JP6355137B2 - 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6355137B2 JP6355137B2 JP2016215730A JP2016215730A JP6355137B2 JP 6355137 B2 JP6355137 B2 JP 6355137B2 JP 2016215730 A JP2016215730 A JP 2016215730A JP 2016215730 A JP2016215730 A JP 2016215730A JP 6355137 B2 JP6355137 B2 JP 6355137B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distribution
- clusters
- dimensional coordinate
- distance
- cluster
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims description 65
- 238000004590 computer program Methods 0.000 title claims description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 271
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 118
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 93
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 30
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 29
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 22
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 claims description 17
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 10
- 238000002149 energy-dispersive X-ray emission spectroscopy Methods 0.000 description 9
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 6
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 3
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 3
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000513 principal component analysis Methods 0.000 description 2
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 2
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 1
- 238000002940 Newton-Raphson method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003064 k means clustering Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/402—Imaging mapping distribution of elements
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
本発明に係る信号分析装置は、前記分布生成手段は、複数種類の物質成分の分布に対応する前記複数種類のスペクトルの分布を生成することを特徴とする。
(実施の形態1)
図1は、本発明の信号分析装置1の構成を示すブロック図である。信号分析装置1は、パーソナルコンピュータ(PC)等の汎用コンピュータを用いて構成されている。信号分析装置1は、演算を行うCPU(演算部)11と、演算に伴って発生する一時的な情報を記憶するRAM12と、光ディスク等の記録媒体2から情報を読み取るCD−ROMドライブ等のドライブ部13と、不揮発性の記憶部14とを備えている。記憶部14は例えばハードディスクである。CPU11は、記録媒体2から本発明のコンピュータプログラム21をドライブ部13に読み取らせ、読み取ったコンピュータプログラム21を記憶部14に記憶させる。CPU11は、必要に応じてコンピュータプログラム21を記憶部14からRAM12へロードし、ロードしたコンピュータプログラム21に従って信号分析装置1に必要な処理を実行する。また、信号分析装置1は、使用者が操作することによる各種の処理指示等の情報が入力されるキーボード又はポインティングデバイス等の入力部16と、各種の情報を表示する液晶ディスプレイ等の表示部17とを備えている。
実施の形態2に係る信号分析装置1の構成は実施の形態1と同様である。図8及び図9は、実施の形態2に係る信号分析装置1が行う処理の手順を示すフローチャートである。CPU11は、コンピュータプログラムに従って、以下の処理を実行する。CPU11は、実施の形態1と同様のステップS1〜S8の処理を実行する。ステップS8が終了した後、CPU11は、複数のクラスタの確率分布モデルに基づいて、n次元空間上の各n次元座標点が各クラスタに含まれる確率を計算する(S21)。CPU11は、次に、全体の尤度を上昇させるように各クラスタの確率分布モデルのパラメータを更新する処理を行う(S22)。CPU11は、次に、EMアルゴリズムの収束判定を行う(S23)。まだ収束していない場合は(S23:NO)、CPU11は、処理をステップS21へ戻す。収束したと判定した場合は(S23:YES)、CPU11は、各クラスタの確率分布モデルのパラメータを記憶部14に記憶させ(S24)、処理を終了する。以上のように、信号分析装置1は、ステップS1〜S8及びステップS21〜S24の処理で、n次元空間上の複数のクラスタのパラメータを生成する。なお、実施の形態1と同様に、CPU11は、ステップS23で、収束判定を行うのではなく、ステップS21及びS22の処理の繰り返し回数を判定する処理を行う形態であってもよい。
11 CPU(演算部)
12 RAM
14 記憶部
2 記録媒体
21 コンピュータプログラム
3 測定装置
Claims (9)
- 一又は複数の信号からなるスペクトルが二次元座標系上の各点について定められたスペクトル分布から、複数の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を求める信号分析装置において、
前記スペクトル分布から、複数の特定信号の強度分布を生成する手段と、
生成した複数の特定信号の強度分布の内でn個(nは2以上の整数)の特定信号の強度分布を記憶する手段と、
前記スペクトル分布に含まれる各点について、n個の特定信号の強度の組み合わせで定義されるn次元空間上のn次元座標点を生成する手段と、
生成した複数のn次元座標点をn次元空間上の位置に応じて分類するための複数のクラスタの数を定める手段と、
各クラスタに含まれるn次元座標点の確率分布モデルを生成する手段と、
生成した複数のn次元座標点の夫々が各クラスタに含まれる確率を計算する処理を行う確率計算手段と、
計算した確率から得られる複数のn次元座標点の分類の尤もらしさがより大きくなるように、各クラスタの確率分布モデルを更新する処理を行うモデル更新手段と、
前記確率計算手段及び前記モデル更新手段に処理を繰り返し実行させる繰り返し手段と、
n次元空間上でのクラスタ間の距離を判定するための閾値を受け付ける受付手段と、
複数のクラスタの中に、n次元空間上での互いの距離が前記閾値に対応する特定の距離以下である複数のクラスタがあるか否かを判定する判定手段と、
互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタがある場合に、互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタを一つのクラスタにまとめる結合手段と、
複数のクラスタ別に、各クラスタに含まれるn次元座標点に対応する点の前記スペクトル分布内での分布を特定することにより、n個の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を生成する分布生成手段と、
前記受付手段、前記判定手段、前記結合手段及び前記分布生成手段を繰り返し実行させることにより前記閾値を調整する調整手段と
を備えることを特徴とする信号分析装置。 - 前記分布生成手段は、複数種類の物質成分の分布に対応する前記複数種類のスペクトルの分布を生成すること
を特徴とする請求項1に記載の信号分析装置。 - 同一の測定対象から測定された複数の信号の強度分布から、前記測定対象に含まれる部分の内で測定される前記複数の信号の強度の組み合わせが異なる複数種類の部分の分布を求める信号分析装置において、
n個の信号の強度分布を記憶する手段と、
前記測定対象中の各点について、n個の信号の強度の組み合わせで定義されるn次元空間上のn次元座標点を生成する手段と、
生成した複数のn次元座標点をn次元空間上の位置に応じて分類するための複数のクラスタの数を定める手段と、
各クラスタに含まれるn次元座標点の確率分布モデルを生成する手段と、
生成した複数のn次元座標点の夫々が各クラスタに含まれる確率を計算する処理を行う確率計算手段と、
計算した確率から得られる複数のn次元座標点の分類の尤もらしさがより大きくなるように、各クラスタの確率分布モデルを更新する処理を行うモデル更新手段と、
前記確率計算手段及び前記モデル更新手段に処理を繰り返し実行させる繰り返し手段と、
n次元空間上でのクラスタ間の距離を判定するための閾値を受け付ける受付手段と、
複数のクラスタの中に、n次元空間上での互いの距離が前記閾値に対応する特定の距離以下である複数のクラスタがあるか否かを判定する判定手段と、
互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタがある場合に、互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタを一つのクラスタにまとめる結合手段と、
複数のクラスタ別に、各クラスタに含まれるn次元座標点に対応する点の前記測定対象内での分布を特定することにより、前記複数種類の部分の前記測定対象中での分布を生成する分布生成手段と、
前記受付手段、前記判定手段、前記結合手段及び前記分布生成手段を繰り返し実行させることにより前記閾値を調整する調整手段と
を備えることを特徴とする信号分析装置。 - 前記分布生成手段は、複数種類の物質成分の分布に対応する、前記複数種類の部分の前記測定対象中での分布を生成すること
を特徴とする請求項3に記載の信号分析装置。 - 前記繰り返し手段は、所定の収束条件が満たされるまで前記確率計算手段及び前記モデル更新手段に処理を繰り返し実行させる処理を行うことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一つに記載の信号分析装置。
- 前記確率計算手段、前記モデル更新手段及び前記繰り返し手段は、EM(Expectation-maximization)アルゴリズムに従った処理を実行することを特徴とする請求項5に記載の信号分析装置。
- クラスタ数の初期値を受け付ける手段を更に備えること
を特徴とする請求項1乃至6の何れか一つに記載の信号分析装置。 - 演算部及び記憶部を備えるコンピュータにより、一又は複数の信号からなるスペクトルが二次元座標系上の各点について定められたスペクトル分布から、複数の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を求める信号分析方法において、
前記スペクトル分布から、複数の特定信号の強度分布を演算部で生成し、
生成した複数の特定信号の強度分布の内でn個の特定信号の強度分布を記憶部で記憶し、
前記スペクトル分布に含まれる各点について、n個の特定信号の強度の組み合わせで定義されるn次元空間上のn次元座標点を演算部で生成し、
生成した複数のn次元座標点をn次元空間上の位置に応じて分類するための複数のクラスタの数を定める処理を演算部で実行し、
各クラスタに含まれるn次元座標点の確率分布モデルを演算部で生成し、
生成した複数のn次元座標点の夫々が各クラスタに含まれる確率を計算する確率計算処理を演算部で実行し、
計算した確率から得られる複数のn次元座標点の分類の尤もらしさがより大きくなるように、各クラスタの確率分布モデルを更新するモデル更新処理を演算部で実行し、
前記確率計算処理及び前記モデル更新処理を演算部で繰り返し実行し、
n次元空間上でのクラスタ間の距離を判定するための閾値を受け付ける受付処理を演算部で実行し、
複数のクラスタの中に、n次元空間上での互いの距離が前記閾値に対応する特定の距離以下である複数のクラスタがあるか否かを判定する判定処理を演算部で実行し、
互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタがある場合に、演算部で、互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタを一つのクラスタにまとめる結合処理を演算部で実行し、
複数のクラスタ別に、各クラスタに含まれるn次元座標点に対応する点の前記スペクトル分布内での分布を特定することにより、n個の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を生成する分布生成処理を演算部で実行し、
前記受付処理、前記判定処理、前記結合処理及び前記分布生成処理を演算部で繰り返し実行することにより前記閾値を調整し、
生成した前記複数種類のスペクトルの分布を記憶部で記憶すること
を特徴とする信号分析方法。 - 一又は複数の信号からなるスペクトルが二次元座標系上の各点について定められたスペクトル分布から、複数の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を求める処理をコンピュータに実行させるコンピュータプログラムにおいて、
コンピュータに、
前記スペクトル分布から、複数の特定信号の強度分布を生成するステップと、
前記スペクトル分布に含まれる各点について、強度分布を生成した複数の特定信号の内でn個の特定信号の強度の組み合わせで定義されるn次元空間上のn次元座標点を生成するステップと、
生成した複数のn次元座標点をn次元空間上の位置に応じて分類するための複数のクラスタの数を定めるステップと、
各クラスタに含まれるn次元座標点の確率分布モデルを生成するステップと、
生成した複数のn次元座標点の夫々が各クラスタに含まれる確率を計算する確率計算処理を行うステップと、
計算した確率から得られる複数のn次元座標点の分類の尤もらしさがより大きくなるように、各クラスタの確率分布モデルを更新するモデル更新処理を行うステップと、
前記確率計算処理及び前記モデル更新処理を繰り返すステップと、
n次元空間上でのクラスタ間の距離を判定するための閾値を受け付ける受付処理を行うステップと、
複数のクラスタの中に、n次元空間上での互いの距離が前記閾値に対応する特定の距離以下である複数のクラスタがあるか否かを判定する判定処理を行うステップと、
互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタがある場合に、互いの距離が前記特定の距離以下である複数のクラスタを一つのクラスタにまとめる結合処理を行うステップと、
複数のクラスタ別に、各クラスタに含まれるn次元座標点に対応する点の前記スペクトル分布内での分布を特定することにより、n個の特定信号の強度の組み合わせが異なる複数種類のスペクトルの分布を生成する分布生成処理を行うステップと、
前記受付処理、前記判定処理、前記結合処理及び前記分布生成処理を繰り返すことにより前記閾値を調整するステップと
を含む処理を実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011179834 | 2011-08-19 | ||
JP2011179834 | 2011-08-19 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013529947A Division JP6112613B2 (ja) | 2011-08-19 | 2012-08-02 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017032591A JP2017032591A (ja) | 2017-02-09 |
JP6355137B2 true JP6355137B2 (ja) | 2018-07-11 |
Family
ID=47746304
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013529947A Active JP6112613B2 (ja) | 2011-08-19 | 2012-08-02 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
JP2016215730A Active JP6355137B2 (ja) | 2011-08-19 | 2016-11-03 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013529947A Active JP6112613B2 (ja) | 2011-08-19 | 2012-08-02 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP6112613B2 (ja) |
TW (1) | TWI595229B (ja) |
WO (1) | WO2013027553A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3021441B1 (fr) * | 2014-05-26 | 2017-09-29 | Snecma | Procede et dispositif d'estimation d'un indice de qualite d'une image 3d d'une piece de materiau composite |
WO2018042752A1 (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | 株式会社堀場製作所 | 信号分析装置、信号分析方法、コンピュータプログラム、測定装置及び測定方法 |
JP6643970B2 (ja) * | 2016-11-07 | 2020-02-12 | 株式会社日立製作所 | 光学装置、光学測定方法 |
WO2018088277A1 (ja) * | 2016-11-14 | 2018-05-17 | 日本電気株式会社 | 予測モデル生成システム、方法およびプログラム |
CN110310161A (zh) * | 2019-07-09 | 2019-10-08 | 西安点告网络科技有限公司 | 特征聚合的方法及装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3512219B2 (ja) * | 1993-11-17 | 2004-03-29 | 松下電器産業株式会社 | データ処理装置とそれを用いた人数計数装置 |
JP3143325B2 (ja) * | 1994-07-06 | 2001-03-07 | 日本電子株式会社 | 分析位置決定方法 |
JP3461208B2 (ja) * | 1994-09-16 | 2003-10-27 | 株式会社堀場製作所 | 試料に含まれる物質の同定方法および分布測定方法 |
JP2006119076A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Jasco Corp | マッピングデータ解析装置及び方法 |
JP5483961B2 (ja) * | 2009-09-02 | 2014-05-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、被写体判別方法、プログラム及び記憶媒体 |
JP5370180B2 (ja) * | 2010-01-26 | 2013-12-18 | 株式会社島津製作所 | X線分析用表示処理装置 |
-
2012
- 2012-08-02 JP JP2013529947A patent/JP6112613B2/ja active Active
- 2012-08-02 WO PCT/JP2012/069719 patent/WO2013027553A1/ja active Application Filing
- 2012-08-14 TW TW101129420A patent/TWI595229B/zh not_active IP Right Cessation
-
2016
- 2016-11-03 JP JP2016215730A patent/JP6355137B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6112613B2 (ja) | 2017-04-12 |
TW201321739A (zh) | 2013-06-01 |
WO2013027553A1 (ja) | 2013-02-28 |
TWI595229B (zh) | 2017-08-11 |
JPWO2013027553A1 (ja) | 2015-03-19 |
JP2017032591A (ja) | 2017-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6355137B2 (ja) | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム | |
Duncan et al. | Photometric redshifts for the next generation of deep radio continuum surveys–II. Gaussian processes and hybrid estimates | |
JP6729455B2 (ja) | 分析データ解析装置及び分析データ解析方法 | |
RU2627953C2 (ru) | Кластерный анализ неизвестных в множестве данных sem-eds | |
US8452716B2 (en) | Kernel-based method and apparatus for classifying materials or chemicals and for quantifying the properties of materials or chemicals in mixtures using spectroscopic data | |
EP2710353B1 (en) | SPECTROSCOPIC APPARATUS AND METHOD of DETERMINING COMPONENTS PRESENT IN A SAMPLE | |
JP5565810B2 (ja) | 質量分析データ処理方法及び装置 | |
CN110657890B (zh) | 对光谱模型的基于交叉验证的校准 | |
Lux et al. | flowLearn: fast and precise identification and quality checking of cell populations in flow cytometry | |
JP6676743B2 (ja) | 分光画像データ処理装置および2次元分光装置 | |
JP5459088B2 (ja) | スペクトル解析方法及びスペクトル解析装置 | |
JP6949034B2 (ja) | 信号分析装置、信号分析方法、コンピュータプログラム、測定装置及び測定方法 | |
Burleigh et al. | Artificial intelligence based analysis of nanoindentation load–displacement data using a genetic algorithm | |
US20230033480A1 (en) | Data processing apparatus and inference method | |
US20220252516A1 (en) | Spectroscopic apparatus and methods for determining components present in a sample | |
US20220317069A1 (en) | Method and system for classification of samples | |
GB2508556A (en) | Signal analyzing apparatus, signal analyzing method, and computer program | |
JP6324201B2 (ja) | 分光データ処理装置、及び分光データ処理方法 | |
KR20100111098A (ko) | 마이크로어레이의 데이터 스팟의 위치를 검출하는 방법 및 장치 | |
US9478020B2 (en) | Method for analysing the effect of a test substance on biological and/or biochemical samples | |
JP7262345B2 (ja) | 物質検査装置、物質検査方法及び物質検査プログラム | |
KR20230012457A (ko) | 플라스마 처리 장치, 데이터 해석 장치 및 반도체 장치 제조 시스템 | |
JP2021197008A (ja) | 情報処理装置、学習方法、および学習プログラム | |
Ihuaenyi et al. | Seeking the Most Informative Design of Test Specimens for Learning Constitutive Models | |
JP2023006003A (ja) | 機械学習プログラム、機械学習方法および情報処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170130 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171019 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171031 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180515 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180606 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6355137 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |