JP6412410B2 - 補助リレーの接触抵抗測定器 - Google Patents
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Description
前記制御部に、低抵抗測定手法を用いて接触抵抗値を算出する低抵抗測定手段と、統計的評価手法を用いて劣化度合いを評価演算する評価手段を設け、
前記低抵抗測定手段は、試験1回毎に供試リレー各接点の接触抵抗値を複数回測定する機能を備え、
前記評価手段は、前記複数回の測定結果の偏差値と、予め設定された測定抵抗値のバラツキにより評価する閾値、および測定抵抗値の絶対値により評価する絶対値評価閾値から、供試リレーの評価・判定を行う機能を備えたことを特徴としたものである。
図3は、標準偏差(バラツキ)3σの評価閾値を0.05Ω、絶対値評価閾値を0.50Ωとし、標準偏差3σの閾値未満のときには良好、閾値以上のときには注意としている。また、絶対値評価では閾値以下では良好、閾値以上で警戒としている。例えば、ピン番号1A−1Cの場合には、バラツキ3σは0.00、最大0.03Ωで評価閾値0.05Ωであることから良好と評価される。また、ピン番号1B−1Cの場合にはバラツキ3σが0.06Ω、最大0.10Ω(測定3回目と6回目)で閾値0.05Ω以上であるが絶対値評価閾値以下であることから注意と評価される。同様にピン番号3B−3Cの場合には絶対値評価閾値0.50Ω以上の0.64Ωであることから警戒として評価される。この評価用の各閾値や警戒、注意、良好の評価区分は任意に設定されるものである。
2… 接続線
5… アラーム部
6… 主電源部
7… 動作モード設定部
8… 表示部
9… ソケット部
10… 制御部
11… 低抵抗測定手段
12… 評価手段
20… 試験電圧発生部
30… ソケット切替部
40… 試験電流発生部
50… ソケット端子切替部
Claims (4)
- 制御部からの制御指令により試験電圧,試験電流を発生し、供試ソケットに差し込まれた補助リレーの接触抵抗値を測定し、測定結果を表示部に表示する測定器において、
前記制御部に、低抵抗測定手法を用いて接触抵抗値を算出する低抵抗測定手段と、統計的評価手法を用いて劣化度合いを評価演算する評価手段を設け、
前記低抵抗測定手段は、試験1回毎に供試リレー各接点の接触抵抗値を複数回測定する機能を備え、
前記評価手段は、前記複数回の測定結果の偏差値と、予め設定された測定抵抗値のバラツキにより評価する閾値、および測定抵抗値の絶対値により評価する絶対値評価閾値から、供試リレーの評価・判定を行う機能を備えたことを特徴とした補助リレーの接触抵抗測定器。 - 前記測定抵抗値の最大値が絶対値評価閾値を越えたとき警戒状態とすることを特徴とした請求項1記載の補助リレーの接触抵抗測定器。
- 前記供試リレーのメーカー,型式に基づいて試験電圧,試験電流を選択し、複数配設された前記供試ソケットのうち選択された供試リレーの差し込まれる供試ソケットを、LEDの点灯で指示することを特徴とした請求項1又は2記載の補助リレーの接触抵抗測定器。
- 前記供試リレーのメーカー,型式に基づく試験電圧,試験電流の選択は、接触抵抗測定器に設けられた電圧設定部の上下キーの操作で、且つ電圧設定部の表示部に表示される画面のカーソル操作で選択することを特徴とした請求項1乃至3の何れか1項に記載の補助リレーの接触抵抗測定器。
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