JP6347962B2

JP6347962B2 - 外観検査装置、外観検査方法、及びプログラム

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Publication number: JP6347962B2
Application number: JP2014023389A
Authority: JP
Inventors: 正人内海; 精二長谷部
Original assignee: WIT CO., LTD.
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Priority date: 2014-02-10
Filing date: 2014-02-10
Publication date: 2018-06-27
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Also published as: JP2015152312A

Description

本発明は、電子部品が実装されたプリント配線基板の実装状態を検査する外観検査装置、外観検査方法、及びプログラムに関し、特に、高密度実装されたプリント配線基板の外観検査に好適な外観検査装置、外観検査方法、及びこの検査方法を実行するプログラムに関する。

従来、プリント配線基板には、電子機器の小型化から、ＩＣ、ＬＳＩ、コンデンサ素子、抵抗素子等の電子部品が高密度実装されている。プリント配線基板に電子部品を高密度実装するにあたっては、例えばガラスエポキシ等のリジットのプリント配線基板にクリーム半田や銅箔のエッチング等によって配線パターンや電子部品が実装されるパッドが形成される。次いで、スクリーン印刷等によってパッドにクリーム半田が印刷された後、自動部品搭載機等によって所定位置に電子部品が搭載され、リフロー半田付け処理が行われる。製造後の検査工程において、外観検査装置によって実装状況や半田付け状況等の外観検査が行われ、また、回路の導通検査、電気的動作の機能確認が行われる。

ここで、電子部品等が表面実装されたプリント配線基板の外観検査では、自動前検査装置による検査と目視による検査が併用され、自動前検査装置による外観検査によって不良と判定されたプリント配線基板について、目視による外観検査を行い、実装不良の態様を確認している。自動で行う前検査装置としては、自動光学検査（ＡＯＩ：Automatic Optical Inspection）装置／自動Ｘ線検査（ＡＸＩ：Automatic X-Ray Inspection）、ＩＣＴ（インサーキットテスター：In-circuit Tester）装置等がある。目視検査より先に行われる自動前検査装置による外観検査は、不良品の流出を防止するため、実装不良とする閾値が高く設定される。このため、自動前検査装置によって不良と評価されたプリント配線基板には、実際には不良品でないものも多く混在しているのが実情である。このため、目視検査では、本当に実装不良があるのか、どのような不良が起きているのか等を目視検査であらためて確認するようにしている。目視による外見検査は、特許文献１に示すような、目視検査を行うための外観目視検査装置を用いて行われている。

外観目視検査装置は、自動前検査装置で実装不良と判定された検査対象のプリント配線基板を支持する支持部と、検査対象のプリント配線基板の要検査箇所を撮像するカメラと、カメラの撮像可能な位置に検査対象のプリント配線基板を位置させる移動機構とを備える。カメラで撮像された画像データは、モニタに表示され、検査者によってモニタ越しに目視検査される。ここで、外観目視検査装置には、プリント配線基板や電子部品の表面の印刷不良等を確認するため、上方からプリント配線基板や電子部品の表面を撮像する平面カメラの他に、半田付け箇所等を斜め上方から撮像する斜めカメラが設けられている。半田付けの箇所は、立体的な箇所であるため、斜め上方から当該箇所を撮像した方が検査者が目視で半田付けの状態を確認しやすいからである。

特開２０１３−１８１９０５号公報特開２０１３−０９２５０８号公報

ところで、電子部品等が表面実装されたプリント配線基板の検査ラインにおいて、目視検査の上流にある自動前検査装置には、光学的又はＸ線を用いた判定を行うため、検査対象のプリント配線基板の平面画像や斜め画像を撮像するカメラが設けられている。したがって、自動前検査工程と目視検査工程とでは、同じプリント配線基板の同じ箇所の平面画像データを、異なる装置で複数回撮像することになる。

また、大量生産が求められる電子機器に用いられるプリント配線基板では、検査工程全体での検査時間の短縮を図りプリント配線基板の生産効率の向上が求められている。このような生産効率が優先される分野では、検査工程全体で重複した処理をなくし、検査時間の短縮が求められる。一方、安全性を重視する機器や装置に用いられるプリント配線基板にあっても、効率化を図りながら一層正確な検査が求められる。

また、自動前検査装置に設けられたカメラで撮像された平面画像や斜め画像は、検査者にとって必ずしも見やすい画像ではなく、目視検査に適した画像（画質）でないことも多い。検査者が目視し易い画像にするには、画像を加工する処理が必要があり、その処理部を、自動前検査装置や外観目視検査装置に追加する必要がある。

本発明は、以上のような課題に鑑みてなされたものであり、プリント配線基板の目視検査の効率化を実現できる外観検査装置及び外観検査方法を提供することを目的とする。

本発明に係る、電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査装置は、検査対象となるプリント配線基板を支持する支持部と、外観前検査装置での前検査結果データ及び前検査画像データが入力される入力部と、上記支持部に支持されたプリント配線基板を撮像するカメラと、上記カメラが撮像したプリント配線基板の実検査画像データを保存するメモリと、上記前検査画像データ及び上記実検査画像データを表示するモニタと、上記外観前検査装置で撮像されたプリント配線基板の要検査箇所の前検査画像データを上記モニタに表示しているときに、上記支持部を移動して上記プリント配線基板の要検査箇所を上記カメラで撮像するコントローラとを備える。上記コントローラは、操作入力があると、上記モニタに、上記メモリから読み出した当該要検査箇所の実検査画像データを表示する。

ここで、例えば、上記カメラは、上記プリント配線基板を斜め上方から撮像する。この場合、上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の要検査箇所を斜め上方から撮像した斜め画像データとなる。また、上記カメラは、上記プリント配線基板の上方から撮像してもよい。この場合、上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の平面画像を上方から撮像した平面画像データとなる。更に、上記カメラは、上記プリント配線基板を斜め上方から撮像するカメラと、上記プリント配線基板の上方から撮像するカメラであってもよい。この場合、上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の要検査箇所を斜め上方から撮像した斜め画像データ及び／又は上記プリント配線基板の平面画像を上方から撮像した平面画像データとなる。

また、本発明に係る、電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査方法は、外部から入力された外観前検査装置で撮像されたプリント配線基板の要検査箇所の前検査画像データをモニタに表示し、上記モニタに上記前検査画像データを表示しているときに、上記要検査箇所を撮像し、実検査画像データをメモリに保存し、上記モニタに、上記メモリから読み出した当該要検査箇所の実検査画像データを表示する。

更に、本発明は、電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査装置にインストールされるプログラムであって、上記外観検査方法を実行する。このプログラムは、ネットワークや半導体メモリ、光ディスクといった可搬性記録媒体を介して、外観検査装置のハードディスク、半導体素子メモリといった記録媒体にインストールされる。例えば、既存の外観検査装置に、本発明のプログラムをインストールすることによって、上記外観検査方法を実現することができる。

本発明によれば、前検査装置が撮像した前検査画像データをモニタに表示し、検査者が前検査画像を検査している間に、要検査箇所をカメラで撮像する。そして、必要に応じて、要検査箇所の実検査画像をモニタに表示し、検査者が改めて検査できるようにする。このように、前検査画像を表示している間に実検査画像を撮像するようにしたので、検査工程の時間を短縮することができる。

プリント配線基板の検査システムを示す図である。外観目視検査装置の斜視図である。外観目視検査装置の正面図である。支持部を示す斜視図である。斜め用のカメラでプリント配線基板を撮像する状態を示す図である。平面用のカメラと斜め用のカメラでプリント配線基板を撮像する状態を示す図である。モニタに、実検査画像データが表示された状態を示す図である。外観目視検査装置の動作を示すフローチャートである。前検査画像データがモニタに複数枚表示される例を示す図である。モニタにサムネイル表示を示す図である。

以下、本発明が適用された外観目視検査装置１０について、図面を参照して説明する。なお、本発明は、以下の実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更が可能であることは勿論である。

この外観目視検査装置１０は、検査システム１に用いられる装置であって、この検査システム１は、図１に示すように、前検査を行うＡＯＩ装置、ＡＸＩ装置、ＩＣＴ装置等の自動前検査装置２と、自動前検査装置２の検査結果データや自動前検査装置２のカメラで撮像した検査箇所の平面画像データ等の前検査画像データを識別番号と関連付けて保存するデータベース３と、自動前検査装置２で不良判定されたプリント配線基板の目視検査を行う外観目視検査装置１０とを備え、バス４を介して相互に接続されている。データベース３では、具体的に、検査したプリント配線基板の識別番号や検査箇所の識別番号に関連付けて、検査を行った箇所の位置データや位置データの示す検査箇所の検査結果データや前検査画像データ等が管理されている。データベース３で管理されている各種データは、バス４を介して、外観目視検査装置１０に読み出される。

この外観目視検査装置１０は、ＩＣやＬＳＩ、抵抗器やコンデンサ等の各種電子部品が表面実装されたプリント配線板１０１の実装状態を目視検査するために用いられるものであり、図２及び図３に示すように、箱状の外筐体２１を備え、コンピュータ、マイコン等のコントローラ１１によって制御される。また、外観目視検査装置１０は、モニタ１２と接続され、検査対象のプリント配線基板１０１の検査箇所の実検査画像となる平面画像や斜め画像をモニタ１２に表示し、検査者による目視検査が可能とされている。また、外観目視検査装置１０は、操作部１３を有する。操作部１３は、操作信号をコントローラ１１に入力し、例えば、モニタ１２に表示する画像データを選択し、また、選択された画像データをモニタ１２に表示する操作を行うことができる。外観目視検査装置１０には、データベース３に格納されたＡＯＩやＡＸＩやＩＣＴの検査結果がインタフェース（以下、単に「Ｉ／Ｆ」という。）１４を介して入力され、カメラ２３で、要検査箇所の撮像ができるようにする。なお、ハードディスクや半導体メモリ等で構成されるプログラムメモリ１５ａには、全体の動作を制御するプログラムや外観目視検査をするためのプログラムが格納され、コントローラ１１は、このプログラムに従って、目視検査を行うため、各部を制御する。

この外観目視検査装置１０は、図２及び図３に示すように、外筐体２１内に、プリント配線基板１０１を支持する支持部２２と、支持部２２に支持されたプリント配線基板１０１の要検査箇所を撮像するカメラ２３と、プリント配線基板１０１の要検査箇所を照射する照射装置２４とを備え、コントローラ１１によって全体が制御されている。コントローラ１１は、例えば、カメラ２３で撮像した画像データをメモリ１５やデータベース３等に保存し、モニタ１２に表示する。

外筐体２１は、正面側が開口され、床面２５上に設けられている支持部６にプリント配線基板１０１が出し入れ可能とされている。また、外筐体２１は、上側にカメラ２３が配設され、また、側方に照射装置２４が配設されている。さらに、外筐体２１は、内部を照明する図示しない照明手段が設けられている。

支持部２２は、プリント配線基板１０１を支持する支持フレーム２６と、支持フレーム２６を床面２５の面内方向において移動させ、プリント配線基板１０１とカメラ２３との相対位置を移動させるステージ機構２７とを備える。

支持フレーム２６は、図４に示すように、プリント配線基板１０１の長辺を支持する一対の長辺フレーム２６ａ，２６ｂと、長辺フレーム２６ａ，２６ｂの各両端側に設けられたコーナブロック２８とを有する。支持フレーム２６は、２対のコーナブロック２８がそれぞれ連結バー２９で連結されている。また、長辺フレーム２６ａ，２６ｂの背面には、長辺プレート３０ａ，３０ｂが配設されている。外筐体２１の前面側に設けられた長辺プレート３０ａには、長手方向に沿ってスリット３１が形成され、プリント配線基板１０１の位置決めを行う固定ピン３２が挿通されている。

長辺フレーム２６ａ，２６ｂは、相対向してプリント配線基板１０１の下面を支持する支持面が張り出し形成され、これによりプリント配線基板１０１の外側縁１０１ａを支持する。また、支持フレーム２６は、外筐体２１の背面側の長辺フレーム２６ｂが、両側のコーナブロックが連結バー２９に沿って前後方向にスライドすることで、外筐体２１の前面側の長辺フレーム２６ａに対して近接離間可能とされ、また、固定ピン３２をスリット３１に沿ってスライドさせることによりプリント配線基板１０１を左側のコーナブロック２８に当接させることで、あらゆるサイズのプリント配線基板１０１を支持することができる。具体的に、支持フレーム２６は、プリント配線基板１０１の電子部品が実装されていない外側縁１０１ａを下側から支持することにより、電子部品が両面実装されたプリント配線基板１０１についても、下面の実装部品に負荷をかけることなく支持することができる。

ステージ機構２７は、支持フレーム２６を一体に支持するＸ軸テーブル２７ａと、Ｘ軸テーブル２７ａをＹ方向へ移動可能に支持するＹ軸テーブル２７ｂとを備える。Ｘ軸テーブル２７ａ及びＹ軸テーブル２７ｂは、制御信号に基づいて動作するモータを備えており、これらモータを駆動することによりＸ軸テーブル２７ａがＸ方向へ、Ｙ軸テーブル２７ｂがＹ方向へ、支持フレーム２６を一体に移動させる。

支持フレーム２６に支持されたプリント配線基板１０１の要検査箇所を撮像するカメラ２３は、外筐体２１の上側で支持されることにより、要検査箇所を斜め上方から撮像する。カメラ２３は、目視検査を目的に要検査箇所を撮像するものであるから、種々の設定（露出、感度、シャッタスピード、ホワイトバランス、コントラスト、明るさ等）が特殊な設定ではなく、通常の写真撮影と同じ設定又はこれに近い設定になっている。カメラ２３で撮像する位置は、特に限定されるものではないが、例えば、カメラ２３は、電子部品の半田付け箇所といった立体的な箇所を撮像するのに好適である。カメラ２３は、図５に示すように、カメラ光軸α１をプリント配線基板１０１に対して斜めに傾けられて斜め用となっている。カメラ２３は、レンズ鏡筒内に所定の撮像レンズ及び撮像素子が組み込まれている。カメラ２３は、装置本体２１ａ内で一体化されることによりカメラユニットを構成する。また、カメラ２３は、カメラ光軸α１を支持フレーム２６に支持されたプリント配線基板１０１の法線方向の軸α０を中心に回転可能とされ、あらゆる方角からプリント配線基板１０１の要検査箇所を撮像できるようになっている。名面画像データを撮像するためのカメラを設けず、斜め用のカメラ２３のみを設けたときには、外観目視検査装置１０の小型化や構成の簡素化を実現することができる。

カメラ２３は、フォーカス機能やズーム機能を備えてもよく、又は、これらの機能を備えず、深い被写界深度を実現するための焦点距離と絞りを有し、パンフォーカス撮影が可能なカメラを用いて撮影を行い、コントローラ１１の処理によって適切な画像サイズで表示するようにすることもできる。

なお、図６に示すように、カメラ光軸を支持フレーム２６に支持されたプリント配線基板１０１の法線方向α２（α０）としプリント配線基板１０１を上方から撮像する平面用カメラ２３ａを設けるようにしてもよい。この平面用カメラ２３ａでは、要検査箇所を、正面から平面画像を撮像することができる。平面用カメラ２３ａで撮像する位置は、特に限定されるものではないが、例えば、プリント配線基板１０１の印刷箇所等を撮像するのに好適である。外観目視検査装置１０では、どの箇所を検査するか等の目的に応じて、図５のように斜め用のカメラ２３のみを設けてもよいし、平面用カメラ２３ａのみを設けてもよいし、図６のように両方設けてもよい。更に、斜め用のカメラは、カメラ２３の他にも、高倍率カメラと低倍率カメラを設け、検査箇所に応じて使い分けることができるようにすることもできる。また、斜め用のカメラを複数設けたときには、プリント配線基板１０１の法線方向α２の光軸周りに、等間隔で配置してもよく又は不等間隔で配置してもよい。

照射装置２４は、可視光レーザを照射する装置であり、支持フレーム２６に支持されたプリント配線基板１０１の検査箇所を指し示すカメラ２３で撮像可能なレーザ光を出射する。具体的に、自動前検査装置２で予めプリント配線基板１０１上に設定された要検査箇所を通過するプリント配線基板１０１の法線方向に拡散する扇状のレーザ光を上方から照射する。なお、照射装置２４は、可視光以外の波長の光を出射するようにしてもよい。

コントローラ１１は、検査者の操作に応じて外観目視検査装置１０の各部を制御することにより目視検査を実行するものであり、例えばコンピュータやマイコン等のユニットで構成され、外観目視検査装置１０に一体的に内蔵されていてもよいし、外付けであってもよい。コントローラ１１は、データベース３から自動前検査装置２で、目視検査の対象となったプリント配線基板１０１の要検査箇所の位置データ等を読み出す。そして、コントローラ１１は、当該位置データに基づき、ステージ機構２７を駆動し支持フレーム２６の位置を調整し、カメラ２３の光軸に、検査対象のプリント配線基板の要検査箇所を一致させる。また、コントローラ１１は、照射装置２４から出射されたレーザ光を検査対象のプリント配線基板の要検査箇所を通過するように照射する。なお、ここで、要検査箇所とは、外観目視検査装置１０による目視検査に先立って行われた自動前検査装置２による検査によって特定された実装不良が疑われる部位である。

コントローラ１１は、カメラ２３，２３ａが撮像した検査箇所の斜め上方から撮像した斜め画像データや上方から撮像した平面画像データ等の実検査画像データをメモリ１５やデータベース３に保存し、また、メモリ１５やデータベース３から画像データを読み出しモニタ１２に表示する。例えば、表示する画像データが斜め画像データである場合、コントローラ１１は、モニタ１２に、上下方向に仮想ラインＬを表示する。この仮想ラインＬは、見かけ上、要検査箇所上をプリント配線基板１０１の法線方向に向かってを通過するようにモニタ１２に表示される。これにより、モニタ１２は、実検査画像データである斜め画像データ中に表示される上下方向の仮想ラインＬとレーザ照射装置８の扇状光１２ａとの交点を、モニタ１２に表示される実際に検査を行う検査ポイントＰとして指し示すことができる。

コントローラ１１は、支持フレーム２６に支持されたプリント配線基板１０１上に設定された要検査箇所の位置データに基づいて、照射装置２４で扇状光１２ａを、要検査箇所を通過するように照射し、また、カメラ２３で光軸がプリント配線基板１０１上に設定された電子部品の要検査箇所に一致するように電子部品を撮像する。

次に、以上のように構成された外観目視検査装置１０の具体的動作を図８を参照して説明する。自動前検査装置２は、ステップＳ１において、検査対象となるプリント配線基板１０１の電子部品の実装箇所（半田付け箇所）、印刷箇所等を上方又は斜め上方から撮像し、ステップＳ２において、その判定結果をデータベース３に保存する。具体的に、自動前検査装置２は、予め、検査対象となっているプリント配線基板１０１の検査箇所を示す位置データを有しており、プログラムに従って、順次、例えば近い順に、位置データの示す位置の平面画像、斜め画像等の前検査画像を撮像すると共に、そのＡＯＩ／ＡＸＩ／ＩＣＴの検査結果をデータベース３に保存する。データベース３には、検査を行ったプリント配線基板１０１の識別番号や検査箇所を特定する識別番号や位置データや検査結果のデータが相互に関連づけられて格納される。検査結果としては、検査箇所の良／不良の結果がデータベース３に格納される。

外観目視検査装置１０では、ステップＳ１１において、自動前検査装置２で要検査と判定された箇所を含むプリント配線基板１０１が抽出され、要検査対象のプリント配線基板１０１が支持部２２にセットされる。なお、支持部２２への要検査対象となったプリント配線基板１０１のセットは、手動であってもよいし、搬送ロボットを用いて自動で行ってもよい。ステップＳ１２において、コントローラ１１は、データベース３にアクセスし、データベース３からから要検査対象となったプリント配線基板１０１の検査結果のデータや当該検査箇所の平面画像、斜め画像等の前検査画像データ等を取り込む。

ステップＳ１３において、コントローラ１１は、モニタ１２に、データベース３から取り込んだ前検査画像データを表示する。例えば、コントローラ１１は、図９に示すように、モニタ１２２の画面の左右に、２枚の前検査画像を表示し、左右交互に前検査画像を切り換える。なお、表示される画像データの枚数は、２枚に限定されるものではなく、１枚若しくは３枚以上であってもよい。また、モニタ１２に表示する前検査画像データは、プログラムによって予め決められた所定箇所の画像データであってもよく、必ずしも自動前検査装置２で不良判定された画像データだけに限定されるものでなない。

これと同時に、すなわち並行して、コントローラ１１は、ステップＳ１４において、モニタ１２に表示している要検査箇所をカメラ２３，２３ａで撮像すべく、ステージ機構２７やカメラ２３を移動する。そして、コントローラ１１は、カメラ２３，２３ａによって、実検査画像データとなる斜め画像データや平面画像データを撮像し、撮像した実検査画像データをモニタ１２に表示している前検査画像データに関連付けてメモリ１５やデータベース３に保存する。例えば、電子部品の半田付け箇所といった立体的な箇所を撮像する場合には、斜め用カメラ２３で要検査箇所を撮像し、プリント配線基板１０１の印刷箇所等を撮像する場合、正面用カメラ２３ａで要検査箇所を撮像する。ここで、検査者は、モニタ１２に表示された要検査箇所の前検査画像データを見ながら、当該箇所の一次目視検査をする。なお、撮像する実検査画像データは、プログラムによって予め決められた所定箇所の画像データであれば、モニタ１２に表示した前検査画像データと同じ位置を撮像した画像データに限定されるものではない。

ステップＳ１５において、コントローラ１１は、モニタ１２に現在表示している自動前検査装置２の前検査画像データに対応する外観目視検査装置１０が撮像した実検査画像データを表示する操作信号が入力されたかを判断する。そして、入力があったとき、ステップＳ１６において、メモリ１５から実検査画像データを読み出し、モニタ１２に表示する。なお、実体検査画像データは、プログラムの制御に従って、検査者の操作がなくても自動的にモニタ１２に表示するようにしてもよい。検査者は、一次目視検査で当該表示箇所が不良であるかどうかの判断をしかねるとき等に実検査画像データの表示操作を行う。そして、検査者は、モニタ１２に表示された実検査画像データを見ながら、不良かどうかを判断する。

二次目視検査でも検査者が判断をしかねるとき、操作信号が入力されると、コントローラ１１は、ステップＳ１７において、モニタ１２に表示している実検査画像データを改めてリアルタイムで撮像すべく、ステージ機構２７やカメラ２３を移動する。そして、コントローラ１１は、カメラ２３，２３ａによって、改めて実画像データを撮像し、モニタ１２に表示する。これにより、検査者は、当該検査箇所が不良かどうかの最終的な判断をすることができる。

以上のような外観目視検査装置１０では、ステップＳ１３において、自動前検査装置１０で要検査となったプリント配線基板１００の検査箇所を改めて撮像しモニタ１２に表示するのではなく、先ずは、自動前検査装置が撮像した前検査画像データをモニタ１２に表示するようにし、表示されている前検査画像データを見ながら一次検査を行っている間に、改めて検査画像を撮像するようにしている。そして、必要に応じて、カメラ２３，２３ａで撮像した実検査画像データをモニタ１２に表示し、検査者が改めて検査できるようにする。このように、前検査画像データを表示している間に、実検査画像を撮像するようにしたので、検査工程の時間を短縮することができる。

なお、ステップＳ１３の前検査画像データを表示するステップでは、モニタ１２に、検査中のプリント配線基板１０１の要検査箇所を１カ所ずつ表示するようにしてもよいが、モニタ１２に、一度に、複数の要検査箇所の前検査画像データをサムネイル表示し、一次検査を行っている間に、モニタ１２に表示している複数の要検査箇所の実検査画像データを順次撮像するようにしてもよい。

このような場合、例えば、モニタ１２をタッチパネルで構成し、図１０のように、複数の前検査画像データを表示することができる。例えば、コントローラ１１は、モニタ１２に、検査対象となっているプリント配線基板１０１の自動前検査装置２で要検査箇所となった箇所の前検査画像データを、例えばここでは４枚をサムネイル表示する。サムネイル表示される各画像は、自動前検査装置２で撮像された前検査画像データであって、データベース３から取り込んだ画像データである。検査者は、各前検査画像データを目視して、一次目視検査を行う。検査者が一次目視検査を行っているときに、コントローラ１１は、カメラ２３で支持部２２にセットされたプリント配線基板１０１の要検査箇所の実検査画像を撮像し、画像データをメモリ１５に保存する。検査者がモニタ１２にサムネイル表示されている一の前検査画像データをタッチする又は操作部１３を用いて選択決定すると、コントローラ１１は、メモリ１５より選択された実検査画像データを読み出し、実検査画像データを、拡大又は標準サイズでモニタ１２に表示する。

モニタ１２には、検査対象となっているプリント配線基板１０１の要検査箇所を全て表示する。検査対象となっているプリント配線基板１０１の前検査画像データには、電子部品や基板表面の印刷不良を確認するための平面画像データもあるし（図９中No.2,No.3）、斜め画像データの方が検査のし易い半田付け箇所もある（図９中No.1,No.4）。コントローラ１１は、データベース３において前検査画像データに関連付けられている識別番号を参照して、半田付け箇所といった斜め画像データが必要な箇所をカメラ２３で撮像し、この実検査画像データを前検査画像データと関連付けてメモリ１５やデータベース３に保存する。また、印刷箇所といった平面画像データが必要な箇所をカメラ２３ａで撮像し、実検査画像データを前検査画像データと関連付けてメモリ１５やデータベース３に保存する。

１検査システム、２自動前検査装置、３データベース、４バス、１０外観目視検査装置、１１コントローラ、１２モニタ、１２ａ扇状光、１３操作部、１４Ｉ／Ｆ、１５メモリ、２１外筐体、２１ａ装置本体、２２支持部、２３カメラ、２３ａ平面用カメラ、２４照射装置、２５床面、２６支持フレーム、２６ａ，２６ｂ長辺フレーム、２７ステージ機構、２７ａＸ軸テーブル、２７ｂＹ軸テーブル、２８コーナブロック、２９連結バー、３０ａ長辺プレート、３０ａ，３０ｂ長辺プレート、３１スリット、３２固定ピン、１０１プリント配線基板、１０１ａ外側縁、Ｌ仮想ライン、Ｐ検査ポイント、α１カメラ光軸、α０法線方向の軸

Claims

電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査装置において、
検査対象となるプリント配線基板を支持する支持部と、
外観前検査装置での前検査結果データ及び前検査画像データが入力される入力部と、
上記支持部に支持されたプリント配線基板を撮像するカメラと、
上記カメラが撮像したプリント配線基板の実検査画像データを保存するメモリと、
上記前検査画像データ及び上記実検査画像データを表示するモニタと、
上記外観前検査装置で撮像されたプリント配線基板の要検査箇所の前検査画像データを上記モニタに表示しているときに、上記支持部を移動して上記プリント配線基板の要検査箇所を上記カメラで撮像するコントローラと
を備える外観検査装置。
上記コントローラは、操作入力があると、上記モニタに、上記メモリから読み出した当該要検査箇所の実検査画像データを表示する
請求項１記載の外観検査装置。
上記カメラは、上記プリント配線基板を斜め上方から撮像し、
上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の要検査箇所を斜め上方から撮像した斜め画像データである
請求項１又は請求項２記載の外観検査装置。
上記カメラは、上記プリント配線基板の上方から撮像し、
上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の平面画像を上方から撮像した平面画像データである
請求項１又は請求項２記載の外観検査装置。
上記カメラは、上記プリント配線基板を斜め上方から撮像するカメラと、上記プリント配線基板の上方から撮像するカメラであり、
上記実検査画像データは、上記プリント配線基板の要検査箇所を斜め上方から撮像した斜め画像データ及び／又は上記プリント配線基板の平面画像を上方から撮像した平面画像データである
請求項１又は請求項２記載の外観検査装置。
複数の要検査箇所の前検査画像データを上記モニタにサムネイル表示しているときに、上記複数の要検査箇所を上記カメラで順次撮像する請求項１又は２に記載の外観検査装置。
電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査方法において、
外部から入力された外観前検査装置で撮像されたプリント配線基板の要検査箇所の前検査画像データをモニタに表示し、
上記モニタに上記前検査画像データを表示しているときに、上記要検査箇所を撮像し、実検査画像データをメモリに保存し、
上記モニタに、上記メモリから読み出した当該要検査箇所の実検査画像データを表示する外観検査方法。
電子部品が実装されたプリント配線基板の外観を検査する外観検査装置にインストールされるプログラムであって、
上記プログラムは、外部から入力された外観前検査装置で撮像されたプリント配線基板の要検査箇所の前検査画像データをモニタに表示し、上記モニタに上記前検査画像データを表示しているときに、上記要検査箇所を撮像し、実検査画像データをメモリに保存し、上記モニタに、上記メモリから読み出した当該要検査箇所の実検査画像データを表示する外観検査方法を実行するプログラム。