JP6362936B2 - 半導体装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置及び半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
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Description
以下では、図面を参照して、本実施の形態を詳細に説明する。
[第2の実施の形態]
本実施の形態の半導体装置は、第1の実施の形態の半導体装置10と、基板コンタクト領域16の配置が異なっている。図4に、本実施の形態の半導体装置の概略構成図を示す。本実施の形態の半導体装置50は、第1の実施の形態の半導体装置10と同様の構成を有するため、同様の部分には、同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
12 基板
14 N型ウエル層
16、56 基板コンタクト領域
18 ソース領域
22 ドレイン領域
20 ゲート電極
23 フィールド酸化膜
Claims (8)
- 基板の主面に形成された、ソース領域及びドレイン領域の一方の領域である第1導電型の第1領域と、
前記基板の主面上に、前記第1領域を囲んで形成されたゲート領域と、
前記基板の主面の前記ゲート領域の外縁の一部を成す単一箇所のみに併設された、前記ソース領域及び前記ドレイン領域の他方の領域である、前記第1導電型の第2領域と、
前記第1領域、前記ゲート領域、及び前記第2領域を囲んで前記基板の主面に形成された、前記第1導電型と導電型が異なる第2導電型の基板コンタクト領域と、
を備えた半導体装置。 - 基板の主面に形成された、ソース領域及びドレイン領域の一方の領域である第1導電型の第1領域と、
前記基板の主面上に、前記第1領域を囲んで形成されたゲート領域と、
前記基板の主面の前記ゲート領域の外縁の一部を成す単一箇所のみに併設された、前記ソース領域及び前記ドレイン領域の他方の領域である、前記第1導電型の第2領域と、
前記基板の主面の、前記第2領域が形成されていない部分の前記ゲート領域の外縁に併設された、前記第1導電型と導電型が異なる第2導電型の基板コンタクト領域と、
を備えた半導体装置。 - 前記基板に対する前記第2領域の面積は、前記第1領域と前記第2領域との間を流れる電流に要求される電流量に応じた面積である、
請求項1または請求項2に記載の半導体装置。 - 前記ゲート領域に沿った前記第2領域の長さは、前記第1領域と前記第2領域との間を流れる電流に要求される電流量に応じた長さである、
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記第1領域は、対向する一対の円弧状の辺と、対向する一対の直線状の辺とにより囲まれた領域であり、
前記第2領域は、前記直線状の辺に対して前記ゲート領域を介して対向する位置に形成されている、
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記ゲート領域は、矩形の枠状である、
請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 基板の主面に枠状のゲート領域を形成する工程と、
前記基板の主面の前記ゲート領域の内部に、ソース領域及びドレイン領域の一方の領域である第1導電型の第1領域を形成し、また、前記基板の主面の前記ゲート領域の外縁の一部を成す単一箇所のみに併設する、前記ソース領域及び前記ドレイン領域の他方の領域である前記第1導電型の第2領域を形成する工程と、
前記第1領域、前記ゲート領域、及び前記第2領域を囲んで前記基板の主面に、前記第1導電型と導電型が異なる第2導電型の基板コンタクト領域を形成する工程と、
を備えた半導体装置の製造方法。 - 基板の主面に枠状のゲート領域を形成する工程と、
前記基板の主面の前記ゲート領域の内部に、ソース領域及びドレイン領域の一方の領域である第1導電型の第1領域を形成し、また、前記基板の主面の前記ゲート領域の外縁の一部を成す単一箇所のみに併設する、前記ソース領域及び前記ドレイン領域の他方の領域である前記第1導電型の第2領域を形成する工程と、
前記基板の主面の、前記第2領域が形成されていない部分の前記ゲート領域の外縁に併設する、前記第1導電型と導電型が異なる第2導電型の基板コンタクト領域を形成する工程と、
を備えた半導体装置の製造方法。
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