JP6343406B1 - 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池 - Google Patents

光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池 Download PDF

Info

Publication number
JP6343406B1
JP6343406B1 JP2017562383A JP2017562383A JP6343406B1 JP 6343406 B1 JP6343406 B1 JP 6343406B1 JP 2017562383 A JP2017562383 A JP 2017562383A JP 2017562383 A JP2017562383 A JP 2017562383A JP 6343406 B1 JP6343406 B1 JP 6343406B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
less
light absorption
absorption layer
quantum dot
bulk semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017562383A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2019058448A1 (ja
Inventor
浩司 細川
浩司 細川
澤田 拓也
拓也 澤田
明徳 小此木
明徳 小此木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kao Corp
Original Assignee
Kao Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kao Corp filed Critical Kao Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP6343406B1 publication Critical patent/JP6343406B1/ja
Publication of JPWO2019058448A1 publication Critical patent/JPWO2019058448A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/80Constructional details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035209Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures
    • H01L31/035218Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures the quantum structure being quantum dots
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0324Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIVBVI or AIIBIVCVI chalcogenide compounds, e.g. Pb Sn Te
    • H01L31/0325Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIVBVI or AIIBIVCVI chalcogenide compounds, e.g. Pb Sn Te characterised by the doping material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/50Organic perovskites; Hybrid organic-inorganic perovskites [HOIP], e.g. CH3NH3PbI3
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L2031/0344Organic materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/331Nanoparticles used in non-emissive layers, e.g. in packaging layer
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/10Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
    • H10K30/15Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
    • H10K30/151Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2 the wide bandgap semiconductor comprising titanium oxide, e.g. TiO2
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/50Photovoltaic [PV] devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/811Of specified metal oxide composition, e.g. conducting or semiconducting compositions such as ITO, ZnOx
    • Y10S977/812Perovskites and superconducting composition, e.g. BaxSr1-xTiO3

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

本発明は、2段階光吸収の量子収率に優れる光電変換素子及び中間バンド型太陽電池を形成するための光吸収層、当該光吸収層を有する光電変換素子及び中間バンド型太陽電池に関する。また本発明は、大きなコストダウンやフレキシブル基板用途への拡大などが期待できる、「ウェットプロセス」を用いた中間バンドを有する光吸収層の製造方法に関する。本発明の光吸収層は、2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する。

Description

本発明は、中間バンドを有する光吸収層、該光吸収層を有する光電変換素子、及び該光電変換素子を有する中間バンド型太陽電池に関する。
光エネルギーを電気エネルギーに変える光電変換素子は、太陽電池、光センサー、複写機などに利用されている。特に、環境・エネルギー問題の観点から、無尽蔵のクリーンエネルギーである太陽光を利用する光電変換素子(太陽電池)が注目されている。
シリコン太陽電池に代表される単接合太陽電池は、バンドギャップが単一であるため、Shockley−Queisser理論限界(31%)(Journal of Applied Physics,32,510(1961))の光電変換効率を超えることができない。この理論限界を超える手段として、中間バンド型太陽電池が提案されている(Physical Review Letters,78,5014(1997))。バルク(マトリクス)半導体中にナノサイズ半導体(量子ドット)を高密度に規則配列することにより、バルク半導体のバンドギャップ内に量子ドット間相互作用に起因する「中間バンド」が形成される。その結果、バルク半導体の価電子帯から伝導帯への光励起以外に、バルク半導体の価電子帯から「中間バンド」への光励起と「中間バンド」からバルク半導体の伝導帯への光励起(2段階光吸収)が可能となり、複数の太陽光エネルギーを利用できるため光電変換効率の向上が期待されている。しかしながら、中間バンド型太陽電池は、分子線エピタキシー(MBE)法などのドライプロセスにより製造されるため、高コストであるとともに、使用できる元素がGaAs(バンドギャップエネルギー1.4eV)などに限定されるため、バンド構造の最適化が困難であり、光電変換効率の向上に限界がある。
これに対し、ウェットプロセスを用いた中間バンド型太陽電池の製造方法が提案されている。例えば、p型のアモルファスシリコン層に、水素化ポリシランをデカヒドロナフタレンに溶かした溶液と、結晶性PbS微粒子をトルエンに分散させた溶液の混合溶液を塗布し、乾燥後に熱処理を施すことにより、結晶性PbS微粒子を含有するi型のアモルファスシリコン薄膜と結晶性PbS微粒子を含有しないi型のアモルファスシリコン薄膜とを形成する工程を含む光電変換装置の製造方法が提案されている(特開2010−258194号)。
また、アモルファスIGZOにより構成されたマトリクス層中に量子ドットを含有する光吸収層の一方にN型半導体層が設けられ、他方にP型半導体層が設けられており、前記P型半導体層は前記光吸収層とは反対側に第1の電極層が設けられ、前記N型半導体層は前記光吸収層とは反対側に第2の電極層が設けられている太陽電池の製造方法であって、前記光吸収層を形成する工程は、液状の第1のIGZO前駆体と、前記量子ドットを構成する粒子が溶媒に分散された粒子分散溶液とが混合されてなる混合物を、前記N型半導体層または前記P型半導体層に塗布または印刷する工程と、前記混合物に含まれる溶媒を蒸発させる加熱処理工程とを有することを特徴とする太陽電池の製造方法が提案されている(特開2011−249579号)。
しかしながらいずれの場合も、バルク半導体と量子ドットとのエネルギー準位(バンド構造)の組み合わせが悪く、光電変換効率の向上に限界があると予想される。光電変換効率を向上するためには、2段階光吸収の量子収率を向上する必要がある。
本発明は、2段階光吸収の量子収率に優れる光電変換素子及び中間バンド型太陽電池を形成するための光吸収層、当該光吸収層を有する光電変換素子及び中間バンド型太陽電池に関する。また本発明は、大きなコストダウンやフレキシブル基板用途への拡大などが期待できる、「ウェットプロセス」を用いた中間バンドを有する光吸収層の製造方法に関する。
本発明者らは、特定のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中に量子ドットを分散させて中間バンドを形成した光吸収層を用いることにより、光電変換素子の2段階光吸収の量子収率が向上することを見出した。
すなわち、本発明は、2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する光吸収層、に関する。
2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体(例えば、CHNHPbBr)、及び量子ドット(例えば、PbS量子ドット)を光吸収層の形成材料として用いることにより、バルク半導体が吸収できる短波長領域の光に加えて、量子ドットが吸収できる近赤外などの長波長領域も含む幅広い波長領域の光を吸収できるため、幅広い波長領域において光電変換機能を有する光電変換素子を得ることができる。しかも、バルク半導体のマトリクス中に量子ドットが分散されているため、好ましくは高密度で分散されているため、量子ドット間の相互作用により、バルク半導体のバンドギャップ内に中間バンドが形成され、例えば、バルク半導体の価電子帯から中間バンドへの光励起と、中間バンドからバルク半導体の伝導帯への光励起との2段階光吸収が可能となるため光電変換効率が向上する。
本発明の光吸収層を用いれば、2段階光吸収の量子収率に優れる光電変換素子及び中間バンド型太陽電池を得ることができる。
また本発明者らは、特定の配位子を有する量子ドット固体を利用することにより、ウェットプロセスで中間バンドを有する光吸収層を製造する方法を見出した。
すなわち、本発明は、次の工程1、工程2及び工程3を含む、バルク半導体のマトリクス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する光吸収層の製造方法、に関する。
(工程1)有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子を、ハロゲン元素含有物質へ配位子交換して、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程
(工程2)工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合して分散液を得る工程
(工程3)工程2で得られた分散液から光吸収層を得る工程
本発明の光電変換素子の構造の一例を示す概略断面図である。
発明の詳細な説明
<光吸収層>
本発明の光吸収層は、光吸収剤として、2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体、及び前記バルク半導体のマトリックス中に分散された量子ドットを含有する。なお、本発明の光吸収層は、本発明の効果を損なわない範囲で前記以外の光吸収剤を含有していてもよい。
本発明の光吸収層は、中間バンドを有している。中間バンドとは、バルク半導体のバンドギャップ内に量子ドット間の相互作用により形成されるエネルギー準位であり、量子ドットの伝導帯下端近傍及び/又は価電子帯上端近傍のエネルギー位置に存在する。中間バンドは、例えば、バルク半導体のマトリクス中に量子ドットを高密度に規則配列することにより形成される。バルク半導体のバンドギャップ内に中間バンドが存在すると、例えば、バルク半導体の価電子帯から中間バンドへ光励起した電子が、更に中間バンドからバルク半導体の伝導帯へ光励起するといった2段階光吸収が起こる。従って、中間バンドの存在は、2段階光吸収の量子収率、すなわち、実施例に記載の外部量子収率差を測定することにより確認することができる。
本発明において、光吸収層の500nmにおける外部量子収率差は、バルク半導体の価電子帯から伝導帯へ光励起した電子が、中間バンドへ移動後、中間バンドからバルク半導体の伝導帯へ2段階光吸収した量子収率に相当すると推察される。光吸収層の500nmにおける外部量子収率差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.005%以上、より好ましくは0.01%以上、更に好ましくは0.02%以上である。
本発明において、光吸収層の600nmにおける外部量子収率差は、バルク半導体の価電子帯から中間バンドへ光励起した電子が、更にバルク半導体の伝導帯へ2段階光吸収した量子収率に相当すると推察される。光吸収層の600nmにおける外部量子収率差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.004%以上、より好ましくは0.009%以上、更に好ましくは0.012%以上である。
本発明において、光吸収層の900nmにおける外部量子収率差は、量子ドットの価電子帯から中間バンドへ光励起した電子が、更にバルク半導体の伝導帯へ2段階光吸収した量子収率に相当すると推察される。光吸収層の900nmにおける外部量子収率差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.002%以上、より好ましくは0.003%以上、更に好ましくは0.004%以上である。
バルク半導体の価電子帯と中間バンドとの間のエネルギー差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは1.1eV以上、より好ましくは1.2eV以上、更に好ましくは1.3eV以上であり、好ましくは2.0eV以下、より好ましくは1.8eV以下、更に好ましくは1.6eV以下である。
また、中間バンドとバルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.5eV以上、より好ましくは0.6eV以上、更に好ましくは0.7eV以上であり、好ましくは2.0eV以下、より好ましくは1.5eV以下、更に好ましくは1.0eV以下である。
バルク半導体は、2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するものであれば特に制限されず、有機物でも無機物でも有機−無機複合化合物でも良いが、光電変換効率、耐久性、コスト、製造容易性の観点から、好ましくは無機物又は有機−無機複合化合物、より好ましくは有機−無機複合化合物である。同様の観点から、バルク半導体は、好ましくはペロブスカイト化合物、より好ましくは有機−無機複合ペロブスカイト化合物である。バルク半導体は、1種単独で用いてもよく、バンドギャップエネルギーが異なる2種以上を併用してもよい。
前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーは、光電変換効率(電圧)を向上させる観点から、好ましくは2.1eV以上、より好ましくは2.2eV以上であり、光電変換効率(電流)を向上させる観点から、好ましくは2.9eV以下、より好ましくは2.8eV以下である。なお、バルク半導体及び量子ドットのバンドギャップエネルギーは、後述する実施例に記載の方法で、25℃で測定した吸収スペクトルから求めることができる。吸収スペクトルから求めたバンドギャップエネルギーに対応する波長を吸収端波長という。
前記ペロブスカイト化合物は、ペロブスカイト型結晶構造を有する化合物であり、耐久性(耐湿性)及び光電変換効率を向上させる観点から、2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するものを用いる。ペロブスカイト化合物は、1種単独で用いてもよく、バンドギャップエネルギーが異なる2種以上を併用してもよい。
前記ペロブスカイト化合物のバンドギャップエネルギーの好ましい態様は、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーの好ましい態様と同様である。
前記ペロブスカイト化合物は、前記バンドギャップエネルギーを有するものであればよく、公知のものを特に制限なく使用できるが、好ましくは下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、耐久性と光電変換効率とを両立する観点から、より好ましくは下記一般式(1)で表される化合物である。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
前記Rは1価のカチオンであり、例えば、周期表第一族元素のカチオン、及び有機カチオンが挙げられる。周期表第一族元素のカチオンとしては、例えば、Li、Na、K、及びCsが挙げられる。有機カチオンとしては、例えば、置換基を有していてもよいアンモニウムイオン、及び置換基を有していてもよいホスホニウムイオンが挙げられる。置換基に特段の制限はない。置換基を有していてもよいアンモニウムイオンとしては、例えば、アルキルアンモニウムイオン、ホルムアミジニウムイオン及びアリールアンモニウムイオンが挙げられ、耐久性と光電変換効率とを両立する観点から、好ましくはアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より好ましくはモノアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、更に好ましくはメチルアンモニウムイオン、エチルアンモニウムイオン、ブチルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より更に好ましくはメチルアンモニウムイオンである。
前記R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、R、R、及びRのいずれかまたは全てが同一でも良い。例えば、周期表第一族元素のカチオン、及び有機カチオンが挙げられる。周期表第一族元素のカチオンとしては、例えば、Li、Na、K、及びCsが挙げられる。有機カチオンとしては、例えば、置換基を有していてもよいアンモニウムイオン、及び置換基を有していてもよいホスホニウムイオンが挙げられる。置換基に特段の制限はない。置換基を有していてもよいアンモニウムイオンとしては、例えば、アルキルアンモニウムイオン、ホルムアミジニウムイオン及びアリールアンモニウムイオンが挙げられ、耐久性と光電変換効率とを両立する観点から、好ましくはアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より好ましくはモノアルキルアンモニウムイオンであり、更に好ましくはメチルアンモニウムイオン、エチルアンモニウムイオン、ブチルアンモニウムイオン、ヘキシルアンモニウムイオン、オクチルアンモニウムイオン、デシルアンモニウムイオン、ドデシルアンモニウムイオン、テトラデシルアンモニウムイオン、ヘキサデシルアンモニウムイオン、及びオクタデシルアンモニウムイオンから選ばれる1種以上である。
前記nは1以上10以下の整数であり、耐久性と光電変換効率とを両立する観点から、好ましくは1以上4以下である。
前記Mは2価の金属カチオンであり、例えば、Pb2+、Sn2+、Hg2+、Cd2+、Zn2+、Mn2+、Cu2+、Ni2+、Fe2+、Co2+、Pd2+、Ge2+、Y2+、及びEu2+などが挙げられる。前記Mは、耐久性(耐湿性)及び光電変換効率に優れる観点から、好ましくはPb2+、Sn2+、又はGe2+であり、より好ましくはPb2+、又はSn2+であり、更に好ましくはPb2+である。
前記Xはハロゲンアニオンであり、例えば、フッ素アニオン、塩素アニオン、臭素アニオン、及びヨウ素アニオンが挙げられる。前記Xは、目的とするバンドギャップエネルギーを有するペロブスカイト化合物を得るために、好ましくはフッ素アニオン、塩素アニオン、又は臭素アニオンであり、より好ましくは塩素アニオン、又は臭素アニオンであり、更に好ましくは臭素アニオンである。
2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有する上記一般式(1)で表される化合物としては、例えば、CHNHPbCl、CHNHPbBr、CHNHPbBrI、CHNHSnCl、CHNHSnBr、CH(=NH)NHPbCl、及びCH(=NH)NHPbBrなどが挙げられる。これらのうち、耐久性と光電変換効率とを両立する観点から、好ましくはCHNHPbBr、CH(=NH)NHPbBrであり、より好ましくはCHNHPbBrである。
2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有する上記一般式(2)で表される化合物としては、例えば、(CNHPbI、(C13NHPbI、(C17NHPbI、(C1021NHPbI、(C1225NHPbI、(CNH(CHNH)Pb、(C13NH(CHNH)Pb、(C17NH(CHNH)Pb、(C1021NH(CHNH)Pb、(C1225NH(CHNH)Pb、(CNH(CHNHPb10、(C13NH(CHNHPb10、(C17NH(CHNHPb10、(C1021NH(CHNHPb10、(C1225NH(CHNHPb10、(CNHPbBr、(C13NHPbBr、(C17NHPbBr、(C1021NHPbBr、(CNH(CHNH)PbBr、(C13NH(CHNH)PbBr、(C17NH(CHNH)PbBr、(C1021NH(CHNH)PbBr、(C1225NH(CHNH)PbBr、(CNH(CHNHPbBr10、(C13NH(CHNHPbBr10、(C17NH(CHNHPbBr10、(C1021NH(CHNHPbBr10、(C1225NH(CHNHPbBr10、(CNH(CHNHPbCl10、(C13NH(CHNHPbCl10、(C17NH(CHNHPbCl10、(C1021NH(CHNHPbCl10、及び(C1225NH(CHNHPbCl10などが挙げられる。
光吸収層のペロブスカイト化合物の結晶子径は、光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは10nm以上、より好ましくは20nm以上、更に好ましくは30nm以上であり、同様の観点から、好ましくは1000nm以下である。なお、光吸収層の100nm以下の範囲の結晶子径は、後述する実施例に記載の方法で測定することができる。また、100nmを超える範囲の結晶子径は、後述する実施例に記載の方法等で測定することはできないが、光吸収層の厚さを超えることはない。
ペロブスカイト化合物は、例えば、後述のようにペロブスカイト化合物の前駆体から製造することができる。ペロブスカイト化合物の前駆体としては、例えば、ペロブスカイト化合物が前記一般式(1)で表される化合物の場合、MXで表される化合物と、RXで表される化合物との組合せが挙げられる。また、ペロブスカイト化合物が前記一般式(2)で表される化合物の場合、MXで表される化合物と、RXで表される化合物、RXで表される化合物及びRXで表される化合物から選ばれる1種以上との組合せが挙げられる。
光吸収層のペロブスカイト化合物は、例えば、元素分析、赤外(IR)スペクトル、ラマンスペクトル、核磁気共鳴(NMR)スペクトル、X線回折パターン、吸収スペクトル、発光スペクトル、電子顕微鏡観察、及び電子線回折などの常法により同定することができる。
量子ドットとは、粒径が約20nm以下の、結晶構造を有する無機ナノ粒子であり、量子サイズ効果の発現により、バルク半導体とは異なる物性を示すものである。前記量子ドットは公知のものを特に制限なく用いることができるが、前記バルク半導体が有しないバンドギャップエネルギーを補完して、近赤外光領域の光電変換効率を向上させる観点から、0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギーを有するものを用いることが好ましい。量子ドットは、1種単独で用いてもよく、バンドギャップエネルギーが異なる2種以上を併用してもよい。なお、バンドギャップエネルギーの異なる2種以上のバルク半導体を用いる場合、量子ドットのバンドギャップエネルギーの前記上限である「バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギー」とは、2種以上のバルク半導体の有するバンドギャップエネルギーの最大値未満のバンドギャップエネルギーのことである。以下、特に断らない限り、量子ドットの好ましい態様は、光吸収層とその原料とに共通の好ましい態様である。
前記量子ドットのバンドギャップエネルギーは、光電変換効率(電圧)を向上させる観点から、好ましくは0.8eV以上、より好ましくは0.9eV以上、更に好ましくは1.0eV以上であり、光電変換効率(電流)を向上させる観点から、好ましくは1.6eV以下、より好ましくは1.5eV以下、更に好ましくは1.4eV以下、より更に好ましくは1.3eV以下である。
前記量子ドットについては、例えば、電子顕微鏡観察、電子線回折、及びX線回折パターンなどにより量子ドットの粒径及び種類が決まれば、粒径とバンドギャップエネルギーとの相関(例えば、ACS Nano,2014,8,6363−6371)から、バンドギャップエネルギーを算出することもできる。
前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.4eV以上、より好ましくは0.8eV以上、更に好ましくは1.0eV以上、より更に好ましくは1.2eV以上であり、好ましくは2.8eV以下、より好ましくは2.0eV以下、更に好ましくは1.6eV以下、より更に好ましくは1.4eV以下である。
前記量子ドットの粒径は、量子効果を発現する粒径であれば特に制限されるものではないが、分散性、構造安定性及び光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは1nm以上、より好ましくは2nm以上、更に好ましくは3nm以上であり、好ましくは20nm以下、より好ましくは10nm以下、更に好ましくは5nm以下である。前記量子ドットの粒径は、XRD(X線回折)の結晶子径解析や透過型電子顕微鏡観察などの常法によって測定することができる。
前記バンドギャップエネルギーを有する量子ドットとしては、例えば、金属酸化物、金属カルコゲナイド(例えば、硫化物、セレン化物、及びテルル化物など)が挙げられ、具体的には、PbS、PbSe、PbTe、CdS、CdSe、CdTe、Sb23、Bi23、Ag2S、Ag2Se、Ag2Te、Au2S、Au2Se、Au2Te、Cu2S、Cu2Se、Cu2Te、Fe2S、Fe2Se、Fe2Te、In23、SnS、SnSe、SnTe、CuInS2、CuInSe2、CuInTe2、EuS、EuSe、及びEuTeなどが挙げられる。前記量子ドットは、耐久性(耐酸化性)及び光電変換効率に優れる観点から、好ましくはPb元素を含み、より好ましくはPbS又はPbSeを含み、更に好ましくはPbSを含む。
前記量子ドットは、光吸収層及び分散液中における分散性、製造容易性、コスト、優れた性能発現などの観点から、好ましくはハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット、又は有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットを含んでも良い。
前記配位子である有機化合物(以下、有機配位子ともよぶ)としては、例えば、カルボキシ基含有化合物、アミノ基含有化合物、チオール基含有化合物、及びホスフィノ基含有化合物などが挙げられる。
カルボキシ基含有化合物としては、例えば、オレイン酸、ステアリン酸、パルミチン酸、ミリスチン酸、ラウリン酸、及びカプリン酸などが挙げられる。
アミノ基含有化合物としては、例えば、オレイルアミン、ステアリルアミン、パルミチルアミン、ミリスチルアミン、ラウリルアミン、カプリルアミン、オクチルアミン、ヘキシルアミン、及びブチルアミンなどが挙げられる。
チオール基含有化合物としては、例えば、エタンチオール、エタンジチオール、ベンゼンチオール、ベンゼンジチオール、デカンチオール、デカンジチオール、及びメルカプトプロピオン酸などが挙げられる。
ホスフィノ基含有化合物としては、例えば、トリオクチルホスフィン、及びトリブチルホスフィンなどが挙げられる。
前記有機配位子は、量子ドットの製造容易性、分散安定性、汎用性、コスト、優れた性能発現などの観点から、好ましくはカルボキシ基含有化合物又はアミノ基含有化合物、より好ましくはカルボキシ基含有化合物、更に好ましくは炭素数8以上の脂肪酸、より更に好ましくは炭素数12以上の脂肪酸、より更に好ましくはオレイン酸である。
量子ドットに有機配位子が含まれる場合、量子ドットを構成する金属元素に対する有機配位子のモル比は、光吸収層中や分散液中の量子ドットの分散性を向上させ、優れた性能を発現させる観点から、好ましくは0.001以上、より好ましくは0.005以上、更に好ましくは0.01以上であり、好ましくは0.6以下、より好ましくは0.1以下、更に好ましくは0.05以下である。
前記配位子であるハロゲン元素含有物質のハロゲン元素は特に制限されず、例えば、フッ素、塩素、臭素、及びヨウ素が挙げられる。前記ハロゲン元素は、量子ドットの製造容易性、分散安定性、汎用性、コスト、優れた性能発現などの観点から、好ましくはヨウ素又は臭素であり、より好ましくはヨウ素である。
前記配位子であるハロゲン元素含有物質としては、例えば、ヨウ素、ヨウ化アンモニウム、ヨウ化メチルアンモニウムなどが挙げられ、量子ドットの製造容易性、分散安定性、汎用性、コスト、優れた性能発現などの観点から、好ましくはヨウ素である。
前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は特に制限されないが、光吸収層中や分散液中の量子ドットの分散性を向上させる観点、及びペロブスカイト化合物から量子ドットへのキャリア移動を抑制する観点から、好ましくは0.1以上、より好ましくは0.2以上、更に好ましくは0.3以上であり、好ましくは1以下、より好ましくは0.8以下、更に好ましくは0.7以下である。
光吸収層の量子ドットは、例えば、元素分析、赤外(IR)スペクトル、ラマンスペクトル、核磁気共鳴(NMR)スペクトル、X線回折パターン、吸収スペクトル、発光スペクトル、小角X線散乱、電子顕微鏡観察、及び電子線回折などの常法により同定することができる。
前記ペロブスカイト化合物と前記量子ドットの好ましい組み合わせとしては、量子ドットの均一分散性、耐久性、及び光電変換効率の観点から、好ましくは同じ金属元素を含む化合物の組み合わせであり、例えば、CHNHPbBrとPbS、CHNHPbBrとPbSe、CH(=NH)NHPbBrとPbS、CH(=NH)NHPbBrとPbSeなどが挙げられ、より好ましくはCHNHPbBrとPbSとの組み合わせである。
前記光吸収層中におけるバルク半導体と量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、量子ドット間距離を小さくして量子ドット間で相互作用させることにより光吸収層中に中間バンドを形成し、2段階光吸収の量子収率を向上させる観点から、好ましくは7.5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、更に好ましくは15質量%以上、より更に好ましくは20質量%以上であり、成膜性と、バルク半導体から量子ドットへのキャリア移動を抑制し光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは40質量%以下、より好ましくは30質量%以下、更に好ましくは25質量%以下である。
前記光吸収層中における量子ドットの粒子間の距離は、量子ドット間で相互作用させることにより光吸収層中に中間バンドを形成し、2段階光吸収の量子収率を向上させて光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは10nm以下、より好ましくは6nm以下、更に好ましくは3nm以下である。
光吸収層の厚さは特に制限されないが、光吸収を大きくして光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは30nm以上、より好ましくは50nm以上、更に好ましくは80nm以上であり、正孔輸送剤層や電子輸送剤層へのキャリア移動効率を向上させて光電変換効率を向上させる観点から、好ましくは1000nm以下、より好ましくは800nm以下、更に好ましくは600nm以下、より更に好ましくは500nm以下である。なお、光吸収層の厚さは、膜断面の電子顕微鏡観察などの測定方法で測定できる。
光吸収層の表面平滑性は、正孔輸送剤(HTM)層の強度を向上させる観点から、好ましくは100nm以上、より好ましくは200nm以上、更に好ましくは300nm以上、より更に好ましくは400nm以上であり、光電変換効率向上の観点から、好ましくは1000nm以下、より好ましくは800nm以下、更に好ましくは700nm以下である。
光吸収層の多孔質層に対する被覆率は、光電変換効率(電流)を向上させる観点から、好ましくは10%以上、より好ましくは20%以上、更に好ましくは30%以上、より更に好ましくは40%以上、より更に好ましくは50%以上であり、100%以下である。
光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、光電変換効率(電圧)を向上させる観点から、好ましくは0.3以下、より好ましくは0.2以下、更に好ましくは0.1以下、より更に好ましくは0である。なお、光吸収層における吸光度比(QD/B)は、下記実施例の記載の方法で測定した光吸収層の吸収スペクトルから、少なくとも1種の量子ドットの吸光度の最大値の少なくとも1種のバルク半導体の吸光度に対する比率である。ここで、少なくとも1種の量子ドットの吸光度と少なくとも1種のバルク半導体の吸光度は、それぞれ、それらを単独で測定した場合の吸収ピーク位置における吸光度として得られる。
光吸収層における発光ピークエネルギーは、光電変換効率(電圧)を向上させる観点から、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、好ましくは0.2eV以上、より好ましくは0.4eV以上、更に好ましくは0.6eV以上、より更に好ましくは0.8eV以上であり、光電変換効率(電流)を向上させる観点から、好ましくは1.4eV以下、より好ましくは1.3eV以下、更に好ましくは1.2eV以下、より更に好ましくは1.1eV以下である。
光吸収層における発光ピークエネルギーとバルク半導体のバンドギャップエネルギーとの差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは0.4eV以上、より好ましくは0.8eV、更に好ましくは1.0eV以上、より更に好ましくは1.2eV以上であり、好ましくは2.8eV以下、より好ましくは2.0eV以下、更に好ましくは1.6eV以下、より更に好ましくは1.4eV以下である。
光吸収層における発光ピークエネルギーと量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、光電変換効率向上の観点から、好ましくは1.0eV以下、より好ましくは0.5eV以下、更に好ましくは0.3eV以下、より更に好ましくは0eVである。
<光吸収層の製造方法>
光吸収層の製造方法は特に制限されず、例えば、前記バルク半導体(例えば、ペロブスカイト化合物)及び/又はその前駆体と、前記量子ドットとを含む分散液を基板上に塗布し、乾燥する、いわゆるウェットプロセスによる方法が好適に挙げられる。製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、次の工程1、工程2及び工程3を含む製造方法が好ましい。
(工程1)有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子を、ハロゲン元素含有物質へ配位子交換して、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程
(工程2)工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合して分散液を得る工程
(工程3)工程2で得られた分散液から光吸収層を得る工程
有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子を、ハロゲン元素含有物質へ配位子交換して、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程(工程1)は、バルク半導体及び/又はその前駆体と量子ドットとを含む分散液の分散性を向上させる観点や光吸収層中のキャリア移動速度を向上させて光電変換効率を向上させる観点から好ましい。
一般に、量子ドットの粒径制御、凝集抑制、分散性向上などのために、オレイン酸などの比較的分子サイズが大きく疎水的な有機化合物を配位子として用いて量子ドットが合成される場合がある。この場合、量子ドットは、トルエンなどの非(低)極性有機溶媒に対しては優れた分散性を示すが、N,N−ジメチルホルムアミド、メタノールなどの極性有機溶媒に対して分散性は悪い。従って、バルク半導体及び/又はその前駆体を分散又は溶解させる溶媒が極性有機溶媒である場合、量子ドットを極性有機溶媒に分散させる必要が有り、極性有機溶媒と相溶性の高い物質を量子ドットに配位させることが好ましい。また、オレイン酸などの比較的分子サイズが大きく疎水的な有機化合物は、導電性が低く光吸収層中のキャリアの拡散を阻害する。従って、光吸収層中のキャリア移動速度を向上させ光電変換効率を向上させる観点から、比較的分子サイズの小さい物質を量子ドットに配位させることが好ましい。以上の観点から、量子ドットの配位子としては、好ましくはヨウ素、ヨウ化アンモニウム、ヨウ化メチルアンモニウム、臭素、臭化アンモニウム、及び臭化メチルアンモニウムなどから選択される1種以上のハロゲン元素含有物質が挙げられ、より好ましくはヨウ素又は臭素であり、更に好ましくはヨウ素である。
有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子をハロゲン元素含有物質へ配位子交換する方法としては、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、分散液中で配位子交換する方法が好ましく、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを室温(25℃)、無撹拌下、時間をかけて混合後、静置することにより、配位子交換する方法がより好ましい。
配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質の原料としては、ヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、ヨウ化アンモニウム、ヨウ素、臭化メチルアンモニウム(メチルアミン臭化水素酸塩)、臭化アンモニウム、及び臭素などが好適に挙げられるが、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、ヨウ化アンモニウム、臭化メチルアンモニウム(メチルアミン臭化水素酸塩)、及び臭化アンモニウムから選択される1種以上、より好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、及び臭化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)から選択される1種以上、更に好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)である。
配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質原料の混合量は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、量子ドット表面の有機化合物に対するハロゲン元素のモル比として、好ましくは0.1以上、より好ましくは1以上、更に好ましくは1.5以上、好ましくは10以下、より好ましくは8以下、更に好ましくは5以下である。
配位子交換に使用する溶媒としては、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは量子ドットを良好に分散させる溶媒とハロゲン元素含有物質原料を溶解させる溶媒との混合溶媒である。量子ドットの分散溶媒は、好ましくはトルエン、ヘキサン、及びオクタンなどから選択される1種以上の非(低)極性有機溶媒、より好ましくはトルエンである。ハロゲン元素含有物質原料の溶解溶媒は、好ましくはN,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、及びγ−ブチロラクトンなどから選択される1種以上の非プロトン性極性有機溶媒、より好ましくはN,N−ジメチルホルムアミドである。
配位子交換時に混合する量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは10mg/mL以上、より好ましくは50mg/mL以上、更に好ましくは80mg/mL以上、好ましくは1000mg/mL以下、より好ましくは500mg/mL以下、更に好ましくは200mg/mL以下である。
配位子交換時に混合するハロゲン元素含有物質原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは0.01mol/L以上、より好ましくは0.1mol/L以上、更に好ましくは0.2mol/L以上、好ましくは1mol/L以下、より好ましくは0.5mol/L以下、更に好ましくは0.3mol/L以下である。
配位子交換時の量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合方法は、無撹拌下で、時間を掛けて混合する方法であれば特に限定されるものではないが、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは連続法又は滴下法(半連続法)、より好ましくは滴下法である。
連続法としては、量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を混合する方法でも、ハロゲン元素含有物質原料溶液に量子ドット分散液を混合する方法でも良いが、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を混合する方法が好ましい。混合速度は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは25μl/秒以下、より好ましくは5μl/秒以下、更に好ましくは3μl/秒以下、好ましくは0.2μl/秒以上、より好ましくは0.4μl/秒以上、更に好ましくは1.5μl/秒以上である。
滴下法としては、量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を滴下する方法でも、ハロゲン元素含有物質原料溶液に量子ドット分散液を滴下する方法でも良いが、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を滴下する方法が好ましい。滴下速度は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは1滴/1秒以下、より好ましくは1滴/5秒以下、更に好ましくは1滴/8秒以下、好ましくは1滴/100秒以上、より好ましくは1滴/50秒以上、更に好ましくは1滴/15秒以上である。
量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液とを混合後、静置する時間は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、好ましくは0.1時間以上、より好ましくは1時間以上、更に好ましくは10時間以上、好ましくは100時間以下、より好ましくは48時間以下、更に好ましくは24時間以下である。
配位子交換後、有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子とする量子ドット固体を得る方法としては、量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合分散液に洗浄溶媒を添加し、ろ過して、量子ドット表面に配位していた有機化合物や過剰のハロゲン元素含有物質原料、溶媒を除去する工程を経て、量子ドット固体を得る方法が好ましい。洗浄溶媒は、配位子交換前後のいずれの量子ドットも分散しにくく、且つ、有機化合物、ハロゲン元素含有物質が可溶な有機溶媒が好ましく、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、より好ましくはアルコール溶媒、更に好ましくはメタノールである。洗浄溶媒の量は、量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合分散液の量に対する洗浄溶媒の体積比として、好ましくは0.1以上、より好ましくは0.5以上、更に好ましくは1以上、好ましくは10以下、より好ましくは5以下、更に好ましくは2以下である。製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、ろ過時のフィルター孔径は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.2μm以上、好ましくは1μm以下、より好ましくは0.5μm以下である。フィルター材質は、好ましくは疎水性のもの、より好ましくはポリテトラフルオロエチレン(PTFE)である。
工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合する工程(工程2)を経て、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上と量子ドットとを含む分散液を得ることが好ましい。
前記バルク半導体(例えば、ペロブスカイト化合物)及び/又はその前駆体と、前記量子ドットとを含む分散液は、成膜性、コスト、保存安定性、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは溶剤を含有する。溶剤としては、例えば、エステル類(メチルホルメート、エチルホルメートなど)、ケトン類(γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、アセトン、ジメチルケトン、ジイソブチルケトンなど)、エーテル類(ジエチルエーテル、メチル−tert−ブチルエーテル、ジメトキシメタン、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフランなど)、アルコール類(メタノール、エタノール、2−プロパノール、tert−ブタノール、メトキシプロパノール、ジアセトンアルコール、シクロヘキサノール、2−フルオロエタノール、2,2,2−トリフルオロエタノール、2,2,3,3−テトラフルオロ−1−プロパノールなど)、グリコールエーテル(セロソルブ)類、アミド系溶剤(N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミドなど)、ニトリル系溶剤(アセトニトリル、イソブチロニトリル、プロピオニトリル、メトキシアセトニトリルなど)、カーボネート系(エチレンカーボネート、プロピレンカーボネートなど)、ハロゲン化炭化水素(塩化メチレン、ジクロロメタン、クロロホルムなど)、炭化水素、及びジメチルスルホキシドなどが挙げられる。
前記分散液の溶剤は、成膜性、コスト、保存安定性、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは極性溶剤、より好ましくはケトン類、アミド系溶剤、及びジメチルスルホキシドから選ばれる少なくとも1種の溶剤、更に好ましくはアミド系溶剤、より更に好ましくはN,N−ジメチルホルムアミドである。
前記分散液中の前記バルク半導体(例えば、ペロブスカイト化合物)及び/又はその前駆体の金属濃度は、成膜性、コスト、保存安定性、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは0.1mol/L以上、より好ましくは0.2mol/L以上、更に好ましくは0.3mol/L以上であり、好ましくは1.5mol/L以下、より好ましくは1.0mol/L以下、更に好ましくは0.5mol/L以下である。
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、成膜性、コスト、保存安定性、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは10mg/mL以上、より好ましくは50mg/mL以上、更に好ましくは70mg/mL以上であり、好ましくは300mg/mL以下、より好ましくは200mg/mL以下、更に好ましくは100mg/mL以下である。
前記分散液の調製方法は特に限定されないが、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、混合温度は、好ましくは0℃以上、より好ましくは10℃以上、更に好ましくは20℃以上であり、好ましくは50℃以下、より好ましくは40℃以下、更に好ましくは30℃以下である。また、同様の観点から、混合時間は、好ましくは0時間超、より好ましくは0.1時間以上であり、好ましくは72時間以下、より好ましくは24時間以下、更に好ましくは1時間以下である。
前記分散液は、粗大粒子を除去するためにろ過されたものであることが好ましく、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、ろ過時のフィルター孔径は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.2μm以上、好ましくは1μm以下、より好ましくは0.5μm以下である。フィルター材質は、好ましくは疎水性のもの、より好ましくはポリテトラフルオロエチレン(PTFE)である。
工程2で得られた分散液から光吸収層を得る工程(工程3)は、工程2で得られた分散液を基板上に塗布(コーティング)するなどのウェットプロセスが好ましく、例えば、グラビア塗布法、バー塗布法、印刷法、スプレー法、スピンコーティング法、ディップ法、及びダイコート法などが挙げられ、製造容易性、コスト、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくはスピンコーティング法である。スピンコーティング法の最大回転数は、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは500rpm以上、より好ましくは1000rpm以上、更に好ましくは2000rpm以上であり、好ましくは6000rpm以下、より好ましくは5000rpm以下、更に好ましくは4000rpm以下である。また、製造容易性、コスト、光電変換特性向上などの観点から、スピンコート中に貧溶媒を滴下してバルク半導体の結晶析出速度を向上させる方法が好ましく、前記貧溶媒としてトルエン又はクロロベンゼンが好ましい。
前記ウェットプロセスにおける乾燥方法としては、製造容易性、コスト、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現などの観点から、例えば、熱乾燥、気流乾燥、真空乾燥などが挙げられ、好ましくは熱乾燥である。熱乾燥の温度は、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは60℃以上、より好ましくは80℃以上、更に好ましくは100℃以上であり、同様の観点及びコストの観点から、好ましくは200℃以下、より好ましくは150℃以下、更に好ましくは120℃以下である。熱乾燥の時間は、優れた性能(例えば、光電変換特性)発現の観点から、好ましくは1分以上、より好ましくは5分以上、更に好ましくは10分以上であり、同様の観点及びコストの観点から、好ましくは120分以下、より好ましくは60分以下、更に好ましくは30分以下である。
<光電変換素子>
本発明の光電変換素子は、前記光吸収層を有するものである。本発明の光電変換素子において、前記光吸収層以外の構成は特に制限されず、公知の光電変換素子の構成を適用することができる。また、本発明の光電変換素子は、前記光吸収層以外は公知の方法で製造することができる。
以下、本発明の光電変換素子の構成と製造方法を図1に基づいて説明するが、図1は一例にすぎず、図1に示す態様に限定されるものではない。
図1は、本発明の光電変換素子の構造の一例を示す概略断面図である。光電変換素子1は、透明基板2、透明導電層3、ブロッキング層4、多孔質層5、光吸収層6、及び正孔輸送層7が順次積層された構造を有する。光10入射側の透明電極基板は、透明基板2と透明導電層3から構成されており、透明導電層3は外部回路と電気的につなげるための端子となる電極(負極)9に接合している。また、正孔輸送層7は外部回路と電気的につなげるための端子となる電極(正極)8に接合している。
透明基板2の材料としては、強度、耐久性、光透過性があればよく、合成樹脂及びガラスなどを使用できる。合成樹脂としては、例えば、ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムなどの熱可塑性樹脂、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリオレフィン、ポリイミド、及びフッ素樹脂などが挙げられる。強度、耐久性、コストなどの観点から、ガラス基板を用いることが好ましい。
透明導電層3の材料としては、例えば、スズ添加酸化インジウム(ITO)、フッ素添加酸化スズ(FTO)、酸化スズ(SnO2)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化亜鉛(ZnO)、及び高い導電性を有する高分子材料などが挙げられる。高分子材料としては、例えば、ポリアセチレン系、ポリピロール系、ポリチオフェン系、ポリフェニレンビニレン系の高分子材料が挙げられる。また、透明導電層3の材料として、高い導電性を有する炭素系薄膜を用いることもできる。透明導電層3の形成方法としては、スパッタ法、蒸着法、及び分散物を塗布する方法などが挙げられる。
ブロッキング層4の材料としては、例えば、酸化チタン、酸化アルミ、酸化ケイ素、酸化ニオブ、酸化タングステン、酸化錫、及び酸化亜鉛などが挙げられる。ブロッキング層4の形成方法としては、上記材料を透明導電層3に直接スパッタする方法、及びスプレーパイロリシス法などが挙げられる。また、上記材料を溶媒に溶解した溶液、又は金属酸化物の前駆体である金属水酸化物を溶解した溶液を透明導電層3上に塗布し、乾燥し、必要に応じて焼成する方法が挙げられる。塗布方法としては、グラビア塗布法、バー塗布法、印刷法、スプレー法、スピンコーティング法、ディップ法、及びダイコート法などが挙げられる。
多孔質層5は、その表面に光吸収層6を担持する機能を有する層である。太陽電池において光吸収効率を高めるためには、光を受ける部分の表面積を大きくすることが好ましい。多孔質層5を設けることにより、光を受ける部分の表面積を大きくすることができる。
多孔質層5の材料としては、例えば、金属酸化物、金属カルコゲナイド(例えば、硫化物、及びセレン化物など)、ペロブスカイト型結晶構造を有する化合物(ただし、前記光吸収剤を除く)、ケイ素酸化物(例えば、二酸化ケイ素及びゼオライト)、及びカーボンナノチューブ(カーボンナノワイヤ及びカーボンナノロッドなどを含む)などが挙げられる。
金属酸化物としては、例えば、チタン、スズ、亜鉛、タングステン、ジルコニウム、ハフニウム、ストロンチウム、インジウム、セリウム、イットリウム、ランタン、バナジウム、ニオブ、アルミニウム、及びタンタルの酸化物などが挙げられ、金属カルコゲナイドとしては、例えば、硫化亜鉛、セレン化亜鉛、硫化カドミウム、及びセレン化カドミウムなどが挙げられる。
ペロブスカイト型結晶構造を有する化合物としては、例えば、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸バリウム、チタン酸鉛、ジルコン酸バリウム、スズ酸バリウム、ジルコン酸鉛、ジルコン酸ストロンチウム、タンタル酸ストロンチウム、ニオブ酸カリウム、鉄酸ビスマス、チタン酸ストロンチウムバリウム、チタン酸バリウムランタン、チタン酸カルシウム、チタン酸ナトリウム、及びチタン酸ビスマスなどが挙げられる。
多孔質層5の形成材料は、好ましくは微粒子として用いられ、より好ましくは微粒子を含有する分散物として用いられる。多孔質層5の形成方法としては、例えば、湿式法、乾式法、その他の方法(例えば、Chemical Review,第110巻,6595頁(2010年刊)に記載の方法)が挙げられる。これらの方法において、ブロッキング層4の表面に分散物(ペースト)を塗布した後に、焼成することが好ましい。焼成により、微粒子同士を密着させることができる。塗布方法としては、グラビア塗布法、バー塗布法、印刷法、スプレー法、スピンコーティング法、ディップ法、及びダイコート法などが挙げられる。
光吸収層6は前述の本発明の光吸収層である。光吸収層6の形成方法は特に制限されず、例えば、前記バルク半導体(例えば、ペロブスカイト化合物)及び/又はその前駆体と、前記量子ドットとを含む分散液を調製し、多孔質層5の表面に調製した分散液を塗布し、乾燥する、いわゆるウェットプロセスによる方法が好適に挙げられる。光吸収層6の形成方法は、製造容易性、コスト、分散液の保存安定性、光電変換効率向上などの観点から、前述の工程1、工程2及び工程3を含む製造方法が好ましい。
正孔輸送層7の材料としては、例えば、カルバゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミノ置換カルコン誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、シラザン誘導体、芳香族第三級アミン化合物、スチリルアミン化合物、芳香族ジメチリディン系化合物、ポルフィリン系化合物、フタロシアニン系化合物、ポリチオフェン誘導体、ポリピロール誘導体、及びポリパラフェニレンビニレン誘導体などが挙げられる。正孔輸送層7の形成方法としては、例えば、塗布法、及び真空蒸着法などが挙げられる。塗布方法としては、例えば、グラビア塗布法、バー塗布法、印刷法、スプレー法、スピンコーティング法、ディップ法、及びダイコート法などが挙げられる。
電極(正極)8及び電極(負極)9の材料としては、例えば、アルミニウム、金、銀、白金などの金属;スズ添加酸化インジウム(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化亜鉛(ZnO)などの導電性金属酸化物;導電性高分子などの有機系導電材料;ナノチューブなどの炭素系材料が挙げられる。電極(正極)8及び電極(負極)9の形成方法としては、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、及び塗布法などが挙げられる。
<中間バンド型太陽電池>
本発明の中間バンド型太陽電池は、前記光電変換素子を有するものである。本発明の中間バンド型太陽電池において、前記光吸収層以外の構成は特に制限されず、公知の太陽電池の構成を適用することができる。
以下に、本発明及び本発明の好ましい実施態様を示す。
<1>
2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する光吸収層。
<2>
前記光吸収層の500nmにおける外部量子収率差は、好ましくは0.005%以上、より好ましくは0.01%以上、更に好ましくは0.02%以上である、<1>に記載の光吸収層。
<3>
前記光吸収層の600nmにおける外部量子収率差は、好ましくは0.004%以上、より好ましくは0.009%以上、更に好ましくは0.012%以上である、<1>又は<2>に記載の光吸収層。
<4>
前記光吸収層の900nmにおける外部量子収率差は、好ましくは0.002%以上、より好ましくは0.003%以上、更に好ましくは0.004%以上である、<1>〜<3>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<5>
好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.005%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.004%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.002%以上であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.01%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.009%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.003%以上であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.02%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.012%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.004%以上である、<1>に記載の光吸収層。
<6>
前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、好ましくは1.1eV以上、より好ましくは1.2eV以上、更に好ましくは1.3eV以上であり、好ましくは2.0eV以下、より好ましくは1.8eV以下、更に好ましくは1.6eV以下である、<1>〜<5>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<7>
前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、好ましくは0.5eV以上、より好ましくは0.6eV以上、更に好ましくは0.7eV以上であり、好ましくは2.0eV以下、より好ましくは1.5eV以下、更に好ましくは1.0eV以下である、<1>〜<6>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<8>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下である、<1>〜<7>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<9>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体は、ペロブスカイト化合物、又は有機−無機複合ペロブスカイト化合物であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体は、ペロブスカイト化合物、又は有機−無機複合ペロブスカイト化合物であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体は、ペロブスカイト化合物、又は有機−無機複合ペロブスカイト化合物である、<1>〜<8>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<10>
前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーは、好ましくは2.1eV以上、より好ましくは2.2eV以上であり、好ましくは2.9eV以下、より好ましくは2.8eV以下である、<1>〜<9>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<11>
好ましくは、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下、かつ、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーは、2.0eV以上3.0eV以下であり、
より好ましくは、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下、かつ、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーは、2.1eV以上2.9eV以下であり、
更に好ましくは、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下、かつ、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーは、2.2eV以上2.8eV以下である、<1>〜<10>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<12>
前記バルク半導体は、好ましくは無機物又は有機−無機複合化合物、より好ましくは有機−無機複合化合物であり、好ましくはペロブスカイト化合物、より好ましくは有機−無機複合ペロブスカイト化合物である、<1>〜<11>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<13>
前記バルク半導体は、好ましくはペロブスカイト化合物である、<1>〜<11>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<14>
前記バルク半導体は、より好ましくは有機−無機複合ペロブスカイト化合物である、<1>〜<11>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<15>
前記ペロブスカイト化合物は、好ましくは下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、より好ましくは下記一般式(1)で表される化合物である、<12>〜<14>のいずれか1項に記載の光吸収層。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
<16>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上である、<1>〜<14>のいずれか1項に記載の光吸収層。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
<17>
前記Rは、周期表第一族元素のカチオン、及び有機カチオンから選ばれる1種以上であり、前記周期表第一族元素のカチオンは、好ましくはLi、Na、K、及びCsから選ばれる1種以上であり、前記有機カチオンは、好ましくは置換基を有していてもよいアンモニウムイオン、及び置換基を有していてもよいホスホニウムイオンから選ばれる1種以上であり、前記置換基を有していてもよいアンモニウムイオンは、好ましくはアルキルアンモニウムイオン、ホルムアミジニウムイオン及びアリールアンモニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より好ましくはアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、更に好ましくはモノアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より更に好ましくはメチルアンモニウムイオン、エチルアンモニウムイオン、ブチルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上であり、より更に好ましくはメチルアンモニウムイオンである、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<18>
前記Rは、より好ましくはアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上である、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<19>
前記Rは、更に好ましくはモノアルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上である、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<20>
前記Rは、より更に好ましくはメチルアンモニウムイオン、エチルアンモニウムイオン、ブチルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上である、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<21>
前記Rは、より更に好ましくはメチルアンモニウムイオンである、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<22>
前記Mは、好ましくはPb2+、Sn2+、Hg2+、Cd2+、Zn2+、Mn2+、Cu2+、Ni2+、Fe2+、Co2+、Pd2+、Ge2+、Y2+、及びEu2+から選ばれる1種以上であり、より好ましくはPb2+、Sn2+、及びGe2+から選ばれる1種以上であり、更に好ましくはPb2+、及びSn2+から選ばれる1種以上であり、より更に好ましくはPb2+である、<15>〜<21>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<23>
前記Xは、好ましくはフッ素アニオン、塩素アニオン、臭素アニオン、及びヨウ素アニオンから選ばれる1種以上であり、より好ましくはフッ素アニオン、塩素アニオン、及び臭素アニオンから選ばれる1種以上であり、更に好ましくは塩素アニオン、及び臭素アニオンから選ばれる1種以上であり、より更に好ましくは臭素アニオンである、<15>〜<22>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<24>
前記一般式(1)で表される化合物は、好ましくはCHNHPbCl、CHNHPbBr、CHNHPbBrI、CHNHSnCl、CHNHSnBr、CH(=NH)NHPbCl、及びCH(=NH)NHPbBrから選ばれる1種以上であり、より好ましくはCHNHPbBr、及びCH(=NH)NHPbBrから選ばれる1種以上であり、更に好ましくはCHNHPbBrである、<15>又は<16>に記載の光吸収層。
<25>
前記光吸収層のペロブスカイト化合物の結晶子径は、好ましくは10nm以上、より好ましくは20nm以上、更に好ましくは30nm以上であり、好ましくは1000nm以下である、<12>〜<24>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<26>
前記量子ドットは、好ましくは0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギーを有するものである、<1>〜<25>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<27>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、前記量子ドットは、0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギーを有するものであり、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、前記量子ドットは、0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギーを有するものであり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、前記量子ドットは、0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満のバンドギャップエネルギーを有するものである、<1>〜<25>のいずれか1項に記載の光吸収層。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
<28>
前記量子ドットのバンドギャップエネルギーは、好ましくは0.8eV以上、より好ましくは0.9eV以上、更に好ましくは1.0eV以上であり、好ましくは1.6eV以下、より好ましくは1.5eV以下、更に好ましくは1.4eV以下、より更に好ましくは1.3eV以下である、<1>〜<27>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<29>
前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、好ましくは0.4eV以上、より好ましくは0.8eV以上、更に好ましくは1.0eV以上、より更に好ましくは1.2eV以上であり、好ましくは2.8eV以下、より好ましくは2.0eV以下、更に好ましくは1.6eV以下、より更に好ましくは1.4eV以下である、<1>〜<28>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<30>
好ましくは、前記量子ドットは、0.8eV以上1.6eV以下のバンドギャップエネルギーを有するものであり、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0.4eV以上2.2eV以下であり、
より好ましくは、前記量子ドットは、0.9eV以上1.5eV以下のバンドギャップエネルギーを有するものであり、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0.8eV以上2.0eV以下であり、
更に好ましくは、前記量子ドットは、1.0eV以上1.4eV以下のバンドギャップエネルギーを有するものであり、前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、1.0eV以上1.6eV以下である、<1>〜<27>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<31>
前記量子ドットの粒径は、好ましくは1nm以上、より好ましくは2nm以上、更に好ましくは3nm以上であり、好ましくは20nm以下、より好ましくは10nm以下、更に好ましくは5nm以下である、<1>〜<30>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<32>
前記量子ドットは、金属酸化物、及び金属カルコゲナイドから選ばれる1種以上であり、好ましくはPbS、PbSe、PbTe、CdS、CdSe、CdTe、Sb23、Bi23、Ag2S、Ag2Se、Ag2Te、Au2S、Au2Se、Au2Te、Cu2S、Cu2Se、Cu2Te、Fe2S、Fe2Se、Fe2Te、In23、SnS、SnSe、SnTe、CuInS2、CuInSe2、CuInTe2、EuS、EuSe、及びEuTeから選ばれる1種以上を含み、より好ましくはPb元素を含み、更に好ましくはPbS又はPbSeを含み、更に好ましくはPbSを含む、<1>〜<31>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<33>
好ましくは、前記量子ドットは、金属酸化物、及び金属カルコゲナイドから選ばれる1種以上であり、
より好ましくは、前記量子ドットの粒径は、2nm以上10nm以下であり、前記量子ドットは、金属酸化物、及び金属カルコゲナイドから選ばれる1種以上であり、
更に好ましくは、前記量子ドットの粒径は、2nm以上10nm以下であり、前記量子ドットは、Pb元素を含む金属酸化物、及びPb元素を含む金属カルコゲナイドから選ばれる1種以上であり、
より更に好ましくは、前記量子ドットの粒径は、3nm以上5nm以下であり、前記量子ドットは、Pb元素を含む金属酸化物、及びPb元素を含む金属カルコゲナイドから選ばれる1種以上であり、
より更に好ましくは、前記量子ドットの粒径は、3nm以上5nm以下であり、前記量子ドットは、PbS又はPbSeを含む、
より更に好ましくは、前記量子ドットの粒径は、3nm以上5nm以下であり、前記量子ドットは、PbSを含む、<1>〜<31>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<34>
前記ペロブスカイト化合物と前記量子ドットの組み合わせは、好ましくは同じ金属元素を含む化合物の組み合わせであり、より好ましくはCHNHPbBrとPbS、CHNHPbBrとPbSe、CH(=NH)NHPbBrとPbS、又はCH(=NH)NHPbBrとPbSeであり、更に好ましくはCHNHPbBrとPbSである、<12>〜<33>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<35>
前記量子ドットは、好ましくはハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットから選ばれる1種以上を含む、<1>〜<34>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<36>
前記配位子である有機化合物は、好ましくはカルボキシ基含有化合物、アミノ基含有化合物、チオール基含有化合物、及びホスフィノ基含有化合物から選ばれる1種以上である、<35>に記載の光吸収層。
<37>
前記カルボキシ基含有化合物は、好ましくはオレイン酸、ステアリン酸、パルミチン酸、ミリスチン酸、ラウリン酸、及びカプリン酸から選ばれる1種以上である、<36>に記載の光吸収層。
<38>
前記配位子である有機化合物は、好ましくはカルボキシ基含有化合物又はアミノ基含有化合物、より好ましくはカルボキシ基含有化合物、更に好ましくは炭素数8以上の脂肪酸、より更に好ましくは炭素数12以上の脂肪酸、より更に好ましくはオレイン酸である、<35>に記載の光吸収層。
<39>
前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記配位子である有機化合物のモル比は、好ましくは0.001以上、より好ましくは0.005以上、更に好ましくは0.01以上であり、好ましくは0.6以下、より好ましくは0.1以下、更に好ましくは0.05以下である、<35>〜<38>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<40>
前記配位子であるハロゲン元素含有物質のハロゲン元素は、好ましくはフッ素、塩素、臭素、及びヨウ素から選ばれる1種以上であり、より好ましくはヨウ素及び臭素から選ばれる1種以上であり、更に好ましくはヨウ素である、<35>〜<39>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<41>
前記配位子であるハロゲン元素含有物質は、好ましくはヨウ素、ヨウ化アンモニウム、及びヨウ化メチルアンモニウムから選ばれる1種以上であり、より好ましくはヨウ素である、<35>〜<39>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<42>
前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、好ましくは0.1以上、より好ましくは0.2以上、更に好ましくは0.3以上であり、好ましくは1以下、より好ましくは0.8以下、更に好ましくは0.7以下である、<35>〜<41>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<43>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体と前記量子ドットは、同じ金属元素を含み、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体と前記量子ドットの組み合わせは、CHNHPbBrとPbS、CHNHPbBrとPbSe、CH(=NH)NHPbBrとPbS、又はCH(=NH)NHPbBrとPbSeであり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体と前記量子ドットの組み合わせは、CHNHPbBrとPbSである、<1>〜<42>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<44>
好ましくは、前記量子ドットは、有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットであり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機化合物のモル比は、0.001以上0.6以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.1以上1以下であり、
より好ましくは、前記量子ドットの有機化合物はカルボキシル基含有化合物であり、前記量子ドットのハロゲン元素含有物質のハロゲン元素はヨウ素であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機化合物のモル比は、0.005以上0.1以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.2以上0.8以下であり、
更に好ましくは、前記量子ドットの有機化合物はオレイン酸であり、前記量子ドットのハロゲン元素含有物質はヨウ素であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機化合物のモル比は、0.01以上0.05以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.3以上0.7以下である、<1>〜<43>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<45>
前記光吸収層中におけるバルク半導体と量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、好ましくは7.5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、更に好ましくは15質量%以上、より更に好ましくは20質量%以上であり、好ましくは40質量%以下、より好ましくは30質量%以下、更に好ましくは25質量%以下である、<1>〜<44>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<46>
好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上40質量%以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含むPbS、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、10質量%以上30質量%以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、15質量%以上25質量%以下である、<1>〜<44>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<47>
好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.005%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.004%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.002%以上であり、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.1eV以上2.0eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.5eV以上2.0eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上40質量%以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.01%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.009%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.003%以上であり、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.2eV以上1.8eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.6eV以上1.5eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含むPbS、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、10質量%以上30質量%以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層は、500nmにおける外部量子収率差が0.02%以上であり、600nmにおける外部量子収率差が0.012%以上であり、900nmにおける外部量子収率差が0.004%以上であり、前記バルク半導体の価電子帯と前記中間バンドとの間のエネルギー差は、1.3eV以上1.6eV以下であり、前記中間バンドと前記バルク半導体の伝導帯との間のエネルギー差は、0.7eV以上1.0eV以下であり、前記バルク半導体はCHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、15質量%以上25質量%以下である、<1>〜<44>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<48>
前記光吸収層中における量子ドットの粒子間の距離は、好ましくは10nm以下、より好ましくは6nm以下、更に好ましくは3nm以下である、<1>〜<47>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<49>
好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上40質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、10nm以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、10質量%以上30質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、6nm以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、15質量%以上25質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、3nm以下である、<1>〜<47>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<50>
好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上40質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、10nm以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、10質量%以上40質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、6nm以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、15質量%以上40質量%以下であり、前記光吸収層中における前記量子ドットの粒子間の距離は、3nm以下である、<1>〜<47>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<51>
前記光吸収層の厚さは、好ましくは30nm以上、より好ましくは50nm以上、更に好ましくは80nm以上であり、好ましくは1000nm以下、より好ましくは800nm以下、更に好ましくは600nm以下、より更に好ましくは500nm以下である、<1>〜<50>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<52>
前記光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、好ましくは0.3以下、より好ましくは0.2以下、更に好ましくは0.1以下、より更に好ましくは0である、<1>〜<51>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<53>
前記光吸収層における発光ピークエネルギーは、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、好ましくは0.2eV以上、より好ましくは0.4eV以上、更に好ましくは0.6eV以上、より更に好ましくは0.8eV以上であり、好ましくは1.4eV以下、より好ましくは1.3eV以下、更に好ましくは1.2eV以下、より更に好ましくは1.1eV以下である、<1>〜<52>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<54>
前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーとの差は、好ましくは0.4eV以上、より好ましくは0.8eV、更に好ましくは1.0eV以上、より更に好ましくは1.2eV以上であり、好ましくは2.8eV以下、より好ましくは2.0eV以下、更に好ましくは1.6eV以下、より更に好ましくは1.4eV以下である、<1>〜<53>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<55>
前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、好ましくは1.0eV以下、より好ましくは0.5eV以下、更に好ましくは0.3eV以下、より更に好ましくは0eVである、<1>〜<54>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<56>
好ましくは、前記光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、0.3以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーは、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、0.2eV以上1.4eV以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、1.0eV以下であり、
より好ましくは、前記光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、0.2以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーは、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、0.4eV以上1.3eV以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0.5eV以下であり、
更に好ましくは、前記光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、0.1以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーは、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、0.6eV以上1.2eV以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0.3eV以下であり、
より更に好ましくは、前記光吸収層における量子ドット(QD)のバルク半導体(B)に対する吸光度比(QD/B)は、0であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーは、波長785nm(エネルギー1.58eV)の光で光吸収層を励起した時、0.8eV以上1.1eV以下であり、前記光吸収層における発光ピークエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0eVである、<1>〜<54>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<57>
好ましくは、前記量子ドットは、有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含む量子ドットであり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機配位子のモル比は、0.001以上0.6以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.1以上1以下であり、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上40質量%以下であり、
より好ましくは、前記量子ドットの有機配位子はカルボキシル基含有化合物であり、前記量子ドットのハロゲン元素含有物質のハロゲン元素はヨウ素であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機配位子のモル比は、0.005以上0.1以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.2以上0.8以下であり、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、10質量%以上30質量%以下であり、
更に好ましくは、前記量子ドットの有機配位子はオレイン酸であり、前記量子ドットのハロゲン元素含有物質はヨウ素であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記有機配位子のモル比は、0.01以上0.05以下であり、前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比は、0.3以上0.7以下であり、前記光吸収層中における前記バルク半導体と前記量子ドット(その配位子も含む)の合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、15質量%以上25質量%以下である、<1>〜<56>のいずれか1項に記載の光吸収層。
<58>
次の工程1、工程2及び工程3を含む、バルク半導体のマトリクス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する光吸収層の製造方法。
(工程1)有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子を、ハロゲン元素含有物質へ配位子交換して、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程
(工程2)工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合して分散液を得る工程
(工程3)工程2で得られた分散液から光吸収層を得る工程
<59>
前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<60>
前記工程1における前記配位子交換は、好ましくは分散液中で行い、より好ましくは有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行う、<58>又は<59>に記載の光吸収層の製造方法。
<61>
配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質の原料は、好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、ヨウ化アンモニウム、ヨウ素、臭化メチルアンモニウム(メチルアミン臭化水素酸塩)、臭化アンモニウム、及び臭素から選ばれる1種以上であり、より好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、ヨウ化アンモニウム、臭化メチルアンモニウム(メチルアミン臭化水素酸塩)、及び臭化アンモニウムから選ばれる1種以上であり、更に好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)、及び臭化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)から選ばれる1種以上であり、より更に好ましくはヨウ化メチルアンモニウム(メチルアミンヨウ化水素酸塩)である、<60>に記載の光吸収層の製造方法。
<62>
配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質原料の混合量は、量子ドット表面の有機化合物に対するハロゲン元素のモル比として、好ましくは0.1以上、より好ましくは1以上、更に好ましくは1.5以上、好ましくは10以下、より好ましくは8以下、更に好ましくは5以下である、<60>又は<61>に記載の光吸収層の製造方法。
<63>
配位子交換に使用する溶媒は、好ましくは量子ドットを分散させる溶媒とハロゲン元素含有物質原料を溶解させる溶媒との混合溶媒であり、前記量子ドットを分散させる溶媒は、好ましくはトルエン、ヘキサン、及びオクタンから選択される1種以上の非(低)極性有機溶媒、より好ましくはトルエンであり、前記ハロゲン元素含有物質原料を溶解させる溶媒は、好ましくはN,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、及びγ−ブチロラクトンから選択される1種以上の非プロトン性極性有機溶媒、より好ましくはN,N−ジメチルホルムアミドである、<60>〜<62>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<64>
配位子交換時に混合する量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、好ましくは10mg/mL以上、より好ましくは50mg/mL以上、更に好ましくは80mg/mL以上、好ましくは1000mg/mL以下、より好ましくは500mg/mL以下、更に好ましくは200mg/mL以下である、<60>〜<63>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<65>
配位子交換時に混合するハロゲン元素含有物質原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、好ましくは0.01mol/L以上、より好ましくは0.1mol/L以上、更に好ましくは0.2mol/L以上、好ましくは1mol/L以下、より好ましくは0.5mol/L以下、更に好ましくは0.3mol/L以下である、<60>〜<64>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<66>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、10mg/mL以上1000mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.01mol/L以上1mol/L以下であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、50mg/mL以上500mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.1mol/L以上0.5mol/L以下であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、80mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.2mol/L以上0.3mol/L以下である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<67>
配位子交換時の量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合方法は、好ましくは連続法又は滴下法(半連続法)、より好ましくは滴下法である、<60>〜<66>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<68>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、10mg/mL以上1000mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.01mol/L以上1mol/L以下であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、50mg/mL以上500mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.1mol/L以上0.5mol/L以下であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、80mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.2mol/L以上0.3mol/L以下である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<69>
前記連続法は、好ましくは量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を混合する方法であり、混合速度は、好ましくは25μl/秒以下、より好ましくは5μl/秒以下、更に好ましくは3μl/秒以下、好ましくは0.2μl/秒以上、より好ましくは0.4μl/秒以上、更に好ましくは1.5μl/秒以上である、<67>に記載の光吸収層の製造方法。
<70>
前記滴下法は、好ましくは量子ドット分散液にハロゲン元素含有物質原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、好ましくは1滴/1秒以下、より好ましくは1滴/5秒以下、更に好ましくは1滴/8秒以下、好ましくは1滴/100秒以上、より好ましくは1滴/50秒以上、更に好ましくは1滴/15秒以上である、<67>又は<68>に記載の光吸収層の製造方法。
<71>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/1秒以下1滴/100秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、10mg/mL以上1000mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.01mol/L以上1mol/L以下であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/5秒以下1滴/50秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、50mg/mL以上500mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.1mol/L以上0.5mol/L以下であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/8秒以下1滴/15秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、80mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.2mol/L以上0.3mol/L以下である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<72>
前記量子ドット分散液と前記ハロゲン元素含有物質原料溶液とを混合後、静置する時間は、好ましくは0.1時間以上、より好ましくは1時間以上、更に好ましくは10時間以上、好ましくは100時間以下、より好ましくは48時間以下、更に好ましくは24時間以下である、<60>〜<71>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<73>
配位子交換後、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程は、好ましくは量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合分散液に洗浄溶媒を添加し、ろ過して、量子ドット表面に配位していた有機化合物や過剰のハロゲン元素含有物質原料、溶媒を除去する工程であり、前記洗浄溶媒は、好ましくは配位子交換前後のいずれの量子ドットも分散しにくく、且つ、有機化合物、ハロゲン元素含有物質が可溶な有機溶媒であり、より好ましくはアルコール溶媒、更に好ましくはメタノールである、<60>〜<72>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<74>
前記洗浄溶媒の量は、量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質原料溶液との混合分散液の量に対する洗浄溶媒の体積比として、好ましくは0.1以上、より好ましくは0.5以上、更に好ましくは1以上、好ましくは10以下、より好ましくは5以下、更に好ましくは2以下である、<73>に記載の光吸収層の製造方法。
<75>
前記ろ過時のフィルター孔径は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.2μm以上、好ましくは1μm以下、より好ましくは0.5μm以下であり、フィルター材質は、好ましくは疎水性のもの、より好ましくはポリテトラフルオロエチレン(PTFE)である、<73>又は<74>に記載の光吸収層の製造方法。
<76>
前記工程2において、工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、好ましくは0℃以上、より好ましくは10℃以上、更に好ましくは20℃以上であり、好ましくは50℃以下、より好ましくは40℃以下、更に好ましくは30℃以下であり、混合時間は、好ましくは0時間超、より好ましくは0.1時間以上であり、好ましくは72時間以下、より好ましくは24時間以下、更に好ましくは1時間以下である、<58>〜<75>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<77>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/1秒以下1滴/100秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、10mg/mL以上1000mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.01mol/L以上1mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、0℃以上50℃以下であり、混合時間は、0時間超72時間以下であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/5秒以下1滴/50秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、50mg/mL以上500mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.1mol/L以上0.5mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、10℃以上40℃以下であり、混合時間は、0.1時間以上24時間以下であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/8秒以下1滴/15秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、80mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.2mol/L以上0.3mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、20℃以上30℃以下であり、混合時間は、0.1時間以上1時間以下である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<78>
前記工程2において、好ましくは前記分散液は、粗大粒子を除去するためにろ過されたものであり、ろ過時のフィルター孔径は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.2μm以上、好ましくは1μm以下、より好ましくは0.5μm以下であり、フィルター材質は、好ましくは疎水性のもの、より好ましくはポリテトラフルオロエチレン(PTFE)である、<58>〜<77>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<79>
前記工程3は、好ましくはウェットプロセス、より好ましくはスピンコーティング法であり、前記スピンコーティング法の最大回転数は、好ましくは500rpm以上、より好ましくは1000rpm以上、更に好ましくは2000rpm以上であり、好ましくは6000rpm以下、より好ましくは5000rpm以下、更に好ましくは4000rpm以下である、<58>〜<78>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<80>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/1秒以下1滴/100秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、10mg/mL以上1000mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.01mol/L以上1mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、0℃以上50℃以下であり、混合時間は、0時間超72時間以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、500rpm以上6000rpm以下であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/5秒以下1滴/50秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、50mg/mL以上500mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.1mol/L以上0.5mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、10℃以上40℃以下であり、混合時間は、0.1時間以上24時間以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、1000rpm以上5000rpm以下であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを滴下法(半連続法)で混合することにより行い、
前記滴下法は、前記量子ドット分散液に前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液を滴下する方法であり、滴下速度は、1滴/8秒以下1滴/15秒以上であり、
前記量子ドット分散液中の量子ドット固形分濃度は、80mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記ハロゲン元素含有物質の原料溶液中のハロゲン元素含有物質原料濃度は、0.2mol/L以上0.3mol/L以下であり、
前記工程2において、前記工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合するときの混合温度は、20℃以上30℃以下であり、混合時間は、0.1時間以上1時間以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、2000rpm以上4000rpm以下である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<81>
前記工程3において、好ましくはスピンコート中に貧溶媒を滴下する、<79>又は<80>に記載の光吸収層の製造方法。
<82>
前記貧溶媒は、好ましくはトルエン及びクロロベンゼンから選択される1種以上である、<81>に記載の光吸収層の製造方法。
<83>
前記ウェットプロセスにおける乾燥方法は、好ましくは熱乾燥であり、前記熱乾燥の温度は、好ましくは60℃以上、より好ましくは80℃以上、更に好ましくは100℃以上であり、好ましくは200℃以下、より好ましくは150℃以下、更に好ましくは120℃以下であり、前記熱乾燥の時間は、好ましくは1分以上、より好ましくは5分以上、更に好ましくは10分以上であり、好ましくは120分以下、より好ましくは60分以下、更に好ましくは30分以下である、<79>〜<82>のいずれか1項に記載の光吸収層の製造方法。
<84>
好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質原料の混合量は、量子ドット表面の有機化合物に対するハロゲン元素のモル比として、0.1以上10以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、500rpm以上6000rpm以下であり、スピンコート中に貧溶媒を滴下する製造方法であり、
より好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質原料の混合量は、量子ドット表面の有機化合物に対するハロゲン元素のモル比として、1以上8以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、1000rpm以上5000rpm以下であり、スピンコート中に貧溶媒としてトルエン及びクロロベンゼンから選択される1種以上を滴下する製造方法であり、
更に好ましくは、前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素であり、
前記工程1における前記配位子交換は、有機配位子を含む量子ドット分散液とハロゲン元素含有物質の原料溶液とを混合することにより行い、配位子交換に使用するハロゲン元素含有物質原料の混合量は、量子ドット表面の有機化合物に対するハロゲン元素のモル比として、1.5以上5以下であり、
前記工程3は、スピンコーティング法で行い、前記スピンコーティング法の最大回転数は、2000rpm以上4000rpm以下であり、スピンコート中に貧溶媒としてトルエン及びクロロベンゼンから選択される1種以上を滴下する製造方法である、<58>に記載の光吸収層の製造方法。
<85>
2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体及び/又はその前駆体と、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドットとを含有する光吸収層を製造するための分散液。
<86>
前記分散液は、溶剤を含有する、<85>に記載の分散液。
<87>
前記溶剤は、エステル類(メチルホルメート、エチルホルメートなど)、ケトン類(γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、アセトン、ジメチルケトン、ジイソブチルケトンなど)、エーテル類(ジエチルエーテル、メチル−tert−ブチルエーテル、ジメトキシメタン、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフランなど)、アルコール類(メタノール、エタノール、2−プロパノール、tert−ブタノール、メトキシプロパノール、ジアセトンアルコール、シクロヘキサノール、2−フルオロエタノール、2,2,2−トリフルオロエタノール、2,2,3,3−テトラフルオロ−1−プロパノールなど)、グリコールエーテル(セロソルブ)類、アミド系溶剤(N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミドなど)、ニトリル系溶剤(アセトニトリル、イソブチロニトリル、プロピオニトリル、メトキシアセトニトリルなど)、カーボネート系(エチレンカーボネート、プロピレンカーボネートなど)、ハロゲン化炭化水素(塩化メチレン、ジクロロメタン、クロロホルムなど)、炭化水素、及びジメチルスルホキシドから選択される1種以上である、<86>に記載の分散液。
<88>
前記溶剤は、好ましくは極性溶剤、より好ましくはケトン類、アミド系溶剤、及びジメチルスルホキシドから選ばれる1種以上、更に好ましくはアミド系溶剤、より更に好ましくはN,N−ジメチルホルムアミドである、<86>に記載の分散液。
<89>
前記分散液中の前記バルク半導体(例えば、ペロブスカイト化合物)及び/又はその前駆体の金属濃度は、好ましくは0.1mol/L以上、より好ましくは0.2mol/L以上、更に好ましくは0.3mol/L以上であり、好ましくは1.5mol/L以下、より好ましくは1.0mol/L以下、更に好ましくは0.5mol/L以下である、<85>〜<88>のいずれか1項に記載の分散液。
<90>
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、好ましくは10mg/mL以上、より好ましくは50mg/mL以上、更に好ましくは70mg/mL以上であり、好ましくは300mg/mL以下、より好ましくは200mg/mL以下、更に好ましくは100mg/mL以下である、<85>〜<89>のいずれか1項に記載の分散液。
<91>
好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、ケトン類、アミド系溶剤、及びジメチルスルホキシドから選ばれる1種以上であり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.1mol/L以上1.5mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、10mg/mL以上300mg/mL以下であり、
より好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、アミド系溶剤であり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.2mol/L以上1.0mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、50mg/mL以上200mg/mL以下であり、
更に好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、N,N−ジメチルホルムアミドであり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.3mol/L以上0.5mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、70mg/mL以上100mg/mL以下である、<85>に記載の分散液。
<92>
好ましくは、前記バルク半導体は、ペロブスカイト化合物、又は有機−無機複合ペロブスカイト化合物であり、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含むPbS、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、
より好ましくは、前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、
更に好ましくは、前記バルク半導体は、CHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含む、<85>〜<91>のいずれか1項に記載の分散液。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
<93>
好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、ケトン類、アミド系溶剤、及びジメチルスルホキシドから選ばれる1種以上であり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.1mol/L以上1.5mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、10mg/mL以上300mg/mL以下であり、
前記バルク半導体は、ペロブスカイト化合物、又は有機−無機複合ペロブスカイト化合物であり、前記量子ドットは、ハロゲン元素含有物質を配位子として含むPbS、及び有機化合物とハロゲン元素含有物質とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、
より好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、アミド系溶剤であり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.2mol/L以上1.0mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、50mg/mL以上200mg/mL以下であり、
前記バルク半導体は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上であり、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含み、
更に好ましくは、前記分散液は、溶剤を含有し、
前記溶剤は、N,N−ジメチルホルムアミドであり、
前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度は、0.3mol/L以上0.5mol/L以下であり、
前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、70mg/mL以上100mg/mL以下であり、
前記バルク半導体は、CHNHPbBrを含み、前記量子ドットは、ヨウ素を配位子として含むPbS、及びオレイン酸とヨウ素とを配位子として含むPbSから選ばれる1種以上を含む、<85>に記載の分散液。
RMX (1)
(式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
n−13n+1 (2)
(式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
<94>
<85>〜<93>のいずれか1項に記載の分散液から得られる光吸収層。
<95>
<1>〜<57>及び<94>のいずれか1項に記載の光吸収層を有する光電変換素子。
<96>
<95>に記載の光電変換素子を有する中間バンド型太陽電池。
以下、本発明について、実施例に基づき具体的に説明する。表中に特に示さない限り、各成分の含有量は質量%を示す。また、評価・測定方法は以下のとおりである。なお、特に断らない限り、実施、測定は25℃で行った。
<外部量子収率差>
外部量子収率差(ΔEQE)は、分光感度測定装置(分光計器株式会社製、CEP-1500)において、光学チョッパーを用いて赤外バイアス光照射の有無で量子収率(EQE)を測定し、赤外バイアス光照射時のEQEと赤外バイアス光非照射時のEQEとの差(ΔEQE)を求めた。キセノンランプとAM1.5フィルターの擬似太陽光源を850nmと1400nmのロングパスフィルターに通した赤外バイアス光を用いた。赤外チョッパーの変調周波数は、5Hz(実施例)または85Hz(比較例)とした。光照射面積0.0361cmのマスク下、300〜1300nmの波長範囲にて交流法で測定を行った。波長500nm、600nm、及び900nmの外部量子収率差(ΔEQE)を求めた。
<吸収スペクトル>
光吸収層の吸収スペクトルは、正孔輸送剤を塗布する前の試料において、UV-Vis分光光度計(株式会社島津製作所製、SolidSpec-3700)を用い、スキャンスピード中速、サンプルピッチ1nm、スリット幅20、検出器ユニット積分球の条件で300〜1600nmの範囲を測定した。FTO(Fluorine-doped tin oxide)基板(旭硝子ファブリテック株式会社製、25×25×1.8mm)でバックグラウンド測定を行った。
PbS量子ドット分散液の吸収スペクトルは、PbS量子ドット固体0.1mg/mLの濃度の分散液において、1cm角石英セルを用いて、同様に測定した。なお、オレイン酸が配位したPbS量子ドットの場合はヘキサンを分散溶媒とし、ヨウ素が配位したPbS量子ドットの場合はN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)を分散溶媒とした。
横軸;波長λ、縦軸;吸光度Aの吸収スペクトルを、横軸;エネルギーhν、縦軸;(αhν)1/2(α;吸光係数)のスペクトルに変換し、吸収の立ち上がる部分に直線をフィッティングし、その直線とベースラインとの交点をバンドギャップエネルギーとした。
<発光スペクトル>
PbS量子ドット分散液の発光スペクトルは、PbS量子ドット固体0.1mg/mLの濃度のヘキサン分散液において、1cm角四面透明セルを用いて、近赤外蛍光分光計(株式会社堀場製作所製、Fluorolog)を用い、励起波長800nm、励起光スリット幅10nm、発光スリット幅15nm、取り込み時間0.1sec、積算2回平均、ダークオフセットオンの条件で850〜1550nmの範囲を測定した。
光吸収層の発光スペクトルは、正孔輸送剤を塗布する前の試料において、励起波長785nm(レーザーダイオード光源、出力15mW)で900〜1600nmの範囲を測定した。
<X線回折解析>
光吸収層のペロブスカイト化合物の結晶子径は、正孔輸送剤を塗布する前の試料において、粉末X線回折装置(株式会社リガク製、MiniFlex600、光源CuKα、管電圧40kV、管電流15mA)を用い、サンプリング幅0.02°、走査速度20°/min、ソーラースリット(入射)5.0°、発散スリット1.250°、縦発散13.0mm、散乱スリット13.0mm、ソーラースリット(反射)5.0°、受光スリット13.0mmの条件で5〜60°の範囲を測定した。ペロブスカイト化合物の結晶子径は、解析ソフト(PDXL、ver.2.6.1.2)を用いてペロブスカイト化合物の最強ピークにおいて算出した。
PbS量子ドットの結晶子径(粒径)は、ガラスホルダー上のPbS量子ドット固体において、同様に測定し、解析ソフト(PDXL、ver.2.6.1.2)を用いてPbSのcubic(220)ピーク(2θ=42°)において算出した。
<PbS量子ドット固体の組成>
PbS量子ドット固体中のPb濃度は、PbS量子ドット固体を硝酸/過酸化水素混合溶液に完全溶解後、高周波誘導結合プラズマ発光分光(ICP)分析により定量した。
PbS量子ドット固体中のオレイン酸濃度は、オレイン酸が配位したPbS量子ドットの場合は、重トルエン(シグマ アルドリッチ ジャパン合同会社製、99atom%D、TMS0.03vol%含有)溶媒、ヨウ素が配位したPbS量子ドットの場合は、重DMF(東京化成製、99.5atom%D)溶媒中、ジブロモメタン(和光純薬株式会社製)を内部標準物質として用い、プロトン(H)核磁気共鳴(NMR)法により定量した。NMR装置(アジレント社製、VNMRS400)を用い、共鳴周波数400HHz、遅延時間60秒、積算32回の条件で測定した。重トルエン溶媒の場合、ジブロモメタン(3.9ppm vs.TMS)の積分値に対するオレイン酸のビニルプロトン(5.5ppm vs.TMS)の積分値の比からPbS量子ドット固体中のオレイン酸濃度を求めた。重DMF溶媒の場合、ジブロモメタン(3.9ppm vs.TMS)の積分値に対するオレイン酸のメチルプロトン(0.8ppm vs.TMS)の積分値の比からPbS量子ドット固体中のオレイン酸濃度を求めた。
PbS量子ドット固体中のPb/S/I/N原子比は、ガラス基板上のPbS量子ドット固体において、光電子分光法(ESCA)により定量した。ESCA装置(アルバックファイ社製、PHI Quantera SXM)を用い、X線源単色化AlKα(25W,15kV)、ビーム径100μm、測定範囲1mm、パスエネルギー112eV、ステップ0.2eV、帯電補正ニュウトラライザーおよびAr照射、光電子取出し角度45°、結合エネルギー補正C1s(284.8eV)の条件でESCA測定し、Pb4f、S2p、I3d、N1sピークから組成を求めた。
<オレイン酸が配位したPbS量子ドットの合成>
酸化鉛(和光純薬工業株式会社製)0.45g、オクタデセン(シグマ アルドリッチ ジャパン合同会社製)10g、オレイン酸(シグマ アルドリッチ ジャパン合同会社製)1.34gを50mL三口フラスコに入れ、80℃で2時間撹拌することにより、Pb源溶液を調製した。反応系内を真空ポンプにより脱気、窒素ガス置換後、更に110℃で30分撹拌した。一方、1,1,1,3,3,3−ヘキサメチルジシラチアン(東京化成工業株式会社製)210μLをオクタデセン4mLに溶解し、S源溶液を調製した。110℃、撹拌、窒素ガス下、シリンジを用いてS源溶液をPb源溶液に一気に注入し、オレイン酸が配位したPbS量子ドットを生成させた。大過剰のアセトンを添加して反応を停止後、遠心分離(日立工機株式会社製、CR21GIII、R15Aローター、2500rpm、2分)により上澄みを除去、沈殿物を減圧乾燥させることにより、オレイン酸が配位したPbS量子ドット固体を得た。
オレイン酸が配位したPbS量子ドット固体中の各濃度は、Pb=55質量%、オレイン酸=24質量%であり、オレイン酸/Pbモル比=0.31であった。ESCA分析結果よりPb/S/I/N原子比=1/0.58/0/0、X線回折結果より結晶子径3.0nm、吸収スペクトルより吸収端波長1050nm、吸収ピーク波長980nm(固定分濃度0.1mg/mLヘキサン分散液のピーク吸光度0.052)、発光スペクトルより発光ピーク波長1050nm(励起波長800nm)であった。
<ヨウ素が配位したPbS量子ドットの合成>
上記のオレイン酸が配位したPbS量子ドット固体0.20gをトルエン(脱水、和光純薬工業株式会社製)2mLに分散させ、黒色透明分散液を得た。一方、メチルアミンヨウ化水素酸塩(CHNHI、東京化成工業株式会社製)0.053gをDMF(脱水、和光純薬工業株式会社製)0.5mLとトルエン(脱水、和光純薬工業株式会社製)1mLに溶解させた(CHNHI/オレイン酸モル比=2)。室温(25℃)、窒素雰囲気(グローブボックス内)、無撹拌下、上記CHNHI溶液をPbS量子ドット分散液に1滴/10秒の滴下速度(滴下時間11分)で滴下後、18時間静置した。更にメタノール5mLを添加、混合後、フィルター(孔径0.2μm、材質PTFE)ろ過、乾燥させることにより、ヨウ素が配位したPbS量子ドット固体を得た。
ヨウ素が配位したPbS量子ドット固体中の各濃度は、Pb=53質量%、オレイン酸=1質量%であり、オレイン酸/Pbモル比=0.01であった。ESCA分析結果よりPb/S/I/N原子比=1/0.51/0.49/0、X線回折結果より結晶子径3.2nm、DMF分散液の吸収スペクトルより吸収端波長1200nm、吸収ピーク波長1000nmであった。
<実施例1>
次の(1)〜(7)の工程を順に行い、セルを作製した。
(1)FTO基板のエッチング、洗浄
25mm角のフッ素ドープ酸化スズ(FTO)付ガラス基板(旭硝子ファブリテック株式会社製、25×25×1.8 mm、以下、FTO基板という)の一部をZn粉末と2mol/L塩酸水溶液でエッチングした。1質量%中性洗剤、アセトン、2−プロパノール(IPA)、イオン交換水で、この順に各10分間超音波洗浄を行った。
(2)オゾン洗浄
緻密TiO層形成工程の直前にFTO基板のオゾン洗浄を行った。FTO面を上にして、基板をオゾン発生装置(メイワフォーシス株式会社製オゾンクリーナー、PC-450UV)に入れ、30分間UV照射した。
(3)緻密TiO層(ブロッキング層)の形成
エタノール(脱水、和光純薬工業株式会社製)123.24gにビス(2,4−ペンタンジオナト)ビス(2−プロパノラト)チタニウム(IV)(75%IPA溶液、東京化成工業株式会社製)4.04gを溶解させ、スプレー溶液を調製した。ホットプレート(450℃)上のFTO基板に約30cmの高さから0.3MPaでスプレーした。20cm×8列を2回繰り返して約7gスプレー後、450℃で3分間乾燥した。この操作を更に2回行うことにより合計約21gの溶液をスプレーした。その後、このFTO基板を、塩化チタン(和光純薬工業株式会社製)水溶液(50mM)に浸漬し、70℃で30分加熱した。水洗、乾燥後、500℃で20分焼成(昇温15分)することにより、緻密TiO(cTiO)層を形成した。
(4)メソポーラスTiO層(多孔質層)の形成
アナターゼ型TiOペースト(PST-18NR、日揮触媒化成株式会社製)0.404gにエタノール(脱水、和光純薬工業株式会社製)1.41gを加え、1時間超音波分散を行い、TiOコート液を調製した。ドライルーム内において、上記のcTiO層上にスピンコーター(ミカサ株式会社製、MS-100)を用いてTiOコート液をスピンコートした(5000rpm×30sec)。125℃のホットプレート上で30分間乾燥後、500℃で30分焼成(昇温時間60分)することにより、メソポーラスTiO(mTiO)層を形成した。
(5)光吸収層の形成
光吸収層および正孔輸送層の形成は、グローブボックス内にて行った。臭化鉛(PbBr、ペロブスカイト前駆体用、東京化成工業株式会社製)0.228g、メチルアミン臭化水素酸塩(CHNHBr、東京化成工業株式会社製)0.070g、DMF(脱水、和光純薬工業株式会社製)2mLを混合、室温撹拌し、0.31mol/Lペロブスカイト(CHNHPbBr)原料のDMF溶液(無色透明)を調製した。更に、このDMF溶液に上記のヨウ素が配位したPbS量子ドット固体0.20gを加え、15分間撹拌分散後、孔径0.45μmのPTFEフィルターでろ過することにより、PbS量子ドットとペロブスカイト原料との混合分散液(コート液)を得た。なお、このコート液のDMF溶媒希釈分散液のピーク吸光度(ピーク波長980nm)から、PbSとその配位子及びペロブスカイトの合計含有量に対するPbSの質量比24%を算出した。
上記のmTiO層上にスピンコーター(ミカサ株式会社製MS-100)を用いて前記コート液をスピンコートした(500rpm×5sec、スロープ5sec、1000rpm×40sec、スロープ5sec、3000rpm×50sec)。なお、スピン開始20秒後に貧溶媒であるトルエン(脱水、和光純薬工業株式会社製)1mLをスピン中心部に一気に滴下した。スピンコート後すぐに100℃ホットプレート上で10分間乾燥させ、光吸収層を形成した。この光吸収層にはペロブスカイト化合物CHNHPbBr、PbS量子ドット、及び配位子が含まれる。ペロブスカイト化合物が生成していることはX線回折パターン、吸収スペクトル及び電子顕微鏡観察により、また、量子ドットが存在していることは蛍光スペクトル、電子顕微鏡観察から確認した。
(6)正孔輸送層の形成
ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミドリチウム(LiTFSI、和光純薬工業株式会社製)9.1mg、[トリス(2−(1H−ピラゾール−1−イル)−4−tert−ブチルピリジン)コバルト(III)トリス(ビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミド)](Co(4−tButylpyridyl−2−1H−pyrazole)3.3TFSI、和光純薬工業株式会社製)8.7mg、2,2’,7,7’−テトラキス[N,N−ジ−p−メトキシフェニルアミノ]−9,9’−スピロビフルオレン(Spiro-OMeTAD、和光純薬工業株式会社製)72.3mg、クロロベンゼン(ナカライテスク株式会社製)1mL、トリブチルホスフィン(TBP、シグマアルドリッチ製)28.8μLを混合し、室温撹拌して正孔輸送剤(HTM)溶液(黒紫色透明)を調製した。使用直前に、HTM溶液を孔径0.45μmのPTFEフィルターでろ過した。上記の光吸収層上にスピンコーター(ミカサ株式会社、MS-100)を用いてHTM溶液をスピンコートした(4000rpm×30sec)。スピンコート後すぐに70℃ホットプレート上で30分間乾燥した。乾燥後、γ−ブチロラクトン(和光純薬工業株式会社製)を浸み込ませた綿棒でFTOとのコンタクト部分および基板裏面全体を拭き取り、更に70℃のホットプレート上で数分間乾燥させ、正孔輸送層を形成した。
(7)金電極の蒸着
真空蒸着装置(アルバック機工株式会社製VTR-060M/ERH)を用い、真空下(4〜5×10−3 Pa)、上記の正孔輸送層上に金を100nm蒸着(蒸着速度8〜9Å/sec)して、金電極を形成した。
<実施例2>
実施例1の(5)光吸収層の形成において、ヨウ素が配位したPbS量子ドット固体の配合量を0.20gから0.14gに変更し、PbSとその配位子及びペロブスカイトの合計含有量に対するPbSの質量比を19質量%とした以外は、実施例1と同様にして光吸収層を形成し、セルを作製した。
<比較例1>
ドライプロセス(MBE法)により、GaAsバルク半導体−InAs量子ドットの中間バンド型太陽電池を作製した。
Figure 0006343406
本発明の光吸収層及び光電変換素子は、中間バンド型太陽電池の構成部材として好適に使用することができる。
1:光電変換素子
2:透明基板
3:透明導電層
4:ブロッキング層
5:多孔質層
6:光吸収層
7:正孔輸送層
8:電極(正極)
9:電極(負極)
10:光

Claims (21)

  1. 2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中にハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドットが分散されており、前記バルク半導体が、有機−無機複合化合物であり、中間バンドを有する光吸収層。
  2. 2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体のマトリックス中にハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドットが分散されており、前記バルク半導体が、ペロブスカイト化合物であり、中間バンドを有する光吸収層。
  3. 前記ペロブスカイト化合物は、下記一般式(1)で表される化合物及び下記一般式(2)で表される化合物から選ばれる1種以上である請求項2に記載の光吸収層。
    RMX (1)
    (式中、Rは1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンである。)
    n−13n+1 (2)
    (式中、R、R、及びRはそれぞれ独立に1価のカチオンであり、Mは2価の金属カチオンであり、Xはハロゲンアニオンであり、nは1以上10以下の整数である。)
  4. 前記Xは、フッ素アニオン、塩素アニオン、又は臭素アニオンである請求項3に記載の光吸収層。
  5. 前記Rは、アルキルアンモニウムイオン及びホルムアミジニウムイオンから選ばれる1種以上である請求項3又は4に記載の光吸収層。
  6. 前記Mは、Pb2+、Sn2+、又はGe2+である請求項3〜5のいずれかに記載の光吸収層。
  7. 前記バルク半導体と前記量子ドットの合計含有量に対する前記量子ドット(但し、配位子を除く)の含有割合は、7.5質量%以上である請求項1〜6のいずれかに記載の光吸収層。
  8. 前記量子ドットのバンドギャップエネルギーは、0.2eV以上前記バルク半導体のバンドギャップエネルギー未満である請求項1〜7のいずれかに記載の光吸収層。
  9. 前記バルク半導体のバンドギャップエネルギーと前記量子ドットのバンドギャップエネルギーとの差は、0.4eV以上2.0eV以下である請求項1〜8のいずれかに記載の光吸収層。
  10. 前記量子ドットは、金属酸化物又は金属カルコゲナイドを含む請求項1〜9のいずれかに記載の光吸収層。
  11. 前記量子ドットは、Pb元素を含む請求項1〜10のいずれかに記載の光吸収層。
  12. 前記量子ドットを構成する金属元素に対するハロゲン元素の原子比が、0.3以上1以 下である請求項1〜11のいずれかに記載の光吸収層。
  13. 前記量子ドットは、有機配位子含み、前記量子ドットを構成する金属元素に対する前記 有機配位子のモル比が、0.001以上0.1以下である請求項1〜12のいずれかに記 載の光吸収層。
  14. 2.0eV以上3.0eV以下のバンドギャップエネルギーを有するバルク半導体及び/又はその前駆体と、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドットと、溶剤とを含有する請求項1〜13のいずれかに記載の光吸収層を製造するための分散液であって、
    前記分散液中の前記バルク半導体及び/又はその前駆体の金属濃度が、0.1mol/L以上1.5mol/L以下であり、
    前記溶剤が、N,N−ジメチルホルムアミドを含有する、分散液。
  15. 前記分散液中の前記量子ドットの固形分濃度は、1mg/mL以上100mg/mL以下である請求項14に記載の分散液。
  16. 請求項14又は15に記載の分散液から得られる光吸収層。
  17. 請求項14又は15に記載の分散液を調製する工程を含む光吸収層の製造方法。
  18. 次の工程1、工程2及び工程3を含む、バルク半導体のマトリクス中に量子ドットが分散されており、中間バンドを有する光吸収層の製造方法。
    (工程1)有機配位子を含む量子ドットの該有機配位子を、ハロゲン元素含有物質へ配位子交換して、ハロゲン元素含有物質を配位子として含む量子ドット固体を得る工程
    (工程2)工程1で得られた量子ドット固体と、バルク半導体およびその前駆体から選ばれる1種以上の物質を含む溶液又は混合液とを混合して分散液を得る工程
    (工程3)工程2で得られた分散液から光吸収層を得る工程
  19. 前記ハロゲン元素含有物質のハロゲン元素がヨウ素である請求項18に記載の光吸収層の製造方法。
  20. 請求項1〜13及び16のいずれかに記載の光吸収層を有する光電変換素子。
  21. 請求項20に記載の光電変換素子を有する中間バンド型太陽電池。
JP2017562383A 2017-09-20 2017-09-20 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池 Active JP6343406B1 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/033888 WO2019058448A1 (ja) 2017-09-20 2017-09-20 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6343406B1 true JP6343406B1 (ja) 2018-06-13
JPWO2019058448A1 JPWO2019058448A1 (ja) 2019-11-07

Family

ID=62555282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017562383A Active JP6343406B1 (ja) 2017-09-20 2017-09-20 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20200091359A1 (ja)
EP (1) EP3618126B1 (ja)
JP (1) JP6343406B1 (ja)
KR (1) KR102046739B1 (ja)
CN (1) CN109819680B (ja)
TW (1) TWI676296B (ja)
WO (1) WO2019058448A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021125120A1 (ja) 2019-12-18 2021-06-24 花王株式会社 光吸収層及びその製造方法、コート液、光電変換素子、並びに中間バンド型太陽電池
CN113731445A (zh) * 2021-09-13 2021-12-03 福州大学 一种以锡酸钡为载体负载硫化镉量子点的光催化剂及其制备方法和应用

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021001906A1 (ja) * 2019-07-01 2021-01-07 花王株式会社 光吸収層及びその製造方法、光電変換素子、並びに中間バンド型太陽電池
WO2021111503A1 (ja) * 2019-12-02 2021-06-10 花王株式会社 光吸収層及びその製造方法、分散液、光電変換素子、並びに太陽電池
CN111334864A (zh) * 2020-02-27 2020-06-26 苏州东薇极光信息科技有限公司 一种窄带隙二维半导体化合物EuTe4、其制备方法及其应用
JPWO2021200027A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07
JP7372452B2 (ja) 2020-04-07 2023-10-31 富士フイルム株式会社 光電変換膜、分散液、光検出素子およびイメージセンサ
CN114907846B (zh) * 2021-02-10 2023-08-01 华中科技大学 量子点材料以及制备方法、应用
KR20230013993A (ko) * 2021-07-20 2023-01-27 삼성전자주식회사 광전 소자 및 이를 포함하는 전자 장치
CN114085540B (zh) * 2021-10-22 2022-09-09 东南大学 一种利用二氧化钛量子点制备抗老化改性沥青的方法及其应用
US11903224B1 (en) * 2022-08-17 2024-02-13 King Fahd University Of Petroleum And Minerals Passivation of perovskite solar cell using graphene quantum dots

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015079870A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 京セラ株式会社 太陽電池
US20150291422A1 (en) * 2014-04-11 2015-10-15 Korea Institute Of Machinery & Materials Quantum dot stabilized by halogen salt and method for manufacturing the same
JP2016025170A (ja) * 2014-07-18 2016-02-08 学校法人桐蔭学園 有機無機ハイブリッド構造からなる光電変換素子
JP2016122755A (ja) * 2014-12-25 2016-07-07 シャープ株式会社 太陽電池モジュール
JP2016127183A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 シャープ株式会社 光電変換素子
WO2017016920A1 (en) * 2015-07-29 2017-02-02 University Of Ulster Photovoltaic device
JP2017126622A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 シャープ株式会社 間接遷移半導体材料を用いた量子構造を有する光電変換素子

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010258194A (ja) 2009-04-24 2010-11-11 Seiko Epson Corp 光電変換装置の製造方法
JP2011249579A (ja) 2010-05-27 2011-12-08 Fujifilm Corp 太陽電池およびその製造方法
KR101856726B1 (ko) * 2014-12-08 2018-05-10 주식회사 엘지화학 유무기 하이브리드 페로브스카이트 화합물, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 태양전지
US10181538B2 (en) * 2015-01-05 2019-01-15 The Governing Council Of The University Of Toronto Quantum-dot-in-perovskite solids
WO2017061174A1 (ja) * 2015-10-09 2017-04-13 ソニー株式会社 光電変換素子および撮像素子
WO2018025445A1 (ja) * 2016-08-04 2018-02-08 花王株式会社 光吸収層、光電変換素子、分散液、光電変換素子、及び、太陽電池、並びに、光吸収層の製造方法
US20200075265A1 (en) * 2017-03-08 2020-03-05 Kao Corporation Light absorption layer, photoelectric conversion element, and solar cell

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015079870A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 京セラ株式会社 太陽電池
US20150291422A1 (en) * 2014-04-11 2015-10-15 Korea Institute Of Machinery & Materials Quantum dot stabilized by halogen salt and method for manufacturing the same
JP2016025170A (ja) * 2014-07-18 2016-02-08 学校法人桐蔭学園 有機無機ハイブリッド構造からなる光電変換素子
JP2016122755A (ja) * 2014-12-25 2016-07-07 シャープ株式会社 太陽電池モジュール
JP2016127183A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 シャープ株式会社 光電変換素子
WO2017016920A1 (en) * 2015-07-29 2017-02-02 University Of Ulster Photovoltaic device
JP2017126622A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 シャープ株式会社 間接遷移半導体材料を用いた量子構造を有する光電変換素子

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021125120A1 (ja) 2019-12-18 2021-06-24 花王株式会社 光吸収層及びその製造方法、コート液、光電変換素子、並びに中間バンド型太陽電池
CN113731445A (zh) * 2021-09-13 2021-12-03 福州大学 一种以锡酸钡为载体负载硫化镉量子点的光催化剂及其制备方法和应用
CN113731445B (zh) * 2021-09-13 2023-08-04 福州大学 一种以锡酸钡为载体负载硫化镉量子点的光催化剂及其制备方法和应用

Also Published As

Publication number Publication date
CN109819680B (zh) 2020-03-10
TWI676296B (zh) 2019-11-01
CN109819680A (zh) 2019-05-28
KR102046739B1 (ko) 2019-11-19
US20200091359A1 (en) 2020-03-19
EP3618126B1 (en) 2023-10-18
EP3618126A1 (en) 2020-03-04
KR20190034496A (ko) 2019-04-02
WO2019058448A1 (ja) 2019-03-28
JPWO2019058448A1 (ja) 2019-11-07
EP3618126A4 (en) 2020-11-11
TW201916390A (zh) 2019-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6343406B1 (ja) 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池
JP6317535B1 (ja) 光吸収層、光電変換素子、及び太陽電池
KR102540430B1 (ko) 광 흡수층, 광전 변환 소자, 및 태양전지
JP6654250B2 (ja) 光吸収層、光電変換素子、及び太陽電池
JP6620246B2 (ja) 光吸収層、光電変換素子、及び太陽電池
KR20220115968A (ko) 광 흡수층 및 그 제조 방법, 코트액, 광전 변환 소자, 그리고 중간 밴드형 태양 전지
JP7345498B2 (ja) 光吸収層、光電変換素子、及び太陽電池
WO2021111503A1 (ja) 光吸収層及びその製造方法、分散液、光電変換素子、並びに太陽電池
WO2021002327A1 (ja) 光吸収層及びその製造方法、光電変換素子、並びに中間バンド型太陽電池
WO2023145712A1 (ja) 分散液、光吸収層、光電変換素子、及び太陽電池

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171225

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171225

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20171225

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20180105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180223

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180323

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180329

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180425

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180515

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180518

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6343406

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250