JP6411242B2 - 隔膜真空計、および、隔膜真空計の製造方法 - Google Patents
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本発明は、隔膜と筒体との間に歪みが生じることを抑える隔膜真空計、および、隔膜真空計の製造方法を提供することを目的とする。
上記隔膜真空計によれば、ろう材の融点以上では、金属の線膨張率がセラミックの線膨張率よりも大きくなる一方で、ろう材の融点よりも低い温度では、金属の線膨張率がセラミックの線膨張率よりも小さくなる。そのため、隔膜と筒体との間に歪みが生じることが抑えられる。
上記隔膜真空計によれば、金属板の厚さが20μm以上であるため、金属板の形成や金属板の取り扱いにかかる負荷を抑えることができる。また、金属板の厚さが200μm以下であるため、筒体に接合された隔膜が張力によって割れることが抑えられる。
図1から図3を参照して、隔膜真空計の構成を説明する。なお、図1では、隔膜真空計の構成を説明する便宜上から、隔膜真空計の一部を破断した状態が示され、また、図2では、隔膜真空計を構成する部材の一部を分解した断面構造が示されている。
なお、図2では、図示の便宜上から、コア層12a、被覆層12b、および、筒体側金属層18の厚さが誇張して示されている。
図4から図6を参照して隔膜真空計10の製造方法を説明する。なお、以下では、隔膜真空計10の製造方法の一例として、絶対真空計の製造方法を説明する。
隔膜真空計10の製造方法は、筒体11と筒体11の開口11aを塞ぐ隔膜12との間にろう材13を配置する工程と、ろう材13を融解して筒体11と隔膜12とを接合する工程と、融解したろう材13を冷却する工程とを備えている。
これにより、隔膜12が、ろう材13によって筒体11に固定されることで、隔膜真空計10が製造される。
図6および図7を参照して、隔膜真空計10の作用を説明する。なお、図7および図8では、図示の便宜上から、筒体11の周壁11cのみを図示し、筒体11の底部11bの図示を省略している。また、以下では、説明の便宜上から、筒体11の温度と隔膜12の温度とが同一であるとして説明する。なお、筒体11の温度と隔膜12の温度とは、ろう材13の融解前、融解時、および、固化時のいずれにおいても、ろう材13の温度と同じ温度であると見なすことができる。
図8を参照して、隔膜真空計10の実施例を説明する。
[隔膜真空計の製造方法]
酸化アルミニウムから形成された筒体と、隔膜と、JIS Z 3261において規定されるBAg−8に準拠する銀ろうと、を準備した。筒体の形成材料として、形成材料の99質量%以上が酸化アルミニウムであるセラミックを用いた。また、コア層をインバーで形成し、コア層の表面と裏面との各々に、スパッタ法を用いてニッケル膜を被覆層として形成した。筒体において、周壁の高さを500μmとし、隔膜におけるコア層の厚さを50μmとし、被覆層の厚さを約3μmとした。そして、隔膜における有効直径であって、筒体の開口によって囲まれる部分の直径を18mmとした。
上述した製造方法によって得られた隔膜真空計を用いて、隔膜真空計に与えられた圧力の変化に対する静電容量の変化を測定し、測定した結果の一例を図8に示した。
図8が示すように、隔膜真空計に与えられる圧力の対数と、隔膜真空計の出力する静電容量の対数とが、比例の関係を有することが認められた。そのため、隔膜真空計に与えられる圧力の対数と、隔膜真空計の出力する静電容量の対数との関係を用いて圧力を測定すれば、隔膜真空計によって高い精度で圧力を測定することが可能であることが認められた。
(1)隔膜12、筒体11、および、ろう材13が、ろう材13の融点MT以上の温度から冷却されるときには、隔膜12のコア層12aにおける収縮量が、筒体11における収縮量よりも大きくなる。このとき、隔膜12は、ろう材13によって筒体11に固定された状態であり、また、筒体11を形成するセラミックは、隔膜12の変形により筒体11に力が作用しても筒体11が変形しない程度に剛性が高い。そのため、隔膜12に張力TFが働き、隔膜12が張力TFを受けた状態で、隔膜12と筒体11とを接合することができる。結果として、隔膜12が、筒体11に対してだれやしわがない状態で接合されやすくなるため、隔膜12と筒体11との間に歪みが生じることが抑えられる。
・筒体11の周壁11cにおいて高さ方向に沿う長さLは、500μmよりも大きくてもよい。こうした構成であっても、上述した(1)から(3)に準じた効果を得ることはできる。
・コア層12aの厚さTは、筒体11と隔膜12とを接合したときに、隔膜12に割れが生じなければ、200μmよりも大きくてもよい。
Claims (5)
- セラミックから形成されて、開口を有した筒体と、
金属板を含み、前記筒体の前記開口を塞ぐ隔膜と、
銀と銅とを主成分とし、前記筒体と前記隔膜とを接合するろう材であって、前記ろう材の融点が780℃以上である前記ろう材と、を備え、
前記金属板を形成する金属は、前記セラミックの線膨張率よりも大きい線膨張率を前記ろう材の融点において示し、かつ、前記セラミックの線膨張率よりも小さい線膨張率を前記ろう材の融点よりも低い温度の範囲に含む
隔膜真空計。 - 前記セラミックが酸化アルミニウムであり、
前記金属板が鉄とニッケルとを主成分とする合金から構成されている
請求項1に記載の隔膜真空計。 - 前記金属板の厚さが、20μm以上200μm以下である
請求項1または2に記載の隔膜真空計。 - 前記筒体は、底部と、1つの方向である高さ方向に沿って前記底部から延びる周壁とを備え、前記開口が前記周壁における前記高さ方向の端部であり、前記周壁における前記高さ方向に沿った長さが、500μm以下である
請求項3に記載の隔膜真空計。 - セラミックから形成されて、開口を有した筒体と、金属板を含み、前記筒体の開口を塞ぐ隔膜との間に、銀と銅とを主成分とするろう材を配置する工程と、
前記筒体と前記隔膜との間に配置された前記ろう材を融解して前記筒体と前記隔膜とを接合する工程と、
融解した前記ろう材を冷却する工程と、を備え、
前記接合する工程では、前記筒体、前記隔膜、および、前記ろう材が、前記ろう材が融解する温度であって、前記金属板を形成する金属の線膨張率が、前記セラミックの線膨張率よりも小さい状態から、前記セラミックの線膨張率よりも大きい状態に変わる温度以上の温度まで加熱され、
前記冷却する工程では、前記筒体、前記隔膜、および、前記ろう材が、前記ろう材が融解する温度よりも低い温度であって、前記金属の線膨張率が、前記セラミックの線膨張率よりも大きい状態から、前記セラミックの線膨張率よりも小さい状態に変わる温度に冷却される
隔膜真空計の製造方法。
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