)
The distance displacement from the reference position in the vertical direction is
xl = Ws-xr (5)
So
Δdxl = (Δdr−Δdl) × xl / (xl + xr) (6)
Further, the vertical displacement Δd (the displacement in the direction in which the thickness increases because the distance decreases) is obtained by the following equation.
Δd = Δdl + Δdxl (7)

さらに、光軸の傾斜角度θは、下記式で求められる。
cosθ=xl/(xl+Δdxl1/2 ・・・・・(8)
Further, the inclination angle θ of the optical axis is obtained by the following formula.
cos θ = xl / (xl 2 + Δdxl 2 ) 1/2 (8)

したがって、上部の光学距離検出器1Tの出力td’に含まれる傾斜変位による誤差Δθ(この場合は、距離が増大するので厚さが減少する方向の変位)は、
Δdθ=td’(1-cosθ) ・・・・・(9)
Therefore, the error Δθ (in this case, the displacement in the direction in which the thickness decreases because the distance increases) included in the output td ′ of the upper optical distance detector 1T is:
Δdθ = td ′ (1-cosθ) (9)

したがって、この場合の厚さ演算部1の出力t’に対する誤差の補正量は、上下方向の変位Δdによる誤差と、傾斜変位による誤差Δθとを加算した値となる。
t=t’+(-Δd+Δdθ) ・・・・・(10)
Therefore, the correction amount of the error with respect to the output t ′ of the thickness calculation unit 1 in this case is a value obtained by adding the error due to the vertical displacement Δd and the error Δθ due to the tilt displacement.
t = t ′ + (− Δd + Δdθ) (10)

尚、この基準位置からの変位は、ここでは、x−z平面上の変位を想定したが、装置の設置環境と、光学距離検出器の基準位置の設定構造によっては3次元的な変位も生じるので、適宜最適な変位検出を選択する必要がある。   Here, the displacement from the reference position is assumed to be a displacement on the xz plane, but a three-dimensional displacement also occurs depending on the installation environment of the apparatus and the reference position setting structure of the optical distance detector. Therefore, it is necessary to select an optimal displacement detection as appropriate.

本実施の形態に依れば、一対の光学式距離検出器の基準位置からの変位を、光学式距離検出器の光学基盤に設ける点光源(座標)からの変位を光学的に測定するようにしたので、光学式距離検出器を軸支するガイドレールの熱歪や、経時変化があっても、歪の再現性や応答時間に影響されず、瞬時に容易に補正することができる。   According to the present embodiment, the displacement from the reference position of the pair of optical distance detectors is optically measured from the point light source (coordinates) provided on the optical base of the optical distance detector. Therefore, even if there is a thermal strain of the guide rail that supports the optical distance detector or a change with time, it can be easily corrected instantly without being affected by the reproducibility of the strain and the response time.

以上説明したように、光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置において、外部温度の変化による光学式距離検出器の基準位置との間の距離の変位を検出して、簡易な断熱対策で、厚さ測定誤差を容易に補正することが可能な光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置を提供することができる。   As described above, in a thickness measurement device using an optical distance detector, the displacement of the distance from the reference position of the optical distance detector due to a change in the external temperature is detected, and simple heat insulation measures can be taken. It is possible to provide a thickness measuring device using an optical distance detector that can easily correct a thickness measurement error.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1T、1B 距離検出器
2T、2B ガイドレール部
3T、3B ガイドレール駆動部
4 レーザビーム投光部
4a レーザビームコリメータ
4b ビームスプリッタ
5R、5L 位置変位検出器
11 厚さ演算部
13 厚さ測定位置制御部
15 位置演算部
16 厚さ補正演算部
20 門型フレーム
21、22 断熱カバー
30 被測定物
50 検出部
60 制御部
100 光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置
1T, 1B Distance detector 2T, 2B Guide rail unit 3T, 3B Guide rail drive unit 4 Laser beam projection unit 4a Laser beam collimator 4b Beam splitter 5R, 5L Position displacement detector 11 Thickness calculation unit 13 Thickness measurement position control Unit 15 Position calculation unit 16 Thickness correction calculation unit 20 Gate-type frames 21 and 22 Thermal insulation cover 30 Object to be measured 50 Detection unit 60 Control unit 100 Thickness measurement device using an optical distance detector

Claims (4)

被測定物との距離を求める一対の光学式距離検出器を、水平方向に移動する被測定物の鉛直方向に対向して設けて、前記被測定物の表面及び裏面と、予め設定される前記光学式距離検出器の鉛直方向の夫々の基準位置との間の距離を求めて前記被測定物の厚さを求める光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置であって、
前記光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置は、検出部と制御部とを備え、
前記検出部は、前記被測定物に跨り、当該被測定物の幅方向の厚さ測定位置で、前記光学式距離検出器を鉛直方向に対向して支持する門型フレームと、
両端部を前記門型フレームの支柱に固定し、表面側に設ける前記光学式距離検出器を、前記被測定物の幅方向の前記厚さ測定位置に移動する上部ガイドレールと、両端部を前記門型フレームの支柱に固定し、裏面側に設ける前記光学式距離検出器を、前記厚さ測定位置に移動する下部ガイドレールと、
前記上部ガイドレールに固定され、レーザビームを前記被測定物の表面に照射してその反射光の位置から距離を求める表面側の前記光学式距離検出器と、前記下部ガイドレールに固定され、レーザビームを前記被測定物の裏面に照射してその反射光の位置から距離を求める裏面側の前記光学式距離検出器と、
表面側の前記光学式距離検出器の光学基盤と一体で固定されるレーザビーム投光器と、前記門型フレームの左右の支柱に固定され、当該レーザビーム投光器から水平軸方向に照射されたレーザビームを当該レーザビームと直交する平面上で受光し、当該レーザビームの受光位置を検出する一対のレーザビーム位置検出器と、を備え、
前記制御部は、表面側の前記光学式距離検出器、及び裏面側の前記光学式距離検出器の出力、から、予め設定された前記基準位置との間の距離を求め、予め作成された厚さ校正テーブルを参照して厚さを求める厚さ演算部と、
前記一対のレーザビーム位置検出器の出力から、表面側の前記光学式距離検出器の前記基準位置との間の距離変位と、鉛直方向に対する角度変位による前記基準位置との間の距離変位とを、予め校正された位置校正テーブルを参照して求める位置演算部と、
前記上部及び下部のガイドレールを駆動して表面側の前記光学式距離検出器と、裏面側の前記光学式距離検出器と、を前記厚さ測定位置に移動する厚さ測定位置制御部と、
前記位置演算部で求めた前記光学式距離検出器の基準位置に対する距離変位を参照して前記厚さ演算部が求めた厚さ出力を補正する厚さ補正演算部と、
を備えるようにしたことを特徴とする光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置。
A pair of optical distance detectors for determining the distance to the object to be measured are provided opposite to the vertical direction of the object to be measured that moves in the horizontal direction, and the surface and the back surface of the object to be measured are set in advance. A thickness measuring device using an optical distance detector for obtaining a distance between each reference position in the vertical direction of the optical distance detector to obtain a thickness of the object to be measured,
A thickness measurement apparatus using the optical distance detector includes a detection unit and a control unit,
The detection unit spans the object to be measured, and a portal frame that supports the optical distance detector in a vertical direction at a thickness measurement position in the width direction of the object to be measured;
Both ends are fixed to the support of the portal frame, the optical distance detector provided on the surface side is moved to the thickness measurement position in the width direction of the object to be measured, and both ends are A lower guide rail that moves to the thickness measurement position, the optical distance detector that is fixed to the support of the portal frame and provided on the back surface side,
The optical distance detector on the surface side that is fixed to the upper guide rail, irradiates the surface of the object to be measured with a laser beam to obtain the distance from the position of the reflected light, and the laser is fixed to the lower guide rail. The optical distance detector on the back side for irradiating the back side of the object to be measured to obtain the distance from the position of the reflected light;
A laser beam projector that is fixed integrally with the optical base of the optical distance detector on the front side, and a laser beam that is fixed to the left and right columns of the portal frame and irradiated in the horizontal axis direction from the laser beam projector A pair of laser beam position detectors that receive light on a plane orthogonal to the laser beam and detect a light receiving position of the laser beam,
The control unit obtains a distance from the preset reference position from the optical distance detector on the front surface side and the output of the optical distance detector on the back surface side, and a thickness created in advance. A thickness calculator that calculates the thickness with reference to the calibration table;
From the outputs of the pair of laser beam position detectors, a distance displacement between the optical distance detector on the surface side and the reference position, and a distance displacement between the reference position due to an angular displacement with respect to the vertical direction. A position calculation unit that is obtained by referring to a pre-calibrated position calibration table;
A thickness measurement position controller that drives the upper and lower guide rails to move the optical distance detector on the front side and the optical distance detector on the back side to the thickness measurement position;
A thickness correction calculation unit that corrects a thickness output obtained by the thickness calculation unit with reference to a distance displacement with respect to a reference position of the optical distance detector obtained by the position calculation unit;
A thickness measuring apparatus using an optical distance detector.
前記レーザビーム投光器は、レーザビームコリメータと、レーザビームスプリッタとを備え、前記レーザビームコリメータは、前記レーザビームを鉛直方向から、1本、または、2本を生成し、前記レーザビームスプリッタは、前記レーザビームを水平軸の異なる方向に照射するようにした請求項1に記載の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置。   The laser beam projector includes a laser beam collimator and a laser beam splitter, and the laser beam collimator generates one or two laser beams from a vertical direction. The thickness measuring apparatus using the optical distance detector according to claim 1, wherein the laser beam is irradiated in different directions along the horizontal axis. 前記レーザビーム位置検出器は、ラインスキャン型CCDカメラ、または、エリアスキャン型CCDカメラであることを特徴とする請求項1に記載の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置。
The thickness measuring apparatus using an optical distance detector according to claim 1, wherein the laser beam position detector is a line scan type CCD camera or an area scan type CCD camera.
前記被測定物が赤熱された鋼板の場合は、前記検出部と前記被測定物との光学空間を除く、当該被測定物の周囲を断熱する断熱カバーで覆うようにするとともに、前記門型フレームの周囲を含む検出部の周囲を、外気に対して断熱する断熱カバーで覆うようにした請求項1に記載の光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置。   In the case where the object to be measured is a red-heated steel plate, the portal frame is configured so as to cover the periphery of the object to be measured, excluding the optical space between the detection unit and the object to be measured, The thickness measuring device using the optical distance detector according to claim 1, wherein the periphery of the detection section including the periphery of the optical distance detector is covered with a heat insulating cover that insulates the outside air.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210039137A (en) * 2019-10-01 2021-04-09 문상호 Contactless type thickness measuring apparatus with function to correct errors

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108057636A (en) * 2017-12-14 2018-05-22 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 Full-automatic detection substrate size equipment, substrate detection line and its detection method
CN111998784A (en) * 2020-08-26 2020-11-27 中国检验检疫科学研究院 Automatic balance thickness detector
JP2022137877A (en) * 2021-03-09 2022-09-22 オムロン株式会社 Thickness measuring device and control method for the same
IT202100013091A1 (en) * 2021-05-20 2022-11-20 Cefla Soc Cooperativa APPARATUS AND METHOD FOR PAINTING PANELS BY ROLLER, PREFERABLE PHOTOVOLTAIC PANELS
CN116045825B (en) * 2023-01-10 2023-07-04 山东高速工程建设集团有限公司 Method for detecting loose paving thickness of soil-stone mixed roadbed

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04369409A (en) * 1991-05-21 1992-12-22 Mitsubishi Electric Corp Optical thickness measuring apparatus
JP3922937B2 (en) * 2002-03-04 2007-05-30 横浜ゴム株式会社 Thickness measuring method and apparatus
JP4945412B2 (en) * 2007-11-27 2012-06-06 株式会社東芝 Thickness measuring device
WO2011000665A1 (en) * 2009-07-02 2011-01-06 Voith Patent Gmbh Method and apparatus for the contactless determination of the thickness of a web of material, including correction of the alignment error
JP5833831B2 (en) * 2011-04-25 2015-12-16 株式会社東芝 Thickness measuring device and thickness measuring method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210039137A (en) * 2019-10-01 2021-04-09 문상호 Contactless type thickness measuring apparatus with function to correct errors
KR102261188B1 (en) 2019-10-01 2021-06-03 문상호 Contactless type thickness measuring apparatus with function to correct errors

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