JP6374265B2 - 探査装置 - Google Patents
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Description
2 中空円筒状フレーム
3 先端キャップ部材
4 後端キャップ部材
5 防振材
6 真空断熱容器
7 基体窒素
8 センサ
9 センサ制御回路
10 断熱材
11,41 高耐圧フレーム
12,42 先端キャップ部材
13,43 防振発泡ゲル
14 ステンレス真空デュワ
15,45 液体窒素
16,46 プローブ
17,47 SQUID
18,48 断熱材
19,49 SQUID制御回路
20,50 FLL回路
21,51 送受信回路
22,52 通信ケーブル
23,53 断熱シール材
24,54 キャップ部材
25,26 真空断熱部材
27,29,44 真空断熱ガラスデュワ
28 温度制御用ヒータ
30 貫通真空断熱ステンレスデュワ
31 貫通真空断熱ガラスデュワ
32 溶接部
33 蒸発窒素排出管
34 回路冷却用冷媒循環管
35,36 ペルチェ効果素子
55 加熱炉
Claims (12)
- 環境温度40℃以上で使用するセンサと、
前記センサを制御する制御回路及び送受信回路を含むセンサ制御回路と、
前記センサを液体窒素中に浸漬して収容するとともに、前記センサ制御回路を前記液体窒素の液面より上部に収容する真空断熱容器と、
前記真空断熱容器を収容する耐圧外囲器と
を有することを特徴とする探査装置。 - 前記真空断熱容器が、ステンレス製真空断熱デュワであることを特徴とする請求項1に記載の探査装置。
- 前記真空断熱容器が、ガラス製真空断熱デュワであることを特徴とする請求項1に記載の探査装置。
- 前記センサ制御回路の上方及び下方に二重管構造で中空円筒状の真空断熱部材を備えていることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の探査装置。
- 前記真空断熱容器が、ガラス製真空断熱デュワであり、前記センサ制御回路の近傍に温度制御用加熱手段を備えていることを特徴とする請求項4に記載の探査装置。
- 前記真空断熱容器がガラス製真空断熱デュワと、前記ガラス製断熱デュワに長軸方向において接続する二重管構造で中空円筒状のステンレス製真空断熱デュワからなり、
前記センサ制御回路が前記二重管構造で中空円筒状のステンレス製真空断熱デュワ中に収容されることを特徴とする請求項1に記載の探査装置。 - 前記真空断熱容器がガラス製真空断熱デュワと、前記ガラス製断熱デュワに長軸方向において溶接部により接続する二重管構造の中空円筒状のガラス製真空断熱デュワからなり、
前記センサ制御回路が前記二重管構造で中空円筒状のガラス製真空断熱デュワ中に収容されることを特徴とする請求項1に記載の探査装置。 - 前記センサ制御回路の近傍を通過し、前記液体窒素が気化した蒸発窒素を前記耐圧外囲器の外に排出するとともに、前記センサ制御回路を冷却する蒸発窒素排出管を有することを特徴とする請求項7に記載の探査装置。
- 前記センサ制御回路の近傍に配置され、前記センサ制御回路を冷却する冷媒を前記耐圧外囲器の外から循環供給する回路冷却用冷媒循環管を有することを特徴とする請求項7に記載の探査装置。
- 前記センサ制御回路に、ペルチェ効果素子を接触させた状態で固定したことを特徴とする請求項7に記載の探査装置。
- 前記センサが、高温超電導量子干渉計であることを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載の探査装置。
- 前記耐圧外囲器の環境耐圧が、10MPa以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれか1項に記載の探査装置。
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