JP6353508B2 - 試験装置 - Google Patents
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Description
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーについて、前記試験データーの連続的なデーターを全て保存するための内部メモリーと、
前記内部メモリーに保存された前記試験データーの連続的なデーターを全て保存するための外部メモリーとを備え、
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続された試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、前記試験制御装置の制御装置によって、前記試験装置本体で試験が行われている時に、定期的に外部メモリーにデーター転送され、記憶されるように構成され、
少なくとも、前回の試験データーを外部メモリーにデーター転送した後に、一定期間が経過していると判断された場合、または、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合のいずれかの場合に、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、外部メモリーに自動的にデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。
また、内部メモリーに保存された試験データーの連続的なデーターを全て保存するための外部メモリーを備えている。
また、少なくとも、前回の試験データーを外部メモリーにデーター転送した後に、一定期間が経過していると判断された場合、または、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合のいずれかの場合に、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、外部メモリーに自動的にデーター転送される。
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続されていることを特徴とする。
また、内部メモリーに保存された試験データーの連続的なデーターを全て保存するための外部メモリーを備えている。
また、少なくとも、前回の試験データーを外部メモリーにデーター転送した後に、一定期間が経過していると判断された場合、または、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合のいずれかの場合に、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、外部メモリーに自動的にデーター転送される。
(1)定期的に外部メモリーにデーター転送する方法
(1−1)定期的に外部メモリーにデーター転送する方法
(1−2)試験完了後に外部メモリーにデーター転送する方法
(2)常時外部メモリーにデーター転送する方法
12 試験装置本体
14 架台フレーム
16 アクチュエーター
18 ピストン
20 変位検出器
22 ガイドロッド
24 ボールネジ
26 クロスヘッド
28 上方フレーム
30 荷重検出器
32 制御装置
34 CRT
36 制御装置本体
38 キーボード
40 マウス
42 外部メモリー
44 アクチュエーター駆動源
100 試験装置
102 試験装置本体
104 制御装置
106 外部メモリー
108 外部解析用パソコン
200 試験装置
202 試験装置本体
204 制御装置
206 内部メモリー
208 外部メモリー
210 外部解析用パソコン
A テストピース
Claims (3)
- 試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーについて、前記試験データーの連続的なデーターを全て保存するための内部メモリーと、
前記内部メモリーに保存された前記試験データーの連続的なデーターを全て保存するための外部メモリーとを備え、
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続された試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、前記試験制御装置の制御装置によって、前記試験装置本体で試験が行われている時に、定期的に外部メモリーにデーター転送され、記憶されるように構成され、
少なくとも、前回の試験データーを外部メモリーにデーター転送した後に、一定期間が経過していると判断された場合、または、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合のいずれかの場合に、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、外部メモリーに自動的にデーター転送されるように構成されていることを特徴とする試験装置。 - 前記外部メモリーが、試験装置に接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項1に記載の試験装置。
- 前記外部メモリーが、試験装置にLANケーブルを介して接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項2に記載の試験装置。
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JP2016217982A JP6353508B2 (ja) | 2016-11-08 | 2016-11-08 | 試験装置 |
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